JPH01150880A - 粒子線測定装置 - Google Patents
粒子線測定装置Info
- Publication number
- JPH01150880A JPH01150880A JP62311614A JP31161487A JPH01150880A JP H01150880 A JPH01150880 A JP H01150880A JP 62311614 A JP62311614 A JP 62311614A JP 31161487 A JP31161487 A JP 31161487A JP H01150880 A JPH01150880 A JP H01150880A
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- Japan
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- measuring chamber
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、核融合装置のプラズマ温度計測等に利用され
る粒子線測定装置に関する。
る粒子線測定装置に関する。
（従来の技術）
一般に、粒子線測定装置は、核融合装置のプラズマ温度
に１測笠に利用される。すなわち、この粒子線測定装置
は、プラズマ内で発生する荷電粒子の運動量の分布を測
定することによりプラズマ温度。を計測する装置である
。
に１測笠に利用される。すなわち、この粒子線測定装置
は、プラズマ内で発生する荷電粒子の運動量の分布を測
定することによりプラズマ温度。を計測する装置である
。
第２図は、このような従来の粒子線測定装置の一例を示
すもので、核融合装置等のプラズマ１から荷電粒子を引
き出ずための計測用ポート２の端部には、測定室３が接
続されており、測定室３内には、検出器４が配置されて
いる。また、測定室３内には、磁ＷＢが形成されており
、図示矢印Ｃのようにこの磁場Ｂによって荷電粒子を検
出器４の方向へ偏向させ、荷電粒子の検出位置の分布を
計数し、その検出位置の分布を荷電粒子の運動工ネルギ
ー分布に直してプラズマ温度を求める。
すもので、核融合装置等のプラズマ１から荷電粒子を引
き出ずための計測用ポート２の端部には、測定室３が接
続されており、測定室３内には、検出器４が配置されて
いる。また、測定室３内には、磁ＷＢが形成されており
、図示矢印Ｃのようにこの磁場Ｂによって荷電粒子を検
出器４の方向へ偏向させ、荷電粒子の検出位置の分布を
計数し、その検出位置の分布を荷電粒子の運動工ネルギ
ー分布に直してプラズマ温度を求める。
また、検出器４は、中性子とガンマ線に対しても感度を
持ち、プラズマ内で発生ずる中性子とガンマ線が雑音と
なるため、測定室３は、放射線遮蔽体５で囲まれている
。放射線遮蔽体５は例えばポリエチレンら等からなる中
性子減速ＵＪｉ１６、鉛等からなるガンマ線吸収材層７
、カドミウム等からなる中性子吸収材層８からなり、粒
子線測定装置の周囲からくる放射線が、検出器４に影晋
をおよぼさないようになっている。
持ち、プラズマ内で発生ずる中性子とガンマ線が雑音と
なるため、測定室３は、放射線遮蔽体５で囲まれている
。放射線遮蔽体５は例えばポリエチレンら等からなる中
性子減速ＵＪｉ１６、鉛等からなるガンマ線吸収材層７
、カドミウム等からなる中性子吸収材層８からなり、粒
子線測定装置の周囲からくる放射線が、検出器４に影晋
をおよぼさないようになっている。
（発明が解決しようとする問題点）
しかしながら、第２図に示した従来の粒子線測定装置で
は、プラズマ１から計測用ポート２を通ってストリーミ
ングしてくる中性粒子（中性子とガンマ線）が、図示矢
印ｄのように測定室３の内壁面で故乱し、一部が検出器
４に到達し、荷電粒子のエネルギー分布の情報を乱すと
いう問題がある。
は、プラズマ１から計測用ポート２を通ってストリーミ
ングしてくる中性粒子（中性子とガンマ線）が、図示矢
印ｄのように測定室３の内壁面で故乱し、一部が検出器
４に到達し、荷電粒子のエネルギー分布の情報を乱すと
いう問題がある。
本発明は、かかる従来の事情に対処してなされたもので
、計測用ポートを通って粒子線測定装置の内側にストリ
ーミングしてくる中性粒子が検出器に到達し、荷電粒子
のエネルギー分布の情報を乱すことを防止することがで
き、従来に較べてより正確にプラズマ温度計測を行うこ
とのできる粒子線測定装置を提供しようとするしのであ
る。
、計測用ポートを通って粒子線測定装置の内側にストリ
ーミングしてくる中性粒子が検出器に到達し、荷電粒子
のエネルギー分布の情報を乱すことを防止することがで
き、従来に較べてより正確にプラズマ温度計測を行うこ
とのできる粒子線測定装置を提供しようとするしのであ
る。
「発明の構成］
（問題点を解決するための下段）
すなわち、本発明は、計測用ポートによってプラズマ中
から放射線遮蔽体によって囲まれた測定室内に荷電粒子
を引き出し、この荷電粒子を磁場により偏向させ、前記
測定室内に配置された検出器によって前記荷電粒子のエ
ネルギー分布を求める粒子線測定装置において、前記計
測用ポートの延長上に位置する前記測定室壁に、中性粒
子−の前記測定室内への散乱を防止づ゛る機構を配置し
たことを特徴とする。
から放射線遮蔽体によって囲まれた測定室内に荷電粒子
を引き出し、この荷電粒子を磁場により偏向させ、前記
測定室内に配置された検出器によって前記荷電粒子のエ
ネルギー分布を求める粒子線測定装置において、前記計
測用ポートの延長上に位置する前記測定室壁に、中性粒
子−の前記測定室内への散乱を防止づ゛る機構を配置し
たことを特徴とする。
（作 用）
本発明の粒子線測定装置では、ｎＩ側側車ポー１の延長
上に位置する測定室壁に、中性粒子の測定室内への散乱
を防止する機構が配置され−（いる。
上に位置する測定室壁に、中性粒子の測定室内への散乱
を防止する機構が配置され−（いる。
この、中性粒子の測定室内への散乱を防止する機構とし
ては、たとえば測定室壁を構成する放射線遮蔽体の一部
を切り欠いて中性粒子用通過路を設けること等によって
実現することができる。すなわち、計測用ポートに沿っ
てストリーミングしてくる中性粒子は、磁場の影費を受
けずに直進し、計測用ポートの延長上の中性粒子用通過
路を通って測定室外部に抜ける。したがって、途中に散
乱体が無いので、ストリーミングしてくる中性粒子の散
乱による検出器への寄与が無くなる。
ては、たとえば測定室壁を構成する放射線遮蔽体の一部
を切り欠いて中性粒子用通過路を設けること等によって
実現することができる。すなわち、計測用ポートに沿っ
てストリーミングしてくる中性粒子は、磁場の影費を受
けずに直進し、計測用ポートの延長上の中性粒子用通過
路を通って測定室外部に抜ける。したがって、途中に散
乱体が無いので、ストリーミングしてくる中性粒子の散
乱による検出器への寄与が無くなる。
また、中性粒子用通過路の出口は、中性子吸収材（例え
ばカドミウム）とガンマ線吸収材（例えば鉛）の板で封
じることにより、外側から中性粒子用通過路を通って放
射線が入射することを防止することができる。
ばカドミウム）とガンマ線吸収材（例えば鉛）の板で封
じることにより、外側から中性粒子用通過路を通って放
射線が入射することを防止することができる。
（実施例）
以下、本発明の詳細を図面に示す一実施例について説明
する。
する。
第１図は、本発明の一実施例の粒子線測定装置の構成を
示すもので、第２図に示した従来の粒子線測定装置と同
一部分には同一符号が付しである。
示すもので、第２図に示した従来の粒子線測定装置と同
一部分には同一符号が付しである。
この実施例の粒子線測定装置では、計測用ポート２の延
長上に位置する測定室３の側壁部に、放射線遮蔽体５を
切り欠い゛Ｃ中性粒子用通過路１０が設けられており、
この中性粒子用通過路１０の出口は、ガンマ線吸収材た
とえば鉛板１１と、中性子吸収材たとえばカドミウム板
１２とによって閉塞されている。
長上に位置する測定室３の側壁部に、放射線遮蔽体５を
切り欠い゛Ｃ中性粒子用通過路１０が設けられており、
この中性粒子用通過路１０の出口は、ガンマ線吸収材た
とえば鉛板１１と、中性子吸収材たとえばカドミウム板
１２とによって閉塞されている。
上記構成のこの実施例の粒子線測定装置では、計測用ポ
ート２によってプラズマ１から引き出された荷電粒子は
、測定室３内の磁場Ｂによって、図示矢印Ｃで示すよう
に検出器４の方向へ偏向され、それぞれの荷電粒子が持
つ運動エネルギーの大きざによって、検出器４の異なる
部位に入射する。そして、検出器４によって、この荷電
粒子の検出位置の分布を計数し、その検出位置の分子５
を荷電粒子の運動エネルギー分布に直してプラズマ温度
を求める。
ート２によってプラズマ１から引き出された荷電粒子は
、測定室３内の磁場Ｂによって、図示矢印Ｃで示すよう
に検出器４の方向へ偏向され、それぞれの荷電粒子が持
つ運動エネルギーの大きざによって、検出器４の異なる
部位に入射する。そして、検出器４によって、この荷電
粒子の検出位置の分布を計数し、その検出位置の分子５
を荷電粒子の運動エネルギー分布に直してプラズマ温度
を求める。
この時、計測用ポート２を通ってホ１［定室３内にスト
リーミングしてきた中性粒子は、図示矢印ｅで示すよう
に、磁場Ｂの影響を受けずに直進し、中性粒子用通過路
１０を通って測定室３の外部へ抜ける。また、中性粒子
用通過路１０の外側からの放射線は、鉛板１１とカドミ
ウム板１２で吸収される。したがって、中性粒子の検出
器４に対する寄与が無くなり、荷電粒子線測定の精度が
向上する。
リーミングしてきた中性粒子は、図示矢印ｅで示すよう
に、磁場Ｂの影響を受けずに直進し、中性粒子用通過路
１０を通って測定室３の外部へ抜ける。また、中性粒子
用通過路１０の外側からの放射線は、鉛板１１とカドミ
ウム板１２で吸収される。したがって、中性粒子の検出
器４に対する寄与が無くなり、荷電粒子線測定の精度が
向上する。
［発明の効果］
以−Ｌ説明したように、本発明の粒子線測定装置では、
Ｓ１測用ポートを通って粒子線測定装置の内側にストリ
ーミングしてくる中性粒子が検出器に到達し、荷電粒子
のエネルギー分布の情報を乱すことを防止することがで
き、従来に較べてより正確にプラズマ温度計測を行うこ
とができる。
Ｓ１測用ポートを通って粒子線測定装置の内側にストリ
ーミングしてくる中性粒子が検出器に到達し、荷電粒子
のエネルギー分布の情報を乱すことを防止することがで
き、従来に較べてより正確にプラズマ温度計測を行うこ
とができる。
第１図は本発明の一実施例の粒子線測定装置の構成を示
す断面図、第２図は従来の粒子線測定装置の構成を示す
断面図である。 １・・・・・・・・・プラズマ ２・・・・・・・・・計測用ポート ３・・・・・・・・・測定室 ４・・・・・・・・・検出器 ５・・・・・・・・・放射線遮蔽体 ６・・・・・・・・・中性子減速材層（ポリエチレン）
７・・・・・・・・・ガンマ線吸収材層（鉛）８・・・
・・・・・・中性子吸収材層（カドミウム）１０・・・
・・・中性粒子用通過路 １．１・・・・・・ガンマ線吸収材（鉛板）１２・・・
・・・中性子吸収材（カドミ・シム板）出願人
日本原子力事業株式会社出願人 株式会
社 東芝 代理人 弁理士 須 山 佐 − ］１ 第１図 第２９
す断面図、第２図は従来の粒子線測定装置の構成を示す
断面図である。 １・・・・・・・・・プラズマ ２・・・・・・・・・計測用ポート ３・・・・・・・・・測定室 ４・・・・・・・・・検出器 ５・・・・・・・・・放射線遮蔽体 ６・・・・・・・・・中性子減速材層（ポリエチレン）
７・・・・・・・・・ガンマ線吸収材層（鉛）８・・・
・・・・・・中性子吸収材層（カドミウム）１０・・・
・・・中性粒子用通過路 １．１・・・・・・ガンマ線吸収材（鉛板）１２・・・
・・・中性子吸収材（カドミ・シム板）出願人
日本原子力事業株式会社出願人 株式会
社 東芝 代理人 弁理士 須 山 佐 − ］１ 第１図 第２９
Claims (2)
- （１）計測用ポートによってプラズマ中から放射線遮蔽
体によつて囲まれた測定室内に荷電粒子を引き出し、こ
の荷電粒子を磁場により偏向させ、前記測定室内に配置
された検出器によつて前記荷電粒子のエネルギー分布を
求める粒子線測定装置において、前記計測用ポートの延
長上に位置する前記測定室壁に、中性粒子の前記測定室
内への散乱を防止する機構を配置したことを特徴とする
粒子線測定装置。 - （２）前記中性粒子の前記測定室内への散乱を防止する
機構は、前記測定室壁を構成する放射線遮蔽体の一部を
切り欠いて設けられた中性粒子用通過路であり、この中
性粒子用通過路の出口は、中性子吸収材とガンマ線吸収
材によつて封じられていることを特徴とする特許請求の
範囲第１項記載の粒子線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62311614A JPH01150880A (ja) | 1987-12-08 | 1987-12-08 | 粒子線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62311614A JPH01150880A (ja) | 1987-12-08 | 1987-12-08 | 粒子線測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01150880A true JPH01150880A (ja) | 1989-06-13 |
Family
ID=18019371
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62311614A Pending JPH01150880A (ja) | 1987-12-08 | 1987-12-08 | 粒子線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01150880A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000123781A (ja) * | 1998-10-14 | 2000-04-28 | Hitachi Ltd | 大気圧イオン化質量分析装置 |
-
1987
- 1987-12-08 JP JP62311614A patent/JPH01150880A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000123781A (ja) * | 1998-10-14 | 2000-04-28 | Hitachi Ltd | 大気圧イオン化質量分析装置 |
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