JPH01218664A - Rotary coating apparatus - Google Patents

Rotary coating apparatus

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Publication number
JPH01218664A
JPH01218664A JP4719788A JP4719788A JPH01218664A JP H01218664 A JPH01218664 A JP H01218664A JP 4719788 A JP4719788 A JP 4719788A JP 4719788 A JP4719788 A JP 4719788A JP H01218664 A JPH01218664 A JP H01218664A
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JP
Japan
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substrate
processing liquid
nozzle
dropping
treatment liquid
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Application number
JP4719788A
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Japanese (ja)
Inventor
Takao Higuchi
孝雄 樋口
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Hoya Corp
Original Assignee
Hoya Corp
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Publication of JPH01218664A publication Critical patent/JPH01218664A/en
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Abstract

PURPOSE:To coating irregularity due to the dropping of a treatment liquid remaining on the mouth of a treatment liquid dripping nozzle, by transferring the dripping position of a treatment liquid from a treatment dripping nozzle between the end of a substrate and the rotation center of the substrate. CONSTITUTION:A substrate-supporting stand 2 supports and rotates a substrate 1 horizontally. A treatment liquid is supplied to a treatment liquid dripping nozzle 3 to drop the treatment liquid on the substrate 1 on the substrate- supporting stand 2 by a treatment liquid supplying apparatus 4. Then, the substrate 1 on which the treatment liquid is dripped is rotated to form a thin film of the treatment liquid on the substrate. At that time, the dripping position of the treatment liquid from the treatment liquid dripping nozzle 3 is transferred between the end and the rotation center of the substrate by a nozzle transferring apparatus 11. As a result, coating irregularity due to the dropping of the treatment liquid remaining on the mouth of the treatment liquid dripping nozzle is prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、いわゆる回転塗布装置、即ち、回転による遠
心力を利用して、フォトレジスト等の処理液を半導体用
ウェハーやフォトマスクブランク等の基板の表面に均一
に塗布する装置に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Field of Application] The present invention uses a so-called spin coating device, that is, uses centrifugal force due to rotation to coat a processing liquid such as a photoresist onto a semiconductor wafer, a photomask blank, etc. It relates to a device that uniformly coats the surface of a substrate.

[従来の技術] 第7図は、前述の、いわゆる回転塗布装置の従来例を示
したものである。
[Prior Art] FIG. 7 shows a conventional example of the above-mentioned so-called spin coating device.

この回転塗布装置は、基板1を水平に支持するとともに
この基板1を水平面内で回転させることのできる基板載
置台2と、この載置台2上の基板1の表面に処理液りを
滴下させるための処理液滴下用ノズル3と、このノズル
3に処理液りを供給する処理液供給装置4とを具備した
構成で、処理液しか滴下された基板1を回転させること
によって、基板1の表面に処理液りの薄膜を作るもので
ある。
This rotary coating device includes a substrate mounting table 2 that supports a substrate 1 horizontally and can rotate the substrate 1 in a horizontal plane, and a device for dropping a processing liquid onto the surface of the substrate 1 on this mounting table 2. The structure is equipped with a processing liquid dropping nozzle 3 and a processing liquid supply device 4 that supplies processing liquid to the nozzle 3, and by rotating the substrate 1 onto which only the processing liquid has been dropped, a process liquid is applied to the surface of the substrate 1. This creates a thin film of processing liquid.

各構成要素について、説明すると、次のようである。Each component is explained as follows.

前記基板1としては、その表面へ塗布する液体の膜厚の
均−化等に高い精度か要求される物か対象とされており
、具体的には、前述のように、半導体用ウェハーやフォ
トマスクブランク等が該当することになる。
The substrate 1 is a substrate that requires high accuracy in equalizing the thickness of the liquid applied to its surface, and specifically, as mentioned above, it is used for semiconductor wafers and photolithography. This applies to mask blanks, etc.

また、処理液りは、基板1が例えばフォトマスクブラン
クであった場合には、その上にレジスト膜を作るための
レジスト液等が該当することになる。
Furthermore, when the substrate 1 is, for example, a photomask blank, the processing liquid corresponds to a resist liquid for forming a resist film thereon.

基板載置台2は、基板1を載せる円盤2aと、この円盤
2aをその枢軸2bの回りに回転駆動させる駆動機構(
図示路)とを具備したものである。
The substrate mounting table 2 includes a disk 2a on which the substrate 1 is placed, and a drive mechanism (
(Illustrated path).

前記円盤2aには、載置された基板1を固定する手段と
して、真空吸着等の固定手段(図示路)が設けられてい
る。
The disk 2a is provided with a fixing means (path shown) such as vacuum suction as a means for fixing the substrate 1 placed thereon.

前述のノズル3は、処理液りを滴下させるノズル口3a
を基板1の回転中心に向けて固設されている。
The aforementioned nozzle 3 has a nozzle opening 3a through which the processing liquid is dropped.
is fixedly installed facing the rotation center of the substrate 1.

また、処理液供給装置4は、処理液りを収容した容器6
と、この容器6からノズル3に処理液りを送るための配
管7と、容器6を収容した加圧器8とを具備してなる。
The processing liquid supply device 4 also includes a container 6 containing a processing liquid.
, a pipe 7 for sending the processing liquid from the container 6 to the nozzle 3, and a pressurizer 8 containing the container 6.

ここに、加圧器8は、容器6の周囲を密閉する器本体8
aと、該器本体8a内に加圧用のカス(窒素等の不活性
カス)を充填するためのガス給排口8bとを具備したも
ので、容器6内の処理液りの液面にかかるガス圧で処理
液りをノズル3に送る。
Here, the pressurizer 8 is a container body 8 that seals the periphery of the container 6.
a, and a gas supply/discharge port 8b for filling pressurizing scum (inert scum such as nitrogen) into the container body 8a. The processing liquid is sent to the nozzle 3 using gas pressure.

[発明が解決しようとする課題〕 さて、前述の従来例の回転塗布装置では、ノズル3から
基板1の回転中心部に滴下された処理液りは、基板1の
回転による遠心力で次第に基板1の外周部に向かって拡
散して、基板1の表面全域に広がる薄膜を形成すること
になる。
[Problems to be Solved by the Invention] Now, in the conventional spin coating apparatus described above, the processing liquid dropped from the nozzle 3 onto the center of rotation of the substrate 1 gradually spreads onto the substrate 1 due to the centrifugal force caused by the rotation of the substrate 1. This results in the formation of a thin film that spreads over the entire surface of the substrate 1 by diffusing toward the outer periphery of the substrate 1 .

ところが、前記ノズル3のノズル口3a付近に残ってい
た処理液は、大気との接触によって揮発成分(レジスト
液の場合には、シンナー等)の蒸発等が進み、容器6内
の処理液りとは粘性等が異なったものとなる。
However, the processing liquid remaining near the nozzle opening 3a of the nozzle 3 undergoes evaporation of volatile components (thinner, etc. in the case of resist liquid) due to contact with the atmosphere, and the processing liquid in the container 6 is have different viscosity etc.

したかって、滴下開始時には、粘性等が本来の設定値か
らずれた処理液が滴下し、粘性の異なる処理液の混在に
よって、回転による処理液の拡散が均等にならず、塗布
むら(膜厚のむら)が生じる虞れがあった。
Therefore, at the start of dripping, a processing liquid whose viscosity etc. deviate from the original set value is dropped, and due to the mixture of processing liquids with different viscosities, the processing liquid is not spread evenly due to rotation, resulting in uneven coating (unevenness in film thickness). ) could occur.

また、所定量の処理液の滴下が完了し、その時点では回
転による処理液の拡散が良好に行なえていたとしても、
正規の処理液滴下動作終了後に、ノズル3の口3a付近
に残存した少量の処理液が基板1の中央部に垂れ落ちて
、そのために塗布むらか形成される虞れもあった。
Furthermore, even if the dropping of a predetermined amount of processing liquid is completed and the processing liquid is well spread by rotation at that point,
After the regular processing liquid dropping operation is completed, there is a possibility that a small amount of the processing liquid remaining near the opening 3a of the nozzle 3 may drip onto the center of the substrate 1, resulting in uneven coating.

また、前述の従来装置では、基板1の周縁まで塗布むら
を発生さぜずに良好に処理液を拡散させるためには、過
剰滴下(本来の膜厚を得る分よりもはるかに多く滴下さ
せるという意味)せざるをえず、その大半か無駄になる
ため、滴下量の節約に対しても検討か要求されていた。
In addition, in the conventional apparatus described above, in order to properly diffuse the processing liquid to the periphery of the substrate 1 without causing uneven coating, it is necessary to over-drop (drop much more than necessary to obtain the original film thickness). (meaning), and most of it would be wasted, so consideration was also required to save the amount of dripping.

この発明は、前記事情に鑑みてなされたもので、処理液
滴下用ノズルのノズル口に残存した処理液の滴下に起因
した塗布むらの発生を防止することのできる回転塗布装
置を提供することを目的とし、さらには、処理液の節約
を図ることのできる回転塗布装置を提供することを目的
とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is an object of the present invention to provide a spin coating device that can prevent the occurrence of uneven coating caused by dripping of processing liquid remaining at the nozzle opening of a processing liquid dripping nozzle. Another object of the present invention is to provide a spin coating device that can save processing liquid.

[課題を解決するための手段] 本発明に係る回転塗布装置は、基板を水平に支持すると
ともにこの基板を水平面内で回転させる基板載置台と、
この基板載置台上の基板の表面に処理液を滴下させるた
めの処理液滴下用ノズルと、この処理液滴下用ノズルに
処理液を供給する処理液供給装置とを倫えて、処理液が
滴下された基板を回転させることによって、基板表面に
処理液の薄膜を作る形式のものであるが、前述の塗布む
らの防止という目的を達成することから、前記処理液滴
下用ノズルによる処理液の滴下位置を、前記基板の端部
と該基板の回転中心との間で移動させるノズル移動装置
を備える。
[Means for Solving the Problems] A spin coating apparatus according to the present invention includes a substrate mounting table that horizontally supports a substrate and rotates the substrate within a horizontal plane;
The processing liquid is dropped by using a processing liquid dropping nozzle for dropping the processing liquid onto the surface of the substrate on the substrate mounting table and a processing liquid supply device that supplies the processing liquid to the processing liquid dropping nozzle. This method creates a thin film of processing liquid on the surface of the substrate by rotating the substrate, but in order to achieve the purpose of preventing uneven coating, the position at which the processing liquid is dropped by the processing liquid dripping nozzle is adjusted. and a nozzle moving device for moving the substrate between an end of the substrate and a center of rotation of the substrate.

また、処理液の節約という目的を達成することから、前
記処理液供給装置に、前記ノズル移動装置による移動量
を検知して処理液の滴下位置に応じて処理液の供給量を
制御する供給量制御手段を備える。
In addition, in order to achieve the purpose of saving processing liquid, the processing liquid supply device is provided with a supply amount that detects the amount of movement by the nozzle moving device and controls the supply amount of processing liquid according to the dropping position of the processing liquid. A control means is provided.

[作用] 本発明に係る回転塗布装置では、処理液滴下用ノズルは
、ノズル移動装置によって、処理液を滴下するノズル口
の基板に対する位置を、基板の端と回転中心部との間で
、自由に移動させることができる。したがって、滴下開
始時および滴下終了時には、前記ノズル口を基板の端に
位置させておく。
[Function] In the spin coating device according to the present invention, the nozzle for dropping the processing liquid can freely move the position of the nozzle opening for dropping the processing liquid relative to the substrate between the edge of the substrate and the center of rotation using the nozzle moving device. can be moved to Therefore, the nozzle opening is positioned at the edge of the substrate at the start and end of dropping.

このようにノズル口を基板の端部に位置させた場合には
、ノズル口付近に残存した処理液が基板上に垂れ落ちた
としても、垂れた処理液は基板の回転によって基板の外
に飛散させることができ、処理液による均一な膜を形成
しなければならない基板中央部には、垂れた処理液によ
る影響が及ばない。
When the nozzle opening is located at the edge of the substrate in this way, even if the processing liquid remaining near the nozzle opening drips onto the substrate, the dripping processing liquid will be scattered outside the substrate as the substrate rotates. The dripping processing liquid does not affect the central part of the substrate where a uniform film of processing liquid must be formed.

そして、ノズル口に残存した処理液による影響を排除し
た上で、ノズル口を基板の中央部に移して所定の滴下動
作を行わせる。
Then, after eliminating the influence of the processing liquid remaining in the nozzle port, the nozzle port is moved to the center of the substrate and a predetermined dropping operation is performed.

したがって、安定した性状の処理液を正確に滴下させる
ことができ、塗布むらの発生を効果的に防止することが
できる。
Therefore, a treatment liquid with stable properties can be accurately dropped, and uneven coating can be effectively prevented.

また、従来では、ノズル口は基板の回転中心に固定して
おいて、そこで必要な処理液の全量を滴下していたが、
本発明のように、ノズル口を移動可能にし、さらに滴下
量(即ち、処理液の供給量)を制御する供給制御手段を
備えた構成では、ノズルを移動させながら滴下を行い、
しがもその場合に、滴下量を、基板上での位置に対応し
た最連産に調整することが可能となる。
Additionally, in the past, the nozzle opening was fixed at the center of rotation of the substrate, and the entire amount of processing liquid required was dropped there.
In a configuration as in the present invention, in which the nozzle port is made movable and is further provided with a supply control means for controlling the amount of dropping (i.e., the amount of processing liquid supplied), dropping is performed while moving the nozzle,
However, in that case, it becomes possible to adjust the dropping amount to the most consistent amount corresponding to the position on the substrate.

この結果、処理液の均一拡散をより高精度にするととも
に、過剰滴下を防止して滴下量の節約を図ることも可能
になる。
As a result, it becomes possible to achieve uniform dispersion of the processing liquid with higher precision, and also to prevent excessive dripping and save on the amount of dripping.

[実施例] 以下、本発明の詳細な説明する。なお、実施例において
、第7図に示した従来装置と共通する部分については、
同じ符号を付して説明を省略する。
[Example] The present invention will be described in detail below. In addition, in the example, the parts common to the conventional device shown in FIG. 7 are as follows.
The same reference numerals are used to omit the explanation.

第1図乃至第3図は、請求項1に係る発明の一実施例を
示したものである。
1 to 3 show an embodiment of the invention according to claim 1. FIG.

この回転塗布装置10は、第1図に示すように、基板1
を水平に支持するとともにこの基板1を水平面内で回転
させる基板載置台2と、この基板載置台2上の基板1の
表面に処理液りを滴下させるための処理液滴下用ノズル
3と、この処理液滴下用ノズル3に処理液を供給する処
理液供給装置4とを備えて、処理液りが滴下された基板
1を回転させることによって、基板表面に処理液りの薄
膜を作るものであって、これらの点については、従来の
ものと同様である。
As shown in FIG. 1, this spin coating device 10 includes a substrate 1
A substrate mounting table 2 for horizontally supporting the substrate 1 and rotating the substrate 1 in a horizontal plane, a processing liquid dripping nozzle 3 for dripping a processing liquid onto the surface of the substrate 1 on the substrate mounting table 2, It is equipped with a processing liquid supply device 4 for supplying processing liquid to a processing liquid dripping nozzle 3, and by rotating the substrate 1 onto which the processing liquid has been dropped, a thin film of the processing liquid is formed on the substrate surface. These points are the same as the conventional one.

しかし、この実施例の装置においては、前記処理液滴下
用ノズル3による処理液りの滴下位置を移動させるため
のノズル移動装置11が備えられている。
However, the apparatus of this embodiment is provided with a nozzle moving device 11 for moving the position at which the processing liquid droplet is dropped by the processing liquid dropping nozzle 3.

このノズル移動装置11を基板1および処理液りとの関
連において詳述すると、次の如くである。
The nozzle moving device 11 will be described in detail in relation to the substrate 1 and the processing liquid as follows.

基板1は、正方形状(例えば、5×5インチの正方形)
をなしていて、その中心か回転中心となるように載置台
2に支持される。また、前記処理液りは、この実施例の
場合はレジスト液で、具体的には、ポジ型のレジスト液
であるAZ1350(ヘキスト社商品名)が該当してい
る。
The substrate 1 has a square shape (for example, a 5 x 5 inch square)
It is supported on the mounting table 2 so that its center is the center of rotation. In this embodiment, the processing liquid is a resist liquid, and specifically, AZ1350 (trade name of Hoechst Co., Ltd.), which is a positive type resist liquid, is used.

ノズル移動装置11は、ノズル3を保持するとともに、
該ノズル3を移動させるアクチュエータ12と、ノズル
3の移動を許容させるべくノズル3と配管7とを連通さ
せた伸縮自在配管13とを備えてなる。
The nozzle moving device 11 holds the nozzle 3 and
It comprises an actuator 12 for moving the nozzle 3, and a telescopic pipe 13 that communicates the nozzle 3 with a pipe 7 to allow movement of the nozzle 3.

アクチュエータ12は、ノズル3を一定の範囲で往復動
させる機能を有するもので、この場合では、いわゆるロ
ッドレスシリンダ(より具体的には、ショーケラ社製の
CYシリーズなど)が用いられている。このアクチュエ
ータ12は、ノズル3を保持した可動部12aと、該可
動部12aの移動方向および移動範囲を設定するロッド
12bとを具備したもので、ロッド12bの端部に固設
されたストッパ12cを介して、床等に固定されな台1
4に支持されている。
The actuator 12 has a function of reciprocating the nozzle 3 within a certain range, and in this case, a so-called rodless cylinder (more specifically, the CY series manufactured by Chokera, etc.) is used. This actuator 12 includes a movable part 12a that holds the nozzle 3, and a rod 12b that sets the moving direction and range of the movable part 12a.A stopper 12c is fixed to the end of the rod 12b. A stand 1 that is not fixed to the floor etc.
It is supported by 4.

このアクチュエータ12によって、ノズル3のノズル口
3aは、基板1の対角線上、即ち、基板1の一端部Aか
ら回転中心Cを通って他端部Bに至る直線上を往復移動
可能にされている。
This actuator 12 allows the nozzle opening 3a of the nozzle 3 to reciprocate on a diagonal line of the substrate 1, that is, on a straight line from one end A of the substrate 1 through the rotation center C to the other end B. .

次に、このように構成された回転塗布装置10において
、処理液りを塗布する手順を詳述する。
Next, a procedure for applying a treatment liquid in the spin coating apparatus 10 configured as described above will be described in detail.

まず、載置台2上の基板1の端部A上にノズル3のノズ
ル口3aを位置させた状態で、処理液供給装置4の加圧
器8のカス給排口8bより不活性ガスを器本体8a内に
導き(この時の器本体8a内の圧力は、0.5kg/−
である)、処理液りの滴下を開始すると同時に、移動装
置11によりノズル3を60市/秒の速度で基板1上の
他端Bに向けて直線状に移動させる。この移動は、ノズ
ル3からの滴下量を一定に保って、滴下させながら行う
First, with the nozzle port 3a of the nozzle 3 positioned on the end A of the substrate 1 on the mounting table 2, inert gas is supplied to the chamber body from the waste supply/discharge port 8b of the pressurizer 8 of the processing liquid supply device 4. 8a (at this time, the pressure inside the container body 8a is 0.5 kg/-
), and at the same time as starting dropping of the processing liquid, the nozzle 3 is moved linearly toward the other end B on the substrate 1 at a speed of 60 cm/sec by the moving device 11. This movement is performed while keeping the amount of drops from the nozzle 3 constant.

そして、ノズル口3aか、端部B上に到達した時に処理
液りの滴下を終了させる。滴下開始から滴下終了までの
滴下量は、基板1の中央部においても被膜形成に十分な
量か確保されるように、5CC/秒の吐出量とする(第
6図の点線m)。
Then, when it reaches the nozzle opening 3a or the end B, the dropping of the processing liquid is finished. The amount of drops from the start of dropping to the end of dropping is set at 5 CC/sec (dotted line m in FIG. 6) to ensure a sufficient amount to form a film even in the center of the substrate 1.

その後、載置台2を回転させ、滴下した処理液Lを拡散
させて、所定の厚さの膜を形成する。
Thereafter, the mounting table 2 is rotated to diffuse the dropped processing liquid L to form a film with a predetermined thickness.

以上の回転塗布作業においては、塗布むらの原因となる
処理液りの滴下開始と終了が、いずれも基板1の端部で
行われる。したがって、ノズル口3a付近に残存した処
理液りが不如意に垂れ落ちたとしても、それは基板1の
端部で、基板1を回転させることによって、容易に基板
1の外に飛散させて排除することができ、ノズル口3a
に残存した処理液の滴下に起因した塗布むらの発生を防
止することができる。また、前記ノズル3を前記回転中
心を通り、相対向する滴下開始時の端部と滴下終了時の
端部との間を移動させることから、。
In the above-described spin coating operation, the dropping of the processing liquid, which causes uneven coating, starts and ends at the edge of the substrate 1. Therefore, even if the processing liquid remaining in the vicinity of the nozzle opening 3a accidentally drips down, it can be easily scattered out of the substrate 1 and removed by rotating the substrate 1 at the edge of the substrate 1. is completed, and the nozzle opening 3a
It is possible to prevent uneven coating caused by dripping of the treatment liquid remaining on the surface of the substrate. Further, since the nozzle 3 is moved through the rotation center between an end at the beginning of dropping and an end at the end of dropping which are opposite to each other.

さらに均一な膜厚の薄膜が得られる。Furthermore, a thin film with a uniform thickness can be obtained.

第4図および第5図は、請求項2に係る発明の一実施例
を示したものである。
FIG. 4 and FIG. 5 show an embodiment of the invention according to claim 2.

この回転塗布装置16は、第1図乃至第3図に示した回
転塗布装置10の処理液供給装置4に供給量制御手段1
7を付加したものである。
This spin coating device 16 has a supply amount control means 1 to the processing liquid supply device 4 of the spin coating device 10 shown in FIGS. 1 to 3.
7 is added.

この供給量制御手段17は、前記ノズル移動装置11に
よるノズル3の移動量を検知して、処理液りの滴下位置
に応じて処理液りの供給量を制御するもので、具体的に
は、加圧器8のカス給排口8bにおいてガスの給排量を
設定する流量制御装置である。該供給量制御手段17に
おいては、第6図に実線nで示すように、基板1の端部
では処理液りの滴下量が少なくなるように、不活性カス
圧を調節して処理液りの供給量を制御する。
This supply amount control means 17 detects the amount of movement of the nozzle 3 by the nozzle moving device 11 and controls the supply amount of the processing liquid according to the dropping position of the processing liquid. Specifically, This is a flow rate control device that sets the amount of gas to be supplied and discharged at the waste supply and discharge port 8b of the pressurizer 8. The supply amount control means 17 controls the amount of processing liquid by adjusting the inert scum pressure so that the amount of processing liquid dropped at the edge of the substrate 1 is reduced, as shown by the solid line n in FIG. Control the amount of supply.

なお、第4図において、符号18は、ノズル3の移動量
を検知するための信号線である。
Note that in FIG. 4, reference numeral 18 is a signal line for detecting the amount of movement of the nozzle 3.

この回転塗布装置16によって処理液りを塗布する手順
は、ノズル口3aが基板1上の端部AからBに移動する
間の滴下量を、供給量制御手段17によって第6図の実
線nに示す如く調節させる点を除けば、第1図に示した
回転塗布装置10と同じである。
The procedure for applying the processing liquid using this rotary coating device 16 is to control the amount of the droplet while the nozzle port 3a moves from end A to B on the substrate 1 to the solid line n in FIG. 6 using the supply amount control means 17. This is the same as the spin coating apparatus 10 shown in FIG. 1, except that it is adjusted as shown.

しかし、該回転塗布装置16によれば、前述の回転塗布
装置10と同様にして塗布むらを防止できる。そして、
さらに、回転塗布という方法の性質から一般的に過剰滴
下となり易い基板1の端部において、処理液りの滴下量
を絞って処理液の節約を図ることもでき、またこれによ
って、基板層への不必要な処理液の回り込みも防ぐこと
ができる。
However, according to the spin coating device 16, uneven coating can be prevented in the same way as the spin coating device 10 described above. and,
Furthermore, due to the nature of the spin coating method, it is possible to conserve the processing liquid by reducing the amount of the processing liquid dripped at the edges of the substrate 1, where excessive dropping is generally likely to occur. It is also possible to prevent unnecessary processing liquid from flowing around.

なお、この実施例では、不活性ガス圧を制御することに
よって、処理液りの滴下量を制御することとしたが、ノ
ズル3に連絡した配管7自体に供給量制御手段を設ける
ようにしても良い。
In this embodiment, the dripping amount of the processing liquid was controlled by controlling the inert gas pressure, but it is also possible to provide a supply amount control means in the pipe 7 itself connected to the nozzle 3. good.

また、前記処理液りの送り出しは、ガス圧によらずにポ
ンプ等で行うようにしても良い。
Further, the processing liquid may be sent out using a pump or the like without relying on gas pressure.

また、ノズル3からの滴下量は一定に保っておいて、ノ
ズル3の移動速度を変化させることによって、基板1上
での滴下量を調節するようにしても、同様に処理液りの
節約を図ることができる。
Furthermore, even if the amount of drops from the nozzle 3 is kept constant and the amount of drops on the substrate 1 is adjusted by changing the moving speed of the nozzle 3, the amount of processing liquid can be similarly saved. can be achieved.

[発明の効果] 本発明に係る回転塗布装置では、ノズル移動装置を備え
ていて処理液滴下用ノズルが基板上を自由に移動できる
ため、滴下開始時および滴下終了時には、前記ノズルの
ノズル口を基板の端に位置させておくことができる。
[Effects of the Invention] The spin coating apparatus according to the present invention is equipped with a nozzle moving device and the treatment liquid dropping nozzle can move freely on the substrate, so when starting and finishing dropping, the nozzle opening of the nozzle is It can be located at the edge of the board.

したがって、ノズル日付近に残存した処理液が基板上に
垂れ落ちたとしても、垂れた処理液は基板の回転によっ
て容易に基板の外に飛散させることができ、塗布むらの
発生を効果的に防止することかできる。
Therefore, even if the treatment liquid remaining near the nozzle drips onto the substrate, the dripped treatment liquid can be easily scattered off the substrate by rotating the substrate, effectively preventing uneven coating. I can do something.

また、処理液の滴下量を制御する供給量制御手段を備え
たことによって処理液の滴下量を基板上の位置に対応し
た最適量に調整することができ、処理液の均一拡散をよ
り高精度にするとともに、過剰滴下を防止して滴下量の
節約を図ることもできる。
In addition, by providing a supply amount control means that controls the amount of processing liquid dropped, the amount of processing liquid dropped can be adjusted to the optimal amount corresponding to the position on the substrate, and the uniform dispersion of the processing liquid can be achieved with higher precision. At the same time, it is also possible to prevent excessive dripping and save on the amount of dripping.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は第1の発明の一実施例を側面から見た概略構成
図、第2図は同平面図、第3図は第2図の■矢視図、第
4図は第2の発明の一実施例を側面から見た概略構成図
、第5図は同平面図、第6図は第2の発明の前記一実施
例における処理液の液量調節の具体例を示した図、第7
図は従来の回転塗布装置の概略構成図である。 1・・・基板、2・・・基板載置台、3・・・ノズル、
L・・・−15= 処理液、4・・・処理液供給装置、10・・・回転塗布
装置、11・・・ノズル移動装置、12・・・アクチュ
エータ、16・・・回転塗布装置、17・・・供給量制
御手段。
Fig. 1 is a schematic configuration diagram of an embodiment of the first invention seen from the side, Fig. 2 is a plan view of the same, Fig. 3 is a view from the ■ arrow in Fig. 2, and Fig. 4 is a schematic diagram of the second invention. FIG. 5 is a schematic diagram of one embodiment seen from the side; FIG. 5 is a plan view of the same; FIG. 7
The figure is a schematic configuration diagram of a conventional spin coating device. 1... Board, 2... Board mounting stand, 3... Nozzle,
L...-15= Processing liquid, 4... Processing liquid supply device, 10... Rotary coating device, 11... Nozzle moving device, 12... Actuator, 16... Rotary coating device, 17 ...Supply amount control means.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)基板を水平に支持するとともにこの基板を水平面
内で回転させる基板載置台と、この基板載置台上の基板
の表面に処理液を滴下させるための処理液滴下用ノズル
と、この処理液滴下用ノズルに処理液を供給する処理液
供給装置とを備えて、前記処理液が滴下された基板を回
転させることによって、前記基板表面に処理液の薄膜を
作る回転塗布装置であって、前記処理液滴下用ノズルに
よる処理液の滴下位置を、前記基板の端部と該基板の回
転中心との間で移動させるノズル移動装置を備えたこと
を特徴とする回転塗布装置。
(1) A substrate mounting table that horizontally supports a substrate and rotates the substrate in a horizontal plane, a processing liquid dripping nozzle for dropping a processing liquid onto the surface of the substrate on this substrate mounting table, and a processing liquid dripping nozzle for dropping a processing liquid onto the surface of the substrate on this substrate mounting table. a processing liquid supply device for supplying a processing liquid to a dropping nozzle, the spin coating device forming a thin film of the processing liquid on the surface of the substrate by rotating the substrate onto which the processing liquid has been dropped; 1. A spin coating apparatus comprising a nozzle moving device that moves a position at which a processing liquid is dropped by a processing liquid dropping nozzle between an end of the substrate and a center of rotation of the substrate.
(2)処理液供給装置に、前記ノズル移動装置による移
動量を検知して処理液の滴下位置に応じて処理液の供給
量を制御する供給量制御手段を備えたことを特徴とする
請求項1記載の回転塗布装置。
(2) The processing liquid supply device further comprises a supply amount control means for detecting the amount of movement by the nozzle moving device and controlling the supply amount of the processing liquid in accordance with the dropping position of the processing liquid. 1. The spin coating device according to 1.
JP4719788A 1988-02-29 1988-02-29 Rotary coating apparatus Pending JPH01218664A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009027165A (en) * 2007-07-23 2009-02-05 Asml Netherlands Bv Dispenser for small amount of resist
JP2009166000A (en) * 2008-01-18 2009-07-30 Sk Electronics:Kk Coating film forming apparatus and coating film forming method
JP2020202309A (en) * 2019-06-11 2020-12-17 東京エレクトロン株式会社 Substrate processing apparatus and substrate processing method

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