JPH01173864A - 過流探傷器 - Google Patents
過流探傷器Info
- Publication number
- JPH01173864A JPH01173864A JP62333789A JP33378987A JPH01173864A JP H01173864 A JPH01173864 A JP H01173864A JP 62333789 A JP62333789 A JP 62333789A JP 33378987 A JP33378987 A JP 33378987A JP H01173864 A JPH01173864 A JP H01173864A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flaw detection
- flaw
- eddy current
- measured
- detection coils
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 14
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract description 7
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000010959 steel Substances 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
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- 230000005674 electromagnetic induction Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は渦流探傷器、特に変化する磁界と金属A−1定
物との間の電磁誘導を利用した渦流探傷器の構造に関す
る。
物との間の電磁誘導を利用した渦流探傷器の構造に関す
る。
[従来の技術]
渦電流を利用して物体の位置、厚さ、振動を非接触で測
定するセンサが周知であり、このセンサによれば11−
1定物が磁性体か非磁性体かを問わず金属なら使用する
ことができる。
定するセンサが周知であり、このセンサによれば11−
1定物が磁性体か非磁性体かを問わず金属なら使用する
ことができる。
前記センサは、検出用コイルに高周波の交流電圧を印加
し被測定物に近付けると、被測定物には交番磁界が発生
し、この時、被測定物内部には渦電流と呼ばれる電流が
生じる。この渦電流は測定物の電気抵抗や磁気的な特性
の他に形状や割れ等の傷によっても流れ方が変化する。
し被測定物に近付けると、被測定物には交番磁界が発生
し、この時、被測定物内部には渦電流と呼ばれる電流が
生じる。この渦電流は測定物の電気抵抗や磁気的な特性
の他に形状や割れ等の傷によっても流れ方が変化する。
従って、傷取外の条件(例えば材質や形状等)を一定に
保てば、渦電流は傷によってのみ変化し、この変化を検
出すれば傷を発見することがで、き、渦流探傷法とも呼
ばれている。
保てば、渦電流は傷によってのみ変化し、この変化を検
出すれば傷を発見することがで、き、渦流探傷法とも呼
ばれている。
そして、従来の渦流探傷器によれば、1個の検出用コイ
ルにIFi類の特定周波数の高周波電圧を印加して探傷
していた。
ルにIFi類の特定周波数の高周波電圧を印加して探傷
していた。
[発明が解決しようとする問題点]
従来の問題点
しかしながら、従来の渦流探傷器によると、単一の高周
波電圧を用いて探傷していた為、被測定物に存在する錫
の一方向の大きさしか、’1111定できなかった。
波電圧を用いて探傷していた為、被測定物に存在する錫
の一方向の大きさしか、’1111定できなかった。
ところが、金属表面に存在する微小傷はその幅や深さ及
び形状が様々であり、探傷結果に基づきa害傷か無害傷
かの判定を行うには、一方向の寸法だけでは信頼性に欠
けるという問題があった。
び形状が様々であり、探傷結果に基づきa害傷か無害傷
かの判定を行うには、一方向の寸法だけでは信頼性に欠
けるという問題があった。
発明の目的
この発明は係る問題点を解決するために考案されたもの
で、金属表面に存在する微小傷の大きさと形状を非接触
かつ連続的に測定することのできる渦流探傷器の提供を
目的とする。
で、金属表面に存在する微小傷の大きさと形状を非接触
かつ連続的に測定することのできる渦流探傷器の提供を
目的とする。
[問題点を解決するための手段及び作用]前記目的を達
成するために、本発明は、直線状かつ一体的に配置され
た少なくとも2個の探傷コイルを含み、隣接する各探傷
コイル間に磁気シールド板が介装された探傷プローブと
、 前記各探傷コイルにそれぞれ異なる周波数の高周波電圧
を印加する電圧印加手段と、 前記探傷プローブを肢a1定物に近接させて相対移動さ
せることにより各探傷コイルに生じる渦電流の変化を検
出する検出手段と、 を備え、披apI足動表面の傷の大きさと形状を測定可
能としたことを特徴とする。
成するために、本発明は、直線状かつ一体的に配置され
た少なくとも2個の探傷コイルを含み、隣接する各探傷
コイル間に磁気シールド板が介装された探傷プローブと
、 前記各探傷コイルにそれぞれ異なる周波数の高周波電圧
を印加する電圧印加手段と、 前記探傷プローブを肢a1定物に近接させて相対移動さ
せることにより各探傷コイルに生じる渦電流の変化を検
出する検出手段と、 を備え、披apI足動表面の傷の大きさと形状を測定可
能としたことを特徴とする。
本発明によれば、探傷コイルに印加される高周波電圧の
周波数の相違により、披11111定物に生じる渦流没
透深さが異なることを利用して、被測定物表面からの距
離の異なる層の傷の大きさと形状を測定するものである
。
周波数の相違により、披11111定物に生じる渦流没
透深さが異なることを利用して、被測定物表面からの距
離の異なる層の傷の大きさと形状を測定するものである
。
即ち、被測定物との相対移動方向に沿って各探傷コイル
を直線状に配置し、第1の探傷コイルには低周波の電圧
を印加することにより披71?I定物表面から深い層の
偏部を検出することができ、また、中間に配置された探
傷コイルには中間周波数の電圧を印加することにより中
程度の深さの層の偏部を検出することができ、更に、第
0番[1に配置された探傷コイルには高周波の電圧を印
加することにより表面付近の偏部を検出することができ
る。
を直線状に配置し、第1の探傷コイルには低周波の電圧
を印加することにより披71?I定物表面から深い層の
偏部を検出することができ、また、中間に配置された探
傷コイルには中間周波数の電圧を印加することにより中
程度の深さの層の偏部を検出することができ、更に、第
0番[1に配置された探傷コイルには高周波の電圧を印
加することにより表面付近の偏部を検出することができ
る。
以上により、各探傷コイルで表面からの距離の異なる層
における欠陥の大きさを検出し、その結果を重ね合わせ
ることにより探傷プローブの1回の相対移動により傷の
大きさと形状が連続的に測定される。
における欠陥の大きさを検出し、その結果を重ね合わせ
ることにより探傷プローブの1回の相対移動により傷の
大きさと形状が連続的に測定される。
[実施例]
以下、図面に基づき本発明の好適な実施例を説明する。
第1図には本発明に係る渦流探傷器の探傷プローブを被
測定物に近接させてIl対移動させた時の状態が示され
ている。
測定物に近接させてIl対移動させた時の状態が示され
ている。
本発明の特徴的なことは、直線状かつ一体的に配置され
た少なくとも2個の探傷コイルを含み、隣接する各探傷
コイル間に磁気シールド板が介装された探傷プローブを
備えていることである。
た少なくとも2個の探傷コイルを含み、隣接する各探傷
コイル間に磁気シールド板が介装された探傷プローブを
備えていることである。
第1図において、探傷プローブ10には少なくとも2個
の探傷コイル12−1.12−2.・・・が直線状かつ
一体的に配置されており、隣接する各探傷コイル12−
1.12−2.・・・間には鉄板等の磁気シールド板1
4−1.14−2.・・・が介装されていて、各探傷コ
イル12からの漏洩磁束が互いに干渉し合わないように
されている。この探傷プローブ1.0による探傷範囲は
ほぼコイル径に限られており、また、同時に近接した傷
18を検出しないようにコイルの直径は1〜2im程度
と細いものが用いられていて、内部にはコアが挿入され
ている。
の探傷コイル12−1.12−2.・・・が直線状かつ
一体的に配置されており、隣接する各探傷コイル12−
1.12−2.・・・間には鉄板等の磁気シールド板1
4−1.14−2.・・・が介装されていて、各探傷コ
イル12からの漏洩磁束が互いに干渉し合わないように
されている。この探傷プローブ1.0による探傷範囲は
ほぼコイル径に限られており、また、同時に近接した傷
18を検出しないようにコイルの直径は1〜2im程度
と細いものが用いられていて、内部にはコアが挿入され
ている。
また、本発明において、前記各探傷コイル12にそれぞ
れ異なる周波数の高周波電圧を印加する電圧印加手段と
、前記探傷プローブ10を被測定物に近接させて相対移
動させることにより各探傷コイル12に生じる渦電流の
変化を検出する検出手段とを備えている。
れ異なる周波数の高周波電圧を印加する電圧印加手段と
、前記探傷プローブ10を被測定物に近接させて相対移
動させることにより各探傷コイル12に生じる渦電流の
変化を検出する検出手段とを備えている。
第2図には、本実施例に用いられた渦流探傷器の全体構
成が示されており、同図は理解を容易にするため、従来
技術と同様に1個の探傷コイル12に特定周波数の電圧
を印加する電圧印加手段20、探傷コイル12披AJ1
定物16に近接させて相対移動さけることにより、前記
探傷コイル12に生じる渦電流の変化を検出する検出手
段22を備えた実施例が示されている。
成が示されており、同図は理解を容易にするため、従来
技術と同様に1個の探傷コイル12に特定周波数の電圧
を印加する電圧印加手段20、探傷コイル12披AJ1
定物16に近接させて相対移動さけることにより、前記
探傷コイル12に生じる渦電流の変化を検出する検出手
段22を備えた実施例が示されている。
前記各探傷コイル12−1.12−2.・・・には、例
えば10〜10 H7稈度の異なる周波数の高周波電圧
がそれぞれ印加されている。これは、第3図に示される
ように、渦流浸透深さσは探傷コイル12に印加される
周波数fによって異なることか知られており、これによ
って被測定材料が定まればコイル周波数を変えることに
よって渦流浸透深さσを調節することができるからであ
る。
えば10〜10 H7稈度の異なる周波数の高周波電圧
がそれぞれ印加されている。これは、第3図に示される
ように、渦流浸透深さσは探傷コイル12に印加される
周波数fによって異なることか知られており、これによ
って被測定材料が定まればコイル周波数を変えることに
よって渦流浸透深さσを調節することができるからであ
る。
従って、この様な探傷プローブ10を、レールや棒鋼−
9の金属製の被allj足動16に近接させて相対的に
移動させると、彼71−1定物16には渦電流が発生す
る。この渦電流は被測定物16に表面傷18かあるとそ
の流れ方が変化し、この変化を検出手段22により検出
することにより傷18の大きさや形状を測定することが
できる。
9の金属製の被allj足動16に近接させて相対的に
移動させると、彼71−1定物16には渦電流が発生す
る。この渦電流は被測定物16に表面傷18かあるとそ
の流れ方が変化し、この変化を検出手段22により検出
することにより傷18の大きさや形状を測定することが
できる。
第4図(a)、(b)、(c)にはこの時のコイル周波
数fと探傷深さσとの具体例が示されており、例えば探
傷コイル12’−1に低周波の電圧を印加すると、該探
傷コイル12−1により被測定物16の表面からσ1だ
け離れた範囲Aを探傷することができ、次に、探傷コイ
ル12−2に中間周波数の電圧を印加すると、該探傷コ
イル12−2により被測定物16の表面からσ2だけ離
れた範囲Bを探傷することができ、更に、探傷コイル1
2−nに高周波の電圧を印加すると、該探傷コイル12
−nにより被71J11定物16の表面から03だけ離
れた範囲〇を探傷することができる。
数fと探傷深さσとの具体例が示されており、例えば探
傷コイル12’−1に低周波の電圧を印加すると、該探
傷コイル12−1により被測定物16の表面からσ1だ
け離れた範囲Aを探傷することができ、次に、探傷コイ
ル12−2に中間周波数の電圧を印加すると、該探傷コ
イル12−2により被測定物16の表面からσ2だけ離
れた範囲Bを探傷することができ、更に、探傷コイル1
2−nに高周波の電圧を印加すると、該探傷コイル12
−nにより被71J11定物16の表面から03だけ離
れた範囲〇を探傷することができる。
従って、i’lll定物表面足動の距離が異なる層A。
B、Cでの探傷結果を重ね合わせることにより、傷の大
きさや形状を測定することができる。
きさや形状を測定することができる。
このように本発明の実施例によれば、1回の渦流探傷に
より′I&all定物の傷の足動のみならず、その傷の
大きさと形状を同時かつ連続的に測定することができる
。
より′I&all定物の傷の足動のみならず、その傷の
大きさと形状を同時かつ連続的に測定することができる
。
[発明の効果]
以上説明した通り、本発明は渦流探傷コイルを複数個直
線状に配置すると共に各探傷コイルに異なる周波数を印
加することにより、容易に傷の大きさ形状を連続的に測
定することができる。
線状に配置すると共に各探傷コイルに異なる周波数を印
加することにより、容易に傷の大きさ形状を連続的に測
定することができる。
第1図は探傷プローブを被測定物に近接させて相対移動
させた時の状態を示す図、 第2図は本実施例における渦流探傷器の全体構成を示す
図、 第3図は印加周波数と渦流浸透深さとの関係を示す図、 第4図は印加周波数の高低による探傷範囲を示す図であ
る。 10 ・・・ 探傷プローブ 12 ・・・ 探傷コイル 14 ・・・ 磁気シールド板 16 ・・・ 彼rIFI足動 18 ・・ 傷 20 ・・ 電圧印加手段 。 22 ・・・ 検出手段
させた時の状態を示す図、 第2図は本実施例における渦流探傷器の全体構成を示す
図、 第3図は印加周波数と渦流浸透深さとの関係を示す図、 第4図は印加周波数の高低による探傷範囲を示す図であ
る。 10 ・・・ 探傷プローブ 12 ・・・ 探傷コイル 14 ・・・ 磁気シールド板 16 ・・・ 彼rIFI足動 18 ・・ 傷 20 ・・ 電圧印加手段 。 22 ・・・ 検出手段
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 直線状かつ一体的に配置された少なくとも2個の探傷コ
イルを含み、隣接する各探傷コイル間に磁気シールド板
が介装された探傷プローブと、前記各探傷コイルにそれ
ぞれ異なる周波数の高周波電圧を印加する電圧印加手段
と、 前記探傷プローブを被測定物に近接させて相対移動させ
ることにより各探傷コイルに生じる渦電流の変化を検出
する検出手段と、 を備え、被測定物表面の傷の大きさと形状を測定可能と
したことを特徴とする渦流探傷器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62333789A JPH01173864A (ja) | 1987-12-28 | 1987-12-28 | 過流探傷器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62333789A JPH01173864A (ja) | 1987-12-28 | 1987-12-28 | 過流探傷器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01173864A true JPH01173864A (ja) | 1989-07-10 |
Family
ID=18269973
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62333789A Pending JPH01173864A (ja) | 1987-12-28 | 1987-12-28 | 過流探傷器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01173864A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04230846A (ja) * | 1990-03-26 | 1992-08-19 | Vallourec | 渦電流を用いて金属管を検査する方法及び装置 |
JP2020197479A (ja) * | 2019-06-04 | 2020-12-10 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 | 小型で超高感度の磁気インピーダンスセンサ、及びこれを用いた非破壊検査装置 |
-
1987
- 1987-12-28 JP JP62333789A patent/JPH01173864A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04230846A (ja) * | 1990-03-26 | 1992-08-19 | Vallourec | 渦電流を用いて金属管を検査する方法及び装置 |
JP2020197479A (ja) * | 2019-06-04 | 2020-12-10 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 | 小型で超高感度の磁気インピーダンスセンサ、及びこれを用いた非破壊検査装置 |
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