JPH01109670A - Spring contactor and test board using same - Google Patents
Spring contactor and test board using sameInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
外筒内に挿入された接触子を具えその端面が接続対象物
のリード先端により押圧されて接触接続を行うスプリン
グコンタクタ、およびそれを用いたテストボードに関し
、
接続対象物と外部回路との接続部に形成されるインダク
タンスの低減を目的とし、
スプリングコンタクタは、一端が開口している筒状の金
属の外筒と、先端部が中央部より太くなっている棒状を
なし、外筒内に後端部から挿入されて先端部が上記開口
から突出しないように且つ先端部の側面が外筒に接触し
ながら軸方向に移動可能に支持され、該先端部の端面が
接続対象物のリード先端に対する接触面となる金属の接
触子と、外筒内の接触子の奥にあって接触子を上記開口
側に向けて押圧するスプリングとを具えるように構成し
、
テストボードは、上記スプリングコンタクタが、外筒を
配線板に設けられた孔に嵌挿されて、配線板の配線と接
続されてなるように構成する。[Detailed Description of the Invention] [Summary] This invention relates to a spring contactor that includes a contactor inserted into an outer cylinder and whose end face is pressed by the tip of a lead of a connection object to make a contact connection, and a test board using the same. The purpose of the spring contactor is to reduce the inductance formed at the connection between the connected object and an external circuit, and the spring contactor has a cylindrical metal outer cylinder that is open at one end, and a tip that is thicker than the center. The tip is inserted into the outer cylinder from the rear end and is supported so as to be movable in the axial direction so that the tip does not protrude from the opening and the side surface of the tip contacts the outer tube. A metal contact whose end surface is a contact surface for the lead tip of the object to be connected, and a spring located at the back of the contact in the outer cylinder and which presses the contact toward the opening side. The test board is configured such that the spring contactor is connected to the wiring of the wiring board by fitting the outer cylinder into a hole provided in the wiring board.
本発明は、外筒内に挿入された接触子を具えその端面が
接続対象物のリード先端により押圧されて接触接続を行
うスプリングコンタクタ、およびそれを用いたテストボ
ードに関す。TECHNICAL FIELD The present invention relates to a spring contactor that includes a contact inserted into an outer cylinder and whose end face is pressed by the tip of a lead of a connection object to make a contact connection, and a test board using the same.
上記のスプリングコンタクタ（スプリングビンコンタク
トまたはボコピンなどとも呼称される）およびそれを用
いたテストボードは、外部接続用のリードが一方向に揃
っている被測定物、例えばＤＴＰ （デュアルインライ
ンパッケージ）型やＰＧＡ（ビングリッドアレイ）型の
半導体装置などを測定する際の接続用として用いられる
ものであり、接続部に形成されるインダクタンスの小さ
いことが望まれている。The above-mentioned spring contactor (also called a spring bin contact or Bocopin) and a test board using it are suitable for devices under test where external connection leads are aligned in one direction, such as a DTP (dual in-line package) type. It is used for connection when measuring PGA (bin grid array) type semiconductor devices, etc., and it is desired that the inductance formed at the connection portion be small.
第４図はスプリングコンタクタ従来例の側断面図であり
、図（ａｌは非接続状態を、図（ｂ）は接続状態を示す
。FIG. 4 is a side sectional view of a conventional example of a spring contactor, and FIG. 4A shows a non-connected state and FIG. 4B shows a connected state.
同図において、２０はスプリングコンタクタ、２１は外
筒、２２は接触子、２３はスプリング、３１は接続対象
物のリード、である。In the figure, 20 is a spring contactor, 21 is an outer cylinder, 22 is a contact, 23 is a spring, and 31 is a lead of a connection object.
スプリングコンタクタ２０は、筒状の金属の外筒２１に
、スプリング２３と接触子２２が順に挿入され、ノツチ
２１ａおよび絞り２１ｂが形成されてなっている。The spring contactor 20 includes a cylindrical metal outer cylinder 21 into which a spring 23 and a contact 22 are sequentially inserted, and a notch 21a and a restriction 21b are formed.
接触子２２は、先端部２２ａおよび後端部２２ｂが中央
部より太くなっている棒状の金属体で、先端部２２ａが
外筒２１より突出してその端面がリード３１に対する接
触面となっており、軸方向に移動可能でスプリング２３
により突出方向に押圧され、非接続状態では、図（ａ）
に示すように後端部２２ｂがノツチ２１ａに当たって外
筒２１から抜は出さないようになっている。The contact 22 is a rod-shaped metal body with a tip 22a and a rear end 22b thicker than the center, and the tip 22a protrudes from the outer tube 21 and its end surface serves as a contact surface for the lead 31. It is movable in the axial direction and has a spring 23.
When pressed in the protruding direction by
As shown in the figure, the rear end portion 22b hits the notch 21a and is prevented from being pulled out from the outer cylinder 21.
そして接続状態では、図（ｂ）に示すように先端部２２
ａがリード３１先端で押圧されて外筒２１内に押し込ま
れ、所要の接触圧が形成されてリード３１との接続を確
保する。In the connected state, as shown in FIG.
a is pressed by the tip of the lead 31 and pushed into the outer cylinder 21, and a required contact pressure is created to ensure connection with the lead 31.
スプリングコンタクタ２０は、上記接続を後端部２２ｂ
と外筒２１との接触を介して外筒２１に導出し、外筒２
１に接続されている測定回路などの外部回路と接続対象
物との接続を行う。The spring contactor 20 has the above connection at the rear end 22b.
is guided to the outer cylinder 21 through contact with the outer cylinder 21, and the outer cylinder 2
Connects an external circuit such as a measurement circuit connected to 1 to the connection target.
第５図の側断面図は、外部回路と接続対象物とを接続す
る手段としてスプリングコンタクタ２０を用いたものの
従来例を示す。この手段は、被測定物を接続対象物にし
て試験測定を行う場合に用いられることが多いことから
、一般にテストボードと呼称される。The side sectional view of FIG. 5 shows a conventional example using a spring contactor 20 as a means for connecting an external circuit and a connection target. This means is generally called a test board because it is often used when testing and measuring an object to be connected.
同図において、２４は配線板、２５はスプリングコンタ
クタ２０用のソケット、である。In the figure, 24 is a wiring board, and 25 is a socket for the spring contactor 20.
配線板２４は例えばスルーホールを有する多層配線板で
あり、その配線は要すればインピーダンス整合の措置が
施されている。The wiring board 24 is, for example, a multilayer wiring board having through holes, and its wiring is provided with impedance matching measures, if necessary.
固定されて配線板２４の配線と接続されており、挿入部
２５ａにはスプリングコンタクタ２０が挿入される。It is fixed and connected to the wiring of the wiring board 24, and the spring contactor 20 is inserted into the insertion portion 25a.
一般に接続対象物のり一ド３１が複数であることから、
ソケット２５はそれに見合った複数個がリード３１の配
列に合わせて配列される。Generally, since there are multiple glue points 31 of the connection target,
A corresponding plurality of sockets 25 are arranged in accordance with the arrangement of the leads 31.
また、スプリングコンタクタ２０が破損した場合には、
その交換が可能である。In addition, if the spring contactor 20 is damaged,
That exchange is possible.
ところで、接続対象物の特性を測定する周波数が高い場
合、接続対象物と外部回路とを接続するところにインピ
ーダンス整合がとられずインダクタンスを形成する部分
があると、測定した特性は実際の特性より悪く示され、
そのずれは上記インダクタンスが大きい程大きくなる。By the way, when the frequency at which the characteristics of the connected object are measured is high, if there is a part where impedance matching is not achieved and inductance is formed where the connected object and the external circuit are connected, the measured characteristics may be lower than the actual characteristics. shown badly,
The larger the inductance, the larger the deviation becomes.
また、単線におけるインダクタンスはその長さに比例す
る。Also, the inductance in a single wire is proportional to its length.
この点に関して上述の従来例を見ると、スプリングコン
タクタでは第４図に１．で示される長さが、またテスト
ボードでは第５図に１２で示される長さがインダクタン
スを形成することになり、高速化された半導体装置など
の測定に使用するのに不向きである問題がある。Regarding this point, looking at the above-mentioned conventional example, the spring contactor shown in Fig. 4 shows 1. The length shown by , and the length shown by 12 in Figure 5 on the test board form an inductance, making it unsuitable for use in measuring high-speed semiconductor devices, etc. .
なお、リード３１もインダクタンスを形成するが、接続
対象物に属するものであるためここでは対象外とする。It should be noted that the lead 31 also forms an inductance, but since it belongs to the object to be connected, it is not considered here.
上記問題点は、一端が開口している筒状の金属の外筒と
、先端部が中央部より太くなっている棒状をなし、外筒
内に後端部から挿入されて先端部が上記開口から突出し
ないように且つ先端部の側面が外筒に接触し導通しなが
ら軸方向に移動可能に支持され、該先端部の端面が接続
対象物のリード先端に対する接触面となる金属の接触子
と、外筒内の接触子の奥にあって接触子を上記開口側に
向けて押圧するスプリングとを具えて、上記リード先端
が上記接触面を押圧することにより接続対象物と接続さ
れる本発明のスプリングコンタクタによって解決され、
また、このスプリングコンタクタが、その外筒を配線板
に設けられた孔に嵌挿されて、配線板の配線と接続され
てなる本発明のテストボードによって解決される。The above problem consists of a cylindrical metal outer cylinder that is open at one end, a rod-shaped tip that is thicker than the center, and is inserted into the outer cylinder from the rear end so that the tip is open. A metal contactor which is supported so as to be movable in the axial direction so as not to protrude from the outer cylinder and with the side surface of the tip in contact with the outer cylinder and electrically conductive, and the end surface of the tip serves as a contact surface for the lead tip of the object to be connected. , a spring disposed at the back of the contact in the outer cylinder to press the contact toward the opening side, the lead tip being connected to the object to be connected by pressing the contact surface. This problem is solved by a test board of the present invention in which the spring contactor is formed by fitting its outer cylinder into a hole provided in a wiring board and connecting it to the wiring of the wiring board.
従来例のスプリングコンタクタでは、接触子と外筒の接
続が接触子の後端部の接触によって行われるため、接触
子の長さがインダクタンスを形成する前述の１１となっ
ている。In the conventional spring contactor, since the contact and the outer cylinder are connected by contacting the rear end of the contact, the length of the contact is 11, which forms an inductance.
これに対して本発明のスプリングコンタクタでは、接触
子と外筒の接続が接触子の先端部の接触によって行われ
るため、１１は殆ど無視できる長さになり、そこに形成
されるインダクタンスは極めて微少になる。On the other hand, in the spring contactor of the present invention, since the contact and the outer cylinder are connected by the contact of the tip of the contact, the length 11 becomes almost negligible, and the inductance formed there is extremely small. become.
また、従来例のテストボードでは、スプリングコンタク
タの長さ分が配線板から突出するため、その長さ分がイ
ンダクタンスを形成する前述の１２となっている。Furthermore, in the conventional test board, the length of the spring contactor protrudes from the wiring board, so that length forms the inductance 12 described above.
これに対して本発明のテストボードでは、本発明のスプ
リングコンタクタが外筒を配線板に設けられた孔に嵌挿
されて配線板の配線と接続されるため、１２は殆ど無視
できる長さになり、そこに形成されるインダクタンスは
極めて微少になる。On the other hand, in the test board of the present invention, since the spring contactor of the present invention is connected to the wiring of the wiring board by fitting the outer cylinder into the hole provided in the wiring board, the length 12 is almost negligible. Therefore, the inductance formed there becomes extremely small.
かくしてスプリングコンタクタおよびテストボードは、
高速化された半導体装置などの測定に使用するのに適し
たものとなる。The spring contactor and test board are thus
This makes it suitable for use in measuring high-speed semiconductor devices.
以下本発明の実施例について第１図〜第３図を用いて説
明する。第１図はスプリングコンタクタ実施例の側断面
図であり、図（ａ）は非接続状態を、図（ｂ）は接続状
態を示す。第２図は実施例における接触子の接触面形状
例を示す斜視図である。また、第３図はこのスプリング
コンタクタを用いたテストボードの実施例の側断面図で
ある。Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 3. FIG. 1 is a side sectional view of an embodiment of the spring contactor, with FIG. 1(a) showing the unconnected state and FIG. 1(b) showing the connected state. FIG. 2 is a perspective view showing an example of the shape of the contact surface of the contactor in the embodiment. Further, FIG. 3 is a side sectional view of an embodiment of a test board using this spring contactor.
第１図において、１０はスプリングコンタクタ、１１は
外筒、１２は接触子、１３はスプリング、３１は従来例
の場合と同じく接続対象物のリード、である。In FIG. 1, 10 is a spring contactor, 11 is an outer cylinder, 12 is a contact, 13 is a spring, and 31 is a lead of a connection object as in the conventional example.
スプリングコンタクタ１０は、一端が漏斗状の開口１１
ｂとなっている筒状の金属の外筒１１に、スプリング１
３と接続子１２が挿入され、ノツチｌｌａが形成されて
なっている。The spring contactor 10 has a funnel-shaped opening 11 at one end.
A spring 1 is attached to the cylindrical metal outer cylinder 11 indicated by b.
3 and connector 12 are inserted, and a notch lla is formed.
接触子１２は、先端部１２ａおよび後端部１２ｂが中央
部より太くなっている棒状の金属体で、全体が外筒１１
内に収まって開口１１ｂ側になる先端部１２ａの端面が
リード３１に対する接触面となっており、軸方向に移動
可能でスプリング１３により開口１１ｂ方向に押圧され
、非接続状態では、図＋ａ）に示すように後端部１２ｂ
がノツチｌｌａに当たって先端部１２ａが開口１１ｂか
ら突出しないようになっている。The contactor 12 is a rod-shaped metal body whose tip end 12a and rear end 12b are thicker than the center, and the entire body is attached to the outer cylinder 11.
The end face of the distal end 12a that fits inside and faces the opening 11b is the contact surface for the lead 31, and is movable in the axial direction and is pressed in the direction of the opening 11b by the spring 13. As shown, the rear end portion 12b
touches the notch lla to prevent the tip 12a from protruding from the opening 11b.
ここで、先端部１２ａは、太さを外筒１１の内径に合わ
せてあり、側面が外筒１１に接触しながら移動するよう
になっている。また、リード３１に対する接触面となる
先端部１２ａの端面ば、例えば第２図の図＋８）〜ＴＣ
）に示すように、平面、円錐状の凹面、放射状に凹凸の
形成された錐状の凹面、などになっている。Here, the tip portion 12a has a thickness matched to the inner diameter of the outer tube 11, and is configured to move while being in contact with the outer tube 11 on its side surface. Further, the end surface of the tip portion 12a which becomes the contact surface with the lead 31, for example,
), it can be a flat surface, a conical concave surface, a conical concave surface with radial unevenness, etc.
そして、接続状態では、図（ｂ）に示すように先端部１
２ａがリード３１先端で押圧されて外筒１１の奥方向に
押し込まれ、所要の接触圧が形成されてり一ド３１との
接続を確保する。その際、漏斗状の開口１１ｂがリード
３１を案内するので、リード３１の先端が先端部１２ａ
の接触面から外れることがない。In the connected state, as shown in Figure (b), the tip 1
2a is pressed by the tip of the lead 31 and pushed toward the back of the outer cylinder 11, and the required contact pressure is formed to ensure connection with the lead 31. At this time, the funnel-shaped opening 11b guides the lead 31, so that the tip of the lead 31 is connected to the tip 12a.
It will not come off the contact surface.
スプリングコンタクタ１０は、上記接続を先端部１２ａ
と外筒１１との接触を介して外筒１１に導出し、外筒１
１に接続されている測定回路などの外部回路と接続対象
物との接続を行う。The spring contactor 10 has the above connection at the tip 12a.
is led out to the outer cylinder 11 through contact with the outer cylinder 11, and the outer cylinder 1
Connects an external circuit such as a measurement circuit connected to 1 to the connection target.
このため、接続対象物と外部回路との接続にスプリング
コンタクタ１０を用いた場合には、従来例の場合に問題
になったインダクタンスを形成する長さｌ、は、殆ど無
視できる長さになり、そこに形成されるインダクタンス
は極めて微少になる。Therefore, when the spring contactor 10 is used to connect an object to be connected and an external circuit, the length l that forms the inductance, which was a problem in the conventional example, becomes almost negligible. The inductance formed there becomes extremely small.
第３図に示すテストボードの実施例は、従来例の場合と
同様に外部回路と接続対象物とを接続する手段であり、
スプリングコンタクタ１０を用いたものである。The embodiment of the test board shown in FIG. 3 is a means for connecting an external circuit and an object to be connected, as in the case of the conventional example.
A spring contactor 10 is used.
う
第合図において、１４は配線板、１５はスプリングコン
タクタ１０用のソケット、である。In the first figure, 14 is a wiring board, and 15 is a socket for the spring contactor 10.
配線板１４は例えばスルーホールを有する多層配線板で
あり、その配線は要すればインピーダンス整合の措置が
施されている。The wiring board 14 is, for example, a multilayer wiring board having through holes, and its wiring is provided with impedance matching measures, if necessary.
ソケット１５は、スプリングコンタクタ１０をしっくり
挿入できる金属製の管であり、配線板１４のスルーホー
ルに嵌入固定されて配線板１４の配線と接続されており
、スプリングコンタクタ１０が嵌挿される。The socket 15 is a metal tube into which the spring contactor 10 can be inserted snugly, and is fitted and fixed into a through hole of the wiring board 14 and connected to the wiring of the wiring board 14, into which the spring contactor 10 is inserted.
一般に接続対象物のり−ド３１が複数であることから、
ソケット１５はそれに見合った複数個がリード３１の配
列に合わせて配列される。Generally, since there are multiple boards 31 of the object to be connected,
A corresponding plurality of sockets 15 are arranged in accordance with the arrangement of the leads 31.
また、スプリングコンタクタ１０が破損した場合には、
その交換が可能である。In addition, if the spring contactor 10 is damaged,
That exchange is possible.
そして、スプリングコンタクタｌＯの外筒１１から配線
板１４の配線までの距離が極めて短くなるため、接続対
象物と外部回路との接続に上記テストボードを用いた場
合には、従来例の場合に問題になったインダクタンスを
形成する長さ１２は、殆ど無視できる長さになり、そこ
に形成されるインダクタンスは極めて微少になる。Since the distance from the outer cylinder 11 of the spring contactor IO to the wiring on the wiring board 14 becomes extremely short, when the above test board is used to connect the connection object and the external circuit, problems may arise in the case of the conventional example. The length 12 that forms the inductance becomes almost negligible, and the inductance formed there becomes extremely small.
なお上記のテストボードにおいて、配線板１４のスルー
ホールがスプリングコンタクタ１０をしっくり挿入でき
るものであるならば、ソケット１５を省略しても良い。In the test board described above, the socket 15 may be omitted if the through hole of the wiring board 14 allows the spring contactor 10 to be inserted snugly.
かくしてスプリングコンタクタおよびテストボードは、
接続対象物の周波数が高くなっても実際の特性をより正
確に伝達するものとなり、高速化された半導体装置など
の測定に使用するのに適したものとなる。The spring contactor and test board are thus
Even if the frequency of the connected object becomes higher, the actual characteristics can be transmitted more accurately, making it suitable for use in measuring high-speed semiconductor devices.
以上説明したように本発明の構成によれば、外筒内に挿
入された接触子を具えその端面が接続対象物のリード先
端により押圧されて接触接続を行うスプリングコンタク
タ、およびそれを用いたテストボードにおいて、接続対
象物と外部回路との接続部に形成されるインダクタンス
を微少にさせることができて、接続対象物の周波数が高
くなっても実際の特性をより正確に伝達するものとなり
、例えば高速化された半導体装置などのより正確な特性
測定を可能にさせる効果がある。As explained above, according to the configuration of the present invention, there is provided a spring contactor which includes a contactor inserted into an outer cylinder and whose end face is pressed by a lead tip of a connection target to make a contact connection, and a test using the same. On the board, the inductance formed at the connection between the connected object and the external circuit can be minimized, and even if the frequency of the connected object becomes high, the actual characteristics can be transmitted more accurately, for example. This has the effect of enabling more accurate characteristic measurements of high-speed semiconductor devices and the like.
第１図はスプリングコンタクタ実施例の側断面図、
第２図は接触子の接触面形状例を示す斜視図、第３図は
テストボード実施例の側断面図、第４図はスプリングコ
ンタクタ従来例の側断面図、
第５図はテストボード従来例の側断面図、である。
図において、
１０．２０はスプリングコンタクタ、
１１．２１は外筒、
１１ａ 、 ２１ａ はノツチ、
１１ｂは漏斗状の開口、
１２．２２は接触子、
１２ａ 、 ２２ａは先端部、
１２ｂ 、２２ｂは後端部、
１３．２３はスプリング、
１４．２４は配線板、
１５．２５はソケット、
３１は接続対象物のリード、
である。
バブ１ルグコ〉り２夕夷簸制分制許箇図孕 Ｉ 口
茅 ２ の
テストボード晩＠の側ぽｌｉｔ囚
勇し ３ 口Fig. 1 is a side sectional view of a spring contactor embodiment, Fig. 2 is a perspective view showing an example of the contact surface shape of a contact, Fig. 3 is a side sectional view of a test board embodiment, and Fig. 4 is a conventional spring contactor example. FIG. 5 is a side sectional view of a conventional test board. In the figure, 10.20 is a spring contactor, 11.21 is an outer cylinder, 11a, 21a are notches, 11b is a funnel-shaped opening, 12.22 is a contactor, 12a, 22a are tips, 12b, 22b are rear ends 13.23 is a spring, 14.24 is a wiring board, 15.25 is a socket, and 31 is a lead of a connection object. Babu 1 Luguco〉ri 2 Evening elutriation system division system permitting illustration
Claims (1)
中央部より太くなっている棒状をなし、外筒内に後端部
から挿入されて先端部が上記開口から突出しないように
且つ先端部の側面が外筒に接触し導通しながら軸方向に
移動可能に支持され、該先端部の端面が接続対象物のリ
ード先端に対する接触面となる金属の接触子と、外筒内
の接触子の奥にあって接触子を上記開口側に向けて押圧
するスプリングとを具えて、上記リード先端が上記接触
面を押圧することにより接続対象物と接続されることを
特徴とするスプリングコンタクタ。 ２）上記外筒の上記開口は、漏斗状に広がっていること
を特徴とする特許請求の範囲第１項記載のスプリングコ
ンタクタ。 ３）一端が開口している筒状の金属の外筒と、先端部が
中央部より太くなっている棒状をなし、外筒内に後端部
から挿入されて先端部が上記開口から突出しないように
且つ先端部の側面が外筒に接触しながら軸方向に移動可
能に支持され、該先端部の端面が接続対象物のリード先
端に対する接触面となる金属の接触子と、外筒内の接触
子の奥にあって接触子を上記開口側に向けて押圧するス
プリングとを具えて、上記リード先端が上記接触面を押
圧することにより接続対象物と接続されるスプリングコ
ンタクタが、該外筒を配線板に設けられた孔に嵌挿され
て、配線板の配線と接続されてなることを特徴とするテ
ストボード。[Scope of Claims] 1) A cylindrical metal outer cylinder with one end open, and a rod-shaped tip with a thicker tip than the center, which is inserted into the outer cylinder from the rear end and has a tip. is supported so that it does not protrude from the opening, and the side surface of the tip contacts the outer cylinder so as to be movable in the axial direction while electrically conducting, and the end surface of the tip serves as a contact surface for the lead tip of the object to be connected. The lead includes a contact and a spring that is located at the back of the contact in the outer cylinder and presses the contact toward the opening, and the lead tip is connected to the object to be connected by pressing the contact surface. A spring contactor characterized by: 2) The spring contactor according to claim 1, wherein the opening of the outer cylinder is widened in a funnel shape. 3) A cylindrical metal outer cylinder with an open end at one end and a rod-like shape where the tip is thicker than the center, and is inserted into the outer cylinder from the rear end so that the tip does not protrude from the opening. A metal contactor is supported so as to be movable in the axial direction while the side surface of the tip is in contact with the outer cylinder, and the end surface of the tip serves as a contact surface for the lead tip of the object to be connected. A spring contactor is provided with a spring disposed at the back of the contact and presses the contact toward the opening side, and the spring contactor is connected to the object to be connected by pressing the contact surface with the lead tip. A test board characterized in that the test board is inserted into a hole provided in a wiring board and connected to wiring on the wiring board.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26711287A JPH01109670A (en) | 1987-10-22 | 1987-10-22 | Spring contactor and test board using same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26711287A JPH01109670A (en) | 1987-10-22 | 1987-10-22 | Spring contactor and test board using same |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01109670A true JPH01109670A (en) | 1989-04-26 |
Family
ID=17440228
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26711287A Pending JPH01109670A (en) | 1987-10-22 | 1987-10-22 | Spring contactor and test board using same |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01109670A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001099863A (en) * | 1999-10-01 | 2001-04-13 | Japan Electronic Materials Corp | Probe and probe card using the same |
| KR100435050B1 (en) * | 2000-03-15 | 2004-06-09 | 가부시키가이샤 엔프라스 | Socket for electrical parts |
| KR100490352B1 (en) * | 1997-02-04 | 2005-08-29 | 뒤르딸 에스아 | Spring-loaded contact connector |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6118584B2 (en) * | 1976-06-04 | 1986-05-13 | Mitsui Petrochemical Ind |
-
1987
- 1987-10-22 JP JP26711287A patent/JPH01109670A/en active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6118584B2 (en) * | 1976-06-04 | 1986-05-13 | Mitsui Petrochemical Ind |
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