JPH01167649U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH01167649U JPH01167649U JP4760289U JP4760289U JPH01167649U JP H01167649 U JPH01167649 U JP H01167649U JP 4760289 U JP4760289 U JP 4760289U JP 4760289 U JP4760289 U JP 4760289U JP H01167649 U JPH01167649 U JP H01167649U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sensor
- metal plate
- calculates
- intensity
- half mirror
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
第1図は本考案の実施例の説明図、第2図およ
び第3図はその測定結果を示すグラフ、第4図〜
第5図は本考案の他の実施例の説明図、第6図は
本考案によりステンレス鋼板の二乗平均粗さを測
定した結果を示すグラフ、第7図は光沢度測定の
原理の説明図、第8図はその測定結果を示すグラ
フである。 図面で1は金属板、2,8は鏡面、3は光源、
6は演算装置、5,5′,10はセンサである。
び第3図はその測定結果を示すグラフ、第4図〜
第5図は本考案の他の実施例の説明図、第6図は
本考案によりステンレス鋼板の二乗平均粗さを測
定した結果を示すグラフ、第7図は光沢度測定の
原理の説明図、第8図はその測定結果を示すグラ
フである。 図面で1は金属板、2,8は鏡面、3は光源、
6は演算装置、5,5′,10はセンサである。
Claims (1)
- ハーフミラーおよび該ハーフミラーの裏面に設
けられた光電素子群を有するセンサと、該センサ
と金属板表面との間に光ビームを斜めに投射して
多重反射させる投光機構と、該センサからの各反
射光の強さを示す信号を入力されて反射光強度の
減衰定数を演算し、これより表面性状の値を求め
る演算装置とよりなることを特徴とする金属板の
表面性状測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4760289U JPH01167649U (ja) | 1989-04-21 | 1989-04-21 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4760289U JPH01167649U (ja) | 1989-04-21 | 1989-04-21 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01167649U true JPH01167649U (ja) | 1989-11-24 |
Family
ID=31273801
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4760289U Pending JPH01167649U (ja) | 1989-04-21 | 1989-04-21 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01167649U (ja) |
-
1989
- 1989-04-21 JP JP4760289U patent/JPH01167649U/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH01167649U (ja) | ||
JPH0352606U (ja) | ||
DE69100947D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der bildklarheit einer oberfläche. | |
JPH0319906U (ja) | ||
JPS6079108U (ja) | スペツクル距離計 | |
JPH0267211U (ja) | ||
JPH0216011U (ja) | ||
JPS637305U (ja) | ||
JPH043307U (ja) | ||
JPS63135106U (ja) | ||
JPH0316017U (ja) | ||
JPH022611U (ja) | ||
JPH03127206U (ja) | ||
JPH027509U (ja) | ||
JPH034222U (ja) | ||
JPH02131610U (ja) | ||
JPH0224368U (ja) | ||
JPS63175854U (ja) | ||
JPH0318171U (ja) | ||
JPH01151232U (ja) | ||
JPH02110804U (ja) | ||
JPS648614U (ja) | ||
JPH02135808U (ja) | ||
JPH02110850U (ja) | ||
JPH0319909U (ja) |