JPH01216308A - 焦点検出用光学系 - Google Patents

焦点検出用光学系

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JPH01216308A
JPH01216308A JP4305588A JP4305588A JPH01216308A JP H01216308 A JPH01216308 A JP H01216308A JP 4305588 A JP4305588 A JP 4305588A JP 4305588 A JP4305588 A JP 4305588A JP H01216308 A JPH01216308 A JP H01216308A
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JP
Japan
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aperture
pair
lens
focus detection
mask
Prior art date
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Pending
Application number
JP4305588A
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English (en)
Inventor
Toshihiko Karasaki
敏彦 唐崎
Kazumi Sugitani
一三 杉谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、カメラの焦点検出用光学系に関するものであ
り、明るさの異なる種々の交換レンズを適宜差し替えて
使用する一眼レフカメラの焦点検出装置として特に適す
るものである。
[従来の技術] 第6図は従来の位相差検出方式による焦点検出用光学系
の概略構成図である。第6図において、L、はコンデン
サレンズ、L、、L、は撮影レンズの光軸1.に関して
略対称に配置された一対の再結像レンズであり、撮影レ
ンズにより形成される像をコンデンサレンズLo及び一
対の再結像レンズL1゜L、によって、第1像及び第2
像として再結像する。ここで、再結像レンズL、、Lm
によって再結像される第1像及び第2像の間隔は撮影レ
ンズの焦点位置によって変化する。したがって、撮影レ
ンズの予定結像面FPとコンデンサレンズL0及び一対
の再結像レンズL、、L!に関して共役な位置又はその
近傍に、ラインセンサーP0の第1及び第2の受光素子
列!、■を一列に並べて配置しておけば、その第1及び
第2の受光素子列1.■による第1像及び第2像の間隔
を検出することによって撮影レンズの焦点位置を検出で
きる。
[発明が解決しようとする課題] 上述の従来例において、絞りマスクAMにおける絞り開
口部A、、A2の開口中心間隔を拡げると、焦点位置の
微小な前後移動に対して、受光素子列上の像移動の割合
が大きくなるので、焦点検出精度は上がるが、その反面
、焦点検出用の光束と撮影レンズの光軸10のなす角度
が大きくなるので、Fナンバーの小さい明るいレンズで
なければ焦点検出用の光束がケラしてしまう、また、絞
り開口部A、、A、の開口中心間隔を狭めた場合には、
上記とは逆の状態となり、Fナンバーの大きい暗いレン
ズでも焦点検出が可能となるが、焦点検出精度は低下し
てしまう。
従来のAP−眼レフカメラにおける焦点検出用光学系で
は、Fナンバーの大きいズームレンズに対応できるよう
に、絞り開口部A + 、 A 2の開口中心間隔を比
較的狭く設定している。この場合、Fナンバーの大きい
レンズを用いる場合には被写界深度が深いので焦点検出
精度が低くても余り目立たないが、Fナンバーの小さい
レンズを用いる場合には被写界深度が浅くなるので、焦
点検出精度の低さがそのまま描写されてしまう、結局、
焦点検出精度を優先すれば使用できるレンズが制約され
、使用できるレンズの制約を少なくすれば焦点検出精度
が低下するという問題がある。
ところで、特開昭58−202412号公報にあっては
、位相差検出方式の焦点検出用光学系を備えた一眼レフ
カメラにおいて、交換レンズの開放Fナンバーに応じて
再結像レンズ対の開口を段階的に補正することが提案さ
れている。しかしながら、そのための具体的手段として
は、一対の連動する遮光部材が、各再結像レンズの瞳を
外側から制限して行く構造を用いており、各遮光部材の
駆動量が微妙に異なっていると、各再結像レンズを通過
する光量に差が生じ、焦点検出誤差を生じるという問題
があった。つまり、この従来例にあっては、可動部材で
ある遮光部材の駆動精度に応じて焦点検出精度が左右さ
れるという致命的な欠点があった。したがって、一対の
遮光部材を精度良く連動して駆動するための機構が極め
て複雑なものとなり、部品点数の著しい増加を招いてい
た。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、位相差検出方式の焦点検出用光
学系において、焦点検出精度とレンズのFナンバーを制
約する再結像レンズ対の瞳間隔を、部品点数の少ない簡
単な構造で精度良く切り替え可能とすることにある。
[課題を解決するための手段] 本発明にあっては、上記の課題を解決するために、第1
図に示すように、撮影レンズTLによって結ばれる物体
の像を、コンデンサレンズL。、一対の再結像レンズL
、、L、及び上記再結像レンズL、、L2の近傍に設け
た絞りマスクAMによって一列に配列された受光素子列
(CCDラインセンサーP0)上に一対の像として再結
像し、上記受光素子列上に再結像した一対の像の位置を
検出して、上記撮影レンズTLの焦点の位置を検出する
焦点検出用光学系において、上記絞りマスクAMは開口
中心間隔の狭い一対の絞り開口部ASH,A2Nと開口
中心間隔の広い一対の絞り開口部A1w、A2yを有し
、且つ、上記絞りマスクA、の二対の絞り開口部AIH
,A2H;A1y、A2yのうち一方を選択する瞳切替
部材CMを有することを特徴とするものである。
[作用] 本発明にあっては0、このように、開口中心間隔の狭い
一対の絞り開口部A 1 H、A 2 Hと開口中心間
隔の広い一対の絞り開口部Aly、A2wを予め絞りマ
スクAMに設けておいて、瞳切替部材CMにより一方を
選択するようにしたので、開口中心間隔の狭い一対の絞
り開口部A IH、A 2 Hを選択した場合には、F
ナンバーの大きい暗いレンズでも焦点検出が可能であり
、また、Fナンバーの小さい明るいレンズに対しては、
必要に応じて開口中心間隔の広い一対の絞り開口部A1
w、A2yを選択することにより、焦点検出精度を上げ
ることができる。
また゛、本発明にあっては、絞り開口部及びその開口中
心間隔の精度は絞りマスクAMの成形精度に応じて決ま
るので、瞳切替部材CMは二対の絞り開口部のうち一方
を遮光し、他方を開く機能さえ備えておれば良い。した
がって、部品点数の少ない簡単な構造でありながら、再
結像レンズ対の瞳を精度良く切り替えることができるも
のである。
[実施例] 第1図は本発明に係る焦点検出用光学系の一実施例の概
略構成を示す斜視図である。第1図において、TLは撮
影レンズであり、その予定結像面FPの近傍には、視野
マスクFMが配置されている。視野マスクFMの中央部
には開口部E0、両側には開口部Eel、EO2が設け
られ、全体としてH型の開口部となっている。視野マス
クFMの各開口部E o * E o + 、 E 6
2を通過した光束は、コンデンサレンズL o 、 L
 a 1. L 02を夫々通過して集束される。再結
像レンズ板りは、中央部に横方向に配列された再結像レ
ンズ対し、、L、と、両側にそれぞれ縦方向に配列され
た再結像レンズ対し 3 、 L −及びL s 、 
L iを備えている。再結像レンズL、〜L6はすべて
同一の曲率半径の平凸レンズよりなり、その凸面は、セ
ンサー基板Pの側に向けられている。絞りマスクAMに
は、再結像レンズL、、L、に対応した位置に、開口中
心間隔の狭い一対の絞り開口部A+H,A2Hと開口中
心間隔の広い一対の絞り開口部A1y、A2yが設けら
れ、再結像レンズL。
〜L、に対応した位置に、絞り開口部A、〜A、が夫々
設けられている。この絞りマスクA、は、再結像レンズ
板りの直前に配置されており、再結像レンズ板りの平坦
部に密着している。
瞳切替部材C1,Iは可動性の遮光部材よりなり、中央
部に開口部ClNIc IWIc 2w、両側に開口部
Cコ。
C2を備えている。この瞳切替部材CMは、絞りマスク
A、の直前に配置されて、再結像レンズLl。
L2の配列方向とは垂直方向に移動自在とされ、絞りマ
スクA、の絞り開口部A1w、A2yを遮光し、他の絞
り開口部は遮光しない“第1の状態”と、絞りマスクA
、の絞り開口部A、、、A2Nを遮光し、他の絞り開口
部は遮光しない“第2の状態”のいずれかを選択可能と
している。コンデンサレンズL0゜L Ol * L 
O2と再結像レンズ板りとの間には、撮影レンズTLの
光軸上の焦点検出ブロックと光軸外の焦点検出ブロック
とを光学的に分離するための遮光部材M、を配置し、迷
光の侵入を防いでいる。
センサー基板Pの小央部には、再結像レンズ対し + 
、 L 2の配列方向と一致するように、CCDライン
センサーP0が横長に配されている。また、センサー基
板Pの両側には、再結像レンズ対し3゜L4及びL s
 、 L sの配列方向と一致するように、CCDライ
ンセンサーp o+及びP。2が縦長に配されている。
各CODラインセンサーPo、Po++Pozは夫々第
1及び第2の受光素子列を含んでおり、再結像レンズ対
し、、L2;L、、L、;L、、L、によって再結像さ
れた第1及び第2の像を別々に光電変換するようにして
いる。図中、点線で囲んだブロック(AF)は、AFセ
ンサーモジュールを示している。
第2図(a)及び(b)は、第1図に示す焦点検出用光
学系において、瞳切替部材CMによって絞りマスクAM
の絞り開口部を切り替える仕組みを説明するための図で
ある。絞りマスクAMの中央部に注目すると、第2図(
a)の状態では、絞りマスクAMに設けられた4つの絞
り開口部A+s+A+w+A2N+Anyのうち、外側
の2つの絞り開口部Aly、A2.Iは瞳切替部材CM
によって塞がれるが、内側の2つの絞り開口部A+H,
A214は瞳切替部材C,に開口部CINが設けられて
いるために、瞳切替部材C。
によって塞がれない、つまり、このときの絞りマスクA
、の中央部における実質的な絞り開口部は、開口中心間
隔の狭い絞り開口部A I N 、 A 2 Hとなり
、Fナンバーの大きい暗いレンズでも焦点検出が可能な
“第1の状態”となる。
次に、第2図(b)の状態では、第2図(a)の状態と
は反対に内側の2つの絞り開口部AIH,A2Hが瞳切
替部材C,によって塞がれるが、外側の2つの絞り開ロ
部A1w、A2w&虚瞳切替部材CMに開口部C、、、
C2,が設けられているために、瞳切替部材C,によっ
て塞がれない、つま、す、このときの絞りマスクAMの
中央部における実質的な絞り開口部は、開口中心間隔の
広い絞り開口部Aly、A2wとなり、焦点検出の精度
が高い“第2の状R″となる。
なお、第2図(a)、(b)のいずれの状態においても
、絞りマスクA、の両側の絞り開口部A、、A、及びA
 s 、 A aは、瞳切替部材CMの両側に開口部C
5及びC1が設けられているために、瞳切替部材CMに
よって塞がれることはない、したがって、本実施例にあ
っては、中央部の瞳切替のみが行われ、両側の瞳切替は
行われない。
第3図は本発明に係る焦点検出用光学系の他の実施例の
概略構成を示す斜視図である0本実施例にあっては、中
央部の瞳切替のみならず両側の瞳切替をも可能としたも
のであり、絞りマスクAMには、再結像レンズLiL4
に対応した位置に、開口中心間隔の狭い一対の絞り開口
部A 3N、 A 4Hと間隔中心間隔の広い一対の絞
り開口部A 3 w、 A 4 wが設けられ、再結像
レンズL s 、 L *に対応した位置に、開口中心
間隔の狭い一対の絞り開口部ASN。
ASHと間隔中心間隔の広い一対の絞り開口部A 5 
y 。
A6wが設けられている。また、瞳切替部材CMの両側
下部に開口部C1及びC6が設けられている。
その他の構成については、第1図実施例と同様である。
第4図(a)及び(b)は、第3図に示す焦点検出用光
学系において、瞳切替部材C,によって絞りマスクAM
の絞り開口部を切り替える仕組みを説明するための図で
ある。絞りマスクAMの両側に注目すると、第4図(a
)の状態では、絞りマスクAMに設けられた各二対の絞
り開口部A !N、A 4H:A 311++A4II
+及びA SNI A !N;A SW+ A awの
うち、外側の絞り開口部A3y、A4y及びA 5w、
 A ayは瞳切替部材CMによって塞がれるが、内側
の絞り開口部A 3 H、A 4 N及びA 5 N、
 A 6 Hは瞳切替部材Cにに開口部C3、Csが設
けられているために、瞳切替部材C,によって塞がれな
い、つまり、このときの絞りマスクAMの両側における
実質的な絞り開口部は、開口中心間隔の狭い絞り開口部
AHI、AnH及びASN、AINとなる。
次に、第4図(b)の状態では、第4図(a)の状態と
は反対に内側の絞り開口部A3N、A4N及びASW。
AGNが瞳切替部材CMによって塞がれるが、外側の絞
り開口部A3w、A4y及びA 6w、 A 6yは瞳
切替部材CMに開口部C、s 、 C4及びCs 、 
C*が設けられているために、瞳切替部材CMによって
塞がれない。
つまり、このときの絞りマスクAMの両側における実質
的な絞り開口部は、開口中心間隔の広い絞り開口部A工
、iw及びA5w、Aiyとなり、焦点検出の精度が高
い状態となる。
第5図(a)及び(b)は、上記各実施例におけるAF
センサーモジュールの実装状態を示す正面図及び側断面
図である。APセンサーモジュールは、第5図(b)に
示すように、内部にモジュールミラー M oを備えて
おり、光路を略垂直方向に曲げることにより、全体をコ
ンパクトに構成している。
レンズホルダーLHには、コンデンサレンズLo。
L o + * L o tが保持され、視野マスクF
Mを兼ねるレンズカバーLCが被着されている。レンズ
ホルダーLHの内部には、各焦点検出ブロックを光学的
に分離するための迷光カットマスクMMが配されている
。再結像レンズ板りは、その平坦部に絞りマスクAMを
接着され、絞りマスクAMとレンズホルダーLHとの間
に、瞳切替部材CMを摺動自在に介在させる間隙が生じ
るように、レンズホルダーLHのボスBに支持されて接
着されている。瞳切替部材CMは、スプリングSPにて
第2図(a)又は第4図(a)に示す“第1の状態”を
取るように付勢されると共に、レバーLBを第5図(b
)の矢印に示すように移動させることによって、必要に
応じて第2図(b)又は第44図(b)に示す“第2の
状態”を取るように駆動される。レバーL、は、電磁石
やバイモルフ素子のような各種のアクチュエータ(図示
せず)に連結されている。センサー基板Pは、受光面が
再結像レンズ板りに面するように、レンズホルダーLH
に支持されて接着されており、この受光面には、カバー
ガラスCGが装着されている。このAFセンサーモジュ
ールは、例えば、−眼レフカメラのミラーボックス底部
に収納されるものであり、この場合、ハーフミラ−を通
過した光束をハーフミラ−後方のサブミラーにてミラー
ボックス底部に導くように構成される。
−眼レフカメラにおけるTTL方式の焦点検出用光学系
においては、開放絞り状態で焦点検出を行うので、焦点
検出用の光束がケラレるか否かは撮影レンズの開放Fナ
ンバー(厳密にはレンズの繰り出し量を考慮した有効開
放Fナンバー)の情報に基づいて判断される。そして、
開放Fナンバーの情報と撮影条件に応じて広狭いずれか
の絞り開口部を選択する0例えば、開放Fナンバーが2
4以上であれば、無条件に開口中心間隔の狭い絞り開口
部を選択し、開放FナンバーがF4未満であれば、無条
件に又は被写界深度が浅い撮影条件においてのみ、開口
中心間隔の広い絞り開口部を選択する。被写界深度が浅
い撮影条件としては、制御絞り値が開放気味である場合
、撮影レンズの焦点距離が長い場合、撮影距離が短い場
合などがある。また、焦点検出モードとして、高精度の
焦点検出を行う高精度モード、高速度の焦点検出を行う
高速度モード、広い遠近範囲にわたる焦点検出を行う広
範囲モードなどを設け、各モードに適した絞り開口部を
選択するようにしても構わない。
なお、瞳切替部材CMの形状は、第2図(a) 、 (
b)若しくは第4図(a)、(b)に示す形状に限定さ
れるものではなく、絞り開口部の切替ができるのであれ
ば、どのような形状であっても良い、また、上述の実施
例は中央部に水平方向、左右両側に垂直方向の受光素子
列を持つ、いわゆる多点焦点検出用光学系に対する実施
例であるが、例えば、中央部にのみ水平方向に受光素子
列を持つ焦点検出用光学系や、中央部に水平方向及び垂
直方向に十字型に受光素子列を持つ焦点検出用光学系な
どにおいても、本発明を適用できることは言うまでもな
い。
さらに、瞳切換部材は可動性を有する遮光部材に限定さ
れるものではなく、絞りマスクに予め設けられた2対の
絞り開口部のうち一方を遮光し、他方を開放する機能を
備える部材であれば良く、例えば電気光学的なシャッタ
ーを用いて構成しても良い。
[発明の効果] 本発明は上述のように、位相差検出方式の焦点検出用光
学系において、絞りマスクに開口中心間隔の異なる二対
の絞り開口部を設けて、いずれが一方を瞳切替部材によ
り選択するようにしたので、撮影レンズのFナンバーが
大きくても焦点検出が可能であり、使用できるレンズに
対する制約が少ないという利点があり、また、撮影レン
ズのFナンバーが小さくて被写界深度が浅い場合には、
必要に応じて焦点検出精度を上げることができるという
効果がある。さらに、本発明にあっては、絞り開口部や
その開口中心間隔の精度は絞りマスクの成形精度に応じ
て決まるので、瞳切替部材を可動性の遮光部材で構成し
ても、その成形精度や組立精度、駆動精度等には余り厳
密性を要求されないという利点があり、したがって、部
品点数の少ない簡単な構造でありながら、再結像レンズ
対の瞳を精度良く切り替えることができるという効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る焦点検出用光学系の一実施例の概
略構成を示す斜視図、第2図(a)及び(1,)は同上
の動作説明図、第3因は本発明に係る焦点検出用光学系
の他の実施例の概略構成を示す斜視図、第4図(a)及
び(b)は同上の動作説明図、第5図(a)及び(b)
はそれぞれ上記各実施例の実装状態を示す正面図及び側
断面図、第6図は従来の焦点検出用光学系の概略構成図
である。 TLは撮影レンズ、Loはコンデンサレンズ、L、、L
、は再結像レンズ、PoはCODラインセンサー、AM
は絞りマスク、AIH,A2H+A+w、A2yは絞り
開口部、C,は瞳切替部材である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)撮影レンズによって結ばれる物体の像を、コンデ
    ンサレンズ、一対の再結像レンズ及び上記再結像レンズ
    の近傍に設けた絞りマスクによって一列に配列された受
    光素子列上に一対の像として再結像し、上記受光素子列
    上に再結像した一対の像の位置を検出して、上記撮影レ
    ンズの焦点の位置を検出する焦点検出用光学系において
    、上記絞りマスクは開口中心間隔の狭い一対の絞り開口
    部と開口中心間隔の広い一対の絞り開口部を有し、且つ
    、上記絞りマスクの二対の絞り開口部のうち一方を選択
    する瞳切替部材を有することを特徴とする焦点検出用光
    学系。
JP4305588A 1988-02-24 1988-02-24 焦点検出用光学系 Pending JPH01216308A (ja)

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JP4305588A JPH01216308A (ja) 1988-02-24 1988-02-24 焦点検出用光学系

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JP4305588A JPH01216308A (ja) 1988-02-24 1988-02-24 焦点検出用光学系

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11968462B2 (en) 2016-07-06 2024-04-23 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state image pickup apparatus, correction method, and electronic apparatus

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11968462B2 (en) 2016-07-06 2024-04-23 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state image pickup apparatus, correction method, and electronic apparatus

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