JPH01197691A - 計時装置 - Google Patents

計時装置

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JPH01197691A
JPH01197691A JP2251588A JP2251588A JPH01197691A JP H01197691 A JPH01197691 A JP H01197691A JP 2251588 A JP2251588 A JP 2251588A JP 2251588 A JP2251588 A JP 2251588A JP H01197691 A JPH01197691 A JP H01197691A
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circuit
pulse
time
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input
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JP2251588A
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Seiji Uchino
政治 内野
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Anritsu Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は第1に、パルスの発生した時刻を精密に測定で
きる計時装置を提供する。詳しく述べれば、G P S
 (Global Positioning Syst
em)衛星の発射するスペクトラム拡散されたエポック
パルスを受信器で受信して、このエポックパルスを再生
し、その受信時刻を精密に測定できるようにした計時装
置に関する。
本発明は第2に、時刻を精密に測定することにより、受
信器の位置を算出できるようにした測位装置も提供する
。すなわち、第1のGPS衛星のエポックパルスの受信
時刻をLl+第2のGPS衛星のエポックパルスの受信
時刻をL t+・・・・・・とし、それぞれの受信時刻
のGPS衛星の位置(軌道)ベクトルをS、(t)、S
!(t)、・・・・・・・・・とし、それぞれのエポッ
クパルスの発射時刻をLl’+  L!’+・・・・・
・とすると、受信器の位置ベクトルUは、次のようにな
る。
U−f (S++Sz+−、it+−t+’+tz−L
xo−) −(1)したがって、本発明の装置を内蔵し
たGPS受信器は地球上の位置の測量、測位装置として
使用できる。
〔従来の技術〕
従来の、この種の測量・測位技術は例えば、日本測地学
会編著rGPS−人工衛星による精密測位システム」 
(社団法人日本測量協会、工986年11月発行)に開
示されている。
従来、パルスの発生時刻を測定するには、高速クロック
(周波数fcHz)により駆動されるカウンタと被測定
パルス(以下、被測パルスという)のエツジによって該
カウンタの内容(Q、−Q、)がロードされるラッチ回
路とから構成されたユニバーサルカウンタ等が使用され
ていた。
第11図(a)に、以上述べた従来技術の構成図を示す
被測パルスのエツジは、高速クロック(周波数rcl(
z)によって駆動され、1/fc秒ごとにインクリメン
トされるカウンタ8の出力Q。−Q、を入力とするラッ
チ回路9のロード入力端子Ldに印加される。すなわち
、この被測パルスのエツジのある瞬間における状態が、
ラッチ回路9にロードされるのである。このロードされ
た該カウンタ8の出力Qo−Q、は、パルスの発生時刻
t、において、次のように表わすことができる。
L R= t o+Σ 2’  ・Q 、 / fc 
 −−−−−(2)ここで、Loは時間に無関係なオフ
セット量であって、カウンタ8をリセットした時刻と被
測パルスの遅延時間等によって定まる。
第11図(ハ)は、第11図(a)に示す従来技術の構
成図におけるカウンタ8の状態、高速クロック、被測パ
ルス及びラッチ回路9にラッチ(保持)されたデータな
どの相関関係についてのタイミングチャートを示したも
のである。
〔発明が解決しようとする課題〕
以上、述べた従来技術では、 (1)  測定の分解能を上げようとすると、高速クロ
ックの周波数fcHzを高くしなければならず、(2)
一方、カウンタ等のゲート素子の速度限界により高速ク
ロックの周波数を100MHzすなわち、時刻の分解能
は10nsec程度に抑えられていた。
(3)  また、長時間の測定においては、カウンタを
カスケード接続し、その桁数Mを増やさなければならな
いが、しかし、該桁数Mの増加にともないキャリニ(次
の桁のカウンタに送る桁上げ)の遅延のために高速クロ
ックの周波数fcHzの上限をさらに小さくする必要が
あった。例えば、4段のバイナリ−カウンタの場合、L
STTL C大規模トランジスタトランジスタ論理回路
)では、このキャリーの遅延が10nsec位あった。
したがって、前記桁数Mが19の4段×5ステージのと
きは、合計5 X IO= 50nsecに相当し、そ
の結果、高速クロックの周波数の上限は20MHzにな
ってしまうことがあった。
以上、述べた理由により、従来の技術では、時刻分解能
が上昇しないという欠点があった。
〔課題を解決するための手段〕
そこで、この発明では、 第1に、被測パルスのエツジと基準となるカウンタクロ
ツタとの間の差(以下、残差パルスという)の時間幅を
精密に測定するために、積分回路(アナログ回路による
積分)を利用する。
第2に、残差パルスは、その発生間隔が広い場合には、
中間の雑音によって精度が悪化されるので、それを避け
るため残差パルスの前後に亘る限られた範囲のみに積分
区間を限定する手段を備える。その積分区間の開始には
遅延される前の被測パルスを利用して制御し、積分区間
の終了には被測パルスを遅延させた信号を利用して制御
する。
第3に、結合コンデンサを介して前記積分回路に残差パ
ルスを被積分信号として供給することとし、残差パルス
のオフセント電圧による積分値の変動を防ぐこととした
第4に、積分器(積分回路)の動作範囲が残差パルスの
幅(時間)に比例する直線領域となるように、残差パル
スのパルス幅が適当に広くなるように選ぶ制御手段を置
く。
〔作用〕
以下、前項に記載した〔課題を解決するための手段〕の
順に従って説明していく。
(第1)カウントクロックのエツジと被測パルスのエツ
ジとの間の時間差成分である第4図に示す残差パルスを
作り、これを積分回路で積分し、その積分の結果得られ
た積分電圧をAD変換器でAD変換する。ここで、積分
電圧は、カウントクロックのエツジと被測パルスのエツ
ジとの間の時間差1に比例するので、積分電圧を求める
ことにより前記時間差 tw算出することができる。し
たがって、分解能は、AD変換器の分解能にクロック周
期L/rcを乗じた時間になる。例えば、AD変換器と
して8bit長の変換器を使用し、クロック周波数を1
0M1lzとすると、見掛上の分解能Δは、次のように
なる。
Δ−1/ (fcX 2”) ”=  0.39nse
c −−−−(3)(第2)ここで、見掛上の分解能と
したのは、次の理由による。それは、分解能が時間差成
分である残差パルスのSN比で決まるからである。すな
わち、前記積分回路に入力される残差パルスの電力をS
 (w)とすると、 S =  tw −VF ” /(ROXT)  (W
) −−−−(4)ここで、jllはカウントクロック
のエツジと被測パルスのエツジとの間の時間差、Tは残
差パルスの発生する発生周期、vFは残差パルスの波高
値電圧、R,は残差パルスの存在するラインの特性イン
ピーダンスの実数部である。
実際の分解能AXは、次のようになる。
A2−Δ”十に−N/S   −・・−・−・・・・・
−・・・・・−(5)ここで、Δは見掛との分解能、N
は残差パルスに含まれる雑音電力(w)、Sは残差パル
スの電力(W)である。
したがって、分解能は残差パルスの発生周期Tが長くな
ると劣化する。例えば、GPS等の用途では、時間差 
t。−0,1tlsecに対して発生周期Tはl m5
ecとなり、これは、見掛上の分解能Δに比べて無視で
きない晴となっているので、本発明においては積分回路
を残差パルスが発生するまで放電状態にしておき、また
残差パルスが到来して時間差 t。を過ぎた後、AD変
換器によりAD変換する。AD変換が終了すると、直ち
に積分回路を放電状態とし、実効的に残差パルスの発生
周期Tを短かくしている。すなわら、第4図の方法をと
ると、発生局3tIlTは、積分回路が動作している(
すなわち、放電状態でない)時間となる。
(第3)残差パルス発生回路から出力される残差パルス
は、通常TTLなどのロジック回路の出力であり、オフ
セット電圧が存在する。このオフセット電圧はTTLな
どでは0.7v位である。この影響を除くため、積分回
路は結合コンデンサを介して残差パルス発生回路に結合
しである。このような構成とすることにより、結合コン
デンサが積分電圧におよぼす影響は、積分回路の放電状
態でない時間(積分時間)TがAD変換時間程度短いた
め無視できるのである。
第3図に積分回路2の一構成実施例を示す。
積分回路2はカウントクロックのエツジと被測パルスの
エツジとの間の時間差(クロックII)tWの残差パル
スが入力端子2aに入力されると、積分電圧は、該残差
パルスが入力されてからL秒後においで、次のように表
わすことができる。
y (t) −K +  ・ 4・ (1−t/(c,
−R))→−■。  ・・−・−・・−・−・−−−−
−一−−−−−−−−−−−−(6)但し、0<1≦C
+−R,O<  tw≦C,・Rここで、K+は積分電
圧調整用抵抗2B3で、■。
は積分電圧オフセット調整用電源282によりそれぞれ
自由に設定できる定数である。
結合コンデンサ3が積分電圧に及ぼす誤差は、−t/R
CI  −一・−・−・・・・−・−(7)である。こ
こで、LはAD変換時間であり、例えば、通常の8bi
t程度の逐次比較型AD変換器では20μsec以下で
ある。また、時定数RC,は、例えば、20s+sec
程度とすると、t/RC,=  O−1%となり、無視
できる。
なお、入力端に結合コンデンサ3があるために残差パル
ス発生回路lのリセット状態時における出力電圧(オフ
セット電圧)の変動は、積分電圧に変動を及ぼさない。
また、第3図に示す積分回路2が放電状態にあるときは
放電スイッチ2CがONになっており、もし、雑音が入
力されても積分コンデンサ2A1にはこの雑音に起因す
る電荷は蓄積されない。したがって、積分電圧に影響す
る雑音は積分回路2が放電状態にないときに入力される
雑音だけとなる。このため、被測パルスの発生周期が長
時間であるような測定においても分解能は劣化しないの
である。
(第4)さらに、第6図に示すように、残差パルスの幅
を−が0に近ず(と、積分電圧は残差パルス発生回路の
過渡応答に影響し、そのために、該残差パルスの幅 1
wに比例しなくなってしまう。
例えば、残差パルスが残差パルス発生回路のセント状態
における定常電圧(残差パルスの波高値電圧)VPに達
するまでの時間を1Aとし、立ち上がり、立ち下がりと
もに直線的で同じだとすると、前記残差パルスの幅 1
は立ち上がり時点から立ち下がり時点までの時間となる
この場合、残差パルスの面積S(積分回路の出力である
積分電圧に比例する量)は、 を−≧tAのとき S=Vr−tw      ・・・・・・・−−−(8
)Q<tH<tAのとき S = V P ・tw ” / t a  −−−−
−−・(9)となる。
twくtAのときは、Sは t、 2で増加することに
なって、この非直線性が精度を落とす原因となる。
本発明では、第1図に示す残差パルス発生回路1のリセ
ット側に入力されるリセット信号を、残差パルスが残差
パルス発生回路lのセット状態における定常電圧■、に
達するまでの時間(波高値電圧に達するまでの時間)t
a以上遅延させ、常に残差パルスの幅t8が、その波高
値電圧に達するまでの時間LA以上となるようになって
いる。
そのため、残差パルスは第6図のグラフ上の直線領域に
あって二乗誤差を生じない。
〔実施例〕
第1図は、本発明に係る計時装置の構成についての第1
の実施例を示す。
第2図は、第1図に示す第1の実施例についてのタイム
チャートを示す。
本実施例では、ラッチ回路9に蓄えられたカウンタ8の
状態y。とAD変換器4の出力yllとから被測パルス
の立ち上がりエツジの時刻り、を次式で測定できる計時
装置を提供する。
t  真=  L  o   七  (yo   +y
、  /N)   −Tc   −−−−−−−(1(
Dここで、Loは時間によって変化しない固定の遅延時
間であり、Tcはカウントクロックの周期である。yo
はラッチ回路9においてロード信号を検出したときのカ
ウンタ8の状態であり、(Mトl)段2進UPカウンタ
をカウンタ8として使用したときは、 yo E (0,1,2,−・−−−−−−,2” ’
−13−−−−−−−01)であり、AD変換器4をB
ビットの分解能をもったAD変換器とすると、 yllε((1,1,2,−−−−−−−、zl−1)
   −−−−−−−−−021N=2”      
   ・・−−−一−−−−−−−−−・−一−−−−
−−・−・ 0■となる。
被測パルスは積分回路2の放電終了端子2dへ入力され
、本実施例においては被測パルスの立ち上がりエツジを
積分回路2の放電終了状態、すなわち積分開始とする。
積分回路2は、放電開始端子2cに放電開始信号が入力
されるまで積分状態となる。このような積分回路2の一
実施例を第3図に示す。
結合コンデンサ3の一端は、積分抵抗2AO,積分コン
デンサ2Al及び積分用アンプ2八2から構成された反
転型積分回路2Aに接続されている。
なお、積分用アンプ2A2の人力は、仮想グランド、(
接地点)であるから積分抵抗2AOの抵抗値をRとし、
被積分入力をv、(V)とすると、前記積分コンデンサ
2A1にはVP /R(A)の電流が流入するため、積
分用アンプ2A2の出力には次式で求められた積分電圧
(積分結果)が現れる。
Vl(t) = S (−Vr (t) /Rcz )
 dt  ・−・−04)加算抵抗2BO1加算抵抗2
B1.積分電圧オフセット調整用電源2B2.積分電圧
振幅調整用抵抗2B3および加算用アンプ284から成
る反転加算回路2Bは、旧式の積分結果(Vl (t)
 )に対し、次式で演算を施すものである。
Vo (t) =に+  (Vl (t) +Voys
 )  −−−−05)ここで、■。F、は加算抵抗2
BOと積分電圧オフセット調整用電源2B2より定めら
れるオフセット電圧であり、K1は加算抵抗2BOと積
分電圧振幅調整用抵抗2B3より定まる利得である。し
たがって、利得に1とオフセット電圧v or sを適
当に積分電圧オフセット調整用電源2B2と積分電圧振
幅調整用抵抗283で調整することにより積分回路2の
出力の最大値及び最小値が第1図に示すAD変換器40
入力範囲と一致するようにできる。
第3図に示す積分コンデンサ2A1には、その両端に放
電スイッチ2Cが取り付けられ、放電スイッチフリップ
フロップ2Dによって制御される。
すなわち、放電終了端子2dにおいて、その人力を検出
してから放電開始端子2cにおいて、その入力を検出す
るまでは、該放電スイッチ2Cは開放状態となり、前記
積分回路2は積分状態となる。
一方、放電開始端子2cにおいて、その入力を検出して
から放電終了端子2dにおいて、その入力を検出するま
では、放電スイッチ2Cは閉じており、請分回路2は放
電状態となる。
この放電状態においては、被積分入力に雑音が入ってき
ても積分コンデンサ2AIには何ら電荷が蓄積されてい
ないので、積分結果は積分状態における被積分人力だけ
で決まることとなる。
第5図は、第1図に示す積分回路2において、その放電
開始端子2cと放電終了端子2d並びに第3図に示す放
電スイッチ2cと積分コンデンサ2八1についての相互
の状態関係を示すタイムチャートである。
第1図に示すように、被測パルスは、第1の遅延回路5
により時間ムロ、だけ遅延され、残差パルス発生回路1
のセット端子S及びD型フリップフロップ6のD端子の
セット端子となる。
第1の遅延回路5によって被測パルスに対し付与される
遅延時間は、被測パルスのエツジから積分回路2におい
て、第3図に示す放電スイッチ制御フリップフロップ2
Dが放電終了を検出し、放電スイッチ2Cが閉から開へ
移行した後、積分回路2が完全に積分状態に移行するま
での時間よりも長くなっている。
また、第1の遅延回路5は、例えば同軸線路等の遅延時
間を利用して実現されるが、簡単にはフリップフロップ
によって実現できる。この第1の遅延回路5に5より遅
延された被測パルスはD型フリップフロップ6のD端子
へ入力される。
D型フリップフロップ6のクロック端子にはカウンタ8
を駆動しているカウントクロックが入力される。
D型フリップフロップ6のQ出力は、外部からカウント
クロックが入力し、その立ち上がった時点におけるD入
力のロジックレベルである。このQ出力は、ロード信号
としてランチ回路9に入力される。このとき、Q出力の
立ち上がりエツジによってラッチ回路9には、カウンタ
8の状態がロードされる。
したがって、第2図に示すタイムチャートのように、遅
延された被測パルスすなわち、セット信号の立ち上がっ
た後の次のカウントクロックの立ち上がり時点における
カウンタ8の状態をロードするのである。
さらに、第1図により、本発明に係る計時装置について
説明すると、カウンタ8はカウントクロックの立ち上が
り時点ごとに1つずつ状態をインクリメントしてゆく。
したがって、ラッチ回路9に係る状態がロードされる瞬
間は、カウントクロックが立ち上がった時点であるから
、この間にカウンタ8は遷移を終わっていなければなら
ない。
カウンタ8は、カウントクロックの立ち上がり時点ごと
に状態をインクリメントしてもよい。
ただし、このときは、ロード信号をカウントクロックの
立ちとがり時点より早めるかあるいは等価的に早める必
要がある。すなわち、カウンタ8のクロック入力をD型
フリップフロップ6のクロック入力よりも遅延させれば
よい。
いずれにせよロード信号はカウンタ8の状態遷移が終了
してからラッチ回路9に入力されなければならない。
第2の遅延回路7は前記り型フリップフロンプロのQ出
力すなわち、ラッチ回路9のロード信号を時間t 02
だけ遅延させ、リセット信号を作る。
この第2の遅延回路7も前記第1の遅延回路5と同様の
手段で実現できる。
第2の遅延回路7は残差パルスのパルス幅が残差パルス
発生回路lにおけるQ出力の立ち上がり時間と立ち下が
り時間の合計時間よりも短くなるのを防ぐため、前記合
計時間よりも長い遅延時間が必要である。
すなわち、L^を立ち上がりに要する時間及び立ち下が
りに要する時間の合計時間とすると、’ I、z > 
t A、  −−−−−−−・−・−一−−−−・ 0
ωとなる。
残差パルスのパルス幅が、残差パルス発生回路1におけ
るQ出力の立ち上がり時間と立ち下がり時間との合計時
間以下になると、積分回路2の出力が残差パルスのパル
ス幅に比例しなくなってしまうことは、すでに述べたと
おりである。
残差パルス発生回路1は、第1の遅延回路5の出力と第
2の遅延回路7の出力を、それぞれセット入力、リセッ
ト人力とするフリップフロップであって、該第1の遅延
回路5からのセット信号を検出してから該第2の遅延回
路7からのリセット信号を検出するまでの期間における
Q出力と、リセット信号を検出してからセット信号を再
び検出するまでの期間におけるQ出力とは、その出力は
反転する。
残差パルスは、前者の期間だけ出力され、その期間の長
さを tlとすると、前記残差パルス発生回路1のQ出
力を(十分大きな結合コンデンサ3を経由して)被積分
入力とする積分回路2の積分出力は、前記第1の遅延回
路5からのセット信号を検出してから第2の遅延回路7
からのリセット信号を検出するまでの時間t1に比例す
る。この結合コンデンサ3は、残差パルスの0状態にお
ける変動を除去する。例えば、残差パルス発生回路1の
Q出力がOのときの電圧が温度等の変化により変動して
も積分出力には何ら影響しない。
積分回路2の積分出力は、AD変換器4に入力される。
AD変換器4は残差パルスが終了したとき、すなわち、
第2の遅延回路7から出力された(残差パルス発生回路
1の)リセット信号を検出したときにアナログ量をディ
ジタル量に変換するので、AD変換器4のAD変換開始
入力は、第2の遅延回路7の出力すなわち、残差パルス
発生回路1のリセット信号Rでもある。
AD変換34でアナログ量がディジタル量に変換された
場合のAD変換終了出力は、積分回路2の放電開始人力
となって放電開始端子2cに入り、これにより積分回路
2は放電を開始する。このようにして、AD変換器4の
AD変換結果y8は、残差パルスのパルス幅 t。に比
例し、ラッチ回路9にラッチ(保持)されているカウン
タ8の状態y、と合成され、その合成結果が被測パルス
の立ち上がりエツジの時刻をあられすことになる。
〔実施例〕
第7図に本発明に係る計時装置の第2の実施例を示す。
この実施例では、遅延された被測パルスの立ち上がりエ
ツジの時刻を計測する目的に使用されるので、第1の遅
延回路5の遅延時間t otは時間とともに変動しても
よい0例えば、GPS衛星のLl信号を受信して、その
C/Aコードの始まりをあられす1 m5ec周期のエ
ポックパルスの立ち上がり時刻を測定する目的に適当で
ある。
すなわち、第8図は、GPs衛星から、そのLI信号を
受信してC/Aコードで拡散された50UPS (ベー
スバンド信号)のBPsK変調データを復調するDLL
回路の典型的なブロック図を示すが、C/Aコード発生
器22から発生するEエポックパルスが第1の実施例に
示す被測パルスに相当し、Pエポックパルスが第1の実
施例に示す遅延被測パルスすなわち、セット信号となる
第1の遅延回路1は、Eエポックパルスを遅延させてP
エポックパルスを作る遅延回路となる。
以上、述べた遅延回路1は、典型的なものであるので構
成要件の各要素間の相互作用については本書では説明を
省略する。図において、11〜13はミキサ、14〜1
6はバンドパスフィルタ、17・18は検波器、19は
引算器、20はループフィルタ、21は電圧可変発振器
、22はC/Aコード発生器、23〜24は遅延回路、
T eAはC/Aコードの周期器をそれぞれ示す。
なお、第1図に示す第1の実施例で使用している第1の
遅延回路5については、第2の実施例でも使用するので
図示していない。
第2の遅延回路7は、D型フリップフロップを使って実
現されている。
残差パルス発生回路lもD型フリップフロップで実現さ
れているが、リセット入力が負論理であるため前記第2
の遅延回路7を実現しているD型フリップフロップの負
論理出力Qをリセット入力としている。
残差パルスは、結合用コンデンサ3を経由して積分回路
2 (a+b+1−+d+e+f+g、h+J+に+1
)に入る。
放電スイッチ制御フリップフロップbもまたD型フリッ
プフロップで実現しているので、リセット人力(すなわ
ち、放電終了入力)は負論理となるので、否定論理aが
必要となる。
第9図は、本発明の第3の実施例を示す。
本実施例では、第1の遅延回路と第2の遅延回路に第1
O図に示すライントライバIA、同軸ケーブルIB及び
ラインレシーバICからなる遅延回路を用いている。
しかも、カウンタ8は、カウンタ用遅延回路8Bと立ち
上がりで状態遷移を行うような立ち上がり8Aで構成さ
れ、D型フリップフロップのQ出力すなわち、ロード信
号が立ち上がる時点では遷移が完了するようにカウンタ
用遅延回路8Bの遅延時間を合わせている。また、高速
なカウントクロ7りが必要でない場合においては、カウ
ンタ用遅延回路8Bは簡fnな線路例えば、プリント配
線板の配線長を適当に合わせることによって代用でき、
部品として省略できる。
〔発明の効果〕
以−ヒ、説明したように、本発明に係る計時装置は、(
第1に)残差パルスを積分することにより残差パルスの
時間幅を高い分解能で測定できること、(第2に)積分
区間を残差パルスの近傍に限定するごとにより発生間隔
の広い被測パルスの計時においても精度が劣化しないこ
と、(第3に)結合コンデンサ・を介して残差パルスを
積分回路に供給することにより残差パルス発生回路のオ
フセット電圧を変動しても精度が変化しないことなどの
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る計時装置の第1の実施例を、第2
図は第1図に示す本発明に係る計時装置に関する制御信
号、カウントクロック等の相互関係についてのタイムチ
ャートを、第3図は本発明に係る計時装置の構成要件の
うち、積分回路についての一実施例を、第4図は本発明
に係る計時装置の原理説明図であり、カウントクロック
・被測パルス・残差パルス及び積分電圧の相互関係につ
いてのタイムチャートを、第5図は第1図に示す本発明
に係る計時装置のうち、その構成要件である積分回路を
構成する各要素の相互関係のタイムチャートを、第6図
は残差パルスと積分電圧の関係を、第7図は本発明に係
る計時装置についての第2の実施例を、第8図は本発明
に係る計時装置についての第2の実施例をGPS受信器
に利用した際の説明図であり、C/Aコードの逆拡散用
DLL回路を、第9図は本発明に係る計時装置について
の第3の実施例を、第1O図は第9図に示す本発明に係
る計時装置の第3の実施例において使用する遅延回路を
、第11図(a)は従来技術の構成を、第11図(ハ)
は第11図(a)に示す各構成要件についてのタイムチ
ャートをそれぞれ示す。 図において、1は残差パルス発生回路、2は積分回路、
3は結合コンデンサ、4はAD変換器、5は第1の遅延
回路、6はD型フリフブフロップ回路、7は第2の遅延
回路、8はカウンタ、9はラッチ回路をそれぞれ示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被測パルスとカウントクロックとを受け、該被測パルス
    のエッジと該カウントクロックのエッジとの間の差で定
    められる残差パルスを発生する残差パルス発生回路(1
    )と;該残差パルス発生回路(1)の出力を積分する積
    分回路(2)と;前記残差パルス発生回路(1)の出力
    と該積分回路(2)の入力とを結合し、前記残差パルス
    を被積分信号として該積分回路(2)に供給する結合コ
    ンデンサ(3)と;該積分回路(2)の動作範囲が前記
    残差パルスのパルス幅に比例する直線領域となるように
    選定するための制御手段(c)とを備えた計時装置。
JP2251588A 1988-02-02 1988-02-02 計時装置 Pending JPH01197691A (ja)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5620830A (en) * 1979-07-26 1981-02-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd Rotation transmitting device
JPS5630830A (en) * 1979-08-22 1981-03-28 Katashi Aoki Extensive blow molding of bottole of synthetic resin with base cup

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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