JPH01204652A - 超音波診断装置 - Google Patents

超音波診断装置

Info

Publication number
JPH01204652A
JPH01204652A JP63026706A JP2670688A JPH01204652A JP H01204652 A JPH01204652 A JP H01204652A JP 63026706 A JP63026706 A JP 63026706A JP 2670688 A JP2670688 A JP 2670688A JP H01204652 A JPH01204652 A JP H01204652A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
signal
circuit
delay
gain
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63026706A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiro Kondo
敏郎 近藤
Shinji Kishimoto
眞治 岸本
Akihiro Kamiyama
上山 明裕
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Medical Corp filed Critical Hitachi Medical Corp
Priority to JP63026706A priority Critical patent/JPH01204652A/ja
Publication of JPH01204652A publication Critical patent/JPH01204652A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、超音波を利用して被検体の診断部位について
断層像を得る超音波診断装置に関し、特に電磁遅延線を
用いた整相回路において各チャンネル間の感度のバラツ
キを補償することができる超音波診断装置に関する。
〔従来の技術〕
従来の例えば電子セクタ走査型の超音波診断装置は、第
4図に示すように、複数の振動子素子1a、lb、・・
・1nが一列状に配列され超音波を送受波する探触子2
と、この探触子2の各振動子素子1a〜1nからの受波
信号に所定の遅延時間を与えて位相を揃え加算して出力
する整相回路3と、この整相回路3で整相された信号を
検波する検波器4と、この検波器4からの出力信号を画
像として表示する表示装置5と、これらの各構成要素を
制御する制御装置6とを有して成っていた。なお、第4
図において、符号7は上記探触子2の各振動子素子18
〜1nに超音波打ち出しの送信パルスを印加するパルス
発生器であり、符号8は制御装置6により目的とする超
音波ビームが発生するごとく上記パルス発生器7に任意
のタイミングの信号を送出するディジタル可変遅延パル
ス発生器である。
このような構成の超音波診断装置において、探触子2の
各振動子素子18〜1nから打ち出される超音波は無指
向とみなせるから、第5図に示すように、隣接振動子素
子間の間隙をdとすると、次式で示す遅延時間tiを与
えて励振することにより、各振動子素子18〜1nから
放射される超音波の合成波面は、角度θで偏向されて伝
播することどなる。
ただし、iは振動子素子の番号、Cは生体中の音速。
また、反射エコーを受波する場合も原理的には送信の場
合と同じく、各振動子素子1a〜1nを励振するときに
与えた遅延時間tiと同じ遅延を与えて合成することに
より、送信の指向性の主軸方向から到達する超音波に対
し最も高い感度を持つようになる。
、  上記探触子2の各振動子素子1a〜1 nに対し
て上記のような動作を行うのが第4図に示す整相回路3
であり、この整相回路3としては従来から第6図〜第8
図に示す三種類の構成のものが用いられている。第6図
に示す整相回路3aは、第4図に示す振動子素子1a〜
1nに共通のタップ付の電磁遅延線9と、この電磁遅延
線9のタップを適宜選択するアナログスイッチ10とを
有し、上記電磁遅延線9及びアナログスイッチ10を組
み合わせた遅延回路により任意の遅延時間の設定と共に
信号の加算合成をするようになっている。また、第7図
に示す整相回路3bは、第4図に示す振動子素子1a〜
1nの数の分だけのタップ付の電磁遅延線9a、9b、
・・・9nと、これらの電磁遅延線98〜9nにそれぞ
れ組み合わされたアナログスイッチ10a、lob、・
・・Ionと、上記各電磁遅延線9a−”9n及び各ア
ナログスイッチ10a〜Ionをそれぞれ組み合わせた
各遅延回路に共通に設けられた加算器11とから成る。
さらに、第8図に示す整相回路3cは、第4図に示す振
動子素子18〜1nの数の分だけのタップ付の電磁遅延
線9a、9b、・・・9n及びそれと同数のアナログス
イッチ10a、10b、・・・Ionをそれぞれ組み合
わせてn個の遅延回路を構成し、これらの遅延回路を従
属接続した間に交互に加算器11a、llb、・・・l
lnを接続して成る。
ここで、超音波診断装置においては、探触子2の2〜1
0MHzの超音波周波数の信号に対し、電磁遅延線9に
よりIons〜15μsの遅延を与えるが、この場合、
上記電磁遅延線9の挿入損失が大きくなり感度が低下す
るという問題があった。そこで、上記の挿入損失を補償
するため、第8図に示す従来の整相回路3cにおいては
、第9図に示すように、各遅延回路(9a+10a)〜
(9n+1On)と各加算器11a〜llnとをそれぞ
れ接続した間に、電磁遅延線9の挿入損失を補償するこ
とができるように一定利得の増幅器12a。
12b、・・・12nをそれぞれ追加していた。
一方、上記電磁遅延線9の挿入損失は、第10図に示す
ように、該電磁遅延線9のタップ番号すなわち遅延時間
及び超音波周波数に依存して変化する。この第10図は
、タップ付の電磁遅延線9の周波数特性の一例を示して
おり、1タツプあたり0.3μsの遅延時間で、16段
構成の遅延線についてのものである。この図から明らか
なように。
タップ番号が大きくなって遅延時間が長くなり且つ超音
波周波数が高くなるに従い、挿入損失が増加することが
わかる。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、従来の超音波診断装置においては、第9図に示
すように、その整相回路3c’ において各遅延回路(
9a+10a)〜(9n+10n)と各加算器11a〜
llnとをそれぞれ接続した間に、電磁遅延線9の挿入
損失を補償するため一定利得の増幅器12a〜12nを
それぞれ追加しただけであるので、第10図に示すよう
に、′?fj、磁遅延線9のタップ位置により挿入損失
が変化するのに対して完全に補償することはできないも
のであった。また、第10図から明らかなように、超音
波周波数の変化によっても挿入損失が変化するので、最
近のように超音波周波数の異なる探触子2を複数種類切
り換えて接続する場合も、電磁遅延線9の挿入損失を完
全に補償することはできないものであった。従って、各
チャンネル間の感度のバラツキを補償することができず
、超音波診断装置としての性能が劣化することがあった
そこで、本発明は、このような問題点を解決することが
できる超音波診断装置を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記の目的は、複数の振動子素子が配列され超音波を送
受波する探触子と、この探触子の各振動子素子からの受
波信号に所定の遅延時間を与えて位相を揃え加算して8
力する整相回路と、この整相回路で整相された信号を検
波する検波器と、この検波器からの出力信号を画像とし
て表示する表示装置と、これらの各構成要素を制御する
制御装置とを有して成る超音波診断装置において、上記
探触子の種類に応じてその探触子の超音波周波数を識別
する識別手段を設けると共に、上記探触子の各振動子素
子には整相回路内の遅延回路の挿入損失を補償するする
ためゲインをyA整する可変利得増幅器をそれぞれ接続
し、上記制御装置により上記識別手段からの識別信号と
上記整相回路の遅延時間の制御信号とから各可変利得増
幅器のゲイン制御信号を送出して上記各可変利得増幅器
のゲインを制御するようにした超音波診断装置によって
達成される。
また、上記制御装置には、識別手段からの超音波周波数
の識別信号データと整相回路の遅延時間の制御信号デー
タとを蓄える記憶装置を設け、この記憶装置から読み出
したデータにより可変利得増幅器のゲイン制御信号を送
出するようにするのが効果的である。
〔作 用〕
このように構成された超音波診断装置は、識別手段によ
り探触子の種類に応じてその探触子の超音波周波数を識
別すると共に、制御装置により上記識別手段からの識別
信号と整相回路の遅延時間の制御信号とから探触子の各
振動子素子にそれぞれ接続された各可変利得増幅器のゲ
イン制御信号を゛送出し、このゲイン制御信号により上
記整相回路内の遅延回路の挿入損失を補償するために上
記各可変利得増幅器のゲインをそれぞれ制御するもので
ある。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて詳細に説明
する。
第1図は本発明による超音波診断装置の実施例を示すブ
ロック図である。この超音波診断装置は、超音波を利用
して被検体の診断部位について断層像を得るもので、第
1図に示すように、探触子2と、整相回路3と、検波器
4と、表示装置5と、制御装置6とを有して成る。
上記探触子2は、被検体の診断部位に向けて超音波を送
受波するもので、小さい短冊状に形成された複数の振動
子素子1a、lb、・・・1nが一列状に配列されてい
る。この探触子2の各振動子素子1a〜1nのそれぞれ
の電極からの信号線はケーブル状に束ねられ、このケー
ブルをコネクタ13に接続することにより、上記探触子
2は装置本体に着脱可能とされている。
整相回路3は、上記探触子2の各振動子素子1a、lb
、・・・1nで受波した各チャンネルch□。
ch、、・・・Chnごとのエコー信号に対して所定の
遅延時間を与えて位相を揃え加算して出力するもので、
遅延回路14と、電圧/電流変換器15と、クロスポイ
ントスイッチ16と、タップ付の電磁遅延線17とから
成る。上記遅延回路14は、例えば第7図に示すと同様
に、一つのチャンネルに対してタップ付の電磁遅延線9
とアナログスイッチ10とを組み合わせて成り、上記探
触子2の各振動子素子1a〜1nで受波するエコー信号
のチャンネルch工〜Chnの数の分だけ並列に設けら
れ、上記各チャンネルCh1〜Chnからのエコー信号
に小さい遅延時間で遅延を与えるものである。例えば、
上記タップ付の電磁遅延線9の各タップ間の遅延時間を
T工とし、そのタップ数をN1とすると、T工なる分解
能で遅延時間が設定でき、最大遅延時間は(Nニー1)
T4となる。電圧/電流変換器15は、上記並列に設け
られた遅延回路14,14.・・・の出力側にそれぞれ
接続されており、上記各遅延回路14からのエコー信号
電圧を定電流信号源に変換するものである。クロスポイ
ントスイッチ16は、n1チヤンネルの入力信号線とm
1チヤンネルの出力信号線を図示のように交差するよう
にし、その交点にそれぞれアナログスイッチを配設した
ものであり、これらのアナログスイッチの開閉は、後述
の制御装置6により制御されるようになっている。タッ
プ付の電磁遅延線17は、上記クロスポイントスイッチ
16の出力信号線に接続されており、上記各遅延回路1
4より大きい遅延時間で遅延を与えるものである。例え
ば、各タップ間の遅延時間を′r2とし、そのタップ数
をN2とすると、T2なる分解能で遅延時間が設定でき
、最大遅延時間は(N2−1)T2となる。ここで、こ
の電磁遅延線17の各タップ間の遅延時間T2は、上記
遅延回路14の最大遅延時間(Nl  x)rlと同じ
値に設計されている。そして、上記各遅延回路14,1
4.・・・と°電磁遅延線17とにより、各チャンネル
Ch1〜Chnからのエコー信号の各々に細かく遅延を
与えた後に加算することができる。
検波器4は、上記整相回路3の出力側に接続されており
、該整相回路3で整相された信号を検波するものである
。表示装置5は、上記検波器4からの出力信号を画像と
して表示するもので、例えばNTSC方式の標準ビデオ
モニタから成る。制御装置6は、上記の各構成要素を制
御するもので、例えば、制御信号S1により各遅延回路
14,14、・・・の遅延時間を設定したり、制御信号
S2によりクロスポイントスイッチ16の各アナログス
イッチを開閉したり、制御信号S3により表示装置5の
表示動作を制御するようになっている。
なお、第1図においては、電子セクタ走査型の超音波診
断装置において受波信号系のみの構成を示しており、送
波信号系は図示省略しである。
ここで、本発明においては、上記コネクタ13と制御装
置6との間に識別手段としてのデコーダ18が設けられ
ると共に、上記コネクタ13と整相回路3の各遅延回路
14,14.・・・どの間に可変利得増幅器19,19
.・・・が設けられている。
上記デコーダ18は、装置本体にコネクタ13により接
続される探触子2の種類に応じてその探触子2の超音波
周波数を識別するもので、上記コネクタ13の一端部に
設けられた例えば四本のピン20a、20b、20c、
20dに四本のリード線21a、21b、21c、21
dで接続されている。そして、例えば第四のリード線2
1dが接地されて第四のピン20dが接地ピンとなって
おり、探触子2の種類ごとに配線された識別用リード線
22により第一〜第三のピン20a〜20Cのいずれが
接地ピン20dに接続されているかにより、上記探触子
2の形式を1,0の符号で認識するようになっている。
第1図に示した例の探触子2では、第−及び第二のピン
20a、20bは非接地で第三のピン20cのみが接地
されているので、このときの識別符号は例えば” OO
1”となる。そして、この識別符号に対応して上記探触
子2の超音波周波数の中心周波数の情報を登録゛してお
けばよい。例えば、超音波の中心周波数は、探触子2の
製品規格として3.5M七、5.0M七、7゜5Ml1
zの三種類とすると、これらの中心周波数ごとにそれぞ
れ001,010,100の識別符号を割り当てておき
、探触子2をコネクタ13に接続することにより、デコ
ーダ18が上記のいずれかの識別符号を読み取って上記
探触子2の超音波周波数を自動的に識別することができ
る。なお、この識別符号の信号(以下「識別信号」とい
う)S4は、信号線23を介して制御装置6へ入力する
ようになっている。
可変利11)増幅器19は、上記探触子2から打ち出し
た超音波の反射エコーの発生源が被検体の深部に移動し
その反射エコー信号が弱くなるに従いゲインを増加させ
る(この動作をT G C/ TinθGa1n Co
ntrolという)と共に、前記整相回路3内の遅延回
路14,14.・・・の挿入損失を補償するためゲイン
を調整するもので、探触子2の各振動子素子1a〜1n
で受波するエコー信号のチャンネルch工〜Chnの数
の分だけ並列に設けられている。そして、これらの可変
利得増幅器19゜19、・・・には、上記制御装置6に
より、上記デコーダ18から入力する識別信号S4と上
記整相回路3へ送出する遅延時間の制御信号S□とから
各可変利得増幅器19,19.・・・のゲイン制御信号
S5.S、、・・・が生成され、これらのゲイン制御信
号S5.S、、・・・がそれぞれ入力するようになって
いる。
さらに、上記制御装置6の内部には、第2図に示すよう
に、デコーダ18からの超音波周波数の識別信号S4の
データと、整相回路3へ送る遅延時間の制御信号S工の
データとを蓄える記憶装置としてのROM (読み出し
専用メモリ)241〜24kが設けられると共に、これ
らのROM24、〜24にの出力側にはD/A変換器2
5が設けられている。ここで、上記ゲイン制御信号S 
5 TSST・・・は、探触子2の超音波周波数の種類
工と、超音波エコーの指向性を定める走査制御信号Jと
、受波するエコー信号のチャンネル番号にとに対応して
定まるので、これらのデータを第2レロこ示す・ように
、ROM24□〜24にのデータPk (I。
J)として記憶させ、これらのデータPk (I。
J)を走査制御信号をJ=1.2.・・・Nと変える毎
に順次読み出し、D/A変換器25によりアナログ電圧
とし、これを各可変利得増幅器19,19、・・・へ送
る一定のTGC制御電圧に重畳することにより、それぞ
れのゲイン制御信号Ss+S5゜・・・を発生させるこ
とができる。
次に、このように構成された超音波診断装置の動作につ
いて第3図を参照して説明するにこで。
第3図(a)は整相回路3のある遅延回路14において
探触子2の超音波周波数の変化によって挿入損失が変化
する周波数特性を示すグラフであり、第3図(b)は探
触子2の超音波周波数と受波エコー信号の信号レベルと
の関係を示す周波数スペクトラムのグラフである。なお
、この周波数スペクトラムは遅延回路14の入力端にお
けるものとする。いま、整相回路3のある遅延回路14
、例えば1番目の遅延回路14における挿入損失が、第
3図(a)において探触子2の超音波周波数5M1(z
にて曲線aで示されるとする。このとき、第1図におい
て上記探触子2をコネクタ13に接続することによって
、デコーダ18が′その探触子2の識別符号を読み取っ
て上記探触子2の超音波周波数が5MHzであることを
自動的に識別する。そして、上記デコーダ18から出力
された探触子2の識別信号S4は制御装置6へ入力する
。すると、この制御装置6は、上記入力した識別信号S
4と整相回路3の1番目の遅延回路14へ送出する遅延
時間の制御信号S1とから、エコー信号の例えば第一チ
ヤンネルch工に対応する1番目の可変利得増幅器19
のゲイン制御信号S、を生成する。
そして、この制御装置6から出力された上記ゲイン制御
信号S、は、所定の信号線を介して上記1番目の可変利
得増幅器19へ入力する。これにより、この1番目の可
変利得増幅器19のゲインが例えば第3図(a)に示す
ように八〇a(曲線aからCに変化させる補償斌)だけ
大きくされ、その挿入損失のカーブが曲線aから曲線C
のように変化する。このとき、探触子2の受波エコー信
号゛の周波数スペクトラムは、第3図(b)に示す曲線
dのようになり、超音波周波数の中心周波数が5MHz
においては受波エコー信号の信号レベルが低くなるのが
避けられる。
次に、上記整相回路3の例えば2番目の遅延回路14に
おける挿入損失が、第3図(a)において探触子2の超
音波周波数5Mf−tzにて曲線すで示されるとする。
このとき、第1図に示す制御装置6は、デコーダ18か
ら人力した探触子2の識別信号S4と整相回路3の2番
目の遅延回路14へ送出する遅延時間の制御信号S、と
から、エコー信号の例えば第二チャンネルCh2に対応
する2番目の可変利得増幅器19のゲイン制御信号S5
を生成する。そして、この制御装置6から出力された上
記ゲイン制御信号S、は、所定の信号線を介して上記2
番目の可変利得増幅器19へ入力する。これにより、こ
の2番目の可変利得増幅器19のゲインが例えば第3図
(a)に示すようにΔGb(曲線すからCに変化させる
補償−m)だけ大きくされ、その挿入損失のカーブが曲
線すから曲線Cのように変化する。このように、1番目
及び2番目の可変利得増幅器19のゲインが制御される
ことにより、エコー信号の第一チャンネルch1に対応
する1番目の遅延回路14における挿入損失と、第二チ
ャンネルCh2に対応する2番目の遅延回路14におけ
る挿入損失とが、それぞれ第3図(a)において曲線C
で示すように補償されて同じ値となり、信号レベルの低
下が避けられる。以下同様にして、エコー信号の各チャ
ンネルCh1〜Chnにそれぞれ対応する各可変利得増
幅器19,19.・・・のゲインを順次制御することに
より、総てのチャンネルに対応する各遅延回路1.4,
14.・・・の挿入損失が補償されて同じ値となり、各
チャンネルCks工〜Chnの信号レベルを路間等とす
ることができる。
なお、第1図においては、整相回路3として、従来例に
おける第7図に示す整相回路3bと第6図に示す整相回
路3aとを組み合わせたものとして示したが、本発明は
これに限らず、第6図〜第8図に示すいずれの整相回路
3a〜3cであって′も同様に適用することができる。
さらに、タップ付の電磁遅延線を用いた整相回路に限ら
ず、探触子2の超音波周波数及び設定した遅延時間によ
り挿入損失が変化する遅延素子を用いた整相回路にも同
様に適用することができる。
また、探触子2の超音波周波数を識別する識別手段とし
てはデコーダ18を示したが、これに限らず、コネクタ
13に接続される探触子2の種類に応じて操作者が操作
パネルに設けられた識別スイッチまたはボタンを操作し
て識別するようにしてもよい。さらに、探触子2はコネ
クタ13により着脱可能としたものとして示したが1種
類の異なる複数本の探触子2を予め接続しておいて選択
スイッチで切り換えるようにしてもよい。
また、以上の説明においては電子セクタ走査型の超音波
診断装置について適用した例で述べたが、本発明はこれ
に限らず、リニア走査を行うための走査用スイッチ回路
を設けたリニア走査型の超音波診断装置及び多重リング
型探触子を用いた機械走査型の超音波診断装置にも適用
することができる。
〔発明の効果〕
本発明は以上のように構成されたので、識別手段として
のデコーダ18により探触子2の種類に応じてその探触
子2の超音波周波数を識別すると共に、制御装置6によ
り上記デコーダ18からの超音波周波数の識別信号S4
と整相回路3の遅延時間の制御信号S工とから探触子2
の各振動子素子18〜1nにそれぞれ接続された各可変
利得増幅器19,19.・・・のゲイン制御信号S3.
Ss。
・・・を送出し、このゲイン制御信号S、により上記各
可変利得増幅器19,19.・・・のゲインをそれぞれ
制御することができる。これにより、エコー信号の総て
のチャンネルCh1〜Ch nに対応する整相回路3内
の各遅延回路14.14.・・・の挿入損失を補償する
ことができる。また、最近のように超音波周波数の異な
る探触子2を複数種類切り換えて接続する場合も、その
超音波周波数を識別して各遅延回路14,14.・・・
の挿入損失を補償することができる。従って、上記整相
回路3においてエコー信号の各チャンネルCh1〜Ch
nの信号レベルを路間等として、各チャンネル間の感度
のバラツキを補償することができる。このことから、超
音波診断装置としての性能が向上し、臨床価値を高める
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による超音波診断装置の実施例を示すブ
ロック図、第2図は制御装置内に設けられた記憶装置と
D/A変換器を示す説明図、第3図(a)、(b)は本
発明の超音波診断装置の動作を説明するためのグラフ、
第4図は従来の超音波診断装置の基本構成を示すブロッ
ク図、第5図は電子セクタ走査の原理を示す説明図、第
6図〜第9図は従来例における整相回路の内部構成を示
すブロック図、第10図は従来例におけるタップ付の電
磁遅延線において探触子の超音波周波数の変化によって
挿入損失が変化する周波数特性を示すグラフである。 18〜1n・・・振動子素子、 2・・・探触子、  
3・・・整相回路、 4・・・検波器、 5・・・表示
装置、6・・・制御装置、 13・・・コネクタ、 1
4・・・遅延回路、  15・・・電圧/電流変換器、
  16・・・クロスポイントスイッチ、  17・・
・電磁遅延線、  18・・・デコーダ(ra別手段)
、 19・・・可変利得増幅器、 24□〜24k・・
・ROM (記憶装置)、S工・・・遅延時間の制御信
号、 S4・・・識別信号、S、・・・ゲイン制御信号
。 茅2図 第 3 図 超管ズm清扛(MHzl 第40 【 第5図 1:’−t、7;+″′ 一一\/ 第6rA   ゛ 第7rI!J 第8図 1n 第9図 J 第1o図 趙考浪■浪社(MHz)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数の振動子素子が配列され超音波を送受波する
    探触子と、この探触子の各振動子素子からの受波信号に
    所定の遅延時間を与えて位相を揃え加算して出力する整
    相回路と、この整相回路で整相された信号を検波する検
    波器と、この検波器からの出力信号を画像として表示す
    る表示装置と、これらの各構成要素を制御する制御装置
    とを有して成る超音波診断装置において、上記探触子の
    種類に応じてその探触子の超音波周波数を識別する識別
    手段を設けると共に、上記探触子の各振動子素子には整
    相回路内の遅延回路の挿入損失を補償するするためゲイ
    ンを調整する可変利得増幅器をそれぞれ接続し、上記制
    御装置により上記識別手段からの識別信号と上記整相回
    路の遅延時間の制御信号とから各可変利得増幅器のゲイ
    ン制御信号を送出して上記各可変利得増幅器のゲインを
    制御するようにしたことを特徴とする超音波診断装置。
  2. (2)制御装置には、識別手段からの超音波周波数の識
    別信号データと整相回路の遅延時間の制御信号データと
    を蓄える記憶装置を設け、この記憶装置から読み出した
    データにより可変利得増幅器のゲイン制御信号を送出す
    るようにした請求項1記載の超音波診断装置。
JP63026706A 1988-02-09 1988-02-09 超音波診断装置 Pending JPH01204652A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63026706A JPH01204652A (ja) 1988-02-09 1988-02-09 超音波診断装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63026706A JPH01204652A (ja) 1988-02-09 1988-02-09 超音波診断装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01204652A true JPH01204652A (ja) 1989-08-17

Family

ID=12200826

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63026706A Pending JPH01204652A (ja) 1988-02-09 1988-02-09 超音波診断装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01204652A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0767879A (ja) * 1993-09-03 1995-03-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 超音波診断装置
CN103300886A (zh) * 2012-03-15 2013-09-18 株式会社东芝 超声波诊断装置及其控制方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0767879A (ja) * 1993-09-03 1995-03-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 超音波診断装置
CN103300886A (zh) * 2012-03-15 2013-09-18 株式会社东芝 超声波诊断装置及其控制方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4172841B2 (ja) 超音波イメージング・システム、超音波イメージング・システムを動作させる方法及びマルチプレクサ・マザーボード
JP5452319B2 (ja) 超音波診断装置
JP5067109B2 (ja) 超音波映像を形成する超音波システム及び方法
US20040122321A1 (en) Multiplexer for connecting a multi-row ultrasound transducer array to a beamformer
JPH0155429B2 (ja)
JP2002291742A (ja) 信号処理回路および超音波ドップラ装置
US5511423A (en) Ultrasonic diagnostic apparatuses and methods therefor
WO1988007838A1 (en) Ultrasonic diagnostic apparatus
JP2003319938A (ja) 超音波診断装置
JPH08628A (ja) 超音波断層装置
JP2004057460A (ja) 超音波診断装置
JP3482361B2 (ja) 超音波診断装置
JPH01204652A (ja) 超音波診断装置
JPH02209135A (ja) 超音波送受信装置
US20050203407A1 (en) Ultrasonic diagnostic apparatus
JPH05192337A (ja) 超音波診断装置
JP3413229B2 (ja) 超音波撮像装置
JP3244489B2 (ja) 超音波診断装置
JP3215023B2 (ja) 超音波診断装置
JP2020130727A (ja) 超音波診断装置
JP3754142B2 (ja) 超音波断層装置
JP2707448B2 (ja) 超音波診断装置
JPH0723960A (ja) 超音波診断装置
JPH07163569A (ja) 超音波診断装置
JP2587730Y2 (ja) 超音波診断装置