JP7473698B2 - イメージ比較のための試料撮像及びイメージアーカイビング - Google Patents
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Claims (13)
- 組織試料の画像を捕捉するための方法であって、
選択可能な視野内に、基板ブロックに埋め込まれた組織試料を位置決めすることと、
前記基板ブロック包埋組織試料に偏光を照射することと、
前記視野内に位置決めされた前記基板ブロック包埋組織試料の第1の画像を捕捉することと、
前記基板ブロック包埋組織試料に非偏光を照射することと、
前記視野内に位置決めされた前記基板ブロック包埋組織試料の第2の画像を捕捉することと、
前記第1の画像上にオーバーレイした前記第2の画像を含むオーバーレイ画像を作成するために、前記第1及び第2の画像を処理することと、
前記基板ブロック包埋組織試料の切断組織を識別することであって、前記切断組織が、スライシング後に前記基板ブロックの切断面に存在する組織である、識別することと、
前記基板ブロック包埋組織試料の非切断組織を識別することであって、前記非切断組織が、スライシング後に前記基板ブロックの前記切断面の下に存在する組織である、識別することと、
前記非切断組織に対する前記切断組織の境界を識別することと、
前記オーバーレイ画像をアーカイブに格納することと
を含む、方法。 - 前記基板ブロック包埋組織試料が、カセットにマウントされる、請求項1に記載の方法。
- 前記基板ブロック包埋組織試料に偏光を前記照射することが、偏光源を用いて前記基板ブロック包埋組織試料に照射することを含み、
前記第1の画像を前記捕捉することが、偏光フィルタの使用を含み、
前記偏光が、前記視野内のグリント、グレア及び反射を低減する、請求項1に記載の方法。 - 前記基板ブロック包埋組織試料に非偏光を前記照射することが、前記基板ブロックの前記切断面に垂直な方向からある角度を成す光源を用いて前記基板ブロック包埋組織試料に照射することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記基板ブロックの前記切断面に垂直な方向からある角度を成す光源から照射される前記非偏光が、前記基板ブロックの表面におけるグリント、グレア及び反射を生成し、前記切断組織が、光沢のない、実質的には、グリント、グレア及び反射のない状態のままである、請求項4に記載の方法。
- 組織試料スライスを作成するための前記基板ブロック包埋組織試料の後続のスライシングをさらに含み、前記組織試料スライスが、前記基板ブロック包埋組織試料に存在していた少なくともいくつかの組織を含む、請求項1に記載の方法。
- スライドにマウントされた組織試料を作成するために前記組織試料スライスを処理することであって、前記スライドにマウントされた組織試料が、前記組織試料スライスのカバースリップが施された最終的な染色スライドである、処理することをさらに含む、請求項6に記載の方法。
- 前記スライドにマウントされた組織試料の画像を捕捉することをさらに含む、請求項7に記載の方法。
- 第1の画像対を作成するために、前記スライドにマウントされた組織試料の画像と前記オーバーレイ画像を対にすることを含み、前記スライドにマウントされた組織試料に存在する組織が、前記オーバーレイ画像に存在する前記組織の少なくとも一部分を含む、請求項8に記載の方法。
- 前記第1の画像対を一連の漸進的な対の画像に追加することをさらに含み、前記一連の漸進的な対の画像を前記アーカイブに格納することをさらに含む、請求項9に記載の方法。
- 前記スライドにマウントされた組織試料の前記画像から欠けている組織があるかどうかを判断するために、前記第1の画像対を分析することをさらに含む、請求項9に記載の方法。
- 前記第1の画像対を分析することが、前記オーバーレイ画像に存在するいずれかの組織が前記スライドにマウントされた組織試料の前記画像に存在するいずれかの組織から欠けているかどうかを判断するために、前記基板ブロック包埋組織試料の前記非切断組織に対する前記切断組織の前記境界をレビューすることを含み、
前記オーバーレイ画像に存在する組織は、前記スライドにマウントされた組織試料の前記画像に存在するいずれかの組織に対応する、請求項11に記載の方法。 - 前記視野内に位置決めされた基板ブロック包埋組織試料のライブ画像を表示することをさらに含み、
前記基板ブロックの透明度及び前記切断組織の境界の強度の少なくとも1つを調整するために、光の偏光レベル及び光強度レベルの少なくとも1つを調整することをさらに含む、請求項1に記載の方法。
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