JPS63122211U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS63122211U JPS63122211U JP1284187U JP1284187U JPS63122211U JP S63122211 U JPS63122211 U JP S63122211U JP 1284187 U JP1284187 U JP 1284187U JP 1284187 U JP1284187 U JP 1284187U JP S63122211 U JPS63122211 U JP S63122211U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- measuring device
- photodetector
- displacement measuring
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 10
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Description
第１図はこの考案の一実施例による変位測定装
置のヘツド部の概略構成を示す構成図、第２図は
第１図のヘツドケースの正面図、第３図は第１図
のヘツドの膨張による光経路の伸びを示す光経路
説明図、第４図は従来の変位測定装置の説明図、
第５図は第４図のヘツド部の温度上昇による膨張
のモデル図である。 １……光源、１ａ……光ビーム、１ｂ……光ス
ポツト、２……投光レンズ、３……被計測物体表
面、４……受光レンズ、５……光検出器、９……
ヘツドケース、１１……反射鏡、１２……取付座
（ミラー取付座）。なお、各図中、同一符号は同
一又は相当部分を示す。
置のヘツド部の概略構成を示す構成図、第２図は
第１図のヘツドケースの正面図、第３図は第１図
のヘツドの膨張による光経路の伸びを示す光経路
説明図、第４図は従来の変位測定装置の説明図、
第５図は第４図のヘツド部の温度上昇による膨張
のモデル図である。 １……光源、１ａ……光ビーム、１ｂ……光ス
ポツト、２……投光レンズ、３……被計測物体表
面、４……受光レンズ、５……光検出器、９……
ヘツドケース、１１……反射鏡、１２……取付座
（ミラー取付座）。なお、各図中、同一符号は同
一又は相当部分を示す。
補正 昭６２．７．３１
実用新案登録請求の範囲を次のように補正する
。
。
【実用新案登録請求の範囲】
光源からの光ビームを所定の被計測物体表面に
照射し、該被計測物体表面上の光スポツトを受光
レンズを介して光検出器の受光面上に結像させ、
この結像したビームによつて該光検出器より発生
する電気信号により、被計測物体表面までの距離
を演算出力する変位測定装置において、上記光ス
ポツトの結像系の途中に反射鏡を設け、この反射
鏡及び光検出器のいずれか一方を、光源、受光レ
ンズ、光検出器等を収納しているヘツドケースの
線膨張率と相対変化温度とに対応した光学系に起
因したドリフトを除去し得る線膨張率を有する材
質から成る取付座を介在させて、ヘツドケースに
取り付けていることにより、温度変動による該変
位測定装置の誤差を減少させていることを特徴と
する変位測定装置。
照射し、該被計測物体表面上の光スポツトを受光
レンズを介して光検出器の受光面上に結像させ、
この結像したビームによつて該光検出器より発生
する電気信号により、被計測物体表面までの距離
を演算出力する変位測定装置において、上記光ス
ポツトの結像系の途中に反射鏡を設け、この反射
鏡及び光検出器のいずれか一方を、光源、受光レ
ンズ、光検出器等を収納しているヘツドケースの
線膨張率と相対変化温度とに対応した光学系に起
因したドリフトを除去し得る線膨張率を有する材
質から成る取付座を介在させて、ヘツドケースに
取り付けていることにより、温度変動による該変
位測定装置の誤差を減少させていることを特徴と
する変位測定装置。
Claims (1)
- 光源からの光ビームを所定の被計測物体表面に
照射し、該被計測物体表面上の光スポツトを受光
レンズを介して光検出器の受光面上に結像させ、
この結像した受光によつて該光検出器より発生す
る電気信号により、被計測物体表面までの距離を
演算出力する変位測定装置において、上記光スポ
ツトの結像系の途中に反射鏡を設け、この反射鏡
及び光検出器のいずれか一方を、光源、受光レン
ズ、光検出器等を収納しているヘツドケースの線
膨張率と相対変化温度とに対応した光学系に起因
したドリフトを除去し得る線膨張率を有する材質
から成る取付座を介在させて、ヘツドケースに取
り付けていることにより、温度変動による該変位
測定装置の誤差を減少させていることを特徴とす
る変位測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1284187U JPS63122211U (ja) | 1987-02-02 | 1987-02-02 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1284187U JPS63122211U (ja) | 1987-02-02 | 1987-02-02 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63122211U true JPS63122211U (ja) | 1988-08-09 |
Family
ID=30801347
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1284187U Pending JPS63122211U (ja) | 1987-02-02 | 1987-02-02 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63122211U (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05312948A (ja) * | 1992-05-06 | 1993-11-26 | Sharp Corp | 測距センサ |
| WO2001073375A1 (fr) * | 2000-03-31 | 2001-10-04 | Omron Corporation | Capteur de deplacement |
-
1987
- 1987-02-02 JP JP1284187U patent/JPS63122211U/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05312948A (ja) * | 1992-05-06 | 1993-11-26 | Sharp Corp | 測距センサ |
| WO2001073375A1 (fr) * | 2000-03-31 | 2001-10-04 | Omron Corporation | Capteur de deplacement |
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