JPH01199343A

JPH01199343A - オーバーライト可能光磁気ディスク装置

Info

Publication number: JPH01199343A
Application number: JP2195288A
Authority: JP
Inventors: Takeshi Nakao; 武司仲尾; Takeshi Maeda; 武志前田; Yasushi Suketa; 裕史助田
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1988-02-03
Filing date: 1988-02-03
Publication date: 1989-08-10

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］本発明は光磁気ディスク装置に係わり、特に−定の条件
で記録・消去を行なうことができるオーバーライド可能
光磁気ディスク装置に関する。

［従来の技術］従来、オーバーライト可能光磁気ディスク装置としては
、Ｉ　Ｅ　Ｅ　Ｅ　　Ｔｒａｎａｃｔｉｏｎ　　ｏｎＭ
ａｇｎｅｔｉｃｓ　　Ｍ　Ａ　Ｇ　−２０、Ｖｏｌｕｍ
ｅ　５ｐ、１０１３　（１９８４）に述べられているよ
うに２個の光スポットを用いる方式あるいは、特開昭５
１−１０７１２１号、特開昭５９−２１５００８号、特
公昭６０−４８８０６号記載のように記録膜への印加磁
界を記録する情報に応じて変調させる方式等が挙げられ
る０本発明は、特に後者の磁界変調方式による光磁気デ
ィスク装置に関するものである。

［発明が解決しようとする課題］磁界変調方式により光磁気ディスクに記録を行なう場合
の、記録ドメイン形成メカニズムを第８図に示す、レー
ザ光が照射されると記録膜の温度Ｔは上昇するが、ディ
スクが回転しているため、その温度分布は図示のように
ディスク回転方向に尾を引く、記録膜の保磁界Ｈｃは記
録膜の温度上昇に従って低下する。光スポットが通過し
記録膜の温度が低下する過程で、保磁界Ｈｅは再び上昇
するが、保磁力Ｈａが印加磁界Ｈと等しくなった時点で
、記録ドメインのエツジが確定する。記録膜の温度分布
は図に示すようになるため、磁界変調記録方式において
は、記録ドメインは実際に光スポットを照射した位置か
らずれて形成されることになる。さらに、このずれ量は
光スポツト照射によって生じたディスク上の温度分布の
違い、あるいは記録膜に印加される磁界温度の変動によ
って変化する。第８図（ａ）は、印加磁界強度Ｈが変動
した場合のドメインエツジ変動の様子を示している。一
方第８図（ｂ）は、ディスク線速度が変わることによる
、温度分布の違いのために発生するドメインエツジの変
動の様子を示している。

このように、ディスク線速度や印加磁界強度等の変動に
よって信号記録時に記録タイミングのずれが発生すると
、正確な信号記録ひいては正確な信号再生が困難となる
。ところが、上記の従来技術においては、記録信号のタ
イミングずれに対する配慮がなされておらず、正確なタ
イミングでの信号記録・信号再生が難しいという問題が
あった。

本発明の目的は、上記の問題点を解決し、ディスク線速
度や印加磁界強度等の変動によらず正確なタイミングで
の信号記録・信号再生の可能な光磁気ディスク装置を提
供することにある。

［課題を解決するための手段］上記の目的は、ディスク線速度や記録膜と磁界印加装置
間の距離を検出する手段を設け、該手段からの信号を用
いて、記録膜に印加する磁界強度あるいは照射する光ス
ポットの光強度を変化させることによって達成され゛る
。

［作用］本発明によれば、光スポットの照射位置と記録ドメイン
の形成される位置の関係を空間的あるいは時間的に一定
とすることができる。従って、光磁気ディスクで一界変
調記録方式を用いた場合でも、正確なタイミングでの信
号記録・信号再生が可能となる。

［実施例］以下、本発明の一実施例を第１図により説明する６図に
おいて、１は回転する記録担体である光磁気ディスクで
、ディスク状の透明基板１０３上に、磁気光学効果をも
つ光磁気記録媒体１０１と保護膜１０２を有している０
例えば、半導体レーザ２からなる光源から出射した光は
、コリメートレンズ３によって平行光束に、さらにビー
ム整形光学系４によって円形の強度分布をもった光束に
変換される０次にビームスプリッタ５、立ち上げミラー
６を介して絞り込みレンズ７に入射する。

レンズ７により絞り込まれる光ビームはディスク基板１
０３側からディスク１に入射し記録膜１０１上に直径約
１μｍの微小スポットを形成する。絞り込みレンズ７は
、ディスク１の上下振れに追従して常に記録膜上に焦点
がくるようにアクチュエータ８に取付けられている。ま
たディスク上の情報記録用トラックの偏心に追従して常
に所望のトラック上にスポットがくるように立ち上げミ
ラー６を回転させる。ディスク１から反射光は絞り込み
レンズ７を通ってビームスプリッタ５によって反射され
、ビームスプリッタ９によって光磁気信号検出光学系１
０および焦点ずれ、トラックずれ等の光点制御信号検出
光学系１１に導かれる。

図中には、光磁気信号検出光学系１０の一例を示しであ
る。これはλ／２板１００１と偏光ビームスプリッタ１
００３を用いた差動信号検出方式である。光磁気信号検
出光学系１０に入射した光は、λ／２板１００１、レン
ズ１００２を通過し、偏光ビームスプリッタ１００３に
よってｓ”ｐの各偏光成分に分離されて光検出器１００
４および１００５にそれぞれ集光される。光検出器１０
０４．１００５によって電気信号に変換された信号は、
差動増幅器１２０１によって差動され、光磁気信号とし
て得られる。またディスク上に予め例えば凹凸ビット等
によって記録されている番地情報等は、光検出器１００
４，１００５に入射する総光量として増幅器１２０２の
和動出力から得られる。光磁気信号は光磁気信号検出回
路２７に導かれ、コントローラ３２に入力される。

なお、光磁気信号検出光学系としては本実施例に示した
差動信号検出方式に限定されることはなく、種々の方式
が可能である。

また、光点制御信号検出光学系についても、本実施例に
おいては具体的に示していないが、例えば、焦点ずれ検
出方式としてはいわゆる非点収差方式、トラックずれ検
出方式としてはいわゆる回折光差動力式など種々の方式
が可能である。光点の制御信号検出光学系からゆ出力は、光点制御信号検出回
路２４に導かれ、コントローラ３２に入力される。コン
トローラ３２は、光点制御信号にもとづき、ミラー駆動
回路３０およびアクチュエータ駆動回路３１を介してミ
ラー６およびアクチュエータ８を駆動させる。

なお、光磁気信号と光点制御信号は同一の光学系を用い
て検出してもかまわない、ビーム整形光学系４は必要に
応じて設ければよく、特に用いなくてもかまわない。

磁気ヘッド１４は、ディスク１を挾んで光ヘッド１３と
対向させて記録膜側に配置する。第１図では説明のため
、磁気ヘッドは実際の配置からディスク面内で９０’回
転させ、かつ鳥゛観図として１に押え付けられている。

磁気ヘッド移動機構１６は、ディスク１を交換する場合
等に磁気ヘッド１４を上下させ為ために用いる。磁気ヘ
ッド１４はさらに、光ヘッド１３と支持アーム１７によ
って一体結合されて、光ヘッドと連動可能に構成されて
おり、両者間の距離を一定とすると同時に常にディスク
上の光スポツト真上に磁気ヘッドを設置させる。

光ヘッド１３は、例えばリニアモータあるいはステップ
モータ等によってディスク半径方向に移動させる。この
移動距履、あるいは現在位置は。

モワレスケール１８等によって知ることができる。

第１図では透過型スケールの場合を示しており、発光源
１９と光検出器２０によってモワレスケール１８を挾み
、スケールのパターン数を計数することにより位置を認
識する。光ディスクにあらかじめ記録されている番地情
報を用いて、光ヘッドの移動距離や現在位置を検出して
もかまわない。

この場合は、和動増幅器１２０２の出力を用いる。

また、第１図は、モワレスケール１８が固定設置されて
おり発光源１９と光検出器２０が一体となって光ヘッド
１３と共に移動する構成をとっているが、発光源１９と
光検出器２０を固定設置し、モワレスケール１８を光ヘ
ッド１３と一体として移動させる構成をとってもかまわ
ない。

以下では、本発明における主要部分の動作について詳し
く説明する。

コントローラ３２の指令でディスク１を回転させるスピ
ンドルモータ２１は回転速度検出回路２２を備えており
、その出力は信号処理回路２５へ導かれる。信号処理回
路２５へは計数回路２３の出力も入力されており、ここ
において、ディスク回転速度と光ヘッドの位置から光ス
ポツト照射位置におけるディスク線速度が求められる。

ディスク線速度に関する情報はコントローラ３２に入力
され、コントローラ３２の指令を受けた磁気ヘッド駆動
回路２９が、印加磁界強度を調整する。

すなわち、ディスク線速度が速い場合には印加磁界強度
を低下させ、遅い場合には増加させる。印加磁界強度の
増減量は、（１）あらかじめＲＯＭ等によって装置に記
憶させておく、（２）ディスクごとに記録タイミングず
れを測定し、最適な増減量を調べる。（３）記録の度に
タイミングずれを測定し、最適な増減量を求めてフィー
ドバックする、等積々の方法が考えられる。（１）は使
用するディスクの特性にばらつきがない場合、装置の回
路構成を簡単化する上で有効である。（２）は使用、す
る装置が１つで、複数のディスクを用いる場合に有効と
なる。（３）は装置の回路構成が多少複雑になるが、デ
ィスク、装置ともに幅広い互換性が得られるという効果
がある。これらの具体的実施例については後述する。

光スポツト照射位置におけるディスク線速度を求めるた
めには、以上説明したモワレスケールだけでなく、ディ
スク上にあらかじめ記録されている番地情報を用いても
かまわない。この場合、信号処理回路２５へ入力されて
いる番地情報検出回路２６の信号とディスクの回転速度
信号が用いられる０番地情報検出回路２６の出力は、直
接コントローラ３２に入力され、記録・再生時の信号処
理に使用される。

以上の説明においては、光スポツト照射位置におけるデ
ィスク線速度に対応させて印加磁界強度を変化させてい
るが、照射レーザ光強度を変化させてもよい、その場合
、モワレスケールあるいは番地情報による光ヘツド位置
とディスクの回転速度信号から得られる光スポツト照射
位置におけるディスク線速度はコントローラ３２に入力
され、コントローラ３２からの信号によってレーザ即動
回路２８を介し、記録時におけるレーザ光源２の発光パ
ワーを変化させる。第２図に示したディスク線速度ある
いは印加磁界強度変動と記録ドメインエツジ変動の関係
から、ディスク線速度の遅い場合は発光パワーを上げ、
速い場合は下げれば良い０発光パワー変化量の増減のさ
せ方については、前述の印加磁界強度の増減量設定と同
じである。

以上述べた、印加磁界強度を増減させる手段と発光パワ
ーを変化させる手段とを併用しても構わない。その場合
装置の回路構成は多少複雑になるが、より正確なタイミ
ングでの記録が可能となる。

以上は、ディスク線速度の違いによって生じる、記録膜
温度分布の変化のために記録ドメインのエツジが変動す
る場合であった。以下では、印加磁界強度の変動によっ
て記録ドメインのエツジが変動する場合について述べる
。

第一の実施例において印加磁界強度が変動する主な要因
としては、磁気ヘッド先端部分の発生磁界強度が均一で
ないことがあげられる。第一の実施例において用いられ
る磁気ヘッドとしては、例えば第２図（ａ）に示す様に
、非磁性スライダー２０１に巻線２０２を施したコの字
型磁気コア２０３を埋め込んだ構成のものが用いられる
。この時、コア先端部分の発生磁界強度（記録膜に対し
て垂直な成分）は、同図（ｂ）に示すようにコア側端部
分で増加する傾向がある。従って磁気ヘッドに流す電流
値が一定であっても、記録用の光スポットが磁気コアに
対してどの位置にいるかによって、記録膜に印加される
磁界強度が変化することになり、これによって、第８１
１　（ａ）に示したような記録ドメインエツジ変動が発
生する可能性がある。光スポットは、ディスクの偏心に
追従してディスク半径方向に移動する。この光スポット
の移動は第１図に示した実施例の場合、ミラー６を回転
させることによって行なう、ミラーの回転角度がわかれ
ば光スポットの移動を知ることができる。そこで、ミラ
ー６に取付けられた回転角度検出手段３３からの信号を
コントローラ３２に入力し、この信号により磁気ヘッド
駆動回路２９を介して磁気ヘッド駆動電流を変化させる
。即ち、光スポットが磁気コアの側端部にきた時は、磁
気ヘッド疑動電流を下げることになる０発生磁界強度分
布は、磁気ヘッドの形状が同じであればほぼ一定と考え
られるので、磁気ヘッド駆動電流の変化量は、ＲＯＭ等
の形でコントローラ３２あるいは磁気ヘッド駆動回路２
９等にあらかじめ記憶させておく、光スポットの移動量
は以上に述べた方法だけでなく、ミラー駆動回路３０の
駆動信号、あるいは光点制御信号検出回路２４の中のト
ラックずれ検出信号などを用いて検出することもできる
。

第３図に第一の実施例の変形例を示す。これは、絞り込
みレンズアクチュエータとして二次元アクチュエータ８
０１を用いた例である。駆動回路３５はトラッキング方
向、駆動回路３６は焦点ずれ方向にそれぞれレンズを駆
動させる。トラッキング方向のレンズ移動量はセンサ３
６により、また焦点ずれ方向のレンズ移動量はセンサ３
７によりそれぞれ検出する。その他の構成要素、および
それ等の機能は第一の実施例と同じである。第一の実施
例と異なる点は、光スポットの移動に伴なう印加磁界強
度変化への対応であり、以下その点を説明する。

光スポットの移動量はミラーを回転させた第一の実施例
に比べて二次元アクチュエータ８０１を用いた本実施例
の方が一般的に大きくなる。従って、磁気ヘッドはより
広い領域に磁界を印加する必要を生じ、磁気コアも大き
くなる。磁気コアが大きくなるとその側端部における磁
界強度の増加も大きくなり、磁界強度変動の観点からは
好ましくない、この場合、トラッキング方向のレンズ移
動量はセンサ３６により検出し光スポットの位置を求め
ることになる。

以上の説明においては、光スポットの移動に伴なう印加
磁界強度変化の影響を、磁気ヘッド駆動電流を変化させ
ることによって低減させているが、第８図かられかるよ
うに、光スポットの強度を変化させることによって低減
させることも可能である。即ち、コントローラ３２に入
力された光スポットの移動量に応じた信号にもとづき、
レーザ駆動回路２８を介して記録時の光スポツト強度を
変化させる。

第４図に本発明の第二の実施例を示す、これは、磁界印
加手段として、固定磁気ヘッドあるいは小型電磁コイル
を用いた場合である。小型電磁コイル３８は支持アーム
１７によって支持されている。

第一の実施例で述べた浮上型磁気ヘッドの場合、磁気ヘ
ッドはディスク上下振れに追従するため、磁気ヘッドと
記録膜間の距離変動は大きくとも数μｍ程度であり、記
録膜に印加される磁界強度変動も１％内外とわずかであ
るため、これが記録条件に影響を与えることはない。

これに対して小型電磁コイル３８を用いた場合は、電磁
コイル３８の位置が固定されているため、ディスク上下
振れに応じて電磁コイルと記録膜間の距離が変動する。

この変動量は１００μｍ程度であり、記録膜への印加磁
界強度変動は数１０００にも達する。従って、との印加
磁界強度変動により記録タイミングずれ等が発生するこ
とになる。そこでディスク上下振れに応じて電磁コイル
３８の駆動電流を変化させる。これには、光点制御信号
検出回路２４の出力における焦点ずれ検出信号、あるい
は絞り込みレンズアクチュエータ駆動回路８における駆
動信号を、コントローラ３２を介して電磁コイル駆動回
路２９に入力することにより行なう。駆動電流の変化さ
せがたは、ディスクと電磁コイルが離れる場合は駆動電
流を大きく、逆に近ずく場合は小さくシ、この変化量は
第一、第二の実施例ですでに述べたように、ＲＯＭ等を
用いて装置にあらかじめ記憶させておく等め構成をとる
。

第５図に第二の実施例の変形例を示す。これは、絞り込
みレンズアクチュエータとして二次元アクチュエータ８
０１を用いた例である。その他の構成要素およびその機
能は、第二の実施例と同じであるため詳しい説明は省略
する１本実施例においては、ディスク上下振れ量は、二
次元アクチュエータ８０１に取付けられたセンサ３７を
用いて絞り込みレンズの移動量を検出することによって
求まる。検出した信号を用いて、コントローラ３２を介
し電磁コイル駆動回路２９を制御する。

以上説明したように９本発明においては各種の信号を用
いて記録膜への印加磁界強度、あるいは照射レーザ光強
度を変化させる。以下では、その制御手段について詳し
く説明する。

第６図は印加磁界強度、あるいは照射レーザ光強度等の
変化させ方を、あらかじめＲＯＭ等の記憶素子に記憶さ
せている場合の例で、コントローラ３２の一例を示す、
６０１はアクチュエータ駆動信号処理回路、６０２はミ
ラー駆動信号処理回路、６０３はミラー角度信号処理回
路、６０４は位置検出信号処理回路、６０５はトラック
ずれ信号処理回路、６０６は焦点ずれ信号処理回路、６
０７は番地信号処理回路、６０８は光磁気信号処理回路
、６０９は加算回路、６１０〜６１３は切替えスイッチ
回路、６１４〜６１７は比較回路、６１８〜６２１はＲ
ＯＭ等の記憶素子、６２２は切替えスイッチ回路のコン
トロール回路である。

光点制御信号検出回路２４の出力はトラックずれ信号処
理回路６０５．および焦点ずれ信号処理回路６０６に導
かれる。トラックずれ信号処理回路６０５の出力は、切
替えスイッチ回路６１１を介して比較回路６１５に導か
れる。比較回路６１５においては、入力された信号と記
憶素子６１９にあらかじめ記憶させである情報とを比較
することにより、光スポットのトラックずれに対応して
。

印加磁界強度を変化させる信号を発生させ、切替えスイ
ッチ回路６１０を介して磁気ヘッド（あるいは電磁コイ
ル）ＩＩ！動回路２９を駆動させる。−方、比較回路６
１５においては、入力された信号と記憶素子６１９にあ
らかじめ記憶させである情報とを比較することにより、
光スポットのトラックずれに対応して、照射レーザ光強
度を変化させる信号を発生させ、切替えスイッチ回路６
１３を介してレーザ駆動回路２８を駆動させる。トラッ
クずれ信号処理回路６０５の出力を、加算器６０９によ
り位置検出信号処理回路６０４の出力と加算した後切替
えスイッチ回路６１１を介して比較回路６１５に導いて
も良い。

焦点ずれ信号処理回路６０６の出力は、アクチュエータ
駆動信号処理回路６０１と同時に比較回路６１６に導か
れる。比較回路６１６においては、入力された信号と記
憶素子６２０にあらかじめ記憶させである情報とを比較
することにより、電磁コイルとディスク間の距離に対応
して、印加磁界強度あるいは照射レーザ光強度を変化さ
せる信号を発生させ、夫々切替えスイッチ回路６１０あ
るいは６１３を介して電磁コイル駆動回路２９あるいは
レーザ駆動回路２８を駆動させる。

また、ミラー角度信号処理回路６０３の出力は、比較回
路６１４に導かれる。比較回路６１４においては、入力
された信号と記憶素子６１８にあらかじめ記憶させであ
る情報とを比較することにより、ミラーの角度すなりち
光スポットの位置に対応して印加磁界強度あるいは照射
レーザ光強度を変化させる信号を発生させ、夫々切替え
スイッチ回路６１０あるいは６１３を介して電磁コイル
駆動回路２９あるいはレーザ駆動回路２８を駆動させる
。

さらに、信号処理回路２５よりのディスク線速度に関す
る信号は比較回路６１６に導かれる。比較回路６１６に
おいては、入力された信号と記憶素子６２０にあらかじ
め記憶させである情報とを比較することにより、ディス
ク線速度に対応して、印加磁界強度あるいは照射レーザ
光強度を変化させる信号を発生させ、夫々切替えスイッ
チ回路６１０あるいは６１３を介して電磁コイル駆動回
路２９あるいはレーザ駆動回路２８を駆動させる。

以上説明した種々の信号のうち実際にいずれの信号を用
いて電磁コイル駆動回路２９あるいはレーザ駆動回路２
８を駆動させるかの選択は、切替えスイッチ回路のコン
トロール回路６２２を用いて行う０種々の信号のうちい
くつかを組合わせて使用しても良い、また電磁コイル駆
動回路２９あるいはレーザ駆動回路２８にいずれか一方
、あるいは両方を駆動させることも可能である。

第７図に、記録膜への印加磁界強度、あるいは照射レー
ザ光強度を変化させる手段の他の例を示す、記録信号は
、記録信号変調回路７０１により変調され、磁気ヘッド
（あるいは電磁コイル）駆動回路２９に入力される。再
生された光磁気信号は、光磁気信号処理回路６０８二値
化され比較回路７０３に導かれる。比較回路７０３には
記録信号変調回路７０１および基準信号発生回路７０４
の信号もまた入力されており、これらの信号を用いて、
基準信号に対する記録信号の記録タイミングずれが求め
られる。信号処理回路７０２はこの記録タイミングずれ
を補正する信号を発生し、この補正信号を記憶素子６１
８〜６２１に入力する。

これにより、第６図の説明で述べた種々の要因によって
変動する記録タイミングずれを、発生磁界強度あるいは
照射レーザ光強度を制御させることにより、補正するこ
とができる６水力式における補正信号の記憶動作はディ
スク毎に行なう場合。

また特定の時間あるいはディスク上に特定の領域を設け
る等により、記録動作の度に行なう場合等様々考えられ
る。

【発明の効果］以上説明したように、本発明によれば、ディスク線速度
や印加磁界強度等の変動によらず、正確なタイミングで
の信号記録・信号再生が可能な光磁気ディスク装置を提
供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第一の実施例を示す図、第２図は第一
の実施例に用いられる磁気ヘッドおよびその発生磁界強
度を示す図、第３図は本発明の第一の実施例の変形例を
示す図、第４図は本発明の第二の実施例を示す図、第５
図は本発明の第二の実施例の変形例を示す図、第６図は
発生磁界強度あるいは照射レーザ光出力の制御手段に関
する一例を示す図、第７図は発生磁界強度あるいは照射
レーザ光出力の制御手段に関する他の例を示す図、第８
図はディスク線速度あるいは印加磁界強度の変動によっ
て発生する、記録ドメインエツジ変動の様子を示す図で
ある。１・・・ディスク、２・・・半導体レーザ、３・・・コ
リメールレンズ、４・・・ビーム整形光学系、５・・・
ビームスプリッタ、６・・・ミラー、７・・・絞り込み
レンズ、８・・・絞り込みレンズアクチュエータ、８０
１・・・２次元アクチュエータ、９・・・ビームスプリ
ッタ、１０・・・光磁気信号検出光学系、１１・・・光
点制御信号検出光学系、１２０１・・・差動増幅器、１
２０２・・・和動増幅器、１３・・・光ヘッド、１４・
・・磁気ヘッド、１５・・・支持バネ、１６・・・磁気
ヘッド移動機構、１７・・・支持アーム、１８・・・モ
ワレスケール、１９・・・発光源、２０・・・光検出器
、２１・・・スピンドルモータ、２２・・・回転速度検
出回路、２３・・・計数回路、２４・・・光点制御信号
検出回路、２５・・・信号処理回路、２６・・・番地情
報検出回路、２７・・・光磁気信号検出回路、２８・・
・半導体レーザ駆動回路、２９・・・磁気ヘッドまたは
電磁コイル駆動回路、３０・・・ミラー駆動回路、３１
・・・レンズアクチュエータ駆動回路、３２・・・コン
トローラ、３３・・・ミラー角度検出手段、３４．３５
・・・２次元アクチュエータ駆動回路、３６．３７・・
・レンズ位置検出センサ、３８・・・電磁コイル、２０
１・・・スライダー、２０２・・・巻線、２０３・・・
磁気コア、６０１・・・アクチュエータ駆動信号処理回
路、６０２・・・ミラー翻動信号処理回路、６０３・・
・ミラー角度信号処理回路、６０４・・・位置検出信号
処理回路、６０５・・・トラックずれ信号処理回路、６
０６・・・焦点ずれ信号処理回路、６０７・・・番地信
号処理回路、６０８・・・光磁気信号処理回路、６０９
・・・加算回路、６１０〜６１３・・・切替えスイッチ
回路、６１４〜６１７・・・比較回路、６１８〜６２１
・・・ＲＯＭ等の記憶素子、６２２・・・切替えスイッ
チ回路のコントロール回路、７０１・・・記録信号変調
回路、７０２・・・信号処理回路、７０３・・・比較回
路、７０４・・・基準信号発生回路。￥２旦山　演層鶴濱府今イ文　　　ｊ【竿１Ｔｉ３Ｊ２面（の　ｆ勲ｒＪ＾１界Ｈ−斐動

Claims

【特許請求の範囲】１、磁界印加手段により記録情報に応じて極性反転ある
いは強度変調された磁界を記録媒体上の光磁気記録膜に
印加するとともに、光ヘッドから高出力のレーザ光を連
続照射することによって情報の記録を行なう光磁気ディ
スク装置において、ディスク回転速度を検出する手段と
、該ディスク半径方向における該光ヘッドもしくは該デ
ィスク上に絞り込まれた光スポットの位置を検出する手
段と、該光スポットの位置におけるディスク線速度を検
出する手段を少なくとも具備し、該光スポットの位置に
おけるディスク線速度に応じて該磁界印加手段より記録
膜に印加する磁界強度を変化させることを特徴とするオ
ーバーライト可能光磁気ディスク装置。２、磁界印加手段により記録情報に応じて極性反れた磁
界を記録膜に印加するとともに、光ヘッドから高出力の
レーザ光を連続照射することによって情報の記録を行な
う光磁気ディスク装置において、ディスク回転速度を検
出する手段と、該ディスク半径方向における該光ヘッド
もしくは該ディスク上に絞り込まれた光スポットの位置
を検出する手段と、該光スポットの位置におけるディス
ク線速度を検出する手段を少なくとも具備し、該光スポ
ットの位置におけるディスク線速度に応じて該光スポッ
トの強度を変化させることを特徴とするオーバーライト
可能光磁気ディスク装置。３、該磁界印加手段の磁界印加領域内における該光スポ
ットの位置を検出する手段を設け、該磁界印加手段の磁
界印加領域内における該光スポットの位置に応じて、該
磁界印加手段より記録膜に印加する磁界強度を変化させ
ることを特徴とする特許請求範囲第１項記載のオーバー
ライト可能光磁気ディスク装置。４、該磁界印加手段の磁界印加領域内における該光スポ
ットの位置を検出する手段を設け、該磁界印加手段の磁
界印加領域内における該光スポットの位置に応じて、該
光スポットの強度を変化させることを特徴とする特許請
求の範囲第２項記載のオーバーライト可能光磁気ディス
ク装置。５、該磁界印加手段として浮上型の磁気ヘッドを用いる
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項又は第２項記載
のオーバーライト可能光磁気ディスク装置。６、該磁界印加手段として固定型の磁気ヘッドあるいは
固定型の小型電磁コイルを用いることを特徴とする特許
請求の範囲第１項又は第２項記載のオーバーライト可能
光磁気ディスク装置。７、該磁界印加手段と該ディスク間の距離を検出する手
段を設け、該磁界印加手段と該ディスク間の距離に応じ
て該磁界印加手段より記録膜に印加する磁界強度を変化
させることを特徴とする特許請求の範囲第１項、第３項
又は第６項記載のオーバーライト可能光磁気ディスク装
置。８、該磁界印加手段と該ディスク間の距離を検出する手
段を設け、該磁界印加手段と該ディスク間の距離に応じ
て該光スポットの強度を変化させることを特徴とする特
許請求の範囲第２項、第４項又は第６項記載のオーバー
ライト可能光磁気ディスク装置。