JP7583453B2 - ピッチコントロール剤 - Google Patents

Description

本開示は、ピッチコントロール剤、ピッチコントロール方法及びピッチ欠点の発生抑制方法に関する。

従来から、製紙工程（なかでも特に抄紙工程）においてはピッチによる障害が発生することが問題となっている。これを抑制及び／又は防止するために、様々な薬剤の開発が行われている。ピッチとは、木材、パルプ及び紙等から遊離した天然樹脂やガム物質、さらには紙及びパルプの製造工程で使用される添加剤等に由来する有機物を主体とする非水溶性の粘着物質のことをいう。

一般に、ピッチは、紙及びパルプの製造における工程水、すなわち、パルプスラリーや白水等の中においてコロイド状態で分散している。しかし、何らかの外的作用がピッチに作用することによってそのコロイド状態が破壊され、その結果、ピッチが凝集して巨大化すると考えられている。外的作用としては、例えば、大きな剪断力、ｐＨの急激な変化、及び硫酸バンド（硫酸アルミニウム）の過剰添加等がある。
凝集して巨大化したピッチは、その粘着性により、ファンポンプ、配管内、チェスト、ワイヤー、フェルト及びロール等の製造装置類に付着するだけでなく、この付着物が剥離して紙やパルプに再付着する。ピッチが再付着することによって、形成された紙の汚点及び／又は欠点が紙製品の品質を低下させ、さらには発生する断紙が生産性・作業性を低下させる等の障害を引き起こす。

欠点の一つとしてしみ出し欠点があり、近年、このしみ出し欠点の発生が大きな問題の一つになっている。しみ出し欠点は、ピッチに含まれる蜜蝋やパラフィンワックスが、抄紙後の加熱乾燥工程において溶け出し、紙表面にしみ出すことで生じる欠点をいう。古紙として蝋引き段古紙の回収量の増加に伴い、しみ出し欠点の発生頻度が増加しているため、しみ出し欠点の抑制が求められている。

ピッチ障害を抑制するために、様々な方法が提案されている。特許文献１は、ポリオキシエチレンアルキルアミン化合物である非イオン界面活性剤を用いたピッチ障害の抑制方法を開示する。特許文献２は、ポリオキシアルキレンアルキルアミンブロック共重合体、有機ホスホン酸及び非イオン界面活性剤（ポリオキシアルキレンアルキルアミンを除く）を有効成分とするストーンロール汚れ防止剤を用いた、ストーンロールからの湿紙の剥離性の改善方法に関する。同文献は、該ストーンロール汚れ防止剤によってピッチの堆積を防ぐことを開示する。特許文献３は、ポリオキシアルキレンアルキルアミン及びポリオキシアルキレンアルキルアミドからなる群から選択される一つと、金属イオン封鎖剤とを含むピッチコントロール剤を開示する。特許文献４は、硫酸ナトリウム、硫酸カリウム、ｄ－リモネン、メタケイ酸ナトリウム、硫酸ラウリル、炭酸プロピレン及びそれらの混合物を用いて、パルプ紙料中のワックスを分離除去する方法を開示する。特許文献５は、リモネン、ノニオン性界面活性剤及びアルカリ性化合物を含む薬剤を使用して、製紙工程におけるピッチ障害を防止する方法を開示する。

特公昭６３－２３３２０号公報 特開平１１－２１７７８７号公報 特開平０４－３５２８９３号公報 特表２００３－５１７５２０号公報 特開２００８－００７８６２号公報

しかしながら、従来の方法では、製紙工程におけるピッチの発生を十分に抑制できているとは言えず、特に、抄紙後に得られる紙表面におけるしみ出し欠点の抑制と、製紙工程において発生し得るピッチの分散性向上とを実現可能な新たな薬剤が求められている。

本開示は紙の製造工程において、しみ出し欠点の抑制とピッチ分散性の向上とを実現可能なピッチコントロール剤、ピッチコントロール方法及びピッチ欠点の発生抑制方法を提供する。

本開示は、一態様として、モノテルペンと、界面活性剤Ａと、界面活性剤Ｂと、界面活性剤Ｃとを含有するピッチコントロール剤であって、
前記界面活性剤Ａが、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、
前記界面活性剤Ｂが、アルキル基の炭素数が１０～１５であり、曇点を有するポリオキシアルキレンアルキルエーテルであり、
前記界面活性剤Ｃが、アルキル基の炭素数が１６以上であり、曇点を有する、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、ピッチコントロール剤に関する。

本開示は、その他の態様として、紙の製造工程におけるピッチコントロール方法であって、
製紙工程水系に、モノテルペン、界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ、及び界面活性剤Ｃを添加することを含み、
前記界面活性剤Ａが、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、
前記界面活性剤Ｂが、アルキル基の炭素数が１０～１５であり、曇点を有するポリオキシアルキレンアルキルエーテルであり、
前記界面活性剤Ｃが、アルキル基の炭素数が１６以上であり、曇点を有する、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、ピッチコントロール方法に関する。

本開示は、その他の態様として、製紙におけるピッチ欠点の発生を抑制する方法であって、
パルプスラリーに、モノテルペン、界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ、及び界面活性剤Ｃを添加することを含み、
前記界面活性剤Ａが、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、
前記界面活性剤Ｂが、アルキル基の炭素数が１０～１５であり、曇点を有するポリオキシアルキレンアルキルエーテルであり、
前記界面活性剤Ｃが、アルキル基の炭素数が１６以上であり、曇点を有する、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、ピッチ欠点の発生抑制方法。

本開示は、その他の態様として、モノテルペンと、非イオン界面活性剤Ａ１と、非イオン界面活性剤Ｂ１と、非イオン界面活性剤Ｃ１とを含有するピッチコントロール剤であって、
前記非イオン界面活性剤Ａ１が、ポリオキシアルキレンひまし油及びポリオキシアルキレン硬化ひまし油の少なくとも一方であり、
前記非イオン界面活性剤Ｂ１が、アルキル基の炭素数が１０～１５であるポリオキシアルキレンアルキルエーテルであり、
前記非イオン界面活性剤Ｃ１が、アルキル基の炭素数が１６以上である、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、ピッチコントロール剤に関する。

本開示は、一又は複数の実施形態において、しみ出し欠点の抑制とピッチの分散性の向上とを実現可能なピッチコントロール剤、ピッチコントロール方法及びピッチ欠点の発生抑制方法を提供できる。

本開示は、ｄ－リモネン、並びに下記の界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ及び界面活性剤Ｃを含有する薬剤組成物によれば、ワックス等に由来するしみ出し欠点を抑制するとともに、製紙工程において発生し得るピッチ分散性を向上できる、という知見に基づく。
界面活性剤Ａ：ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤
界面活性剤Ｂ：アルキル基の炭素数が１０～１５であり、曇点を有するポリオキシアルキレンアルキルエーテルである界面活性剤
界面活性剤Ｃ：アルキル基の炭素数が１６以上であり、曇点を有する、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される界面活性剤

ｄ－リモネンといったモノテルペン、及び上記３種類の界面活性剤（界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ及び界面活性剤Ｃ）を含有する薬剤組成物によって、ワックス等に由来するしみ出し欠点の抑制効果と、製紙工程において発生し得るピッチ分散性の向上効果との双方を実現できるメカニズムの詳細は明らかではないが、以下のように推察される。
界面活性剤Ａ及び界面活性剤Ｂを含有することにより、薬剤組成物中のモノテルペンの可溶化状態を、製剤（水溶液）及び処理液（パルプスラリー）中で安定に保つことができ、その結果、モノテルペンによるピッチの溶解性及び／又は除去効果が向上され、紙表面におけるしみ出し欠点の発生を抑制できると考えられる。また、上記薬剤成分に加えて界面活性剤Ｃを含有することから、ピッチの凝集を抑制してピッチの分散性を向上し、ピッチが巨大化するのを抑制できると考えられる。
但し、本開示はこれらのメカニズムに限定して解釈されなくてもよい。

本開示における「ピッチ」とは、製紙工程におけるパルプが含有する、機械パルプやクラフトパルプに由来する樹脂状物質の他、古紙パルプに由来する合成樹脂を総称するものをいい、また、これらの樹脂などが凝集して集塊化することにより形成される粘着性物質ともいうことができる。本開示におけるパルプとしては、一又は複数の実施形態において、晒化学パルプ、未晒化学パルプ、晒機械パルプ、未晒機械パルプ、古紙パルプ（ＤＩＰ）及びブロークパルプ等が挙げられる。晒化学パルプ及び未晒化学パルプとしては、クラフトパルプ（ＫＰ）及びサルファイトパルプ（ＳＰ）等が挙げられる。晒機械パルプ及び未晒機械パルプとしては、砕木パルプ（ＧＰ）及びサーモメカニカルパルプ（ＴＭＰ）等が挙げられる。

本開示における「ピッチの分散性向上」とは、一形態として、製紙工程において発生しうるピッチの大きさを小さくすること等が挙げられる。

本開示における「しみ出し欠点」とは、抄紙工程においてピッチが抄き込まれることに起因して紙表面に生じるピッチ由来の欠点であって、ピッチに含まれるワックス等の樹脂成分が紙表面に溶け出してしみ状になるしみ出し欠点をいう。

本開示における「しみ出し欠点の抑制」とは、一形態として、紙表面に生じうるしみ出し欠点の個数（欠点数）を減らすこと、及び／又はしみ出し欠点の大きさを小さくすること等が挙げられる。本開示における「しみ出し欠点の抑制」とは、一形態として、紙表面に生じうるしみ出し欠点の平均径としみ出し欠点の数とから算出される欠点面積（＝欠点数（個）×平均径（ｍｍ））を小さくすること等が挙げられる。
しみ出し欠点の個数、サイズ及び面積は、実施例に記載の方法により測定及び算出できる。

本開示における「ＨＬＢ（ｈｙｄｒｏｐｈｉｌｉｃ ｌｉｐｏｐｈｉｌｉｃ ｂａｌａｎｃｅ）」は、一又は複数の実施形態において、以下のグリフィン式を用いて算出することができる。
ＨＬＢ＝２０×（親水部の式量の総和／分子量）

本開示における「曇点」は、非イオン界面活性剤水溶液の温度を上昇した場合に白濁し相分離が生じる温度をいい、例えば、ＩＳＯ １０６５ １９９１（エチレンオキシドから得られる非イオン系界面活性剤及び混合された非イオン系界面活性剤－曇点の決定）に記載された測定方法により測定できる。界面活性剤Ｂは前記ＩＳＯ規定で定められる測定方法Ａ（蒸留水中で測定）により測定できる。界面活性剤Ｃは前記ＩＳＯ規定で定められる測定方法Ｃ（１０％食塩水中で測定）により測定できる。

［ピッチコントロール剤］
本開示のピッチコントロール剤は、一態様として、モノテルペンと、界面活性剤Ａと、界面活性剤Ｂと、界面活性剤Ｃとを含有する。
界面活性剤Ａ：ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤
界面活性剤Ｂ：アルキル基の炭素数が１０～１５であり、曇点を有するポリオキシアルキレンアルキルエーテルである界面活性剤
界面活性剤Ｃ：アルキル基の炭素数が１６以上であり、曇点を有する、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される界面活性剤
本開示のピッチコントロール剤は、一又は複数の実施形態において、製紙工程水系に添加することにより、ピッチの分散性を向上させることができるとともに、しみ出し欠点の発生を抑制することができる。よって、本開示のピッチコントロール剤によれば、一又は複数の実施形態において、製紙工程において発生しうるピッチトラブルを抑制することができ、かつ、得られる紙製品の品質を向上することができる。
本開示のピッチコントロール剤の用途としては、一又は複数の実施形態において、紙又はパルプの製造工程におけるピッチの分散性向上及び／又はピッチの凝集（巨大化）抑制のための使用、及び抄紙後に得られる紙表面におけるピッチ由来の欠点の発生抑制のための使用等が挙げられる。また、本開示のピッチコントロール剤の用途としては、一又は複数の実施形態において、抄紙後に得られる紙表面におけるしみ出し欠点の発生抑制のための使用、及びしみ出し欠点の発生が抑制された古紙の製造のための使用等が挙げられる。

本開示における「製紙工程」とは、原質系、原料調成系、白水循環系及び白水回収系（以下、これらを併せて「循環水系」とも云う。）を包含するパルプ／紙を製造する工程を意味し、さらには、抄紙マシンにおいてワイヤーパートやプレスパートから排出される水溶液（いわゆる「白水」）の回収系及び再利用系までを含めた水循環工程全体を含みうる。本開示における「製紙工程水系」としては、一又は複数の実施形態において、パルプスラリー及び白水をはじめ、原質系、原料調成系、白水循環系及び白水回収系といった循環水系の工程水、及び水循環工程水系に供給される工業用水や再利用水を含みうる。

＜モノテルペン＞
本開示において「モノテルペン」とは、テルペン化合物のうちイソプレン単位２個からなる炭素数が１０の化合物をいう。モノテルペンとしては、一又は複数の実施形態において、単環式モノテルペン、複素環式モノテルペン及び非環式モノテルペンが挙げられる。単環式モノテルペンとしては、一又は複数の実施形態において、ｄ－リモネン、パインオイル、ターピネオール、及びテレビン油等が挙げられる。

＜界面活性剤Ａ＞
界面活性剤Ａは、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤である。界面活性剤ＡのＨＬＢは、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、一又は複数の実施形態において、９．７以上である。同様の点から、一又は複数の実施形態において、１０．５以下又は１０．４以下である。

界面活性剤Ａとしては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシアルキレンひまし油、ポリオキシアルキレン硬化ひまし油、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル、ポリオキシアルキレンアルキルアミン、並びにこれらの混合物等が挙げられる。本開示においてアルキレンオキシド（ＡＯ）は、オキシエチレン基（ＥＯ）及びオキシプロピレン基（ＰＯ）の少なくとも一方である。本開示において、ＡＯにＥＯ及びＰＯが含まれる場合、ＥＯ及びＰＯの付加形態は、ブロックでもよく、ランダムでもよく、グラフトでもよく、順序も限定されなくてもよい。

ポリオキシアルキレンひまし油としては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシエチレンひまし油が挙げられる。ポリオキシアルキレン硬化ひまし油としては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシアルキレン硬化ひまし油及びその誘導体を含むことができ、好ましくはポリオキシエチレン硬化ひまし油が挙げられる。ポリオキシアルキレン硬化ひまし油の誘導体としては、一又は複数の実施形態において、ラウリル酸ポリオキシエチレン硬化ひまし油及びモノイソステアリン酸ポリオキシエチレン硬化ひまし油等のモノ脂肪酸ポリオキシアルキレン硬化ひまし油、及びポリオキシエチレン硬化ひまし油コハク酸等が挙げられる。

ポリオキシエチレンひまし油及びポリオキシエチレン硬化ひまし油におけるエチレンオキシドの付加モル数は、一又は複数の実施形態において、２５以下であり、製剤安定性のさらなる向上及び欠点発生のさらなる抑制の点から、２２以下又は２０以下である。同様の点から、一又は複数の実施形態において、１０以上又は１５以上である。

ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンのアルキル基の炭素数は、１５以下であり、一又は複数の実施形態において、製剤安定性のさらなる向上及び欠点発生のさらなる抑制の点から、１４以下又は１３以下である。アルキル基の炭素数は、同様の点から、一又は複数の実施形態において、１０以上又は１１以上である。
ポリオキシアルキレンアルキルエーテルとしては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシエチレンイソデシルエーテル（イソデシルエーテルＥＯ）、ポリオキシエチレンラウリルエーテル（ラウリルエーテルＥＯ）、及びポリオキシエチレントリデシルエーテル（トリデシルエーテルＥＯ）等が挙げられる。
ポリオキシアルキレンアルキルアミンとしては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシエチレンイソデシルアミン（イソデシルアミンＥＯ）、ポリオキシエチレンラウリルアミン（ラウリルアミンＥＯ）、及びポリオキシエチレントリデシルアミン（トリデシルアミンＥＯ）等が挙げられる。

界面活性剤Ａは、一又は複数の実施形態において、一種類であってもよいし、複数種類であってもよい。

＜界面活性剤Ｂ＞
界面活性剤Ｂは、アルキル基の炭素数が１０～１５であり、曇点を有するポリオキシアルキレンアルキルエーテルである。

ポリオキシアルキレンアルキルエーテルとしては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、及びポリオキシプロピレンアルキルエーテルが挙げられる。

界面活性剤Ｂは、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、一又は複数の実施形態において、第２級アルコールのポリアルキレンオキシド付加物及び第１級アルコールのポリアルキレンオキシド付加物の少なくとも一方であり、同様の点から、第２級アルコールのポリエチレンオキシド（ＥＯ）プロピレンオキシド（ＰＯ）付加物及び第１級アルコールのポリエチレンオキシド（ＥＯ）プロピレンオキシド（ＰＯ）付加物の少なくとも一方である。ＥＯ及びＰＯの付加形態は、ブロックでもよく、ランダムでもよく、グラフトでもよく、順序も限定されなくてもよい。

ポリオキシアルキレンアルキルエーテルのアルキル基の炭素数は、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、１２～１４が好ましい。ポリオキシアルキレンアルキルエーテルのアルキル基は、一又は複数の実施形態において、イソデシル基、ラウリル基、及びトリデシル基等が挙げられる。

界面活性剤Ｂは曇点を有する。界面活性剤Ｂの曇点は、一又は複数の実施形態において、４０℃～８０℃である。界面活性剤Ｂの曇点は、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、４１℃以上、４２℃以上、又は４３℃以上が好ましい。界面活性剤Ｂの曇点は、同様の点から、７５℃以下、７０℃以下、６５℃以下、６０℃以下、又は５９℃以下が好ましい。

界面活性剤ＢのＨＬＢは、一又は複数の実施形態において、８～１５である。界面活性剤ＢのＨＬＢは、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、一又は複数の実施形態において、１４以下、１３．５以下、１３以下又は１２．５以下である。同様の点から、一又は複数の実施形態において、９以上、９．５以上又は１０以上である。

第２級アルコールのポリアルキレンオキシド付加物は、一又は複数の実施形態において、第２級アルコールのＯＨ基にオキシアルキレン基（ＡＯ）を付加させたポリオキシアルキレンセカンダリーアルキルエーテル、及びポリオキシアルキレン第２級アルキルエーテルともいうことができる。第２級アルコールのポリアルキレンオキシド付加物としては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシエチレン第２級アルキル（Ｃ１２－１４）エーテル（ポリオキシエチレンセカンダリーアルキルエーテル）、及びポリオキシエチレンポリオキシプロピレン第２級アルキル（Ｃ１２－１４）エーテル（ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンセカンダリーアルキルエーテル）等が挙げられる。ＥＯ及びＰＯの付加形態は、ブロックでもよく、ランダムでもよく、グラフトでもよく、順序も限定されなくてもよい。
第２級アルコールのポリアルキレンオキシド付加物におけるＡＯの付加モル数は、一又は複数の実施形態において、７～２８であり、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、２１以下である。同様の点から、一又は複数の実施形態において、８以上又は９以上である。
第２級アルコールのポリアルキレンオキシド付加物がＥＯ／ＰＯ付加物である場合、ＥＯとＰＯとのモル比（ＥＯ／ＰＯ）は、一又は複数の実施形態において、５０／５０～９０／１０であり、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、５５／４５～８５／１５、６０／４０～８５／１５又は６０／４０～８０／２０である。

第１級アルコールのポリアルキレンオキシド付加物としては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシエチレンイソデシルエーテル（イソデシルエーテルＥＯ）、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンイソデシルエーテル（イソデシルエーテルＥＯ／ＰＯ）、ポリオキシエチレンラウリルエーテル（ラウリルエーテルＥＯ）、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンラウリルエーテル（ラウリルエーテルＥＯ／ＰＯ）、ポリオキシエチレントリデシルエーテル（トリデシルエーテルＥＯ）、及びポリオキシエチレンオキシプロピレントリデシルエーテル（トリデシルエーテルＥＯ／ＰＯ）等が挙げられる。
第１級アルコールのポリアルキレンオキシド付加物におけるＡＯの付加モル数は、一又は複数の実施形態において、５～２８であり、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、１２以下である。同様の点から、一又は複数の実施形態において、１０以上である。
第１級アルコールのポリアルキレンオキシド付加物がＥＯ／ＰＯ付加物である場合、ＥＯとＰＯとのモル比（ＥＯ／ＰＯ）は、一又は複数の実施形態において、５０／５０～９０／１０であり、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、６０／４０～８５／１５、又は７０／３０～８５／１５である。

界面活性剤Ｂは、一又は複数の実施形態において、一種類であってもよいし、複数種類であってもよい。

＜界面活性剤Ｃ＞
界面活性剤Ｃは、アルキル基の炭素数が１６以上であり、曇点を有する、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される。

ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンのアルキル基の炭素数は、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、１６～２２が好ましい。ポリオキシアルキレンアルキルエーテルのアルキル基は、一又は複数の実施形態において、セチル基、ステアリル基、オレイル基、及びベヘニル基等が挙げられる。

界面活性剤Ｃは曇点を有する。界面活性剤Ｃの曇点は、一又は複数の実施形態において、６０℃～９５℃である。界面活性剤Ｃの曇点は、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、６５℃以上、又は７０℃以上が好ましい。界面活性剤Ｃの曇点は、同様の点から、９０℃以下、又は８５℃以下が好ましい。

界面活性剤ＣのＨＬＢは、一又は複数の実施形態において、１１～１７である。界面活性剤ＣのＨＬＢは、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、一又は複数の実施形態において、１６以下、１５．８以下又は１５．５以下が好ましい。同様の点から、一又は複数の実施形態において、１２以上、又は１２．５以上が好ましい。

ポリオキシアルキレンアルキルエーテルとしては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシエチレンセチルエーテル（セチルエーテルＥＯ）、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンセチルエーテル（セチルエーテルＥＯ／ＰＯ）、ポリオキシエチレンステアリルエーテル（ステアリルエーテルＥＯ）、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンステアリルエーテル（ステアリルエーテルＥＯ／ＰＯ）、ポリオキシエチレンオレイルエーテル（オレイルエーテルＥＯ）、及びポリオキシエチレンポリオキシプロピレンオレイルエーテル（オレイルエーテルＥＯ／ＰＯ）等が挙げられる。
ポリオキシアルキレンアルキルアミンとしては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシエチレンセチルアミン（セチルアミンＥＯ）、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンセチルアミン（セチルアミンＥＯ／ＰＯ）、ポリオキシエチレンステアリルアミン（ステアリルアミンＥＯ）、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンステアリルアミン（ステアリルアミンＥＯ／ＰＯ）、ポリオキシエチレンオレイルアミン（オレイルアミンＥＯ）、及びポリオキシエチレンポリオキシプロピレンオレイルアミン（オレイルアミンＥＯ／ＰＯ）等が挙げられる。
界面活性剤ＣにおけるＡＯの付加モル数は、一又は複数の実施形態において、１２～３２であり、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、２５以下である。同様の点から、一又は複数の実施形態において、１５以上である。
界面活性剤Ｃのポリアルキレンオキシド付加物がＥＯ／ＰＯ付加物である場合、ＥＯとＰＯとのモル比（ＥＯ／ＰＯ）は、一又は複数の実施形態において、７５／２５～９５／５であり、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、８５／１５～９０／１０である。

ポリオキシアルキレンアルキルアミンとしては、一又は複数の実施形態において、アミンの窒素原子にＰＯが直接付加していてもよい。よって、一又は複数の実施形態において、ポリオキシアルキレンアルキルアミンとしては、アルキルアミン又はアルケニルアミンの窒素原子の２つの結合手それぞれにＰＯが少なくとも１つ結合していてもよい。
特に限定されない一又は複数の実施形態において、ポリオキシアルキレンアルキルアミンは、下記式（１）で表されるアミンのプロピレンオキシドエチレンオキシド付加物であってもよい。

式（１）において、Ｒは、炭素数１６～２２のアルキル基又はアルケニル基であり、ＰＯはオキシプロピレン基であり、ＥＯはオキシエチレン基であり、ＡＯはオキシエチレン基及びオキシプロピレン基の少なくとも一方であり、ｎ１、ｎ２、ｍ１、ｍ２、ｌ１及びｌ２は、平均付加モル数であり、ｎ１＋ｎ２が２～４であり、ｍ１＋ｍ２＋ｌ１＋ｌ２が１２～２５である。

式（１）において、ｎ１及びｎ２はオキシプロピレン基の平均付加モル数であり、ｍ１及びｍ２はオキシエチレン基の平均付加モル数であり、ｌ１及びｌ２はオキシアルキレン基の平均付加モル数である。
ｎ１＋ｎ２は、一又は複数の実施形態において、２、３又は４であり、ピッチの分散性をさらに向上させる点から、２又は４が好ましい。ｎ１は、一又は複数の実施形態において、１、２又は３である。ｎ２は、一又は複数の実施形態において、１、２又は３である。
ｍ１＋ｍ２＋ｌ１＋ｌ２は、一又は複数の実施形態において、１２～２５の整数であり、好ましくは１２～２０又は１４～２０である。ｍ１＋ｍ２は、一又は複数の実施形態において、２～２０であり、好ましくは１２～２０である。

ポリオキシアルキレンアルキルアミンは、ピッチの分散性をさらに向上させる点から、下記式（２）で表されるアミンのプロピレンオキシドエチレンオキシド付加物であってもよい。式（２）において、Ｒは、炭素数１６～２２のアルキル基又はアルケニル基であり、ＰＯはオキシプロピレン基であり、ＥＯはオキシエチレン基である。式（２）におけるＲは、式（１）と同じである。

式（２）において、ｎ１及びｎ２はオキシプロピレン基の平均付加モル数であり、ｓ１及びｓ２はオキシエチレン基の平均付加モル数である。
ｎ１＋ｎ２は、一又は複数の実施形態において、２、３又は４であり、ピッチの分散性をさらに向上させる点から、２又は４が好ましい。ｎ１は、一又は複数の実施形態において、１、２又は３である。ｎ２は、一又は複数の実施形態において、１、２又は３である。
ｓ１＋ｓ２は、一又は複数の実施形態において、１２～２５の整数であり、好ましくは１２～２０又は１４～２０であり、より好ましくは１２～２０である。

界面活性剤Ｃは、一又は複数の実施形態において、一種類であってもよいし、複数種類であってもよい。

本開示のピッチコントロール剤におけるモノテルペンと界面活性剤Ａとの配合割合は、一又は複数の実施形態において、重量比で１：９９～９９：１であり、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、１：０．５～１：２又は１：１～１：２が好ましい。

本開示のピッチコントロール剤におけるモノテルペンと界面活性剤Ｂとの配合割合は、一又は複数の実施形態において、重量比で１：９９～９９：１であり、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、１：０．５～１：５又は１：０．５～１：２が好ましい。

本開示のピッチコントロール剤におけるモノテルペンと界面活性剤Ｃとの配合割合は、一又は複数の実施形態において、重量比で１：９９～９９：１であり、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、１：２～１：５０又は１：２～１：２５が好ましい。

本開示のピッチコントロール剤における界面活性剤Ａと界面活性剤Ｂとの配合割合は、一又は複数の実施形態において、重量比で１：９９～９９：１であり、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、１：０．５～１：５又は１：０．５～１：２が好ましい。

本開示のピッチコントロール剤におけるモノテルペンの含有量は、一又は複数の実施形態において、０．５重量％以上であり、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、１．０重量％～５．０重量％又は３．０重量％～５．０重量％が好ましい。

本開示のピッチコントロール剤における界面活性剤Ａの含有量は、一又は複数の実施形態において、０．５重量％以上であり、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、１．０重量％～５．０重量％又は３．０重量％～５．０重量％が好ましい。

本開示のピッチコントロール剤における界面活性剤Ｂの含有量は、一又は複数の実施形態において、１．０重量％以上であり、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、２．０重量％～１０．０重量％又は６．０重量％～１０．０重量％が好ましい。

本開示のピッチコントロール剤における界面活性剤Ｃの含有量は、一又は複数の実施形態において、１０重量％以上であり、しみ出し欠点の抑制効果をさらに向上させる点から、１５重量％～３０重量％１５重量％～２５重量％が好ましい。

本開示のピッチコントロール剤は、一又は複数の実施形態において、本開示の効果を損なわない範囲で、他の工程添加剤を含んでいてもよいし、含まなくてもよい。その他の工程添加剤としては、一又は複数の実施形態において、消泡剤、スケールコントロール剤、スライムコントロール剤、他のピッチコントロール剤、濾水性向上剤、歩留り向上剤、凝結剤、サイズ剤、潤滑剤、剥離性向上剤、及び洗浄剤等が挙げられる。

本開示のピッチコントロール剤は、一又は複数の実施形態において、本開示の効果を損なわない範囲で、重合体、キレート剤、ビルダー、有機酸、ｐＨ調整剤、溶剤、消泡剤、殺菌剤、防腐剤、着色料及び香料等をさらに含有してもよい。

本開示のピッチコントロール剤は、モノテルペンと、界面活性剤Ａと、界面活性剤Ｂと、界面活性剤Ｃと、分散媒（例えば、水等）と混合して製剤化することにより製造することができる。必要に応じて、上記のその他の薬剤を混合してもよい。

本開示のピッチコントロール剤は、一又は複数の実施形態において、パルプ中のピッチへ直接作用させる内添型ピッチコントロール剤として使用してもよいし、間接的にピッチの付着を抑制する作用をもたせるために外添型ピッチコントロール剤として使用してもよい。

本開示は、その他の態様として、モノテルペンと、上記の界面活性剤Ａと、上記の界面活性剤Ｂと、上記の界面活性剤Ｃとを配合することを含む、ピッチコントロール剤の製造方法に関する。本開示の製造方法において、各薬剤の配合時に添加（混合）する順番は特に制限されるものではなく、水と界面活性剤Ｃとを混合した後、界面活性剤Ａ及び界面活性剤Ｂと混合し、ついでモノテルペンと混合してもよいし、水と界面活性剤Ａと界面活性剤Ｂと界面活性剤Ｃとを混合した後、モノテルペンを混合してもよいし、４つの成分すべてを同時に混合してもよい。特に限定されない一又は複数の実施形態において、本開示の製造方法は、水と界面活性剤Ｃとを十分に混合すること、水と界面活性剤Ｃとの混合物に界面活性剤Ａ及び界面活性剤Ｂを添加して十分に攪拌混合すること、水と界面活性剤Ａと界面活性剤Ｂとの混合物にモノテルペンを添加して十分に攪拌混合すること、及び、モノテルペンと界面活性剤Ａと界面活性剤Ｂと界面活性剤Ｃの混合物に水を添加して混合することを、この順番で行うこと含む。
本開示の製造方法は、一又は複数の実施形態において、モノテルペン、界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ及び界面活性剤Ｃの配合割合が上記の割合となるように、モノテルペン、界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ及び界面活性剤Ｃを配合する工程を含んでいてもよい。

［ピッチコントロール剤の第２の形態］
本開示は、さらにその他の態様として、モノテルペンと、非イオン界面活性剤Ａ１と、非イオン界面活性剤Ｂ１と、非イオン界面活性剤Ｃ１とを含有するピッチコントロール剤に関する。
非イオン界面活性剤Ａ１：ポリオキシアルキレンひまし油及びポリオキシアルキレン硬化ひまし油の少なくとも一方
非イオン界面活性剤Ｂ１：アルキル基の炭素数が１０～１５であるポリオキシアルキレンアルキルエーテル
非イオン界面活性剤Ｃ１：アルキル基の炭素数が１６以上である、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及び／又はポリオキシアルキレンアルキルアミン

＜モノテルペン＞
モノテルペンとしては、上述の通りである。

＜非イオン界面活性剤Ａ１＞
非イオン界面活性剤Ａ１であるポリオキシアルキレンひまし油及びポリオキシアルキレン硬化ひまし油としては、一又は複数の実施形態において、上記の界面活性剤Ａとして例示したものが使用できる。

＜非イオン界面活性剤Ｂ１＞
非イオン界面活性剤Ｂ１としては、一又は複数の実施形態において、上記の界面活性剤Ｂとして例示したものが使用できる。

＜非イオン界面活性剤Ｃ１＞
非イオン界面活性剤Ｃ１としては、一又は複数の実施形態において、上記の界面活性剤Ｃとして例示したものが使用できる。

本形態のピッチコントロール剤におけるモノテルペン、非イオン界面活性剤Ａ１、非イオン界面活性剤Ｂ１、及び非イオン界面活性剤Ｃ１の配合割合並びにそれらの含有量は、上記の界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ及び界面活性剤Ｃの配合割合並びにそれらの含有量と同様である。

［ピッチコントロール方法］
本開示は、その他の態様として、紙の製造工程におけるピッチコントロール方法に関する。本開示のピッチコントロール方法は、製紙工程水系に、モノテルペン、界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ、及び界面活性剤Ｃを添加することを含む。本開示のピッチコントロール方法によれば、一又は複数の実施形態において、ピッチの分散性を向上させることができるとともに、しみ出し欠点の発生を抑制することができる。よって、本開示のピッチコントロール方法によれば、一又は複数の実施形態において、製紙工程において発生しうるピッチトラブルを抑制することができ、かつ、得られる紙製品の品質を向上することができる。
本開示のピッチコントロール方法において、モノテルペン、界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ、及び界面活性剤Ｃは、本開示のピッチコントロール剤と同様である。本開示は、その他の態様として、製紙工程水系に、本開示のピッチコントロール剤を添加することを含む、ピッチコントロール方法に関する。

薬剤の添加量は、一又は複数の実施形態において、製紙工程水系におけるパルプスラリーのパルプ固形分、ピッチの発生状態及び古紙原料の種類等に応じて決定することができる。モノテルペンの添加量は、一又は複数の実施形態において、パルプスラリーの固形分（絶乾パルプ濃度）に対して５ｐｐｍ～１０００ｐｐｍであり、好ましくは２５ｐｐｍ～５００ｐｐｍである。界面活性剤Ａの添加量は、一又は複数の実施形態において、パルプスラリーの固形分に対して５ｐｐｍ～１０００ｐｐｍであり、好ましくは２５ｐｐｍ～５００ｐｐｍである。界面活性剤Ｂの添加量は、一又は複数の実施形態において、パルプスラリーの固形分に対して５ｐｐｍ～２０００ｐｐｍであり、好ましくは５０ｐｐｍ～１０００ｐｐｍである。界面活性剤Ｃの添加量は、一又は複数の実施形態において、パルプスラリーの固形分に対して５ｐｐｍ～２０００ｐｐｍであり、好ましくは５０ｐｐｍ～１０００ｐｐｍである。

モノテルペン、界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ及び界面活性剤Ｃの製紙工程水系への添加は、一又は複数の実施形態において、連続的に行ってもよいし、間欠的に行ってもよい。モノテルペン、界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ及び界面活性剤Ｃの製紙工程水系への添加は、一又は複数の実施形態において、これらの４成分を予め水と混合して添加してもよいし、それぞれ別々に添加してもよいし、４成分のうち少なくとも２又は３成分を予め水と混合して添加してもよい。

薬剤の添加箇所としては、一又は複数の実施形態において、マシンチェスト、ミキシングチェスト、原料パルプチェスト及び種箱、並びにそれらの配管等が挙げられる。薬剤の添加箇所としては、一又は複数の実施形態において、パルパー、リファイナー、スクリュープレス、ダブルセパレーター、精選スクリーン、ロータリースクリーン、ウォッシャー、シックナー、ディスクフィルタ、及びファンポンプ等が挙げられる。

本開示のピッチコントロール方法は、一又は複数の実施形態において、ピッチが付着する製造装置に、本開示のピッチコントロール剤を噴霧することを含んでいてもよい。本開示のピッチコントロール剤の噴霧は、一又は複数の実施形態において、本開示のピッチコントロール剤を洗浄シャワー水に添加して行ってもよい。また、ピッチコントロール剤を紙・パルプ製造工程水で希釈してから、製造装置に散布、噴霧又は浸漬してもよい。対象となる製造装置としては、特に制限されるものではなく、一又は複数の実施形態において、ワイヤー、フェルト及びロール等が挙げられる。

対象となる製造装置としては、特に制限されるものではなく、一又は複数の実施形態において、ワイヤー、フェルト及びロール等が挙げられる。ロールとしては、一又は複数の実施形態において、センターロール、テーブルロール、ブレストロール、ダンディロール、ワイヤーリターンロール、クーチロール、プレスロール、サクションロール、ペーパーロール、及びバッキングロール等が挙げられる。その他の設備としては、一又は複数の実施形態において、スライスリップ、フォーミングボード、フォイル、ドクター、サクションボックス、ユールボックス、及びカンバス等が挙げられる。

本開示のピッチコントロール剤の噴霧は、一又は複数の実施形態において、製造設備の稼動前又は稼動中に、連続的又は間欠的に行うことができる。

［ピッチ欠点の発生抑制方法］
本開示は、その他の態様として、製紙におけるピッチ欠点の発生を抑制する方法に関する。本開示のピッチ欠点の発生抑制方法は、パルプスラリーに、モノテルペン、界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ、及び界面活性剤Ｃを添加することを含む。本開示のピッチ欠点の発生抑制方法によれば、一又は複数の実施形態において、しみ出し欠点の発生を抑制できるとともに、ピッチの分散性を向上させることができる。よって、本開示のピッチ欠点の発生抑制方法によれば、一又は複数の実施形態において、高い品質の紙製品を製造でき、かつ製紙工程において発生しうるピッチトラブルを抑制することができる。
本開示のピッチ欠点の発生抑制方法において、モノテルペン、界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ、及び界面活性剤Ｃは、本開示のピッチコントロール剤と同様である。本開示は、その他の態様として、パルプスラリーに、本開示のピッチコントロール剤を添加することを含む、ピッチ欠点の発生抑制方法に関する。

本開示における「ピッチ欠点の発生抑制」とは、一又は複数の実施形態において、紙表面に生じうるピッチ欠点の面積を小さくすること等が挙げられる。ピッチ欠点の面積は、ピッチ欠点の個数とピッチ欠点の平均径とを掛け合わすことにより求めることができ、例えば、実施例に記載の方法により測定できる。

本開示のピッチ欠点の発生抑制方法における、各薬剤の添加量及び添加箇所等は、本開示のピッチコントロール方法と同様である。

［紙の製造方法］
本開示は、その他の態様として、紙の製造工程において、モノテルペン、界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ、及び界面活性剤Ｃを製紙工程水系に添加することを含む紙の製造方法に関する。また、本開示は、その他の態様として、紙の製造工程において、本開示のピッチコントロール剤を製紙工程水系に添加することを含む紙の製造方法に関する。本開示の紙の製造方法によれば、一又は複数の実施形態において、製紙工程において発生しうるピッチトラブルを抑制しつつ、高い品質の紙製品を製造できる。
本開示の紙の製造方法における製紙工程水系への本開示のピッチコントロール剤、及び各薬剤の添加は、本開示のピッチコントロール方法と同様に行うことができる。

製造される紙の種類は、特に限定されず、一又は複数の実施形態において、新聞用紙、印刷用紙、情報用紙、包装用紙、衛生用紙、雑種紙、段ボール原紙、紙器用板紙、及び雑板紙等が挙げられる。印刷用紙としては上質紙やコート紙等が例示でき、情報用紙としてはＰＰＣ用紙や感熱紙原紙等が例示でき、包装用紙としては純白ロール紙や晒クラフト紙等が例示でき、衛生用紙としてはティッシュペーパーやトイレットペーパー等が例示でき、雑種紙としては食品容器原紙や塗工印刷用原紙などが例示でき、段ボール原紙としてはライナーや中しん原紙などが例示でき、紙器用板紙としては白板紙や色板紙などが例示でき、雑板紙としては石膏ボードや紙管原紙などが例示できる。

本開示はさらに以下の一又は複数の実施形態に関する。
［１］ モノテルペンと、界面活性剤Ａと、界面活性剤Ｂと、界面活性剤Ｃとを含有するピッチコントロール剤であって、
前記界面活性剤Ａが、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、
前記界面活性剤Ｂが、アルキル基の炭素数が１０～１５であり、曇点を有するポリオキシアルキレンアルキルエーテルであり、
前記界面活性剤Ｃが、アルキル基の炭素数が１６以上であり、曇点を有する、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、ピッチコントロール剤。
［２］ 前記界面活性剤Ｂが、曇点が４０～８０℃である、第２級アルコールのポリアルキレンオキシド付加物及び第１級アルコールのポリアルキレンオキシド付加物の少なくとも一方である、［１］記載のピッチコントロール剤。
［３］ 前記界面活性剤Ｃの曇点が、６０℃以上である、［１］又は［２］記載のピッチコントロール剤。
［４］ 界面活性剤Ａが、ポリオキシアルキレンひまし油、ポリオキシアルキレン硬化ひまし油、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル並びにポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、［１］から［３］のいずれかに記載のピッチコントロール剤。
［５］ 紙の製造工程におけるピッチコントロール方法であって、
製紙工程水系に、モノテルペン、界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ、及び界面活性剤Ｃを添加することを含み、
前記界面活性剤Ａが、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、
前記界面活性剤Ｂが、アルキル基の炭素数が１０～１５であり、曇点を有するポリオキシアルキレンアルキルエーテルであり、
前記界面活性剤Ｃが、アルキル基の炭素数が１６以上であり、曇点を有する、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、ピッチコントロール方法。
［６］ 製紙におけるピッチ欠点の発生を抑制する方法であって、
パルプスラリーに、モノテルペン、界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ、及び界面活性剤Ｃを添加することを含み、
前記界面活性剤Ａが、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、
前記界面活性剤Ｂが、アルキル基の炭素数が１０～１５であり、曇点を有するポリオキシアルキレンアルキルエーテルであり、
前記界面活性剤Ｃが、アルキル基の炭素数が１６以上であり、曇点を有する、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、ピッチ欠点の発生抑制方法。
［７］ モノテルペンと、非イオン界面活性剤Ａ１と、非イオン界面活性剤Ｂ１と、非イオン界面活性剤Ｃ１とを含有するピッチコントロール剤であって、
前記非イオン界面活性剤Ａ１が、ポリオキシアルキレンひまし油及びポリオキシアルキレン硬化ひまし油の少なくとも一方であり、
前記非イオン界面活性剤Ｂ１が、アルキル基の炭素数が１０～１５であるポリオキシアルキレンアルキルエーテルであり、
前記非イオン界面活性剤Ｃ１が、アルキル基の炭素数が１６以上である、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、ピッチコントロール剤。

以下、実施例により本開示をさらに詳細に説明するが、これらは例示的なものであって、本開示はこれら実施例に制限されるものではない。

［モノテルペン］
ｄ－リモネン （富士フィルム和光純薬社製）
［非イオン界面活性剤］
下記表１に示す非イオン界面活性剤（受注生産品）について、ＨＬＢ及び曇点を求めた。下記表１において、ＥＯ及びＰＯの括弧内の数字はそれぞれの付加モル数を示し、ＥＯ／ＰＯの括弧内の数字はＥＯとＰＯとのモル比を示す。ステアリルアミンＰＯ（２）ＥＯ（１５）は、ステアリルアミンの窒素原子にＰＯを付加した後ＥＯを付加されている。

［ＨＬＢの測定］
ＨＬＢは、以下のグリフィン式を用いて算出した。
ＨＬＢ＝２０×（親水部の式量の総和／分子量）
［曇点の測定］
界面活性剤Ｂの曇点は、ＩＳＯ １０６５ １９９１（エチレンオキシドから得られる非イオン系界面活性剤及び混合された非イオン系界面活性剤－曇点の決定）に記載された測定方法Ａ（蒸留水中で測定）により測定した。界面活性剤Ｃの曇点は、前記ＩＳＯ規定で定められる測定方法Ｃ（１０％食塩水中で測定）により測定した。

［ピッチコントロール剤の調製１］
ｄ－リモネン、界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ、界面活性剤Ｃ、水酸化ナトリウム（ＮａＯＨ）及び水を用いて、下記表２に示す配合量（重量％）の実施例及び比較例のピッチコントロール剤を調製した。具体的には、実施例１～５のピッチコントロール剤は、まず、水と界面活性剤Ｃとを十分混合した後、界面活性剤Ａ及び界面活性剤Ｂを添加して混合しこれらを十分撹拌した後、さらにｄ－リモネンを添加して混合することにより調製した。参考例１のピッチコントロール剤は、まず水、界面活性剤Ａ及び界面活性剤Ｂを混合しこれらを十分撹拌した後、さらにｄ－リモネンを添加して混合することにより調製した。比較例２及び３のピッチコントロール剤は、まず、ｄ－リモネンと水とを混合し、（ＮａＯＨを含有する場合は）ＮａＯＨを添加してさらに混合することにより調製した。下記表２に各成分の配合量（重量％）を示す。

［しみ出し抑制効果の確認試験］
下記表２に示すピッチコントロール剤を用いて、しみ出し欠点の抑制効果の確認試験を行った。確認試験は、下記の手順で行った。
段ボール古紙を離解して得られた３重量％パルプスラリーを８０ｇ（絶乾２．４ｇ）に蝋粒（蝋引き段古紙表面の蝋を粒状に成形したもの）０．０１ｇを添加した。得られた蝋粒添加パルプスラリーに、下記表４に示す各薬剤を対パルプ（絶乾）１重量％添加し、４０℃で２５分間攪拌処理を行なった。手抄きにより坪量１２０ｇ／ｍ²の紙を抄き、画像解析によって欠点の個数・大きさを計測した。その結果を下記表２に示す。なお、ｄ－リモネンの対パルプ（絶乾）濃度は、１００ｐｐｍであった。
＜欠点の個数及び大きさの計測方法＞
１）手抄きした紙をカメラ（商品名：デジタルスチルカメラＣｙｂｅｒ－ｓｈｏｔ ＤＳＣ－ＷＸ５００、ＳＯＮＹ製）で撮影して画像データを取得した。撮影は、１．３倍に拡大して行った。
２）画像解析ソフトウェア「ＡＰ－ＮＬＴ」（精密ウェーブ社製）を用いて紙上の滲み出し欠点を検出した。
３）画像解析ソフトウェア「ＡＰ－ＮＬＴ」（精密ウェーブ社製）を用いて検出箇所の個数と大きさ（検出箇所の面積から算出）を計測した。
＜欠点面積の算出方法＞
得られた欠点の大きさの平均径を算出し、算出した平均径と得られた検出箇所の個数（欠点数）とを用いて下記式より欠点面積を算出した。その結果を下記表２に示す。
欠点面積＝欠点数（個）×平均径（ｍｍ）
＜しみ出し防止率＞
得られた欠点面積を用いて下記式よりしみ出し防止率（％）を算出し、得られたしみ出し防止率の値に基づき、しみ出し防止性を以下の基準で評価した。
しみ出し防止率（％）＝｛（欠点面積_blank）－（欠点面積_add）｝／（欠点面積_blank）×１００
欠点面積_blank：ブランクの欠点面積
欠点面積_add：ピッチコントロール剤を添加した場合の欠点面積
＜評価＞
◎：しみ出し防止率が８５％以上
〇：しみ出し防止率が６５％以上８５％未満
△：しみ出し防止率が３５％以上６５％未満
×：しみ出し防止率が３５％未満

［ピッチ分散試験］
（１）模擬ピッチ溶液の調製
模擬ピッチ（５０％アビエチン酸、１０％オレイン酸、１０％パルミチン酸、１０％コーン油、５％オレイルアルコール、５％ステアリン酸メチル、５％β-シトステロール、及びカプロン酸コレステロールの均質な混合物）を３０重量％となるようにエタノールに溶解した後、ズダンＩＶ（富士フィルム和光純薬（株）製）の０．０３重量％の添加により赤く染色して、模擬ピッチ溶液を調製した。
（２）ピッチ分散試験
下記表２に示すピッチコントロール剤と、（１）で調製した模擬ピッチ溶液とを用いてピッチ分散試験を実施した。試験は下記の手順で行なった。
３００ｍｌビーカーに水道水２５０ｍｌを採取しピッチコントロール剤を５０μｌ添加した後、マグネティックスターラーを用いて３分間攪拌した。模擬ピッチ溶液を３００μｌ添加し１分間攪拌した（スターラーの回転数：４００ｒｐｍ）。攪拌を止めてから５分後にビーカー上部から模擬ピッチを観察・撮影し、画像解析によって模擬ピッチの個数・大きさを計測した。画像解析には画像解析ソフトウェア「ＡＰ－ＮＬＴ」（精密ウェーブ社製）を使用した。模擬ピッチの個数は０．０３３μｍ以上のものを計測対象とした。
＜ピッチ抑制率＞
得られたピッチ最大径の値に基づき、ピッチ抑制率を以下の基準で評価した。
ピッチ抑制率（％）＝｛（最大径_blank）－（最大径_add）｝／（最大径_blank）×１００
最大径_blank：ブランクの最大径
最大径_add：ピッチコントロール剤を添加した場合の最大径
＜評価＞
〇：ピッチ抑制率が７５％以上
△：ピッチ抑制率が５０％以上７５％未満
×：ピッチ抑制率が５０％未満

上記表２に示すとおり、実施例１～５のピッチコントロール剤は、しみ出し欠点の抑制とピッチ分散性の向上との双方を実現することができた。

［ピッチコントロール剤の調製２］
ｄ－リモネン、ひまし油ＥＯ（２０）（界面活性剤Ａ）、下記表３に示す界面活性剤Ｂ、ステアリルアミンＰＯ（２）ＥＯ（１５）（界面活性剤Ｃ）及び水を用いて、実施例１と同様の手ｄ順で、ピッチコントロール剤を調製した。ｄ－リモネン、ひまし油ＥＯ（２０）（界面活性剤Ａ）、界面活性剤Ｂ、及びステアリルアミンＰＯ（２）ＥＯ（１５）（界面活性剤Ｃ）の配合量は、実施例１と同様にした。表３における曇点及びＨＬＢは、上記と同様にして求めた。
調製したピッチコントロール剤を用いて、上記［しみ出し抑制効果の確認試験］と同様にして、しみ出し欠点の抑制効果の確認試験を行った。その結果を下記表３に示す。

上記表３に示すとおり、いずれのピッチコントロール剤も、しみ出し欠点を抑制することができた。特に、界面活性剤Ｂとして、炭素数が１２～１４であり、かつ曇点が４０～８０℃である、第２級アルコールのポリアルキレンオキシド付加物又は第１級アルコールのポリアルキレンオキシド付加物を使用した場合、及び、イソデシルエーテルＥＯ／ＰＯを用いた場合も、同様に欠点面積をさらに小さくすることができた。中でも、曇点が５０～６０℃であり、かつＨＬＢが１０．４～１２．４である、第２級アルコールのポリアルキレンオキシド付加物又は第１級アルコールのポリアルキレンオキシド付加物を使用した場合、並びに、イソデシルエーテルＥＯ／ＰＯを使用した場合に、欠点面積を特に小さくすることができた。

［界面活性剤Ｃについて］
上記実施例で界面活性剤Ｃとして使用したステアリルアミンＰＯ（２）ＥＯ（１５）及びセチルエーテルＥＯ（２０）に加え、さらに、ステアリルアミンＰＯ（２）ＥＯ（２０）、ステアリルアミンＰＯ（２）ＥＯ（３０）、ステアリルアミンＥＯ（２０）、ステアリルエーテルＥＯ（２０）及びセチルエーテルＥＯ（１５）を用いて、界面活性剤Ｃ単独のピッチ分散性の評価を上記ピッチ分散試験に記載した方法と同様に行った。その結果、上記界面活性剤Ｃは、いずれもピッチ分散性の向上効果が確認された。中でも、ステアリルアミンＰＯ（２）ＥＯ（２０）及びステアリルアミンＥＯ（２０）は、上記実施例で使用したステアリルアミンＰＯ（２）ＥＯ（１５）と同じレベルの高いピッチ分散性向上効果を示した。
上記表２に示すとおり、界面活性剤ＣとしてセチルエーテルＥＯ（２０）又はステアリルアミンＰＯ（２）ＥＯ（１５）を含むピッチコントロール剤は、いずれも、しみ出し欠点の抑制とピッチ分散性の向上との双方を実現できることが示されている。したがって、上記の界面活性剤Ｃを含むピッチコントロール剤であっても、実施例のピッチコントロール剤と同様の効果が得られることが予測される。

Claims (7)

1. モノテルペンと、界面活性剤Ａと、界面活性剤Ｂと、界面活性剤Ｃとを含有するピッチコントロール剤であって、
   前記界面活性剤Ａが、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、
   前記界面活性剤Ｂが、アルキル基の炭素数が１０～１５であり、曇点を有するポリオキシアルキレンアルキルエーテルであり、
   前記界面活性剤Ｃが、アルキル基の炭素数が１６以上であり、曇点を有する、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、ピッチコントロール剤。
2. 前記界面活性剤Ｂが、曇点が４０～８０℃である、第２級アルコールのポリアルキレンオキシド付加物及び第１級アルコールのポリアルキレンオキシド付加物の少なくとも一方である、請求項１記載のピッチコントロール剤。
3. 前記界面活性剤Ｃの曇点が、６０℃以上である、請求項１記載のピッチコントロール剤。
4. 界面活性剤Ａが、ポリオキシアルキレンひまし油、ポリオキシアルキレン硬化ひまし油、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル並びにポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、請求項１から３のいずれかに記載のピッチコントロール剤。
5. 紙の製造工程におけるピッチコントロール方法であって、
   製紙工程水系に、モノテルペン、界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ、及び界面活性剤Ｃを添加することを含み、
   前記界面活性剤Ａが、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、
   前記界面活性剤Ｂが、アルキル基の炭素数が１０～１５であり、曇点を有するポリオキシアルキレンアルキルエーテルであり、
   前記界面活性剤Ｃが、アルキル基の炭素数が１６以上であり、曇点を有する、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、ピッチコントロール方法。
6. 製紙におけるピッチ欠点の発生を抑制する方法であって、
   パルプスラリーに、モノテルペン、界面活性剤Ａ、界面活性剤Ｂ、及び界面活性剤Ｃを添加することを含み、
   前記界面活性剤Ａが、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、
   前記界面活性剤Ｂが、アルキル基の炭素数が１０～１５であり、曇点を有するポリオキシアルキレンアルキルエーテルであり、
   前記界面活性剤Ｃが、アルキル基の炭素数が１６以上であり、曇点を有する、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、ピッチ欠点の発生抑制方法。
7. モノテルペンと、非イオン界面活性剤Ａ１と、非イオン界面活性剤Ｂ１と、非イオン界面活性剤Ｃ１とを含有するピッチコントロール剤であって、
   前記非イオン界面活性剤Ａ１が、ポリオキシアルキレンひまし油及びポリオキシアルキレン硬化ひまし油の少なくとも一方であり、
   前記非イオン界面活性剤Ｂ１が、アルキル基の炭素数が１０～１５であるポリオキシアルキレンアルキルエーテルであり、
   前記非イオン界面活性剤Ｃ１が、アルキル基の炭素数が１６以上である、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、ピッチコントロール剤。