JPH01131445A - ガスセンサ - Google Patents
ガスセンサInfo
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- JPH01131445A JPH01131445A JP29029087A JP29029087A JPH01131445A JP H01131445 A JPH01131445 A JP H01131445A JP 29029087 A JP29029087 A JP 29029087A JP 29029087 A JP29029087 A JP 29029087A JP H01131445 A JPH01131445 A JP H01131445A
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Links
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、ガスセンサに関する。
[従来の技術とその問題点]
従来、面ヒータの一方の面にガス感応部が形成されたガ
スセンサが知られている。
スセンサが知られている。
ガス感応部としては、例えばスパッタリング法により作
成されたS n 02からなるn型半導体薄膜が用いら
れ、この薄膜は、都市ガスに含まれるメタンガスに感応
して抵抗率が変化する。
成されたS n 02からなるn型半導体薄膜が用いら
れ、この薄膜は、都市ガスに含まれるメタンガスに感応
して抵抗率が変化する。
ところが、この薄膜は、温度を350〜550℃の範囲
に保持してはじめて、エタノールに感応せずにメタンガ
スに感応する。したがって、セラミックヒータの上面に
この薄膜を形成し、このヒータによって前記の動作温度
範囲を実現していた。
に保持してはじめて、エタノールに感応せずにメタンガ
スに感応する。したがって、セラミックヒータの上面に
この薄膜を形成し、このヒータによって前記の動作温度
範囲を実現していた。
ところが、このガスセンサでは、セラミックヒータは下
面が空気によって断熱されるだけであったので熱損失が
大きく、ガス感応部の温度を前記範囲に保持するために
は、IW程度の大きい電力をヒータに投入する必要があ
った。したがって、ガスセンサの周辺回路部品のコスト
ダウンをはかるためには、ヒータの消費電力を少しでも
低減することが求められている。
面が空気によって断熱されるだけであったので熱損失が
大きく、ガス感応部の温度を前記範囲に保持するために
は、IW程度の大きい電力をヒータに投入する必要があ
った。したがって、ガスセンサの周辺回路部品のコスト
ダウンをはかるためには、ヒータの消費電力を少しでも
低減することが求められている。
本発明は、以上の点に鑑み、面ヒータの一方の面にガス
感応部が形成されたガスセンサであって、消費電力が小
さいものを提供することを目的とする。
感応部が形成されたガスセンサであって、消費電力が小
さいものを提供することを目的とする。
[問題点を解決するための手段]
本発明は、前記の目的を達成するために、面ヒータにお
いてガス感応部が形成された面とは反対側の面に、放射
率が0,5以下の物質からなる放射抑制層を形成したも
のである。
いてガス感応部が形成された面とは反対側の面に、放射
率が0,5以下の物質からなる放射抑制層を形成したも
のである。
[作 用]
本発明に係るガスセンサにおいて、面ヒータの一方の面
に形成されたガス感応部は、面ヒータからの熱伝導によ
って温度が上昇し、動作温度でガスに感応する。一方、
面ヒータの他方の面に形成された放射抑制層は、面ヒー
タのこの面からの熱放射を抑制する。したがって、面ヒ
ータへの投入電力を小さくしても、ガス感応部の温度を
一定の動作値に保持することができる。
に形成されたガス感応部は、面ヒータからの熱伝導によ
って温度が上昇し、動作温度でガスに感応する。一方、
面ヒータの他方の面に形成された放射抑制層は、面ヒー
タのこの面からの熱放射を抑制する。したがって、面ヒ
ータへの投入電力を小さくしても、ガス感応部の温度を
一定の動作値に保持することができる。
[実施例コ
本発明の実施例に係るガスセンサを第1図及び第2図に
示す。ただし、第1図の垂直方向は、構成の説明上、実
際の厚さとは異なる厚さで描かれている。
示す。ただし、第1図の垂直方向は、構成の説明上、実
際の厚さとは異なる厚さで描かれている。
ガスセンサ1のうち、符号2は、上下に3IWIIX
4 mmの矩形面を有するA l 2 Os製セラミッ
クヒータである。セラミックヒータ 2の上面には、2
.3mm四方の絶縁性を有するサファイア基板4が、無
機系接着剤によって接着される。
4 mmの矩形面を有するA l 2 Os製セラミッ
クヒータである。セラミックヒータ 2の上面には、2
.3mm四方の絶縁性を有するサファイア基板4が、無
機系接着剤によって接着される。
このサファイア基板4上には、ガスに感応して抵抗率が
変化する例えばS n O2からなるn型半導体薄膜6
が、スパッタリング法により形成される。この薄膜6の
寸法は例えば1.8順四方であって、膜厚が1μmであ
る。この薄膜6上には、二つの矩形の白金電極8,10
が互いに離して形成される。符号12は、例えばS i
O2からなる絶縁性金属酸化物薄膜であって、各電極
8.10間に露出しているn型半導体薄膜6を覆うよう
に、かつ各電極8.10の上面の一部に接触するように
スパッタリング法により形成される。n型半導体薄膜6
、電極8,10及び絶縁性金属酸化物薄膜12は、ガス
感応部14を構成する。
変化する例えばS n O2からなるn型半導体薄膜6
が、スパッタリング法により形成される。この薄膜6の
寸法は例えば1.8順四方であって、膜厚が1μmであ
る。この薄膜6上には、二つの矩形の白金電極8,10
が互いに離して形成される。符号12は、例えばS i
O2からなる絶縁性金属酸化物薄膜であって、各電極
8.10間に露出しているn型半導体薄膜6を覆うよう
に、かつ各電極8.10の上面の一部に接触するように
スパッタリング法により形成される。n型半導体薄膜6
、電極8,10及び絶縁性金属酸化物薄膜12は、ガス
感応部14を構成する。
なお、基板4は、サファイア製に限られず、その面上に
n型半導体薄膜6を作成することができるものであれば
よい。また、n型半導体薄膜6の構成材料は、ガスに感
応して抵抗率が変化するものであればよく、Z n O
−Cr 20 s、Fe O又はT t O2のいず
れでもよい。電極8,10の構成材料は、白金に限らず
、金、銀、アルミニウム等の電気伝導度の高いものであ
ればよい。なお、本実施例では、絶縁性金属酸化物薄膜
12としてスパッタリング法により作成したS iO2
薄膜を用いているため、この薄膜12の付着力が大きく
、かつ規則正しい柱状構造を有する。
n型半導体薄膜6を作成することができるものであれば
よい。また、n型半導体薄膜6の構成材料は、ガスに感
応して抵抗率が変化するものであればよく、Z n O
−Cr 20 s、Fe O又はT t O2のいず
れでもよい。電極8,10の構成材料は、白金に限らず
、金、銀、アルミニウム等の電気伝導度の高いものであ
ればよい。なお、本実施例では、絶縁性金属酸化物薄膜
12としてスパッタリング法により作成したS iO2
薄膜を用いているため、この薄膜12の付着力が大きく
、かつ規則正しい柱状構造を有する。
セラミックヒータ 2の下面には、放射抑制層1Bとし
て白金薄膜がスパッタリング法によって形成されている
。この白金薄膜は、例えば膜厚が1μmである。本実施
例では放射抑制層16をスパッタリング法によって作成
しているため、放射抑制層16のセラミックヒータ 2
への付着力が大きい。この白金スパッタリング薄膜は表
面が円滑であって、Al2O3セラミックの放射率が約
1.0であるのに対し、これを約0.3に低減すること
ができる。なお、放射抑制層16の構成材料は、放射率
が0.5以下の物質であればよく、白金に限らず、ロジ
ウム、パラジウム等であってもよい。白金、ロジウム及
びパラジウムは、適当な高さの融点を有するため薄膜化
が容易であり、作成した放射抑制用の薄膜がさびにくい
効果があるため、好都合である。放射抑制層16の形成
プロセスは、スパッタリング法に限らず、例えば真空蒸
着、CVD法、スパッタリング法以外のPVD法又は印
刷でもよい。
て白金薄膜がスパッタリング法によって形成されている
。この白金薄膜は、例えば膜厚が1μmである。本実施
例では放射抑制層16をスパッタリング法によって作成
しているため、放射抑制層16のセラミックヒータ 2
への付着力が大きい。この白金スパッタリング薄膜は表
面が円滑であって、Al2O3セラミックの放射率が約
1.0であるのに対し、これを約0.3に低減すること
ができる。なお、放射抑制層16の構成材料は、放射率
が0.5以下の物質であればよく、白金に限らず、ロジ
ウム、パラジウム等であってもよい。白金、ロジウム及
びパラジウムは、適当な高さの融点を有するため薄膜化
が容易であり、作成した放射抑制用の薄膜がさびにくい
効果があるため、好都合である。放射抑制層16の形成
プロセスは、スパッタリング法に限らず、例えば真空蒸
着、CVD法、スパッタリング法以外のPVD法又は印
刷でもよい。
第2図に示すように、セラミックヒータ2の上面におい
て、対角線上の一組の隅には、リードフレーム24.2
6がそれぞれ放射状に外方に伸びるように取付けられて
いる。また、他の一組の隅には、それぞれリードフレー
ム28.30が取付けられ、このセラミックヒータ2に
電力を供給することができるようにしている。電極8゜
lOは、それぞれリードフレーム24. 28にボンデ
ィングワイヤ32.34によって接続されている。
て、対角線上の一組の隅には、リードフレーム24.2
6がそれぞれ放射状に外方に伸びるように取付けられて
いる。また、他の一組の隅には、それぞれリードフレー
ム28.30が取付けられ、このセラミックヒータ2に
電力を供給することができるようにしている。電極8゜
lOは、それぞれリードフレーム24. 28にボンデ
ィングワイヤ32.34によって接続されている。
4本のリードフレーム24.2B、 28.30は、そ
れぞれ端子36.38.40.42に接続される。端子
36゜38は、信号出力端子であり、端子40.42は
、ヒ−少入力端子であって、それぞれ前記セラミックヒ
ータ2、この上に接着されたサファイヤ基板4及びこの
上のガス感応部14を空中に保持している。4本の端子
38.3&、 40.42は、絶縁物からなるステム4
4を貫通するようにこれに固定されており、ガスセンサ
1の入出力ピンとして用いられる。なお、ステム44よ
り上方の部分は、両図には図示しない防爆用キャップに
よって覆われる。
れぞれ端子36.38.40.42に接続される。端子
36゜38は、信号出力端子であり、端子40.42は
、ヒ−少入力端子であって、それぞれ前記セラミックヒ
ータ2、この上に接着されたサファイヤ基板4及びこの
上のガス感応部14を空中に保持している。4本の端子
38.3&、 40.42は、絶縁物からなるステム4
4を貫通するようにこれに固定されており、ガスセンサ
1の入出力ピンとして用いられる。なお、ステム44よ
り上方の部分は、両図には図示しない防爆用キャップに
よって覆われる。
以上に説明したガスセンサ1を用いるとき、セラミック
ヒータ2には、ヒータ入力端子40゜42を通して定電
流が供給され、ガス感応部14は、例えば500℃の一
定動作温度に保持される。
ヒータ2には、ヒータ入力端子40゜42を通して定電
流が供給され、ガス感応部14は、例えば500℃の一
定動作温度に保持される。
信号出力端子38に一定の抵抗値を有する固定抵抗器の
一端を接続し、この固定抵抗器の他端と信号出力端子3
Gとの間に直流定電圧を印加すると、信号出力端子36
.38間に一定の出力電圧が得られる。さて、前記動作
温度において、n型半導体薄膜6がガスに感応すると、
その抵抗率が減少するから、ガス感応部14の抵抗値が
減少する。このとき、前記出力電圧が減少し、ガスを検
出したことを外部に伝達することができる。
一端を接続し、この固定抵抗器の他端と信号出力端子3
Gとの間に直流定電圧を印加すると、信号出力端子36
.38間に一定の出力電圧が得られる。さて、前記動作
温度において、n型半導体薄膜6がガスに感応すると、
その抵抗率が減少するから、ガス感応部14の抵抗値が
減少する。このとき、前記出力電圧が減少し、ガスを検
出したことを外部に伝達することができる。
特に本実施例では、n型半導体薄膜6上に絶縁性金属酸
化物薄膜12を作成しているため、n型半導体薄膜6に
到達するガス分子の量が絶縁性金属酸化物薄膜12によ
って調整され、メタンガス及び水素ガスに対する感度が
同程度に高く、しかもエタノールに対する感度が低いガ
スセンサ1が得られる。したがって、このガスセンサ1
を都市ガス用ガスもれ警報器に用いる場合に、都市ガス
に含まれるメタンガス及び水素ガスをともに高感度で検
出することができる一方、調理時等に生じるエタノール
による警報器の誤動作を防止することができる。
化物薄膜12を作成しているため、n型半導体薄膜6に
到達するガス分子の量が絶縁性金属酸化物薄膜12によ
って調整され、メタンガス及び水素ガスに対する感度が
同程度に高く、しかもエタノールに対する感度が低いガ
スセンサ1が得られる。したがって、このガスセンサ1
を都市ガス用ガスもれ警報器に用いる場合に、都市ガス
に含まれるメタンガス及び水素ガスをともに高感度で検
出することができる一方、調理時等に生じるエタノール
による警報器の誤動作を防止することができる。
さて、本実施例において放射抑制層1Bとして形成され
た白金スパッタリング薄膜の効果を実証するために、放
射抑制層16を形成しないガスセンサを比較例として作
成し、ガス感応部14の温度を450℃及び500℃に
保持するためのヒータ投入電力をそれぞれ測定した。測
定の結果、比較例の消費電力は、450℃及び500°
Cの動作温度において、それぞれ1.08W及び1.2
7Wであった。これに対して、本発明の実施例に係るガ
スセンサでは、両温度において、それぞれ1.OIW及
び1.18Wであり、消費電力が6〜7%だけ低減され
ることが実証された。
た白金スパッタリング薄膜の効果を実証するために、放
射抑制層16を形成しないガスセンサを比較例として作
成し、ガス感応部14の温度を450℃及び500℃に
保持するためのヒータ投入電力をそれぞれ測定した。測
定の結果、比較例の消費電力は、450℃及び500°
Cの動作温度において、それぞれ1.08W及び1.2
7Wであった。これに対して、本発明の実施例に係るガ
スセンサでは、両温度において、それぞれ1.OIW及
び1.18Wであり、消費電力が6〜7%だけ低減され
ることが実証された。
なお、以上に説明した実施例では、n型半導体薄膜6の
上に絶縁性金属酸化物薄膜12を作成していたが、ガス
感応部14の構造はこれに限らず、絶縁性金属酸化物薄
膜12を作成しないものについても同様のヒータ電力低
減効果が得られることはいうまでもない。
上に絶縁性金属酸化物薄膜12を作成していたが、ガス
感応部14の構造はこれに限らず、絶縁性金属酸化物薄
膜12を作成しないものについても同様のヒータ電力低
減効果が得られることはいうまでもない。
[発明の効果]
本発明は、面ヒータにおいてガス感応部が形成された面
とは反対側の面に、放射率が0.5以下の物質からなる
放射抑制層を形成したものであるから、面ヒータの一方
の面に形成された放射抑制層によって面ヒータからの熱
放射を抑制しながら、面ヒータの他方の面に形成された
ガス感応部の温度を上昇させることができ、したがって
、ヒータの消費電力が小さいガスセンサを提供すること
ができる。
とは反対側の面に、放射率が0.5以下の物質からなる
放射抑制層を形成したものであるから、面ヒータの一方
の面に形成された放射抑制層によって面ヒータからの熱
放射を抑制しながら、面ヒータの他方の面に形成された
ガス感応部の温度を上昇させることができ、したがって
、ヒータの消費電力が小さいガスセンサを提供すること
ができる。
第1図は本発明の実施例に係るガスセンサを側面から見
たI−I断面図であり、第2図は前図のガスセンサの平
面図である。 符号の説明 ■・・・ガスセンサ、2・・・セラミックヒータ、4・
・、基板、6・・・n型半導体薄膜、8,10・・・電
極、12・・・絶縁性金属酸化物薄膜、14・・・ガス
感応部、16・・・放射抑制層。
たI−I断面図であり、第2図は前図のガスセンサの平
面図である。 符号の説明 ■・・・ガスセンサ、2・・・セラミックヒータ、4・
・、基板、6・・・n型半導体薄膜、8,10・・・電
極、12・・・絶縁性金属酸化物薄膜、14・・・ガス
感応部、16・・・放射抑制層。
Claims (1)
- 1、面ヒータの一方の面にガス感応部が形成されたガス
センサにおいて、前記ヒータの他方の面に放射率が0.
5以下の物質からなる放射抑制層を形成したことを特徴
とするガスセンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29029087A JPH01131445A (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | ガスセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29029087A JPH01131445A (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | ガスセンサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01131445A true JPH01131445A (ja) | 1989-05-24 |
Family
ID=17754225
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29029087A Pending JPH01131445A (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | ガスセンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01131445A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5408987A (en) * | 1992-02-12 | 1995-04-25 | Tokai Corporation | Portable heater |
CN100339704C (zh) * | 2003-06-06 | 2007-09-26 | 株式会社电装 | 气体传感器 |
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1987
- 1987-11-16 JP JP29029087A patent/JPH01131445A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5408987A (en) * | 1992-02-12 | 1995-04-25 | Tokai Corporation | Portable heater |
CN100339704C (zh) * | 2003-06-06 | 2007-09-26 | 株式会社电装 | 气体传感器 |
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