JPH01113679A - Testing system of electronic apparatus - Google Patents

Testing system of electronic apparatus

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JPH01113679A
JPH01113679A JP62272075A JP27207587A JPH01113679A JP H01113679 A JPH01113679 A JP H01113679A JP 62272075 A JP62272075 A JP 62272075A JP 27207587 A JP27207587 A JP 27207587A JP H01113679 A JPH01113679 A JP H01113679A
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pallet
unit
jack
test
self
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Shigeru Soeno
添野 茂
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

PURPOSE:To automate a series of function tests completely, to increase the rate of operation of testers and thereby to reduce the cost, by a system wherein an electronic apparatus is mounted on a common palette unit and fed and collected sequentially to and from single-function testers which are arranged. CONSTITUTION:An electronic apparatus 1 is mounted on a palette unit 5 whereon a jack connector board 6 provided with a number of jack-side connectors is disposed in the side edge part of a palette plate 51. This palette unit 5 is carried by a self-propelled vehicle 3 and transferred onto a testing stage 4 of a selected tester 2, and the palette unit 4 is positioned. Next, a contact unit 7 is advanced and thereby a plug-side connector board 8 is connected to the jack-side connector board 6 to execute a prescribed test. By this system wherein the electronic apparatus is fed and collected sequentially to and from a plurality of testers disposed in a desired manner along the running route of the self-propelled vehicle, a series of function tests are automated completely, the rate of operation of the testers is increased, and thus the cost is reduced.

Description

【発明の詳細な説明】 〔目次〕 概要 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする問題点 問題点を解決するための手段 作用 実施例 構成の説明(第1図、第2図、第3図)作用の説明(第
4図、第5図) 発明の効果 〔概要〕 所定の試験機へ電子装置を逐次搬入し、電子装置の一連
の機能試験を、自動的に行う試験システムに関し、  
 ゛ 一連の機能試験の完全自動化が推進され、且つ試験機の
稼動率が高い、電子装置の試験システムを提供すること
を目的とし、 パレット板、及び該パレット板の側縁部に垂直に設置さ
れ、多数のジャック側コネクタを配設したジャックコネ
クタ盤を有するパレットユニットと、該パレット板上に
載置し接続した電子装置と、選択した試験機に添設した
試験台に、該パレットユニットを配送、及び回収する自
走車と、台上に該パレットユニットを受け入れて試験可
能にセントする試験台と、該ジャック側コネクタに嵌合
・接続するプラグ側コネクタが配設され、該試験台上を
前後方向に往復運動するプラグコネクタ盤を有するコン
タクトユニットと、自走車の走行路に沿って、所望に配
設された複数の試験機と、前記各構成体のインターフェ
イス制御を行う制御部と、該電子装置の一連の機能試験
を実施すべ(、該自走車を所望に運行するシステム制御
部とを備えた構成とする。
[Detailed Description of the Invention] [Table of Contents] Overview Industrial Field of Application Conventional Technology Problems to be Solved by the Invention Means for Solving the Problems Explanation of the structure of the working example (Fig. 1, Fig. 2, Figure 3) Explanation of action (Figures 4 and 5) Effects of the invention [Summary] This invention relates to a test system that automatically carries out a series of functional tests on electronic devices by sequentially loading electronic devices into a predetermined testing machine. ,
゛Aiming to provide a testing system for electronic devices that promotes complete automation of a series of functional tests and has a high operating rate of the testing machine, a pallet board and a system installed vertically on the side edge of the pallet board are used. , the pallet unit is delivered to a pallet unit having a jack connector board with a large number of jack-side connectors, an electronic device placed on and connected to the pallet board, and a test stand attached to the selected test machine. , a self-propelled vehicle to collect the pallet unit, a test stand that accepts the pallet unit on the stand so that it can be tested, and a plug-side connector that mates with and connects to the jack-side connector. a contact unit having a plug connector board that reciprocates in the front-rear direction; a plurality of test machines disposed as desired along the travel path of the self-propelled vehicle; and a control unit that performs interface control of each of the components; The system is configured to carry out a series of functional tests of the electronic device (and a system control unit that operates the self-propelled vehicle as desired).

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、所定の試験機へ電子装置を逐次搬入し、電子
装置の一連の機能試験を、自動的に行う試験システムに
関する。
The present invention relates to a test system that sequentially carries electronic devices into a predetermined test machine and automatically performs a series of functional tests on the electronic devices.

近年の通信機器は1.顧客の多様化に伴い、情報伝達手
段が多種多様となり、かつ使用する周波数帯域が広範囲
化している。その結果、通信機器を構成する電子装置が
、多機種になっている。
Communication equipment in recent years is 1. With the diversification of customers, information transmission means are becoming more diverse and the frequency bands used are becoming wider. As a result, there are many types of electronic devices that constitute communication equipment.

一方、通信機器に使用する電子装置は、組立て後に、周
波数試験、パルス波形試験、光信号特性試験等、4〜7
種類の機能試験を実施しなければならない。
On the other hand, after assembly, electronic equipment used in communication equipment undergoes 4 to 7
Various functional tests shall be carried out.

上述のように電子装置の多機種化に伴い、試験設備費が
低く、且つ試験時間が短縮された効率の良い試験システ
ムが要望されている。
As described above, with the increasing variety of electronic devices, there is a demand for an efficient testing system that has low testing equipment costs and shortened testing time.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

電子装置の機種が少ない時は、各機種毎に総合試験装置
を設備し、−台の総合試験装置で、前述の各機能試験を
実施していた。
When there were only a few types of electronic devices, a comprehensive testing device was installed for each model, and each of the above-mentioned functional tests was performed using -1 comprehensive testing devices.

しかし、電子装置の多機種化に伴い、機種毎に総合試験
装置を設ける去ことは、総合試験装置が高価であるので
、設備コストが著しく上昇する。
However, as electronic devices become more diverse, it is necessary to provide a comprehensive testing device for each model, which significantly increases equipment costs because the comprehensive testing device is expensive.

また、それぞれの総合試験装置の稼動率が低下するのが
一般である。
In addition, the operating rate of each comprehensive testing device generally decreases.

したがって多機種の電子装置の試験にあたっては、総合
試験装置を採用せず、異なる機種に共通する単一機能試
験機を所望数設置することにより、設備コストの低減を
はかっている。
Therefore, when testing multiple types of electronic devices, equipment costs are reduced by installing a desired number of single-function testers that are common to different types of devices, rather than using a comprehensive testing device.

そして、電子装置を配送する搬送装置の両側にこれらの
単一機能試験機を、所望に配置し、それぞれの試験機に
付属した試験台上に、試験する電子装置を送り出し、人
手により電子装置と試験機を接続して、機能試験を行っ
ていた。
Then, these single-function test machines are placed as desired on both sides of the transport device that delivers the electronic devices, and the electronic devices to be tested are delivered onto the test bench attached to each test machine, and the electronic devices are manually tested. A test machine was connected and a functional test was performed.

この際、電子装置の入出力コネクタは、その周波数によ
り異なり、例えば1.5MHz以下ならばマルチコネク
タを、1.5MHz以上ならば同軸コネクタをそれぞれ
用いなければならない。したがって、電子装置の機種に
より使用するコネクタの種類が異なり、且つまたそのコ
ネクタ数、コネクタの配列が異なる。
At this time, the input/output connectors of the electronic device differ depending on the frequency; for example, if the frequency is 1.5 MHz or less, a multi-connector must be used, and if the frequency is 1.5 MHz or more, a coaxial connector must be used. Therefore, the types of connectors used differ depending on the type of electronic device, and the number and arrangement of the connectors also differ.

上述の理由により、従来は電子装置と試験機との接続は
、人手に頼らざるをえなかった。
For the above-mentioned reasons, conventionally the connection between the electronic device and the testing machine had to be done manually.

なお、試験時間の長い機能試験工程には、その時間に対
応して、数台の試験機を配置したことは勿論である。
In addition, it goes without saying that several test machines were arranged to correspond to the long test time for the functional test process.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかしながら従来の電子装置と試験機との接続手段が人
手であるために、接続工数が多く、且つまた少な(とも
接続作業時間だけは、試験機の稼動率が低下するという
問題点があった。
However, since the conventional means of connecting the electronic device and the testing machine is manual, the number of man-hours required for connection is large and also short (both the connection work time and the operating rate of the testing machine are reduced).

本発明はこのような点に鑑みて創作されたもので、電子
装置と試験機との接続を自動化して、−連の機能試験の
完全自動化が推進され、且つ試験機の稼動率が高い、電
子装置の試験システムを、提供することを目的としてい
る。
The present invention was created in view of these points, and it automates the connection between the electronic device and the testing machine, promotes complete automation of related functional tests, and increases the operating rate of the testing machine. The purpose is to provide a testing system for electronic devices.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記の問題点を解決するために本発明は、第1図に例示
したように、パレット板51、及びパレット板51の側
縁部に垂直に設置され、多数のジャック側同軸コネクタ
、ジャック側マルチコネクタが配列したジャックコネク
タ盤6、とを有するパレットユニット5と、所望に配置
された試験機2の各試験台4に、電子装置1を搭載した
パレットユニット5を配送する自走車3と、自走車3と
の間でパレットユニット5を授受する送り手段を有し、
台上にパレットユニット5を受け入れて試験可能にセッ
トする試験台4とより構成する。
In order to solve the above problems, the present invention, as illustrated in FIG. a pallet unit 5 having a jack connector board 6 on which connectors are arranged; a self-propelled vehicle 3 that delivers the pallet unit 5 on which the electronic device 1 is mounted to each test stand 4 of the test machine 2 arranged as desired; It has a sending means for delivering and receiving the pallet unit 5 to and from the self-propelled vehicle 3,
It consists of a test stand 4 on which a pallet unit 5 is received and set for testing.

そして、受け入れたパレットユニット5を、試験台4上
の所定の位置に位置決めする手段を設ける。
A means for positioning the received pallet unit 5 at a predetermined position on the test stand 4 is provided.

また試験台4上を前後方向に往復運動をするスライドテ
ーブル71.及びスライドテーブル71の側縁部に垂直
に設置され、ジャック側コネクタに嵌挿するプラグ側同
軸コネクタ、プラグ側マルチコネクタとを配列したプラ
グコネクタ盤8を、有するコンタクトユニット7を設け
、試験台4に装着する。
In addition, a slide table 71 that reciprocates back and forth on the test table 4. A contact unit 7 is installed vertically on the side edge of the slide table 71 and has a plug connector board 8 in which a plug side coaxial connector and a plug side multi-connector are arranged to be inserted into the jack side connector. Attach to.

なお、電子装R1をパレットユニット5に搭載した時点
で、ジャック側コネクタの背面より引き出したケーブル
のケーブルコネクタを、電子装置1の入出力コネクタに
それぞれ接続するものとする。
It is assumed that, when the electronic device R1 is mounted on the pallet unit 5, the cable connectors of the cables pulled out from the back side of the jack-side connector are connected to the input/output connectors of the electronic device 1, respectively.

また、試験機2はケーブルを介して、予めプラグコネク
タ盤8のプラグ側同軸コネクタ、プラグ側マルチコネク
タの裏面側に接続する。
Further, the tester 2 is connected in advance to the back side of the plug-side coaxial connector and the plug-side multi-connector of the plug connector board 8 via a cable.

前記各構成体のインターフェイス制御の実施、及び試験
良否の情報をシステム制御部に送信する÷←÷制御部を
設ける。
A ÷←÷ control unit is provided that controls the interface of each of the components and transmits information regarding test pass/fail to the system control unit.

それぞれが異なる機能試験を行う複数の試験機を所望に
配列し、システム制御部の指令により自走車3を所望に
運行して、電子装置1を選択した試験機に逐次供給・回
収して、一連の機能試験を実施するという構成とする。
A plurality of test machines, each of which performs a different functional test, are arranged as desired, the self-propelled vehicle 3 is operated as desired according to commands from the system control unit, and the electronic device 1 is sequentially supplied to and collected from the selected test machine. The structure consists of conducting a series of functional tests.

〔作用〕[Effect]

上記本発明の手段によれば、ジャックコネクタ盤6とプ
ラグコネクタ盤8には、電子装置1の各機種に汎用性あ
るコネクタが対応して配設されており、且つ、予め電子
装置lとジャックコネクタ盤6、及びプラグコネクタ盤
8と試験機2、をそれぞれ接続しである。
According to the above means of the present invention, the jack connector board 6 and the plug connector board 8 are provided with connectors that are versatile to each model of the electronic device 1, and are preliminarily arranged to connect the electronic device 1 and the jack. The connector board 6 and the plug connector board 8 are connected to the testing machine 2, respectively.

よって、パレットユニット5を試験台4の所定の位置に
位置決めした後に、コンタクトユニット7が前進すると
ジャックコネクタ盤6とプラグコネクタ盤8とが嵌合し
、電子装置1と試験機2との間の試験回路が、自動的に
接続する。
Therefore, after the pallet unit 5 is positioned at a predetermined position on the test stand 4, when the contact unit 7 moves forward, the jack connector board 6 and the plug connector board 8 are fitted, and the connection between the electronic device 1 and the testing machine 2 is established. The test circuit will connect automatically.

なお、自走車3と試験台4間のパレットユニット5の授
受、パレットユニット5の試験台4上での位置決め、コ
ンタクトユニット7の駆動、試験機2の試験開始、及び
試験終了、コンタクトユニット7の離脱等の一連のイン
ターフェイス制御は、制御部20によって実施される。
In addition, the transfer of the pallet unit 5 between the self-propelled vehicle 3 and the test stand 4, the positioning of the pallet unit 5 on the test stand 4, the driving of the contact unit 7, the start and end of the test on the testing machine 2, the contact unit 7 A series of interface controls such as separation of the terminal are performed by the control unit 20.

また、システム制御部は、試験すべき機能に対応する試
験機を選択し自走車3を運行し、電子装置lを選択した
試験台4のステーションに配送する。
Further, the system control unit selects a test machine corresponding to the function to be tested, operates the self-propelled vehicle 3, and delivers the electronic device 1 to the station of the selected test stand 4.

即ち、選択した試験機への電子装置の配送−自走車より
試験台への移載−試験回路の接続−試験の実施−試験台
より自走車への電子装置の移載という、一連の作業が自
動化され、総ての機能検査が終了する。したがって、そ
れぞれの試験機の待ち時間が減少して、試験機の稼動率
が向上する。
In other words, the series of steps is as follows: delivery of the electronic device to the selected test machine - transfer from the self-propelled vehicle to the test stand - connection of the test circuit - execution of the test - transfer of the electronic device from the test stand to the self-propelled vehicle. The work is automated and all functional tests are completed. Therefore, the waiting time of each test machine is reduced, and the operating rate of the test machines is improved.

〔実施例〕〔Example〕

以下図を参照しながら、本発明を具体的に説明する。な
お、全図を通じて同一符号は同一対象物を示す。
The present invention will be specifically described below with reference to the drawings. Note that the same reference numerals indicate the same objects throughout the figures.

第1図は本発明の構成図、第2図は本発明の実施例の斜
視図、第3図は本発明の要部を示す図で(a)はパレッ
トユニットの斜視図、山)はプラグコネクタ盤部分の側
面図、(C)は同軸コネクタの断面図であり、第4図は
本発明の実施例のレイアウト図、第5図は本発明のフロ
ーチャートである。
Fig. 1 is a configuration diagram of the present invention, Fig. 2 is a perspective view of an embodiment of the invention, Fig. 3 is a diagram showing the main parts of the present invention, (a) is a perspective view of a pallet unit, and (a) is a plug FIG. 4 is a side view of the connector board portion, (C) is a sectional view of the coaxial connector, FIG. 4 is a layout diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a flow chart of the present invention.

第1図及び第2図において、5は、アルミニウム等の金
属板よりなるパレット板51と、パレット板51の前側
の側縁に垂直に設置したジャックコネクタ盤6とで構成
したパレットユニットである。
In FIGS. 1 and 2, reference numeral 5 denotes a pallet unit composed of a pallet plate 51 made of a metal plate such as aluminum, and a jack connector board 6 installed perpendicularly to the front side edge of the pallet plate 51.

パレット板51は、詳細を第・3図(a)に示すように
、最大形状の電子装置1を載置し得る角形であって、ジ
ャックコネクタ盤6に直交する方向く即ち自走車3の前
進方向に並行する方向)の一方の側縁(パレットユニッ
ト5を自走車3に搭載した状態で左側の側縁)の中央部
分を、逆台形に切削加工して、前後方向(自走車3の前
進方向をいう)左基準側縁55を設け、他方の側縁の中
央部分もまた逆台形に切削加工して右基準側縁56を設
けである。
As shown in detail in FIG. 3(a), the pallet board 51 has a rectangular shape on which the largest electronic device 1 can be placed, and faces perpendicularly to the jack connector board 6, that is, in the direction of the self-propelled vehicle 3. The central part of one side edge (the left side edge when the pallet unit 5 is mounted on the self-propelled vehicle 3) in the forward direction (parallel to the forward direction) is cut into an inverted trapezoid. A left reference side edge 55 is provided (referring to the forward direction of 3), and a right reference side edge 56 is provided by cutting the center portion of the other side edge into an inverted trapezoid.

この基準側縁は、パレットユニット5を試験台4に載置
した場合に、パレットユニット5の左右方向の位置決め
の基準となる。
This reference side edge serves as a reference for positioning the pallet unit 5 in the left and right direction when the pallet unit 5 is placed on the test stand 4.

ジャックコネクタ盤6には、詳細を第3図(b)に示す
ように、電子装置の機種のなかで、搭載される最大数の
同軸コネクタ数に等しいか、或いはそれ以上の数のジャ
ック側同軸コネクタ61を配設しである。また、電子装
置の機種のなかで、搭載される最大数のマルチコネクタ
数に等しいか、或いはそれ以上の数のジャック側マルチ
コネクタ62を配設しである。
As shown in detail in FIG. 3(b), the jack connector board 6 has a number of jack-side coaxial connectors equal to or greater than the maximum number of coaxial connectors installed in the electronic device model. A connector 61 is provided. Furthermore, the number of jack-side multi-connectors 62 is equal to or greater than the maximum number of multi-connectors that can be mounted among electronic device models.

さらに、ジャックコネクタ盤6の両側には、プラグコネ
クタ盤8が嵌合するにあたり、ガイドとなるガイド孔6
5を設けである。
Further, on both sides of the jack connector board 6, there are guide holes 6 that serve as guides when the plug connector board 8 is fitted.
5 is provided.

電子装置1をパレットユニット5に搭載した時点で、ジ
ャック側コネクタの背面より引き出しであるケーブルの
ケーブルコネクタのうち、該機種に必要とするものを選
択して、電子装置の入出力コネクタに接続する。
When the electronic device 1 is mounted on the pallet unit 5, select the cable connector required for the model from among the cable connectors of the cable drawn out from the back of the jack side connector and connect it to the input/output connector of the electronic device. .

3は、システム制御部(第4図に示すシステム制御部1
00)の指令により所定のステーションで停止し、パレ
ットユニット5を指定された試験台4に配送し、また指
定された試験台4からパレットユニット5を受け取り、
次工程の他の試験台に配送する自走車である。
3 is a system control unit (system control unit 1 shown in FIG.
00), it stops at a predetermined station, delivers the pallet unit 5 to the specified test stand 4, receives the pallet unit 5 from the specified test stand 4,
This is a self-propelled vehicle that delivers to other test stands for the next process.

4は、試験機2に添設した試験台であって、自走車3か
ら電子装置lが搭載された状態のパレットユニット5を
受取り、台上の所定の位置にパレットユニット5をセン
トし、ジャックコネクタ盤6とプラグコネクタ盤8とを
嵌合接続して、電子装置1と試験機2との試験回路を接
続する機能を有する。
4 is a test stand attached to the testing machine 2, which receives the pallet unit 5 on which the electronic device l is mounted from the self-propelled vehicle 3, places the pallet unit 5 at a predetermined position on the stand, It has a function of fitting and connecting the jack connector board 6 and the plug connector board 8 to connect the test circuits of the electronic device 1 and the testing machine 2.

試験台4の台表面には、前後方向に長い、並行した複数
条のスリット状の凹部を設け、それぞれの凹部に、第3
図(a)に示すように横送りローラー48を設置しであ
る。この横送りローラー48は、制御部20により制御
されている。卯ち、横送りローラー48の円周面は、常
時は台表面の下に埋設されていて、パレットユニット5
の移載時に水平状態を保って上昇し、その円周面の上部
が台表面部分に露出し、パレット板51を、水平状態の
ままわずかに持ち上げる。
The surface of the test table 4 is provided with a plurality of parallel slit-like recesses that are long in the front-rear direction, and each recess is provided with a third groove.
As shown in Figure (a), a lateral feed roller 48 is installed. This lateral feed roller 48 is controlled by the control section 20. The circumferential surface of the cross-feeding roller 48 is normally buried under the table surface, and the pallet unit 5
When the pallet board 51 is transferred, it rises while maintaining a horizontal state, and the upper part of its circumferential surface is exposed on the platform surface, and the pallet board 51 is slightly lifted while remaining in a horizontal state.

そして、自走車3からパレットユニット5を受入れる時
は第3図(a)のように左回転して、パレット板51.
即ちパレットユニット5を試験台4上に矢印A方向に引
き込む。また、自走車3へ移載時には、右回転し、パレ
ットユニット5を自走車3方向に送り出す。
When receiving the pallet unit 5 from the self-propelled vehicle 3, the pallet plate 51 is rotated counterclockwise as shown in FIG. 3(a).
That is, the pallet unit 5 is pulled onto the test stand 4 in the direction of arrow A. Moreover, when transferring to the self-propelled vehicle 3, the pallet unit 5 is rotated clockwise and sent out in the direction of the self-propelled vehicle 3.

なお、自走車3にも前記横送りローラー48に類似した
横送りローラーを設けである。
Note that the self-propelled vehicle 3 is also provided with a transverse feed roller similar to the above-mentioned transverse feed roller 48.

横方向に送られて試験台4上に送りこまれたパレットユ
ニット5は、左基準側縁55部分が試験台上に突出した
左位置決めピン45に、当接することにより横送り運動
が停止する。
The pallet unit 5 that has been fed in the lateral direction onto the test stand 4 stops its lateral movement when the left reference side edge 55 comes into contact with the left positioning pin 45 that projects above the test stand.

そして、常時は台表面下に沈んでいた右位置決めピン4
6が上昇し、右位置決めピン46の左テーパー側面が右
基準側縁56の側壁に接して、左位置決めピン45と右
位置決めピン46の間にパレット板51を挟む。よって
、パレットユニット5の左右方向の位置が所定に定まる
And the right positioning pin 4, which was usually sunk below the table surface.
6 rises, the left tapered side surface of the right positioning pin 46 comes into contact with the side wall of the right reference side edge 56, and the pallet board 51 is sandwiched between the left positioning pin 45 and the right positioning pin 46. Therefore, the position of the pallet unit 5 in the left and right direction is determined in a predetermined manner.

ピストンロッド41aが前後方向に駆動する一対の流体
シリンダ41を、試験台4のコンタクトユニット7側の
両側に設置しである。またコンタクトユニット7とは反
対側の台表面の両側に、一対の前後位置決めピン42を
設けである。
A pair of fluid cylinders 41 driven by a piston rod 41a in the front-rear direction are installed on both sides of the test stand 4 on the contact unit 7 side. Further, a pair of front and rear positioning pins 42 are provided on both sides of the table surface opposite to the contact unit 7.

制御部20の指令により流体シリンダ41が作動すると
、それぞれのピストンロッド41aが、パレット板51
の前端面(第2図では向こう側の端面)に当接し、パレ
ットユニット5を前後位置決めピン42方向(第2図に
示す矢印B方向)に押す。
When the fluid cylinders 41 operate according to a command from the control unit 20, each piston rod 41a moves toward the pallet plate 51.
(the end surface on the other side in FIG. 2) and pushes the pallet unit 5 in the direction of the longitudinal positioning pin 42 (in the direction of arrow B shown in FIG. 2).

そして、パレット板51の後端面(第2図では手前側の
端面)が、前後位置決めピン42に当接することにより
、パレットユニット5の前後方向の位置が所定に定まる
Then, the rear end surface of the pallet plate 51 (the end surface on the near side in FIG. 2) comes into contact with the front-back positioning pin 42, so that the position of the pallet unit 5 in the front-back direction is determined in a predetermined manner.

なお、それぞれの前後位置決めピン42に隣接して位置
確認センサ(例えばマイクロスイッチ)43を設置し、
パレット板51の後端面が、一対の前後位置決めピン4
2のそれぞれに当接したか否かを、確認し、その情報を
制御部20に伝達するようにしである。
Note that a position confirmation sensor (for example, a microswitch) 43 is installed adjacent to each front and rear positioning pin 42,
The rear end surface of the pallet plate 51 is connected to a pair of front and rear positioning pins 4.
2, and the information is transmitted to the control unit 20.

そして、前後位置決めピン42の双方にパレット板51
が当接していない場合には、ピストンロッドを後退させ
、前述の動作を再度繰り返すようにしている。
Pallet plates 51 are placed on both the front and rear positioning pins 42.
If the piston rods are not in contact with each other, the piston rod is moved back and the above-mentioned operation is repeated again.

7は、試験台4上を前後方向に往復運動するスライドテ
ーブル71と、スライドテーブル71のパレットユニッ
ト5側の側縁部に垂直に設置したプラグコネクタ盤8と
で構成したコンタクトユニットである。
Reference numeral 7 denotes a contact unit composed of a slide table 71 that reciprocates back and forth on the test stand 4, and a plug connector board 8 installed vertically on the side edge of the slide table 71 on the pallet unit 5 side.

プラグコネクタ盤8には、詳細を第3図中)に示すよう
に、ジャックコネクタ盤6のジャック側同軸コネクタ6
1に対応してプラグ側同軸コネクタ81を、ジャック側
マルチコネクタ62に対応してプラグ側マルチコネクタ
82をそれぞれ配設しである。
The plug connector board 8 includes a jack-side coaxial connector 6 of the jack connector board 6, as shown in detail in FIG.
1, and a plug-side multi-connector 82 is provided corresponding to the jack-side multi-connector 62.

さらに、プラグコネクタ盤8の両側には、ジャックコネ
クタ盤6に設けたガイド孔65に嵌入するガイドピン8
5を設けである。
Further, on both sides of the plug connector board 8, guide pins 8 that fit into guide holes 65 provided in the jack connector board 6 are provided.
5 is provided.

試験台4の側面に、試験機2を設置し、試験機2に制御
部20を添設しである。試験機2は、周波数試験、パル
ス波形試験、光信号特性試験等の内1つ機能試験を行う
単一機能試験機である。
A testing machine 2 is installed on the side of the test stand 4, and a control section 20 is attached to the testing machine 2. The tester 2 is a single-function tester that performs one of a frequency test, a pulse waveform test, an optical signal characteristic test, and the like.

そして、プラグコネクタ盤8のプラグ側マルチコネクタ
82.プラグ側同軸コネクタ81のそれぞれの端子は、
プラグコネクタ盤8の裏面側より引き出されたケーブル
を介して、試験機2に接続されている。
Then, the plug side multi-connector 82 of the plug connector board 8. Each terminal of the plug-side coaxial connector 81 is
It is connected to the testing machine 2 via a cable pulled out from the back side of the plug connector board 8.

コンタクトユニット7の後方にはコンタクトユニット7
を前後方向に駆動する流体シリンダ72を設置しである
。この流体シリンダ72は、制御部20の指令により駆
動するもので、パレットユニット5を試験台40台上の
所定の位置に位置決め後に作動し、そのピストンロッド
がコンタクトユニット7を前方向(第2図に示、す矢印
B方向)に押す。
The contact unit 7 is located behind the contact unit 7.
A fluid cylinder 72 is installed to drive the engine in the front-back direction. This fluid cylinder 72 is driven by a command from the control unit 20, and is activated after the pallet unit 5 is positioned at a predetermined position on the test stand 40, and its piston rod moves the contact unit 7 in the forward direction (see Fig. 2). (in the direction of arrow B).

その結果、プラグコネクタ盤8がジャックコネクタ盤6
に嵌合するように近接し、プラグコネクタ盤8に設けた
ガイドピン85が、ジャックコネクタ盤6に設けたガイ
ド孔65に嵌入する。
As a result, the plug connector board 8 becomes the jack connector board 6.
A guide pin 85 provided on the plug connector board 8 is fitted into a guide hole 65 provided in the jack connector board 6.

このことにより、そ・れぞれのコネクタ相互間の関係位
置が所定に定まり、それぞれのプラグ側同軸コネクタ8
1が対応するジャック側同軸コネクタ61に、それぞれ
のプラグ側マルチコネクタ82が対応するジャック側マ
ルチコネクタ62に嵌挿して、電気的に接続する。
As a result, the relative positions between the respective connectors are determined in a predetermined manner, and the respective plug-side coaxial connectors 8
1 is inserted into the corresponding jack-side coaxial connector 61, and each plug-side multi-connector 82 is inserted into the corresponding jack-side multi-connector 62 to electrically connect.

同軸コネクタは詳細を第3図(C1に示すように、ジャ
ック側同軸コネクタ61の外部導体6Laの外径が、例
えば9.5龍であり、プラグ側同軸コネクタ81の外部
導体81aの内径が1011である。したがってプラグ
側同軸コネクタ81にジャック側同軸コネクタ61を挿
入する嵌合代は、0.25mであって、非常に小さい。
The details of the coaxial connector are as shown in FIG. Therefore, the fitting distance for inserting the jack-side coaxial connector 61 into the plug-side coaxial connector 81 is 0.25 m, which is very small.

本発明は上述のように、まずパレットユニット5を台上
の所定の個所に位置決めを行い、次に一対のガイド孔6
5とガイドピン85を設けて、高精度の位置出しを実施
している。よって、ジャック側同軸コネクタ61とプラ
グ側同軸コネクタ81との嵌合に、何等の支障がない。
As described above, in the present invention, the pallet unit 5 is first positioned at a predetermined location on the table, and then the pair of guide holes 6 are positioned.
5 and a guide pin 85 are provided to achieve highly accurate positioning. Therefore, there is no problem in fitting the jack side coaxial connector 61 and the plug side coaxial connector 81 together.

プラグ側マルチコネクタ82は、その接触子を、−旦ジ
ャック側マルチコネクタ62の接触子に並行するように
挿入し、その後挿入方向に直交するように移動して相手
の接触子に接触させるコネクタ、即ちゼロインサーショ
ンコネクタを用いている。
The plug-side multi-connector 82 is a connector whose contacts are first inserted parallel to the contacts of the jack-side multi-connector 62, and then moved perpendicular to the insertion direction to contact the mating contacts. That is, a zero insertion connector is used.

即ち、マルチコネクタの挿抜力が小さく、プラグコネク
タ盤8.並びにジャックコネクタ盤6に、不必要に大き
な力が付与されことがない。したがって、ジャックコネ
クタ盤6.及びプラグコネクタ盤8の真直度が低下する
恐れがない。
That is, the insertion/extraction force of the multi-connector is small, and the plug connector board 8. In addition, unnecessary large force is not applied to the jack connector board 6. Therefore, the jack connector board 6. And there is no fear that the straightness of the plug connector board 8 will decrease.

一方、パレットユニット5は、電子装置をバーインする
際に加熱されるので、パレット板51が反る恐れがある
。パレット板51が反っていると、ガイドピン85とガ
イド孔65との間に、高さ方向の位置ずれか生じて、ス
ムーズな嵌合が行われなくなり、ひいてはガイドピン8
5或いはガイド孔65が摩耗して、ガイド機能が低下す
る。
On the other hand, since the pallet unit 5 is heated during burn-in of the electronic device, the pallet board 51 may warp. If the pallet plate 51 is warped, a heightwise positional deviation will occur between the guide pin 85 and the guide hole 65, making it impossible to fit them smoothly, and eventually the guide pin 85 will not fit smoothly.
5 or the guide hole 65 becomes worn, and the guide function deteriorates.

このことを阻止するために、第3図(b)に示すように
、コンタクトユニット7が前進した際に、パレット板5
工のジャックコネクタ盤6近傍を、下方に押圧して、反
りを矯正する手段を設けである。
In order to prevent this, as shown in FIG. 3(b), when the contact unit 7 moves forward, the pallet plate 5
A means is provided for pressing downwardly the vicinity of the jack connector board 6 of the machine to correct the warpage.

詳述するとプラグコネクタ盤8の両側に、一対のパレッ
ト反り矯正ローラー75を設け、水平軸を軸として回転
するように、装着して廿ある。そしてパレット反り矯正
ローラー75の下側の円周面の高さを、反っていない場
合のパレット板51の上面に合わせである。
Specifically, a pair of pallet warp correction rollers 75 are provided on both sides of the plug connector board 8, and are mounted so as to rotate about a horizontal axis. The height of the lower circumferential surface of the pallet warp correction roller 75 is adjusted to match the upper surface of the pallet board 51 when it is not warped.

コンタクトユニット7を前進駆動すると、ガイドピン8
5がガイド孔65に嵌合する前に、パレット反り矯正ロ
ーラー75が、パレット板51の上面を押圧する。よっ
て、パレット板51の反りが矯正されガイドピン85と
ガイド孔65との高さが一致し、双方に無理な力が働か
ず、摩耗する恐れがない。
When the contact unit 7 is driven forward, the guide pin 8
5 fits into the guide hole 65, the pallet warp correction roller 75 presses the upper surface of the pallet plate 51. Therefore, the warpage of the pallet plate 51 is corrected, the heights of the guide pins 85 and the guide holes 65 match, and no unreasonable force is applied to both, and there is no fear of wear.

以下第4図、第5図を参照しながら本発明の詳細な説明
する。
The present invention will be described in detail below with reference to FIGS. 4 and 5.

第4図のように、試験機2−1の後段に試験機2−2を
配置し、走行路を隔てて試験機2−2に対向して試験機
2−3を配置しである。試験機2−2の後段に試験機2
−4を配置し、走行路を隔てて試験機2−4に対向して
試験機2−5を配置しである。尚他の試験機は図示して
ない。試験機2−1.2−2.2−4は、それぞれ周波
数試験、パルス波形試験、光信号特性試験等の内1つ機
能試験を行う単一機能試験機である。
As shown in FIG. 4, the testing machine 2-2 is arranged after the testing machine 2-1, and the testing machine 2-3 is arranged opposite to the testing machine 2-2 across the running path. Testing machine 2 is installed after testing machine 2-2.
-4 is arranged, and a test machine 2-5 is arranged opposite to the test machine 2-4 across the running path. Other test machines are not shown. Testing machines 2-1.2-2.2-4 are single-function testing machines that each perform one of a frequency test, a pulse waveform test, an optical signal characteristic test, and the like.

試験機2−2と試験機2−3、試験機2−4と試験機2
−5とは、それぞれ同じ機能試験を行う試験機であって
、試験工数が他の機能試験のものより、はぼ2倍である
ので、それぞれ2台として、他の試験機とのバランスを
とっている。
Testing machine 2-2 and testing machine 2-3, testing machine 2-4 and testing machine 2
-5 is a testing machine that performs the same functional test, and the test man-hours are almost twice that of other functional tests, so we set two of each to balance it with the other testing machines. ing.

それぞれの試験機には、試験台4−1.4−2.4−3
.4−4.4−5をそれぞれ添設しである。
Each test machine has a test stand 4-1.4-2.4-3.
.. 4-4 and 4-5 are attached respectively.

システム制御部100を設けて、それぞれの電子装置の
良否を制御部20より受信し、あらかじめインプットさ
れた情報にもとずき、自走車3を所望に運行させている
A system control section 100 is provided to receive the quality of each electronic device from the control section 20, and operate the self-propelled vehicle 3 as desired based on information inputted in advance.

自走車3の基点のステーションP、を、試験機2−1の
前段に設け、電子装置lを搭載したパレットユニット5
を、ステーションP0で自走車3に搭載している。自走
車3の走行路は、ループ形で、試験台4−1の横にステ
ーションPLを、試験台4−2と試験台4−3の間にス
テーションP2を、試験台4−4と試験台4−5の間に
ステーションP3をそれぞれ設けである。
A station P, which is the base point of the self-propelled vehicle 3, is provided in the front stage of the testing machine 2-1, and a pallet unit 5 equipped with an electronic device 1 is provided.
is loaded on the self-propelled vehicle 3 at station P0. The running path of the self-propelled vehicle 3 is a loop, with station PL next to test stand 4-1, station P2 between test stand 4-2 and test stand 4-3, and test stand 4-4. A station P3 is provided between each of the stands 4-5.

システム制御部100は、自走車3に、行き先。The system control unit 100 assigns a destination to the self-propelled vehicle 3.

停止するステーション、パレットユニットの試験台への
供給、又は試験台よりの排出等を指令している。
It commands stations to stop, pallet units to be supplied to the test stand, or discharged from the test stand.

上述のように構成しであるので、自走車にパレットユニ
ットを搭載し、システム制御部がステップ101で、選
択した機能試験機のステーションが空いているか否かを
確認する。
Since the system is configured as described above, the pallet unit is mounted on the self-propelled vehicle, and the system control section checks in step 101 whether or not the station of the selected functional testing machine is vacant.

空いている場合は、自走車を発進(ステップ102)さ
せ、その試験機のステーションで自走車を停止(ステッ
プ103)させる。自走車がステーションに到着すると
自走車上の横送りローラー、試験台上の横送りローラー
が、それぞれ駆動してパレットユニットを試験台に移載
(ステップ104)する。
If it is vacant, the self-propelled vehicle is started (step 102) and stopped at the test machine station (step 103). When the self-propelled vehicle arrives at the station, the cross-feeding roller on the self-propelled vehicle and the cross-feeding roller on the test stand are respectively driven to transfer the pallet unit to the test stand (step 104).

なお、ステップ101時点で、ステーションに他の自走
車が停車している場合は、そのステーションが空くまで
待つ(ステップ105)。そして、そのステーションが
空いたら自走車が発進する。即ちステップ102に進む
Note that if another self-propelled vehicle is parked at the station at step 101, the process waits until the station becomes vacant (step 105). Then, when that station becomes vacant, the self-propelled vehicle starts. That is, the process advances to step 102.

流体シリンダが駆動してパレットユニットを、試験台上
の所定の位置に移動(ステップ106)させ、ステップ
107で位置確認センサの手段により、パレットユニッ
トが所定の位置に有るかを検査する。
The fluid cylinder is driven to move the pallet unit to a predetermined position on the test stand (step 106), and in step 107, it is checked by means of a position confirmation sensor whether the pallet unit is in the predetermined position.

所定の位置に無い場合は、ステップ106に戻り、流体
シリンダが位置決め動作が繰り返えす。
If not, the process returns to step 106 and the fluid cylinder positioning operation is repeated.

なお、パレットユニット5試験台に移載するステップ1
04が終了すると、ステップ108で、自走車がそのス
テーションより離脱する。
In addition, step 1 of transferring to pallet unit 5 test stand
04, the self-propelled vehicle leaves the station in step 108.

ステップ107でパレットユニットのセットが良好の場
合は、ステップ109でコンタクトユニットが前進し、
ステップ110でパレット板の反りが矯正され、ステッ
プ111でプラグコネクタ盤がジャックコネクタ盤に嵌
合し接続作業が完了する。
If the pallet unit is set well in step 107, the contact unit moves forward in step 109,
In step 110, the warpage of the pallet plate is corrected, and in step 111, the plug connector board is fitted to the jack connector board, and the connection work is completed.

即ち、電子装置はパレットユニットに搭載された状態で
、ケーブル−ジャックコネクタ盤−プラグコネクタ盤→
−ケーブルを介して、試験機に電気的に接続する。
That is, the electronic equipment is mounted on a pallet unit, and the cable - jack connector board - plug connector board →
- Electrical connection to the test machine via a cable.

そして、ステップ112で試験機が作動して、電子装置
の所定の機能試験を実施する。
Then, in step 112, the test machine is activated to perform a predetermined functional test of the electronic device.

試験が終了すると制御部が試験の終了、及びその良否を
システム制御部に送信する。そして制御部の指令により
コンタクトユニットが後退(ステップ(113)  L
、ジャックコネクタ盤とプラグコネクタ盤との結合が解
除される。
When the test is completed, the control unit transmits the completion of the test and the pass/fail information to the system control unit. Then, the contact unit moves backward according to a command from the control unit (step (113) L
, the connection between the jack connector board and the plug connector board is released.

なお、この時までにステップ114が実施され、空自走
車がこのステーションに到着している。
Incidentally, by this time, step 114 has been executed and the air self-propelled vehicle has arrived at this station.

そして、ステップ115で横送りローラーが前回とは逆
方向に回転し、パレットユニットを自走車へ移載する。
Then, in step 115, the lateral feed roller rotates in the opposite direction to the previous direction, and the pallet unit is transferred to the self-propelled vehicle.

即ち、その試験機での機能試験を終了した電子装置は、
パレットユニットに搭載されたまま自走車に移載される
In other words, the electronic device that has completed the functional test using the test machine is
It is transferred to a self-propelled vehicle while still being mounted on a pallet unit.

そして、ステップ11+で自走車が発進する。Then, in step 11+, the self-propelled vehicle starts.

? ステップ114−で、システム制、御部が電子装置の次
の工程を照合し、ステップ101に戻り次段の試験機に
、電子装置を搬入する。
? In step 114-, the system control unit verifies the next process for the electronic device, and returns to step 101 to carry the electronic device into the next testing machine.

全機能試験が終了している場合は、自走車を試験完了の
ステーションに配送し、電子装置をパレットユニットよ
り取り外す。
If all functional tests have been completed, the self-propelled vehicle is delivered to the test completion station and the electronic equipment is removed from the pallet unit.

なお、特性試験の結果不良と判定された電子装置は、良
品とは別のステーションに配送するものである。
Note that electronic devices determined to be defective as a result of the characteristic test are delivered to a different station from those for non-defective devices.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、各機種に共通のパレット
ユニットに電子装置を搭載し、このパレットユニットを
配列した単一機能試験機に、次々と配送し、回収するよ
うにした電子装置の試験システムであって、電子装置の
一連の機能試験の完全自動化が可能であり、且つそれぞ
れの試験機の稼動率が高(て、設備コストが小さい等、
実用上で優れた効果がある。
As explained above, the present invention provides testing of electronic devices in which electronic devices are mounted on a pallet unit common to each model, and these pallet units are sequentially delivered to and collected from a single function testing machine arranged in an array. The system is capable of fully automating a series of functional tests for electronic devices, and has a high operating rate for each testing machine (with low equipment costs, etc.).
It has excellent practical effects.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の構成図、 第2図は本発明の実施例の斜視図、 第3図の(al、 (b)、 (C1はそれぞれ本発明
の要部を示す図、 第4図は本発明の実施例のレイアウト図、第5図は本発
明のフローチャートである。 図において、 1は電子装置、 2 、2−1.2−2.2−3.2−4.2−5は試験
機、3は自走車、 4.4−1.4−2.4−3.4−4.4−5は試験台
、5はパレットユニット、 6はジャックコネクタ盤、 7はコンタクトユニット、 8はプラグコネクタ盤、 20は制御部、 42は前後位置決めピン、 43は位置確認センサ、 45は左位置決めピン、 46は右位置決めピン、 51はパレット板、 61はジャック側同軸コネクタ、 62はジャック側マルチコネクタ、 65はガイド孔、 81はプラグ側同軸コネクタ、 82はプラグ側マルチコネクタ、 85はガイドピン、 71はスライドテーブル、 75はパレット反り矯正ローラー、 100はシステム制御部をそれぞれ示す。 f−合口Rの熊(ヲ゛1の封現図 犀2I羽 42      4g   (Q> 準 3 図
FIG. 1 is a configuration diagram of the present invention, FIG. 2 is a perspective view of an embodiment of the present invention, FIG. is a layout diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a flowchart of the present invention. In the figure, 1 is an electronic device; 2, 2-1.2-2.2-3.2-4.2-5 is a test machine, 3 is a self-propelled vehicle, 4.4-1.4-2.4-3.4-4.4-5 is a test stand, 5 is a pallet unit, 6 is a jack connector board, 7 is a contact unit , 8 is a plug connector board, 20 is a control unit, 42 is a front and rear positioning pin, 43 is a position confirmation sensor, 45 is a left positioning pin, 46 is a right positioning pin, 51 is a pallet board, 61 is a jack side coaxial connector, 62 is a 65 is a guide hole, 81 is a plug-side coaxial connector, 82 is a plug-side multi-connector, 85 is a guide pin, 71 is a slide table, 75 is a pallet warp correction roller, and 100 is a system control unit. f-Augment R bear (wo゛1 feudal map 2I wing 42 4g (Q> quasi 3 figure

Claims (1)

【特許請求の範囲】  パレット板(51)、及び該パレット板の側縁部に垂
直に設置され多数のジャック側コネクタが配設されたジ
ャックコネクタ盤(6)、を有するパレットユニット(
5)と、 該パレット板(51)上に載置され、選択した該ジャッ
ク側コネクタに接続されてなる試験すべき電子装置(1
)と、 選択した試験機に添設した試験台(4)に、該パレット
ユニット(5)を配送,及び回収する自走車(3)と、 該自走車(3)との間で該パレットユニット(5)を授
受する送り手段を有し、台上に該パレットユニット(5
)を受け入れる試験台(4)と、受け入れた該パレット
ユニット(5)を、該試験台(4)上の所定の位置に位
置決めする手段と、該ジャック側コネクタに嵌合・接続
するプラグ側コネクタが配設されたプラグコネクタ盤(
8)を有し、該試験台(4)上を前後方向に往復運動す
るコンタクトユニット(7)と、 該プラグコネクタ盤(8)にケーブルを介して接続され
てなり、該自走車(3)のステーション位置に所望に配
設された、異なる機能試験を行う複数の該試験機(2)
と、 前記各構成体のインターフェイス制御の実施、及び試験
良否の情報をシステム制御部に送信する制御部(20)
と、 該電子装置(1)の一連の機能試験を実施すべく、該自
走車(3)を所望に運行するシステム制御部とを備えた
ことを特徴とする電子装置の試験システム。
[Claims] A pallet unit (51) comprising a pallet plate (51) and a jack connector board (6) installed vertically on the side edge of the pallet plate and provided with a large number of jack side connectors.
5), and an electronic device to be tested (1) placed on the pallet board (51) and connected to the selected jack side connector.
), a self-propelled vehicle (3) that delivers and retrieves the pallet unit (5) to the test stand (4) attached to the selected testing machine, and a self-propelled vehicle (3). It has a feeding means for delivering and receiving the pallet unit (5), and the pallet unit (5) is placed on the table.
), a means for positioning the received pallet unit (5) at a predetermined position on the test stand (4), and a plug-side connector that fits and connects to the jack-side connector. Plug connector panel (
a contact unit (7) that reciprocates in the front-rear direction on the test stand (4); and a contact unit (7) that is connected to the plug connector board (8) via a cable; ) A plurality of testing machines (2) for performing different functional tests, arranged as desired at the station positions of
and a control unit (20) that controls the interface of each of the components and transmits test pass/fail information to the system control unit.
A system for testing an electronic device, comprising: and a system control unit that operates the self-propelled vehicle (3) as desired in order to perform a series of functional tests of the electronic device (1).
JP62272075A 1987-10-28 1987-10-28 Electronic device testing system Expired - Lifetime JPH0718913B2 (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03156383A (en) * 1989-11-14 1991-07-04 Fujitsu Ltd Self-propelling vehicle feed apparatus

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH03156383A (en) * 1989-11-14 1991-07-04 Fujitsu Ltd Self-propelling vehicle feed apparatus

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