JPH01139054A - 超音波処置装置 - Google Patents
超音波処置装置Info
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- JPH01139054A JPH01139054A JP62299239A JP29923987A JPH01139054A JP H01139054 A JPH01139054 A JP H01139054A JP 62299239 A JP62299239 A JP 62299239A JP 29923987 A JP29923987 A JP 29923987A JP H01139054 A JPH01139054 A JP H01139054A
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Landscapes
- Surgical Instruments (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は超音波振動を用いて生体組織(腫瘍、骨)や
結石等の処置対象物を破壊除却する超音波処置装置に関
する。
結石等の処置対象物を破壊除却する超音波処置装置に関
する。
このような装置の従来例として、特開昭54−1405
26号公報(西ドイツ特許公報第2916540号公報
)に記載の電歪振動子駆動回路がある。これは、振動子
への駆動電流と振動子の振幅との間に一定の関係がある
ことを利用して、振動子への駆動電流を制限し一定電流
にすることによって、処置の作用部分の振動(振幅)を
制限し、発熱や破壊を防止している。
26号公報(西ドイツ特許公報第2916540号公報
)に記載の電歪振動子駆動回路がある。これは、振動子
への駆動電流と振動子の振幅との間に一定の関係がある
ことを利用して、振動子への駆動電流を制限し一定電流
にすることによって、処置の作用部分の振動(振幅)を
制限し、発熱や破壊を防止している。
また、米国特許第4.579.000号や、本願出願人
による特願昭81−51868号のように、超音波振動
の振幅を電磁的に検出し、異常振幅の場合に、振動子駆
動電源の出力を低下させるものもある。米国特許第4,
579.000号は振動子に鉄等の磁性体からなる突起
を取付け、この突起の周囲にコイルを設けている。そし
て、振動子の振動に伴う突起の振動をコイルの電流変化
により測定する。特願昭61−51868号は振動部に
永久磁石を取付けたもので、磁石の振動をコイルで検出
し、振動を測定している。
による特願昭81−51868号のように、超音波振動
の振幅を電磁的に検出し、異常振幅の場合に、振動子駆
動電源の出力を低下させるものもある。米国特許第4,
579.000号は振動子に鉄等の磁性体からなる突起
を取付け、この突起の周囲にコイルを設けている。そし
て、振動子の振動に伴う突起の振動をコイルの電流変化
により測定する。特願昭61−51868号は振動部に
永久磁石を取付けたもので、磁石の振動をコイルで検出
し、振動を測定している。
ここで、振動子および組織等に作用する処置部を決めて
やれば、駆動電流と振幅の関係が一定なので、駆動電流
を制御し振幅を制御することは、可能である。しかしな
がら、製造上のバラツキ等で振動子の特性が異なると、
同じ電流値でも同じ振幅が得られるとは限らない。一般
に、振動子を構成する圧電素子の特性のバラツキは大き
い。従って、振動子毎に、電流値を設定し直さなければ
所望の振動が得られない。この設定をし忘れると、振動
子等を破壊することがある。
やれば、駆動電流と振幅の関係が一定なので、駆動電流
を制御し振幅を制御することは、可能である。しかしな
がら、製造上のバラツキ等で振動子の特性が異なると、
同じ電流値でも同じ振幅が得られるとは限らない。一般
に、振動子を構成する圧電素子の特性のバラツキは大き
い。従って、振動子毎に、電流値を設定し直さなければ
所望の振動が得られない。この設定をし忘れると、振動
子等を破壊することがある。
また、電磁的に振幅を検出する方法は振動子や処置具に
余分な部材を直接取付けることとなり、振動形態として
は好ましくない。これは、この余分な部材により、重さ
や形状が変わるため、共振周波数やインピーダンス特性
等が変わってしまうからである。
余分な部材を直接取付けることとなり、振動形態として
は好ましくない。これは、この余分な部材により、重さ
や形状が変わるため、共振周波数やインピーダンス特性
等が変わってしまうからである。
このように従来の超音波処置装置は、振動子の駆動電流
を制御するために振動子の振動を検出する際に、振動形
態に影響を与えないで検出することが不可能であった。
を制御するために振動子の振動を検出する際に、振動形
態に影響を与えないで検出することが不可能であった。
この発明は上述した事情に対処すべくなされたもので、
その目的は振動形態に影響を与えないで振動子の振動を
検出することができ、検出した振動に応じて振動子の駆
動電流を安定して制御できる超音波処置装置を提供する
ことである。
その目的は振動形態に影響を与えないで振動子の振動を
検出することができ、検出した振動に応じて振動子の駆
動電流を安定して制御できる超音波処置装置を提供する
ことである。
この発明による超音波処置装置は、処置具を介して対象
物に伝達される超音波振動、を発生する超音波振動子の
後端に発光部と受光部を有する光学的センサを設け、光
学的センサにより振動子の後端の振動を検出する。
物に伝達される超音波振動、を発生する超音波振動子の
後端に発光部と受光部を有する光学的センサを設け、光
学的センサにより振動子の後端の振動を検出する。
この発明による超音波処置装置によれば、振動子の振動
を光学的に非接触で検出することにより、振動形態に影
響を与えないで振動子の振動を検出することができ、振
動子の駆動電流を安定して制御することができる。
を光学的に非接触で検出することにより、振動形態に影
響を与えないで振動子の振動を検出することができ、振
動子の駆動電流を安定して制御することができる。
以下図面を参照してこの発明による超音波処置装置の一
実施例を説明する。ここで、実施例としては生体組織の
治療装置を説明する。
実施例を説明する。ここで、実施例としては生体組織の
治療装置を説明する。
第1図に第1実施例全体の構成を示す。超音波振動子と
しては第1〜第6圧電素子1〜6からなるランジュバン
型振動子が使用される。第1〜第6圧電素子l〜6がホ
ーン7、裏打板8で挟まれ、ボルト9、ナツトIOで締
付けられている。この締付は力は数100Kgに達する
。ホーン7は振動を増幅するもの、裏打板8は振動子の
共振周波数を調整するものである。
しては第1〜第6圧電素子1〜6からなるランジュバン
型振動子が使用される。第1〜第6圧電素子l〜6がホ
ーン7、裏打板8で挟まれ、ボルト9、ナツトIOで締
付けられている。この締付は力は数100Kgに達する
。ホーン7は振動を増幅するもの、裏打板8は振動子の
共振周波数を調整するものである。
ホーン7の手元にはフランジllが設けられ、フランジ
11は振動子のケース12にナツト13で固定される。
11は振動子のケース12にナツト13で固定される。
ホーン7の先端にはネジ14が設けられており、超音波
振動を治療対象物に伝達する棒状の処置具15がネジに
より結合されている。
振動を治療対象物に伝達する棒状の処置具15がネジに
より結合されている。
ケース12の後端にはブッシング1Bが設けられ、ファ
イバ17(ガラス、またはプラスチック)の先端が所定
の距離を隔てて裏打板8に対向するようにブッシング1
6に固定されている。ファイバ17の後端は後述する駆
動回路に接続され、光源からの光がファイバ17を介し
て裏打板8の後端面に照射されるようになっている。こ
の反射光の振幅を検出することにより振動子の振動が測
定できる。
イバ17(ガラス、またはプラスチック)の先端が所定
の距離を隔てて裏打板8に対向するようにブッシング1
6に固定されている。ファイバ17の後端は後述する駆
動回路に接続され、光源からの光がファイバ17を介し
て裏打板8の後端面に照射されるようになっている。こ
の反射光の振幅を検出することにより振動子の振動が測
定できる。
ここで、ファイバ17の固定方法を説明する。通常、フ
ァイバ17は第2図に部分断面図を示すように、ブッシ
ング1Gによりその先端が裏打板8と一定の距離Xを保
つように固定されている。
ァイバ17は第2図に部分断面図を示すように、ブッシ
ング1Gによりその先端が裏打板8と一定の距離Xを保
つように固定されている。
また、第3図、第4図(第3図のA−″へ′線に沿った
断面図)に示すように、ブッシング16にスライド台6
0を設け、ネジ61を回すことにより、その軸上に設け
られたラック・ビニ゛オン機構を介してファイバ17と
裏打板8との距離Xを調整できる構造にしてもよい。距
離Xはブッシング16とスライド台60に設けたスケー
ル63にて測定することができる。
断面図)に示すように、ブッシング16にスライド台6
0を設け、ネジ61を回すことにより、その軸上に設け
られたラック・ビニ゛オン機構を介してファイバ17と
裏打板8との距離Xを調整できる構造にしてもよい。距
離Xはブッシング16とスライド台60に設けたスケー
ル63にて測定することができる。
振動を正確に測定するためには、ファイバ17と裏打板
8との距離Xには微妙なズレも許されないが−1このよ
うにすると、距離XがΔXだけ微妙にずれた場合でも、
これを補正し、常に一定の距離Xの状態で振幅を測定す
ることができる。
8との距離Xには微妙なズレも許されないが−1このよ
うにすると、距離XがΔXだけ微妙にずれた場合でも、
これを補正し、常に一定の距離Xの状態で振幅を測定す
ることができる。
また、振動子で発生した超音波振動がケース12を介し
てファイバ17に伝わり、振動の測定に支障を来たす場
合がしばしばある。そのため、ブッシング16は振動を
吸収する弾性体で形成されていることが好ましい。ブッ
シング16とスライド台60との進退方法はラック・ピ
ニオン機構以外のカム方式でもよい。
てファイバ17に伝わり、振動の測定に支障を来たす場
合がしばしばある。そのため、ブッシング16は振動を
吸収する弾性体で形成されていることが好ましい。ブッ
シング16とスライド台60との進退方法はラック・ピ
ニオン機構以外のカム方式でもよい。
第1図に戻り、処置具I5は振動子の振動を治療対象物
に伝達するとともに、切除した組織等を体外に排出する
役割を有し、その内部は中空になっており、ホーン7、
ボルト8には貫通孔が設けられ、切除した組織等を吸引
できるようになっている。
に伝達するとともに、切除した組織等を体外に排出する
役割を有し、その内部は中空になっており、ホーン7、
ボルト8には貫通孔が設けられ、切除した組織等を吸引
できるようになっている。
ボルト9の後端はパイプ状部20に接続され、パイプ状
部20はゴム等のOリング19を介してケース12に接
続されている。パイプ状部20には吸引チューブ21が
接続され、吸引チューブ21は図示していない吸引ポン
プに接続され、切除した組織等が貫通孔、パイプ状部2
0、吸引チューブ21を介して吸引される。
部20はゴム等のOリング19を介してケース12に接
続されている。パイプ状部20には吸引チューブ21が
接続され、吸引チューブ21は図示していない吸引ポン
プに接続され、切除した組織等が貫通孔、パイプ状部2
0、吸引チューブ21を介して吸引される。
圧電素子1〜6には電極22〜27が設けられ、これら
の電極22〜27は同軸ケーブル28を介して後述する
駆動回路に接続されている。ここで、電極22.24.
26が同軸ケーブル28の内側導体に、電極23.25
.27が同軸ケーブル28の外側導体に接続される。
の電極22〜27は同軸ケーブル28を介して後述する
駆動回路に接続されている。ここで、電極22.24.
26が同軸ケーブル28の内側導体に、電極23.25
.27が同軸ケーブル28の外側導体に接続される。
駆動回路において、ファイバ17の後端はハーフプリズ
ム29の一端に接続され、ハーフプリズム29の両側面
には第1、第2受光素子30.31がそれぞれ設けられ
ている。ハーフプリズム29の他端側には、レンズ32
、発光ダイオード(LED)33が設けられ、LED3
3には電源34が接続されている。
ム29の一端に接続され、ハーフプリズム29の両側面
には第1、第2受光素子30.31がそれぞれ設けられ
ている。ハーフプリズム29の他端側には、レンズ32
、発光ダイオード(LED)33が設けられ、LED3
3には電源34が接続されている。
LED33から発光された光はハーフプリズム29で透
過光と反射光とに分光され、透過光はファイバ17の後
端に入射され、反射光は受光素子30に入射される。フ
ァイバ17からハーフプリズム17に入射された光はそ
こで反射されて受光素子31に入射される。
過光と反射光とに分光され、透過光はファイバ17の後
端に入射され、反射光は受光素子30に入射される。フ
ァイバ17からハーフプリズム17に入射された光はそ
こで反射されて受光素子31に入射される。
受光素子30.31の出力は増幅器(電流/電圧変換器
)35.36に接続され、増幅器35の出力は直接に割
算器3Bに供給され、増幅器36の出力はバイパスフィ
ルタ(HPF)37を介して割算器38に供給される。
)35.36に接続され、増幅器35の出力は直接に割
算器3Bに供給され、増幅器36の出力はバイパスフィ
ルタ(HPF)37を介して割算器38に供給される。
割算器38の出力は整流平滑回路39に供給され、整流
平滑回路39の出力は差動増幅器40の第1入力端子に
供給される。差動増幅器40の第2入力端子には基準電
源41が接続される。基準電源41は可変電源である。
平滑回路39の出力は差動増幅器40の第1入力端子に
供給される。差動増幅器40の第2入力端子には基準電
源41が接続される。基準電源41は可変電源である。
後述するが、この基準電圧が振動子の駆動電流の基準値
に対応する。
に対応する。
差動増幅器40の出力は掛算器50の第1入力端子に供
給され、掛算器50の第2入力端子には一定周波数の発
振器51の出力が供給される。掛算器50の出力は電力
増幅器42に供給される。電力増幅器42の出力はトラ
ンス43を介して同軸ケーブル28の後端に供給される
。すなわち、電力増幅器42の出力がトランス43、同
軸ケーブル28を介して圧電素子1〜6の電極22〜2
7に供給され、振動子の駆動電流となる。
給され、掛算器50の第2入力端子には一定周波数の発
振器51の出力が供給される。掛算器50の出力は電力
増幅器42に供給される。電力増幅器42の出力はトラ
ンス43を介して同軸ケーブル28の後端に供給される
。すなわち、電力増幅器42の出力がトランス43、同
軸ケーブル28を介して圧電素子1〜6の電極22〜2
7に供給され、振動子の駆動電流となる。
次に、第6図(a)〜(h)を参照して、第1実施例の
動作を説明する。このような治療装置では基本的には、
振動子t−aの振幅がランジュバン型振動子の原理でホ
ーン7により拡大され、処置具15の先端が大きな振幅
で振動され、対象物が破壊される。このため、振動子の
振動は負荷としての治療対象物の状態に応じて適切に制
御されなければならない。
動作を説明する。このような治療装置では基本的には、
振動子t−aの振幅がランジュバン型振動子の原理でホ
ーン7により拡大され、処置具15の先端が大きな振幅
で振動され、対象物が破壊される。このため、振動子の
振動は負荷としての治療対象物の状態に応じて適切に制
御されなければならない。
処置具15の先端の振幅と裏打板8の振幅は、第5図に
示すように、先端負荷を一定とし、電力をパラメータと
すると、一定の関係にあるので、裏打板Bの振幅を測定
すれば、処置具15の振幅を測定できる。この実施例で
は、裏打板8の振動の測定はケース12に固定されたフ
ァイバI7により振動面へ照射された光の反射光を測定
することにより行なう。
示すように、先端負荷を一定とし、電力をパラメータと
すると、一定の関係にあるので、裏打板Bの振幅を測定
すれば、処置具15の振幅を測定できる。この実施例で
は、裏打板8の振動の測定はケース12に固定されたフ
ァイバI7により振動面へ照射された光の反射光を測定
することにより行なう。
電源34により駆動されたLED33から照射された光
はレンズ32で集光され、ハーフプリズム29に入射さ
れ、反射光は受光素子30へ、透過光はファイバ17へ
入射され裏打板8の後端で反射され戻ってくる。戻って
きた光はハーフプリズム29で反射され受光素子31へ
入射される。このように、受光素子30は裏打板8への
照射光の一部、受光素子31(よ裏打板8からの反射光
の一部を受光する。受光素子30、受光素子31の出力
は増幅器35.3Bで増幅され、増幅器3Bの出力は直
流成分を除去するHPF37を通過し、増幅器35の出
力とともに、割算器38に入力される。
はレンズ32で集光され、ハーフプリズム29に入射さ
れ、反射光は受光素子30へ、透過光はファイバ17へ
入射され裏打板8の後端で反射され戻ってくる。戻って
きた光はハーフプリズム29で反射され受光素子31へ
入射される。このように、受光素子30は裏打板8への
照射光の一部、受光素子31(よ裏打板8からの反射光
の一部を受光する。受光素子30、受光素子31の出力
は増幅器35.3Bで増幅され、増幅器3Bの出力は直
流成分を除去するHPF37を通過し、増幅器35の出
力とともに、割算器38に入力される。
ここで、裏打板8の振動が第6図(a)に示すような波
形であるとすると、受光素子31の出力信号は第6図(
b)に示すように振動に応じて変調される。受光素子3
0は照射光のレベルを検出する。
形であるとすると、受光素子31の出力信号は第6図(
b)に示すように振動に応じて変調される。受光素子3
0は照射光のレベルを検出する。
受光素子30の出力を増幅する増幅器35の出力を第6
図(c)に示す。受光素子31の出力が増幅器36を介
して供給されるH P F 37の出力を第6図(d)
に示す。
図(c)に示す。受光素子31の出力が増幅器36を介
して供給されるH P F 37の出力を第6図(d)
に示す。
割算器28の出力Zは増幅器35の出力をX1HP F
37の出力をYとすると、Z−Kl ・ (Y/X
)と表わされる。K1は定数である。この割算により、
LEDの光量変化による反射光のレベル変動が補償でき
る。割算器38の出力を第6図(e)に示す。
37の出力をYとすると、Z−Kl ・ (Y/X
)と表わされる。K1は定数である。この割算により、
LEDの光量変化による反射光のレベル変動が補償でき
る。割算器38の出力を第6図(e)に示す。
割算器38の出力Zは平滑整流回路39で平滑整流され
、裏打板8の振幅に比例した直流信号が得られる。平滑
整流回路39の出力を第6図(f)に示す。直流信号は
差動増幅器40に入力される。差動増幅器40には基準
電源41も接続されていて、差動増幅器40は直流信号
を基準電圧と比較し、差に比例した電圧を出力する。
、裏打板8の振幅に比例した直流信号が得られる。平滑
整流回路39の出力を第6図(f)に示す。直流信号は
差動増幅器40に入力される。差動増幅器40には基準
電源41も接続されていて、差動増幅器40は直流信号
を基準電圧と比較し、差に比例した電圧を出力する。
差動増幅器40の出力は掛算器50に入力され、発振器
51の出力(第6図(g))と掛算される。このため、
発振器51の出力は差動増幅器40の出力に応じて振幅
が増幅される。掛算器50の出力を第6図(h)に示す
。掛算器50の出力が電力増幅器42、トランス43、
同軸ケーブル28を介して駆動信号として振動子電極2
2〜27に供給される。
51の出力(第6図(g))と掛算される。このため、
発振器51の出力は差動増幅器40の出力に応じて振幅
が増幅される。掛算器50の出力を第6図(h)に示す
。掛算器50の出力が電力増幅器42、トランス43、
同軸ケーブル28を介して駆動信号として振動子電極2
2〜27に供給される。
この結果、裏打板8の振幅が増大すると、基準電圧41
より整流平滑回路39の出力の方が大きくなり、差動増
幅器40の出力は低下し、駆動信号の振幅は低下する。
より整流平滑回路39の出力の方が大きくなり、差動増
幅器40の出力は低下し、駆動信号の振幅は低下する。
逆の場合は駆動信号の振幅は増大する。このように、掛
算器50は整流平滑回路39の出力と基準電圧41が一
致するように駆動信号の振幅を制御する。
算器50は整流平滑回路39の出力と基準電圧41が一
致するように駆動信号の振幅を制御する。
以上説明したように、第1実施例によれば、振動子の後
端にレーザ光を照射し、その反射光を受光することによ
り、振動子、すなわち処置具の先端の振動を光学的に非
接触で測定し、この測定値に応じて駆動信号を制御する
ことにより、安定した所望の超音波振動を得ることがで
きる。また、振動の測定は非接触で行われるので、振動
子や処置具に余分な部材を取付ける必要がなく、振動形
態に影響を与えることなく振動を測定することができる
。
端にレーザ光を照射し、その反射光を受光することによ
り、振動子、すなわち処置具の先端の振動を光学的に非
接触で測定し、この測定値に応じて駆動信号を制御する
ことにより、安定した所望の超音波振動を得ることがで
きる。また、振動の測定は非接触で行われるので、振動
子や処置具に余分な部材を取付ける必要がなく、振動形
態に影響を与えることなく振動を測定することができる
。
次に、この発明の他の実施例を説明する。以下の実施例
で第1実施例と対応する部分には同一の参照数字を付し
て、詳細な説明は省略する。
で第1実施例と対応する部分には同一の参照数字を付し
て、詳細な説明は省略する。
第7図は第2実施例の構成を示す図である。
He−Neレーザ50からのレーザ光がハーフミラ−5
1,55を透過してファイバ17に入射される。
1,55を透過してファイバ17に入射される。
He−Neレーザ50から照射されハーフミラ−51で
反射されたレーザ光はミラー52、超音波シフタ53、
ミラー54を介してハーフミラ−55に入射され、ハー
フミラ−55を透過してレンズ56に入射される。
反射されたレーザ光はミラー52、超音波シフタ53、
ミラー54を介してハーフミラ−55に入射され、ハー
フミラ−55を透過してレンズ56に入射される。
裏打板8で反射されファイバ17を介して戻ってきたレ
ーザ光もハーフミラ−55で反射され、レンズ5Bに入
射される。
ーザ光もハーフミラ−55で反射され、レンズ5Bに入
射される。
レンズ5Bに入射されたレーザ光はフォトダイオード5
7で光電変換され、その出力電気信号が増幅器58を介
して周波数分析器59に入力される。周波数分析器59
の出力は差動増幅器4oに入力され、それ以降の接婢は
第1実施例と同じである。
7で光電変換され、その出力電気信号が増幅器58を介
して周波数分析器59に入力される。周波数分析器59
の出力は差動増幅器4oに入力され、それ以降の接婢は
第1実施例と同じである。
第2実施例の動作を説明する。レーザ5oがら照射され
たレーザ光は周波数foで変調されているとする。この
レーザ光はハーフミラ−51で反射光と透過光に分光さ
れる。透過光は周波数foのままハーフミラ−55を透
過してファイバ17に入射され、裏打板8に照射される
。反射光は超音波シフタ53で周波数fo+flの変調
光に変換される。
たレーザ光は周波数foで変調されているとする。この
レーザ光はハーフミラ−51で反射光と透過光に分光さ
れる。透過光は周波数foのままハーフミラ−55を透
過してファイバ17に入射され、裏打板8に照射される
。反射光は超音波シフタ53で周波数fo+flの変調
光に変換される。
周波数f。のレーザ光が裏打板8へ照射されると、裏打
板8の振動に応じて変調された周波数fo+Δfのレー
ザ光が反射され、ファイバ17を介してハーフミラ−5
5に入射される。
板8の振動に応じて変調された周波数fo+Δfのレー
ザ光が反射され、ファイバ17を介してハーフミラ−5
5に入射される。
超音波シフタ53から出力される周波数fo+f1のレ
ーザ光(参照光)と、ファイバ17がら出力される周波
数f。+Δfのレーザ光(信号光)がレンズ5Bを介し
てフォトダイオード57の受光面で合成され、ヘテロダ
イン検波される。フォトダイオード57の出力信号が増
幅器58で増幅されて周波数分析器59に入力される。
ーザ光(参照光)と、ファイバ17がら出力される周波
数f。+Δfのレーザ光(信号光)がレンズ5Bを介し
てフォトダイオード57の受光面で合成され、ヘテロダ
イン検波される。フォトダイオード57の出力信号が増
幅器58で増幅されて周波数分析器59に入力される。
周波数分析器59は裏打板8の振動により発生される周
波数変化Δfを算出し、Δfから振動速度V−λ・Δf
/2を求め、振動速度Vに比例した直流電圧を出力する
。
波数変化Δfを算出し、Δfから振動速度V−λ・Δf
/2を求め、振動速度Vに比例した直流電圧を出力する
。
この際、振動速度Vとしては最大値を用いる。周波数分
析器59の出力は第1実施例の整流平滑回路39の出力
と同様に作用する。
析器59の出力は第1実施例の整流平滑回路39の出力
と同様に作用する。
第2実施例によれば、裏打板8の反射率等が変化した場
合でも、正確に振動を解析することができる。なお、H
e−Neレーザ50の代わりに半導体レーザを用いても
よい。なお、He−Neレーザ50からフォトダイオー
ド57までの素子は小型化して裏打板8の近傍に設けて
もよい。
合でも、正確に振動を解析することができる。なお、H
e−Neレーザ50の代わりに半導体レーザを用いても
よい。なお、He−Neレーザ50からフォトダイオー
ド57までの素子は小型化して裏打板8の近傍に設けて
もよい。
第8図は第3実施例の構成を示す図である。これは、第
1実施例の変形に関するものであり、ハーフプリズム2
9の片側の側面のみに受光素子31が設けられ、第1実
施例において照射光の一部を受光する受光素子30は設
けられていない。受光素子31の出力が増幅器36を介
してHP F 80、L P F 82に供給される。
1実施例の変形に関するものであり、ハーフプリズム2
9の片側の側面のみに受光素子31が設けられ、第1実
施例において照射光の一部を受光する受光素子30は設
けられていない。受光素子31の出力が増幅器36を介
してHP F 80、L P F 82に供給される。
HP F 80、L P F 82の出力が割算器38
を介して整流平滑回路39に供給され、これ以降の接続
は第1実施例と同じである。
を介して整流平滑回路39に供給され、これ以降の接続
は第1実施例と同じである。
次に、第9図(a)〜(f)を参照して、第3実施例の
動作を説明する。裏打板8からの反射光の一部が受光素
子31で受光され、その出力が増幅器3Gで増幅される
。そのため、増幅器3Bの出力信号は、第9図(a)に
示すように、裏打板8が振動している時に反射してくる
振動成分と、裏打板8が振動していない時に反射してく
る直流成分を含んでいる。HP F 80により増幅器
3Bの出力から直流成分が除去され、第9図(b)に示
すような振動成分のみの信号が得られる。同様に、LP
F82により増幅器3Bの出力から振動成分が除去され
、第9図(c)に示すような直流成分のみの信号が得ら
れる。
動作を説明する。裏打板8からの反射光の一部が受光素
子31で受光され、その出力が増幅器3Gで増幅される
。そのため、増幅器3Bの出力信号は、第9図(a)に
示すように、裏打板8が振動している時に反射してくる
振動成分と、裏打板8が振動していない時に反射してく
る直流成分を含んでいる。HP F 80により増幅器
3Bの出力から直流成分が除去され、第9図(b)に示
すような振動成分のみの信号が得られる。同様に、LP
F82により増幅器3Bの出力から振動成分が除去され
、第9図(c)に示すような直流成分のみの信号が得ら
れる。
HP F 80、L P F 82の出力が割算器38
で合成され、第9図(d)に示すような信号が得られる
。
で合成され、第9図(d)に示すような信号が得られる
。
この信号が平滑整流回路39で平滑整流され、第9図(
e)に示すように裏打板8の振幅に比例した直流信号が
得られる。この結果、掛算器50からは、第1実施例と
同様に、裏打板8の振幅に応じた駆動信号が出力される
。
e)に示すように裏打板8の振幅に比例した直流信号が
得られる。この結果、掛算器50からは、第1実施例と
同様に、裏打板8の振幅に応じた駆動信号が出力される
。
以上の説明では、振動を検出する光学的センサはケース
12の外部に設けたが、第10図(a)に示すように、
裏打板8の後端面に近接してケース12の内側に光学的
センサ90を取付けてもよい。光学的センサ90は第1
0図(b)に示すように、発光ダイオード92とフォト
トランジスタ94からなるフォトカブラである。このよ
うにしても、裏打板8の振動を光学的に非接触で測定で
きる。
12の外部に設けたが、第10図(a)に示すように、
裏打板8の後端面に近接してケース12の内側に光学的
センサ90を取付けてもよい。光学的センサ90は第1
0図(b)に示すように、発光ダイオード92とフォト
トランジスタ94からなるフォトカブラである。このよ
うにしても、裏打板8の振動を光学的に非接触で測定で
きる。
以上説明したようにこの発明によれば、振動子の振動を
光学的センサにより非接触で検出することにより、振動
形態に影響を与えないで振動子の振動を検出することが
でき、振動子の駆動電流を安定して制御する超音波処置
装置が提供される。
光学的センサにより非接触で検出することにより、振動
形態に影響を与えないで振動子の振動を検出することが
でき、振動子の駆動電流を安定して制御する超音波処置
装置が提供される。
第1図はこの発明による超音波処置装置の第1実施例の
構成を示す図、第2図は第1実施例におけるファイバの
固定力、法の一例を示す図、第3図は第1実施例におけ
るファイバの固定方法の他の例を示す図、第4図は第3
図のA−A−線に沿った断面図、第5図は第1実施例に
おける裏打板の振幅と処置具先端の振幅との関係を示す
図、第6図(a)〜(h)は第1実施例の動作を示す信
号波形図、第7図は第2実施例の構成を示す図、第8図
は第3実施例の構成を示す図、第9図(a)〜(f)は
第3実施例の動作を示す信号波形図、第1O図(a)、
(b)は光学的センサの変形例を示す図である。 t−e・・・圧電素子、7・・・ホーン、8・・・裏打
板、12・・・ケース、15・・・処置具、17・・・
ファイバ、22〜27・・・電極、28・・・同軸ケー
ブル、29・・・ハーフプリズム、3o、 at・・・
受光素子、33・・・発光ダイオード、35.38・・
・増幅器、37・・・バイパスフィルタ、38・・・割
算器、39・・・整流平滑回路39.40・・・差動増
幅器、41・・・基準電源、42・・・電力増幅器、4
3・・・トランス、50・・・掛算器、51・・・発振
器。 出願人代理人 弁理士 坪井 淳 第9図 (a) (b) 第10図 手続補正書 1、事件の表示 特願昭62−299239号 2、発明の名称 超音波処置装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 (037)オリンパス光学工業株式会社4、代理人 東京都千代m区霞が関3丁目7番2号 UBEビル7、
補正の内容 (1)特許請求の範囲を別紙のとおり補正する。 (2)図面第1図、第7図、第8図を別紙のとおり補正
する。 (3)明細書第9頁、第4行目、第5行目、第6行目に
記載の「掛算器50」を「掛算器4′4」と訂正する。 (4)明細書第9頁、第6行目に記載の「発振器51J
を「発振器45」と訂正する。 (5)明細書第12頁、第2行口、第5行目、第6行目
、第13行目に記載の「掛算器50」を「掛算器44」
と訂正する。 (6)明細書第12頁、第2行目乃至第3行目、第4行
目に記載の[発振器51Jを「発振器45」と訂正する
。 (7)明細書第16頁、第20行目に記載の「掛算器5
0」を「掛算器44」と訂正する。 (8)明細書第18頁、第17行目乃至第18行目に記
載の「50・・・掛算器」を「44・・・掛算器」と訂
正する。 (9)明細書第18頁、第18行目に記載のr51・・
・発振器」を「45・・・発振器」と訂正する。 2、特許請求の範囲 超音波振動子の振動を処置具を介して対象物に伝達する
超音波処置装置において、前記超音波振動子へ光を照射
する手段と、前記照射手段により照射され前記超音波振
動子で反射された光に基づいて前記処置具のff1Nを
n1定する手段と、前記8111定手段の測定値に応じ
て前記超音波振動子の駆動電力を制御する手段を具備す
る超音波処置装置。 出願人代理人 弁理士 坪井 淳
構成を示す図、第2図は第1実施例におけるファイバの
固定力、法の一例を示す図、第3図は第1実施例におけ
るファイバの固定方法の他の例を示す図、第4図は第3
図のA−A−線に沿った断面図、第5図は第1実施例に
おける裏打板の振幅と処置具先端の振幅との関係を示す
図、第6図(a)〜(h)は第1実施例の動作を示す信
号波形図、第7図は第2実施例の構成を示す図、第8図
は第3実施例の構成を示す図、第9図(a)〜(f)は
第3実施例の動作を示す信号波形図、第1O図(a)、
(b)は光学的センサの変形例を示す図である。 t−e・・・圧電素子、7・・・ホーン、8・・・裏打
板、12・・・ケース、15・・・処置具、17・・・
ファイバ、22〜27・・・電極、28・・・同軸ケー
ブル、29・・・ハーフプリズム、3o、 at・・・
受光素子、33・・・発光ダイオード、35.38・・
・増幅器、37・・・バイパスフィルタ、38・・・割
算器、39・・・整流平滑回路39.40・・・差動増
幅器、41・・・基準電源、42・・・電力増幅器、4
3・・・トランス、50・・・掛算器、51・・・発振
器。 出願人代理人 弁理士 坪井 淳 第9図 (a) (b) 第10図 手続補正書 1、事件の表示 特願昭62−299239号 2、発明の名称 超音波処置装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 (037)オリンパス光学工業株式会社4、代理人 東京都千代m区霞が関3丁目7番2号 UBEビル7、
補正の内容 (1)特許請求の範囲を別紙のとおり補正する。 (2)図面第1図、第7図、第8図を別紙のとおり補正
する。 (3)明細書第9頁、第4行目、第5行目、第6行目に
記載の「掛算器50」を「掛算器4′4」と訂正する。 (4)明細書第9頁、第6行目に記載の「発振器51J
を「発振器45」と訂正する。 (5)明細書第12頁、第2行口、第5行目、第6行目
、第13行目に記載の「掛算器50」を「掛算器44」
と訂正する。 (6)明細書第12頁、第2行目乃至第3行目、第4行
目に記載の[発振器51Jを「発振器45」と訂正する
。 (7)明細書第16頁、第20行目に記載の「掛算器5
0」を「掛算器44」と訂正する。 (8)明細書第18頁、第17行目乃至第18行目に記
載の「50・・・掛算器」を「44・・・掛算器」と訂
正する。 (9)明細書第18頁、第18行目に記載のr51・・
・発振器」を「45・・・発振器」と訂正する。 2、特許請求の範囲 超音波振動子の振動を処置具を介して対象物に伝達する
超音波処置装置において、前記超音波振動子へ光を照射
する手段と、前記照射手段により照射され前記超音波振
動子で反射された光に基づいて前記処置具のff1Nを
n1定する手段と、前記8111定手段の測定値に応じ
て前記超音波振動子の駆動電力を制御する手段を具備す
る超音波処置装置。 出願人代理人 弁理士 坪井 淳
Claims (1)
- 超音波振動子の振動を処置具を介して対象物に伝達する
超音波処置装置において、前記超音波振動子へ光を照射
する手段と、前記照射手段により照射され前記超音波振
動子で反射された光に基づいて前記処置具の振動を測定
する手段と、前記測定手段の測定値に応じて前記超音波
振動子の駆動信号を制御する手段を具備する超音波処置
装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62299239A JPH01139054A (ja) | 1987-11-27 | 1987-11-27 | 超音波処置装置 |
DE3807004A DE3807004A1 (de) | 1987-03-02 | 1988-03-01 | Ultraschall-behandlungsgeraet |
US07/494,880 US4979952A (en) | 1987-03-02 | 1990-03-08 | Ultrasonic vibration treatment apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62299239A JPH01139054A (ja) | 1987-11-27 | 1987-11-27 | 超音波処置装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01139054A true JPH01139054A (ja) | 1989-05-31 |
Family
ID=17869950
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62299239A Pending JPH01139054A (ja) | 1987-03-02 | 1987-11-27 | 超音波処置装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01139054A (ja) |
-
1987
- 1987-11-27 JP JP62299239A patent/JPH01139054A/ja active Pending
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