JPH01142433A - シリンドリカルレンズの物性値測定装置および測定方法 - Google Patents

シリンドリカルレンズの物性値測定装置および測定方法

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JPH01142433A
JPH01142433A JP30068087A JP30068087A JPH01142433A JP H01142433 A JPH01142433 A JP H01142433A JP 30068087 A JP30068087 A JP 30068087A JP 30068087 A JP30068087 A JP 30068087A JP H01142433 A JPH01142433 A JP H01142433A
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JP
Japan
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lens
laser beam
mounting surface
cylindrical lens
optical axis
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Pending
Application number
JP30068087A
Other languages
English (en)
Inventor
Masazo Ishiyama
石山 雅三
Haruhiro Hyodo
兵藤 晴洋
Akiyoshi Hamada
濱田 明佳
Hiroaki Nakauchi
中内 宏彰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 2 本発明はレーザビームを用いてシリンドリカルレン
ズの物性値を測定する測定装置及び測定方法に関するも
のである。
[従来の技術および問題点] シリンドリカルレンズはレンズ面を形成した後レンズの
長手方向に平行に上端と下端を切り落し切り落した面を
レンズの88準面とする場合がある。
しかしこの基準面の形成は極めて困難であり設計値どお
りの基準面の形成は困難であった。このため、たとえシ
リンドリカルレンズの光軸高さ等の物性値が正確に形成
されていても基準面が設計値通りに形成されていなけれ
ばシリンドリカルレンズを適切に使用できないといった
問題があった。
本発明は上記困難を克服するもので、測定しようとする
シリンドリカルレンズに対する基準レンズを使用し、基
準レンズの物性値を基準としてシリンドリカルレンズの
物性値を求める物性値測定装置および測定方法を提供す
ることを目的とする。
〔発明の構成〕
(問題点を解決するための手段) 本発明のシリンドリカルレンズの物性値測定装置は、レ
ーザビーム照射装置と、標準位置で上記レーザビーム照
射装置から照射されるレーザビームと平行で、測定され
るシリンドリカルレンズの光軸高さとほぼ等しい距離上
記レーザビームより離れたレンズ載置面をもち、上記レ
ンズ載置面に載置された上記シリンドリカルレンズの曲
率半径とほぼ等しい距離でかつ上記レーザビームとほぼ
交差する位置に回転中心をもつレンズ台と、上記レンズ
載置面を上記レーザビームと平行を維持しつつ平行移動
させる昇降装置と、上記レンズ載置面を上記回転中心を
中心として揺動させる揺vJ装置と、上記レンズ載置面
に載置された上記シリンドリカルレンズによって反射さ
れたレーザビームを受ける受光部とからなることを特徴
とするものである。
また、本発明のシリンドリカルレンズの物性値測定方法
は、上記測定装置を用い、レンズa百面上に該レンズ載
置面と直角な鏡面をもつ基準ミラーを載置し、レーザビ
ーム照l)l装置よりレーザビームを照射し、かつ揺動
装置を操作して上記レンズ載置面をレーザビームと平行
とする標準位置設定工程、上記基準ミラーを取り除き測
定しようとするシリンドリカルレンズの設計光軸高さと
等しい光軸高さをもつ基準レンズを上記レンズ載置面に
載置し、上記昇降装置を操作して上記基準レンズの光軸
を上記レーザビームと交差させる光軸合せ工程、上記基
準レンズを取り除き測定しようとするシリンドリカルレ
ンズを上記レンズ載置面に載置し上記受光部で受光され
る上記シリンドリカルレンズによって反射されたレーザ
ビームの位置より上記シリンドリカルレンズの物性値を
測定することを特徴とするものである。
[実施例] 本発明の実施例として、凹状のシリンドリカルレンズを
測定する場合について説明する。
本実施例のシリンドリカルレンズの物性値測定装置の平
面図を第1図に、その立面図を第2図に示す。
この測定装置は、定盤1と、定盤1上に配置されたレー
ザビーム照射装置2、レンズ台3、スクリーン装置6を
主な構成装置としている。
レーザビーム照射Hiff 2は、He−Neレーザビ
ームを照射するレーザ部21と、レーザ部21を支持す
る支柱22と、支柱22の下端に固定され、支柱22を
保持する台部23とからなる。このレーザビーム照04
装置2は可視光のレーザビーム25を定盤1の上面と平
行に照射する。
レンズ台3は、第2図に示すように、定盤1上に固定さ
れた水平移動装置4とこの水平移動装置4に保持された
昇降装置5の上に保持されている。
水平移動装置4は、通常の市販のもので、上面にガイド
レール411.412をもつ下部41と、これらガイド
レール411.412に案内され下部41上を水平方向
に案内される上部42と、上部42の移動を制御する図
示しない操作部とからなっている=なお、上部42の移
動方向は、侵でのべるレンズ台3の回転中心線と平行で
ある。
昇降装置5は水平移動装置4の上部42に固定された下
部51とこの下部51に支持されたパンタグラフ方式の
昇降部52とこの昇降部52の上方に固定された上部5
3および昇降部52を拡大縮小する操作ノブ54とから
なる。この上部53の上面は定盤1の上面と平行であり
、上部53は定盤1の上面に対して垂直方向に動く。こ
の昇降装置5も市販のものである。
レンズ台3は昇降装置5の上部53の上面に固定された
基部31と基部31に保持され回転中心1i130を中
心に揺動する軸部32と軸部32に一端が固定された案
内部33とこの案内部33に摺動自在に保持されたレン
ズマウント34と揺vJti作部35とからなる。基部
31は基盤311とこの基盤311の−・端側で所定間
隔を隔てて対向する一対の支柱312とからなる。これ
らの支柱312の上端部には軸受孔312aが設けられ
ている。各軸受孔312aの中心を結ぶ線が回転中心線
30となる。軸部32は長尺板状の中央部321とその
両端の断面り字形状の上部に突出した互いに背向する軸
突起3プ2とからなる。これら−対の軸突起322が一
対の支柱312に設けられた軸受孔312aに挿入され
回転自在に保持されている。案内部33は軸部32の中
央部321の両端部で軸突起322より下方に離れた部
分から直角方向に伸びた2本の棒状体で構成されている
これら案内部33は第2図に示す基準状態では定盤1の
上面に対して平行にのびている。これら案内部33の他
端は互いに端部材331で固定されている。またこの端
部材331の中央部の下面にtよ半球状の接点部332
が設けられている。レンズマウント34は両端部に案内
孔をもつ梁状である。これら案内孔に各案内部33が挿
通しレンズマウント34を案内支持している。レンズマ
ウント34の上面がレンズ載置面341となっている。
レンズ載置面341は基準状態では定盤1の−F面と平
行であり、かつ前記回転中心線30を含むレンズ載置面
341に平行な面とレンズ載置面341との間の距離は
シリンドリカルレンズWの設計光軸高さと同じになって
いる。レンズ載置面341の先端部にはレンズの前面が
当接して位置決めされる当接壁342、レンズ載置面3
41の所定位置にシリンドリカルレンズWをレンズ載置
面341に固定するバネでできた2個のレンズ押え34
3が設けられている。揺動操作部35は前記基盤311
の他端部上に固定された垂直案内面351をもつ台部3
52とこの垂直案内面351に垂直方向に移動可能に案
内保持された移動部353とこの移動部353を移動さ
せる駆動取手354および移動部353の前面に固定さ
れた断面逆り字形状の係合部355とからなる。この係
合部355の上面に前記接点部332が当接している。
スクリーン装置1ff6は、上記定盤1と垂直な面で十
字目盛付のスクリーン61と、スクリーン61を支持す
る支柱62と、支柱62の下端に固定され、支柱62を
保持する台部63と、スクリーン61上の十字目盛を上
下左右に調整する目盛ねじ611.612からなってい
る。このスクリーン装置も市販のものである。
次に上記装置を用いて本実施例のシリンドリカルレンズ
の物性値測定方法を説明する。
この測定方法は、標準位置設定工程、光軸合せ工程およ
び測定工程からなるものである。
まずレンズ台3の回転中心I!1130から測定しよう
とするレンズ載置面341までの距離を測定しようとす
るシリンドリカルレンズWの設計曲率半径と等しくする
。すなわち、レンズ台3のレンズマウント34は、案内
部33上に移動可能に保持されているので、レンズマウ
ント34を案内部33にそって移動しレンズマウント3
4を所定位置に固定する。なお、基準ゲージを作製して
おき、基準ゲージの一端を軸部32に当接し他端をレン
ズマウント34に当接さしてレンズマウント34の位置
を定めるようにしてもよい。
次に、レーザビーム照射位置2のスイッチ(図示せず)
を入れ、レーザビーム25を定盤1の上面と平行に照射
するようにする。
具体的な操作は、例えば、レーザビーム照射口と第6図
に示すスクリーン61の十字目盛の交点0とを同じ高さ
にし、次にレーザビーム25がスクリーン61の十字目
盛の交点Oを照射するようにレーザビーム25の照射角
度を調節する。
次に、レンズ載置面341上にレンズ載置面341と直
角な鏡面をもつ基準ミラーを当接壁342に合わせ載置
する。上記レーザビーム25を基準ミラーに照射し、そ
の反射ビーム26をスクリーン61に受光し、反射ビー
ム26が基準位置Oを照射するように、揺動装置35の
駆動取手354を操作する。これによりレンズ載置面の
標準位置が定まる。なお、反射ビーム26がスクリーン
61の基準位置0に対して左右方向にずれる場合には、
水平移動装置4により基準位置0に合わせる。
次に上記基準ミラーを取り除き測定しようとするシリン
ドリカルレンズWの設計光軸高さと等しい光軸高さをも
つ基準レンズ8を第3図、第4図に示すように上記レン
ズ載置面341に当接壁342に合わせ載置する。上記
レーザビーム25を基準レンズ8に照射し、その反射ビ
ーム26をスクリーン61に受光する。スクリーン61
の基準位置Oとの上下のズレは荷降装置5の操作ノブ5
4により、左右のズレは水平径!ill装置4の図示し
ない操作部により操作し、基準位置Oに合わせる光軸合
わせ工程を行う。この操作は基準レンズ8の光軸を上記
レーザビーム25と交差さ才ることを目的とする。なお
基準レンズ8は、その先軸高さが測定しようとするシリ
ンドリカルレンズWの設計光軸高さと等しければよく、
球面レンズに限られない。例えば、凹球面、凸球面、凹
状シリンドリカルレンズ、凸状シリンドリカルレンズ等
が利用できる。しかし、入手の容易性、価格等から本実
施例では凹面の球面レンズを用いた。また、第5図に示
すように、光軸高さが異なるレンズ81でもはめ合わせ
精度および外径精度の十分高い金枠等85により光軸高
さを補正ずれば使用可能である。
最後に、測定工程を行う。上記基準レンズ8を取り除き
測定しようとするシリンドリカルレンズWをレンズ載置
面341に当接壁342に合わせ、レンズ押え343に
にり載置する。レーザビーム照!l)j装置2から照射
されるレーザビーム25は上記シリンドリカルレンズW
の設計光軸の位置に照射し、反射ビーム26はスクリー
ン61に受光される。
スクリーン61の基準位置Oから上下のズレすなわら第
6図の0点のy@力方向ズレOyは、上記シリンドリカ
ルレンズWの基準面が光軸と平行でないことすなわち光
軸と基準面との平行度不良および上記シリンドリカルレ
ンズWの光軸が設計値どおりでないことすなわち光軸高
さの設計値との誤差を示す。基準位置Oから左右のズレ
すなわち第6図の0点のX軸方向のズレOxは、上記シ
リンドリカルレンズWの光軸が長手方向に直角でないこ
とすなわち光軸が長手方向となす角度の90°との誤差
を示す。この受光位置を初期像ff1Pとする。
次に揺vJ装置35の駆動取手354を操作して測定し
ようとするシリンドリカルレンズWを設計曲率中心を中
心として微かに揺動させる揺動操作を行う。スクリーン
61上の受光位置は揺動角度により移動する。
スクリーン61上の初期位1fJPから上下の移動量す
なわち第6図のP点のy軸方向のズレPyは、曲率半径
の設計値との誤差を示す。揺動角度によってもズレPy
がなければ設計曲率半径と誤差がないことを示す。揺動
操作によりスクリーン61の受光位置を初期位置Pにも
どした後で、水平移動装置4の図示しない操作部を操作
して上記シリンドリカルレンズWの長手方向に沿って初
期位置をPからQへ移動させる移動操作を行い、同様に
上記1z動操作を行う。各初期位ffP、Q等での揺動
角度ごとのズレpy1Q’j等を測定する。
揺動操作、移動操作を複数回行うことにより測定精度を
向上させる。
なお、第7図に示すように、レンズマウント34上に昇
降装置4と同様で小型の昇降装置3412を固定し、そ
の上にレンズ載置台3411を固定すれば、光軸高さの
違うレンズの種類に応じた測定が可能である。
また、第8図に示すように、レンズ台3の回転中心線3
0とレンズマウント34を逆の構成にすれば、凸状シリ
ンドリカルレンズについても測定が可能である。この場
合には、接点部332は軸部32に設ける。
[発明の効果] 本発明の測定装置及び測定方法によれば、製作されたシ
リンドリカルレンズの光軸と基準面との平行度、光軸高
さすなわち光軸の基準面からの高さおよび曲率半径等の
物性値を精度よく、迅速に再現性よく、容易に測定でき
る。
【図面の簡単な説明】
第1図はシリンドリカルレンズの物性値測定装置の平面
図、第2図はその立面図、第3図は基準レンズがレンズ
載置面に載置されているレンズマウントの一部拡大平面
図、第4図はその立面図、第5図は補正した基準レンズ
の断面図、第6図はスクリーン上の受光位置を示す正面
図、第7図は昇降装置を固定したレンズマウントの一部
拡大立面図、第8図は凸状シリンドリカルレンズの物性
値測定装置の一部立面図を示す。 1・・・定盤    2・・・レーザビーム照射装置2
5・・・レーザビーム  26・・・反射ビーム3・・
・レンズ台     34・・・レンズマウント341
・・・レンズ載置面 342・・・当接壁343・・・
レンズ押え  35・・・揺動装置4・・・水平移動装
置   5・・・昇降装置6・・・スクリーン装@  
61・・・スクリーン8・・・基準レンズ  W・・・
シリンドリカルレンズ特許出願人  ミノルタカメラ株
式会社代理人   弁理士  大川 宏 按 第8図 第7図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)レーザビーム照射装置と、 標準位置で上記レーザビーム照射装置から照射されるレ
    ーザビームと平行で、測定されるシリンドリカルレンズ
    の光軸高さとほぼ等しい距離上記レーザビームより離れ
    たレンズ載置面をもち、上記レンズ載置面に載置された
    上記シリンドリカルレンズの曲率半径とほぼ等しい距離
    でかつ上記レーザビームとほぼ交差する位置に回転中心
    をもつレンズ台と、 上記レンズ載置面を上記レーザビームと平行を維持しつ
    つ平行移動させる昇降装置と、 上記レンズ載置面を上記回転中心を中心として揺動させ
    る揺動装置と、 上記レンズ載置面に載置された上記シリンドリカルレン
    ズによって反射されたレーザビームを受ける受光部とか
    らなることを特徴とするシリンドリカルレンズの物性値
    測定装置。
  2. (2)レンズ台は回転中心とレンズ載置面との間の距離
    を調節する距離調節部をもつ特許請求の範囲第1項記載
    のシリンドリカルレンズの物性値測定装置。
  3. (3)レンズ台は基部と該基部に軸支され回転中心を中
    心として回転する軸部と該軸部に保持され標準位置でレ
    ーザビームと平行な案内部と該案内部にそって相対移動
    可能に保持されレンズ載置面をもつレンズマウントから
    なる特許請求の範囲第2項記載のシリンドリカルレンズ
    の物性値測定装置。
  4. (4)レーザビーム照射装置と、標準位置で上記レーザ
    ビーム照射装置から照射されるレーザビームと平行で、
    測定されるシリンドリカルレンズの光軸高さとほぼ等し
    い距離上記レーザビームより離れたレンズ載置面をもち
    、上記レンズ載置面に載置された上記シリンドリカルレ
    ンズの曲率半径とほぼ等しい距離でかつ上記レーザビー
    ムとほぼ交差する位置に回転中心をもつレンズ台と、上
    記レンズ載置面を上記レーザビームと平行を維持しつつ
    平行移動させる昇降装置と、上記レンズ載置面を上記回
    転中心を中心として揺動させる揺動装置と、上記レンズ
    載置面に載置された上記シリンドリカルレンズによって
    反射されたレーザビームを受ける受光部とからなる測定
    装置を用い、上記レンズ載置面上に該レンズ載置面と直
    角な鏡面をもつ基準ミラーを載置し、上記レーザビーム
    照射装置よりレーザビームを照射し、かつ上記揺動装置
    を操作して上記レンズ載置面をレーザビームに平行とす
    る標準位置設定工程、 上記基準ミラーを取り除き測定しようとするシリンドリ
    カルレンズの設計光軸高さと等しい光軸高さをもつ基準
    レンズを上記レンズ載置面に載置し、上記昇降装置を操
    作して上記基準レンズの光軸を上記レーザビームと交差
    させる光軸合せ工程、上記基準レンズを取り除き測定し
    ようとするシリンドリカルレンズを上記レンズ載置面に
    載置し上記受光部で受光される上記シリンドリカルレン
    ズによって反射されたレーザビームの位置より上記シリ
    ンドリカルレンズの物性値を測定するシリンドリカルレ
    ンズの物性値測定方法。
JP30068087A 1987-11-28 1987-11-28 シリンドリカルレンズの物性値測定装置および測定方法 Pending JPH01142433A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006242680A (ja) * 2005-03-02 2006-09-14 Olympus Corp 偏心測定装置及び偏心測定方法

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