JPH0718913B2 - Electronic device testing system - Google Patents

Electronic device testing system

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JPH0718913B2
JPH0718913B2 JP62272075A JP27207587A JPH0718913B2 JP H0718913 B2 JPH0718913 B2 JP H0718913B2 JP 62272075 A JP62272075 A JP 62272075A JP 27207587 A JP27207587 A JP 27207587A JP H0718913 B2 JPH0718913 B2 JP H0718913B2
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test
pallet
unit
electronic device
self
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茂 添野
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Description

【発明の詳細な説明】 〔目次〕 概要 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする問題点 問題点を解決するための手段 作用 実施例 構成の説明(第1図,第2図,第3図) 作用の説明(第4図,第5図) 発明の効果 〔概要〕 所定の試験機へ電子装置を逐次搬入し、電子装置の一連
の機能試験を、自動的に行う試験システムに関し、 一連の機能試験の完全自動化が推進され、且つ試験機の
稼動率が高い、電子装置の試験システムを提供すること
を目的とし、 パレット板、及び該パレット板の側縁部に垂直に設置さ
れ、多数のジャック側コネクタを配設したジャックコネ
クタ盤を有するパレットユニットと、該パレット板上に
載置し接続した電子装置と、選択した試験機に添設した
試験台に、該パレットユニットを配送,及び回収する自
走車と、台上に該パレットユニットを受け入れて試験可
能にセットする試験台と、該ジャック側コネクタに嵌合
・接続するプラグ側コネクタが配設され、該試験台上を
前後方向に往復運動するプラグコネクタ盤を有するコン
タクトユニットと、自走車の走行路に沿って、所望に配
設された複数の試験機と、前記各構成体のインターフェ
イス制御を行う制御部と、該電子装置の一連の機能試験
を実施すべく、該自走車を所望に運行するシステム制御
部とを備えた構成とする。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Table of Contents] Outline Industrial field of application Conventional technology Problems to be solved by the invention Means for solving problems Problems Working Example Example of configuration (Figs. 1 and 2; FIG. 3) Description of operation (FIGS. 4 and 5) Effect of the invention [Outline] A test system in which electronic devices are sequentially carried into a predetermined testing machine and a series of functional tests of the electronic devices are automatically performed. In order to provide a test system for electronic devices that promotes full automation of a series of functional tests and has a high operating rate of the tester, a pallet plate and a pallet plate vertically installed on the side edge of the pallet plate are installed. Delivering the pallet unit to a pallet unit having a jack connector board on which a large number of jack side connectors are arranged, an electronic device mounted on the pallet board and connected thereto, and a test stand attached to the selected tester. , And recovery A self-propelled vehicle, a test stand that receives the pallet unit on the stand and sets it so that it can be tested, and a plug-side connector that fits and connects to the jack-side connector are arranged. A contact unit having a reciprocating plug connector board, a plurality of testing machines arranged as desired along a traveling path of a self-propelled vehicle, a control section for performing interface control of each of the constituents, and the electronic device. In order to carry out the series of functional tests described above, a system control unit for operating the self-propelled vehicle as desired is provided.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、所定の試験機へ電子装置を逐次搬入し、電子
装置の一連の機能試験を、自動的に行う試験システムに
関する。
The present invention relates to a test system in which an electronic device is sequentially loaded into a predetermined testing machine and a series of functional tests of the electronic device are automatically performed.

近年の通信機器は、顧客の多様化に伴い、情報伝達手段
が多種多様となり、かつ使用する周波数帯域が広範囲化
している。その結果、通信機器を構成する電子装置が、
多機種になっている。
With the diversification of customers, communication devices in recent years have come to have various types of information transmission means and a wide range of frequency bands to be used. As a result, the electronic devices that make up the communication device are
There are many models.

一方、通信機器に使用する電子装置は、組立て後に、周
波数試験,パルス波形試験,光信号特性試験等、4〜7
種類の機能試験を実施しなければならない。
On the other hand, an electronic device used for communication equipment has a frequency test, a pulse waveform test, an optical signal characteristic test, etc.
A kind of functional test shall be carried out.

上述のように電子装置の多機種化に伴い、試験設備費が
低く,且つ試験時間が短縮された効率の良い試験システ
ムが要望されている。
As described above, as the number of types of electronic devices increases, there is a demand for an efficient test system that has a low test facility cost and a short test time.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

電子装置の機種が少ない時は、各機種毎に総合試験装置
を設備し、一台の総合試験装置で、前述の各機能試験を
実施していた。
When the number of electronic device models was small, a comprehensive test device was installed for each model, and the above-mentioned functional tests were carried out with a single comprehensive test device.

しかし、電子装置の多機種化に伴い、機種毎に総合試験
装置を設けることは、総合試験装置が高価であるので、
設備コストが著しく上昇する。また、それぞれの総合試
験装置の稼動率が低下するのが一般である。
However, with the increasing number of electronic device models, it is expensive to install a comprehensive test device for each model.
Equipment costs increase significantly. In addition, the operating rate of each comprehensive test apparatus is generally lowered.

したがって多機種の電子装置の試験にあたっては、総合
試験装置を採用せず、異なる機種に共通する単一機能試
験機を所望数設置することにより、設備コストの低減を
はかっている。
Therefore, in testing a large number of electronic devices, a comprehensive testing device is not used, and a desired number of single-function testing devices common to different models are installed to reduce the equipment cost.

そして、電子装置を配送する搬送装置の両側にこれらの
単一機能試験機を、所望に配置し、それぞれの試験機に
付属した試験台上に、試験する電子装置を送り出し、人
手により電子装置と試験機を接続して、機能試験を行っ
ていた。
Then, these single-function testers are arranged on both sides of the carrier device for delivering the electronic device as desired, and the electronic device to be tested is sent to the test table attached to each tester, and the electronic device is manually operated. A test machine was connected to perform a functional test.

この際、電子装置の入出力コネクタは、その周波数によ
り異なり、例えば1.5MHz以下ならばマルチコネクタを、
1.5MHz以上ならば同軸コネクタをそれぞれ用いなければ
ならない。したがって、電子装置の機種により使用する
コネクタの種類が異なり、且つまたそのコネクタ数、コ
ネクタの配列が異なる。
At this time, the input / output connector of the electronic device differs depending on its frequency.
If it is 1.5MHz or more, you must use each coaxial connector. Therefore, the type of connector used differs depending on the model of the electronic device, and the number of connectors and the arrangement of connectors also differ.

上述の理由により、従来は電子装置と試験機との接続
は、人手に頼らざるをえなかった。
For the above-mentioned reason, conventionally, the connection between the electronic device and the tester had to rely on human labor.

なお、試験時間の長い機能試験工程には、その時間に対
応して、数台の試験機を配置したことは勿論である。
Needless to say, several test machines are arranged in the functional test process that requires a long test time, corresponding to the test time.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

しかしながら従来の電子装置と試験機との接続手段が人
手であるために、接続工数が多く、且つまた少なくとも
接続作業時間だけは、試験機の稼動率が低下するという
問題点があった。
However, since the conventional connecting means between the electronic device and the testing machine is manual, there is a problem that the number of connecting steps is large and the operating rate of the testing machine is reduced at least for the connecting work time.

本発明はこのような点に鑑みて創作されたもので、電子
装置と試験機との接続を自動化して、一連の機能試験の
完全自動化が推進され、且つ試験機の稼動率が高い、電
子装置の試験システムを、提供することを目的としてい
る。
The present invention was created in view of the above point, and automates the connection between the electronic device and the tester, promotes complete automation of a series of functional tests, and has a high operating rate of the tester. The purpose is to provide a test system for the device.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記の問題点を解決するために本発明は、第1図に例示
したように、パレット板51、及びパレット板51の側縁部
に垂直に設置され、多数のジャック側同軸コネクタ,ジ
ャック側マルチコネクタが配列したジャックコネクタ盤
6、とを有するパレットユニット5と、所望に配置され
た試験機2の各試験台4に、電子装置1を搭載したパレ
ットユニット5を配送する自走車3と、自走車3との間
でパレットユニット5を授受する送り手段を有し、台上
にパレットユニット5を受け入れて試験可能にセットす
る試験台4とより構成する。
In order to solve the above problems, the present invention, as illustrated in FIG. 1, vertically installs on a pallet plate 51 and side edges of the pallet plate 51, and includes a large number of jack-side coaxial connectors and jack-side multi-connectors. A pallet unit 5 having a jack connector board 6 in which connectors are arranged; a self-propelled vehicle 3 for delivering the pallet unit 5 having the electronic device 1 to each test stand 4 of the tester 2 arranged as desired; The test table 4 has a feeding means for transmitting and receiving the pallet unit 5 to and from the self-propelled vehicle 3, and the test table 4 receives the pallet unit 5 on the table and sets it for testing.

そして、受け入れたパレットユニット5を、試験台4上
の所定の位置に位置決めする手段を設ける。
Then, means for positioning the received pallet unit 5 at a predetermined position on the test table 4 is provided.

また試験台4上を前後方向に往復運動をするスライドテ
ーブル71,及びスライドテーブル71の側縁部に垂直に設
置され、ジャック側コネクタに嵌挿するプラグ側同軸コ
ネクタ,プラグ側マルチコネクタとを配列したプラグコ
ネクタ盤8を、有するコンタクトユニット7を設け、試
験台4に装着する。
In addition, a slide table 71 that reciprocates in the front-rear direction on the test stand 4, and a plug-side coaxial connector and a plug-side multi-connector that are vertically installed on the side edge of the slide table 71 and that are inserted into the jack-side connector are arranged. The contact unit 7 having the plug connector board 8 is provided and mounted on the test stand 4.

なお、電子装置1をパレットユニット5に搭載した時点
で、ジャック側コネクタの背面より引き出したケーブル
のケーブルコネクタを、電子装置1の入出力コネクタに
それぞれ接続するものとする。
It should be noted that when the electronic device 1 is mounted on the pallet unit 5, the cable connectors of the cables pulled out from the rear surface of the jack side connector are connected to the input / output connectors of the electronic device 1, respectively.

また、試験機2はケーブルを介して、予めプラグコネク
タ盤8のプラグ側同軸コネクタ,プラグ側マルチコネク
タの裏面側に接続する。
The tester 2 is connected to the back side of the plug-side coaxial connector and the plug-side multi-connector of the plug connector board 8 in advance via a cable.

前記各構成体のインターフェイス制御の実施、及び試験
良否の情報をシステム制御部に送信する制御部を設け
る。
A control unit is provided for performing interface control of each component and transmitting information on whether the test is good or bad to the system control unit.

それぞれが異なる機能試験を行う複数の試験機を所望に
配列し、システム制御部の指令により自走車3を所望に
運行して、電子装置1を選択した試験機に逐次供給・回
収して、一連の機能試験を実施するという構成とする。
Arranging a plurality of test machines each performing a different functional test as desired, operating the self-propelled vehicle 3 as desired by a command from the system control unit, and sequentially supplying / recovering the electronic device 1 to / from the selected test machine, It is configured to carry out a series of functional tests.

〔作用〕[Action]

上記本発明の手段によれば、ジャックコネクタ盤6とプ
ラグコネクタ盤8には、電子装置1の各機種に汎用性あ
るコネクタが対応して配設されており、且つ、予め電子
装置1とジャックコネクタ盤6、及びプラグコネクタ盤
8と試験機2、をそれぞれ接続してある。
According to the above-mentioned means of the present invention, the jack connector board 6 and the plug connector board 8 are provided with connectors having versatility corresponding to each model of the electronic device 1, and the electronic device 1 and the jack are preliminarily arranged. The connector board 6 and the plug connector board 8 are connected to the tester 2, respectively.

よって、パレットユニット5を試験台4の所定の位置に
位置決めした後に、コンタクトユニット7が前進すると
ジャックコネクタ盤6とプラグコネクタ盤8とが嵌合
し、電子装置1と試験機2との間の試験回路が、自動的
に接続する。
Therefore, after the pallet unit 5 is positioned at a predetermined position on the test stand 4, when the contact unit 7 moves forward, the jack connector board 6 and the plug connector board 8 are fitted to each other, so that the electronic device 1 and the tester 2 are connected to each other. The test circuit will automatically connect.

なお、自走車3と試験台4間のパレットユニット5の授
受、パレットユニット5の試験台4上での位置決め、コ
ンタクトユニット7の駆動、試験機2の試験開始,及び
試験終了、コンタクトユニット7の離脱等の一連のイン
ターフェイス制御は、制御部20によって実施される。
Transfer of the pallet unit 5 between the self-propelled vehicle 3 and the test stand 4, positioning of the pallet unit 5 on the test stand 4, drive of the contact unit 7, start and end of test of the tester 2, contact unit 7 The control unit 20 executes a series of interface control, such as disconnection of the.

また、システム制御部は、試験すべき機等に対応する試
験機を選択し自走車3を運行し、電子装置1を選択した
試験台4のステーションに配送する。
Further, the system control unit selects a test machine corresponding to the machine to be tested, operates the self-propelled vehicle 3, and delivers the electronic device 1 to the selected station of the test stand 4.

即ち、選択した試験機への電子装置の配送−自走車より
試験台への移載−試験回路の接続−試験の実施−試験台
より自走車への電子装置の移載という、一連の作業が自
動化され、総ての機能検査が終了する。したがって、そ
れぞれの試験機の待ち時間が減少して、試験機の稼動率
が向上する。
That is, a series of delivery of the electronic device to the selected tester-transfer from the self-propelled vehicle to the test stand-connection of the test circuit-execution of the test-transfer of the electronic device from the test stand to the self-propelled car. The work is automated and all functional tests are completed. Therefore, the waiting time of each testing machine is reduced and the operating rate of the testing machine is improved.

〔実施例〕〔Example〕

以下図を参照しながら、本発明を具体的に説明する。な
お、全図を通じて同一符号は同一対象物を示す。
The present invention will be specifically described below with reference to the drawings. The same reference numerals denote the same objects throughout the drawings.

第1図は本発明の構成図、第2図は本発明の実施例の斜
視図、第3図は本発明の要部を示す図で(a)はパレッ
トユニットの斜視図、(b)はプラグコネクタ盤部分の
側面図、(c)は同軸コネクタの断面図であり、第4図
は本発明の実施例のレイアウト図、第5図は本発明のフ
ローチャートである。
FIG. 1 is a configuration diagram of the present invention, FIG. 2 is a perspective view of an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a diagram showing an essential part of the present invention, (a) is a perspective view of a pallet unit, and (b) is A side view of the plug connector board portion, (c) is a sectional view of the coaxial connector, FIG. 4 is a layout diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a flowchart of the present invention.

第1図及び第2図において、5は、アルミニウム等の金
属板よりなるパレット板51と、パレット板51の前側の側
縁に垂直に設置したジャックコネクタ盤6とで構成した
パレットユニットである。
In FIGS. 1 and 2, reference numeral 5 denotes a pallet unit composed of a pallet plate 51 made of a metal plate such as aluminum and a jack connector panel 6 installed vertically on the front side edge of the pallet plate 51.

パレット板51は、詳細を第3図(a)に示すように、最
大形状の電子装置1を載置し得る角形であって、ジャッ
クコネクタ盤6に直交する方向(即ち自走車3の前進方
向に並行する方向)の一方の側縁(パレットユニット5
を自走車3に搭載した状態で左側の側縁)の中央部分
を、逆台形に切削加工して、前後方向(自走車3の前進
方向をいう)左基準側縁55を設け、他方の側縁の中央部
分もまた逆台形に切削加工して右基準側縁56を設けてあ
る。この基準側縁は、パレットユニット5を試験台4に
載置した場合に、パレットユニット5の左右方向の位置
決めの基準となる。
As shown in detail in FIG. 3 (a), the pallet plate 51 is a square shape on which the electronic device 1 having the largest shape can be placed, and is in a direction orthogonal to the jack connector board 6 (that is, the forward movement of the vehicle 3). Side edge (pallet unit 5)
Is mounted on the self-propelled vehicle 3, the central portion of the left side edge) is cut into an inverted trapezoid, and a left reference side edge 55 is provided in the front-rear direction (referred to as the forward direction of the self-propelled vehicle 3). The central portion of the side edge of the is also machined into an inverted trapezoid to provide a right reference side edge 56. The reference side edge serves as a reference for positioning the pallet unit 5 in the left-right direction when the pallet unit 5 is placed on the test stand 4.

ジャックコネクタ盤6には、詳細を第3図(b)に示す
ように、電子装置の機種のなかで、搭載される最大数の
同軸コネクタ数に等しいか、或いはそれ以上の数のジャ
ック側同軸コネクタ61を配設してある。また、電子装置
の機種のなかで、搭載される最大数のマルチコネクタ数
に等しいか、或いはそれ以上の数のジャック側マルチコ
ネクタ62を配設してある。
As shown in FIG. 3 (b) in detail, the jack connector board 6 has a jack-side coaxial cable whose number is equal to or more than the maximum number of coaxial connectors mounted in the electronic device models. A connector 61 is provided. In addition, jack-type multi-connectors 62, which are equal to or more than the maximum number of multi-connectors to be mounted among the types of electronic devices, are provided.

さらに、ジャックコネクタ盤6の両側には、プラグコネ
クタ盤8が嵌合するにあたり、ガイドとなるガイド孔65
を設けてある。
Further, guide holes 65 are provided on both sides of the jack connector board 6 to serve as guides when the plug connector board 8 is fitted.
Is provided.

電子装置1をパレットユニット5に搭載した時点で、ジ
ャック側コネクタの背面より引き出してあるケーブルの
ケーブルコネクタのうち、該機種に必要とするものを選
択して、電子装置の入出力コネクタに接続する。
When the electronic device 1 is mounted on the pallet unit 5, one of the cable connectors of the cable which is pulled out from the rear surface of the jack-side connector is selected and connected to the input / output connector of the electronic device. .

3は、システム制御部(第4図に示すシステム制御部10
0)の指令により所定のステーションで停止し、パレッ
トユニット5を指定された試験台4に配送し、また指定
された試験台4からパレットユニット5を受け取り、次
工程の他の試験台に配送する自走車である。
3 is a system control unit (the system control unit 10 shown in FIG.
0) command to stop at a predetermined station, deliver the pallet unit 5 to the designated test stand 4, receive the pallet unit 5 from the designated test stand 4, and deliver it to another test stand in the next process. It is a self-propelled vehicle.

4は、試験機2に添設した試験台であって、自走車3か
ら電子装置1が搭載された状態のパレットユニット5を
受取り、台上の所定の位置にパレットユニット5をセッ
トし、ジャックコネクタ盤6とプラグコネクタ盤8とを
嵌合接続して、電子装置1と試験機2との試験回路を接
続する機能を有する。
Reference numeral 4 denotes a test stand attached to the testing machine 2, which receives the pallet unit 5 with the electronic device 1 mounted from the self-propelled vehicle 3 and sets the pallet unit 5 at a predetermined position on the stand. It has a function of fitting and connecting the jack connector board 6 and the plug connector board 8 to connect the test circuits of the electronic device 1 and the tester 2.

試験台4の台表面には、前後方向に長い、並行した複数
のスリット状の凹部を設け、それぞれの凹部に、第3図
(a)に示すように横送りローラー48を設置してある。
この横送りローラー48は、制御部20により制御されてい
る。即ち、横送りローラー48の円周面は、常時は台表面
の下に埋設されていて、パレットユニット5の移載時に
水平状態を保って上昇し、その円周面の上部が台表面部
分に露出し、パレット板51を、水平状態のままわずかに
持ち上げる。
A plurality of parallel slit-shaped recesses extending in the front-rear direction are provided on the surface of the test stand 4, and transverse feed rollers 48 are installed in the respective recesses as shown in FIG. 3 (a).
The lateral feed roller 48 is controlled by the controller 20. That is, the circumferential surface of the lateral feed roller 48 is normally buried under the table surface, and when the pallet unit 5 is transferred, it rises while maintaining a horizontal state, and the upper part of the circumferential surface is the table surface portion. When exposed, lift the pallet plate 51 slightly while keeping it horizontal.

そして、自走車3からパレットユニット5を受入れる時
は第3図(a)のように左回転して、パレット板51、即
ちパレットユニット5を試験台4上に矢印A方向に引き
込む。また、自走車3へ移載時には、右回転し、パレッ
トユニット5を自走車3方向に送り出す。
When receiving the pallet unit 5 from the self-propelled vehicle 3, the pallet plate 51, that is, the pallet unit 5 is pulled in the direction of arrow A onto the test table 4 by rotating counterclockwise as shown in FIG. In addition, when the pallet unit 5 is transferred to the self-propelled vehicle 3, the pallet unit 5 is rotated to the right and sent out in the direction of the self-propelled vehicle 3.

なお、自走車3にも前記横送りローラー48に類似した横
送りローラーを設けてある。
The self-propelled vehicle 3 is also provided with a lateral feed roller similar to the lateral feed roller 48.

横方向に送られて試験台4上に送りこまれたパレットユ
ニット5は、左基準側縁55部分が試験台上に突出した左
位置決めピン45に、当接することにより横送り運動が停
止する。
The pallet unit 5 sent in the lateral direction and sent to the test table 4 stops the lateral feed motion when the left reference side edge 55 portion abuts the left positioning pin 45 protruding on the test table.

そして、常時は台表面下に沈んでいた右位置決めピン46
が上昇し、右位置決めピン46の左テーバー側面が右基準
側縁56の側壁に接して、左位置決めピン45と右位置決め
ピン46の間にパレット板51を挟む。よって、パレットユ
ニット5の左右方向の位置が所定に定まる。
And, the right positioning pin 46 that was always sunk below the table surface
Rises, the left Taber side surface of the right positioning pin 46 contacts the side wall of the right reference side edge 56, and the pallet plate 51 is sandwiched between the left positioning pin 45 and the right positioning pin 46. Therefore, the position of the pallet unit 5 in the left-right direction is predetermined.

ピストンロッド41aが前後方向に駆動する一対の流体シ
リンダ41を、試験台4のコンタクトユニット7側の両側
に設置してある。またコンタクトユニット7とは反対側
の台表面の両側に、一対の前後位置決めピン42を設けて
ある。
A pair of fluid cylinders 41 whose piston rods 41a are driven in the front-rear direction are installed on both sides of the test table 4 on the contact unit 7 side. Further, a pair of front and rear positioning pins 42 are provided on both sides of the table surface opposite to the contact unit 7.

制御部20の指令により流体シリンダ41が作動すると、そ
れぞれのピストンロッド41aが、パレット板51の前端面
(第2図では向こう側の端面)に当接し、パレットユニ
ット5を前後位置決めピン42方向(第2図に示す矢印B
方向)に押す。
When the fluid cylinder 41 operates according to a command from the control unit 20, each piston rod 41a abuts on the front end surface of the pallet plate 51 (the end surface on the far side in FIG. 2) to move the pallet unit 5 toward the front and rear positioning pins 42 ( Arrow B shown in FIG.
Direction).

そして、パレット板51の後端面(第2図では手前側の端
面)が、前後位置決めピン42に当接することにより、パ
レットユニット5の前後方向の位置が所定に定まる。
Then, the rear end surface of the pallet plate 51 (the front end surface in FIG. 2) contacts the front-rear positioning pin 42, whereby the front-rear position of the pallet unit 5 is determined in a predetermined manner.

なお、それぞれの前後位置決めピン42に隣接して位置確
認センサ(例えばマイクロスイッチ)43を設置し、パレ
ット板51の後端面が、一対の前後位置決めピン42のそれ
ぞれに当接したか否かを、確認し、その情報を制御部20
に伝達するようにしてある。
In addition, a position confirmation sensor (for example, a micro switch) 43 is installed adjacent to each front and rear positioning pin 42, and whether the rear end surface of the pallet plate 51 is in contact with each of the pair of front and rear positioning pins 42, Confirm the information and control section 20
It is transmitted to.

そして、前後位置決めピン42の双方にパレット板51が当
接していない場合には、ピストンロッドを後退させ、前
述の動作を再度繰り返すようにしている。
When the pallet plate 51 is not in contact with both the front and rear positioning pins 42, the piston rod is retracted and the above-described operation is repeated.

7は、試験台4上を前後方向に往復運動するスライドテ
ーブル71と、スライドテーブル71のパレットユニット5
側の側縁部に垂直に設置したプラグコネクタ盤8とで構
成したコンタクトユニットである。
7 is a slide table 71 that reciprocates in the front-back direction on the test table 4, and a pallet unit 5 of the slide table 71.
It is a contact unit composed of a plug connector board 8 installed vertically on the side edge portion on the side.

プラグコネクタ盤8には、詳細を第3図(b)に示すよ
うに、ジャックコネクタ盤6のジャック側同軸コネクタ
61に対応してプラグ側同軸コネクタ81を、ジャック側マ
ルチコネクタ62に対応してプラグ側マルチコネクタ82を
それぞれ配設してある。
As shown in FIG. 3B in detail, the plug connector board 8 has a jack side coaxial connector of the jack connector board 6.
Corresponding to 61, a plug-side coaxial connector 81 is provided, and corresponding to a jack-side multi-connector 62, a plug-side multi-connector 82 is provided.

さらに、プラグコネクタ盤8の両側には、ジャックコネ
クタ盤6に設けたガイド孔65に嵌入するガイドピン85を
設けてある。
Further, on both sides of the plug connector board 8, there are provided guide pins 85 which are fitted into the guide holes 65 provided in the jack connector board 6.

試験台4の側面に、試験機2を設置し、試験機2に制御
部20を添設してある。試験機2は、周波数試験,パルス
波形試験,光信号特性試験等の内1つ機能試験を行う単
一機能試験機である。
The test machine 2 is installed on the side surface of the test table 4, and the control unit 20 is attached to the test machine 2. The tester 2 is a single function tester that performs one function test among frequency test, pulse waveform test, optical signal characteristic test and the like.

そして、プラグコネクタ盤8のプラグ側マルチコネクタ
82,プラグ側同軸コネクタ81のそれぞれの端子は、プラ
グコネクタ盤8の裏面側より引き出されたケーブルを介
して、試験機2に接続されている。
And the plug-side multi-connector of the plug connector board 8
Each terminal of the plug connector coaxial connector 82 and the plug connector coaxial connector 81 is connected to the tester 2 via a cable pulled out from the back surface side of the plug connector board 8.

コンタクトユニット7の後方にはコンタクトユニット7
を前後方向に駆動する流体シリンダ72を設置してある。
この流体シリンダ72は、制御部20の指令により駆動する
もので、パレットユニット5を試験台4の台上の所定の
位置に位置決め後に作動し、そのピストンロッドがコン
タクトユニット7を前方向(第2図に示す矢印B方向)
に押す。
The contact unit 7 is located behind the contact unit 7.
A fluid cylinder 72 is installed to drive the cylinder in the front-back direction.
The fluid cylinder 72 is driven by a command from the control unit 20, and is operated after positioning the pallet unit 5 at a predetermined position on the table of the test table 4, and its piston rod moves the contact unit 7 forward (second direction). (Arrow B direction shown in the figure)
Press to.

その結果、プラグコネクタ盤8がジャックコネクタ盤6
に嵌合するように近接し、プラグコネクタ盤8に設けた
ガイドピン85が、ジャックコネクタ盤6に設けたガイド
孔65に嵌入する。
As a result, the plug connector board 8 becomes the jack connector board 6
The guide pins 85 provided on the plug connector board 8 fit into the guide holes 65 provided on the jack connector board 6 so as to be close to each other.

このことにより、それぞれのコネクタ相互間の関係位置
が所定に定まり、それぞれのプラグ側同軸コネクタ81が
対応するジャック側同軸コネクタ61に、それぞれのプラ
グ側マルチコネクタ82が対応するジャック側マルチコネ
クタ62に嵌挿して、電気的に接続する。
As a result, the relative positions of the respective connectors are predetermined, and the respective plug-side coaxial connectors 81 correspond to the corresponding jack-side coaxial connectors 61 and the respective plug-side multi-connectors 82 correspond to the corresponding jack-side multi-connectors 62. Insert and connect electrically.

同軸コネクタは詳細を第3図(c)に示すように、ジャ
ック側同軸コネクタ61の外部導体61aの外径が、例えば
9.5mmであり、プラグ側同軸コネクタ81の外部導体81aの
内径が10mmである。したがってプラグ側同軸コネクタ81
にジャック側同軸コネクタ61を挿入する嵌合代は、0.25
mmであって、非常に小さい。
As shown in detail in FIG. 3 (c), the coaxial connector has an outer diameter of the outer conductor 61a of the jack side coaxial connector 61 of, for example,
The outer conductor 81a of the plug-side coaxial connector 81 has an inner diameter of 10 mm. Therefore, the plug side coaxial connector 81
The mating allowance for inserting the jack side coaxial connector 61 is 0.25
mm, which is very small.

本発明は上述のように、まずパレットユニット5を台上
の所定の個所に位置決めを行い、次に一対のガイド孔65
とガイドピン85を設けて、高精度の位置出しを実施して
いる。よって、ジャック側同軸コネクタ61とプラグ側同
軸コネクタ81との嵌合に、何等の支障がない。
According to the present invention, as described above, first, the pallet unit 5 is positioned at a predetermined position on the table, and then the pair of guide holes 65.
And a guide pin 85 are provided to perform highly accurate positioning. Therefore, there is no problem in fitting the jack side coaxial connector 61 and the plug side coaxial connector 81.

プラグ側マルチコネクタ82は、その接触子を、一旦ジャ
ック側マルチコネクタ62の接触子に並行するように挿入
し、その後挿入方向に直交するように移動して相手の接
触子に接触させるコネクタ、即ちゼロインサーションコ
ネクタを用いている。即ち、マルチコネクタの挿抜力が
小さく、プラグコネクタ盤8,並びにジャックコネクタ盤
6に、不必要に大きな力が付与されことがない。したが
って、ジャックコネクタ盤6,及びプラグコネクタ盤8の
真直度が低下する恐れがない。
The plug-side multi-connector 82 is a connector in which its contact is once inserted so as to be parallel to the contact of the jack-side multi-connector 62, and then moved in a direction orthogonal to the inserting direction to bring it into contact with the mating contact, that is, It uses a zero insertion connector. That is, the insertion / extraction force of the multi-connector is small, and an unnecessarily large force is not applied to the plug connector board 8 and the jack connector board 6. Therefore, the straightness of the jack connector board 6 and the plug connector board 8 does not decrease.

一方、パレットユニット5は、電子装置をバーインする
際に加熱されるので、パレット板51が反る恐れがある。
パレット板51が反っていると、ガイドピン85とガイド孔
65との間に、高さ方向の位置ずれが生じて、スムーズな
嵌合が行われなくなり、ひいてはガイドピン85或いはガ
イド孔65が摩耗して、ガイド機能が低下する。
On the other hand, since the pallet unit 5 is heated when the electronic device is burned in, the pallet plate 51 may warp.
If the pallet plate 51 is warped, the guide pin 85 and the guide hole
A position shift in the height direction occurs with respect to 65, smooth fitting is no longer performed, and eventually the guide pin 85 or the guide hole 65 is worn and the guide function deteriorates.

このことを阻止するために、第3図(b)に示すよう
に、コンタクトユニット7が前進した際に、パレット板
51のジャックコネクタ盤6近傍を、下方に押圧して、反
りを矯正する手段を設けてある。
In order to prevent this, as shown in FIG. 3 (b), when the contact unit 7 advances, the pallet plate
A means for correcting the warp is provided by pressing the vicinity of the jack connector board 6 of 51 downward.

詳述するとプラグコネクタ盤8の両側に、一対のパレッ
ト反り矯正ローラー75を設け、水平軸を軸として回転す
るように、装着してある。そしてパレット反り矯正ロー
ラー75の下側の円周面の高さを、反っていない場合のパ
レット板51の上面に合わせてある。
More specifically, a pair of pallet warp correction rollers 75 are provided on both sides of the plug connector board 8 and are mounted so as to rotate about a horizontal axis. The height of the lower circumferential surface of the pallet warp straightening roller 75 is adjusted to the upper surface of the pallet plate 51 when it is not warped.

コンタクトユニット7を前進駆動すると、ガイドピン85
がガイド孔65に嵌合する前に、パレット反り矯正ローラ
ー75が、パレット板51の上面を押圧する。よって、パレ
ット板51の反りが矯正されガイドピン85とガイド孔65と
の高さが一致し、双方に無理な力が働かず、摩耗する恐
れがない。
When the contact unit 7 is driven forward, the guide pin 85
The pallet warp correction roller 75 presses the upper surface of the pallet plate 51 before the pallet is fitted into the guide hole 65. Therefore, the warp of the pallet plate 51 is corrected, the heights of the guide pin 85 and the guide hole 65 are made to coincide with each other, and an unreasonable force is not applied to both, so that there is no fear of wear.

以下第4図,第5図を参照しながら本発明の作用を説明
する。
The operation of the present invention will be described below with reference to FIGS.

第4図のように、試験機2-1の後段に試験機2-2を配置
し、走行路を隔てて試験機2-2に対向して試験機2-3を配
置してある。試験機2-2の後段に試験機2-4を配置し、走
行路を隔てて試験機2-4に対向して試験機2-5を配置して
ある。尚他の試験機は図示してない。試験機2-1,2-2,2-
4は、それぞれ周波数試験,パルス波形試験,光信号特
性試験等の内1つ機能試験を行う単一機能試験機であ
る。
As shown in FIG. 4, the test machine 2-2 is arranged in the latter stage of the test machine 2-1 and the test machine 2-3 is arranged so as to face the test machine 2-2 with a traveling path therebetween. The test machine 2-4 is arranged in the latter stage of the test machine 2-2, and the test machine 2-5 is arranged so as to face the test machine 2-4 with a traveling path therebetween. Other test machines are not shown. Testing machine 2-1, 2-2, 2-
4 is a single function tester that performs one of the frequency test, pulse waveform test, optical signal characteristic test, and the like.

試験機2-2と試験機2-3、試験機2-4と試験機2-5とは、そ
れぞれ同じ機能試験を行う試験機であって、試験工数が
他の機能試験のものより、ほぼ2倍であるので、それぞ
れ2台として、他の試験機とのバランスをとっている。
The tester 2-2 and the tester 2-3, and the tester 2-4 and the tester 2-5 are testers that perform the same functional test, respectively, and the test man-hours are almost the same as those of other functional tests. Since it is doubled, we have two units each to balance with other testing machines.

それぞれの試験機には、試験台4-1,4-2,4-3,4-4,4-5を
それぞれ添設してある。
A test stand 4-1, 4-2, 4-3, 4-4, 4-5 is attached to each testing machine.

システム制御部100を設けて、それぞれの電子装置の良
否を制御部20より受信し、あらかじめインプットされた
情報にもとずき、自走車3を所望に運行させている。
The system control unit 100 is provided to receive the quality of each electronic device from the control unit 20, and based on the information input in advance, the self-propelled vehicle 3 is operated as desired.

自走車3の基点のステーションP0を、試験機2-1の前段
に設け、電子装置1を搭載したパレットユニット5を、
ステーションP0で自走車3に搭載している。自走車3の
走行路は、ループ形で、試験台4-1の横にステーションP
1を、試験台4-2と試験台4-3の間にステーションP2を、
試験台4-4と試験台4-5の間にステーションP3をそれぞれ
設けてある。
The station P 0, which is the base point of the self-propelled vehicle 3, is provided in front of the tester 2-1 and the pallet unit 5 equipped with the electronic device 1 is installed.
It is installed in the self-propelled vehicle 3 at station P 0 . The traveling path of the self-propelled vehicle 3 is a loop type, and the station P is located next to the test stand 4-1.
1 , station P 2 between test stand 4-2 and test stand 4-3,
Stations P 3 are provided between the test bench 4-4 and the test bench 4-5, respectively.

システム制御部100は、自走車3に、行き先,停止する
ステーション,パレットユニットの試験台への供給,又
は試験台よりの排出等を指令している。
The system control unit 100 commands the self-propelled vehicle 3 to go to a destination, a station to stop, supply a pallet unit to a test table, or discharge the pallet unit from the test table.

上述のように構成してあるので、自走車にパレットユニ
ットを搭載し、システム制御部がステップ101で、選択
した機能試験機のステーションが空いているか否かを確
認する。
Since it is configured as described above, the pallet unit is mounted on the self-propelled vehicle, and the system control unit confirms in step 101 whether or not the station of the selected functional testing machine is vacant.

空いている場合は、自走車を発進(ステップ102)さ
せ、その試験機のステーションで自走車を停止(ステッ
プ103)させる。自走車がステーションに到着すると自
走車上の横送りローラー、試験台上の横送りローラー
が、それぞれ駆動してパレットユニットを試験台に移載
(ステップ104)する。
If it is vacant, the self-propelled vehicle is started (step 102), and the self-propelled vehicle is stopped at the station of the test machine (step 103). When the self-propelled vehicle arrives at the station, the lateral feed roller on the self-propelled vehicle and the lateral feed roller on the test stand are driven to transfer the pallet unit to the test stand (step 104).

なお、ステップ101時点で、ステーションに他の自走車
が停車している場合は、そのステーションが空くまで待
つ(ステップ105)。そして、そのステーションが空い
たら自走車が発進する。即ちステップ102に進む。
When another self-driving vehicle is stopped at the station at the time of step 101, the station waits until the station becomes empty (step 105). Then, when the station becomes vacant, the self-propelled vehicle will start. That is, the process proceeds to step 102.

流体シリンダが駆動してパレットユニットを、試験台上
の所定の位置に移動(ステップ106)させ、ステップ107
で位置確認センサの手段により、パレットユニットが所
定の位置に有るかを検査する。所定の位置に無い場合
は、ステップ106に戻り、流体シリンダが位置決め動作
が繰り返えす。
The fluid cylinder is driven to move the pallet unit to a predetermined position on the test stand (step 106), and step 107
Then, whether or not the pallet unit is at a predetermined position is inspected by means of the position confirmation sensor. If not, the process returns to step 106 and the fluid cylinder repeats the positioning operation.

なお、パレットユニット5試験台に移載するステップ10
4が終了すると、ステップ108で、自走車がそのステーシ
ョンより離脱する。
In addition, step 10 of transferring to the pallet unit 5 test stand
When step 4 ends, the self-propelled vehicle leaves the station in step 108.

ステップ107でパレットユニットのセットが良好の場合
は、ステップ109でコンタクトユニットが前進し、ステ
ップ110でパレット板の反りが矯正され、ステップ111で
プラグコネクタ盤がジャックコネクタ盤に嵌合し接続作
業が完了する。
If the pallet unit is set properly in step 107, the contact unit advances in step 109, the warp of the pallet plate is corrected in step 110, and the plug connector board is fitted to the jack connector board in step 111 to perform the connection work. Complete.

即ち、電子装置はパレットユニットに搭載された状態
で、ケーブル−ジャックコネクタ盤−プラグコネクタ盤
−ケーブルを介して、試験機に電気的に接続する。
That is, the electronic device is electrically connected to the testing machine via the cable-jack connector board-plug connector board-cable in a state of being mounted on the pallet unit.

そして、ステップ112で試験機が作動して、電子装置の
所定の機能試験を実施する。
Then, in step 112, the tester is activated to perform a predetermined functional test of the electronic device.

試験が終了すると制御部が試験の終了、及びその良否を
システム制御部に送信する。そして制御部の指令により
コンタクトユニットが後退(ステップ)113)し、ジャ
ックコネクタ盤とプラグコネクタ盤との結合が解除され
る。
When the test ends, the control unit sends the end of the test and the quality thereof to the system control unit. Then, the contact unit is retracted (step 113) in response to a command from the control unit, and the connection between the jack connector board and the plug connector board is released.

なお、この時までにステップ114が実施され、空自走車
がこのステーションに到着している。
By the time of this step, step 114 has been carried out and the self-propelled vehicle has arrived at this station.

そして、ステップ115で横送りローラーが前回とは逆方
向に回転し、パレットユニットを自走車へ移載する。即
ち、その試験機での機能試験を終了した電子装置は、パ
レットユニットに搭載されたまま自走車に移載される。
Then, in step 115, the lateral feed roller rotates in the opposite direction to the previous one, and the pallet unit is transferred to the self-propelled vehicle. That is, the electronic device that has completed the function test in the test machine is transferred to the self-propelled vehicle while being mounted in the pallet unit.

そして、ステップ116で自走車が発進する。Then, in step 116, the self-propelled vehicle starts.

ステップ117で、システム制御部が電子装置の次の工程
を照合し、ステップ101に戻り次段の試験機に、電子装
置を搬入する。
In step 117, the system control unit verifies the next process of the electronic device, and returns to step 101 to carry the electronic device into the next-stage tester.

全機能試験が終了している場合は、自走車を試験完了の
ステーションに配送し、電子装置をパレットユニットよ
り取り外す。
If all functional tests have been completed, deliver the vehicle to the station where the test is completed and remove the electronic device from the pallet unit.

なお、特性試験の結果不良と判定された電子装置は、良
品とは別のステーションに配送するものである。
The electronic device determined to be defective as a result of the characteristic test is delivered to a station different from the non-defective product.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように本発明は、各機種に共通のパレット
ユニットに電子装置を搭載し、このパレットユニットを
配列した単一機能試験機に、次々と配送し、回収するよ
うにした電子装置の試験システムであって、電子装置の
一連の機能試験の完全自動化が可能であり、且つそれぞ
れの試験機の稼動率が高くて、設備コストが小さい等、
実用上で優れた効果がある。
As described above, according to the present invention, the electronic device is mounted on the pallet unit common to each model, and the electronic device is tested by sequentially delivering and collecting the electronic device to the single-function tester in which the pallet unit is arranged. It is a system, it is possible to fully automate a series of functional tests of electronic devices, and the operating rate of each testing machine is high, and the equipment cost is low, etc.
It has an excellent effect in practical use.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の構成図、 第2図は本発明の実施例の斜視図、 第3図の(a),(b),(c)はそれぞれ本発明の要
部を示す図、 第4図は本発明の実施例のレイアウト図、 第5図は本発明のフローチャートである。 図において、 1は電子装置、 2,2-1,2-2,2-3,2-4,2-5は試験機、 3は自走車、 4,4-1,4-2,4-3,4-4,4-5は試験台、 5はパレットユニット、 6はジャックコネクタ盤、 7はコンタクトユニット、 8はプラグコネクタ盤、 20は制御部、 42は前後位置決めピン、 43は位置確認センサ、 45は左位置決めピン、 46は右位置決めピン、 51はパレット板、 61はジャック側同軸コネクタ、 62はジャック側マルチコネクタ、 65はガイド孔、 81はプラグ側同軸コネクタ、 82はプラグ側マルチコネクタ、 85はガイドピン、 71はスライドテーブル、 75はパレット反り矯正ローラー、 100はシステム制御部をそれぞれ示す。
FIG. 1 is a block diagram of the present invention, FIG. 2 is a perspective view of an embodiment of the present invention, and FIGS. 3 (a), (b), and (c) are views showing the main part of the present invention, respectively. FIG. 4 is a layout diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a flowchart of the present invention. In the figure, 1 is an electronic device, 2,2-1,2-2,2-3,2-4,2-5 are test machines, 3 is a self-propelled vehicle, 4,4-1,4-2,4 -3,4-4,4-5 is a test stand, 5 is a pallet unit, 6 is a jack connector board, 7 is a contact unit, 8 is a plug connector board, 20 is a control section, 42 is a front / rear positioning pin, and 43 is a position. Confirmation sensor, 45 left positioning pin, 46 right positioning pin, 51 pallet plate, 61 jack side coaxial connector, 62 jack side multi-connector, 65 guide hole, 81 plug side coaxial connector, 82 plug side Multi-connector, 85 is a guide pin, 71 is a slide table, 75 is a pallet straightening roller, and 100 is a system controller.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】パレット板(51)、及び該パレット板の側
縁部に垂直に設置され多数のジャック側コネクタが配設
されたジャックコネクタ盤(6)、を有するパレットユ
ニット(5)と、 該パレット板(51)上に載置され、選択した該ジャック
側コネクタに接続されてなる試験すべき電子装置(1)
と、 選択した試験機に添設した試験台(4)に、該パレット
ユニット(5)を配送,及び回収する自走車(3)と、 該自走車(3)との間で該パレットユニット(5)を授
受する送り手段を有し、台上に該パレットユニット
(5)を受け入れる試験(4)と、 受け入れた該パレットユニット(5)を、該試験台
(4)上の所定の位置に位置決めする手段と、 該ジャック側コネクタに嵌合・接続するプラグ側コネク
タが配設されたプラグコネクタ盤(8)を有し、該試験
台(4)上を前後方向に往復運動するコンタクトユニッ
ト(7)と、 該プラグコネクタ盤(8)にケーブルを介して接続され
てなり、該自走車(3)のステーション位置に所望に配
設された、異なる機能試験を行う複数の該試験機(2)
と、 前記各構成体のインターフェイス制御の実施、及び試験
良否の情報をシステム制御部に送信する制御部(20)
と、 該電子装置(1)の一連の機能試験を実施すべく、該自
走車(3)を所望に運行するシステム制御部とを備えた
ことを特徴とする電子装置の試験システム。
1. A pallet unit (5) comprising: a pallet plate (51); and a jack connector panel (6) vertically installed on a side edge portion of the pallet plate and provided with a large number of jack side connectors. An electronic device (1) to be tested, which is placed on the pallet plate (51) and connected to the selected connector on the jack side.
And a self-propelled vehicle (3) that delivers and collects the pallet unit (5) to a test stand (4) attached to the selected testing machine, and the pallet between the self-propelled vehicle (3). A test (4) having a feeding means for sending and receiving the unit (5) and receiving the pallet unit (5) on a table, and the received pallet unit (5) are provided on the test table (4) in a predetermined manner. A contact having a plug connector board (8) in which a means for positioning at a position and a plug-side connector that fits / connects to the jack-side connector are arranged, and which reciprocates in the front-back direction on the test table (4). The unit (7) and a plurality of the tests, which are connected to the plug connector board (8) via a cable and are arranged at desired station positions of the self-propelled vehicle (3) to perform different functional tests. Machine (2)
And a control unit (20) for performing interface control of each of the constituents and transmitting information on whether the test is good or bad to the system control unit.
And a system control unit for operating the self-propelled vehicle (3) as desired in order to perform a series of functional tests of the electronic device (1).
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