JPH01171289A - 半導体レーザ装置 - Google Patents

半導体レーザ装置

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Publication number
JPH01171289A
JPH01171289A JP33253987A JP33253987A JPH01171289A JP H01171289 A JPH01171289 A JP H01171289A JP 33253987 A JP33253987 A JP 33253987A JP 33253987 A JP33253987 A JP 33253987A JP H01171289 A JPH01171289 A JP H01171289A
Authority
JP
Japan
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laser
electrode
region
light
current
Prior art date
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Pending
Application number
JP33253987A
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English (en)
Inventor
Takashi Motoda
隆 元田
Yoshihiro Kokubo
小久保 吉裕
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Publication of JPH01171289A publication Critical patent/JPH01171289A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はビーム偏向機能な有する半導体レーザ装置に
関するものである。
〔従来の技術〕
第5図は例えば昭和60年春季応用物理学会予槁1a−
ZB−4に示、された従来のビーム偏向機能を持つ半導
体レーザ装置を示す斜視図であり、図において、1はn
−GaA4基板% 2はTeドープのn −GaAs層
、3はTeドープのn−ム10.85 Ga O,65
As層、4はアンドープのAl O,05Ga O,9
5As 層(活性層)、5はGoドープのp−ム10.
85 Ga O,65As @ 、  6はGeドープ
ノp十−GaAs層、7はエツチングにより形成し′r
:、lil!lQ7!j#lのリプ、8は右側レーザ領
域であって、この領域8上には、lllI211/Pt
の電極ストライプ9および右側電極10が形成されてい
る011は左側レーザ領域であって、この領域11上に
は、幅2戸の電極ストライブし及び正側′wL極田が形
成される。
なお、右側の電極ストライプ9と左側の電極ストライプ
11の中心間距IIIは5IINとし、右及び左側電極
io、 taはOr−ムrにより形成されている。14
は右側レーザ領域8と左1則レーザ領域11との間に形
成されたレーザ分離ストライプ、15は電流分離を罹実
に下るため、右側電極IOと左側電極化の間にS1イオ
ンを打ち込んで形成したイオン注入部、16は8iaN
a絶縁膜、17はNi−Au −Ge −M裏面電極、
迅はレーザ端面である。
次に動作について説明する。上記?l!戎の半導体レー
ザを発振させる際、右側電極lOと左側電極13への注
入電流を等しくすると、右側レーザ領域8と左側レーザ
領域11における活性層4のキャリアぞ度が等しくなる
から、屈折率が同じになり1元の位相が等しくなる。よ
って活性層4内の光波は、右側レーザ領域8と左側レー
ザ領域11との中間点を中心軸として伝播する0そして
スネルの法則に従って、レーザ端面迅に対して垂直な方
向にレーザ光は放射される。
次に注入する電流に差をつけると、2とえば右側電極l
Oに注入する゛電流を左側電極田に注入する電流より小
さくすると、右側レーザ領域8の活性層の電流密度が、
三個レーザ領域11の活性層の電流密度より小さくなる
から、相対的に右側レーザ領域8の活性層の屈折率が、
左側レーザ領域11の活性層の屈折率より大きくなる。
屈折率が大きいと、光波の位相速度が遅れるから活性層
内の光波の波面は、高屈折率側すなわち右側レーザ領域
8方向に傾斜丁、る。よってレーザ光は注入電流が相対
的に小さい1HJ極側に傾斜して放射される。
以上のように、上記に示した半導体レーザ装置は、右側
電極lOと左側電極13に注入する電流を変化させるこ
とにより、レーザ光の出射方向を制御している。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来のビーム偏向機能を狩つ半導体レーザ装置において
は、右側レーザ領域8と左側レーザ領域11とへ、それ
ぞれ独立し71:2不の電極(右側成極10及び左側電
極13 )からレーザ光を発振させ6ための動作゛4流
を供給しているので、2本の′4櫓の電流値か近い場合
には、効率の良いモードのレーザ光が発振するが、’に
流値が大きく異なる場合には、効率の悪いモードのレー
ザ光が発振する。
この発明は上記(/Jような問題点ご解消するためにな
されたもので、効率の悪いモードのレーザ光を発振させ
ることなく、レーザ光の出射方向を制御できるビーム偏
向機能を有する半導体レーザ装@ご得ることを目的とす
る0 〔問題点を解決下るための手段〕 この発明に係る半導体レーザ装置は、少なくとも2以上
のレーザ領域を有し、かつ全体として単一モードのレー
ザ光を発振するレーザ・アレイ構造ご形成したものであ
って、上記レーザ領域上に。
レーザ発振させるための動作電流を注入する動作′gL
極と、レーザ領域内の光の位相を制御する制御電極とを
設置し、上記制御電極に注入する電流の@整によりレー
ザ光の放射方向を制御するものである。
〔作用〕
この発明における半導体レーザ装置は、動作電極に注入
する電流によりレーザ光を発振させるとともに、制御1
!極に注入する電流を調整することに工りレーザ領域の
一部の利得を変化させて活性層内の光波の進行方向を変
化させ、レーザ光の放射方向号制御するものであ/)。
〔実施例〕
以下この発明の実施例を図について説明する。
第1図は、この発明の一実施例に、J:6ビ一ム偏向機
能を有する。半導体レーザ装置の斜視図であって。
21はコンタクト層、22ハ上クラッド層、器は活、性
層、詞はドクラツド層、25は菟流狭搾層、26は基板
、27は裏面電極、あはレーザ端面、29は屈折率導波
型ストライプの2アレイ構造を実現する=の形成された
ストライプであり、そのストライプ四の両側の溝に対応
して右側レーザ領域美、三個レーザ領域31がそれぞれ
形成されるo32は右側レーザ領域刃と左側レーザ領域
31との両方に動作゛電流を供給するため形成された動
作電極、田は右側レーザ領域(9)上で、レーザ端面田
付近に部分的に形成された制御電極であって、右側レー
ザ領域(至)に注入する′電流を部分的に変化させ、ご
の成極で鑞われた部分の利得を制?#することにより、
光波の相対的位相を変化さぜ、レーザ光の出射方向を制
御する。34G2単一モードのレーザ光を発mする発振
領域、35aJ5bはレーザ光の放射方向であって、制
御電極あの電流遣により放射方向か変化する様子を示し
にものである。
次に上記実施例の動作について説明する0第1図に示し
た半導体レーザ装置を発振させる際、動作I極羽より注
入下る電流の電流密度と制御電極あより注入する電流の
電流密度を同じにすると。
左側レーザ領域31及び右側レーザ領域Iのうち動作電
極澄により覆われ′r一部分の屈折率と、右側レーザ領
域おのうち制御1極おにより覆われ71:部分の屈折率
とが同じになり、よって光の位相か等しくなり、活性層
幻内の光波は右側レーザ領域勇とE側し−ザ領域31の
中間点を中心軸として伝播する。そしてレーザ端面あに
達した光波はスネk ノ法則に従いレーザ端面必に対し
て垂直方向為に放射される。
次に、制御1極あにより注入する電流の電流密度と、動
作電極友により注入する′電流の電流密度に差をつける
と、たとえば制御電極33より注入する′電流の電流密
度2動作1極nより注入する電流の電流密度より小さく
すると、制御磁極羽に覆われ2右側レーザ領域美の活性
層の屈折率が左側レーザ領域31の動作電極澄に覆われ
た部分の活性層の屈折率より大きくなる0よって右側レ
ーザ領域刃の制御電極、33に覆われた部分の活性層内
の光波か切作電極羽に襞われ′r一部分の活性層内の光
波より遅れ、活性層内の光波の波面は高屈折率側、丁な
わち右側レーザ領域(9)方向に傾斜する。そして光波
はレーザ端面田にぶつかり、スネルの法則に従って放射
され^から、レーザ光は右側レーザ領域刃側に傾斜した
放射方向35bで放射される。
上記のように、このレーザ光の放射角度は制御電極詔よ
り注入下ゐ電流の電流密度を制御することにより、自由
に制御下ることができる。しかもレーザ発振を行わ甘る
2めの動作電極羽と、レーザ光の位相を制御するための
制御′tM、画羽とを別個に設け、この制御7[極おを
レーザ端面爲付近に部分円に形成させることにより、従
来に比べ効率の良いモードのレーザ光を放射Tにとかで
きる。
なお上記実施例では、制御電極おを右側レーザ領域(資
)のレーザ端面あ付近前方に配置した場合について説明
したが、以Fに述べるように制御i4極の数、配置を工
夫することかでさる。第2図は石側レーザ領域(資)の
レーザ前端面ラミ付近に前面制御を極41を、レーザ後
端面あり付近に後面制御電極こを配置した実施例を示し
たものである。これによれば、レーザ前端面4&から放
射されるレーザ光の放射方向は前面制御′1極41によ
り制御され、レーザ後端面28bから放射されるレーザ
光の放射方向は後面制@I成極4により制御されること
となる0次に第8図は右側レーザ領域美のレーザ前端面
あa付近にlq面面制御補極4、左側レーザ領域31の
レーザ後端面281)付近に後面制御電極羽ご配置した
実施例を示したもので、レーザ前端面28&から放射さ
れるレーザ光の放射方向は右側レーザ領域(9)の前面
側@に極4により、レーザ後端面28bから放射される
レーザ光の放射方向は2!i:側レーザ領域31の後面
制御電極羽により側副される。
さらに第4図は、右側レーザ領域加のレーザ削端面ム付
近に制御菟極柘を、左側レーザ領域31のレーザ呵端面
ム付近に制御゛也極荀を配置した実施例を示したもので
、レーザ前端面ムから放射されるレーザ光の放射方向を
上記2つの制御′電極砺、柘により制御11vる。
また上記各、実施例では、レーザ領域を21巴(右側レ
ーザ領域Jと左側レーザ領域31)有する2点アレイ構
造の半導体レーザ装置について説明し社か、3点以上の
アレイ構造の半導体レーザ装置であっても同様である。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、ビーム偏向機能を有す
る半導体レーザ装置を単一モードのレーザ光を発振する
レーザ°アレイ何竜として、動作電流ご注入T6i11
1作電極と、レーザ領域内の光の位相を制御下る制御i
極とを設けろことにより、効率の糊いレーザ光を発振さ
せることなくレーザ光の放射方向を自由に制御すること
かでさる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による半導体レーザ装置ご
不T斜視図、第2図〜力4図はそれぞれこの発明の他の
実施例を不す半導体レーザ表置の平面図、第5図は従来
の牛導俸レーザ装置を示す斜視図である。 図中、21はコンタクト層、nは上クラッド層、23は
活性層、24は丁クラッド層、δは寛流狭搾層、jは基
板、27は裏面電極、必28aカはレーザ端面、29は
ストライブ、30は右側レーザ領域、31は正側レーザ
領域、32に動作電極、33.41、弦、葛、弧柘、4
6は制御電極、34は発振領域、あはレーザ光の放射方
向を示す。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)少なくとも2以上のレーザ領域を有し、かつ全体
    として単一モードのレーザ光を発振するレーザ・アレイ
    構造を形成したものであって、上記レーザ領域上にレー
    ザ発振させるための動作電流を注入する動作電極と、レ
    ーザ領域内の光の位相を制御する制御電極とを設置し、
    上記制御電極に注入する電流の調整により、レーザ光の
    放射方向を制御するようにしたことを特徴とする半導体
    レーザ装置。
  2. (2)上記制御電極は、レーザ光を放射するレーザ端面
    付近に部分的に形成したことを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の半導体レーザ装置。
JP33253987A 1987-12-25 1987-12-25 半導体レーザ装置 Pending JPH01171289A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101103887B1 (ko) * 2011-03-09 2012-01-12 박완일 전동 브라인드
JP2014082263A (ja) * 2012-10-15 2014-05-08 Kyoto Univ 半導体レーザ素子

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101103887B1 (ko) * 2011-03-09 2012-01-12 박완일 전동 브라인드
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