JPH011904A - 形状歪測定装置 - Google Patents

形状歪測定装置

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Publication number
JPH011904A
JPH011904A JP62-157044A JP15704487A JPH011904A JP H011904 A JPH011904 A JP H011904A JP 15704487 A JP15704487 A JP 15704487A JP H011904 A JPH011904 A JP H011904A
Authority
JP
Japan
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detectors
disk
irradiation position
detector
shape distortion
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Pending
Application number
JP62-157044A
Other languages
English (en)
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JPS641904A (en
Inventor
植村 豊
Original Assignee
日本コロムビア株式会社
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Publication date
Application filed by 日本コロムビア株式会社 filed Critical 日本コロムビア株式会社
Priority to JP62-157044A priority Critical patent/JPH011904A/ja
Publication of JPS641904A publication Critical patent/JPS641904A/ja
Publication of JPH011904A publication Critical patent/JPH011904A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、光デイスク記録媒体等の形状の機械的変形特
性を光学的に検出する測定装置に関する。
(従来の技術) 従来の光学式記録媒体等の変形特性を測定する面振れ測
定装置を第3図に示す。これは光源1から出たレーザ光
4をレンズで、モータlOによシ回転するディスク2の
面上に収束させ、ディスク2からの反射光5を検出器3
に収束し、ディスク2及び、面振れによシ平行移動した
ディスク2′に対応する収束点の変化1を測定し、面振
れ量を検知するものである。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながらこの方式はディスク2の上下振れに伴うデ
ィスク面の傾きが反射光束の変位に影響(実施例) 以下図面を参照して本発明の実施例について述べる。第
1図は本発明による一実施例の光学系を示すものである
。図において、第3図と同一の部分には同一符号を付し
てその説明を省略するも、実線で示すディスク2に対し
て点線で示すディス1.1′−−゛    り2aは、
ディスク2が面振れ及び反シの両方を生じた状態を示す
又、位置検知器として複数の受光素子からなる第出カフ
aは第1駆動装置8aに加えられ、該第1、駆動装置8
aに上記誤差出カフaに応じて第1゜第2検知器6a、
6bを1体にディスク2に対してその半径方向に平行移
動させる。又、第1検出器6aに向かい合って固定され
た第2検知器6bの位置誤差出カフbは、第2駆動装置
8bに加えられ、該第2駆動装置8bは、上記誤差出カ
フbりに回動させる。以上の構成において、レーザ光源
1を出射したレーザ光4は、ディスク2によって反射さ
れ、第1検知器6aに入射し、さらに第2検知器6bに
入射する。これら検知器6a及び6bは第2図に示され
る通り受光面が向かい合っておシ、お互いの受光面の成
す角は、検出感度を最大にする為、レーザ光4がディス
ク2に入射する入射角θと同じになっている。この位置
関係により、検知器6aの受光面に入射する反射光5の
入射角もθであり、これがさらに検知器6aを反射して
検知器6bの受光面の中央に垂直に入射する様になって
いる。今、第1図のディスク2で示す通シ面振れも反り
も生じていないディスク2を回転させた場合、光4はデ
ィスク2の中央に角度θで入射し、角度θで出射した後
、検知器6aの中央に当シ、再び反射して検知器6bに
垂直に入射する。この様に検知器6a、6bの中央に入
射する場合位置誤差出カフa及び7bはゼロであシ、上
記検知器6a及び6bは何ら駆動されない。次に点線で
示すディスク2aの如く、面振れΔZと反りαが生じた
場合、反射光5aの照射位置はずれるので、誤差出カフ
a、7bは犬となシ、この誤差出力のレベル及び極性に
応じて、第1及び第2駆動装置8a及び8bは、上記照
射位置が常に検知器6a、6bの中央に来る様に、これ
ら検知器6a、6bを、点線で示す検知器6 a’ 、
 6 b’の位置まで平行移動させると共に回転させて
自動制御する。こうした制御による移動距離1及び回転
角βはそれぞれ上記誤差出カフa及び7bに比例してい
る。従ってあらかじめ基準となるディスクを用いて各種
の誤差出カフa及び7bに対応する移動距離1及び回転
角βを測定しておけば、未知のディスク2に対する移動
距離1及び回転角βを、上記誤差出カフa及び7bから
算出出来る。
ここで、上記反射光5と54とのなす角は2αであるか
ら、第2の検知器6bへの照射位置が中央になる様に制
御された状態では、上記回転角βは上記反り角αの2倍
となるので、 β からαを算出することが出来る。
次に移動距離1は面振れΔZと反シ角αの2因子によっ
て定まシ、移動距離ふと先に求めた反シ角αとから数値
計算にて面振れ量ΔZを求める事が出来る。即ち なお、本発明においては第1及び第2の検知器6a及び
6bのなす角は、必ずしもレーザ光4のディスク2に対
する入射角Uと等しくする必要はないが、上述の如くこ
れらを等しくすることによって、第2の検知器6bに対
する入射光を、その受光面に対して垂直にすることが出
来、検出感度を向上させることが出来る。
(効果) 以上の様に本発明によれば極めて簡単な構成により光デ
ィスクの機械的特性の内の面振れ量と反シ角αを独立に
測定出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す概略図、第2図はその
要部拡大図、第3図は従来例を示す概略図である。 2・・・ディスク    6a、6b・・・検知器8a
、8b・・・駆動装置

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光源からのレーザ光を回転する被測定体面に投射して、
    その反射光の照射位置の変化量を検出して被測定体の形
    状歪を測定する装置において、所定の角度を持って向か
    い合う様に互いに固定された第一及び第二の照射位置検
    出器と、上記両検出器を平行移動させる第1駆動装置と
    、上記両検出器を回動させる第2駆動装置と、上記第1
    及び第2の照射位置検出器の出力をそれぞれ上記第1及
    び第2駆動装置にフィードバックして、上記反射光の照
    射位置を常に上記第1及び第2の照射位置検出器の所定
    位置にする制御手段とを有する形状歪測定装置。
JP62-157044A 1987-06-24 形状歪測定装置 Pending JPH011904A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62-157044A JPH011904A (ja) 1987-06-24 形状歪測定装置

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JP62-157044A JPH011904A (ja) 1987-06-24 形状歪測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS641904A JPS641904A (en) 1989-01-06
JPH011904A true JPH011904A (ja) 1989-01-06

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