JP7843815B1 - 状態監視装置および状態監視方法 - Google Patents
状態監視装置および状態監視方法Info
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Abstract
【解決手段】状態監視装置100は、振動に起因する物理量を検出するセンサー20から得られた振動データを保存する記憶装置150と、記憶装置150から振動データを受け、異常判定を行なう演算装置160とを備える。演算装置160は、診断対象とする軸受12の振動データから診断対象のエンベロープスペクトルを求める処理と、診断対象のエンベロープスペクトルにおいて、振幅が第1しきい値を超える診断対象データを抽出する処理と、抽出した診断対象データの振幅から、診断対象の比較値を算出する処理と、診断対象の比較値を基準の比較値で割った値を比較値の比率とし、比較値の比率が予め設定した第2しきい値以上であれば、異常と判定する処理とを実行するように構成される。
【選択図】図1
Description
図1は、本実施の形態に係る状態監視装置の構成を示すブロック図である。図1を参照して、状態監視装置100は、被試験装置10に設置された振動系のセンサー20から信号を受けて、被試験装置10の状態を監視し、異常を検出する。被試験装置10は、例えば工場、発電所などに設置された回転機器を含む設備である。回転機器は軸受12を含む。軸受12は、たとえば転がり軸受である。軸受12は、回転軸19に嵌合された内輪16と、被試験装置10に固定された外輪14と、内輪と外輪との間に配置された複数の転動体18と、転動体18の間隔を保持する保持器(図示せず)とを含む。
まず、予め正常状態の軸受を用いて振動波形を取得する。正常状態の振動波形から基準値が算出される。
続いて、異常判定に使用する比較値の算出処理について説明する。図8は、比較値の算出処理を説明するためのフローチャートである。
基準値と比較値が算出されたら、その後、状態監視装置100は、対象軸受が異常であるか否かを診断する処理を実行する。
・試験軸受:アンギュラ玉軸受
・面荒れ箇所:軸受内輪および外輪
・回転速度:1000min-1
・サンプリング周波数:25.6kHz
また振動信号を分析した分析条件は以下の通りである。
・フィルター:ハイパスフィルター 4kHz
・基準値の算出方法:エンベロープ波形の実効値
・第1しきい値:基準値の2倍~5倍
・比較値の算出方法:第1しきい値を超えたエンベロープスペクトルデータの振幅の実効値
図16は、基準値と比較値の比率と第2しきい値との関係の一例を説明するための図である。
上述した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
Claims (7)
- 軸受の面荒れを検出する状態監視装置であって、
振動に起因する物理量を検出するセンサーから得られた振動データを保存する記憶装置と、
前記記憶装置から前記振動データを受け、異常判定を行なう演算装置とを備え、
比較値が、振幅の実効値、平均値、中央値のいずれか1つであるとした場合に、
前記演算装置は、
診断対象とする軸受の振動データから診断対象のエンベロープスペクトルを求める処理と、
前記診断対象のエンベロープスペクトルにおいて、振幅が第1しきい値を超える診断対象データを抽出する処理と、
抽出した前記診断対象データの振幅から、診断対象の比較値を算出する処理と、
正常状態の軸受の振動データから正常状態のエンベロープスペクトルを求める処理と、
前記正常状態のエンベロープスペクトルにおいて、振幅が前記第1しきい値を超える正常データを抽出する処理と、
抽出した前記正常データの振幅から、基準の比較値を算出する処理と、
前記診断対象の比較値を前記基準の比較値で割った値を比較値の比率とし、前記比較値の比率が予め設定した第2しきい値以上であれば、異常と判定する処理とを実行するように構成される、状態監視装置。 - 前記演算装置は、前記正常状態のエンベロープスペクトルの振幅から算出した基準値に基づいて前記第1しきい値を設定するように構成される、請求項1に記載の状態監視装置。
- 前記演算装置は、前記基準値の実数倍を前記第1しきい値に設定し、前記基準の比較値の実数倍を前記第2しきい値に設定するように構成される、請求項2に記載の状態監視装置。
- 前記演算装置は、前記正常状態の軸受に対応するエンベロープスペクトル、前記基準値、前記基準値の算出方法、前記第1しきい値、前記基準の比較値のいずれかを含む基準値データを前記記憶装置に保存し、前記基準値データを前記記憶装置から取得して異常診断に用いるように構成される、請求項2に記載の状態監視装置。
- 前記演算装置は、エンベロープスペクトルの全周波数帯域に対して1つの前記第1しきい値を設定するように構成される、請求項1に記載の状態監視装置。
- 前記演算装置は、エンベロープスペクトルの帯域を複数の周波数帯域に分割し、分割した周波数帯域の各々に対して前記第1しきい値を設定するように構成される、請求項1に記載の状態監視装置。
- 軸受の振動に起因する物理量を検出し、振動信号を出力するセンサーから得られた振動データを分析し、軸受の面荒れを検出する状態監視方法であって、
診断対象とする軸受の振動データから診断対象のエンベロープスペクトルを求めるステップと、
前記診断対象のエンベロープスペクトルにおいて、振幅が第1しきい値を超える診断対象データを抽出するステップとを備え、
比較値が、振幅の実効値、平均値、中央値のいずれか1つであるとした場合に、
前記状態監視方法は、
正常状態の軸受の振動データから正常状態のエンベロープスペクトルを求めるステップと、
前記正常状態のエンベロープスペクトルにおいて、振幅が前記第1しきい値を超える正常データを抽出するステップと、
抽出した前記正常データの振幅から、基準の比較値を算出するステップと、
抽出した前記診断対象データの振幅から、診断対象の比較値を算出するステップと、
前記診断対象の比較値を前記基準の比較値で割った値を比較値の比率とし、前記比較値の比率が予め設定した第2しきい値以上であれば、異常と判定するステップとを備える、状態監視方法。
Priority Applications (2)
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|---|---|---|---|
| JP2024166015A JP7843815B1 (ja) | 2024-09-25 | 2024-09-25 | 状態監視装置および状態監視方法 |
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| JP2024166015A JP7843815B1 (ja) | 2024-09-25 | 2024-09-25 | 状態監視装置および状態監視方法 |
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| JP2026066994A JP2026066994A (ja) | 2026-04-20 |
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| JP2015031626A (ja) | 2013-08-05 | 2015-02-16 | Ntn株式会社 | 転がり軸受の状態監視装置 |
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-
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-
2025
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Patent Citations (4)
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