JPH01123679A - 半導体形状選別装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は半導体形状選別装置に関し、特にリードが同軸
タイプの半導体素子が正常品あるいは異常形状品である
かを選別する装置に係わる。

［従来の技術及びその問題点］ 周知の如く、ピンが同軸タイプの半導体素子として、例
えばＤｏタイプのダイオードが知られている。ところで
、かかる半導体素子は通常第５図（ａ）に示す形状をし
ているが、中にはビンが同図（ｂ）に示す如（曲がって
いたり、同図（Ｃ）。

（ｄ）に示す如く半ＩＩＩＤ（ｏ工程に起因して複数の
半導体素子のピンが繋っている場合がある。そこで、従
来人手作業により目視で正常品または異常形状品の別を
選別していた。

しかしながら、こうした従来の選別方法では下記の問題
点を有する。

■人手作業による目視のため、選別の信頼性が９０％と
低い。

■選別基準や選別処理能力に個人差が生じる。

■連続作業ができない。

■作業者の疲労度が高くなる。

本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、同軸ピンタ
イプの半導体素子の良否を機械的に連続して処理し得る
選別率の高い半導体形状選別装置を提供することを目的
とする。

［問題点を解決するための手段］ 本発明は、同軸ピンタイプの半導体素子を連続送りする
パーツフィーダーと、このパーツフィーダーから送られ
た半導体素子を該素子の自重落下を利用して正常晶と異
常形状品とに選別する回転ドラムと、前記パーツフィー
ダーの送り速度と回転ドラムの回転速度により処理能力
を制御する制ＷＪ５ＩｌＩと、前記回転ドラムに連結さ
れ正常晶のみ送り出される正常品排出トレーとからなり
、前記回転ドラムが、傾斜したドラム本体と、このドラ
ム本体の内壁に設けられ半導体素子を縦長状に保持する
フラットパーと、正常晶のみを受取る選別板と、この選
別板の上に落ちた正常晶を集めるトレーと、異常形状品
を強制的にかき落とす部材とを具備することを敦旨とす
る。

［作用］ 本発明においは、回転ドラム内に送られた同軸ピンタイ
プの半導体素子（例えばＤｏ型のダイオード）は、同半
導体素子の自重落下を利用して正常晶と異常形状品とに
選別される。具体的には、第４図（ａ）、（ｂ）を利用
して後述する通りであるが、正常晶の場合は回転ドラム
内に設けられたフラットパーの溝内に前記半導体素子の
重心が位置し、異常形状品の場合は半導体素子の重心が
周溝の外に位ｎする。そして、両者の場合の差により正
常晶のみが回転ドラムの回転に従って所定のトレーに集
められて正常品箱に送られ：異常形状品は異常品箱へ送
られて選別が行われる。

［実施例］ 以下、本発明の一実施例を第１図〜第４図を参照して説
明する。

図中の１は、例えばＤｏ型タイプのダイオードを搬送す
るパーツフィーダーである。このパーツフィーダー１か
らのダイオードは例えば塩化ビニル製の回転ドラム２内
に送られる。ここで、回転ドラム２は、第２図に示す構
造になっている。即ち、図中の３は、ダイオードの搬送
方向に傾斜した回転ドラム本体である。このドラム本体
３の内壁には、溝４ａを有した例えばベークライト製の
フラットパー４が設けられている。ここで、フラットパ
ー４の形態としては、例えば第３図（ａ）に示す如く面
とりをしてダイオードが入りやすくした場合、あるいは
同図（ｂ）に示す如く加工を施さない場合場合が挙げら
れる。また。前記フラットパー４の溝４ａの幅Ｗは、ダ
イオードの外形Ｄ！＋リードの外形Ｄ２＋αとする（但
し、α−２Ｄ２）。また、前記フラットパー４の厚さは
、Ｄ１〜Ｄｔ＋１．０程度が適当である。図前記ドラム
本体３内には、自重落下した正常なダイオード（正常晶
）５を受止めるための選別板６が設けられている。この
選別板６は、支持部材７に支持された可動板８上に取付
けられている。また、前記選別板６は、ダイオード５の
落下位置にあわせて高さを調整する。前記選別板６．の
近くには、受止められたダイオード５を集めるトレー９
が設けられている。このトレー９も、前記支持部材７に
支持された固定具１０に取付けられている。前記ドラム
本体３内には、前記フラットラバー４の溝４ａに完全に
入らない異常なダイオード（異常形状品）１１を強制的
にかき落とすかき落とし板１２が設けられている。この
かき落とし板１２は、前記支持部材７に支持された固定
具１３に取付けられている。ここで、前記かき落とし板
１２は、直接ダイオード１１に接触するため、該ダイオ
ード１１の特性の劣化を防ぐためと外観に傷を付けない
ように、ゴム、アクリル板、塩化ビニル板等柔らかい材
料が使われる。

前記回転ドラム２は、傾斜板１４上のピローブロック１
５．１５によって傾斜した状態で支持されている。前記
回転ドラム２の先端部には、前記回転ドラム２から送ら
れた正常晶５を正常品箱１６に送る正常品排出トレー１
７が設けられている。前記正常品箱１６の近くには、前
記回転ドラム２内のかき落とし板１２によって強制的に
がき落とされた異常形状品１１を収容する異常品箱１８
が設けられている。前記回転ドラム２の下方には該回転
ドラム２を駆動するモータ１９が設けられ、図示しない
チェーンにより駆動するようになっている。なお、チェ
ーンの他、ベルト、歯車などでも使用でき、駆動形態は
特に限定されない。

前記モータ１９の下方には、処理能力・選別精度によっ
て前記傾斜板１４の高さ、角度を調整する調節ネジ２０
が設けられている。また、前記回転ドラム２の下方には
、前記パーツフィーダー１の送り速度と回転ドラム２の
回転速度を調節する制御盤２１が設けられている。なお
、図中の２２は、回転ドラムを支持するカムフォロアー
である。

こうした構造の装置において、ダイオードの選別原理は
第４図（ａ）、（ｂ）に示す通りである。

同図（ａ）はフラットバー４の溝４ａに正常晶５が入っ
た場合で、重心位置は溝４ａ内のＰｌにくる。一方、同
図（ｂ）は異常形状品１１が入った場合で、その重心位
置はＰ２は溝４ａの外にくる。

こうしたことから、重心の差を利用して上記のダイオー
ドの落下位置が決定される。即ち、同図（ａ）の場合そ
の落下位置以前で正常晶５が落ち、トレー９に集められ
るが、同図（ｂ）の場合その落下位置で落ち、かき落と
し板１２によってその効果を高めている。

しかして、上記実施例に係る半導体形状選別装置は、Ｄ
Ｏ型のダイオードを送るパーツフィーダー１、このパー
ツフィーダー１から送給されたダイオードを該ダイオー
ドの自重落下を利用して正常晶と異常形状品とに選別す
る回転ドラム２、及び前記パーツフィーダー１の送り速
度及び回転ドラム２の回転を制御する制御盤２１などか
ら構成した構造となっているため、ダイオードの正常晶
・異常形状品の別を自動的に連続して選別することがで
きる。従って、従来と比べ選別の信頼性が高いとともに
、生産数の増加、作業員の削減、安定した選別基準の均
一化ができる。事実、ドラム回転数６ｒ、ｐ、ｉ、処理
能力４００　ｐ／ｓｉｎ　、傾斜角度３．５度、トラム
全長１０ｏＯ１ｌＩ１１内径Φ４９０１溝数６０ケで、
選別精度が９８％以上（従来は９０％）であった。

［発明の効果コ 以上詳述した如く本発明によれば、同軸ピンタイプの半
導体素子の形状の良否を機械的に連続して処理し得る選
別率の高い半導体形状選別装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】 第１図は本発明の一実施例に係る半導体形状選別装置の
概略説明図、第２図は同装置の回転ドラムの説明図、第
３図（ａ）、（ｂ）は夫々同回転ドラム内のフラットバ
ーの形状説明図、第４図（ａ）、（ｂ）は夫々同フラッ
トバーの溝内に正常晶、異常形状品が入った場合の説明
図、第５図（ａ）〜（令）図は夫々半導体素子の種々な
形態を示す説明図である。 １・・・パーツフィーダー、２・・・回転ドラム、３・
・・ドラム本体、４・・・フラットバー、５・・・正常
晶、６・・・選別板、９・・・トレー、１１・・・異常
形状品、１２・・・かき落とし板、１５・・・ビローブ
ロック、１６・・・正常晶箱、１７・・・正常品排出ト
レー、。 １８・・・異常品箱、２１・・・制ｍ＋ａ、２２・・・
カムフォア−０ 出願人代理人　弁理士　鈴江武彦 （ａ） （ｂ） 第３図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 同軸ピンタイプの半導体素子を連続送りするパーツフィ
   ーダーと、このパーツフィーダーから送られた半導体素
   子を該素子の自重落下を利用して正常品と異常形状品と
   に選別する回転ドラムと、前記パーツフィーダーの送り
   速度と回転ドラムの回転速度により処理能力を制御する
   制御盤と、前記回転ドラムに連結され正常品のみ送り出
   される正常品排出トレーとからなり、前記回転ドラムが
   、傾斜したドラム本体と、このドラム本体の内壁に設け
   られ半導体素子を縦長状に保持するフラットバーと、正
   常品のみを受取る選別板と、この選別板の上に落ちた正
   常品を集めるトレーと、異常形状品を強制的にかき落と
   す部材とを具備することを特徴とする半導体形状選別装
   置。