JPH01120123A - 半導体集積回路の入力回路 - Google Patents
半導体集積回路の入力回路Info
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- JPH01120123A JPH01120123A JP62278044A JP27804487A JPH01120123A JP H01120123 A JPH01120123 A JP H01120123A JP 62278044 A JP62278044 A JP 62278044A JP 27804487 A JP27804487 A JP 27804487A JP H01120123 A JPH01120123 A JP H01120123A
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- Japan
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- drain
- bias voltage
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Links
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- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 6
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 6
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 6
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 6
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/09432—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors with coupled sources or source coupled logic
- H03K19/09436—Source coupled field-effect logic [SCFL]
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的コ
(産業上の利用分野)
本発明は半導体集積回路、特にGaA@(ガリウム・ヒ
素)基板を用いた集積回路に係シ、特にシ冒ットキーま
たは接合型の電界効果トランジスタを用いた入力回路に
関する。
素)基板を用いた集積回路に係シ、特にシ冒ットキーま
たは接合型の電界効果トランジスタを用いた入力回路に
関する。
(従来の技術)
GaAs集積回路における従来の入力回路は、第3図に
示すように、たとえば接合型のFET (電界効果トラ
ンジスタ)Ql−Qzのソース同士がW[されたSCF
L (ソース結合FET論理〕型回路3。
示すように、たとえば接合型のFET (電界効果トラ
ンジスタ)Ql−Qzのソース同士がW[されたSCF
L (ソース結合FET論理〕型回路3。
が用いられている。ここで、Q3〜Qsはバイアス電流
源用のFET,R1−R6は抵抗素子であり, FET
Qa 、QγおよびダイオードDムe D、はソースフ
ォロア回路31.32を形成している。
源用のFET,R1−R6は抵抗素子であり, FET
Qa 、QγおよびダイオードDムe D、はソースフ
ォロア回路31.32を形成している。
上記入力回路において、差動的な入力信号IN。
INはソース接地された入力用トラ/−)スタQl。
Q3のf−)に入力される。このソース接地型のトラン
ジスタQ1.Q3の入力インピーダンスは非常に大きな
値、(数MΩ以上)であり、低インピーダンスの同軸ケ
ーブル等の伝送路(図示せず)を経た入力信号INが与
えられる場合には、上記トランジスタQ1.(hのe−
ト電極で略100%反射され。
ジスタQ1.Q3の入力インピーダンスは非常に大きな
値、(数MΩ以上)であり、低インピーダンスの同軸ケ
ーブル等の伝送路(図示せず)を経た入力信号INが与
えられる場合には、上記トランジスタQ1.(hのe−
ト電極で略100%反射され。
前記低インピーダンス線路を経て信号源(別の集積回路
等)へ戻っていく。この信号源の出力インピーダンスが
上記低インピーダンス線路と整合がとれていれば、上記
反射による信号源出力への影響は生じない。また、上記
伝送路が仮送信号の波長に比べて十分に短かい場合にも
上記影響は生じない。しかし、入力信号の周波数が高い
場合には、前記トランジスタQl * Qtの?−)に
よる反射(つまり、上記集積回路の入力端における反射
)が前記信号源出力に悪影響を及ぼすので大きな問題と
なる。
等)へ戻っていく。この信号源の出力インピーダンスが
上記低インピーダンス線路と整合がとれていれば、上記
反射による信号源出力への影響は生じない。また、上記
伝送路が仮送信号の波長に比べて十分に短かい場合にも
上記影響は生じない。しかし、入力信号の周波数が高い
場合には、前記トランジスタQl * Qtの?−)に
よる反射(つまり、上記集積回路の入力端における反射
)が前記信号源出力に悪影響を及ぼすので大きな問題と
なる。
このような問題に対処するため、従来は前記集積回路の
入力端に終端抵抗(図示せず)を接地端との間に接続し
ていたが、上記入力端から集積回路チップ内部までのリ
ード等のインピーダンスが問題となるような高速デバイ
スにおいては、入力回路の入力インピーダンスを外部の
入力伝送線路のインピーダンスに対して整合をと9、入
力端における信号の反射を極力抑えることが望ましい。
入力端に終端抵抗(図示せず)を接地端との間に接続し
ていたが、上記入力端から集積回路チップ内部までのリ
ード等のインピーダンスが問題となるような高速デバイ
スにおいては、入力回路の入力インピーダンスを外部の
入力伝送線路のインピーダンスに対して整合をと9、入
力端における信号の反射を極力抑えることが望ましい。
また、従来の入力回路は、入力信号IN、IN がトラ
ンジスタQ1.Qsのf−)に直接に入力するので、サ
ージ入力によってトランジスタQt 、(hのff−)
の絶縁が破壊するおそれがあった。
ンジスタQ1.Qsのf−)に直接に入力するので、サ
ージ入力によってトランジスタQt 、(hのff−)
の絶縁が破壊するおそれがあった。
(発明が解決しようとする問題点)
本発明は、上記したように入力回路の入力インピーダン
スが高いので、入力信号伝送路のインピーダンスが低い
場合に入力反射が生じてしまい。
スが高いので、入力信号伝送路のインピーダンスが低い
場合に入力反射が生じてしまい。
入力感度および動作周波数が低下するという問題点、お
よびサージ入力に対する耐圧が低いという問題点を解決
すべくなされたもので、入力信号伝送路のインピーダン
スに整合するように入力インピーダンスを低く設定する
ことが可能であシ、入力感度および動作周波数の向上を
図ることができ、しかもサージ耐圧が高い半導体集積回
路の入力回路を提供することを目的とする。
よびサージ入力に対する耐圧が低いという問題点を解決
すべくなされたもので、入力信号伝送路のインピーダン
スに整合するように入力インピーダンスを低く設定する
ことが可能であシ、入力感度および動作周波数の向上を
図ることができ、しかもサージ耐圧が高い半導体集積回
路の入力回路を提供することを目的とする。
[発明の構成コ
(問題点を解決する丸めの手段)
本発明の半導体集積回路の入力回路は、第1の電源ノー
ドと第2の電源ノードとの間に、ドレイン負荷抵抗素子
、シ1ットキーまたは接合型の電界効果トランジスタの
ドレイン・ソース間およびソース側入力抵抗素子を直列
に接続し、上記トランジスタのff−)にバイアス電圧
を印加し、上記トランジスタのソースに集積回路外部か
ら入力する入力信号電圧を与え、そのドレインから出方
信号電圧を取り出すようにしてなることを特徴とする。
ドと第2の電源ノードとの間に、ドレイン負荷抵抗素子
、シ1ットキーまたは接合型の電界効果トランジスタの
ドレイン・ソース間およびソース側入力抵抗素子を直列
に接続し、上記トランジスタのff−)にバイアス電圧
を印加し、上記トランジスタのソースに集積回路外部か
ら入力する入力信号電圧を与え、そのドレインから出方
信号電圧を取り出すようにしてなることを特徴とする。
なお、上記ソース側入力抵抗素子を省略してトランジス
タのソースを開放状態にしてもよい。
タのソースを開放状態にしてもよい。
(作用)
入力用の電界効果トランジスタのソースから入力回路側
を見た入力インピーダンスを入力信号伝送路のインピー
ダンスに容易に整合させることが可能になシ、たとえば
50Ωのように低いインピーダンスの入力信号伝送路か
らの高周波信号入力に対して反射がなく、高い入力感度
を得ることが可能になる。また、入力信号が入力用のト
ランジスタのソースに与えられるので、サージ耐圧が高
い。
を見た入力インピーダンスを入力信号伝送路のインピー
ダンスに容易に整合させることが可能になシ、たとえば
50Ωのように低いインピーダンスの入力信号伝送路か
らの高周波信号入力に対して反射がなく、高い入力感度
を得ることが可能になる。また、入力信号が入力用のト
ランジスタのソースに与えられるので、サージ耐圧が高
い。
(実施例)
以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。
る。
第1図はGaAs集積回路における入力回路を示してお
シ、1は接地端子、2はたとえば−5,2vが与えられ
る電源端子、3および4は差動入力信号IN、INの入
力端子、5は第1のバイアス電圧(vml)ノード、6
は第2のバイアス電圧(V、2)ノード、7は第3のバ
イアス電圧(V、、)ノード、Q1〜Q参はシ箇ットキ
ーまたは接合型のFET、D1〜D4はダイオード、R
1−R1・は抵抗素子、8および9は差動出力信号OU
T 、 OUTの出力ノードである。
シ、1は接地端子、2はたとえば−5,2vが与えられ
る電源端子、3および4は差動入力信号IN、INの入
力端子、5は第1のバイアス電圧(vml)ノード、6
は第2のバイアス電圧(V、2)ノード、7は第3のバ
イアス電圧(V、、)ノード、Q1〜Q参はシ箇ットキ
ーまたは接合型のFET、D1〜D4はダイオード、R
1−R1・は抵抗素子、8および9は差動出力信号OU
T 、 OUTの出力ノードである。
ここで、入力用のトランジスタQs 、Q惨の各ゲート
は第1のバイアス電圧ノード5に接続され、その各ドレ
インは対応してドレイン負荷用の抵抗素子R7、R,を
介して接地ノードに接続され、その各ソースは対応して
入力用の抵抗素子R@ r R1゜を介して第3のバイ
アス電圧ノード7に接続されると共に各対応して入力端
子3.4に接続されており、これらによって入力増幅回
路IOが形成されている。上記入力用のトランジスタQ
s = Qsの各ドレインは、対応してダイオードD、
、 D4を順方向に介して5CFL回路(ソース結合
FET論理型回路)SOの一対の入力ノードに接続され
ている。
は第1のバイアス電圧ノード5に接続され、その各ドレ
インは対応してドレイン負荷用の抵抗素子R7、R,を
介して接地ノードに接続され、その各ソースは対応して
入力用の抵抗素子R@ r R1゜を介して第3のバイ
アス電圧ノード7に接続されると共に各対応して入力端
子3.4に接続されており、これらによって入力増幅回
路IOが形成されている。上記入力用のトランジスタQ
s = Qsの各ドレインは、対応してダイオードD、
、 D4を順方向に介して5CFL回路(ソース結合
FET論理型回路)SOの一対の入力ノードに接続され
ている。
この5CFL回路30は、接地端子1と電源端子2との
間に設けられており、従来例と同様に、一対のトランジ
スタQl 、(hと、一対のドレイン負荷抵抗素子R1
* Jと、共通の負荷抵抗素子R6と、y−トが前記第
2のバイアス電圧ノード6に接続されたバイアス電流源
用のトランジスタQ3と、このトランジスタQ3のソー
ス側に接続された抵抗素子R3とからなる。そして、上
記S CFL回路30の一対の出力ノードは各対応して
ソースフォロア回路31.32に接続されている。この
ソースフォロア回路31.32は、それぞれ接地端子1
と電源端子2との間に設けられておシ、前記5CFL回
路30の一対の出力ノードに各対応してゲートが接続さ
れたトランジスタQs = Qγと、ダイオードDI
+ D2と、前記第2のバイアス電圧ノード6にf−)
が接続されたトランジスタQ4 、Qsと、抵抗素子R
4、Rsとからなシ、ダイオードD1+ D2とトラン
ジスタQa 、Qsとの各接続点が一対の出力ノード9
,8となっている。
間に設けられており、従来例と同様に、一対のトランジ
スタQl 、(hと、一対のドレイン負荷抵抗素子R1
* Jと、共通の負荷抵抗素子R6と、y−トが前記第
2のバイアス電圧ノード6に接続されたバイアス電流源
用のトランジスタQ3と、このトランジスタQ3のソー
ス側に接続された抵抗素子R3とからなる。そして、上
記S CFL回路30の一対の出力ノードは各対応して
ソースフォロア回路31.32に接続されている。この
ソースフォロア回路31.32は、それぞれ接地端子1
と電源端子2との間に設けられておシ、前記5CFL回
路30の一対の出力ノードに各対応してゲートが接続さ
れたトランジスタQs = Qγと、ダイオードDI
+ D2と、前記第2のバイアス電圧ノード6にf−)
が接続されたトランジスタQ4 、Qsと、抵抗素子R
4、Rsとからなシ、ダイオードD1+ D2とトラン
ジスタQa 、Qsとの各接続点が一対の出力ノード9
,8となっている。
上記入力回路においては、入力端子3,4に接続された
集積回路外部の入力信号伝送路(図示せず)のインピー
ダンス(たとえば50Ω)に整合をとるように、入力用
抵抗素子Rs+Rtoの抵抗値を例えば50Ωに設定し
ておくものとする。いま、入力信号IN、IN とし
て例えばECL (エミッタ結合論理型回路)レベルが
与えられるものとし、そのハイレベルv!Bが−0,9
8V、ロウレベルvKLが−1,63Vであるとする。
集積回路外部の入力信号伝送路(図示せず)のインピー
ダンス(たとえば50Ω)に整合をとるように、入力用
抵抗素子Rs+Rtoの抵抗値を例えば50Ωに設定し
ておくものとする。いま、入力信号IN、IN とし
て例えばECL (エミッタ結合論理型回路)レベルが
与えられるものとし、そのハイレベルv!Bが−0,9
8V、ロウレベルvKLが−1,63Vであるとする。
入力トランジスタQa、Qsの閾値電圧V□が−0,7
V、ゲート・ソース間順方向電圧V、が0.7Vである
と、次式が成シ立つ。
V、ゲート・ソース間順方向電圧V、が0.7Vである
と、次式が成シ立つ。
VIH<V、、+V、=VB、+0.7V
−(1)v、L(vB、 +v、=v、、 +0.7V
−(2)、’、VB1>VIH−0,7
V=−0,98−0,7=−1,68V−(3)ここで
、v、1は第1のバイアス電圧ノード5のi4イアス電
圧である。また、 ”II>vB1+v?ff=VBl−o−””
+++ (4)v、L)v、、 +v、、=v
、、−0.7V −(5)、、V、1<v
xL+o、7=−1,63+0.7=−0,93V−(
6)上式(3) 、 (6)から −1,6B V(V、、 (−0,93V
・” (7)となるように設定しておけば、上記入
力回路は増幅動作が可能である。
−(1)v、L(vB、 +v、=v、、 +0.7V
−(2)、’、VB1>VIH−0,7
V=−0,98−0,7=−1,68V−(3)ここで
、v、1は第1のバイアス電圧ノード5のi4イアス電
圧である。また、 ”II>vB1+v?ff=VBl−o−””
+++ (4)v、L)v、、 +v、、=v
、、−0.7V −(5)、、V、1<v
xL+o、7=−1,63+0.7=−0,93V−(
6)上式(3) 、 (6)から −1,6B V(V、、 (−0,93V
・” (7)となるように設定しておけば、上記入
力回路は増幅動作が可能である。
次に、出力信号振f@を求める。入力用トランジスタQ
8のドレイン電流I、は定数をK、ゲート電圧f!:v
oで表わすと、 I、=K(Vo−vra)2”’ (8)となり、ド
レイ/電圧V、は Vd=−R,xId・(9) となる。V!II=−0,9V、 V、1=−1,3V
ノとき(7) Id。
8のドレイン電流I、は定数をK、ゲート電圧f!:v
oで表わすと、 I、=K(Vo−vra)2”’ (8)となり、ド
レイ/電圧V、は Vd=−R,xId・(9) となる。V!II=−0,9V、 V、1=−1,3V
ノとき(7) Id。
■、は
I、1=K ((vtH−vi+1 ) −vTH)2
、、、K ((−0,9+1.3 )+0.7 ) =
1.21K ・・・ αQVd=−R7X 1.21
K ・・(11)となる。同
様に、VIL=−1,75Vのとき工d”K((vIL
−vll )−V7H)2=K ((−1,75+1
.3 )+0.7 )#o、o63K・・・ (6)V
d=−R7X0.063K ・el
lとなる。
、、、K ((−0,9+1.3 )+0.7 ) =
1.21K ・・・ αQVd=−R7X 1.21
K ・・(11)となる。同
様に、VIL=−1,75Vのとき工d”K((vIL
−vll )−V7H)2=K ((−1,75+1
.3 )+0.7 )#o、o63K・・・ (6)V
d=−R7X0.063K ・el
lとなる。
上記のように、トランジスタQ8のドレイン電圧V、は
抵抗素子R?とトランジスタQsのに値との積に依存す
る。そして、入力信号がハイレベルv1□のときにはド
レイン電圧vdはほぼ接地電位に近くなるので1次段の
5CFL回路3oとの接続にはレベルシフト用のダイオ
ードDB + D4が用いられている。
抵抗素子R?とトランジスタQsのに値との積に依存す
る。そして、入力信号がハイレベルv1□のときにはド
レイン電圧vdはほぼ接地電位に近くなるので1次段の
5CFL回路3oとの接続にはレベルシフト用のダイオ
ードDB + D4が用いられている。
また、上記入力回路によれば、入力信号を入力用トラン
ジスタのソースに与えているので、入力信号がトランジ
スタのゲートに与えられる従来例に比べてサージ入力に
対する耐圧が向上している。
ジスタのソースに与えているので、入力信号がトランジ
スタのゲートに与えられる従来例に比べてサージ入力に
対する耐圧が向上している。
なお、入力信号伝送路とのインピーダンス整合をとる上
で、入力用抵抗素子R・1R1oを省略し、第2図に示
すように、入力用トランジスタQ・、Q[株]のソース
を開放状態にするように変形実施することも可能である
。
で、入力用抵抗素子R・1R1oを省略し、第2図に示
すように、入力用トランジスタQ・、Q[株]のソース
を開放状態にするように変形実施することも可能である
。
[発明の効果]
上述したように本発明の半導体集積回路の入力回路によ
れば、入力信号伝送路のインピーダンスに整合するよう
に入カイ/ビーダンスを低く設定することが容易であシ
、入力感度および動作周波数を高くすることが可能にな
シ、サージ耐圧を第1図は本発明の半導体集積回路の入
力回路の一実施例を示す回路図、第2図は同じく他の実
施例を示す回路図、第3図は従来の半導体集積回路の入
力回路を示す回路図である。
れば、入力信号伝送路のインピーダンスに整合するよう
に入カイ/ビーダンスを低く設定することが容易であシ
、入力感度および動作周波数を高くすることが可能にな
シ、サージ耐圧を第1図は本発明の半導体集積回路の入
力回路の一実施例を示す回路図、第2図は同じく他の実
施例を示す回路図、第3図は従来の半導体集積回路の入
力回路を示す回路図である。
1・・・接地端子、2・・・電源端子、3.4・・・入
力端子、5.6.7・・・バイアス電圧ノード、8,9
・・・出力ノード、10・・・入力増幅回路、30・・
・5CFL回路、31.32・・・ソース7オロア回路
、Q1〜Q―・・・FET 、 D、〜D4・・・ダ
イオード、R1〜RIO・・・抵抗素子。
力端子、5.6.7・・・バイアス電圧ノード、8,9
・・・出力ノード、10・・・入力増幅回路、30・・
・5CFL回路、31.32・・・ソース7オロア回路
、Q1〜Q―・・・FET 、 D、〜D4・・・ダ
イオード、R1〜RIO・・・抵抗素子。
出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第 1 図
第 2rl!J
第3図
Claims (4)
- (1)GaAs集積回路の入力回路として、所定のバイ
アス電圧ノードにゲートが接続され、信号入力端子にソ
ースが接続されたショットキーまたは接合型の入力用の
電界効果トランジスタと、この電界効果トランジスタの
ドレインと所定の電源ノードとの間に接続されたドレイ
ン負荷抵抗素子とを具備し、上記ドレインから出力信号
を取り出すようにしてなることを特徴とする半導体集積
回路の入力回路。 - (2)前記電界効果トランジスタのソースと前記バイア
ス電圧ノードとは異なる別のバイアス電圧ノードとの間
に入力用抵抗素子が接続されてなることを特徴とする前
記特許請求の範囲第1項記載の半導体集積回路の入力回
路。 - (3)前記入力用抵抗素子の値は50Ω程度であること
を特徴とする前記特許請求の範囲第2項記載の半導体集
積回路の入力回路。 - (4)前記電界効果トランジスタのドレイン出力信号を
ソース結合FET論理型回路に入力することを特徴とす
る前記特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれか1項
に記載の半導体集積回路の入力回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62278044A JPH01120123A (ja) | 1987-11-02 | 1987-11-02 | 半導体集積回路の入力回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62278044A JPH01120123A (ja) | 1987-11-02 | 1987-11-02 | 半導体集積回路の入力回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01120123A true JPH01120123A (ja) | 1989-05-12 |
Family
ID=17591865
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62278044A Pending JPH01120123A (ja) | 1987-11-02 | 1987-11-02 | 半導体集積回路の入力回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01120123A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0319422A (ja) * | 1989-06-15 | 1991-01-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路 |
JPH04127467A (ja) * | 1990-06-04 | 1992-04-28 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
WO2007018037A1 (ja) * | 2005-08-09 | 2007-02-15 | Hitachi Metals, Ltd. | 高周波スイッチ回路 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6070821A (ja) * | 1983-09-28 | 1985-04-22 | Hitachi Ltd | 入力回路 |
-
1987
- 1987-11-02 JP JP62278044A patent/JPH01120123A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6070821A (ja) * | 1983-09-28 | 1985-04-22 | Hitachi Ltd | 入力回路 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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