JPH01147318A - 位置検出装置 - Google Patents

位置検出装置

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JPH01147318A
JPH01147318A JP30574887A JP30574887A JPH01147318A JP H01147318 A JPH01147318 A JP H01147318A JP 30574887 A JP30574887 A JP 30574887A JP 30574887 A JP30574887 A JP 30574887A JP H01147318 A JPH01147318 A JP H01147318A
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detecting means
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英悟 川上
Kenji Saito
謙治 斉藤
Minoru Yoshii
実 吉井
Toshimitsu Kawase
俊光 川瀬
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  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、位置、長さ、角度等の計測に用いられるエン
コーダ、特に高分解可能の位置検出機能を付加して高精
度の測定を可能としたエンコーダに関する。
[従来の技術] 従来この柚のエンコーダとしては、位置に関する情報を
有する符号板とこれに対し相対的に移動して位置に関す
る情報を検出する検出手段と検出した情報を処理する信
号処理部とで構成されるものが知られている。そして、
これらは符号板と検出手段によっていくつかのタイプに
分類され、光学式、磁気式、静電容量式などがある。
第9図に従来の基本的なエンコーダの要部構成図を示す
。いわゆる光学式(透過型)の場合で、発光素子1から
の光はコリメータレンズ2で平行光にされた後、符号板
4およびマスク5を通過して2つの受光素子3a、3b
に入射する。そして、符号板4の相対移動に伴ない該受
光素子3a。
3bで検出された信号はプリアンプ6で増幅されて図示
しない信号処理部へ送られ、相対移動量等が求められる
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、このようなエンコーダの分解能は符号板
4およびマスク5に設けられたスリットのピッチで決ま
り、信号処理部で電気的な分割を行わない場合には10
μm程度が限界で、他のタイプのエンコーダも同程度か
それ以下である。また、光の干渉を利用した場合も1μ
m前後が限界であった。これ以上の分解能を必要とする
場合は、電子ビームで微細な目盛の刻まれた符号板上を
走査してその反射ビームを検出する方法もあるが、装置
が非常に大がかりなものになるという欠点があった。
本発明は、このような従来例の問題点に鑑み、従来のも
のより大型化することなく、より高分解能のエンコーダ
を提供することを目的とする。
[問題点を解決するための手段] そのために本発明では、位置情報を有する第1の符号板
と、該位置情報を検出する第1の位置検出手段と、該第
1の位置検出手段を移動可能に保持し前記第1の符号板
と相対的に移動可能な測定ヘッドと、該測定ヘッドまた
は前記第1の位置検出手段に固定された第2の符号板と
、該第2の符号板に対向して前記測定ヘッドまたは前記
第1の位置検出手段に固定され該測定ヘットに対する該
第1の位置検出手段の相対位置を検出するため該第2の
符号板の位置情報を検出する第2の位置検出手段とを備
える構成とした。第2の符号板上の位置情報は第1の符
号板上の位置情報より細かいピッチで設けられる。
[作用] この構成において、第1の符号板と第1の検出手段とが
被測定量に応じて相対移動すると、この間に第1の位置
検出手段によって第1の符号板上の例えば所定ピッチの
繰返しパターンとして設けられた位置情報が検出され、
その繰返し数をカウントすることにより比較的低分解能
で相対移動量が求められる。そしてさらに、第2の符号
板上の位置情報を、例えば上記求められた移動量と真の
相対移動量との差に応じて第2の符号板と位置検出手段
とを相対B動させなから、第2の位置検出手段で検出す
ることにより、上記求められたり動量と真の相対移動量
との差が高分解能で求められる。
このようにして、第1の検出手段の分解能を第2の検出
手段により補りて長さや角度の高分解能の測定が行なわ
れる。
[実施例] 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の第1の実施例に係るエンコーダを示す
。同図(a)は側方断面図、(b)は(a)の下方から
見た平面図である。同図において、7は導電性材料から
なるプローブ、8は2つの圧電アクチュエータ8a、8
bからなり該プローブ7を後述の第2の符号板42の表
面に対して略垂直な方向に移動せしめる駆動手段である
。圧電アクチュエータ8aは単体の圧電材料からなる第
1のプローブ駆動手段で、一端に前記プローブ7が取付
けられ、他端は第2のプローブ駆動手段である積層形の
圧電アクチュエータ8bの一端に固着される。圧電アク
チュエータ8bのもう一端は、第1の位置検出手段を構
成する発光素子1、コリメータレンズ2、受光素子3、
マスク5の各要素を一定の位置関係に保持する保持部材
100に固定される。そして、プローブ7とプローブ駆
動手段8は、第2図に示す各ブロックからなる制御手段
とともに第2の位置検出手段を構成する。第1図の41
は第1の符号板で、その表面410には該第1の符号板
41を反射型として使用するため、反射率の大きな部分
とほとんど反射のない部分からなる等ピッチのいわゆる
白黒パターンのスケール(図示せず)が形成されている
。101は燐青銅などからなる4つの金属板102の平
行板ばねによって前記保持部材100を矢印C方向に相
対的に移動可能に支持する筐体で、測長ヘッドと称され
る。該測長ヘッド101は、前記第1の符号板41に対
して相対的に移動可能に配置される。
42は導電性材料からなる第2の符号板で、前記測長ヘ
ッド101の内面に前記プローブ7と対向して設置され
、該プローブ7との間に一定電圧が印加される。また、
第2の符号板42の表面420には、第2図に示すよう
なそのピッチが前記第1の符号板41のスケールと比べ
て例えば1桁以上小さな所定の深さの凹凸からなるスケ
ール421が、電子線描画やリソグラフィなどの手段に
よって矢印C方向に連続して形成されている。
該スケール421のピッチは前記第1の符号板41のス
ケールのピッチの例えば整数分の1に設定する。108
は前記保持部材100と前記測長ヘッド101の間に設
けられ、保持部材10oを測長ヘッド101に対して相
対的に移動させるための駆動手段で例えば積層型の圧電
アクチュエータである。なお、3は第9図と同様に2つ
の受光素子3a、3bからなるものとする。
第2図は、第1図のエンコーダの制御手段のブロック図
である。
同図において、9は第2の符号板42とプローブ7との
間に一定電圧Vpを印加した場合に該プローブ7を流れ
る電流1pを検出する電流検出手段、10はスイッチ1
1が閉じられているときに電流rpが一定となるように
プローブ7と第2の符号板42上のスケール421との
距離を一定に保つために、圧電アクチュエータ8aを制
御すべく圧電素子トライバ12への信号Vsを生成する
コントローラである。また、vbはプローブ7を電流I
pの検出できる距離までスケール421に近付けるため
に積層型の圧電アクチュエータ8bを駆動する電圧で、
図示しないドライバによって生成され、−旦設定される
とエンコーダとして使用中はその値に固定される。
ここで、第2の位置検出手段の動作について説明する。
この第2の位置検出手段は、■梶村他: “走査型トン
ネル顕微鏡”、固体物理、 Vol、22 。
No、 3. pp176−185 (1987)や 
■H,Adachi :Recent Progres
s in the ScanningTunnelin
g  Microscope”  、  Proc、6
th  SensorSymposium、1986.
 ppl 37−142等に示される走査型トンネル顕
微鏡(STM)と同様の動作原理を応用したものである
。すなわち、第3図に示すように、導電性材料からなる
プローブ7′と試料44との間に電圧■を印加して両者
の距離を近付けていった場合、ある距rliJgまで近
づけるとトンネル電流と呼ばれる微少な電流■が流れる
ことが知られており、その原理を利用したものとして走
査型トンネル顕微鏡(STM)がある。このトンネル電
流は距離gに対して指数関数的に変化するが、gが一定
となるようにプローブ7′を上下させながら矢印C方向
に動かしていくと、プローブ7′の上下動そのものが矢
印C方向の試料44表面の形状に対応したものとなる。
そして、その表面に沿った方向の分解能は原子オーダで
あることが確記されている。
第2の位置検出手段は上記原理を応用したもので、その
動作は、まず、第2図において符号板42とプローブ7
の間に一定電圧Vpを印加して、電圧vbを調整しなが
ら圧電アクチュエータ8bによってプローブ7をトンネ
ル電流の流れる距離まで符号板42に近付ける。次に、
スイッチ11を閉じて電流検出手段9によって検出され
るトンネル電流1pが一定となるように、圧電アクチュ
エータ8aへの印加電圧Vaをコントローラ10からド
ライバ12への信号Vsによって調整する。この状態で
プローブ7と符号板42との間に矢印C方向の相対的な
動きがあれば、スケール421の凹凸によフてトンネル
電流IPが変化するので、コントローラ10は前述のよ
うにトンネル電流Ipが一定となるように、すなわちプ
ローブ7とスケール421の距離が常に一定となるよう
に圧電アクチュエータ8aのドライバ12へ信号Vsを
出力する。従って、圧電アクチュエータ8aの伸縮量は
印加電圧Vaに比例することから、信号Vsはスケール
421の凹凸に対応した信号となる。これを2値化して
波形整形することにより、第4図に示す信号PFが得ら
れる。なお、スイッチ11を開いたまま電圧Vaを一定
値に保ち、プローブ7の符号板42厚み方向の空間的位
置を一定にして電流検出手段9で得られる電流Ipを量
子化しても同様の信号PFを得ることができる。
第4図は第1図の装置における各部信号の関係を示すタ
イミングチャートである。同図のA、  Bはそれぞれ
受光素子3 (3a、3b)からの信号を2値化・波形
整形したもので、マスク5によって互いに90度位相の
ずれた信号となっている(横軸は位置を示す)。PCは
この2つの信号の立上がり・立下がりから一定幅のパル
スを生成することにより、元のパルスを4逓倍したもの
である。
以上のように構成されたエンコーダで位置計測を行なう
方法を第1図、第4図および計測の手順を示すフローチ
ャートである第5図を用いて説明する。
今、第4図において位置原点XOから位置Xkまでの距
離を計測する場合、従来の第1の位置検出手段のみでは
図の左方よりパルスPCをカウンタでカウントしていき
、xlまでのパルス数Mとパルスのピッチ(符号板41
のスケールのピッチの1/4)Pで求まるM・PがXk
の原点からの距離となり、位置X1から位置X2までの
長さSは計測されない。すなわち、信号PCの1パルス
分±Pの誤差が計測に含まれる。本発明はこの長さSを
前述の第2の位置検出手段によって計測して、計測の精
度(分解能)を向上させるものである。
計測の手順は、次のような計測前の準備を行なうことか
ら始まる。第1図を参照してまず、測長ヘッド筐体10
1に対する第1の位置検出手段の位置を一定にするため
、プローブ7か符号板42上の基準位置に来るように保
持部材100を駆動手段108で移動させ(ステップ1
10)、不図示のパルスPF用のカウンタをリセットす
る(ステップ120)。上記基準位置は、例えは第2の
符号板42上のスケール421のピッチを部分的に変化
させてお(ことで判別できる。次に、測長ヘッド101
を位置原点xOに移動させ(ステップ130)、不図示
のパルスPC用のカウンタをリセットする(ステップ1
40)。この位置原点に位置決めするには、別に設置し
たフォトインタラプタのような光スィッチを用いてもよ
いし、第1の符号板41上に位貯原点用のマークを設け
、これを第1の位置検出手段で検出してもよい。
ステップ150において計測を行なうと判定されると、
まず測長ヘッド101を計測位置へ向は移動させる(ス
テップ160)。そして、第1の位置検出手段によりパ
ルスPCをカウントしながら(ステップ170)計測位
置まで来たら(ステップ180)、測長ヘッド101を
停止しくステップ190)、さらに第4図の微少距1f
i11. sを測定するために、保持部材100を駆動
手段108によって測長ヘッド101を移動させてきた
方向と逆方向に最後にカウントしたパルスPCが現われ
るまで移動させる(ステップ200)。このとき、プロ
ーブ7によってパルスPFをPF用カウンタでカウント
する(ステップ210)。パルスPCが現われたら(但
し、このときPC用カウンタは−1しない)(ステップ
220)、PC用カウンタとPF用カウンタのカウント
値から計測位置の位置原点からの距離を算出する(ステ
ップ240)。例えば、2つのカウントの値がそれぞれ
M、Nであったとすれば、求める距atXは、X=M−
P+N−p となる。そして最後に、保持部材100を基準位置に戻
し、PF用カウンタをリセットして次の計測に備える。
このようにして従来のエンコーダより分解能を向上させ
た計測ができるが、更に高分解能を必要とする場合は、
第2の符号板表面の原子配列をスケールとして使用すれ
ばよい(原子の大きさは既知とする)。
第6図にその例を示す。第6図はスケール421の表面
部分の断面図で、421aは符号板42を構成する金属
原子、421bは電子線描画等で位置検出手段と直交す
る方向に削設された溝である。一般に、この溝と溝の間
隔を原子オーダの精度で作成するのは困難であるが、あ
らかじめ基準位置からの多溝の位置を前述の第2の位置
検出手段により原子の個数をカウントして求め、メモリ
等に記憶しておけば、m番目の溝421bの位置がわか
る。従フて、m番目の溝の立上り位置から原子の個数n
をカウントすることによって、原子オーダでの位置検出
が可能となる。
なお、第2の位置検出手段は第1の位置検出手段の補間
的役割でよいので、その計測範囲も小さくてよく、少な
くとも第4図のパルスPCのピッチ2以上あればよい。
故に、第2の符号板や駆動手段としてのアクチュエータ
も小さくてよく、これらを含む測長ヘッドは従来の測長
ヘットに比べてほとんど変わらない大きさでよい。
次に、第7図に本発明の第2の実施例に係るエンコーダ
の要部を示す。これは、上述の第2の位置検出手段にお
いてプローブが2つある場合で、71.72が同じスケ
ールに対向して配置されたプローブ、81a、82aは
それぞれのプローブに対する第2のプローブ駆動手段で
ある圧電アクチュエータ、8bは第1のプローブ駆動手
段である圧電アクチュエータである。dは2つのプロー
ブ81a、82aの位置検出手段(矢印C方向)の間隔
で、前述のスケール421のピッチpに対して、 d=(2n+1)  ・p / 4 に設定される(nは整数)。また、それぞれのプローブ
71.72と第2のプローブ駆動手段81a、82aに
は第2図の制御手段がそれぞれに組合わされ、スケール
と各プローブの距離を一定に保つように制御する。これ
によって、位相の90度ずれた2つの信号が?iJられ
、第1の位置検出手段では移動方向がわからないような
微小な距離でも方向の検知か可能となる。
第8図は、本発明の第3の実施例に係るエンコーダを示
す要部斜視図で、上述の第2の符号板42のスケールを
相互に位相を4分の1ピッチ(p / 4 )だけずら
して配した2列のスケール421.422とし、2つの
プローブ71,72の位相ずれをなくしてすなわちスケ
ールに直角方向の並びで配置した場合を示す。この場合
も第7図の場合と同様の効果が得られる。
なお、第1の位置検出手段としては光学式に限られるも
のではなく、磁気式やその他のタイプのものも使用でき
る。また、実施例の説明はリニアタイプで行なったが、
ロータリタイプ(回転型)、すなわち角度計測装置とす
ることももちろん可能である。また、第10図に示すよ
うにプローブ7、プローブ駆動手段8を測長ヘット10
1の内面に、符号板42を保持部材100に設けて、プ
ローブ7と符号板42との関係を前述の実施例と逆にす
ることも可能である。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば従来のエンコーダ
にその分解能を補完するより高分解能の位置検出手段例
えば走査型トンネル顕微鏡の原理を利用した位置検出手
段を付加することにより、以下のような効果が得られる
(1)計測範囲はそのままで、1桁以上高分解能のエン
コーダが得られる。特に、位置情報として符号板表面の
原子配列を使用すれば、オングストローム・オーダの計
測が可能なエンコーダとなる。
(2)位置検出部には、例えばプローブと圧電アクチュ
エータとを付加するだけなので、高分解能でありながら
コンパクト化が可能である。
(3)プローブを2本設けることで、従来のエンコーダ
では計測できないような微小な範囲の長さや角度の変化
でも方向とその大きさの計測が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の第1の実施例に係るエンコーダを示
す断面図および平面図、 第2図は、第1図のエンコーダの制御手段のブロック図
、 第3図は、本発明に利用される走査型トンネル顕微鏡(
STM)の原理図、 第4図は、第1図の装置における各部信号の関係を示す
タイミングチャート、 第5図は、第1図の製画による測長の手順を示すフロー
チャート、 第6図は、第1図の装置において原子配列をスケールと
した場合の第2の符号板の断面図、第7図は、本発明の
第2の実施例に係るエンコーダの要部を示す側面図、 第8図は、本発明の第3の実施例に係るエンコーダの要
部を示す斜視図、 第9図は、従来例の斜視図、そして 第10図は、本発明の他の実施例に係るエンコーダを示
す断面図である。 1:発光素子、3:受光素子、 4.41.42:符号板、 7.7’ 、71.72ニブローブ、 8a、  8b、  81a、  82a、  108
:圧電アクチュエータ、 9:電流検出手段、10:コントローラ、100:保持
部材、101:測長ヘッド、421.422ニスケール
、 421a:原子。 特許出願人   キャノン株式会社 代理人 弁理士   伊 東 哲 也 代理人  5′P理士     伊  東  辰  雑
業3図 第 4 @ 第 5 図 第6図 第7vjA 第8因 第9図 第10図

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)位置情報を有する第1の符号板と、該位置情報を
    検出する第1の位置検出手段と、該第1の位置検出手段
    を移動可能に保持し前記第1の符号板と相対的に移動可
    能な測定ヘッドと、該測定ヘッドまたは前記第1の位置
    検出手段に設けられた第2の符号板と、該第2の符号板
    に対向して前記測定ヘッドまたは前記第1の位置検出手
    段に設けられ該測定ヘッドに対する該第1の位置検出手
    段の相対位置を検出するため該第2の符号板の位置情報
    を検出する第2の位置検出手段とを具備することを特徴
    とするエンコーダ。
  2. (2)前記測定ヘッドが、前記第2の位置検出手段を前
    記第2の符号板に対して相対的に駆動する駆動手段を含
    む、特許請求の範囲第1項に記載のエンコーダ。
  3. (3)前記第2の符号板が導電性材料からなり、前記第
    2の位置検出手段が、前記第2の符号板表面に対向しそ
    の先端が該第2の符号板表面に近接して配置された導電
    性材料からなるプローブと、該プローブを前記第2の符
    号板表面に対して略垂直な方向に移動せしめる複数のプ
    ローブ駆動手段と、前記プローブと前記第2の符号板の
    間に電圧を印加して該プローブを流れる電流を検出する
    電流検出手段と、該電流検出手段の出力に応じて前記複
    数のプローブ駆動手段を制御する制御手段とを有する、
    特許請求の範囲第2項に記載のエンコーダ。
  4. (4)前記第2の符号板上の位置情報が、該第2の符号
    板表面に一定のピッチで設けられた凹凸および/または
    該第2の符号板表面の原子配列を含む、特許請求の範囲
    第3項に記載のエンコーダ。
  5. (5)前記プローブは、前記第2の符号板との相対移動
    方向に前記ピッチの4分の1の奇数倍相互にずらして配
    設した2つのプローブである、特許請求の範囲第4項に
    記載のエンコーダ。
  6. (6)前記第2の符号板上の凹凸が前記第2の位置検出
    手段との相対移動方向に沿って位相を4分の1ピッチず
    らして2列設けられ、前記プローブが該2列の凹凸のそ
    れぞれに対応してかつ前記相対移動方向に対し直角方向
    の並びで2つ配置された、特許請求の範囲第4項に記載
    のエンコーダ。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5329513A (en) * 1990-10-04 1994-07-12 Canon Kabushiki Kaisha Angular relationship detection device and method
JPH0926427A (ja) * 1995-07-07 1997-01-28 Hewlett Packard Co <Hp> 位置決め装置、およびこれを用いたメディア移動型メモリ装置

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