JPH01130461A - クロマトグラフ−質量分析装置 - Google Patents
クロマトグラフ−質量分析装置Info
- Publication number
- JPH01130461A JPH01130461A JP28910487A JP28910487A JPH01130461A JP H01130461 A JPH01130461 A JP H01130461A JP 28910487 A JP28910487 A JP 28910487A JP 28910487 A JP28910487 A JP 28910487A JP H01130461 A JPH01130461 A JP H01130461A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic field
- drift
- drift voltage
- voltage
- power supply
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 13
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 10
- 239000012634 fragment Substances 0.000 abstract description 21
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 abstract description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 4
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 12
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 11
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 7
- 150000001793 charged compounds Chemical class 0.000 description 6
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 6
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 5
- 238000004807 desolvation Methods 0.000 description 4
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 4
- WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N Acetonitrile Chemical compound CC#N WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- USFZMSVCRYTOJT-UHFFFAOYSA-N Ammonium acetate Chemical compound N.CC(O)=O USFZMSVCRYTOJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005695 Ammonium acetate Substances 0.000 description 1
- 229940043376 ammonium acetate Drugs 0.000 description 1
- 235000019257 ammonium acetate Nutrition 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 description 1
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- GBMDVOWEEQVZKZ-UHFFFAOYSA-N methanol;hydrate Chemical compound O.OC GBMDVOWEEQVZKZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003595 mist Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000006199 nebulizer Substances 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 1
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はクロマトグラフ−質量分析装置に係り、特に大
きい分子量を有する有機物質の分析に好適なりロマトグ
ラフー質量分析装置に関する。
きい分子量を有する有機物質の分析に好適なりロマトグ
ラフー質量分析装置に関する。
従来のグロマトグラフー質量分析装置は、液体クロマト
グラフ、ガスクロマトグラフ等の種々のクロマトグラフ
と質量分析装置とを組み合おせたものから構成されてい
る。すなわち従来の装置は、クロマトグラフによって試
料成分を各種成分ごとに分析した後、分析された試料成
分をイオン化し。
グラフ、ガスクロマトグラフ等の種々のクロマトグラフ
と質量分析装置とを組み合おせたものから構成されてい
る。すなわち従来の装置は、クロマトグラフによって試
料成分を各種成分ごとに分析した後、分析された試料成
分をイオン化し。
このイオン化された成分を電場、次いで磁場に導入して
試料成分ごとのマススペクトルを検出していた。試料成
分のイオン化は、針電極部においてコロナ放電を形成し
、このコロナ放電中に分離された試料成分を導入するこ
とによりおこなっていた。針電極の圧力は１気圧であり
、第１細孔と第２細孔の間（中間圧力部）には、ドリフ
ト電圧と呼ばれる電圧（約５０ｖ〜２００Ｖ）が印加さ
れており、クラスターイオンの解離を制御している。
試料成分ごとのマススペクトルを検出していた。試料成
分のイオン化は、針電極部においてコロナ放電を形成し
、このコロナ放電中に分離された試料成分を導入するこ
とによりおこなっていた。針電極の圧力は１気圧であり
、第１細孔と第２細孔の間（中間圧力部）には、ドリフ
ト電圧と呼ばれる電圧（約５０ｖ〜２００Ｖ）が印加さ
れており、クラスターイオンの解離を制御している。
従来上記の分析装置では、無機物の分析がおこなわれて
いたが、最近大きい分子量をもつ有機物質の分析の要請
が高まってきている。このような有機物質の分析におい
ては、ドリフト電圧を調整して、マスクベクトルにおけ
るフラグメントビークと分子ピークを検出してやるよう
になっている。
いたが、最近大きい分子量をもつ有機物質の分析の要請
が高まってきている。このような有機物質の分析におい
ては、ドリフト電圧を調整して、マスクベクトルにおけ
るフラグメントビークと分子ピークを検出してやるよう
になっている。
しかし、ドリフト電圧を大きくするとフラグメントピー
クが得られる反面、分子量を測定するのに必要な分子ピ
ークが得られないことになる。−方、この電圧を小さく
してやると分子ピークが得られる反面、重要な情報を与
えるフラグメントピークが得られない欠点がある。そこ
で、イオン源でイオン化された試料成分を針電極部から
引き出して加速するためのドリフト電圧を手動で高い値
と低い値に変化させたフラグメントピークと分子ピーク
を得るようにしていた。
クが得られる反面、分子量を測定するのに必要な分子ピ
ークが得られないことになる。−方、この電圧を小さく
してやると分子ピークが得られる反面、重要な情報を与
えるフラグメントピークが得られない欠点がある。そこ
で、イオン源でイオン化された試料成分を針電極部から
引き出して加速するためのドリフト電圧を手動で高い値
と低い値に変化させたフラグメントピークと分子ピーク
を得るようにしていた。
しかし、上記手動でドリフト電圧を変化させる従来例で
は、２度以上の測定をおこなわなければ、フラグメント
ピークと分子ピークを得ることができないという問題点
があった。すなわち、従来のクロマトグラフ−質量分析
装置では、フラグメントピークと分子ピークとを得るた
めには、長時間の測定を要していたことになる。
は、２度以上の測定をおこなわなければ、フラグメント
ピークと分子ピークを得ることができないという問題点
があった。すなわち、従来のクロマトグラフ−質量分析
装置では、フラグメントピークと分子ピークとを得るた
めには、長時間の測定を要していたことになる。
本発明は係る問題点を解決するために、短時間でフラグ
メントピークと分子ピークとを得ることのできるクロマ
トグラフ−質量分析装置を提供することを目的とする。
メントピークと分子ピークとを得ることのできるクロマ
トグラフ−質量分析装置を提供することを目的とする。
このような目的を達成するために本発明は、クロマトグ
ラフと、該クロマトグラフによって分離された試料成分
をイオン化するイオン化手段と当該イオンに電圧を印加
するドリフ１−電源と、当該イオンが導入される電場と
、該電場から出たイオンが導入される磁場と、該磁場を
掃引する磁場掃引電源と、当該磁場掃引に同期して前記
ドリフト電源のドリフト電圧を掃引する制御装置と、が
設けられているこを特徴とするクロマトグラフ−質量分
析装置である。
ラフと、該クロマトグラフによって分離された試料成分
をイオン化するイオン化手段と当該イオンに電圧を印加
するドリフ１−電源と、当該イオンが導入される電場と
、該電場から出たイオンが導入される磁場と、該磁場を
掃引する磁場掃引電源と、当該磁場掃引に同期して前記
ドリフト電源のドリフト電圧を掃引する制御装置と、が
設けられているこを特徴とするクロマトグラフ−質量分
析装置である。
上記本発明によれば、磁場電流掃引と同期させてドリフ
ト電圧を掃引することにより、磁場電流の低いときはフ
ラグメントピークの出やすい高いドリフト電圧とするこ
とができ、磁場電流が高いときは分子ピークの出やすい
低いドリフト電圧とすることができる結果、ひとつのマ
ススペクトル状に分子ピークとフラグメントピークとを
同時に検出することができる。したがって、短時間の測
定でフラグメントピークと分子ピークとを同時に得るこ
とができる。
ト電圧を掃引することにより、磁場電流の低いときはフ
ラグメントピークの出やすい高いドリフト電圧とするこ
とができ、磁場電流が高いときは分子ピークの出やすい
低いドリフト電圧とすることができる結果、ひとつのマ
ススペクトル状に分子ピークとフラグメントピークとを
同時に検出することができる。したがって、短時間の測
定でフラグメントピークと分子ピークとを同時に得るこ
とができる。
次に本発明に係るクロマトグラフ−質量分析装置の一実
施例を添付図面にしたがって説明する。
施例を添付図面にしたがって説明する。
第１図はその実施例の構成を示す構成図である。
まず本実施例の構成について説明する。
液体クロマトグラフ１にはジェット噴霧器２が接続され
ている。この噴霧器２は脱溶媒室３に隣接しており、こ
の脱溶媒室３に隣接してはり電極２０を有する電極部４
が設けられている。この電極部４には、第１細孔を有す
る引出し電極５が接続されている。この引出し電極５上
には第２細孔を有する引出し電極６が設けられている。
ている。この噴霧器２は脱溶媒室３に隣接しており、こ
の脱溶媒室３に隣接してはり電極２０を有する電極部４
が設けられている。この電極部４には、第１細孔を有す
る引出し電極５が接続されている。この引出し電極５上
には第２細孔を有する引出し電極６が設けられている。
引出し電極５，６にはそれぞれドリフト電圧掃引電源８
が接続されている。
が接続されている。
引出し電極６上には静電レンズ７が設けられている。
一方、質量分析装置部分の構成について説明する。この
部分は、電場１０と磁場１１から構成されている。さら
にコレクタスリツ１−１２およびコレクタ１３が設けら
れている。一方、磁場１１には磁場掃引電源１５が接続
されている。この磁場掃引電源１５と前記ドリフト電圧
掃引電源８はそれぞれ、ｃｐｕ１４に接続されている。
部分は、電場１０と磁場１１から構成されている。さら
にコレクタスリツ１−１２およびコレクタ１３が設けら
れている。一方、磁場１１には磁場掃引電源１５が接続
されている。この磁場掃引電源１５と前記ドリフト電圧
掃引電源８はそれぞれ、ｃｐｕ１４に接続されている。
次にこの実施例の動作について説明する。
液体クロマトグラフ１では、ＬＣ溶媒（アセトニトリル
、メタノール、水−メタノール等）により溶質分子が展
開される。液体クロマ１〜グラフ１から流出された成分
は、パイプを通ってジェット噴霧器２に導かれる。この
ジェット噴霧器２では。
、メタノール、水−メタノール等）により溶質分子が展
開される。液体クロマ１〜グラフ１から流出された成分
は、パイプを通ってジェット噴霧器２に導かれる。この
ジェット噴霧器２では。
温度が約３００’〜４００°Ｃとなっている。この温度
とＬＣの圧力によって溶媒分子は蒸発し霧状になる。こ
の際に溶媒分子と溶質分子とが真空の脱溶媒室において
分離される。分離された溶質分子は電極部４に至る。こ
の電極部４では、はり電極２０に高電圧（ＩＯＫＶ程度
）が印加されている。このため電極部４内ではコロナ放
電が生じている。コロナ放電により溶媒の一時イオン化
がおこなわれ、次いで溶媒イオンのイオン分子反応によ
り溶質分子がイオン化される。
とＬＣの圧力によって溶媒分子は蒸発し霧状になる。こ
の際に溶媒分子と溶質分子とが真空の脱溶媒室において
分離される。分離された溶質分子は電極部４に至る。こ
の電極部４では、はり電極２０に高電圧（ＩＯＫＶ程度
）が印加されている。このため電極部４内ではコロナ放
電が生じている。コロナ放電により溶媒の一時イオン化
がおこなわれ、次いで溶媒イオンのイオン分子反応によ
り溶質分子がイオン化される。
イオン化された溶媒イオンは、引出し電極５゜６および
静電レンズ７を通ってイオンビーム９となり電場１０に
導入される。引出し電極５，６にはドリフト電源８が接
続されているために、この引出し電極５と６の間にドリ
フト電圧が印加される。このドリフト電圧は高電圧であ
るために、溶質イオンは引出し電極中に設けられた細孔
を通って引き出され、前記電場１０に導かれる。引出し
電極から引出された溶質イオンは、静電レンズ７で収束
されて電場１０に至る。電場１ｏでは方向収束を受けて
磁場１１に至る。磁場１１から出たイオンビーム９はコ
レクタスリット１２を介してコレクタ１３に至る。この
結果マススペクトルとして分子ピークやフラグメントピ
ークを得ることができる。
静電レンズ７を通ってイオンビーム９となり電場１０に
導入される。引出し電極５，６にはドリフト電源８が接
続されているために、この引出し電極５と６の間にドリ
フト電圧が印加される。このドリフト電圧は高電圧であ
るために、溶質イオンは引出し電極中に設けられた細孔
を通って引き出され、前記電場１０に導かれる。引出し
電極から引出された溶質イオンは、静電レンズ７で収束
されて電場１０に至る。電場１ｏでは方向収束を受けて
磁場１１に至る。磁場１１から出たイオンビーム９はコ
レクタスリット１２を介してコレクタ１３に至る。この
結果マススペクトルとして分子ピークやフラグメントピ
ークを得ることができる。
前記電極部の圧力は、１気圧程度であり、ドリフト電圧
が約５０Ｖ〜２００Ｖ印加されている。
が約５０Ｖ〜２００Ｖ印加されている。
コレクタスリット１２を通すコレクタ上にイオンビーム
が至ることにより、コレクタ１３上にマススペクトルを
描き、その結果がｃｐｕ１４に記録される。
が至ることにより、コレクタ１３上にマススペクトルを
描き、その結果がｃｐｕ１４に記録される。
上記電極５，６間にドリフト電圧をかけることにより試
料イオンが電解方向にドリフトし、質量分析装置へ導か
れる。ドリフト電圧を高電圧にすると溶質の中性分子に
衝突し、フラグメントのみのスペクトルとなる。また、
ドリフト電圧が８０Ｖ程度と比較的低い電圧であると、
分子イオンピークが感度よく検出される。本実施例では
、磁場電流掃引に同期させてドリフト電圧を掃引する。
料イオンが電解方向にドリフトし、質量分析装置へ導か
れる。ドリフト電圧を高電圧にすると溶質の中性分子に
衝突し、フラグメントのみのスペクトルとなる。また、
ドリフト電圧が８０Ｖ程度と比較的低い電圧であると、
分子イオンピークが感度よく検出される。本実施例では
、磁場電流掃引に同期させてドリフト電圧を掃引する。
この掃引は、磁場掃引電源１５からの信号をｃｐｕ１４
で検出し、一方ドリフト電源からのドリフト電圧の信号
をｃｐｕ１４で検出することにより、このｃｐｕにおい
て両者を同期させて制御する。第２図に磁場電流とドリ
フト電圧を同期させて掃引する一例を示す、第２図は、
磁場電流とドリフト電圧との関係を示すグラフである。
で検出し、一方ドリフト電源からのドリフト電圧の信号
をｃｐｕ１４で検出することにより、このｃｐｕにおい
て両者を同期させて制御する。第２図に磁場電流とドリ
フト電圧を同期させて掃引する一例を示す、第２図は、
磁場電流とドリフト電圧との関係を示すグラフである。
第２図かられかるように磁場電流の低いときはフラグメ
ントピークの出やすい高いドリフト電圧とする。
ントピークの出やすい高いドリフト電圧とする。
一方、磁場電流が大きくなり、試料からの分子イオンピ
ークの検出領域となったときは、分子イオンビームの出
やすい比較的低いドリフト電圧となるように磁場掃引と
同期させてドリフト電圧を掃引する。本実施例ではドリ
フト電圧の掃引を低い約８０Ｖから高い約２００Ｖまで
制御している。
ークの検出領域となったときは、分子イオンビームの出
やすい比較的低いドリフト電圧となるように磁場掃引と
同期させてドリフト電圧を掃引する。本実施例ではドリ
フト電圧の掃引を低い約８０Ｖから高い約２００Ｖまで
制御している。
このドリフト電圧の制御の幅は、溶質分子によって適宜
選択される。例えば分子量が高い有機物質の場合は、こ
のドリフト電圧が制御される幅を高くすることにより、
フラグメントピークから分子ピークまでをひとつのスペ
クトル上に検出することができる。
選択される。例えば分子量が高い有機物質の場合は、こ
のドリフト電圧が制御される幅を高くすることにより、
フラグメントピークから分子ピークまでをひとつのスペ
クトル上に検出することができる。
本実施例では磁場電流の掃引に同期させてドリフト電圧
を連続的に調整しているが、磁場電流の掃引に同期させ
てドリフト電圧を段階的な値に制御することもできる。
を連続的に調整しているが、磁場電流の掃引に同期させ
てドリフト電圧を段階的な値に制御することもできる。
次に具体的に実施例について説明する。第３図は、ドリ
フト電圧を一定値に固定した場合のマススペクトルと、
上記本実施例により磁場電流に掃引させてドリフト電圧
を掃引したマススペクトルである。第３図（Ａ）は、ド
リフト電圧が８０Ｖ程度と低い電圧のマススペクトルで
ある。一方、第３図（Ｂ）は、ドリフト電圧が２００Ｖ
程度と高い電圧におけるマススペクトルである。第３図
（Ｃ）は上記本実施例のように磁場電流に同期させてド
リフト電圧を高い値から低い値へと掃引させた場合のマ
ススペクトルである。この第３図の例では、磁場電流を
０．６ 秒間の間に低い値から高い値に掃引し、それと
同期してドリフト電圧を０．６ 抄幅に高い値から低い
値に掃引している。
フト電圧を一定値に固定した場合のマススペクトルと、
上記本実施例により磁場電流に掃引させてドリフト電圧
を掃引したマススペクトルである。第３図（Ａ）は、ド
リフト電圧が８０Ｖ程度と低い電圧のマススペクトルで
ある。一方、第３図（Ｂ）は、ドリフト電圧が２００Ｖ
程度と高い電圧におけるマススペクトルである。第３図
（Ｃ）は上記本実施例のように磁場電流に同期させてド
リフト電圧を高い値から低い値へと掃引させた場合のマ
ススペクトルである。この第３図の例では、磁場電流を
０．６ 秒間の間に低い値から高い値に掃引し、それと
同期してドリフト電圧を０．６ 抄幅に高い値から低い
値に掃引している。
その後０．４秒間の間をおいて再び同様な掃引をおこな
っている。これを順次繰り返してドリフト電圧が掃引し
ている。
っている。これを順次繰り返してドリフト電圧が掃引し
ている。
本実施例では、液体クロマトグラフとして０Ｄ８３０５
６を用い、使用する溶媒としては０．０５Ｍ酢酸アンモ
ニウム水溶液３０％にメタノ−シフ０％混合したものを
用いた。展開された溶質分子としてはフェニールブタシ
ンを用いた。
６を用い、使用する溶媒としては０．０５Ｍ酢酸アンモ
ニウム水溶液３０％にメタノ−シフ０％混合したものを
用いた。展開された溶質分子としてはフェニールブタシ
ンを用いた。
第３図（Ａ）かられかるように、ドリフト電圧が低い場
合には、分子イオンピークが感度よく検出されているこ
とがわかる。しかしスペクトル解析に必要なフラグメン
トピークが検出されていない。−力筒３図（Ｂ）では、
ドリフト電圧が高い結果、フラグメントピークが検出さ
れていることがわかるが、最も重要な情報源である分子
イオンピークがほとんど検出されていない。これらに対
して第３図（Ｃ）によれば、フラグメントピークから分
子イオンピークまでをひとつのマススペクトル上に感度
よく検出されていることがわかる。
合には、分子イオンピークが感度よく検出されているこ
とがわかる。しかしスペクトル解析に必要なフラグメン
トピークが検出されていない。−力筒３図（Ｂ）では、
ドリフト電圧が高い結果、フラグメントピークが検出さ
れていることがわかるが、最も重要な情報源である分子
イオンピークがほとんど検出されていない。これらに対
して第３図（Ｃ）によれば、フラグメントピークから分
子イオンピークまでをひとつのマススペクトル上に感度
よく検出されていることがわかる。
以上説明したように本発明によれば、磁場電流掃引に同
期してドリフト電圧が掃引されている結果、ひとつのマ
ススペクトル上にフラグメントピークから分子ピークま
でを検出することができるので、短時間で分析がおこな
えるという効果を奏する。
期してドリフト電圧が掃引されている結果、ひとつのマ
ススペクトル上にフラグメントピークから分子ピークま
でを検出することができるので、短時間で分析がおこな
えるという効果を奏する。
第１図は本発明に係るクロマトグラフ−質量分析装置の
一実施例構成図、第２図は、磁場電流とドリフト電圧と
の関係を示すグラフ、第３図はドリフト電圧によるマス
スペクトルの変化を示すグラフである。 １・・・液体クロマトグラフ、２・・・ジェット噴霧器
、３・・・脱溶媒室、４・・・電極部、５，６・・・引
き出し電極、８・・・ドリフト電源、１１・・・磁場、
１４・・・ｃｐｕ。 １５・・・磁場掃引電源。
一実施例構成図、第２図は、磁場電流とドリフト電圧と
の関係を示すグラフ、第３図はドリフト電圧によるマス
スペクトルの変化を示すグラフである。 １・・・液体クロマトグラフ、２・・・ジェット噴霧器
、３・・・脱溶媒室、４・・・電極部、５，６・・・引
き出し電極、８・・・ドリフト電源、１１・・・磁場、
１４・・・ｃｐｕ。 １５・・・磁場掃引電源。
Claims (1)
- １、クロマトグラフと、該クロマトグラフによつて分離
された試料成分をイオン化するイオン化手段と、当該イ
オンに電圧を印加するドリフト電源と、当該イオンが導
入される電場と、該電場から出たイオンが導入される磁
場と、該磁場を掃引する磁場掃引電源と、当該磁場掃引
に同期して前記ドリフト電源のドリフト電圧を掃引する
制御装置と、が設けられていることを特徴とするクロマ
トグラフ−質量分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62289104A JP2720034B2 (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | クロマトグラフー質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62289104A JP2720034B2 (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | クロマトグラフー質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01130461A true JPH01130461A (ja) | 1989-05-23 |
| JP2720034B2 JP2720034B2 (ja) | 1998-02-25 |
Family
ID=17738842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62289104A Expired - Lifetime JP2720034B2 (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | クロマトグラフー質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2720034B2 (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5144432A (ja) * | 1974-10-14 | 1976-04-16 | Shinshu Seiki Kk | |
| JPS59125056A (ja) * | 1982-12-30 | 1984-07-19 | Shimadzu Corp | マスフラグメントグラフイ用質量分析計 |
| JPS63304564A (ja) * | 1987-06-05 | 1988-12-12 | Hitachi Ltd | 大気圧イオン化質量分析計 |
-
1987
- 1987-11-16 JP JP62289104A patent/JP2720034B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5144432A (ja) * | 1974-10-14 | 1976-04-16 | Shinshu Seiki Kk | |
| JPS59125056A (ja) * | 1982-12-30 | 1984-07-19 | Shimadzu Corp | マスフラグメントグラフイ用質量分析計 |
| JPS63304564A (ja) * | 1987-06-05 | 1988-12-12 | Hitachi Ltd | 大気圧イオン化質量分析計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2720034B2 (ja) | 1998-02-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1102985B1 (en) | Method for separation and enrichment of isotopes in gaseous phase | |
| Guevremont et al. | Atmospheric pressure ion focusing in a high-field asymmetric waveform ion mobility spectrometer | |
| US6410914B1 (en) | Ionization chamber for atmospheric pressure ionization mass spectrometry | |
| US6831271B1 (en) | Method for separation and enrichment of isotopes in gaseous phase | |
| JP4560656B2 (ja) | 質量分析計及び質量分析方法 | |
| JP2834136B2 (ja) | 質量分析計 | |
| US8080783B2 (en) | Atmospheric pressure ion source for mass spectrometry | |
| US10312069B2 (en) | Dual mode ionization device | |
| US7901628B2 (en) | Method for fractionating various components contained in a sample solution by liquid chromatograph mass spectrometer | |
| GB2425399A (en) | A multi-mode ionization source for mass spectrometers | |
| JP3707348B2 (ja) | 質量分析装置及び質量分析方法 | |
| US10217622B2 (en) | Ambient ionisation with an impactor spray source | |
| JP2003215101A (ja) | 液体クロマトグラフ質量分析計 | |
| JP5219274B2 (ja) | 質量分析計 | |
| US6646254B2 (en) | Liquid chromatograph mass spectrometer | |
| US10141172B2 (en) | Synchronised variation of source conditions of an atmospheric pressure chemical ionisation mass spectrometer coupled to a gas chromatograph to improve stability during analysis | |
| JPH01130461A (ja) | クロマトグラフ−質量分析装置 | |
| US20040126277A1 (en) | Liquid chromatograph mass spectrometer | |
| JP2005106537A (ja) | 分取液体クロマトグラフ装置 | |
| JPH06302295A (ja) | 質量分析装置および差動排気装置 | |
| JP2000340170A (ja) | 質量分析装置 | |
| JPH04109160A (ja) | 超臨界クロマトグラフ／質量分析装置 | |
| JP2901628B2 (ja) | 質量分析装置 | |
| JPH05275053A (ja) | Ｌｃ／ａｐｉ質量分析方法 | |
| JPH0320663A (ja) | 質量分析計 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |