JPH01126512U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH01126512U JPH01126512U JP2227488U JP2227488U JPH01126512U JP H01126512 U JPH01126512 U JP H01126512U JP 2227488 U JP2227488 U JP 2227488U JP 2227488 U JP2227488 U JP 2227488U JP H01126512 U JPH01126512 U JP H01126512U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical systems
- optical
- dimension
- span
- spans
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 12
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
第1図は本考案の一実施例による寸法測定装置
の概略構成図、第2図は該寸法測定装置における
誤差演算の基本原理を説明するための図、第3図
は2つの光学系を利用した従来の寸法測定装置を
示す図である。 3……被測定物、7……移動装置、10,20
……第1、第2の光学系、11,21……光源、
12,22……コリメータレンズ、31,32…
…イメージセンサ信号処理回路、33……誤差演
算部、34……寸法演算部、41,42……移動
ベース、91,92……発光側、受光側スケール
。
の概略構成図、第2図は該寸法測定装置における
誤差演算の基本原理を説明するための図、第3図
は2つの光学系を利用した従来の寸法測定装置を
示す図である。 3……被測定物、7……移動装置、10,20
……第1、第2の光学系、11,21……光源、
12,22……コリメータレンズ、31,32…
…イメージセンサ信号処理回路、33……誤差演
算部、34……寸法演算部、41,42……移動
ベース、91,92……発光側、受光側スケール
。
Claims (1)
- 被測定物の両端にそれぞれ平行光線束を照射し
て2つの光学像を得るための2つの光学系を備え
、この2つの光学系のスパンと前記2つの光学像
とから前記被測定物の寸法を測定するようにした
寸法測定装置において、前記2つの光学系のスパ
ンを変更するための光学系移動装置と、前記2つ
の光学系の発光側及び受光側のスパンをそれぞれ
測定するための発光側スパン測定手段及び受光側
スパン測定手段と、これらの各スパン測定手段か
らの情報により前記2つの光学系の平行度誤差を
演算する誤差演算手段と、この誤差演算手段の演
算結果及び前記2つの光学系のスパンと前記2つ
の光学像とから得られた寸法測定値とから真の寸
法値を演算する寸法演算手段とを備えたことを特
徴とする寸法測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2227488U JPH01126512U (ja) | 1988-02-22 | 1988-02-22 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2227488U JPH01126512U (ja) | 1988-02-22 | 1988-02-22 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01126512U true JPH01126512U (ja) | 1989-08-29 |
Family
ID=31240242
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2227488U Pending JPH01126512U (ja) | 1988-02-22 | 1988-02-22 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01126512U (ja) |
-
1988
- 1988-02-22 JP JP2227488U patent/JPH01126512U/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6262908U (ja) | ||
JPH01126512U (ja) | ||
JPS645108U (ja) | ||
JPS6246358U (ja) | ||
JPH0316017U (ja) | ||
JPS6425710U (ja) | ||
JPS61140915U (ja) | ||
JPH027509U (ja) | ||
JPH02110804U (ja) | ||
JPS6214310U (ja) | ||
JPS63122211U (ja) | ||
JPH01144809U (ja) | ||
JPH0613441Y2 (ja) | A・g・c回路付きセンタリングセンサ−を用いたシ−ト類等の帯状物の巾測定装置 | |
JPS63174014U (ja) | ||
JPS6179212U (ja) | ||
JPH0243638U (ja) | ||
JPS63188506U (ja) | ||
JPH03110304U (ja) | ||
JPS62176712U (ja) | ||
JPS63128411U (ja) | ||
JPS61147915U (ja) | ||
JPS62129706A (ja) | 筆跡測定装置 | |
JPH03128803U (ja) | ||
JPH03118407A (ja) | レーザ厚み計 | |
JPS6397810U (ja) |