JP7477215B1 - 読取装置、非接触ｉｃカード読取システム、異常解析方法、及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】詳細な不具合の原因を把握することに貢献することができる読取装置等を提供すること。【解決手段】読取面で非接触ＩＣカードのカード情報を読み取るように構成された読取部を備える読取装置であって、非接触ＩＣカードの位置特定用データを取得するように構成された位置特定用データ取得部と、取得した位置特定用データに基づいて読取面と非接触ＩＣカードとの間の距離を計測するように構成された距離計測部と、計測された距離が所定の距離となってからカード情報の読み取り完了までの読取時間を計測するように構成された読取時間計測部と、読取時間と読取日時とカード情報とを関連付けて履歴情報に記録するように構成された記録部と、記録された履歴情報に基づいて読取装置又は非接触ＩＣカードの異常を解析するように構成された解析部と、を備える。【選択図】図１０

Description

本発明は、読取装置、非接触ＩＣカード読取システム、異常解析方法、及びプログラムに関する。

近年、入退室管理システムでは非接触ＩＣ（Integrated Circuit）カードを利用したものが多く採用されている。また、非接触ＩＣカードは交通系マネー、電子決済、公共用など利用範囲は多岐に渡っている。非接触ＩＣカードは、読取装置からの電磁誘導により電力が供給され、無線通信によりデータが交換される仕組みになっているが、何かしらの原因で読み取りにくい又は読み取りできないという不具合がごく稀に発生する場合がある。その原因は、特定の非接触ＩＣカード側に起因する不具合の場合や、読取装置側の問題で発生する場合もあるが、現状ではお客様から非接触ＩＣカードの読み取りが悪いと申告があってから原因調査を進める場合が多く、異常傾向を確認するのは困難であった。特に、現状の読取装置では、読み取りが悪くなってきているという状況を把握することが困難であり、更に、その原因を推定することも困難であった。また、読取装置の保守サービスは、保守契約による定期点検（保守員が現地で作業）が多く、お客様が負担する保守費用が多く発生していた。さらに、定期点検では保守員が現地に出向いて作業していた。

特開２０００－１４９０７２号

以下の分析は、本願発明者により与えられる。

そこで、非接触ＩＣカード又は読取装置の不具合の原因を把握するために、例えば、特許文献１のように非接触ＩＣカードが読取装置に近接していることを感知する近接センサや検出手段を利用することが考えられる。しかしながら、非接触ＩＣカード又は読取装置の不具合の原因は、パスケースに複数の非接触ＩＣカードが重なって入っていたり、非接触ＩＣカードが入っている財布に硬貨が入っていたり、非接触ＩＣカード又は読取装置が経年劣化していたりする等の様々な障害要因があるため、近接センサや検出手段で検出した情報だけでは、詳細な不具合の原因を把握することは困難である。

本発明の主な課題は、詳細な不具合の原因を把握することに貢献することができる読取装置、非接触ＩＣカード読取システム、異常解析方法、及びプログラムを提供することである。

第１の視点に係る読取装置は、読取面で非接触ＩＣカードのカード情報を読み取るように構成された読取部を備える読取装置であって、前記非接触ＩＣカードの位置特定用データを取得するように構成された位置特定用データ取得部と、取得した前記位置特定用データに基づいて前記読取面と前記非接触ＩＣカードとの間の距離を計測するように構成された距離計測部と、計測された前記距離が所定の距離となってから前記カード情報の読み取り完了までの読取時間を計測するように構成された読取時間計測部と、前記読取時間と読取日時と前記カード情報とを関連付けて履歴情報に記録するように構成された記録部と、記録された前記履歴情報に基づいて前記読取装置又は前記非接触ＩＣカードの異常を解析するように構成された解析部と、を備える。

第２の視点に係る非接触ＩＣカード読取システムは、非接触ＩＣカードと、前記第１の視点に係る読取装置と、を備える。

第３の視点に係る異常解析方法は、読取装置の読取面で非接触ＩＣカードのカード情報を読み取る非接触ＩＣカード読取システムの異常を解析する異常解析方法であって、前記読取装置が、前記非接触ＩＣカードの位置特定用データを取得するステップと、前記読取装置が、取得した前記位置特定用データに基づいて前記読取面と前記非接触ＩＣカードとの間の距離を計測するステップと、前記読取装置が計測された前記距離が所定の距離となってから前記カード情報の読み取り完了までの読取時間を計測するステップと、前記読取装置が、前記読取時間と読取日時と前記カード情報とを関連付けて履歴情報に記録するステップと、前記読取装置が、記録された前記履歴情報に基づいて前記読取装置又は前記非接触ＩＣカードの異常を解析するステップと、を含む。

第４の視点に係るプログラムは、読取装置の読取面で非接触ＩＣカードのカード情報を読み取る非接触ＩＣカード読取システムの異常を解析する処理を前記読取装置に実行させるプログラムであって、前記読取装置が、前記非接触ＩＣカードの位置特定用データを取得する処理と、前記読取装置が、取得した前記位置特定用データに基づいて前記読取面と前記非接触ＩＣカードとの間の距離を計測する処理と、前記読取装置が計測された前記距離が所定の距離となってから前記カード情報の読み取り完了までの読取時間を計測する処理と、前記読取装置が、前記読取時間と読取日時と前記カード情報とを関連付けて履歴情報に記録する処理と、前記読取装置が、記録された前記履歴情報に基づいて前記読取装置又は前記非接触ＩＣカードの異常を解析する処理と、を前記読取装置に実行させる。

なお、プログラムは、コンピュータが読み取り可能な記憶媒体に記録することができる。記憶媒体は、半導体メモリ、ハードディスク、磁気記録媒体、光記録媒体等の非トランジェント（non-transient）なものとすることができる。また、本開示では、コンピュータプログラム製品として具現することも可能である。プログラムは、コンピュータ装置に入力装置又は外部から通信インタフェイスを介して入力され、記憶装置に記憶されて、プロセッサを所定のステップないし処理に従って駆動させ、必要に応じ中間状態を含めその処理結果を段階毎に表示装置を介して表示することができ、あるいは通信インタフェイスを介して、外部と交信することができる。そのためのコンピュータ装置は、一例として、典型的には互いにバスによって接続可能なプロセッサ、記憶装置、入力装置、通信インタフェイス、及び必要に応じ表示装置を備える。

前記第１～第４の視点によれば、詳細な不具合の原因を把握することに貢献することができる。

実施形態１に係る非接触ＩＣカード読取システムの構成を模式的に示したブロック図である。 実施形態１に係る非接触ＩＣカード読取システムで用いられる履歴情報を模式的に示したテーブルである。 実施形態１に係る非接触ＩＣカード読取システムにおける正常時及び劣化／異常時のそれぞれの非接触ＩＣカードの読取開始位置及び読取完了位置を模式的に示したイメージ図である。 実施形態１に係る非接触ＩＣカード読取システムを側面から見たときの構成を模式的に示したイメージ図である。 比較例に係る非接触ＩＣカード読取システムにおける正常時及び劣化／異常時のそれぞれの非接触ＩＣカードの読取開始位置及び読取完了位置を模式的に示したイメージ図である。 実施形態１に係る非接触ＩＣカード読取システムにおける読取装置のログ情報収集時の動作を模式的に示したフローチャートである。 実施形態１に係る非接触ＩＣカード読取システムにおける読取装置の履歴情報解析時の動作を模式的に示したフローチャートである。 実施形態１に係る非接触ＩＣカード読取システムにおける正常時、特定カード故障／読取環境異常時、及び特定カード劣化時のそれぞれの読取時間の経時変化を模式的に示したグラフである。 実施形態１に係る非接触ＩＣカード読取システムにおける読取装置故障時、及び読取装置劣化時のそれぞれの読取時間の経時変化を模式的に示したグラフである。 実施形態２に係る非接触ＩＣカード読取システムの構成を模式的に示したブロック図である。 ハードウェア資源の構成を模式的に示したブロック図である。

以下、実施形態について図面を参照しつつ説明する。なお、本出願において図面参照符号を付している場合は、それらは、専ら理解を助けるためのものであり、図示の態様に限定することを意図するものではない。また、下記の実施形態は、あくまで例示であり、本発明を限定するものではない。また、以降の説明で参照する図面等のブロック間の接続線は、双方向及び単方向の双方を含む。一方向矢印については、主たる信号（データ）の流れを模式的に示すものであり、双方向性を排除するものではない。さらに、本願開示に示す回路図、ブロック図、内部構成図、接続図などにおいて、明示は省略するが、入力ポート及び出力ポートが各接続線の入力端及び出力端のそれぞれに存在する。入出力インタフェイスも同様である。プログラムはコンピュータ装置を介して実行され、コンピュータ装置は、例えば、プロセッサ、記憶装置、入力装置、通信インタフェイス、及び必要に応じ表示装置を備え、コンピュータ装置は、通信インタフェイスを介して装置内又は外部の機器（コンピュータを含む）と、有線、無線を問わず、交信可能に構成される。

［実施形態１］
実施形態１に係る非接触ＩＣカード読取システムについて図面を用いて説明する。図１は、実施形態１に係る非接触ＩＣカード読取システムの構成を模式的に示したブロック図である。図２は、実施形態１に係る非接触ＩＣカード読取システムで用いられる履歴情報を模式的に示したテーブルである。図３は、実施形態１に係る非接触ＩＣカード読取システムにおける正常時及び劣化／異常時のそれぞれの非接触ＩＣカードの読取開始位置及び読取完了位置を模式的に示したイメージ図である。図４は、実施形態１に係る非接触ＩＣカード読取システムを側面から見たときの構成を模式的に示したイメージ図である。図５は、比較例に係る非接触ＩＣカード読取システムにおける正常時及び劣化／異常時のそれぞれの非接触ＩＣカードの読取開始位置及び読取完了位置を模式的に示したイメージ図である。

非接触ＩＣカード読取システム１は、無線通信により非接触ＩＣ（Integrated Circuit）カード２０のカード情報を読取装置１０で読み取るシステムである（図１参照）。非接触ＩＣカード読取システム１は、入退室管理システム、交通系マネーシステム、電子決済システム、公共用マイナンバーカードシステム等に用いることができる。非接触ＩＣカード読取システム１は、カード情報を読取装置１０と、非接触ＩＣカード２０と、を備える。

読取装置１０は、無線通信により非接触ＩＣカード２０のカード情報を読み取る装置である（図１、図４参照）。読取装置１０は、読取装置１０の読取面１１ａに非接触ＩＣカード２０をかざす（近づける）ことにより、非接触ＩＣカード２０に記憶されたカード情報を読み取る。読取装置１０は、他の装置や端末やネットワークと通信可能に接続されていてもよい。読取装置１０は、ドアの付近の壁、駅の改札、受付窓口等に設置することができる。読取装置１０は、コンピュータ機能を備える。読取装置１０は、記憶された所定のプログラムを実行することにより、仮想的に、読取部１１と、位置特定用データ取得部１２と、距離計測部１３と、読取時間計測部１４と、記録部１５と、解析部１６と、出力部１７と、を備えた構成とすることができる。

読取部１１は、読取装置１０の読取面（図３、図４の１１ａ）にかざされた非接触ＩＣカード２０に記憶されたカード情報（例えば、識別情報）を読み取る機能部である（図１参照）。読取部１１として、例えば、エネルギー源として電波を非接触ＩＣカード２０に与えてデータを読み取るパッシブ型リーダ、電池を内蔵した非接触ＩＣカード２０からデータを読み取るアクティブ型リーダ、非接触ＩＣカード２０のコイルと読取部１１のアンテナコイルを磁束結合させてエネルギー、データを伝達する電磁誘導型リーダ、非接触ＩＣカード２０のアンテナと読取部１１のアンテナで電波をやりとりしてエネルギー・データを伝達する電波型リーダ等のＲＦＩＤ（Radio Frequency Identification）リーダを用いることができる。読取部１１は、読み取ったカード情報を読取時間計測部１４に向けて出力する。

位置特定用データ取得部１２は、非接触ＩＣカードの位置特定用データ（例えば、画像データ、距離データ等）を取得する機能部である（図１、図３、図４参照）。位置特定用データ取得部１２として、例えば、カメラ、距離センサ、光学式又は電波式測位センサ、３次元センサ等の位置を特定することが可能なセンサを用いることができる。位置特定用データ取得部１２は、読取面１１ａの近傍に配置することができる。位置特定用データ取得部１２は、取得した位置特定用データを距離計測部１３に向けて出力する。

距離計測部１３は、位置特定用データ取得部１２からの位置特定用データに基づいて読取面（図３、図４の１１ａ）から非接触ＩＣカード２０までの距離を計測する機能部である（図１参照）。計測方法として、例えば、位置特定用データ取得部１２がカメラである場合、非接触ＩＣカード２０のサイズは、ＩＳＯ／ＩＥＣ７８１０の「ＩＤ-１」規格で定められているため、読取面１１ａの近傍に配置したカメラの画角との関係より、非接触ＩＣカード２０と読取面１１ａとの間の距離を求めることができる（図４参照）。距離計測部１３は、計測された距離に係るデータを読取時間計測部１４に向けて出力する。

読取時間計測部１４は、距離計測部１３で計測された距離が所定の距離（読取開始位置；図３、図４参照）となってから、読取部１１で非接触ＩＣカード２０のカード情報の読み取り完了までの読取時間（図３参照）を計測する機能部である（図１参照）。読取時間計測部１４は、計測された読取時間に係る情報、及び、取得したカード情報を記録部１５に向けて出力する。

記録部１５は、読取時間計測部１４からの読取時間に係る情報及びカード情報を、読取時間を取得した日時（読取日時）と関連付けて履歴情報（図２参照）に記録する機能部である（図１参照）。記録部１５は、読取時間計測部１４からの読取時間に係る情報及びカード情報を取得したときに、コンピュータの時計機能から日時（読取日時）を取得し、取得した読取日時、読取時間、及びカード情報を関連付けて履歴情報に記録する。記録部１５は、解析部１６からの解析結果及び提案情報を、対応するカード情報に関連付けて履歴情報に記録する。

解析部１６は、記録部１５で記録された履歴情報に基づいて読取装置１０又は非接触ＩＣカード２０の異常を解析する機能部である（図１参照）。解析部１６は、記録部１５から最新の履歴情報を取得し、取得した最新の履歴情報の読取時間が予め設定された閾値よりも大きいか否かを判断する。解析部１６は、読取時間が閾値以下である場合、読取装置１０及び非接触ＩＣカード２０について異常なしと判断する。解析部１６は、読取時間が閾値より大きい場合、最新の履歴情報よりも過去の履歴情報（例えば、現時点から過去１ヶ月間分の履歴情報）を取得し、読取時間の変化が特定の非接触ＩＣカード２０（特定カード）のみに発生しているか否かを判断する。解析部１６は、読取時間の変化が特定カードのみに発生している場合、特定カードに係る読取時間が徐々に長くなっているか否かを判断する。解析部１６は、特定カードに係る読取時間が徐々に長くなっている場合、特定カードが劣化していると判断する。解析部１６は、特定カードに係る読取時間が急激に長くなった場合、特定カードが故障、又は、読取環境異常と判断する。解析部１６は、読取時間の変化が特定カードのみに発生していない場合（読取時間の変化が全般の非接触ＩＣカード２０で発生している場合）、全般の非接触ＩＣカード２０に係る読取時間が徐々に長くなっているか否かを判断する。解析部１６は、非接触ＩＣカード２０の全般に係る読取時間が徐々に長くなっている場合、読取装置１０が劣化していると判断する。解析部１６は、全般の非接触ＩＣカード２０に係る読取時間が急激に長くなった場合、読取装置１０が故障していると判断する。解析部１６は、特定カードが劣化又は故障、読取環境異常、若しくは、読取装置１０が劣化又は故障していると判断したときに、判断された内容に基づいて、解析結果を生成するとともに、解析結果に応じて読取装置１０の管理者に、非接触ＩＣカード２０の読取環境の確認、カード交換の提案、読取装置１０の保守、点検等を提案する提案情報を生成し、生成された解析結果及び提案情報を記録部１５に向けて出力する。ここで、読取環境異常として、他の非接触ＩＣカード（交通系非接触ＩＣカード、クレジットカード等）と２枚以上重ねて読み取りしていたり、非接触ＩＣカードを、硬貨が入っている財布に入れた状態で読み取りしていること等が挙げられる。

出力部１７は、解析部１６で読取装置１０又は非接触ＩＣカード２０が異常である（特定カードが劣化又は故障、読取環境異常、若しくは、読取装置１０が劣化又は故障している）と判断されたときにアラームを出力する機能部である（図１参照）。出力部１７として、例えば、表示部、音声出力部等を用いることができる。また、出力部１７は、アラームを、読取装置１０の管理者の端末（図示せず）に送信するようにしてもよい。

非接触ＩＣカード２０は、読取装置１０の読取面（図３、図４の１１ａ）にかざすことにより、自身に記憶されているカード情報を無線通信により読取装置１０に送信するカードである（図１、図３、図４参照）。非接触ＩＣカード２０として、例えば、読取装置１０からエネルギー源としての電波を受けてデータを読み出して読取装置１０に送信するパッシブ型カード、内蔵された電池をエネルギー源としてデータを読み出して読取装置１０に送信するアクティブ型カード、非接触ＩＣカード２０のコイルと読取部１１のアンテナコイルを磁束結合させてエネルギー、データを伝達する電磁誘導型カード、非接触ＩＣカード２０のアンテナと読取部１１のアンテナで電波をやりとりしてエネルギー、データを伝達する電波型カード等のＲＦＩＤ（Radio Frequency Identification）内蔵カードを用いることができる。

なお、図５のように比較例に係る現状の読取装置３０で読取時間を計測する場合、非接触ＩＣカード２０からの応答信号を検出した時点（非接触ＩＣカード２０の存在を確認した時点；カード検出位置の時点）から、非接触ＩＣカード２０との通信が全て完了した時点（読取完了位置の時点）までの時間が読取時間となる（図５［正常時］参照）。しかし、読取装置３０の経年劣化や故障等により電磁誘導による電力（磁界強度）が低下した場合、非接触ＩＣカード２０からの応答信号を検出できる距離が短くなるため、読取装置３０側では、非接触ＩＣカード２０との正確な読取距離を把握するのは困難である（図５［劣化／異常時］参照）。つまり、読取装置３０では正常動作（読取完了）しているが、実際に非接触ＩＣカード２０をかざして運用している利用者にとっては、読み取りが悪い（アンテナ面に近づけないと読まない）と感じているケースが考えられる。

次に、実施形態１に係る非接触ＩＣカード読取システムにおける読取装置のログ情報収集時の動作について図面を用いて説明する。図６は、実施形態１に係る非接触ＩＣカード読取システムにおける読取装置のログ情報収集時の動作を模式的に示したフローチャートである。なお、非接触ＩＣカード読取システムの構成については、図１～図４を参照されたい。

まず、読取装置１０は、位置特定用データ取得部１２（カメラ、センサ等）を用いて、読取面１１ａに近づいてきた非接触ＩＣカード２０の位置特定用データ（例えば、画像データ、距離データ等）を取得する（ステップＡ１）。

次に、読取装置１０は、距離計測部１３を用いて、取得した位置特定用データに基づいて、非接触ＩＣカード２０と読取面１１ａとの間の距離を計測する（ステップＡ２）。

次に、読取装置１０は、距離計測部１３で計測された非接触ＩＣカード２０と読取面１１ａとの間の距離（計測距離）が、予め設定された所定距離（所定距離範囲でも可）になったか否かを判断する（ステップＡ３）。計測距離が所定距離になっていない場合（所定距離より長い場合；ステップＡ３のＮＯ）、ステップＡ１に戻って、非接触ＩＣカード２０の最新の位置特定用データを取得することになる。

計測距離が所定距離になっている場合（ステップＡ３のＹＥＳ）、読取装置１０は、読取時間計測部１４を用いて、読取時間の計測を開始（読取部１１での非接触ＩＣカード２０のカード情報の読み取りを開始）する（ステップＡ４）。

ステップＡ４の後、又は、所定時間を経過していない場合（ステップＡ８のＮＯ）、読取装置１０は、読取時間計測部１４を用いて、非接触ＩＣカード２０との通信が完了したか否か（非接触ＩＣカード２０のカード情報を取得したか否か）を判断する（ステップＡ５）。非接触ＩＣカード２０との通信が完了していない場合（カード情報を取得していない場合；ステップＡ５のＮＯ）、ステップＡ８に進む。

非接触ＩＣカード２０との通信が完了した場合（カード情報を取得した場合；ステップＡ５のＹＥＳ）、読取装置１０は、読取時間計測部１４を用いて、読取時間の計測を終了（読取部１１での非接触ＩＣカード２０のカード情報の読み取りを終了）する（ステップＡ６）。

ステップＡ６の後、読取装置１０は、記録部１５を用いて、読取時間計測部１４で計測された読取時間（ステップＡ４の計測開始からステップＡ６の計測終了までの時間）、読取時間計測部１４で取得したカード情報、及び、読取日時（カード情報を取得したときの日時）を関連付けて履歴情報に記録し（ステップＡ７）、その後、終了する。ここで、読取日時を記録するのは、どのカードで読み取りに問題が生じたかを特定する際に使用するためである。

非接触ＩＣカード２０との通信が完了していない場合（ステップＡ５のＮＯ）、読取装置１０は、読取時間計測部１４を用いて、ステップＡ４の計測開始から、予め設定された所定時間を経過したか否かを判断する（ステップＡ８）。所定時間を経過していない場合（ステップＡ８のＮＯ）、ステップＡ５に戻って非接触ＩＣカード２０との通信が完了を判断することになる。

所定時間を経過した場合（ステップＡ８のＹＥＳ）、読取装置１０は、読取時間計測部１４を用いて、タイムアウト処理（読取時間の計測の強制終了処理）し（ステップＡ９）、その後、終了する。ここで、タイムアウト処理では履歴情報に記録を残さない。

次に、実施形態１に係る非接触ＩＣカード読取システムにおける読取装置の履歴情報解析時の動作について図面を用いて説明する。図７は、実施形態１に係る非接触ＩＣカード読取システムにおける読取装置の履歴情報解析時の動作を模式的に示したフローチャートである。

まず、読取装置１０は、解析部１６を用いて、記録部１５で登録された最新の履歴情報を取得する（ステップＢ１）。

次に、読取装置１０は、解析部１６を用いて、取得した最新の履歴情報の読取時間が、予め設定された閾値より大きいか否かを判断する（ステップＢ２）。最新の読取時間が閾値以下の場合（ステップＢ２のＮＯ；図８［正常］参照）、ステップＢ１３に進む。ここで、閾値は、お客様から読み取りが悪いと申告がくる前に、異常傾向を確認できるよう読取時間の閾値を設定している。

最新の読取時間が閾値より大きい場合（ステップＢ２のＹＥＳ）、読取装置１０は、解析部１６を用いて、記録部１５で登録された過去の履歴情報（最新の履歴情報よりも過去の履歴情報）を取得する（ステップＢ３）。

ステップＢ３の後、読取装置１０は、解析部１６を用いて、読取時間の変化は特定の非接触ＩＣカード２０（特定カード）のみで発生しているのか否かを判断する（ステップＢ４）。読取時間の変化が全般の非接触ＩＣカード２０で発生している場合（ステップＢ４のＮＯ）、ステップＢ８に進む。

読取時間の変化が特定カードのみで発生している場合（ステップＢ４のＹＥＳ）、読取装置１０は、解析部１６を用いて、変化がある読取時間が徐々に（所定の勾配以下で）長くなっているか否かを判断する（ステップＢ５）。なお、ここでの勾配とは、縦軸に読取時間をとり横軸に読取日時をとったときに、各読取日時の読取時間を結んだ線の角度（傾き）である。

変化がある読取時間が徐々に長くなっている場合（ステップＢ５のＹＥＳ；図８［特定カード劣化］参照）、読取装置１０は、解析部１６を用いて、特定カードが劣化していると判断する（ステップＢ６）。

変化がある読取時間が急激に（所定の勾配超で）長くなっている場合（ステップＢ５のＮＯ；図８［特定カード故障／読取環境異常］参照）、読取装置１０は、解析部１６を用いて、特定カードが故障、又は、読取環境が異常であると判断する（ステップＢ７）。

読取時間の変化が全般の非接触ＩＣカード２０で発生している場合（ステップＢ４のＮＯ）、読取装置１０は、解析部１６を用いて、全般の読取時間が徐々に（所定の勾配以下で）長くなっているか否かを判断する（ステップＢ８）。

全般の読取時間が徐々に長くなっている場合（ステップＢ８のＹＥＳ；図９［読取装置劣化］参照）、読取装置１０は、解析部１６を用いて、読取装置１０が劣化していると判断する（ステップＢ９）。

全般の読取時間が急激に（所定の勾配超で）長くなっている場合（ステップＢ８のＮＯ；図９［読取装置故障］参照）、読取装置１０は、解析部１６を用いて、読取装置１０が故障であると判断する（ステップＢ１０）。

ステップＢ６、ステップＢ７、ステップＢ８又はステップＢ９の後、読取装置１０は、解析部１６を用いて、ステップＢ６、ステップＢ７、ステップＢ８又はステップＢ９で判断された解析結果及び提案情報を、対応するカード情報に関連付けて履歴情報に登録する（ステップＢ１１）。

ここで、提案情報は、予め設定されたデータベースから、ステップＢ６、ステップＢ７、ステップＢ９又はステップＢ１０で判断された解析結果に対応する提案情報を抽出することで得られる。例えば、解析結果が特定カード故障／読取環境異常の場合（図８［特定カード故障／読取環境異常］参照）、非接触ＩＣカード２０の読取環境の確認を提案する提案情報を抽出する。解析結果が特定カード劣化の場合（図８［特定カード劣化］参照）、カード交換を提案する提案情報を抽出する。解析結果が読取装置故障の場合（図９［読取装置故障］参照）、読取装置１０の即時点検を提案する提案情報を抽出する。解析結果が読取装置劣化の場合（図９［読取装置劣化］参照）、読取装置１０の保守を提案する提案情報を抽出する。

ステップＢ１１の後、読取装置１０は、出力部１７を用いて、アラームを出力し（ステップＢ１２）、その後、終了する。アラームは、解析結果に応じて異なるアラームであってもよい。

最新の読取時間が閾値以下の場合（ステップＢ２のＮＯ；図８［正常］参照）、読取装置１０は、解析部１６を用いて、読取装置１０及び非接触ＩＣカード２０共に正常であると判断し（ステップＢ１３）、その後、終了する。

実施形態１によれば、読取時間及び読取日時を関連付けて記録された履歴情報に基づいて読取装置１０又は非接触ＩＣカード２０の異常を解析しているので、詳細な不具合の原因を把握することに貢献することができる。つまり、読取時間が予め設定した閾値を超えた場合は、過去の読取時間の傾向を解析することで、読取時間が長くなっている推定原因を確認できる。

また、実施形態１によれば、非接触ＩＣカード２０のユーザから読み取りが悪い、遅いと申告がくる前に、読取時間から事前に異常傾向を解析して得られた解析結果に基づいて提案情報を提供しているので、非接触ＩＣカード２０のユーザや読取装置１０の管理者に予防的な情報の提供が可能となる。これにより、保守契約による定期点検は不要となり、お客様側の費用負担が低減される。

さらに、実施形態１によれば、履歴情報を活用することにより非接触ＩＣカード２０や読取装置１０の異常傾向を解析しているため、保守員が現地に出向く必要がなくなり、保守員にとってもメリットがある。

［実施形態２］
実施形態２に係る非接触ＩＣカード読取システムについて図面を用いて説明する。図１０は、実施形態２に係る非接触ＩＣカード読取システムの構成を模式的に示したブロック図である。

非接触ＩＣカード読取システム１は、読取装置１０の読取面で非接触ＩＣカード２０のカード情報を読み取るシステムである。

読取装置１０は、読取面でのカード情報を読み取るように構成された読取部１１を備える装置である。読取装置１０は、位置特定用データ取得部１２と、距離計測部１３と、読取時間計測部１４と、記録部１５と、解析部１６と、を備える。

位置特定用データ取得部１２は、非接触ＩＣカード２０の位置特定用データを取得するように構成されている。距離計測部１３は、取得した位置特定用データに基づいて読取面と非接触ＩＣカード２０との間の距離を計測するように構成されている。読取時間計測部１４は、計測された距離が所定の距離となってからカード情報の読み取り完了までの読取時間を計測するように構成されている。記録部１５は、計測された読取時間と、読取日時と、読み取れたカード情報とを関連付けて履歴情報に記録するように構成されている。解析部１６は、記録された履歴情報に基づいて読取装置１０又は非接触ＩＣカード２０の異常を解析するように構成されている。

実施形態２によれば、読取時間及び読取日時を関連付けて記録された履歴情報に基づいて読取装置１０又は非接触ＩＣカード２０の異常を解析しているので、詳細な不具合の原因を把握することに貢献することができる。

なお、実施形態１、２に係る読取装置は、いわゆるハードウェア資源（情報処理装置、コンピュータ）を備えた構成とすることができ、図１１に例示する構成を備えたものを用いることができる。例えば、ハードウェア資源１００は、内部バス１０４により相互に接続される、プロセッサ１０１、メモリ１０２、ネットワークインタフェイス１０３等を備える。

なお、図１１に示す構成は、ハードウェア資源１００のハードウェア構成を限定する趣旨ではない。ハードウェア資源１００は、図示しないハードウェア（例えば、入出力インタフェイス）を含んでもよい。あるいは、装置に含まれるプロセッサ１０１等のユニットの数も図１１の例示に限定する趣旨ではなく、例えば、複数のプロセッサ１０１がハードウェア資源１００に含まれていてもよい。プロセッサ１０１には、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＭＰＵ（Micro Processor Unit）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）等を用いることができる。

メモリ１０２には、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）、ＳＳＤ（Solid State Drive）等を用いることができる。

ネットワークインタフェイス１０３には、例えば、ＬＡＮ（Local Area Network）カード、ネットワークアダプタ、ネットワークインタフェイスカード等を用いることができる。

ハードウェア資源１００の機能は、上述の処理モジュールにより実現される。当該処理モジュールは、例えば、メモリ１０２に格納されたプログラムをプロセッサ１０１が実行することで実現される。また、そのプログラムは、ネットワークを介してダウンロードするか、あるいは、プログラムを記憶した記憶媒体を用いて、更新することができる。さらに、上記処理モジュールは、半導体チップにより実現されてもよい。即ち、上記処理モジュールが行う機能は、何らかのハードウェアにおいてソフトウェアが実行されることによって実現できればよい。

上記実施形態の一部または全部は以下の付記のようにも記載され得るが、以下には限られない。

［付記１］
読取面で非接触ＩＣカードのカード情報を読み取るように構成された読取部を備える読取装置であって、
前記非接触ＩＣカードの位置特定用データを取得するように構成された位置特定用データ取得部と、
取得した前記位置特定用データに基づいて前記読取面と前記非接触ＩＣカードとの間の距離を計測するように構成された距離計測部と、
計測された前記距離が所定の距離となってから前記カード情報の読み取り完了までの読取時間を計測するように構成された読取時間計測部と、
前記読取時間と読取日時と前記カード情報とを関連付けて履歴情報に記録するように構成された記録部と、
記録された前記履歴情報に基づいて前記読取装置又は前記非接触ＩＣカードの異常を解析するように構成された解析部と、
を備える、読取装置。
［付記２］
前記位置特定用データ取得部は、カメラ又はセンサであり、
前記位置特定用データは、前記カメラ又は前記センサで取得されたデータである、
付記１に記載の読取装置。
［付記３］
前記位置特定用データ取得部は、前記読取面の近傍に配置されている、
付記１に記載の読取装置。
［付記４］
前記解析部は、前記履歴情報に基づいて、前記読取時間の変化が前記非接触ＩＣカードのうちの特定カードのみに発生し、かつ、前記特定カードに係る前記読取時間が所定の勾配以下で長くなっているときに、前記特定カードが劣化していると判断するように構成されている、
付記１に記載の読取装置。
［付記５］
前記解析部は、前記履歴情報に基づいて、前記読取時間の変化が前記非接触ＩＣカードのうちの特定カードのみに発生し、かつ、前記特定カードに係る前記読取時間が所定の勾配を超えて長くなっているときに、前記特定カードが故障、又は、読取環境異常と判断するように構成されている、
付記１に記載の読取装置。
［付記６］
前記解析部は、前記履歴情報に基づいて、前記読取時間の変化が前記非接触ＩＣカードの全般に発生し、かつ、前記非接触ＩＣカードの全般に係る読取時間が所定の勾配以下で長くなっているときに、前記読取装置が劣化していると判断するように構成されている、
付記１に記載の読取装置。
［付記７］
前記解析部は、前記履歴情報に基づいて、前記読取時間の変化が前記非接触ＩＣカードの全般に発生し、かつ、前記非接触ＩＣカードの全般に係る読取時間が所定の勾配を超えて長くなっているときに、前記読取装置が故障していると判断するように構成されている、
付記１に記載の読取装置。
［付記８］
前記解析部は、判断された内容に基づいて、解析結果を生成するとともに、前記解析結果に応じた提案情報を生成するように構成され、
前記記録部は、前記解析結果及び前記提案情報を、対応する前記カード情報に関連付けて前記履歴情報に記録するように構成されている、
付記１記載の読取装置。
［付記９］
前記解析部で前記読取装置又は前記非接触ＩＣカードに異常があると判断されたときにアラームを出力するように構成されている出力部を備える、
付記１に記載の読取装置。
［付記１０］
非接触ＩＣカードと、
付記１乃至９に記載の読取装置と、
を備える、非接触ＩＣカード読取システム。
［付記１１］
読取装置の読取面で非接触ＩＣカードのカード情報を読み取る非接触ＩＣカード読取システムの異常を解析する異常解析方法であって、
前記読取装置が、前記非接触ＩＣカードの位置特定用データを取得するステップと、
前記読取装置が、取得した前記位置特定用データに基づいて前記読取面と前記非接触ＩＣカードとの間の距離を計測するステップと、
前記読取装置が計測された前記距離が所定の距離となってから前記カード情報の読み取り完了までの読取時間を計測するステップと、
前記読取装置が、前記読取時間と読取日時と前記カード情報とを関連付けて履歴情報に記録するステップと、
前記読取装置が、記録された前記履歴情報に基づいて前記読取装置又は前記非接触ＩＣカードの異常を解析するステップと、
を含む、異常解析方法。
［付記１２］
読取装置の読取面で非接触ＩＣカードのカード情報を読み取る非接触ＩＣカード読取システムの異常を解析する処理を前記読取装置に実行させるプログラムであって、
前記読取装置が、前記非接触ＩＣカードの位置特定用データを取得する処理と、
前記読取装置が、取得した前記位置特定用データに基づいて前記読取面と前記非接触ＩＣカードとの間の距離を計測する処理と、
前記読取装置が計測された前記距離が所定の距離となってから前記カード情報の読み取り完了までの読取時間を計測する処理と、
前記読取装置が、前記読取時間と読取日時と前記カード情報とを関連付けて履歴情報に記録する処理と、
前記読取装置が、記録された前記履歴情報に基づいて前記読取装置又は前記非接触ＩＣカードの異常を解析する処理と、
を前記読取装置に実行させる、プログラム。

なお、上記の特許文献の開示は、本書に引用をもって繰り込み記載されているものとし、必要に応じて本発明の基礎ないし一部として用いることが出来るものとする。本発明の全開示（特許請求の範囲及び図面を含む）の枠内において、さらにその基本的技術思想に基づいて、実施形態ないし実施例の変更・調整が可能である。また、本発明の全開示の枠内において種々の開示要素（各請求項の各要素、各実施形態ないし実施例の各要素、各図面の各要素等を含む）の多様な組み合わせないし選択（必要により不選択）が可能である。すなわち、本発明は、請求の範囲及び図面を含む全開示、技術的思想にしたがって当業者であればなし得るであろう各種変形、修正を含むことは勿論である。また、本願に記載の数値及び数値範囲については、明記がなくともその任意の中間値、下位数値、及び、小範囲が記載されているものとみなされる。さらに、上記引用した文献の各開示事項は、必要に応じ、本願発明の趣旨に則り、本願発明の開示の一部として、その一部又は全部を、本書の記載事項と組み合わせて用いることも、本願の開示事項に含まれる（属する）ものと、みなされる。

１ 非接触ＩＣカード読取システム
１０、３０ 読取装置
１１ 読取部
１１ａ、３１ａ 読取面
１２ 位置特定用データ取得部
１３ 距離計測部
１４ 読取時間計測部
１５ 記録部
１６ 解析部
１７ 出力部
２０ 非接触ＩＣカード
１００ ハードウェア資源
１０１ プロセッサ
１０２ メモリ
１０３ ネットワークインタフェイス
１０４ 内部バス

Claims (10)

1. 読取面で非接触ＩＣカードのカード情報を読み取るように構成された読取部を備える読取装置であって、
   前記非接触ＩＣカードの位置特定用データを取得するように構成された位置特定用データ取得部と、
   取得した前記位置特定用データに基づいて前記読取面と前記非接触ＩＣカードとの間の距離を計測するように構成された距離計測部と、
   計測された前記距離が所定の距離となってから前記カード情報の読み取り完了までの読取時間を計測するように構成された読取時間計測部と、
   前記読取時間と読取日時と前記カード情報とを関連付けて履歴情報に記録するように構成された記録部と、
   記録された前記履歴情報に基づいて前記読取装置又は前記非接触ＩＣカードの異常を解析するように構成された解析部と、
   を備える、読取装置。
2. 前記位置特定用データ取得部は、カメラ又はセンサであり、
   前記位置特定用データは、前記カメラ又は前記センサで取得されたデータである、
   請求項１に記載の読取装置。
3. 前記解析部は、前記履歴情報に基づいて、前記読取時間の変化が前記非接触ＩＣカードのうちの特定カードのみに発生し、かつ、前記特定カードに係る前記読取時間が所定の勾配以下で長くなっているときに、前記特定カードが劣化していると判断するように構成されている、
   請求項１に記載の読取装置。
4. 前記解析部は、前記履歴情報に基づいて、前記読取時間の変化が前記非接触ＩＣカードのうちの特定カードのみに発生し、かつ、前記特定カードに係る前記読取時間が所定の勾配を超えて長くなっているときに、前記特定カードが故障、又は、読取環境異常と判断するように構成されている、
   請求項１に記載の読取装置。
5. 前記解析部は、前記履歴情報に基づいて、前記読取時間の変化が前記非接触ＩＣカードの全般に発生し、かつ、前記非接触ＩＣカードの全般に係る読取時間が所定の勾配以下で長くなっているときに、前記読取装置が劣化していると判断するように構成されている、
   請求項１に記載の読取装置。
6. 前記解析部は、前記履歴情報に基づいて、前記読取時間の変化が前記非接触ＩＣカードの全般に発生し、かつ、前記非接触ＩＣカードの全般に係る読取時間が所定の勾配を超えて長くなっているときに、前記読取装置が故障していると判断するように構成されている、
   請求項１に記載の読取装置。
7. 前記解析部は、判断された内容に基づいて、解析結果を生成するとともに、前記解析結果に応じた提案情報を生成するように構成され、
   前記記録部は、前記解析結果及び前記提案情報を、対応する前記カード情報に関連付けて前記履歴情報に記録するように構成されている、
   請求項１に記載の読取装置。
8. 非接触ＩＣカードと、
   請求項１乃至７のいずれかに記載の読取装置と、
   を備える、非接触ＩＣカード読取システム。
9. 読取装置の読取面で非接触ＩＣカードのカード情報を読み取る非接触ＩＣカード読取システムの異常を解析する異常解析方法であって、
   前記読取装置が、前記非接触ＩＣカードの位置特定用データを取得するステップと、
   前記読取装置が、取得した前記位置特定用データに基づいて前記読取面と前記非接触ＩＣカードとの間の距離を計測するステップと、
   前記読取装置が計測された前記距離が所定の距離となってから前記カード情報の読み取り完了までの読取時間を計測するステップと、
   前記読取装置が、前記読取時間と読取日時と前記カード情報とを関連付けて履歴情報に記録するステップと、
   前記読取装置が、記録された前記履歴情報に基づいて前記読取装置又は前記非接触ＩＣカードの異常を解析するステップと、
   を含む、異常解析方法。
10. 読取装置の読取面で非接触ＩＣカードのカード情報を読み取る非接触ＩＣカード読取システムの異常を解析する処理を前記読取装置に実行させるプログラムであって、
    前記読取装置が、前記非接触ＩＣカードの位置特定用データを取得する処理と、
    前記読取装置が、取得した前記位置特定用データに基づいて前記読取面と前記非接触ＩＣカードとの間の距離を計測する処理と、
    前記読取装置が計測された前記距離が所定の距離となってから前記カード情報の読み取り完了までの読取時間を計測する処理と、
    前記読取装置が、前記読取時間と読取日時と前記カード情報とを関連付けて履歴情報に記録する処理と、
    前記読取装置が、記録された前記履歴情報に基づいて前記読取装置又は前記非接触ＩＣカードの異常を解析する処理と、
    を前記読取装置に実行させる、プログラム。

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