JPH01158326A - 温度測定装置 - Google Patents

温度測定装置

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JPH01158326A
JPH01158326A JP63214115A JP21411588A JPH01158326A JP H01158326 A JPH01158326 A JP H01158326A JP 63214115 A JP63214115 A JP 63214115A JP 21411588 A JP21411588 A JP 21411588A JP H01158326 A JPH01158326 A JP H01158326A
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JP
Japan
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effect element
photoelastic effect
stress
temperature
measuring device
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Application number
JP63214115A
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English (en)
Inventor
Ikuo Watanabe
郁男 渡辺
Kyoichi Tatsuno
恭市 辰野
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Priority to US07/360,882 priority patent/US4970385A/en
Priority to PCT/JP1988/000908 priority patent/WO1989002586A1/ja
Priority to EP19880907773 priority patent/EP0440790B1/en
Priority to DE3850126T priority patent/DE3850126T2/de
Publication of JPH01158326A publication Critical patent/JPH01158326A/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K5/00Measuring temperature based on the expansion or contraction of a material
    • G01K5/48Measuring temperature based on the expansion or contraction of a material the material being a solid
    • G01K5/50Measuring temperature based on the expansion or contraction of a material the material being a solid arranged for free expansion or contraction
    • G01K5/52Measuring temperature based on the expansion or contraction of a material the material being a solid arranged for free expansion or contraction with electrical conversion means for final indication

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、光学式の温度測定装置に係り、特に透明体の
光弾性効果を利用して温度を測定できるようにした温度
測定装置に関する。
(従来の技術) 周知のように、温度測定装置には種々のタイプがある。
これらうち、温度を遠隔測定するような場合には、専ら
熱電対が使用されている。熱雷対は安価で扱い易く、シ
かも精度の高い温度allJ定が可能である。しかし、
熱電対は、異種金属間に生じる熱起電力を利用している
ため電磁波の影響を受は易く、たとえば高電界中や高磁
界中では使用できない。
高電界中や高磁界中でも使用できる温度測定装置として
は、たとえば半導体の光学的基礎吸収端波長の温度によ
る変化を利用した温度測定装置が知られている。これは
、光を利用しているので高電界中や高磁界中でも使用で
きる。しかし、この温度測定装置では、温度による光学
的基礎吸収端の波長の変化が小さいため、感度が低いと
言う欠点があった。また、装置全体が複雑化し、これに
伴って全体が大型化する問題もあった。
(発明が解決しようとする課題) 上述の如く、高電界中や高磁界中でも使用可能な従来の
温度測定装置にあっては、温度に対する感度が低く、高
い精度で温度測定を行なえない問題があった。
そこで本発明は、たとえ高電界中や高磁界中であっても
、温度を精度よく測定することができ。
しかも構成の簡単な光学式の温度測定装置を提供するこ
とを目的としている。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 上記目的を達成するために1本発明に係る温度測定装置
は、光弾性効果素子および上記光弾性効果素子に密接状
態に配置されて上記光弾性効果素子との間の熱膨張の差
で上記光弾性効果素子に周囲温度に応じた応力を異方性
を持たせて発生させる力印加手段からなる温度一応力変
換器と、この温度一応力変換器の前記光弾性効果素子に
直線偏波光を入射させる手段と、前記光弾性効果素子を
透過した光のうち上記光弾性効果素子のある応力方向、
たとえば最大応力方向の1−波成分と上記方向とは直交
する方向の偏波成分との間の位相差を検出する手段と、
この手段によって検出された位相差を温度に換算して表
示する手段とで構成されている。
(作 用) 周囲温度が変化すると、力印加手段によって光弾性効果
素子に加えられる力が変化し、これによって光弾性効果
素子に生じる応力も変化する。
この応力は異方性を持っている。光弾性効果素子は、内
部に異方性の応力が発生すると、この応力に対応した複
屈折(屈折率の異方性)を起こす。
この光弾性効果素子の複屈折の大きさは、光弾性効果素
子に直線偏波光を入射させ、このときに光弾性効果素子
を透過した光のうちのある応力方向。
たとえば最大応力方向の偏波成分と上記方向とは直交す
る方向の偏波成分との間の位相差に対応する。したがっ
て、上記位相差を測定することによって周囲温度を知る
ことができる。この場合1位相差の検出系は、公知の検
出系で行なうことができ、この検出系は一般的に簡単な
構成であることからして、全体の構成が複雑化するよう
なこともない。また2本発明に係る温度測定装置の温度
検出原理にしたがうと、熱膨張の差が大きい材料を用い
1.力印加手段で大きな力を光弾性効果素子に印加する
だけで検出感度を上げることができるので、半導体の光
学的基礎吸収端の温度変化による吸収1発光の強度を利
用したものに比べて、たとえば−20〜70℃の温度範
囲を高精度にΔIll定できる。
(実施例) 以下1図面を参照しながら実施例を説明する。
第1図には本発明の一実施例に係る温度測定装置の概略
構成が示されている。
同図において、10は被温度測定部に配置されるセンサ
部を示している。このセンサ部10は。
温度一応力変換器12を内蔵している。
温度一応力変換器12は、第2図に示すように。
たとえば縦の長さlが1OffW、横の長さWが’1m
m。
厚さtが4闘のシリカガラス板で形成された光弾性効果
素子14と、この光弾性効果素子14内で。
その横幅方向の中心16から対称的な位置に縦幅方向に
向けて平行に埋め込まれた。たとえば直径1.511j
mのエポキシ樹脂からなる埋め込み部材18゜20とで
構成されている。埋め込み部材18゜20を形成してい
るエポキシ樹脂の熱膨張率は。
光弾性効果素子14を形成してるシリカガラスのそれに
比べて約150倍と大きい。温度一応力変換器12が置
かれている場所の周囲温度が上昇すると、光弾性効果索
子14と埋め込み部材18゜20とは共に熱膨張する。
しかし、光弾性効果素子14と埋め込み部材18.20
とは熱膨張率が大きく異なっているため、光弾性効果素
子14の埋め込み部材18と20との間に位置する部分
の熱膨張量は、埋め込み部材18.20によって規制さ
れる。このため、光弾性効果素子14の埋め込み部材1
8と20との間に位置する部分の応力は、第2図に示す
直交座標上でy軸方向の応力に比べてX軸方向の応力が
大きくなる。つまり、埋め込み部材i8,20は、光弾
性効果素子14と、 の間の熱膨張の差で光弾性効果素
子14に周囲温度に応じた応力を異方性を持たせて発生
させる力印加機構21を構成している。
光弾性効果素子14の縦幅方向の一方の端面22に対向
する位置には、偏光子22が配置されている。この偏光
子24は、第2図に示す直交座標上で、その偏光面がX
軸に対して45度傾くように配置されている。偏光子2
4の外側には光軸を第2図に示す直交座標上の2軸に一
致させたレンズ26が配置されている。そして、レンズ
26の外側には光ファイバ28の一端側が対向配置され
ている。この光ファイバ28の他端側は、被温度測定部
とは離れた位置に導かれて、レンズ30を介してLED
等で構成された光源32に光学的に接続されている。
一方、光弾性効果索子14の縦幅方向の他方の端面34
に対向する位置には、114波長板36゜検光子38.
レンズ40が同軸的に対向配置されている。l/4波長
板36は、その主軸が第2図に示す直交座標上のX軸と
平行するように配置されている。また、検光子38は、
その偏光面が偏光子24のそれに対して垂直となるよう
に配置されている。レンズ40の外側には光ファイバ4
2の一端側が対向配置されている。この光ファイバ42
の他端側は被温度測定部から離れた位置に導かれてフォ
トダイオード等で構成されたフォトディテクタ44に光
学的に接続されている。そして。
フォトディテクタ44の出力は増幅器46で増幅された
後、信号処理装置48に導入される。信号処理装置48
は後述する処理を行なってセンサ部10が位置している
部分の周囲温度を算出し、これを表示装置50に表示す
る。なお、第1図ではセンサ部10が概略的に示されて
いる。しかし。
センサ部10は、実際には各要素を図示しない基板上に
接若剤を使って前述した関係に配置固定し。
この状態で温度一応力変換器12の外周面だけを露出さ
せ、他の部分をカバーで覆ったものとなっている。
次に、上記のように構成された温度測定装置の動作を説
明する。
前述の如く、温度一応力変換器12を構成している光弾
性効果索子14と、これに埋め込まれた埋め込み部材1
8.20とは、熱膨張率が大きく異なっている。このた
め1周囲温度が上昇すると。
光弾性効果素子14の埋め込み部材18と20との間に
位置する部分の応力は、X軸方向の応力に比べてX軸方
向の応力が大きくなる。この応力は周囲温度に対応した
ものとなる。このような応力の異方性がシリカガラスで
構成された光弾性効果素子14に発生すると、この光弾
性効果素子14は複屈折、すなわち屈折率に異方性を生
じる。
光源32から一定強度の光を送出させると、この光はレ
ンズ30を介して光ファイバ28に入射し、この光ファ
イバ28によって被温度測定部まで送られる。そして、
光ファイバ28から出た光度の一波成分を持つ直線偏波
光を射出する。この光は光弾性効果素子14内を2軸に
沿って透過して反対側に出射する。このとき、光弾性効
果素子14の温度に応じた複屈折によって、光弾性効果
素子14を透過した光のX軸方向偏波成分Exとy軸方
向偏波成分Eyとの間に位相差φが生じる。
ここで、X軸方向の偏波光に対する屈折率をnxとし、
X軸方向の偏波光に対する屈折率をnyとし、光の波長
をλとし、光弾性効果素子14の光透過方向の長さをノ
とすると1位相差φは。
φ−2yrl! (nx −ny ) /λ   −(
1)で与えられる。nx+nyは周囲温度によって変化
する。したがって1位相差φも周囲温度によって変化す
る。
光弾性効果索子14を透過した光は偏光面が偏光子24
のそれに対して直交するように配置された検光子38を
通り、続いてレンズ40.光ファイバ42を介してフォ
トディテクタ44に導かれる。この導かれた光の強度■
は。
1ocl(、(1−eos 2φ)/2    ・(2
)となる。なお、(2)式において+  IOは偏光子
24の出射光強度である。したがって、■を測定すれば
1周囲温度によって変化した位相差φを知ることができ
1周囲温度と位相差φとの関係を予め求めておけば1周
囲温度を測定できることになる。
この実施例では1位相差φが小さい領域で、■がφに比
例するように、 1/4波長板36を介在させて。
Iocl、)  (1+sin  2φ)/2    
−(3)となるようにしている。
フォトディテクタ44の出力は、増幅器46(;よって
増幅された後、信号処理装置48に導入される。信号処
理装置48は、予め求められている入力−温度校正曲線
から周囲温度を算出し、この温度値を表示装置50に表
示する。したがって。
周囲温度Tを直ちに知ることができる。
そして、この場合には、温度を測定するためにセンサ部
10に入出力させる信号は光信号だけでよいので、セン
サ部10の置かれる雰囲気が高電界中や高磁界中であっ
ても、これらの影響を受けることなく温度の測定を行な
うことができる。また、光弾性効果素子14との間の熱
膨張の差で光弾性効果素子14に周囲温度に応じた応力
を異方性を持たせて発生させる力印加機構21の構成材
料を選択するだけで検出感度を容易に向上させることが
できる。
第3図には湿度一応力変換器の変形例が示されている。
この温度一応力変換器60は、角柱状に形成されたシリ
カガラス製の光弾性効果素子61を同じく角柱状に形成
されたエポキシ樹脂製の2本の部材62.63で挟み、
これらを光弾性効果索子61の構成材料より熱膨張率の
小さい材料で角筒状に形成された枠体64内に隙PH1
を設けることなく収容したものとなっている。
このように構成された温度一応力変換器60では、光弾
性効果索子61と部材62.63との熱膨張率の差によ
って光弾性効果素子61に周囲温度に応じた応力を異方
性を持たせて発生させることができる。すなわち、シリ
カガラスの熱膨張率に比べてエポキシ樹脂のそれははる
かに大きい。
この例では周囲温度の変化に対応させて光弾性効果素子
61内にy軸方向よりX軸方向の方が大きい応力を発生
させることができる。したがって。
この例では固定枠64と部材62.63とが力印加機構
65を構成していることになる。この温度一応力変換器
60を第1図および第2図に示した温度一応力変換器1
2の代わりに使用することができる。
第4図には温度一応力変換器の別の変形例が示されてい
る。この温度一応力変換器70は、光透過性を有するパ
イレックスガラスまたはポリカーボネートで角柱状に形
成された光弾性効果素子71の両端面を除く外周面にイ
ンバー合金で形成された外側部材72を密接に装着し、
さらに光弾性効果索子71の2軸を中心とした対称的な
位置に貫通孔73.74を平行に設けたものとなってい
る。
パイレックスガラスやポリカーボネートの熱膨張率はイ
ンバー合金のそれより大きい。そして。
この例ではX軸上に貫通孔73.74が形成されている
0したがって、この温度一応力変換器70では周囲温度
の変化に対応させて光弾性効果素子71内にX軸方向よ
りy軸方向の方が大きい応力を米?Ia性効果秦蚤気t
a発生させることができるすなわち、この例では外側部
材72と貫通孔73゜74とが力印加機構75を構成し
ている。
第5図には温度一応力変換器のさらに別の変形例が示さ
れている。この温度一応力変換器80は。
第4図に示した温度一応力変換器70の変形である。す
なわち、この例では光弾性効果索子71に形成された貫
通孔内に光弾性効果素子71の構成材料より熱膨張率が
大きい材料で形成された内側部材81.82を埋め込ん
だものとなっている。
したがって、この温度一応力変換器80では周囲温度の
変化に対応させて光弾性効果索子71内にy軸方向より
X軸方向の方がはるかに大きい応力を発生させることが
でき、温度検出感度の向上に寄与できる。この例では外
側部材72と内側部材81.82とで力印加機構83が
構成されているのである。第6図は、第1図に示した温
度一応力変換器12に代えて温度一応力変換器80を組
込んだときの周囲温度と増幅器46の出力との関係を示
している。この図から判かるように、増幅器の出力は温
度の変化に対してほぼ直線的に変化している。
第7図にはさらに別の変形例に係る温度一応力変換器9
0の光入射側端面が示されている。この温度一応力変換
器90は、パイレックスガラスまたはポリカーボネート
で角柱状に形成された光弾性効果索子91の両端面を除
く外周面にインバー合金で形成された外側部材92を密
接に装着するとともに、光弾性効果素子91のX軸方向
の両側面と外側部材92との間に光弾性効果索子91の
構成材料より熱膨張率が大きい材料で形成された内側部
材93.94を介在させたものとなっている。このよう
な構成であると1周囲温度の変化によって光弾性効果部
材91に発生する応力のうち。
y軸方向の応力に比べてX軸方向の応力をはるかに大き
くできる。したがって、温度の検出感度を向上させるこ
とができる。この例では外側部材92と内側部材93.
94とで力印加機構95が構成されていることになる。
第8図にはさらに別の変形r、に係る温度一応力変換器
100の光入射側端面が示されている。この温度一応力
変換器100は、パイレックスガラスまたはポリカーボ
ネートで角柱状に形成された光弾性効果素子101の両
端面およびy軸方の両側面を除く外周面にインバー合金
で形成された外側部材102を密接に装着したものとな
っている。
このような構成であると2周囲温度の変化によって光弾
性効果部材101に発生する応力のうち。
y軸方向の応力に比べてX軸方向の応力をはるかに大き
くできる。したがって、温度の検出感度を向上させるこ
とができる。この例では外側部材102と、この外側部
材102と光弾性効果素子101のy軸方向の両側面と
の間に形成された空洞103,104とで力印加機構1
05が構成されていることになる。
第9図にはさらに別の変形例に係る温度一応力変換器1
10の光入射側端面が示されている。この温度一応力変
換器110は、パイレックスガラスまたはポリカーボネ
ートで角柱状に形成された光弾性効果索子111の両端
面およびy軸方の両側面を除く外周面にインバー合金で
形成された外側部材112を密接に装着し、さらに光弾
性効果索子111のy軸を中心とした対称的な位置に2
軸方向に円形の貫通孔113,114を平行に設けたも
のとなでいる。このような構成であると。
周囲温度の変化によって光弾性効果部材111に発生す
る応力のうち、y軸方向の応力に比べてX軸方向の応力
を格段に大きくできる。したがって、温度の検出感度を
一層向上させることができる。この例では外側部材11
2と、この外側部材112と光弾性効果索子111のy
軸方向の両側面との間に2軸方向に向けて形成された空
洞115.116と1貫通孔113,114とで力印加
機構117が構成されていることになる。なお、この例
において1貫通孔113,114内に光弾性効果索子1
11の構成材料より熱膨張率の大きい材料で形成された
部材を充填するようにしてもよい。
第10図にはさらに別の変形例に係る温度一応力変換器
120の光入射側端面が示されている。
この温度一応力変換器120は、パイレックスガラスま
たはポリカーボネートで角柱状に形成された光弾性効果
索子121の両端面およびX軸方の一方の側面を除く外
周面にインバー合金で形成された外側部材122を密接
に装着し、これを筒体123内に隙間なく装着し、さら
に光弾性効果素子121のX軸方向の側面で外側部材1
22に接触していない側面と筒体123との間に補助部
材124を装着し、この補助部材124に対して筒体1
23外からX軸方向の力を与えるネジ125を設けてい
る。また、光弾性効果素子121のy軸を中心とした対
称的な位置に2軸方向に円形の貫通孔126,127を
平行に設けたものとなっている。このような構成である
と、筒体123と。
外側部材122と1貫通孔126.127とで力印加機
構128が構成されていることになる。し↓ たがって1周囲温度の変化によって光弾性効果部Al2
1に発生する応力のうち、y軸方向の応力に比べてX軸
方向の応力を大きくできる。また。
ネジ125を調整して光弾性効果素子121にX軸方向
の初期バイアス応力を発生させておくと。
周囲温度が下がって外側部祠122の方が縮小しても、
初期バイアス応力により歪みの異方性を維持させること
ができる。したがって、圧縮応力から引張り応力に移行
するときなどにおいて生じるヒステリシスや不感体の発
生を無くすことができる。
第11図にはさらに別の変形例に係る温度一応力変換器
130の光入射側端面が示されている。
この温度一応力変換器130は、ガラスで円柱体131
を形成し、この円柱体131のX軸を中心とした対称的
な位置に角柱状の空洞132゜133を2軸方向に平行
に設け、さらに円柱体131の空洞132と133との
間に位置する部分134にGeやBなどをドープして他
の部分とは異なる熱膨張率にし、上記部分134を光弾
性効果素子としたものとなっている。したがって。
この例では部分134以外の部分が力印加機構135を
構成している。このように構成された温度一応力変換器
130を使用することもできる。
なお、温度一応力変換器はさらに次のように変形させた
ものも使用できる。すなわち、第ヤ図に示す温度一応力
変換器100において、外側部材102と光弾性効果素
子101のX軸方向の両側面との間に光弾性効果索子1
01の構成材料より熱膨張率の大きい材料で形成された
内側部材を介在させるようにしてもよい。また、上述し
た各温度一応力変換器の力印加機構は、光弾性効果素子
に圧縮力を印加するようにしているが、引張り力を印加
するように構成されていてもよい。
[発明の効果〕 以上のように1本発明によれば、たとえ高電界中や高磁
界中であっても正確に温度を1I11定できる構成の簡
単な温度測定装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る温度測定装置の概略構
成図、第2図は同装置に組込まれた温度一応力変換器の
斜視図、第3図から第5図はそれぞれ温度一応力変換器
の変形例を示す斜視図、第6図は第5図に示す温度一応
力変換器を組込んだときの周囲温度と増幅器の出力との
関係を示す図。 第7図から第11図はさらに異なる変形例に係る温度一
応力変換器をそれぞれ光の入射方向からみた端面図であ
る。 10・・・センサ部、12・・・温度一応力変換器、1
4・・・光弾性効果素子、18.20・・・内側部材、
21・・・力印加機構、24・・・偏光子、26・・・
レンズ。 28・・・光ファイバ、30・・・レンズ、32・・・
光源。 36・・・174波長板、38・・・検光子、40レン
ズ。 42・・・光ファイバ、44・・・フォトディテクタ。 46・・・増幅器、48・・・信号処理装置、50・・
・表示装置、60.70,80,90,100,110
゜120.130・・・温度一応力変換器、65,75
゜83.95,105,117,128.135・・・
力印加機構。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第6図 第11図 第7図 第9図 第8図 第1o図 手続補正書 特許庁長官 吉 1)文 毅 殿 2、発明の名称 4、代理人 東京都千代田区霞が関3丁目7番2号UBEビル〒10
0電話03 (502)3181 (大代表)(584
7)弁理士 鈴江武彦 明細書 7、補正の内容 (1)明細書の第15頁20行目に「固定枠64」とあ
るのを「枠体64」と訂正する。 (2明細書の第16頁11行目に「2軸」とあるのをr
y軸」と訂正する。 (J明細書の第16頁20行目に[光弾性効果素子71
に」とあるのを削除する。 (4)明細書の第18頁13行目に「光弾性効果部材9
1」とあるのを「光弾性効果素子91」と訂正する。 ■明細書の第21頁12行目に1貫通孔126゜127
を平行に設けた」とあるのを「貫通孔を平行に設け、こ
れら貫通孔内に光弾性効果素子121を構成している材
料より熱膨張率の大きい材料で構成された内側部材12
6,127を充填した」と訂正する。 (6)明細書の第21頁14行目に「貫通孔」とあるの
を「内側部材」と訂正する。 (7)明細書の第22頁1行目に「周囲温度」とあるの
を「外側部材122より内側部材126.127の熱膨
張率が小さい場合に1周囲温度」と訂正する。 (8)明細書の第22頁3行目に「したがって、」とあ
るのを「また、」と訂正する。

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光弾性効果素子および上記光弾性効果素子に密接
    状態に配置されて光弾性効果素子との間の熱膨張の差で
    光弾性効果素子に周囲温度に応じた応力を異方性を持た
    せて発生させる力印加手段からなる温度−応力変換器と
    、この温度−応力変換器の前記光弾性効果素子に直線偏
    波光を入射させる手段と、前記光弾性効果素子を透過し
    た光のうち上記光弾性効果素子のある応力方向の偏波成
    分と上記方向とは直交する方向の偏波成分との間の位相
    差を検出する手段と、この手段によって検出された位相
    差を温度に換算して表示する手段とを具備してなること
    を特徴とする温度測定装置。
  2. (2)前記力印加手段は、前記光弾性効果素子に周囲温
    度に応じた圧縮力を異方性を持って印加する機構を備え
    ている請求項1に記載の温度測定装置。
  3. (3)前記力印加手段は、前記光弾性効果素子に周囲温
    度に応じた引張り力を異方性を持って印加する機構を備
    えている請求項1に記載の温度測定装置。
  4. (4)前記力印加手段は、前記光弾性効果素子に異方性
    を持ったバイアス力を加える機構を備えている請求項1
    、2、3の何れかに記載の温度測定装置。
  5. (5)前記力印加手段は、前記光弾性効果素子を構成す
    る材料より熱膨張率の大きい材料で形成された部材を光
    弾性効果素子内の前記直線偏波光の透過中心軸を中心と
    する対称的な2箇所に平行に埋め込んで構成されている
    請求項1に記載の温度測定装置。
  6. (6)前記力印加手段は、前記光弾性効果素子を収容す
    る枠体と、前記光弾性効果素子の構成材料より熱膨張率
    の大きい材料で形成されて前記枠体内に上記光弾性効果
    素子と一体に収容された部材とで構成されている請求項
    1に記載の温度測定装置。
  7. (7)前記力印加手段は、前記光弾性効果素子の構成材
    料より熱膨張率の小さい材料で形成されて上記光弾性効
    果素子の外周に装着された外側部材と、上記光弾性効果
    素子内で、前記直線偏波光の透過中心軸を中心とする対
    称的な2箇所に平行に形成された貫通孔とで構成されて
    いる請求項1に記載の温度測定装置。
  8. (8)前記力印加手段は、前記光弾性効果素子の構成材
    料より熱膨張率の小さい材料で形成されて上記光弾性効
    果素子の外周に装着された外側部材と、上記光弾性効果
    素子の構成材料より熱膨張率の大きい材料で形成されて
    上記光弾性効果素子内または上記光弾性効果素子と前記
    外側部材との間で前記直線偏波光の透過中心軸を中心と
    する対称的な2箇所に平行に埋め込まれた内側部材とで
    構成されている請求項1に記載の温度測定装置。
  9. (9)前記力印加手段は、前記光弾性効果素子の構成材
    料より熱膨張率の小さい材料で形成されて上記光弾性効
    果素子の対向する2側面のみに密接する関係に配置され
    た外側部材で構成されている請求項1に記載の温度測定
    装置。
  10. (10)前記光弾性効果素子と前記外側部材とはベース
    となる材料が同じで、かつ上記光弾性効果素子を構成す
    る部分もしくは外側部材を構成する部分の何れかに別の
    元素をドープして熱膨張率を異ならせたものである請求
    項9に記載の温度測定装置。
  11. (11)前記力印加手段は、前記光弾性効果素子の構成
    材料より熱膨張率の小さい材料で形成されて上記光弾性
    効果素子の外周面を覆うように配置された外側部材と、
    前記光弾性効果素子の構成材料より熱膨張率の大きい材
    料で形成されて前記外側部材と上記光弾性効果素子の対
    向する2側面との間にそれぞれ挿設された内側部材とで
    構成されている請求項1に記載の温度測定装置。
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Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1232330B (it) * 1989-09-12 1992-01-28 Cise Spa Sensore a fibra ottica polarimetrico
US5317524A (en) * 1991-09-19 1994-05-31 Allied-Signal Inc. Spectral signal analyzer system
US5255068A (en) * 1991-11-25 1993-10-19 Allied-Signal Inc. Fringe pattern analysis of a birefringent modified spectrum to determine environmental temperature
FR2684441A1 (fr) * 1991-12-02 1993-06-04 Siderurgie Fse Inst Rech Rouleau mesureur de planeite d'une bande fabriquee en continu.
JP2792315B2 (ja) * 1992-03-10 1998-09-03 松下電器産業株式会社 複屈折測定装置
US5249865A (en) * 1992-04-27 1993-10-05 Texas Instruments Incorporated Interferometric temperature measurement system and method
JP3375995B2 (ja) * 1992-11-25 2003-02-10 ミネソタ マイニング アンド マニュファクチャリング カンパニー 医療用温度センサ
US5513913A (en) * 1993-01-29 1996-05-07 United Technologies Corporation Active multipoint fiber laser sensor
US5383048A (en) * 1993-02-03 1995-01-17 Seaver; George Stress-optical phase modulator and modulation system and method of use
WO1996021874A1 (en) * 1993-02-03 1996-07-18 George Seaver Stress-optical phase modulator, modulation system and method
FR2706607B1 (fr) * 1993-06-15 1995-07-21 Thomson Csf Capteur de température multipoints reconfigurable.
US5399854A (en) * 1994-03-08 1995-03-21 United Technologies Corporation Embedded optical sensor capable of strain and temperature measurement using a single diffraction grating
DE4416298A1 (de) * 1994-05-09 1995-11-16 Abb Research Ltd Verfahren und Vorrichtung zur optischen Ermittlung einer physikalischen Größe
US5493113A (en) * 1994-11-29 1996-02-20 United Technologies Corporation Highly sensitive optical fiber cavity coating removal detection
US5770155A (en) * 1995-11-21 1998-06-23 United Technologies Corporation Composite structure resin cure monitoring apparatus using an optical fiber grating sensor
US5912457A (en) * 1996-12-30 1999-06-15 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Optically-based pressure sensor having temperature compensation
DE19941832C1 (de) * 1999-09-02 2001-03-01 Reinhausen Maschf Scheubeck Verfahren zur faseroptischen Temperaturmessung und faseroptischer Temperatursensor
DE10012291C1 (de) * 2000-03-14 2001-09-20 Reinhausen Maschf Scheubeck Verfahren zur faseroptischen Temperaturmessung und faseroptischer Temperatursensor
US6437916B1 (en) * 2000-10-10 2002-08-20 Jds Uniphase Corporation Strain-stabilized birefringent crystal
AUPR832901A0 (en) * 2001-10-18 2001-11-08 Australian National University, The Electro-optically modulated birefringent filter and method for estimation of lackbody temperatures
JP2016053478A (ja) * 2014-09-02 2016-04-14 株式会社東芝 相分離観測方法、相分離観測装置、及びアニール装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6147513A (ja) * 1984-08-13 1986-03-08 Fujikura Ltd 光フアイバセンサ

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3950987A (en) * 1975-05-13 1976-04-20 Isaak Isaevich Slezinger Piezo-optic measuring transducer and accelerometer, pressure gauge, dynamometer, and thermometer based thereon
US4140393A (en) * 1976-02-23 1979-02-20 University Of Arizona Birefringent crystal thermometer
US4179189A (en) * 1978-01-13 1979-12-18 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Single polarization optical fibers and methods of fabrication
IT1159115B (it) * 1978-09-22 1987-02-25 Cise Spa Strumento opto-elettronico per misure a distanza di temperature
SU883672A1 (ru) * 1980-03-06 1981-11-23 Предприятие П/Я Г-4371 Способ дистанционного измерени температуры
JPS59108927A (ja) * 1982-12-14 1984-06-23 Mitsubishi Electric Corp 温度センサ
DE3405026A1 (de) * 1984-02-13 1985-08-14 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Optischer drucksensor
US4756627A (en) * 1984-08-17 1988-07-12 Sperry Corporation Optical temperature sensor using photoelastic waveguides
US4712004A (en) * 1986-08-20 1987-12-08 Simmonds Precision Products, Inc. Method and apparatus for compensating fiber optic lead and connector losses in a fiber optic sensor by using a broadband optical source and multiple wave retardation
US4777358A (en) * 1987-03-30 1988-10-11 Geo-Centers, Inc. Optical differential strain gauge

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6147513A (ja) * 1984-08-13 1986-03-08 Fujikura Ltd 光フアイバセンサ

Also Published As

Publication number Publication date
DE3850126D1 (de) 1994-07-14
US4970385A (en) 1990-11-13
DE3850126T2 (de) 1994-09-15
WO1989002586A1 (en) 1989-03-23

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