JPH01161127A - ヘテロダイン光時間領域反射率計 - Google Patents

ヘテロダイン光時間領域反射率計

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Publication number
JPH01161127A
JPH01161127A JP63277597A JP27759788A JPH01161127A JP H01161127 A JPH01161127 A JP H01161127A JP 63277597 A JP63277597 A JP 63277597A JP 27759788 A JP27759788 A JP 27759788A JP H01161127 A JPH01161127 A JP H01161127A
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JP
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aom
waveguide
coupler
laser
transmitted
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Application number
JP63277597A
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English (en)
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Manfred Fuchs
マンフレッド・フクス
Wolfgang Hoppe
ウォルフガング・ホッペ
Friedrich-Karl Beckmann
フリードリッヒーカルル・ベックマン
Ernst Brinkmeyer
エルンスト・ブリンクメーヤー
Wolfgang Brennecke
ウォルフガング・ブレネッケ
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Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G01M11/3109Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR

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  • Optics & Photonics (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
  • Optical Integrated Circuits (AREA)
  • Optical Couplings Of Light Guides (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はウェーブガイドに送信された光パルスの後方散
乱部分の測定によってテストウェーブガイドである単一
モードウェーブガイドの減衰特性を決定するヘテロダイ
ン光時間領域反射率計(OTDR: optical 
time domain reflectometer
)に関連し、これは音響光学変調器(AOM: aco
usto−opticmodu−1ator )がパル
スモードで音響的に付勢される場合に音響周波数で変調
されている光周波数でテストすべきウェーブガイドにレ
ーザーから透過ビームを偏向するAOM、およびAOM
が付勢されない場合にAOMを横切るレーザービームに
よって構成された局部発振器ビーム(シO)に重畳され
ているテストウェーブガイドから後方散乱された光パル
スを具えている。
光時間反射率計(OTDR)原理に従ってウェーブガイ
ド中の障害を限定する光フアイバ測定システムのレンジ
は利用可能なレーザーパルス電力と受信器感度により制
限されている。特に約0.5dB/kmの低ウェーブガ
イド減衰により大きな軌線(tra−jectory)
をブリッジするために使用されている]、300nm(
1近に長波長スペクトルレンジにおいて、測定システ1
8のレンジはしばしば余りにも小さい。
と言うのは、小さいレーザー電力のみしか利用可能でな
く (ウェーブガイドで数mW) 、かつ後方散乱強度
が非常に小さいからである。検出感度はIMl+zの帯
域幅で約−73dBmである(1μSパルス期間−10
0mの位置分解能)。
検出感度はヘテロダイン技術の使用によりかなり増大で
きる。制限雑音は検出器から生じるのではなく検出すべ
き信号から生じ、そして」二連のように同じデータで約
−97dBmである。ヘテロダイン受信の偏波依存性は
一般に3dBの損失を生じ、従って約−94dBmが検
出すべき最小電力であると考えられている。ヘテロダイ
ン受信の場合に検出すべき信号が安定な局部発振器レベ
ル(LOビーム)と混合されるから、連続動作レーザー
がこの方法で使用されなくてはならない。さらにそのラ
イン幅は付加的な損失を防ぐよう明らかに検出帯域幅(
IMHz)より低くなくてはならない。雑音性能でさら
に利点を有するヘテロゲイン受信において、信号とLO
ビームの間の一定周波数シフトが発生されなくてはなら
ない。ヘテロダイン受信において、検出器エレクトロニ
クスのダイナミックレンジの半分のみが直接受信器に比
べて必要とされている。
と言うのは、受信器信号が振幅に比例しており、後方散
乱光信号の電力に比例していないからである。
反射率計のレンジをさらに増大しかつ干渉(フェーディ
ング)効果をスムースにするために、多くの連続的に測
定された信号曲線は平均化できる。
冒頭の記事に記載されたタイプの装置はドイツ国公開特
許第3506884号から既知である。LOビームおよ
び後方散乱信号は別のAOMによって重畳されている。
しかし、利用可能なAOMはかなりの透過損失を有史、
その上かなりの結合損失が複雑かつ高価な調整にもかか
わらず必要なバルク光接続(bulk−optical
 connection)  によって生じるから、既
知のシステムによって十分大きなレンジを持つヘテロゲ
イン[]TDRを実現することは不可能である。ヘテロ
ダイン0TDRのレンジのシステムに依存する理論的に
可能な利得は信号成分の高い減衰によって消去されてい
る。
従って本発明の目的は冒頭の記事に記載されたタイプの
装置のシステム損失を低減することである。
この解決法は重畳が受動カプラー、特にファイバカプラ
ーによって実現されることで実現されている。
本発明によると、第2 AOMは使用されていない。
その代り使用された受動カプラーは避けられぬ損失とな
るが、しかしこれらは第2 AOMを使用する場合より
も小さい。
第1の実施例によると、テストウェーブガイドからの後
方散乱信号が非対称カプラーの低減衰直接通路を伴う非
付勢へ〇Mあ介して光電子変換器(opto−elec
tronic transducer)に通じる単一モ
ードウェーブガイドに導入され、かつLOビームが上記
のカプラーの交差結合通路(cross−coupl 
ingpath)を介して上記の単一モードウェーブガ
イドに導入されている。
この装置において、レーザーと光受信器の間の通路」二
の後方散乱信号はAOMを介して2回通過し、それから
その通路が低い減衰を有する非対称カプラー(例えば1
3 [IBファイバカプラー)を介して通過している。
従ってもし相対的に低い減衰を有しかつ例えば5dBよ
り小さい透過損失を有するAOMが利用可能であるなら
この実施例は特に適している。
第2の実施例は、AOMによって回折されたビームが非
対称カプラーの低減衰直接通路を介してテストウェーブ
ガイドに導入され、かつ後方散乱信号がカプラーの交差
結合通路を介してLOビームに重畳されかつ混合された
信号が非付勢AOMを介して光電子トランジニーサに通
じる多重モードウェーブガイドに導入されることを特徴
としている。
第1の実施例と比較して、カプラーを介する2倍通路(
two fold path)上の後方散乱信号の減衰
は大きいが、しかしこの装置では光受信器に通じるポー
ト接続の1つは多重モードウェーブガイドの形をしてい
る。それはずっと容易に調整でき、かつもっと正確に調
整できるから、ビームを多重モードウェーブガイドに結
合する場合に実質的になんらの結合損失も生じない。そ
れ故、カプラーの高い損失は少なくとも補償されている
3ポー) 八t)Mを持つ第3の実施例は、回折された
ビームパルスが対称カプラー(3clBカプラー)の直
接通路を介してテストウェーブガイドに透過され、かつ
後方散乱信号がカプラーの交差結合通路を介して重畳さ
れているLQビームが光電子変換器に通じる単一モード
ウェーブガイドに対称カプラーの別の直接通路を介して
逆方向に導入されることを特徴としている。
この実施例の一変形は、回折されたビームパルスが対称
カプラー(3dBカプラー)の交差結合通路を介してテ
ストウェーブガイドに透過され、かつ[,0ビームがカ
プラーの交差結合通路を介して後方散乱信号と逆方向に
混合され、上記の後方散乱信号は光電子変換器に通じる
単一モードウェーブガイドにカプラーの直接通路上で導
入されることを特徴としている。
この装置は相対的に大きな透過損失を有するAOMのみ
が利用可能な場合に特に好ましい。と言うのは、レーザ
ーと光受信器との間のその通路で後方散乱信号が一度だ
けAOMを通して通過するのみであるからである。前述
の実施例と比較して、高い損失が3dBカプラーで生じ
ている。
すべてのシステム装置に対して、LOビームの減衰が後
方散乱信号の減衰よりもずっとクリチカルでないことが
維持されている。と言うのは、そのエネルギが相対的に
大きく、従ってその減衰が殆ど信号対雑音比を劣化しな
いからである。
材料に依存する避けられない透過損失に加えて、挿入損
失が所要のAOM多重ポート素子で生じ、その損失は光
ビームの結合の値と幾何学的精度に依存している。低い
減衰を有する冒頭の記事に記載されたタイプの多重ポー
ト素子に対して、個別素子を注意して調整することが従
って本質的となる。
さらに空間を通る長い通路は回避されねばならない。と
言うのは、多重ポート素子の小さい構造的寸法はもちろ
ん望ましいものであり、かつ特にビーム拡大による放射
損失が透過通路で生じるからである。
本発明の別の有利な実施例において、テストウェーブガ
イドに通じる140ビームおよび透過パルスが導入され
ているAOMの2ポートへの接続が2つの単一モードウ
ェーブガイドを具え、A[IMに向けられたその端面が
レンズの光軸から少なくとも実質的に等距離で配設され
、単一モードウェーブガイドの端面とレンズとの間のビ
ームの軸がレンズの光軸に平行に延在し、かつレンズと
AOMとの間のビームがレンズの光軸に対してプラグ角
αで傾斜しかつ実質的にA[)Mの中心でお互いに交差
するように、その軸がAOMの透過軸と整列して配置さ
れていることを特徴としている。
既知の装置でAOMの片側に配設された各ウェーブガイ
ドがそれ自身のレンズを有しているが、この場合には単
一レンズがAOMのいずれかの側に配設されている。ウ
ェーブガイド、レンズおよびAOMは、レンズがビーム
の拡大および平行収束に役立つのみならず、ウェーブガ
イドから現出するビームの中心軸の方向に対してプラグ
角に等しい角度だけビームを偏向する偏向素子としてま
た動作するようにお互いに対して配設されている。
レンズの光軸とAOMの透過軸は等しくかつ角度の差は
調整ずべきてはない。ウェーブカイトはお互いに平行に
配設されている。所与の間隔を持つ平行位置はウェーブ
ガイドの正確な角度配置よりもずっと容易に実現される
平行ウェーブガイド間の距離は非常に小さく、−14〜 ずなわぢそれらの外径の値の3倍より小さく、従ってレ
ンズのウェーブガイドの端面ばAOMに非常に密接して
配設され、同時にウェーブがイトの露出したクラップイ
ンク (bare cladding)は実質的にお互
いに対して位置決めされることが好ましい。
もし隣接ウェーブガイドの中心軸間の距離が少なくとも
近似的に値d=f・2α(f−レンズの焦点距離)を有
するなら、レンズとウェーブガイドとの間のビーフ、軸
はレンズの光軸に平行であり、レンズとAOMの間では
AOMを通って導かれた音響的波面(acoustic
 wavefront)の方向に対してプラグ角で傾斜
している。
もしレンズの焦点距離fがW ffiaM・π・wo/
λいll。−単一モードウェーブガイドのフィールド幅
、λ−先の波長、2 W、、a、 −AOMのアクティ
ブ聞「1の直径)を本質的に越えないなら、AOMを横
切る平行ヒームのビート直径がAI’l1Mのアクティ
ブ開口を越えないことが保証される。
セルフォックレンズを使用することは容易であろう。し
かし、本発明に必要な焦点距離を持つセルフォックレン
ズは現在利用できない。しかし、本発明による解決法は
平凸レンズあるいは両凸レンズによって顕著に実現でき
る。
レンズとウェーブガイドが支持体に固着されているバル
ク光装置(bulk−optical arrange
ment)が好ましく、それはへ〇M多重ポート素子の
製造中に3つの垂直座標方向x、  y、  zの距離
の相対的調整が可能であるようなやり方で行われている
減衰を最小にするために、正確な調整が可能であり、こ
れは空間通路の無いバージョンと対比される(例えば、
集積オブチクス)。
座標方向x、  y、  zの距離が選択的に調整され
かつお互いに無関係に固定される調整が促進され、そし
て−座標方向の調整の場合に他の座標の位置の調整が維
持されることを保証する手段が備えられている。−座標
方向の調整は他の座標方向の調整プロセスの間に変化す
ることができない。
特に4ポー) へ〇M素子において、レーザービームが
結合されCいる側の八[]Mのポート接続が今後規定さ
れるようにまた形成されることが有利であ後方散乱反射
に敏感に作用するく不安定性)レーザーを使用する場合
に、レーザーの透過ビームが光アイソレークを介して通
過することが有利である。
ll−ザーの光受信器(例えばフォトダイオード)によ
って反射された放射は前に述べられた2つの実施例の非
対称カプラーによってかなり減衰されるから、光アイソ
レークの使用は他のシステム成分の妨害反則が十分妨げ
られる限り一般的には不必要であろう。
ヘテDダイン受信は偏光に敏感な検出方法である。最適
受信に対して信号光と局部発振器光の偏光は一致しなく
てはならない。すなわち、お互いに垂直である偏光の混
合種(mixing product)  は零になる
ファイバの長平方向の各要素からの後方散乱光は時間の
関数として別々の予知できぬかつ一般にゆっくり変化す
る偏光状態(S叶 :5tates ofpolari
zation)を有している。それ故、固定局部発振器
偏光の場合に信号フェーディングが存在する。これを防
ぐために、LOビームが偏光スクランブラを介して導入
されるのが有利である。
お互いに対して45°だけ回転した2つの磁石装置によ
り、交互する力が単一モードファイバのセクションに加
えられた。この磁石は異なる周波数(例えば1711z
と2111z)の3角波電流、およびOから2πの遅延
が2方向でウェーブガイドに生じたような振幅によって
動作した。偏光効果によると期待される後方散乱曲線の
揺動がほぼ0,1.clBとなれることが達成された。
本発明による後方散乱測定テ゛バイスに対して、11、
lHzのレーザーライン幅は局部発振器と周波数シフト
光の重畳によって得られた中間周波数スペクトルの帯域
幅に対する要件に合致する利点がある。DFB  (分
布帰還)レーザーは発明のこの点に関し有利であると見
られている。レーザーの非常に簡単かつ非常に有効な安
定性は、レーザービームが反則端面を持つm−モードエ
ーブガイドのセクションに接続されたその交差結合ポー
トを有する非対称カプラーの低減衰(特に1.5dB)
直接通路を介して通過し、従って透過エネルギの小さい
部分が安定化の目的でレーザーに帰還されたと言うこと
で達成された。
1つの装置において、単一モード4ポートフアイバカプ
ラーは単一モードファイバピッグテール(single
−mode fiber pigtail)を持つDF
Bレーザーにスプライスされた。1つの分岐は狭帯域レ
ーザー光の取出し結合アーム(coupling−ou
t arm)として役立ち、一方、他のアームは安定化
分岐として使用された。外部位相共振器はレーザーピッ
グテール、そのファイバ接続を持つカプラー、および反
射が起こるファイバ端部によって形成されている。ファ
イバセクションは端部「ミラー」として役立ち、カプラ
ーの適用された寸法によってそれはDFBレーザーのラ
イン幅狭量化に(line−width narrow
ing)に保証し、かつ共振器長を規定している。セク
ションの反射の程度は実際には約2%(−1768) 
である。と言うのは、切断中の避けられない角度欠陥は
約4%(−14dB)の理論値が得られることを一般に
妨げるからである。レーザーで約0.02%(−37d
B)の反射の最適度を得るために、10%の結合度のカ
プラーが選ばれた。
取出し結合分岐からの妨害反射を抑制するために、この
ファイバ端部は約10°の角度で研磨された。レーザー
で反射されたビームの偏光面は良く維持されていた。と
言うのは、レーザーとカプラーの間およびカプラーと出
口との間に短いファイバピースが使用されたからである
。有効出力電力の本質的損失無しに100kHzのレー
ザーライン幅が達成された。
通常の構造の透過レーザー、特にDFBレーザーは後方
散乱測定デバイスからの反射の場合にそれらの狭帯域性
を失うから、光アイソレータの使用に加えて、反射を防
ぐ別の手段を取ることは有利であろう。と言うのは、よ
く知られているように、アイソレータが反射を完全にブ
ロックしないからである。従って、好ましい解決法によ
ると、AOMへのポート接続を構成するウェーブガイド
の端面はそれらの軸に対しである角度で傾斜されている
その角度は直角から僅かばかり、特に約β−6゜だけ異
なり、そしてウェーブガイドの軸はレンズ軸に対しであ
る角度、特にr=2.7°だけ延在し、ウェーブガイド
の端面から現出するビームの軸はレンズの光軸に平行に
延在している。
この測定はもし4ポ一トAOMによって形成された本発
明の前述の実施例の1つが使用されるなら特に推奨すべ
きものである。その場合にはアイソレータは必要とはさ
れないであろう。
透過レーザーのフレネル反射をブロックするすべての測
定は、もしその安定度と狭帯域化を失うこと無く反射に
対してそれ自身数に十分敏感でないレーザーが使用され
るならもちろん不必要である。
本発明を添付図面を参照し、実例によって詳細1ご言凭
明する。
第1図は音響光学変調器(AOM) 1を示し、それを
通して音響波が矢印2の方向に通過できる。光ビームは
ポート接続を構成する単一モードウエーブガイド3. 
4. 5. 6および示されていないレンズを介してA
OM 1を通して導かれている。矢印7の方向にウェー
ブガイド3を介して到来するレーザー透過ビームは、A
OM 1が付勢されない場合にウェーブガイド6のLO
ビームとして直接受信さレル。AOM 1がパルスモー
ドで音響的に付勢されると、周波数シフト測定パルスは
テストウェーブガイドに接続されているウェーブガイド
5を介して矢印の方向に単一モードテストウェーブガイ
ドに透過される。矢印9の方向に戻りかつ散乱位置に依
存する時間遅延を有する後方散乱信号は、もはや音響的
に付勢されないAOM 1を介してウェーブガイド4に
達し、かつ非対称ファイバカプラー10を介して(矢印
11の方向に)LOビームに重畳される。得られた混合
信号は単一モードウェーブガイド13を介してフォトダ
イオード14の光学的に敏感な表面領域に向けられる。
カプラー10は後方散乱されたパルスのエネルギの約9
0%が(矢印9の方向に)ウェーブガイド4とウェーブ
ガイド13との間の直接通路を介して透過されるよな寸
法となっている。後方散乱されたエネルギの約10%の
みがカプラー10の不使用接続(non−used c
onnection)15 ヘの結合により失われる。
それとは逆に、LOエネルギの10%がウェーブガイド
11からウェーブガイド13に透過される。
フォトダイオード14からウェーブガイド13に後方散
乱された反射はウェーブガイド11のそれらの通路のカ
プラーによりそれらの値の約10%に低減されるから、
従って反射の減衰されたかなりの部分は八日M1とウェ
ーブガイド3を介してレーザー(示されていない)に達
することができる。従って、もし第3図を参照して説明
された測定がAOM1のポート接続の反射を低減するよ
う取られるなら光アイソレータを省くことは可能である
。第1図によるシステム装置はもし非常に低い減衰を有
するA[]Mが利用可能なら有利である。
第2図によるシステムの構成において、AOM 2と非
対称カプラー10はお互いに異なるやり方で関連してい
る。さらに多重モードウェーブガイド16はΔ(]M1
の第4ポート接続として単一モードウェーツガイト4を
置換する。
テストウェーブガイドは単一モードウェーブガイド17
に接続されるべきである。矢印9の方向に入来する後方
散乱信号は多重モードウェーブガイド16に達し、次に
カプラー10の低減衰直接通路(90%)と非付勢AO
M 1を介してフォトダイオード14に達する。矢印1
1の方向にウェーブガイド6を介して通過されたL[]
ビームの約10%はカプラーXOで前以て混合される。
第1図の実施例と比較すると、カプラーは後方散乱エネ
ルギの2倍減衰(two−fold attenuat
ion)を保証する。と言うのは、透過パルスと後方散
乱信号として後方散乱されたその一部分は約10%だけ
減衰されるからである。
他方、AOM 1からの混合信号の最大受信のための多
重モードウェーブガイド16の整列はずっと簡単であり
かつさらに効果的であるから、実質的に挿入損失は生じ
lよい。
第2図による解決方法は、もし低透過損失を持つAOM
が利用可能でありかつ調整要素の数の低減を狙うなら好
ましいであろう。またこの解決方法に対して、第1図に
よる装置と同様に好ましい条件の下では光アイソレータ
は省かれよう。
第3図は簡単に調整できかつ第4図に示されたようなシ
ステム構造に有利に適している構造を有する低減衰、低
反射の3ポー) AOMを示している。
第3図に図式的に示された3ポート要素システムは、八
(IML同じタイプでありかつ同じ焦点距離fを有する
レンズ18と19、およびポート接続を構成する単一モ
ードウエーブガイド20.21.22を具えている。レ
ンズ18と19の光軸およびAOM 1の透過軸は中心
軸12と一致している。ウェーブガイド20.2122
の長手軸はAOM 1に導かれる音響波の方向2に中心
軸12を通って延在している共通平面でお互いに平行に
配設されている。
AOMIの中心とウェーブガイド21と22の端面との
間の距離pは値n =2f−1−(n +1 ) b/
2n (n −A[l1M材料の屈折率、b =AOM
の幅)を多分持つべきである。しかしこの値の非常に正
確な調整はAOM  1のアクティブ開口の直径がレン
ズ19とAO(41の間に延在する平行な幅広ビームの
フィールド幅より大きい場合に必要とされず、そのビー
ムは入団の中心でお互いに交差し、かつ誇張して示され
たプラグ角αで中心軸12に向けられている。そのよう
な方向はウェーブガイド21と22の中心軸間の距離が
少なくとも実質的にd=f・2αにある場合に得られて
いる。
ウェーブガイド20と22の軸は中心軸12と音響波の
方向2によって与えられる共通平面に存在する。
光アイソレータ23がレンズ18とAOMIの間に挿入
されているから、ウェーブガイド20の端面とAOMl
の中心との間の距離は値!より大きい。ウェーブガイド
21と22の端面は中心軸12から同じ距離に配設され
ている。ウェーブガイド20の端面に対して、中心軸1
2からの大きな距離はより長いビーム通路という理由で
得られている。この距離は第2図に誇張して示されてい
る。ウェーブガイド22と20の相対位置の間の区別は
肉眼では殆ど観測できない。
ウェーブガイド20から22の端面が角度β−6゜±3
0%だけ傾斜しているから、フレネル反射は認めること
のできる付加挿入損失を生じること無く−?6− 実質的に回避されている。中心軸12に対して角度r=
2.7°±30%にあるウェーブガイド20から22の
軸の斜めの位置は、それらの端面から現出するビームが
レンズの光軸および中心軸12それぞれに平行である軸
に沿ってレンズ18と19にぶつかるために必要とされ
ている。これは平行幅広ビームがAOMの中心に向かっ
てプラグ角で延在することを保証している。
アイソレータ23はウェーブガイド20を介して方向づ
けられたレーザービームの偏光面が矢印24の方向で実
質的に妨げられないで通過するようなやり方で整列され
ている。アイソレータ23を通るその通過に基づく光の
偏光面の非相反回転のために、実質的にどんな反射光も
レーザーの反対方向に戻れない。光は第3図による3ポ
ート要素を通るその通路上で僅かしか減衰されないから
、第4図によるこの装置に備えられたヘテロダイン0T
DHのレンジは非常に大きい、すなわち、お互いからの
大きな距離に位置しているテストウェーブガイドの長手
方向セクションの減衰特性は信頼性あるやり方で測定す
ることができる。
単一構成要素の正確な調整はこの成功に本質的に寄与し
た。第3図による装置では1μmの数分の1の正確な調
整は簡単な構成手段と相対的に簡単な調整努力により可
能であった。
ウェーブガイド21と22の間の距離がウェーブガイド
直径の3倍値より小さく選べるから、AOM装置の非常
に短い構成長はその結果である。第1図および第2図の
基本回路図に示されたAOM 1は従ってアイソレーク
23の無い第3図と同様に構成された。
第4図によるシステムは、利用可能な要素(DFBレー
ザー、 AOM )を使用する場合に有利な妥協である
。そのポート接続を持つAOM 1は簡単に構成でき、
かつ低損失に正しく調整できる。カプラー28を介して
反射されている単一モードウェーブガイド29によって
安定化された1300−nm連続波レーザー25(日立
のHL 134.1八、ライン幅約1.00 k l+
 z、電力約1mW)はAOMIと3dB光カプラー2
6を通って10分岐の光検出器27に達する。AOM 
1は検査すべきファイバに周波数シフト光パルスを発生
ずるために使用されている。それはパルス期間の間に高
周波信号(周波数f=80Mllz )によって制御さ
れいてる。それによって発生された移動する音響波はレ
ーザー光をファーストオーダーで(プラグ角で)屈折し
かつ同時にそれを周波数fによってシフトする(ドツプ
ラー効果)。光パルスは4ポートカプラー26を通して
テストウェーブガイド30に到達する。後方散乱信号(
レーレ−散乱)は再びカプラー26を横断し、開信号と
混合し、最後に検出器27に達する。第4図に示された
対称カプラー26への接続と比較すると、カプラーの右
側あるいは左側の接続は動作に影響無く交換できる。
3ポー)AOMIは瞬時周波数シフトを有する高速光ス
イッチとして使用され、かつ4ポートフアイバカプラー
26により最小可能な光損失を与えている。と言うのは
、光はAOM 1を1回たけ通過しなければならないか
らである。後方散乱信号は対称3dBカプラーによって
約−3,5dBだけ減衰されている。
さらに第3図に示された3ポートAOM 1はレーザー
安定度に影響するシステム反射を抑制するために光アイ
ソレータ23の使用を許容している。反射を最小にする
たyつに、第3図による傾斜ウェーブガイド20から2
2が使用された。相対的に容易に調整できる小型AOM
構造が実現され、これは機械的負荷および熱負荷に敏感
でなく、かつ小さい光透過損失を有している(アイソレ
ータにより約=6dB)。約−10dBmのレーザー電
力(100μ’s )がテストファイバの入口で利用可
能である。
アイソレータ23、レンズ18と19、およびAOMの
いずれかの側に正確に整列されたウェーブガイド20と
21を具えるへ〇Mシステムの小型構造は通常の装置と
比べてずっと小さかった。八[1Mとレンズとの間の小
さい距離の焦点の位置は、4mmの焦点距離で125 
μmだけ離れ、かつ1.6°のへ0M偏向角となるよう
に選ばれた。ウェーブガイド21と22(コアー直径9
μm1外径125 μm)がお互いに直接位置決めされ
た。収束されたレーザービームはウェーブガイドコアー
に真直向けられた。
偏光フェーディング効果がもっと早く平均化できる偏光
スクランブラ−31がAOM とカプラーとの間のL口
分岐に配設されている。
局部発振器光に重畳された光信号はウェーツガイト接続
を有する通常の100 MHz PINFET検出器2
7から受信されている。結果としての電気信号32を処
理するために、80 Mllzの中間周波数に同調され
たフィルタがキャリア周波数後方散乱信号に対応する帯
域幅で使用されている。妨害周波数成分はあり得る相互
変調を避けるように引き続く増幅器段から隔離されてい
る。
引き続いて、ダイオードによる復調あるいは整流が実行
されている。この復調器ダイオード(「第2検出器」)
はその特性曲線の二次部分(quadrat、ic p
art)の対応バイアス電流によって動作している。こ
れはもしIF信号振幅が高すぎず、従ってもしIP増幅
度が正しく適応されているなら、広いダイナミック領域
にわたって高感度と光後方散乱信号の歪みの無い電気的
再生となっている。
約2Ktlzの角周波数におけろ低域通過フィルタリン
グの後、後方散乱電力に比例する電圧レベル33が利用
可能である(二乗されたIF倍信号包絡線)。
それは1μsの間隔(100mkの局部解像度に対応す
る)で10−ピッ)A/D変換器34によって各レーザ
ーパルスで走査されかつディジタル的にM積される。
さらに反射率計のレンジを増大し、かつ干渉(フェーデ
ィング)効果をスムースにするために、多数の連続測定
信号曲線が平均化できる。
このために高速実時間電子平均装置(fast rea
ltime electronic averager
)が(萌えられた(回路素子34)。それは時間の関数
として連続するレーザーパルスの4096個までの測定
値の蓄積を許容する。1μsの走査間隔において、これ
は約400kmのファイバ通路の最大長に対応している
。平均化の目的で100万測定結果までが実時間で集計
でき、同時に各メモリ位置(チャネル)の4096個の
個別測定値の各々が以前の結果の和に加算される。50
kmの測定長の場合(100m毎に500ヂヤネル)、
AOMは500 μs毎に周波数シフトレーザーパルス
を発生ずることができ、従って2000平均化操作が毎
秒実行でき、全体で100万個の個別測定となる。
反射率計の測定可能な一方向ダイナミックレンジの利得
は2.5dB−1og(m) (m−平均化操作の数)
で得られている。例えば、1000θ測定ザイクル(5
0kmの距離(こおける全測定時間の5秒)で1QdB
の信号対雑音比の改善が得られている。l]TDRプロ
セス制御と測定された後方散乱信号の評価はコンピュー
タ35によって実行される。電子平均装置のチャネル数
は測定すべき最大距離の選択から生じている。測定結果
は平均化されたデータをもう1度加算するコンピュータ
の表示スクリーン36上にグラフとして表示され、一方
、可能な平均化操作の数、従って信号対雑音比はさらに
増大できる。電子デバイスによって実行される測定サイ
クルの数は2つの評価とチャネル数との間の間隔から生
じている。最後の測定の評価およびグラフ表現の間に、
電子デバイスは連続的に改善された測定曲線37となる
次の平均化操作を既に実行しており、この曲線は既知の
特性変動を表示し、かつ減衰特性とテストウェーブガイ
ドの品質についての情報を与える。
(要 約) 本発明はウェーブガイドに送信された光パルスの後方散
乱部分の測定によって単一モードウェーブガイド(テス
トウェーブガイド)の減衰特性を決定するヘテロダイン
光時間領域反射率計(OTDR)に関連し、これは音響
光学変調器(AOM>がパルスモードで付勢される場合
に音響周波数で変調されている光周波数でテストすべき
ウェーブガイドにレーザーから透過ビームを偏向するA
OMが具えられ、かつAOMが付勢されない場合にAO
Mを横切るレーザービームによって構成された局部発振
器ビーム(1,0)に重畳されている。光ンステム損失
は重畳が受動カプラー、特にファイバカプラー(10゜
26)で実現されると低減される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による第10TDRの木質的光構成要素
の配列を線図的に示し、 第2図は本発明による第20TDRの本質的光構成要素
を線図的に示し、 第3図は本発明による第30TDRに適しているAOM
の構成要素の配列を示し、 第4図は本発明による第3 [ITDRの光構成要素と
関連電子回路の配列を線図的に示してしいる。 1・・音響光学変調器(ADM) 2・・・矢印 3.4,5.6・・・単一モードウェーブガイド7、 
8. 9・・・矢印あるいはビーム10・・・(非対称
)カプラー 11・・・矢印あるいはウェーブガイドあるいはLOビ
ーム 12・・・中心軸あるいは透過軸 13・・・単一モードウェーブガイド 14・・・フォトダイオードあるいは光電子変換器15
・・非使用接続 16・・・多重モードウェーブガイド 17 ・単一モードウェーブガイド 18、19・・レンズ 20、 21.22・・単一モードウェーブガイド23
・・・アイソレーク   24・・・矢印25・・・レ
ーザー 26・・・3dBカプラーあるいは対称カプラー27・
・・光検出器あるいは光電子変換器28・・・(非対称
)カプラー 29・・・単一モードウエーブガイト 30・・・テストウェーブガイド 31・・・偏光スクランブラ− 32・・・電気信号     33・・・電圧レベル3
4・・・A/D変換器   35・・・コンピュータ3
6・・・表示スクリーン  37・・・測定曲線38・
・・回路

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、ウェーブガイドに送信された光パルスの後方散乱部
    分の測定によってテストウェーブガイドである単一モー
    ドウェーブガイドの減衰特性を決定するヘテロダイン光
    時間領域反射率計(OTDR)であって、 音響光学変調器(AOM)がパルスモードで音響的に付
    勢される場合に音響周波数で変調されている光周波数で
    テストすべきウェーブガイドにレーザーから透過ビーム
    を偏向するAOM、およびAOMが付勢されない場合に
    AOMを横切るレーザービームによって構成された局部
    発振器ビーム(LO)に重畳されているテストウェーブ
    ガイドから後方散乱された光パルス、を具えるものにお
    いて、重畳が特にファイバカプラ(10、26)のよう
    な受動カプラーで実現されていることを特徴とする装置
    。 2、テストウェーブガイドからの後方散乱信号が非対称
    カプラー(10)に低減衰直接通路を伴う非付勢AOM
    (1)を介して光電子変換器(14)に通じる単一モー
    ドウェーブガイド(13)に導入され、かつLOビーム
    (11)が上記のカプラー(10)の交差結合通路を介
    して上記の単一モードウェーブガイドに導入されている
    こと、を特徴とする請求項1記載の装置。 3、AOM(1)によって回折されたビーム(8)が非
    対称カプラー(10)の低減衰直接通路を介してテスト
    ウェーブガイドに導入され、かつ後方散乱信号(9)が
    カプラー(10)の交差結合通路を介してLOビーム(
    11)に重畳され、かつ混合された信号が非付勢AOM
    (1)を介して光電子変換器(14)に通じる多重モー
    ドウェーブガイドに(16)に導入されること、を特徴
    とする請求項1もしくは2記載の装置。 4、回折されたビームパルスが3dBカプラーである対
    称カプラー(26)の直接通路を介してテストウェーブ
    ガイド(30)に透過され、かつ後方散乱信号がカプラ
    ー(26)の交差結合通路を介して重畳されているLO
    ビームが光電子変換器(27)に通じる単一モードウェ
    ーブガイドに対称カプラー(26)の別の直接通路を介
    して逆方向に導入されること、を特徴する請求項1記載
    の装置。 5、回折されたビームパルスが3dBカプラーである対
    称カプラー(26)の交差結合通路を介してテストウェ
    ーブガイド(30)に透過され、かつLOビームがカプ
    ラー(26)の交差結合通路を介して後方散乱信号と逆
    方向に混合され、上記の後方散乱信号は光電子変換器(
    27)に通じる単一モードウェーブガイドにカプラー(
    26)の直接通路上で導入されること、を特徴とする請
    求項1記載の装置。 6、テストウェーブガイド(30)に通じるLOビーム
    および透過パルスが導入されているAOM(1)の2ポ
    ートへの接続が2つの単一モードウェーブガイド(21
    、22)を具え、AOM(1)に向けられたその端面が
    レンズ(19)の光軸から少なくとも実質的に等距離で
    配設され、単一モードウェーブガイド(21、22)の
    端面とレンズ(19)との間のビームの軸がレンズ(1
    9)の光軸に平行に延在し、かつレンズ(19)とAO
    M(1)との間のビームがレンズ(19)の光軸に対し
    てプラグ角αで傾斜し、かつ実質的にAOM(1)の中
    心でお互いに交差するように、その軸がAOMの透過軸
    (12)と整列して配置されていることを特徴とする請
    求項1から5のいずれか1つに記載の装置。 7、レーザービームが結合されている側でAOMのポー
    ト接続がまた請求項6に規定されたように形成されてい
    ることを特徴とする請求項6記載の装置。 8、レーザー(25)の透過ビームが光アイソレータ(
    23)を介して通過していることを特徴とする請求項1
    から7のいずれか1つに記載の装置。 9、光アイソレータ(23)がレンズ(18)とAOM
    (1)の間の透過ビームの通路に配設されていることを
    特徴とする請求項8記載の装置。 10、LOビームが偏光スクランブラー(31)を介し
    て導入されていることを特徴とする請求項1から9のい
    ずれか1つに記載の装置。 11、レーザー(25)が分布帰還(DFB)レーザー
    であることを特徴とする請求1から10のいずれか1つ
    に記載の装置。 12、反射端面を持つ単一モードウェーブガイドのセク
    ション(29)に接続されたその交差結合ポートを有し
    、従って透過エネルギの少部分が安定化の目的でレーザ
    ー(25)に帰還されている非対称カプラー(28)の
    特に1.5dBである低減衰直接通路を介してレーザー
    ビームが通過されていることを特徴とする請求項1から
    11のいずれか1つに記載の装置。 13、AOMへのポート接続を構成するウェーブガイド
    (20、21、22)の端面が直角から僅かばかり異な
    っている角度、特に約β=6゜だけ異なっている角度で
    それらの軸に対して傾斜しており、かつ ウェーブガイドの軸がレンズ軸に対して特 にγ=2.7°のような角度で延在し、ウェーブガイド
    (20、21、22)の端面から現出するビームの軸が
    レンズの光軸に平行に延在していることを特徴とする請
    求項1から12のいずれか1つに記載の装置。
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