JPH01182819A - Optical scanner - Google Patents
Optical scannerInfo
- Publication number
- JPH01182819A JPH01182819A JP650588A JP650588A JPH01182819A JP H01182819 A JPH01182819 A JP H01182819A JP 650588 A JP650588 A JP 650588A JP 650588 A JP650588 A JP 650588A JP H01182819 A JPH01182819 A JP H01182819A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- semiconductor laser
- digital
- gain
- value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 22
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 65
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 description 5
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 4
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明はfOレンズを用いない光走査装置に関する。[Detailed description of the invention] (Technical field) The present invention relates to an optical scanning device that does not use an fO lens.
(従来技術)
光走査装置は、被走査面を光ビームによって走査して、
光情報の書込を行なったり、或いは画像情報の読取りを
行なったりするための装置として知られている。(Prior art) An optical scanning device scans a surface to be scanned with a light beam,
It is known as a device for writing optical information or reading image information.
このような光走査装置においては、光ビームはポリゴン
ミラーやホロスキャナー等の回転偏向器で等角速度的に
偏向されるのが普通であり、被走査面上における走査速
度を一定にするために一般にはfOレンズが用いられて
いる。しかし、fOレンズは特殊なレンズでコストが高
いため、できればこれを用いずにすませたいという要望
もある。In such optical scanning devices, the light beam is normally deflected at a constant angular velocity by a rotating deflector such as a polygon mirror or a holo scanner. An fO lens is used. However, since the fO lens is a special lens and is expensive, there is a desire to avoid using it if possible.
また、近時、光ビームの走査角速度が一定でないような
ポリゴンミラーも提案されつつあり(特願昭59−27
4324号)、このような場合は、fOレンズを用いて
も、走査速度は一定とならないので。In addition, polygon mirrors in which the scanning angular velocity of the light beam is not constant have recently been proposed (Japanese Patent Application No. 59-27
No. 4324), in such a case, even if an fO lens is used, the scanning speed will not be constant.
このような場合にはfOレンズの使用ができない。In such cases, the fO lens cannot be used.
画像走査クロックは、光走査の際、走査光ビームをオン
・オフするためのクロック信号であり、その周波数fk
は、1画素の情報読取または書込みにわりあてられた時
間をTとして1/Tで与えられる。fOレンズを用いな
いとすれば、走査光ビームによる被走査面の走査速度は
一定とはならないので、画像走査クロックの周波数fk
を一定にしておくと、情報の書込みや読取りに歪みが生
じることになる。The image scanning clock is a clock signal for turning on and off the scanning light beam during optical scanning, and its frequency fk
is given by 1/T, where T is the time allocated to reading or writing information for one pixel. If the fO lens is not used, the scanning speed of the scanned surface by the scanning light beam will not be constant, so the frequency of the image scanning clock fk
If it is kept constant, distortion will occur in the writing and reading of information.
例えば、第7図において、符号30は、被走査体として
の光導電性感光体、符号32は、光ビームLを等角速度
的に偏向させるためのポリゴンミラー、符号34は、光
ビームLを被走査面上に集束させるための集光レンズを
示す、光ビームLは一般にガスレーザーや半導体レーザ
ーからのレーザー光である。距離Ω、hを、第7図の如
く選ぶと。For example, in FIG. 7, reference numeral 30 indicates a photoconductive photoreceptor as an object to be scanned, reference numeral 32 indicates a polygon mirror for deflecting the light beam L at a constant angular velocity, and reference numeral 34 indicates a photoconductor for deflecting the light beam L at a constant angular velocity. The light beam L, which represents a condensing lens for focusing onto the scanning surface, is generally laser light from a gas laser or a semiconductor laser. If the distances Ω and h are chosen as shown in Figure 7.
h=nStanθ
ポリゴンミラー32の角速度をω0(一定)とするであ
るから走査速度−は
t
となる、走査領域長を図の如<ZUとし、H+h=h″
とすると。h=nStanθ Since the angular velocity of the polygon mirror 32 is ω0 (constant), the scanning speed - is t.The scanning area length is <ZU as shown in the figure, and H+h=h''
If so.
である、今、この走査領域長211内に2n、の画素が
あるものとすると、第7図の走査領域の左側の走査開始
側から数えてn番目の画素における走査速度Vnは
である。ここにdは1画素幅である0画像走査クロック
の周波数fkは、その定義からして、このV口
場合−であるから、
となる、従って画像走査クロック周波数fkを、1画素
ごとに(1)式に従って変化させれば、fOレンズを用
いなくとも、情報の読取や書込みに歪みを生じることな
く光走査を実現できる。ところがポリゴンミラー32に
よる走査速度が一定でないから走査領域の露光量が走査
方向に平悦し露光むらが生じる。Now, assuming that there are 2n pixels in this scanning area length 211, the scanning speed Vn at the nth pixel counted from the scanning start side on the left side of the scanning area in FIG. 7 is. Here, d is 1 pixel width.0 The frequency fk of the image scanning clock is, from its definition, - in this case of V. Therefore, the image scanning clock frequency fk is divided into (1 ), optical scanning can be realized without distortion in reading or writing information without using an fO lens. However, since the scanning speed of the polygon mirror 32 is not constant, the amount of exposure in the scanning area is uniform in the scanning direction, resulting in uneven exposure.
そこで半導体レーザーからの変調光で回転偏向器により
被走査面を走査しfOL/ンズは用いない光走査装置で
あって、被走査面の走査速度の変化に応じて周波数が連
続的に変化する画像走査クロックを発生する画像走査り
□ロック発生器と、被走査面の走査速度の変化に応じて
上記半導体レーザーの出力強度を変化させるためのディ
ジタル値を発生するディジタル値設定回路と、このディ
ジタル値設定回路の出力値をアナログ値に変換してこの
アナログ値に応じて上記半導体レーザーの電流を変化さ
せるディジタル/アナログ変換器とを有する光走査装置
において、上記ディジタル/アナログ変換器の出力の利
得を上記ディジタル/アナログ変換器の出力値による上
記半導体レーザーの出力強度の変化が最適となるように
調整する方法が提案されている(特開昭62−3046
6号公報)。Therefore, an optical scanning device scans the surface to be scanned using a rotary deflector with modulated light from a semiconductor laser, and does not use an fOL/lens. An image scanning lock generator that generates a scanning clock, a digital value setting circuit that generates a digital value for changing the output intensity of the semiconductor laser in accordance with changes in the scanning speed of the scanned surface, and this digital value. In an optical scanning device comprising a digital/analog converter that converts an output value of a setting circuit into an analog value and changes a current of the semiconductor laser according to the analog value, the gain of the output of the digital/analog converter is controlled. A method of adjusting the output intensity of the semiconductor laser according to the output value of the digital/analog converter has been proposed (Japanese Patent Laid-Open No. 62-3046
Publication No. 6).
この方法を適用した光走査装置の一例について説明する
と、この例における画像走査クロック発生器は発at器
と、第1の分周器と、アップ/ダウンカウンタ−と、制
御回路と、フェイズロックドループ回路とを有する。フ
ェイズロックドループ回路を、以下PLLと略記するこ
とにする。To explain an example of an optical scanning device to which this method is applied, the image scanning clock generator in this example includes an oscillator, a first frequency divider, an up/down counter, a control circuit, and a phase-locked loop. It has a circuit. The phase-locked loop circuit will be abbreviated as PLL below.
発振器は、基準クロックを発生する。この基準クロック
の周波数を以下foとするsfoは誂向定数である。An oscillator generates a reference clock. sfo, where the frequency of this reference clock is hereinafter fo, is a direction constant.
第1の分局器は、上記基準クロックを分周して。The first divider divides the frequency of the reference clock.
位置制御用クロックを発生させる。Generates a position control clock.
アップ/ダウンカウンタ−(以下、U/Dカウンターと
略記する。)は、第1の分周器の分周率Nを切換える。The up/down counter (hereinafter abbreviated as U/D counter) switches the frequency division ratio N of the first frequency divider.
Nは、もちろん自然数である。Of course, N is a natural number.
制御回路は、以下の如き機能を有する。走査領域は、あ
らかじめ、K個のブロックBLi(1= 1〜K)に区
分され、あらかじめ定められた有限数列Mi(i==1
〜K)にもとづき、i番目のブロックBLi(i =
1〜K)では上記位置制御用クロックのしパルスごとに
、上記U/Dカウンターの駆動を行ない、走査領域全域
において分周Nの段暗的切換を実現せしめる。すなわち
、仮に分周率Nの初期値がNOであったとすると、位置
制御用ブロックf。The control circuit has the following functions. The scanning area is divided in advance into K blocks BLi (1=1 to K), and a predetermined finite number sequence Mi (i==1
~K), the i-th block BLi (i =
In steps 1 to K), the U/D counter is driven every pulse of the position control clock, and stepwise switching of the frequency division N is realized over the entire scanning area. That is, if the initial value of the frequency division ratio N is NO, the position control block f.
の周波数は当初−であるが、第1のブロックBL+O
ではこの位置制御用ブロックをM1パルスカウントする
と、制御回路はU/Dカウンターを介して。Initially, the frequency of BL+O is -, but when this position control block is counted with M1 pulses in the first block BL+O, the control circuit uses the U/D counter.
第1の分周器の分周率をNoからN+(=No+ΔN)
に切換える。そうすると、(i置制御用クロックの周f
。Change the frequency division ratio of the first frequency divider from No to N+ (=No+ΔN)
Switch to Then, (frequency f of clock for i position control)
.
波数は−となる。この周波数のクロックを旧パルスとな
る。この新たな周波数のクロックを旧パルス、カウント
すると、さらに分周率NIからNtへと切換る。という
ことを、n1回繰返す、つづいて。The wave number is -. The clock with this frequency becomes the old pulse. When this new frequency clock is counted as the old pulse, the frequency division ratio is further switched from NI to Nt. Repeat this n1 times, and continue.
第2のブロックBL2では、位置制御用ブロックのM2
パルスごとに分周率を切換えることを12回繰返す、こ
のプロセスを各ブロックごとに行なうのである。i番目
のブロックDLiでは、分周率の切換えは1位置制御用
クロックのMiパルス毎にni回行なわれる。In the second block BL2, the position control block M2
This process of switching the frequency division ratio for each pulse is repeated 12 times for each block. In the i-th block DLi, switching of the frequency division ratio is performed ni times for every Mi pulse of the 1-position control clock.
PLL回路は1位相検波回路、ローパスフィルター、第
2の分周器、電圧制御発振器により構成される6第2の
分周器は固定的に設定された分局率Mを有する。The PLL circuit includes a 1-phase detection circuit, a low-pass filter, a second frequency divider, and a voltage controlled oscillator.The second frequency divider has a fixed division ratio M.
このPLL回路は、位置制御用クロックの周波数の段π
的変化に応じて、周波数が連続的に変化する画像走査ク
ロックを発生する。This PLL circuit has a stage π of the frequency of the position control clock.
An image scanning clock whose frequency changes continuously according to changes in the image quality is generated.
以下、この画像走査クロック発生器について図面を参照
しながら説明する。This image scanning clock generator will be explained below with reference to the drawings.
第5図において1位相検波回路18.ローパスフィルタ
ー20、電圧制御発振器22、第2の分周c24はPL
L回路を構成している。In FIG. 5, the one-phase detection circuit 18. The low pass filter 20, voltage controlled oscillator 22, and second frequency division c24 are PL
It constitutes an L circuit.
発振器10から発生せられる周波数foの基準クロック
は、第1の分周器12により分周されて、周波f。The reference clock of frequency fo generated from the oscillator 10 is divided by the first frequency divider 12 to obtain the frequency f.
数−の、位置制御用クロックとなり、制御回路16、お
よびPLL回路の位相検波回路18に入力する。The signal becomes a position control clock of 1-2, and is input to the control circuit 16 and the phase detection circuit 18 of the PLL circuit.
位相検波回路18は、この位置制御用クロックと。The phase detection circuit 18 uses this position control clock.
分周器24から入力するクロックCLAどの位相を比較
し、その位相差をパルス信号としてローパスフィルター
20に出力する。ローパスフィルター20を介して上記
位相差の情報が電圧制御発振器22に入力すると、同発
振器22は、ローパスフィルター20の出力電圧に応じ
た周波数のクロックを出力する。The phase of the clock CLA input from the frequency divider 24 is compared, and the phase difference is output to the low-pass filter 20 as a pulse signal. When the information on the phase difference is input to the voltage controlled oscillator 22 via the low-pass filter 20, the oscillator 22 outputs a clock having a frequency corresponding to the output voltage of the low-pass filter 20.
このクロックが1画像走査クロックとなる。画像走査ク
ロックは、分周器24で分周され、クロックCLAとし
て位相検波回路18へ印加され1位置制御用クロックと
位相比較される。This clock becomes a one-image scanning clock. The image scanning clock is frequency-divided by a frequency divider 24, applied as a clock CLA to the phase detection circuit 18, and compared in phase with the 1-position control clock.
さて、 PLL回路において、電圧制御発振器22から
発せられるクロックの周波数は1位相検波回路18で位
相比較されるクロックCLAと位置制御用クロックとの
間に位相差の変化がないときは、変化しない。このよう
な状態を、 PLL回路の平衡状態と呼ぶことにする。Now, in the PLL circuit, the frequency of the clock emitted from the voltage controlled oscillator 22 does not change when there is no change in the phase difference between the clock CLA whose phase is compared in the 1-phase detection circuit 18 and the position control clock. This state will be referred to as the balanced state of the PLL circuit.
例えば、PLL回路の平衡状態で1位置制御用りf。For example, f for one position control in a balanced state of a PLL circuit.
ロックの周波数が−であるどすると、このときりf。If the lock frequency is -, then f.
ロックCLAの周波数も−となっているから、この状態
で、電圧制御発振器22から発せられるクロックのfk
は。Since the frequency of the lock CLA is also -, in this state, the fk of the clock emitted from the voltage controlled oscillator 22 is
teeth.
である。この状態で、分周器12の分周率をNからN′
へと切換えると、位置制御用クロックの周波が生じる。It is. In this state, the frequency division ratio of the frequency divider 12 is changed from N to N'
When switching to , the frequency of the position control clock is generated.
従って、これに応じて、電圧制御発振器22の出力クロ
ック周波数fkも変化するが、この周波数fkの変化は
連続的に生じ1周波数fkに変化する。Accordingly, the output clock frequency fk of the voltage controlled oscillator 22 changes accordingly, but this change in frequency fk occurs continuously and changes to one frequency fk.
従って、分周器12の分周率Nを段階的に変化させるこ
とによって画像走査クロックの周波数fkを連続的に変
化させることができる。Therefore, by changing the frequency division ratio N of the frequency divider 12 stepwise, the frequency fk of the image scanning clock can be changed continuously.
さて、制御回路16は、分周器12における分周率のプ
リセット値を、U/Dカウンター14から出力させるた
めのクロックCK、U/Dカウンター14をカウント可
能にする信号EN、アップダウンのモードを決定する信
号U/Dを発する。Now, the control circuit 16 controls a clock CK for outputting a preset value of the frequency division ratio in the frequency divider 12 from the U/D counter 14, a signal EN for enabling the U/D counter 14 to count, and an up/down mode. A signal U/D is issued to determine the
アップダウンのモードは、走査速度の極値近傍でアップ
モード(もしくはダウンモード)からダウンモード(も
しくはアップモード)に切換えるように、信号U/Dの
発生を行なう。In the up-down mode, the signal U/D is generated so as to switch from the up mode (or down mode) to the down mode (or up mode) near the extreme value of the scanning speed.
クロックCKが入力するとU/Dカウンター14はプリ
セット値を更新して、分周器12の全同率を切換える。When the clock CK is input, the U/D counter 14 updates the preset value and switches the total ratio of the frequency divider 12.
クロックCKの発生は、先に述べたように、各ブロック
BLi(i = 1〜K)ごとに、有限数列Mi(i=
1−K)にもとづき行なわれる。すなわち、各ブロック
ごとに、Miとniとが予め設定されており。As mentioned above, the clock CK is generated by a finite number sequence Mi (i = 1 to K) for each block BLi (i = 1 to K).
1-K). That is, Mi and ni are set in advance for each block.
1番目のブロック口Liでは1位置制御用クロッフカK
11liパルス入力するごとに、制御回路16からクロ
ックCKが発生するが、このクロックCKは、このブロ
ック[SLiでは、ni回発生するのである。At the 1st block opening Li, there is a 1-position control cloflock K.
A clock CK is generated from the control circuit 16 every time 11li pulses are input, and this clock CK is generated ni times in this block [SLi.
ブロック数にや、 Mi、 niの値は、電圧制御発振
器22から発生する画像走査クロックの周波数fkが、
走査速度変化にともなう周波数変化1例えば(1)式を
良く近似するように設定される。これは。The number of blocks, Mi, and ni are determined by the frequency fk of the image scanning clock generated from the voltage controlled oscillator 22.
Frequency change 1 due to change in scanning speed is set to closely approximate equation (1), for example. this is.
設計条件に応じて実験的あるいは理論的に定められる。It is determined experimentally or theoretically depending on the design conditions.
第8図は、理想上の画像走査クロックfkの変化(曲r
jA4−1)と全同率の切換えによる。クロックf’に
の階段状変化の1例を示している0階段状の周波数変個
の下の数字5.6.10.16は1図の右端を走査開始
側として、それぞれMl、 M2. M3゜M4に対応
している。図から分かるように、n1=6゜n2=9.
n3=3.n4=5である。この図は、対称図形の右半
分のみを示しており、M5=10. n5= 3 。FIG. 8 shows changes in the ideal image scanning clock fk (curve r
jA4-1) and by switching at the same rate. The numbers 5, 6, 10, and 16 below the 0-step frequency variation, which shows an example of a step-like change in the clock f', are Ml, M2, . Compatible with M3° and M4. As can be seen from the figure, n1 = 6° n2 = 9.
n3=3. n4=5. This figure shows only the right half of the symmetric figure, and M5=10. n5=3.
M6=6.n6=9.M7=5.n7=6である。この
図から分かるように、ブロック[3Liは、周波数fk
の連続曲線を直線近似する領域であり、各ブロック内で
は、ステップの横幅が等しいのである。クロックf’に
は1位置制御用クロックのM倍に相当する。クロックf
’に自体は、階段状に変化するが、PLL回路の作用に
より現実の画像走立クロックの周波数は連続的に変化し
、曲1jA4−1をよく近似する。M6=6. n6=9. M7=5. n7=6. As can be seen from this figure, the block [3Li has a frequency fk
It is an area where a continuous curve of 1 is approximated by a straight line, and the width of the step is equal within each block. The clock f' corresponds to M times the one-position control clock. clock f
' itself changes stepwise, but the frequency of the actual image running clock changes continuously due to the action of the PLL circuit, and closely approximates the song 1jA4-1.
第6図は、第5図に示す装置の説明図的なタイミング図
を示す、上から順に、同期信号、走査速度、分周比N1
位置制御用クロックの周波数−両微走査クロックの周波
数fkを示す、U/Dカウンター14のアップ/ダウン
モードが、走査速度の1(値近傍で切換るので1分周比
N、 fo/N、 f kともに、上記(坂値附近の位
置に関し対称的となっている。FIG. 6 shows an explanatory timing diagram of the device shown in FIG. 5, in order from the top: synchronization signal, scanning speed, frequency division ratio N1
The up/down mode of the U/D counter 14, which indicates the frequency of the position control clock - the frequency fk of both fine scanning clocks, is switched near the scanning speed of 1 (1, so the 1 frequency division ratio N, fo/N, Both f and k are symmetrical with respect to the position near the slope value.
同期信号は、第7図に符号36をもって示す光センサー
の出力であり、この同期信号により第1の分周器12が
初期化される。また同期信号は制御回路16へも印加さ
れる。The synchronization signal is the output of the optical sensor shown at 36 in FIG. 7, and the first frequency divider 12 is initialized by this synchronization signal. The synchronization signal is also applied to the control circuit 16.
信号IENは、同期信号を受けてから所定時間Taだけ
遅れてカウンター動作を行なわせ、印字領域走査終了後
、Tb時間だけ遅れてカウンター動作を終了させている
。カウンター動作の終了とともに、分周比Nは初期値に
固定される。The signal IEN causes the counter operation to be performed with a delay of a predetermined time Ta after receiving the synchronization signal, and ends the counter operation with a delay of a time Tb after completion of scanning the print area. Upon completion of the counter operation, the frequency division ratio N is fixed to the initial value.
第4図はこの回路構成を示す。FIG. 4 shows this circuit configuration.
ディジタル値設定回路41は被走査面上の光ビーム走査
速度の変化に応じて半導体レーザー42の出力強度を変
化させて露光むらをなくすためのディジタル値を発生す
るものであり1例えばU/Dカウンターが用いられる。The digital value setting circuit 41 generates a digital value for eliminating uneven exposure by changing the output intensity of the semiconductor laser 42 in accordance with changes in the light beam scanning speed on the surface to be scanned. is used.
このU/Dカウンター41は上記画像走査クロック発生
:43において第9図(a)に示すように制御回路16
からTJ/Dカウンター14へのクロックCK、イネー
ブル信号IEN、アップ/ダウンモード信号U/Dが加
えられてU/Dカウントを行ない、光ビーム走査速度の
変化に応じたディジタル値を発生する。またディジタル
値設定回路41は第9図(b)に示すように加算器(も
しくはwt算器)を用い、U/Dカウンター14の出力
と予め設定される所定値とを加算(減算)するようにし
てもよい、ディジタル値設定回路41の出力はディジタ
ル/アナログ変換器44でアナログ値に変換され、第1
0図に示すように光ビーム走査速度の変化に応じた値に
なる。This U/D counter 41 is connected to the control circuit 16 in the image scanning clock generation section 43 as shown in FIG. 9(a).
A clock CK, an enable signal IEN, and an up/down mode signal U/D are applied to the TJ/D counter 14 to perform a U/D count and generate a digital value corresponding to a change in the light beam scanning speed. Further, the digital value setting circuit 41 uses an adder (or wt calculator) as shown in FIG. 9(b) to add (subtract) the output of the U/D counter 14 and a predetermined value. The output of the digital value setting circuit 41 is converted to an analog value by the digital/analog converter 44, and
As shown in Figure 0, the value changes depending on the change in the light beam scanning speed.
一方、半導体レーザー42より前述に射出されたレーザ
ービームは第7図に示すように集光レンズ34により集
光されてポリゴンミラー32で偏向され。On the other hand, the laser beam emitted from the semiconductor laser 42 as described above is focused by a condenser lens 34 and deflected by a polygon mirror 32, as shown in FIG.
感光体30の帯電器により帯電された表面に結像されて
その結像スポットがポリゴンミラー32の回転で反復し
て移動すると同時に感光体30が回転する。An image is formed on the surface of the photoreceptor 30 that is charged by the charger, and the imaged spot moves repeatedly as the polygon mirror 32 rotates, and at the same time, the photoreceptor 30 rotates.
光センサ−36は情報書込領域外に設けられ、ポリボン
ミラ−32で偏向されたレーザービームを検出して同期
信号を発生する。半導体レーザー駆動回路45は上記画
像走査クロックに同期して変:A信号が入力されてこの
変:II倍信号より半導体レーザー42を駆動し、した
がって変:A信号で変調されたレーザービームが感光体
30に照射されて静電潜像が形成される。この静電潜像
は現像器で現像されて転写器で紙等に転写される。An optical sensor 36 is provided outside the information writing area and detects the laser beam deflected by the polybon mirror 32 to generate a synchronizing signal. The semiconductor laser driving circuit 45 receives the variable A signal in synchronization with the image scanning clock and drives the semiconductor laser 42 based on this variable II times signal, so that the laser beam modulated by the variable A signal is applied to the photoreceptor. 30 to form an electrostatic latent image. This electrostatic latent image is developed by a developing device and transferred onto paper or the like by a transfer device.
半導体レーザー42から後方に出射されたレーザービー
ムはフォトダイオードよりなる光検出器46に入射し、
フォトダイオード46はそのレーザービームの強度に比
例した電流を出力する。この電流は増幅器47により電
圧に変換され、比V器48で基準電圧Vrefど比較さ
れる。比較器48の出力電圧は比較器48の面入力電圧
の大小関係により高レベル又は低レベルとなりアップ/
ダウンカウンタ−49のカウントモードを制御する。The laser beam emitted backward from the semiconductor laser 42 enters a photodetector 46 consisting of a photodiode,
Photodiode 46 outputs a current proportional to the intensity of the laser beam. This current is converted into a voltage by an amplifier 47, and compared with a reference voltage Vref by a ratio V converter 48. The output voltage of the comparator 48 becomes high level or low level depending on the magnitude relationship of the surface input voltage of the comparator 48.
Controls the count mode of the down counter 49.
例えば、半導体レーザー42からのレーザービームの強
度が基準値より弱い時には比較器48の出力が低レベル
になり、アップ/ダウンカウンタ−49はアップカウン
ターとして動作する状態となる。For example, when the intensity of the laser beam from the semiconductor laser 42 is weaker than the reference value, the output of the comparator 48 becomes a low level, and the up/down counter 49 enters a state in which it operates as an up counter.
エツジ検出回路50は記録モードで低レベルになるフレ
ーム同期信号FSYNCの立上りエツジを検出し。The edge detection circuit 50 detects the rising edge of the frame synchronization signal FSYNC which becomes low level in the recording mode.
その検出イご号はオア回路51を通ってアンド回路52
でフレーム同期figFsYNcとのアンドがとられる
。The detected I-sign passes through an OR circuit 51 and then goes through an AND circuit 52.
AND is performed with frame synchronization figFsYNc.
フリッププロップ53はアンド回路52の出力信号によ
りスタンドバイモードの初めにセットされて出力信号を
生じ、この出力信号はアンド回路54で信号処理回路か
らの非感光本走査信号とのアンドがどられる。アップ/
ダウンカウンタ−49はアンド回路54の出力13号に
よりイネーブル状態となり、クロックパルス発生器55
からのクロックパルスをアップ/ダウンカラン1〜する
。このアップ/ダウンカウンタ−49のカウント出力は
ディジタル/アナログ変換器56によりアナログ量に変
換されて演’R器5’tを介して半導体レーザー駆動回
路45に加えられる。半導体レーザー駆動回路45は信
号処理回路からの変:li信−号により半導体レーザー
42を駆動するが、その駆動電流をディジタル/アナロ
グ変換器56の出力に応じて変化させる。したがってア
ップ/ダウンカウンタ−49の計数値が徐々に増加する
ことにより半導体レーザー42からのレーザービームの
強度が徐々に増加し、増加Wt47の出力電圧が上昇す
る。感光体走査時には非感光体走査信号が無くなってア
ンド回路54がオフしアップ/ダウンカウンタ−49が
ディスエーブル状態になると共に半導体レーザー42が
スタンバイ状態の感光体走査時には駆動されなくて半導
体レーザー42のパワーセットは未了なら中断される。Flip-flop 53 is set at the beginning of the standby mode by the output signal of AND circuit 52 to produce an output signal, which is ANDed with the non-exposed main scan signal from the signal processing circuit in AND circuit 54. up/
The down counter 49 is enabled by the output No. 13 of the AND circuit 54, and the clock pulse generator 55
The clock pulse from UP/DOWN is 1~. The count output of the up/down counter 49 is converted into an analog quantity by the digital/analog converter 56 and applied to the semiconductor laser drive circuit 45 via the R encoder 5't. The semiconductor laser drive circuit 45 drives the semiconductor laser 42 using the variable li signal from the signal processing circuit, and changes its drive current in accordance with the output of the digital/analog converter 56. Therefore, as the count value of the up/down counter 49 gradually increases, the intensity of the laser beam from the semiconductor laser 42 gradually increases, and the output voltage of the increase Wt 47 increases. During photoconductor scanning, the non-photoconductor scanning signal is lost, the AND circuit 54 is turned off, the up/down counter 49 is disabled, and the semiconductor laser 42 is not driven when the photoconductor is in standby mode. A power set is suspended if it is not yet completed.
そして非感光体走査時には再び半導体レーザー42のパ
ワーセットが再開される。その後比較Wg48の出力が
低レベルから高レベルに反転すると、エツジ検出回路5
8が比較器48の出力の立上りエツジを検出してオア回
路60を介してフリップフロップ53をリセットし、ア
ップ/ダウンカウンタ−49をディスエーブル状態に復
帰させる。よってアップ/ダウンカウンタ−49は計数
値を保持し、従って半導体レーザー42の駆動電流の大
きさがそのまま保持される。またアンド回路54の出力
信号によりアップ/ダウンカウンタ−49がイネーブル
状態になった時に比較器48の出力が高レベルであれば
(半導体レーザーの出力強度が強ければ)アップ/ダウ
ンカウンタ−49はダウンカウンタ−として動作してク
ロックパルス発生器55からのクロック信号により計数
値が減少して行く。よってディジタル/アナログ変換器
56の出力が減少して半導体レーザー42のNa電流が
減少し、増幅器47の出力が減少する。そして増幅器4
7の出力が基準電圧Vrefより小さくなって比較器4
8の出力が高レベルから低レベルに反転すると、エツジ
検出回路58は比較器48の出力の立上りエツジを検出
してフリップフロップ53をリセットし、アップ/ダウ
ンカウンタ−49をディスエーブル状態に復帰させる。Then, when scanning a non-photoreceptor, the power setting of the semiconductor laser 42 is restarted again. After that, when the output of the comparison Wg48 is reversed from low level to high level, the edge detection circuit 5
8 detects the rising edge of the output of comparator 48 and resets flip-flop 53 via OR circuit 60, returning up/down counter 49 to the disabled state. Therefore, the up/down counter 49 holds the count value, and therefore the magnitude of the driving current of the semiconductor laser 42 is held as it is. Furthermore, when the up/down counter 49 is enabled by the output signal of the AND circuit 54, if the output of the comparator 48 is at a high level (if the output intensity of the semiconductor laser is strong), the up/down counter 49 will go down. It operates as a counter and the count value is decreased by the clock signal from the clock pulse generator 55. Therefore, the output of the digital/analog converter 56 decreases, the Na current of the semiconductor laser 42 decreases, and the output of the amplifier 47 decreases. and amplifier 4
The output of comparator 4 becomes smaller than the reference voltage Vref.
When the output of 8 flips from high level to low level, edge detection circuit 58 detects the rising edge of the output of comparator 48 and resets flip-flop 53, returning up/down counter 49 to the disabled state. .
したがってアップ/ダウンカウンタ−49が計数値を保
持することになり。Therefore, the up/down counter 49 holds the count value.
半導体レーザー42の駆動電流の大きさがそのまま保持
される。ここにエツジ検出回路58は比較器48の出力
が低レベルから高レベルに反転した時にのみアップ/ダ
ウンカウンタ−49をディスエーブル状態にするように
構成しておけば比較器48の出力が低レベルでアップ/
ダウンカウンタ−49がイネ−プル状態の時に比較器4
8の出力が低レベルから高レベルに反転すると、アップ
/ダウンカウンタ−49はディスエーブル状態になって
計数値を保持する。比較器48の出力が高レベルでアッ
プ/ダウンカウンタ−49がイネーブル状態の時に比較
W48の出力が高レベルから低レベルになると、アップ
/ダウンカウンタ−49はディスエーブル状態が解除さ
れたままで比較器48の出力によりアップカウンターと
して動作することになる。そして半導体レーザー42の
駆動電流が増加し比較器48の出力が低レベルから高レ
ベルに反転すると、エラ5ジ検出回路58がその立上り
エツジを検出してアップ/ダウンカウンタ−49をディ
スエーブル状態にし、その計数値を保持させる。The magnitude of the driving current of the semiconductor laser 42 is maintained as it is. If the edge detection circuit 58 is configured to disable the up/down counter 49 only when the output of the comparator 48 is inverted from a low level to a high level, the output of the comparator 48 will be at a low level. Upload with /
When the down counter 49 is in the enabled state, the comparator 4
When the output of 8 is inverted from a low level to a high level, the up/down counter 49 is disabled and holds the count value. When the output of the comparator 48 is high and the up/down counter 49 is enabled, when the output of the comparator W48 goes from high to low, the up/down counter 49 remains disabled and the comparator The output of 48 causes it to operate as an up counter. When the drive current of the semiconductor laser 42 increases and the output of the comparator 48 is reversed from low level to high level, the error detection circuit 58 detects the rising edge and disables the up/down counter 49. , the count value is held.
また出力制御タイミング発生H61はフレーム同期信号
FS’1lNCによりスタンバイモードで動作し。Further, the output control timing generator H61 operates in standby mode by the frame synchronization signal FS'11NC.
一定周期Tで出力制御タイミング信号を発生してオア回
路51に出力することによって半導体レーザー42のパ
ワーセットを一定周期で行なわせる。By generating an output control timing signal at a constant period T and outputting it to the OR circuit 51, the power of the semiconductor laser 42 is set at a constant period.
なおアップ/ダウンカウンタ−49は比較器48の出力
が低レベルでダウンカウンタ−として動作して比較器4
8の出力が高レベルでアップ/ダウンカウンタ−として
動作するようにし、その計数値と半導体レーザー42の
駆動電流と′が反比例するようにしてもよい。Note that the up/down counter 49 operates as a down counter when the output of the comparator 48 is at a low level.
8 may operate as an up/down counter when the output is at a high level, and the count value and the drive current of the semiconductor laser 42 may be inversely proportional.
ディジタル/アナログ変換器44の出力は増幅器59で
増幅されて演算″a57を介して半導体レーザー駆動回
路45に加えられ、半導体レーザー駆動回路45は演算
器57の出力信号により半導体1ノーザー42の駆la
電流を変化させる0画像走査クロック発生!a43にお
いて制御回路16はフリップフロップ53の出力信号に
より、半導体レーザー42のパワーセットを行なう時に
はディジタル/アナログ変換器44の出力が半導体レー
ザー駆動回路45に寄与しない値となるようにディジタ
ル値設定回路41を制御し、半導体レーザー42のパワ
ーセットを行なわない時にはディジタル/アナログ変換
器56の出力が保持されてディジタル/アナログ変換器
44の出力により半導体レーザー42の駆動電流が走査
速度の変化に応じて変化する。半導体レーザー42の出
力強度は上記パワーセットにより一定の値に制御され。The output of the digital/analog converter 44 is amplified by an amplifier 59 and applied to the semiconductor laser drive circuit 45 via an arithmetic unit 57.
Generates a zero image scan clock that changes the current! At a43, the control circuit 16 uses the output signal of the flip-flop 53 to set the digital value setting circuit 41 so that the output of the digital/analog converter 44 has a value that does not contribute to the semiconductor laser drive circuit 45 when setting the power of the semiconductor laser 42. When the power of the semiconductor laser 42 is not set, the output of the digital/analog converter 56 is held, and the drive current of the semiconductor laser 42 changes according to the change in scanning speed by the output of the digital/analog converter 44. do. The output intensity of the semiconductor laser 42 is controlled to a constant value by the power set.
その値は基準信号Vrefの可変でa′!Iiすること
ができる。またディジタル値設定回路41の出力による
半導体レーザー42の出力強度変化が適正であれば走査
速度の変化による露光むらがなくなる。生産時などに作
業者等はスイッチ62をオンさせて半導体レーザー出力
強度変調モードに設定し、半導体レーザー42の出力強
′度のディジタル値設定回路41の出力によるディジタ
ル/アナログ変換器44のアナログ値とアップダウンカ
ウンター49で保持された出力値のディジタル/アナロ
グ変換器56出力のアナログ値とを演算器57で演算し
た値に応じた駆動電流を半導体レーザー駆動回路45で
半導体レーザーを駆動する。この半導体レーザー出力強
度をパワーメータで測定してこの最大値が適正な値とな
”るように増幅器59の利得を可変することによって調
整する。この場合画像走査クロック発生器43における
制御回路16はスイッチ62からのオン信号によりオア
回路60を介してフリップフロップ53を強制的にリセ
ットしてアップ/ダウンカウンタ−49をディスエーブ
ル状態とする。よってアップ/ダウンカウンタ−49の
計数値は保持され、半導体レーザー42の出力強度はそ
の計数値に対応する強度からディジタル値設定回路41
の出力に対応して低下する。Its value is a′! by varying the reference signal Vref. Ii can. Furthermore, if the output intensity change of the semiconductor laser 42 due to the output of the digital value setting circuit 41 is appropriate, exposure unevenness due to a change in scanning speed will be eliminated. During production, etc., a worker turns on the switch 62 to set the semiconductor laser output intensity modulation mode, and changes the output intensity of the semiconductor laser 42 to an analog value of the digital/analog converter 44 based on the output of the digital value setting circuit 41. The semiconductor laser drive circuit 45 drives the semiconductor laser with a drive current corresponding to the value calculated by the arithmetic unit 57 from the output value held by the up-down counter 49 and the analog value of the output of the digital/analog converter 56. This semiconductor laser output intensity is measured with a power meter and adjusted by varying the gain of the amplifier 59 so that the maximum value becomes an appropriate value.In this case, the control circuit 16 in the image scanning clock generator 43 The ON signal from the switch 62 forcibly resets the flip-flop 53 via the OR circuit 60 and disables the up/down counter 49.Therefore, the count value of the up/down counter 49 is held. The output intensity of the semiconductor laser 42 is determined by the digital value setting circuit 41 based on the intensity corresponding to the count value.
decreases in response to the output of
この光走査装置では半導体レーザー42の出力パワーP
の変化幅ΔPと半導体レーザー42の駆動電流Iの変化
幅Δ工、像高との関係が第11図、第12図に示すよう
になり、半導体レーザー42はI−P特性が個々に大き
く異なるためにディジタル/アナログ変換器44の出力
のゲイン(増幅器59のゲイン)を調整することにより
Δ工を可変してディジタル/アナログ変換器44の出力
値による半導体レーザー42の出力強度の変化が最適と
なるように調整している。しかしこの調整の前における
被走査面の端部と中央部に対する半導体レーザー42の
出力パワーPをそれぞれP^、Paとし、調整後におけ
る被走査面の端部と中央部に対する半導体レーザー42
の出力パワーPをそれぞれPA’、P’sとすると、デ
ィジタル/アナログ変換器出力のゲインを調整した後に
半導体レーザー42の出力パワーを可変すべく基準電圧
Vrefを調整してP^をP^″ とじた場合第13図
、第14図に示すようにΔ1がΔ工′しる。このため、
ディジタル/アナログ変換器のゲインを手動で21整し
直してΔI′を可変することない。In this optical scanning device, the output power P of the semiconductor laser 42 is
The relationship between the change width ΔP, the change width ΔP of the driving current I of the semiconductor laser 42, and the image height is shown in FIGS. 11 and 12, and the semiconductor lasers 42 have greatly different I-P characteristics. Therefore, by adjusting the gain of the output of the digital/analog converter 44 (the gain of the amplifier 59), the change in the output intensity of the semiconductor laser 42 depending on the output value of the digital/analog converter 44 is optimized by varying the Δ factor. I am adjusting it so that it is. However, the output power P of the semiconductor laser 42 to the edge and center of the scanned surface before this adjustment is P^ and Pa, respectively, and the output power P of the semiconductor laser 42 to the edge and center of the scanned surface after adjustment is P^ and Pa, respectively.
Let the output power P of , respectively, be PA' and P's, then after adjusting the gain of the output of the digital/analog converter, the reference voltage Vref is adjusted to vary the output power of the semiconductor laser 42, and P^ is changed to P^'' When it is closed, Δ1 becomes Δwork as shown in Figs. 13 and 14. Therefore,
There is no need to manually adjust the gain of the digital/analog converter to vary ΔI'.
(目 的)
本発明は上記欠点を改善し、半導体レーザーの出力パワ
ーを可変した後にディジタル/アナログ変換器出力のゲ
インを手動でSat、直す必要がない光走査装置を提供
することを目的とする。(Objective) An object of the present invention is to improve the above-mentioned drawbacks and provide an optical scanning device that does not require manual adjustment of the gain of the digital/analog converter output after varying the output power of the semiconductor laser. .
(構 成)
本発明は半導体レーザーからの変調光で回転偏向器によ
り被走査面を走査しfOレンズは用いない光走査装置で
あって1画像走査クロック発生器と、ディジタル値設定
回路と、ディジタル/アナログ変換器と、ゲイン調整部
とを有する0画像走査クロック発生器は被走査面の走査
速度の変化に応じて周波数が連続的に変化する画像走査
クロックを発生し、ディジタル値設定回路は被走査面の
走査速度の変化に応じて上記半導体レーザーの出力強度
を変化させるためのディジタル値を発生する。ディジタ
ル/アナログ変換器はディジタル値設定回路の出力値を
アナログ値に変換してこのアナログ値に応じて上記半導
体レーザーの電流を変化させ、ゲイン調整部はディジタ
ル/アナログ変換器の利得を基準電圧発生器の出力に応
じて調整する。(Structure) The present invention is an optical scanning device that scans a scanned surface using a rotary deflector with modulated light from a semiconductor laser and does not use an fO lens. An image scanning clock generator having an analog converter and a gain adjustment section generates an image scanning clock whose frequency changes continuously according to changes in the scanning speed of the scanned surface, and a digital value setting circuit generates an image scanning clock whose frequency changes continuously according to changes in the scanning speed of the surface to be scanned. A digital value is generated for changing the output intensity of the semiconductor laser in accordance with a change in the scanning speed of the scanning surface. The digital/analog converter converts the output value of the digital value setting circuit into an analog value and changes the current of the semiconductor laser according to this analog value, and the gain adjustment section uses the gain of the digital/analog converter to generate a reference voltage. Adjust according to the output of the device.
次に本発明の実施例について説明する。Next, examples of the present invention will be described.
第1図は本発明の実施例を示し、第4図と同一の部分に
は同一符号を付しである。FIG. 1 shows an embodiment of the present invention, and the same parts as in FIG. 4 are given the same reference numerals.
この実施例では主な回路動作は第4図のものと同様であ
り、ディジタル/アナログ変換器44の出力は演算層5
7へ送られる。基準電圧発生器63は基準電圧Vraf
を比較器48とゲインg整部64へ送り。In this embodiment, the main circuit operation is the same as that in FIG.
Sent to 7. The reference voltage generator 63 generates a reference voltage Vraf.
is sent to the comparator 48 and the gain g adjustment section 64.
ゲイン調整部64はその基準電圧Vrefに応じてディ
ジタル/アナログ変換器44の利得を調整する。またゲ
イン調整部64はスイッチ62のオン時に手動操作によ
りディジタル/アナログ変換器44の利得をディジタル
/アナログ変換器44の出力値による半導体レーザー4
2の出力強度の変化が最適となるように調整する。なお
ディジタル/アナログ変換器44の利得の手動調整を直
接行なわずに、ディジタル/アナログ変換器44の後に
増幅器を設け、この増幅器の利得をスイッチ62のオン
時に手動で調整してディジタル/アナログ変換器44の
出力値による半導体レーザー42の出力強度の変化が最
適となるようにしてもよく、この場合も本発明に含まれ
る。The gain adjustment section 64 adjusts the gain of the digital/analog converter 44 according to the reference voltage Vref. Further, the gain adjustment section 64 adjusts the gain of the digital/analog converter 44 by manual operation when the switch 62 is on.
Adjust so that the change in output intensity in step 2 is optimal. Note that instead of directly manually adjusting the gain of the digital/analog converter 44, an amplifier is provided after the digital/analog converter 44, and the gain of this amplifier is manually adjusted when the switch 62 is turned on. The output intensity of the semiconductor laser 42 may be optimized depending on the output value of the semiconductor laser 44, and this case is also included in the present invention.
画像濃度の濃淡調整を行う場合にはオペレータはVre
f可変信号を図示しない装置により基準電圧発生器63
に印加し、基準電圧発生W63はそのVref可変信号
により基準電圧Vrefを可変する。この可変した基準
電圧Vrefが比較器48へ印加されることにより半導
体レーザー42の出力パワーPが可変して画像濃度の濃
淡がa整さ才りる。同時にゲイン調整部64は基準電圧
発生器63からの可変された基準電圧Vrefに応じて
ディジタル/アナログ変換器44の調整により光量むら
が生じなくなる。When adjusting the image density, the operator must set Vre.
The reference voltage generator 63 uses a device (not shown) to generate the f variable signal.
The reference voltage generator W63 varies the reference voltage Vref using the Vref variable signal. By applying this variable reference voltage Vref to the comparator 48, the output power P of the semiconductor laser 42 is varied, and the density of the image is uniformly adjusted. At the same time, the gain adjustment section 64 adjusts the digital/analog converter 44 according to the varied reference voltage Vref from the reference voltage generator 63, thereby eliminating unevenness in the amount of light.
ゲイン:lI′!Ii部64は、例えば第2図に示すよ
うに可変抵抗VR1抵抗旧、 R2及びコンデンサCに
より構成され、基準電圧発生器63からの基準電圧Vr
efに応じた出力電圧をディジタル/アナログ変換器4
4へ出力してそのゲインを設定する。Gain: lI'! For example, as shown in FIG.
The output voltage according to ef is converted to digital/analog converter 4.
4 and set its gain.
また可変抵抗VRがスイッチ46のオン時に手動で調整
されることにより出力が調整されてディジタル/アナロ
グ変換器44の利得が調整される。基準電圧発生器63
は例えば第2図に示すようにディジタル/アナログ変換
器により構成され1図示しない装置からのVref可変
信号をディジタル/アナログ変換して基準電圧Vref
として比較器48及びゲイン;*整部64へ出力する。Further, by manually adjusting the variable resistor VR when the switch 46 is turned on, the output is adjusted and the gain of the digital/analog converter 44 is adjusted. Reference voltage generator 63
For example, as shown in FIG. 2, the Vref variable signal from a device (not shown) is converted into a digital/analog converter and a reference voltage Vref is generated.
It is output to the comparator 48 and the gain; * adjustment section 64 as .
この基準電圧発生器63は基準電圧Vrefを複数段階
(例えば46段階)に可変する例であり、例えば半導体
レーザー42の出力パワーをを初期発光パワーの1.2
倍に調整する場合には基準電圧Vrefi1.2倍にす
ればよい。This reference voltage generator 63 is an example in which the reference voltage Vref is varied in multiple stages (for example, 46 stages), and for example, the output power of the semiconductor laser 42 is set to 1.2 of the initial emission power.
If the adjustment is to be doubled, the reference voltage Vrefi may be increased by 1.2 times.
基準電圧発生器63は基準電圧Vrefを3段階に可変
する場合には第3図に示すようにオープンルクタのバッ
ファAI、 A2.抵抗R3〜R6及びバッファA3に
より構成することもできる。この場合基2F!電圧Vr
efは、図示しない装置からバッファAt、A2を介し
て入力されるVref可変信可変信号上電源電圧Vcc
から抵抗R3〜R6により作られ、バッファA3を介し
て出力される。例えばVref可変信可変信号上がオフ
の時には
となり、 Vref可変信可変信号上でVref可変信
号■がオフの時には
となり、Vref可変信可変信号上でVref可変信号
■がオンの時には
となる。ここにRi/Rjは抵抗Rjと抵抗Rjが並列
に接続された回路の抵抗値を示す。When the reference voltage generator 63 varies the reference voltage Vref in three stages, the reference voltage generator 63 uses open-circuit buffers AI, A2. It can also be configured by resistors R3 to R6 and buffer A3. In this case base 2F! Voltage Vr
ef is a power supply voltage Vcc on a Vref variable signal input from a device not shown through a buffer At, A2.
is made up of resistors R3 to R6 and output via buffer A3. For example, this occurs when the Vref variable signal variable signal is off, when the Vref variable signal (2) is off on the Vref variable signal, and this occurs when the Vref variable signal (2) is on on the Vref variable signal. Here, Ri/Rj represents the resistance value of a circuit in which resistor Rj and resistor Rj are connected in parallel.
(効 果)
以上のように本発明によれば、半導体レーザー −か
らの変調光で回転偏向器により被走査面を走査しfOレ
ンズは用いない光走査装置であって、被走査面の走査速
度の変化に応じて周波数が連続的に変化する画像走査ク
ロックを発生する画像走査クロック発生器と、被走査面
の走査速度の変化に応じて上記半導体レーザーの出力強
度を変化させるためのディジタル値を発生するディジタ
ル値設定回路と、このディジタル値設定回路の出力値を
アナログ値に変換してこのアナログ値に応じて上記半導
体レーザーの電流を変化させるディジタル/アナログ変
換器とを有し、上記ディジタル/アナログ変換器の出力
の利得を上記ディジタル/アナログ変換器の出力値によ
る上記半導体レーザーの出力強度の変化が最適となるよ
うに調整する光走査装置において、上記ディジタル/ア
ナログ変換器の利得を基準電圧発生器の出力に応じて調
整するゲイン調整部を備えたので、半導体レーザーの出
力パワーを可変した後にディジタル/アナログ変換器出
力のゲインを手動で調整し直す必要がなくなり、かつ基
準電圧発生器を設けたことで半導体レーザーの出力パワ
ーを簡単に可変できる。(Effects) As described above, according to the present invention, there is provided an optical scanning device in which a surface to be scanned is scanned by a rotary deflector with modulated light from a semiconductor laser, and no fO lens is used, and the scanning speed of the surface to be scanned is an image scanning clock generator that generates an image scanning clock whose frequency changes continuously in accordance with changes in the image scanning clock; and a digital value that changes the output intensity of the semiconductor laser in accordance with changes in the scanning speed of the surface to be scanned. It has a digital value setting circuit that generates a digital value, and a digital/analog converter that converts the output value of the digital value setting circuit into an analog value and changes the current of the semiconductor laser according to the analog value. In an optical scanning device that adjusts the gain of the output of the analog converter so that the change in the output intensity of the semiconductor laser depending on the output value of the digital/analog converter is optimized, the gain of the digital/analog converter is adjusted to a reference voltage. Equipped with a gain adjustment section that adjusts according to the output of the generator, it is no longer necessary to manually readjust the gain of the digital/analog converter output after varying the output power of the semiconductor laser, and the reference voltage generator can be adjusted. By providing this, the output power of the semiconductor laser can be easily varied.
第1図は本発明の一実施例の回路構成を示すブロック図
、第2図は同実施例の一部を示すブロック図、第3図は
本発明の他の実施例の一部を示すブロック図、第4図は
従来の光走査装置の回路構成を示すブロック図、第5図
は同装置における画像走査クロック発生器を示すブロッ
ク図、第6図は同装置のタイミングチャート、第7図は
同光走査装置を示す平面図、第8図は同装置を説明する
ための図、第9図(a)、 (b)はディジタル値設定
回路の各個を示すブロック図、第10図は同装置のタイ
ミングチャート、第11図乃至第14図は同装置の特性
を示す図である。
41・・・ディジタル値設定回路、43・・・画像走査
クロック発生器、44・・・ディジタル/アナログ変換
器、63・・・基準電圧発生器、64・・・ゲイン調整
部。
ちZ園
亭σの
/?)5F2J
倦7 口
ゐq 図
(11>
弗10 口
壱H図 処lの
うlσ幻 う44【FIG. 1 is a block diagram showing a circuit configuration of one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing a part of the same embodiment, and FIG. 3 is a block diagram showing a part of another embodiment of the invention. 4 is a block diagram showing the circuit configuration of a conventional optical scanning device, FIG. 5 is a block diagram showing the image scanning clock generator in the same device, FIG. 6 is a timing chart of the same device, and FIG. 7 is a block diagram showing the circuit configuration of a conventional optical scanning device. FIG. 8 is a plan view showing the optical scanning device, FIG. 8 is a diagram for explaining the device, FIGS. 9(a) and (b) are block diagrams showing each digital value setting circuit, and FIG. 10 is a diagram for explaining the device. The timing charts of FIGS. 11 to 14 are diagrams showing the characteristics of the device. 41... Digital value setting circuit, 43... Image scanning clock generator, 44... Digital/analog converter, 63... Reference voltage generator, 64... Gain adjustment section. ChiZenteiσno/? )5F2J
Claims (1)
面を走査しfθレンズは用いない光走査装置であって、
被走査面の走査速度の変化に応じて周波数が連続的に変
化する画像走査クロックを発生する画像走査クロック発
生器と、被走査面の走査速度の変化に応じて上記半導体
レーザーの出力強度を変化させるためのディジタル値を
発生するディジタル値設定回路と、このディジタル値設
定回路の出力値をアナログ値に変換してこのアナログ値
に応じて上記半導体レーザーの電流を変化させるディジ
タル/アナログ変換器とを有し、上記ディジタル/アナ
ログ変換器の出力の利得を上記ディジタル/アナログ変
換器の出力値による上記半導体レーザーの出力強度の変
化が最適となるように調整する光走査装置において、上
記ディジタル/アナログ変換器の利得を基準電圧発生器
の出力に応じて調整するゲイン調整部を備えたことを特
徴とする光走査装置。An optical scanning device that scans a scanning surface using a rotating deflector with modulated light from a semiconductor laser and does not use an fθ lens,
an image scanning clock generator that generates an image scanning clock whose frequency changes continuously according to changes in the scanning speed of the surface to be scanned; and an image scanning clock generator that changes the output intensity of the semiconductor laser according to changes in the scanning speed of the surface to be scanned. a digital value setting circuit that generates a digital value to set the output value, and a digital/analog converter that converts the output value of the digital value setting circuit into an analog value and changes the current of the semiconductor laser according to the analog value. and adjusts the gain of the output of the digital/analog converter so that the change in the output intensity of the semiconductor laser depending on the output value of the digital/analog converter is optimized, What is claimed is: 1. An optical scanning device comprising: a gain adjustment section that adjusts the gain of the device according to the output of a reference voltage generator.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63006505A JP2571592B2 (en) | 1988-01-14 | 1988-01-14 | Optical scanning device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63006505A JP2571592B2 (en) | 1988-01-14 | 1988-01-14 | Optical scanning device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01182819A true JPH01182819A (en) | 1989-07-20 |
JP2571592B2 JP2571592B2 (en) | 1997-01-16 |
Family
ID=11640291
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63006505A Expired - Fee Related JP2571592B2 (en) | 1988-01-14 | 1988-01-14 | Optical scanning device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2571592B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6370175B1 (en) | 1998-04-13 | 2002-04-09 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Laser beam luminous energy correction method, laser driving apparatus, laser beam scanner and image recording device |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5393826B2 (en) * | 2012-03-07 | 2014-01-22 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | Image forming apparatus |
-
1988
- 1988-01-14 JP JP63006505A patent/JP2571592B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6370175B1 (en) | 1998-04-13 | 2002-04-09 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Laser beam luminous energy correction method, laser driving apparatus, laser beam scanner and image recording device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2571592B2 (en) | 1997-01-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
GB2185167A (en) | Imaging by laser beam scanning | |
JP2834978B2 (en) | Scanning system | |
US4268867A (en) | Pixel clock for scanner | |
JP2000071510A (en) | Image forming apparatus | |
US4907236A (en) | Method of controlling the quantity of light in a selected range | |
JPS6376572A (en) | Optical scanning method | |
US4757191A (en) | Uniform intensity per pixel when the linear speed of a laser beam varies along a scanline | |
JPH01182819A (en) | Optical scanner | |
JPS6230466A (en) | Regulating method for output of semiconductor laser | |
JPH05308497A (en) | Image forming device | |
JPH0911538A (en) | Image writing apparatus | |
JPS6354273B2 (en) | ||
JPH02885A (en) | Semiconductor laser unit | |
JP2002036626A (en) | Imaging apparatus | |
JPH0523662B2 (en) | ||
JP2006069118A (en) | Light source controller and image forming device using the same | |
JPH01237512A (en) | Optical scanner | |
JP2001088349A (en) | Image forming apparatus | |
JP3056505B2 (en) | Synchronous circuit | |
JPH053947B2 (en) | ||
JP2737985B2 (en) | Laser printer | |
JPS6230213A (en) | Optical scanner | |
JPH0332159A (en) | Picture processing unit | |
JPS61109371A (en) | Output control device of semiconductor laser | |
JPH0373908A (en) | Multipoint synchronous system optical writing and recording device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |