JPH01103261A - 表面研磨方法 - Google Patents

表面研磨方法

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JPH01103261A
JPH01103261A JP62260369A JP26036987A JPH01103261A JP H01103261 A JPH01103261 A JP H01103261A JP 62260369 A JP62260369 A JP 62260369A JP 26036987 A JP26036987 A JP 26036987A JP H01103261 A JPH01103261 A JP H01103261A
Authority
JP
Japan
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polishing
polished
plate
rough
surface plate
Prior art date
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Pending
Application number
JP62260369A
Other languages
English (en)
Inventor
Kentaro Sakamoto
坂本 憲太郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Materials Silicon Corp
Mitsubishi Metal Corp
Original Assignee
Mitsubishi Metal Corp
Japan Silicon Co Ltd
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Metal Corp, Japan Silicon Co Ltd filed Critical Mitsubishi Metal Corp
Priority to JP62260369A priority Critical patent/JPH01103261A/ja
Publication of JPH01103261A publication Critical patent/JPH01103261A/ja
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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野) この発明は、半導体シリコンウェーハ等の薄板表面の研
磨に用いて好適な研磨方法にr@するものである。
(従来の技術) シリコンウェーハは、ICや半導体素子の基板となる超
高純度シリコン単結晶の円板状薄板である。このシリコ
ンウェーハは、極めて^精度の表面粗さや平面度が要求
されるため、一般にその表面にはラッピングやポリッシ
ングが行なわれており、Rn的に鏡面仕上げが施されて
いる。
これらラッピングやポリッシングなどの研磨工程におい
ては、従来より種々の方法が用いられているが、その中
でシリコンウェーへの片面を研磨する場合に従来より広
く用いられている方法を第5図及び第6図を用いて説明
する。
第5図において符号1はシリコンウェーハであり、この
シリコンウェーハ1は図に示すように複数枚が等間隔に
円形のキャリアプレート2に固着されている。この固着
方法としては、シリコンウェーハ1の片面にワックスを
塗布することによりシリコンウェーハ1をキャリアプレ
ート2の片面に接着するワックス法と、真空吸着、水貼
り等の方法により吸着するワックスレス法とがある。
上記のいずれかの方法によりキャリアプレート2の片面
に固着されたシリコンウェーハ1は、ついで表面研磨が
行なわれるが、この方法を第6図により説明する。
先ず、キャリアプレート2を、シリコンウェーハ1が固
着された面を下方にして、その表面に研磨布3が張り付
1ノられた定5184上に載置する。なお、この定盤4
は図示しない駆動装置と連結されており、軸線Oを中心
として回転運動をすることが可能である。また定a4上
に載置するキャリアプレート2の枚数は図では1枚とな
っているが、実際には複数枚を載置するものである。
次に、キャリアプレート2の上部に加圧ヘッド5を密着
させ、シリコンウェーハ1を研磨布3に加圧する。なお
、この加圧ヘッド5は図示しない昇降装置と自在継手に
よって連結されており、上昇下降可能で且つ回転自在と
なっている。
シリコンウェーハ1を研磨布3に加圧したら、rl布3
上に砥粒とアルカリ液とを氾合したスラリー状?ilI
磨液を供給しながら定盤4を軸線Oを中心として図中矢
印方向に回転さぼる。この場合、キャリアプレート2に
固着された各シリコンウェーハ1と研磨布3との接触面
における相対速度は定5!84の軸tiaOから離れる
に従って大きくなるため、キャリアプレート2に固着さ
れたシリコンウェーハ1のうち、研磨布3と定盤4の外
側において接触しているシリコンウェーハ1にはより大
ぎい相対速度が与えられ、キャリアプレート2は加圧ヘ
ッド5とともに図中矢印方向に回転させられる。そして
、各シリコンウェーハ1の下面が研磨布3に擦られ研磨
液を介して研磨されるのである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところが、上記方法によってシリコンウェーハ1表面を
研磨する場合、次のような問題点があった。
一般に、所要の面粗度や平面度を一回の研磨工程で得る
ことは難しいため、通常は研磨工程を粗研磨工程と仕上
げ研磨工程とに分けて作業を行なっている。従って、上
記従来の研磨方法によれば、先ず表面の研磨布3が粗研
磨用となっている定盤4を備えた粗研磨装置でシリコン
ウェーハ1表面に粗研磨を施し、ついで表面の研磨布3
が仕上げ研磨用となっている定盤4を備えた仕上げ研磨
装置でシリコンウェーハ1表面に仕上げ研磨を施すとい
う研磨装置の使い分けが必要であり、このことは、研f
fi装置に対する設備投資や設置スペースの負担が増大
するばかりでなく、段取り換えに相当の人手や時間を要
し、非常に不経済且つ非能率的なものであった。また、
粗研磨終了後に加圧を開放して各シリコンウェーハ1を
別の定盤に載せ換えるため、各装置の精度特性の相違や
、各シリコンウェーハ1への加圧状態の変化が原因とな
って各シリコンウェーハ1表面の面粗度が向上しても、
平面度がかえって劣化する場合もあった。さらに、上記
従来の研磨方法では、スラリー状l1lls液が供給さ
れた研磨布3の表面上を次々とシリコンウェーハ1が通
過するため研磨液や切屑の逃げ場がなく、rtlI磨布
3が容易に目詰まりを起こしてその表面の研磨能が低下
し、研磨に要する時間が長くなったり、シリコンウェー
ハ1表面の精度に悪影響を与えることもあった。
本発明は上記の事情に鑑み、被研磨材表面を研磨する場
合に、装置を使い分けることなく粗研磨と仕上げ研磨を
連続して行ない、且つ研磨面の目詰まりも防いで、研磨
に要する時間や人手を削減し所要の面粗度や平面度を容
易に得ることが可能な表面研磨方法を提供することを目
的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の表面研磨方法においては、研磨に使用する定盤
表面の周方向に粗研磨面と仕上げω1磨面とを交互に隣
接させて形成し、これら各研磨面が定盤の軸方向に互い
に段差を生じるような移動機構を設け、先ず定盤表面に
粗研磨面を突出させ、この状態で被研磨材表面に粗研磨
を施し、ついで定盤表面に仕上げ研磨面を突出させ、こ
の状態で被研磨材表面に仕上げ研磨を行なう。この場合
、定盤表面に供給されたスラリー状研磨液や切屑は、定
盤表面から後退している研磨面に排出されるので、定盤
表面に突出させられた研磨面には目詰りが起こりにくい
。従って、被研磨材表面に短時間で能率良く研磨を施す
ことが可能である。
〔実施例〕
以下、本発明の表面研磨方法の一実施例を第1図乃至第
4図を用いて説明する。なお、第1図乃至第4図におい
て、第5凹凸び第6図と同一の構成要素には同一符号を
示しである。
第1凹凸び第3図において符号1はシリコンウェーハで
ある。このシリコンウェーハ1は、第3図に示ずように
複数枚が等間隔に円形のキャリアプレート2に固着され
ており、この固着方法は上記従来のワックス法若しくは
ワックスレス法のいずれかによるものである。
上記キャリアプレート2に固着されたシリコンウェーハ
1は、本発明の表面研磨方法においては定盤4上に加圧
され、その表面に粗1iA磨面及び仕上げ研磨が連続し
て行なわれるのであるが、これに用いる研磨装置を第1
図乃至第3図を用いて説明する。
第1凹凸び第2図に示すように定盤4は、固定定盤6と
移動室!117を同軸的に組み合わせることにより構成
されている。固定定盤6は第2図に示すように円筒体で
、その上面は扇形突部6aと扇形溝部6bとによって放
射状に8等分され、さらにその中心には案内穴6Cが形
成されている。そして、上記扇形突部6aの表面には仕
上げ研磨用研磨布8が張り付けられている。
一方、上記移動定盤7は、上記固定定盤6の扇形溝部6
bと同一形状の4枚の扇形フランジ7aを同一平面状で
放射状に配設し、これら各扇形7ランジ7aを、上記固
定定盤6の案内穴6Cの内径寸法と同一の外径寸法を右
する中心軸7bによってその軸端部で一体に結合した形
状であり、さらに中心軸7bの他端にはおねじ部7Cが
形成されている。そして各扇形7ランジ7aの表面には
粗研磨用研磨布9が張り付けられており、この粗研磨用
研磨布9を含んだ扇形フランジ7aの厚さは、上記固定
定盤6の仕上げ研磨用研磨布8の表面から扇形溝部6b
底面迄の深さ寸法より十分に小さく定められており、扇
形溝部6bと扇形7ランジ7aを当接させたとぎ、粗研
磨用研磨布9が十分に仕上げ研磨用研磨布8の下方へ位
置するようになっている。
上記固定定盤6の案内穴6Cに移動定盤7の中心軸7b
をはめ合わせ、扇形フランジ7aを扇形溝部6bにはめ
込むことによって定9114表面には第3図に示すよう
にその円周方向に交互に各研磨布8,9の表面が露出さ
れる。そして、上記移動定盤7を定盤4内の移動機構1
0によって軸方向に移動させることにより、定盤4表面
に粗研磨用研磨布9若しくは仕上げ研磨用研磨布8のみ
を突出させることができる。
上記移17J機横10は、第1図に示すように一対の小
かさ歯車11と大かさ歯車12とから成るものである。
小かさ歯1111は、定盤4の軸線Oと直交する方向に
その軸線を有し、上記固定室I6の側面内に設けられた
ベアリング13によって軸11aを介し回転自在に支持
されている。そして、この軸11aの先端部には固定室
5!l16の側面から突出させておねじ部14が形成さ
れており、このおねじ部14には上記小かさ歯1111
の回転を固定するための止ナツト15がねじ込まれ、さ
らにこのおねじ部14の端面には六角穴16が形成され
ている。一方、上記大かさ歯車12は上記小かさ歯車1
1と噛み合わされており、その軸12aの両端部がベア
リング17.18によって支持され、上記小かさ歯車1
1の回転によって軸線Oのまわりに回転することができ
る。また、この大かさ歯車12の内周面にはめねじ部1
9が形成されており、このめねじ部19には上記移動・
定盤7のおねじ部7Cがねじ込まれている。ところで、
上記移動定盤7はその扇形7ランジ7aが固定定盤6の
扇形溝部6bにはめ込まれているため、固定定盤6に対
して回転運動を行なうことができない。
従って、上記小かさ歯車11を回転させるとこの回転運
動が大かさ歯車12のめねじ部19に減速して伝えられ
、これにねじ込まれた移動定盤7のおねじ部7Cに直線
運動が与えられ、移動定盤7が軸1/MOの方向に移動
することになるのである。
一方、上記定盤4の下面には第1図に示すように回転軸
20が固定されており、この回転@20は図示しない駆
動装置と連結されているため、上記窓5I84はその@
線0のまわりに回転することができる。また、定盤4の
上方には複数の加圧ヘッド5が設けられており、各加圧
ヘッド5は図示しない昇降装置と自在継手によって連結
されており、上昇下降可能で且つ回転自在となっている
上記構成の研磨装置を用いて、キャリアプレート2に固
着されたシリコンウェーハ1表面に先ず粗研磨を施すに
は以下の手順で行なう。
先ず、第1図及び第3図に示すようにキャリアプレート
2をシリコンウェーハ1が固着された面を下方にして、
定51i14表面に複数枚等間隔に載置する。ついで、
上記六角穴16に六角レンチを挿入して小かさ歯車11
を回し、移動室17を上方へ移動させて、第4図(A)
に示すように粗研磨用研磨布9表面の凹部頂点が仕上げ
研磨用研磨布8表面の凸部頂点とほぼ同じ高さとなった
ら、止ナツト15を締め付けて小かさ歯車11の回転を
固定する。そして、各加圧ヘッド5を下降させ、キャリ
アプレート2上面と密着させて、上記粗研磨用研磨布9
の表面凹凸部によってシリコンウェーハ1の表面が擦ら
れる程度にシリコンウェーハ1を加圧し、この状態で定
514表面にスラリー状研磨液を供給しながら、定盤4
を軸線0を中心として図中矢印方向に回転させる。この
場合、上記従来の表面研磨方法の場合と同じく、各シリ
コンウェーハ1接触面における相対速度の違いから各キ
ャリアプレート2は各加圧ヘッド5とともに図中矢印方
向へ回転さVられる。そして、各シリコンウェーハ1の
表面は上記粗研磨用研磨布9及び仕上げ研磨用研磨布8
の表面を交互に通過するのであるが、上述のように粗研
磨用研磨布9の凹凸部が仕上げ研磨用研磨布8の凸部頂
点より高くなっていることと、各加圧ヘッド5による加
圧力が仕上げ研磨用研磨布8表面の白部分では十分小さ
いことから各シリコンウェーハ1の表面は仕上げ研磨用
研磨布8上を通過する際にはその表面凸部によって支持
されて研磨されず、粗研磨用ω1磨布9上を通過する際
にはその表面の凹凸部分と擦られ、研磨液を介して粗研
磨が施されるのである。
以上の手順によって粗研磨を行ない定!34の回転を停
止したら、本発明の表面研磨方法においては引き続き仕
上げ研磨を行なうが、この手順を以下に説明する。
先ず、上記六角穴16に六角レンチを挿入し、上記粗研
磨時とは逆方向へ小かさ歯車11を回し、移動室!87
を下方へ移動させて、第4図(B)に示すように仕上げ
研磨用研磨布8表面の四部頂点が粗研磨用研磨布9表面
の凸部頂点とほぼ同じ高さとなったら、止ナツト15を
締め付けて小かさ歯車11の回転を固定する。そして、
各加圧ヘッド5をわずかに下降させ、上記仕上げ研磨用
研磨布8の表面凹凸部によってシリコンウェーハ1の表
面が擦られる程度にシリコンウェーハ1を加圧し、上記
粗研磨時と同様に定盤4表面にスラリー状研磨液を供給
しながら定5114を回転させる。すると、シリコンウ
ェーハ1表面が粗研磨用研磨布9上を通過する際にはそ
の表面凸部によって支持されて研磨されず、仕上げ研磨
用研磨布8上を通過する際にはその表面の凹凸部と擦ら
れ、研磨液を介して仕上げ研磨が施されるのである。
以上のように本実施例では、粗研磨を終了したのち仕上
げ研磨を施すには、移動定盤7を軸方向に移動させて粗
研磨用研磨布9の仕上げ研磨用研磨布8に対する相対位
置を変化させ、各加圧ヘッド5をわずかに下降させるだ
けでよく、上記従来の表面研磨方法が装置の使い分けを
必要としたことに比べて、使用する装置が一つで、人手
や時間もかからないので非常に経済的且つ能率的に表面
研磨が行なえる。そして、上記作業においては、各シリ
コンウェーハ1は定盤4表面に密着させられたままであ
るから精度劣化の心配もない。また、粗研磨時及び仕上
げ研磨時のいずれの場合にもシリコンウェーハ1表面の
研磨に寄与しない研磨布表面が、研磨を行なう研磨布表
面より低くなっているので、スラリー状研磨液や切屑は
、この低くなった研磨布表面に次々と流れ込み、定盤4
の回転による遠心力で定盤4の外周部から逐次排出され
る。従って、各研磨布8.9は目詰まりを起こすことも
なく、研磨時間を長引かせたり、シリコンウェーハ1表
面の精度に悪影響を与えることもない。
なお、本実施例においては、シリコンウェーハ1の片面
を研磨する方法について説明したが、本発明の表面研磨
方法はこれに限るものではなく、例えば表面に研磨面が
形成された2枚の定盤で4ニヤリアに保持された被研磨
材を挟み込み、これら各定盤をそれぞれ反対方向に回転
させるとともに上記キャリアを遊星運動させ、被Iil
IM材両面を研磨するフォーウェイ方式の表面研磨方法
においても、各定盤を本実施例において使用した定盤4
と同一の構成とすればなんら支障なく本発明の効果を生
じせしめることができるものである。また、研磨中に供
給するスラリー状研磨液の種類を粗研磨と仕上げ研磨と
で変化させても、各研磨時において研磨液や切屑の排出
性が良好で研磨布表面が目詰まりを起こさないから、研
磨終了時に研磨布表面に残った研磨液を容易に除去でき
るので何ら問題はない。
(発明の効果〕 以上説明したように、本発明の表面研磨方法においては
、被研磨材が加圧される定盤の表面周方向に粗研磨面と
仕上げ研磨面とを交互に隣接させて形成し、これら各研
磨面が定盤の軸方向に互いに段差を生じるような移動機
構を設け、これら各研磨面を使い分けることによって被
研磨材表面に粗研磨及び仕上げ研磨を連続して施してい
る。従って、表面研磨に用いる装置に対する設備投資や
その設置スペースの負担が軽減され、研磨に要する人手
や時間も大幅に低減され、極めて経流的且つ能率的に表
面研磨を行なうことが可能である。
そして、被研磨材の載せ換えを必要としないから、被研
磨材表面の平面度を劣化させる心配もなく、また研磨面
の研磨液や切屑による目詰まりも防止できるので、その
研磨能も低下せず、研磨に要する時間が長くなったり、
被研磨材表面に悪影響を与えることがない。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第4図は本発明の表面研磨方法の一実施例を
示すものであり、第1図は研磨装置の断面図、第2図は
定盤の構成を示す斜視図、第3図は各被研磨材の定盤表
面への載置状態を示す平面図、第4図は各研磨時におけ
る定盤表面部分の側面拡大図であり、(A)は粗研磨時
の拡大図、(8)は仕上げ研磨時の拡大図、そして第5
図及び第6図は従来の表面研磨方法の一例を示すもので
、第5図はシリコンウェーハが固着されたキャリアプレ
ートの平面図、第6図は研磨方法の説明図である。 1・・・シリコンウェーハ、2・・・キャリアプレート
、3・・・研磨布、4・・・定盤、5・・・加圧ヘッド
、6・・・固定定盤、7・・・移動定盤、8・・・仕上
げ研磨用研磨布、9・・・粗研磨用研磨布、10・・・
移動機構。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  被研磨材をその表面が研磨面となつている定盤に加圧
    し、この定盤を回転運動させて前記被研磨材表面と前記
    研磨面との間に相対運動を与え、被研磨材表面の研磨を
    行なう表面研磨方法において、前記定盤表面の周方向に
    粗研磨面と仕上げ研磨面とを交互に隣接させて形成し、
    これら各研磨面が定盤の軸方向に互いに段差を生じるよ
    うな移動機構を設け、先ず定盤表面に粗研磨面を突出さ
    せ、この状態で被研磨材表面に粗研磨を施し、ついで定
    盤表面に仕上げ研磨面を突出させ、この状態で被研磨材
    表面に仕上げ研磨を行なうことを特徴とする表面研磨方
    法。
JP62260369A 1987-10-15 1987-10-15 表面研磨方法 Pending JPH01103261A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1048118C (zh) * 1994-05-18 2000-01-05 Memc电子材料有限公司 减小表面粗糙度的半导体晶片的粗抛方法

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59201763A (ja) * 1983-04-28 1984-11-15 Matsushita Electric Works Ltd 自動研磨装置の工具

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