JP7466754B2 - 空気調和装置 - Google Patents

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Description

本開示は、空気調和装置に関する。
近年、ZEH(ネット・ゼロ・エネルギー・ハウス)を目指して住宅の高気密および高断熱化が進んでいる。高断熱化が進んだ住宅では、真夏および真冬の空調稼働時は従来通り畳数に応じた定格能力が必要となる一方で、室温安定時の空調負荷は極めて小さくなる。
空調負荷が極めて小さい状態での安定した空調を実現するには、圧縮機の周波数を低くして空気調和装置を運転すればよい。しかし、圧縮機周波数を低くすると冷媒回路中の高低圧差が小さくなり吐出冷媒の温度および過熱度が低くなる。吐出冷媒の過熱度が低いと吸入冷媒の温度および過熱度も低下し、圧縮機に吸入される冷媒の状態は液とガスの二相状態となりやすい。このような状態は圧縮機の故障につながるおそれがある。通常、吸入冷媒の状態を二相からガス単相にしたい場合は電子膨張弁を絞ればよいが、電子膨張弁の製造ばらつきによって、特に低開度において精度良く電子膨張弁を制御することは困難であった。
国際公開第2013/103061号(特許文献1)には、空調制御を安定させるために、製造ばらつきに伴う特性データをバーコードに記載して添付する電子膨張弁およびそれを備えた空気調和装置が開示されている。
国際公開第2013/103061号
国際公開第2013/103061号(特許文献1)に記載された電子膨張弁では、開弁点の製造ばらつきを補正するために、予め1台ずつ電子膨張弁の開弁点を測定して、バーコードにデータを記載している。そして、空気調和装置の製造時にバーコードを読み込んで電子膨張弁の制御プログラムにデータを反映させる必要がある。このため、空気調和装置の製造工程が増加してしまう。
本開示は、上記のような課題を解決するためになされたものであって、製造工程の複雑化を回避しつつ、低容量運転を実現できる空気調和装置を開示することを目的とする。
本開示は、空気調和装置に関する。空気調和装置は、冷媒回路と制御装置とを備える。冷媒回路は、圧縮機と、凝縮器と、膨張弁と、蒸発器とに冷媒が循環するように構成される。膨張弁は、下限開度から上限開度までの間で開度が可変に構成される。制御装置は、上限開度の4分の1の開度以下の範囲内において、第1開度と第1開度よりも小さい第2開度とを交互に繰り返すように膨張弁を制御するように構成される。
本開示の空気調和装置は、上限開度の4分の1の開度以下の範囲内において、膨張弁の開度の増減を繰り返す。これにより、製造工程の複雑化を回避しつつ、低容量運転ができる空気調和装置が実現できる。
実施の形態1に係る空気調和装置の構成を示す図である。 制御装置およびLEVの構成を示すブロック図である。 電子膨張弁の開度の変化を説明するための波形図である。 LEV111のCv値と開度を示すパルス数との関係を説明するための図である。 図4に示した開度において、図3のCvAおよびCvBの位置を説明するための図である。 実施の形態1の空気調和システムで実行される運転モード切替の制御を説明するためのフローチャートである。 図6のステップS3の処理内容の一例を示すフローチャートである。 実施の形態2において実行される処理を説明するためのフローチャートである。 実施の形態2で用いられるマップM1の一例を示す図である。 実施の形態2で用いられる他のマップM1Aを示す図である。 圧縮機の運転周波数と所望のCv値との関係を示す図である。 実施の形態3で実行される時間比の制御を説明するための図である。 実施の形態4の空気調和システムで実行される運転モード切替の制御を説明するためのフローチャートである。 図13におけるステップS3Bの処理を説明するためのフローチャートである。 実施の形態4で用いられるマップM2の一例を示す図である。
以下、本開示の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。以下では、複数の実施の形態について説明するが、各実施の形態で説明された構成を適宜組み合わせることは出願当初から予定されている。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。なお、以下の図は各構成部材の大きさの関係が実際のものとは異なる場合がある。
実施の形態1.
図1は、実施の形態1に係る空気調和装置の構成を示す図である。空気調和装置1は、圧縮機10と、室内熱交換器20と、電子膨張弁(LEV:Linear Expansion Valve)111と、室外熱交換器40と、配管90,92,94,96,97,99と、四方弁100とを含む冷媒回路150を備える。四方弁100は、ポートE~Hを有する。
配管90は、四方弁100のポートHと室内熱交換器20のポートP1との間に接続される。配管92は、室内熱交換器20のポートP4とLEV111との間に接続される。配管94は、LEV111と室外熱交換器40のポートP3との間に接続される。
配管96は、室外熱交換器40のポートのP2と四方弁100のポートFとの間に接続される。配管97は、圧縮機10の吸入口と四方弁100のポートEとの間に接続される。配管99は、圧縮機10の吐出口と四方弁100のポートGとの間に接続される。
圧縮機10と、LEV111と、室外熱交換器40と、配管94,96,97,99と、四方弁100とは、室外機2に収容されている。室内熱交換器20は、室内機3に収容されている。室外機2と室内機3は、配管90,92によって接続されている。
空気調和装置1は、温度センサ101~103、106,107と、制御装置200とをさらに含む。温度センサ101は、配管99の途中に配置され、吐出温度THを計測する。温度センサ102は、室内熱交換器20の付近に配置され、室内温度Trを計測する。温度センサ103は、室外熱交換器40の付近に配置され、室外温度Teを計測する。温度センサ106は、室内熱交換器20の冷媒配管の途中に配置され、二相域冷媒の温度T1を計測する。温度センサ107は、室外熱交換器40の冷媒配管の途中に配置され、二相域冷媒の温度T2を計測する。制御装置200は、ユーザーから与えられる運転指令信号と各種センサの出力とに応じて、圧縮機10と、四方弁100と、LEV111とを制御する。
圧縮機10は、制御装置200から受ける制御信号によって運転周波数を変更するように構成される。具体的には、圧縮機10は、インバータ制御された回転速度が可変の駆動モータを内蔵しており、運転周波数が変更されると駆動モータの回転速度が変化する。圧縮機10の運転周波数を変更することにより圧縮機10の出力が調整される。圧縮機10には種々のタイプ、たとえば、ロータリータイプ、往復タイプ、スクロールタイプ、スクリュータイプ等のものを採用することができる。
四方弁100は、制御装置200から受ける制御信号によって冷房運転状態および暖房運転状態のいずれかになるように制御される。冷房運転状態は、ポートEとポートHとが連通し、ポートFとポートGとが連通する状態である。暖房運転状態は、ポートEとポートFとが連通し、ポートHとポートGとが連通する状態である。冷房運転状態で圧縮機10を運転することによって、実線矢印に示す向きに冷媒が冷媒回路中を循環する。また、暖房運転状態で圧縮機10を運転することによって、破線矢印に示す向きに冷媒が冷媒回路中を循環する。
LEV111は、制御装置200から受ける制御信号によって、蒸発器出口部の冷媒のSH(スーパーヒート:加熱度)を調整するように開度が制御される。
図2は、制御装置およびLEVの構成を示すブロック図である。図2に示すように、制御装置200は、CPU(Central Processing Unit)201と、メモリ202(ROM(Read Only Memory)およびRAM(Random Access Memory))と、入出力バッファ(図示せず)等を含んで構成される。CPU201は、ROMに格納されているプログラムをRAM等に展開して実行する。ROMに格納されるプログラムは、制御装置200の処理手順が記されたプログラムである。制御装置200は、これらのプログラムに従って、空気調和装置1における各機器の制御を実行する。この制御については、ソフトウェアによる処理に限られず、専用のハードウェア(電子回路)で処理することも可能である。
制御装置200は、室外温度Te、室内温度Tr、吐出温度TH、二相域冷媒の温度T1,T2に基づいて、モータ駆動回路203を制御するように構成される。
LEV111は、ステッピングモータ112と、ステッピングモータ112の回転によってニードル位置が変化し開度が変化する弁本体113とを備える。ステッピングモータ112は、モータ駆動回路203によって駆動される。制御装置200は、弁本体113の開度を示す指令値として、パルス数をモータ駆動回路203に出力する。
再び図1を参照して、破線矢印で示した暖房運転時の冷媒の流れについて説明する。圧縮機10から吐出されたガス冷媒は、配管90を通り室内熱交換器20へ流入する。室内熱交換器20に流入したガス冷媒は室内熱交換器20のフィン側を流れる空気と熱交換し液冷媒となる。液化した冷媒は、配管92を通りLEV111へ流入し断熱膨張する。
LEV111において断熱膨張した気液二相冷媒は、配管94を通り室外熱交換器40へ流入する。室外熱交換器40に流入した気液二相冷媒は、室外熱交換器40のフィン側を流れる空気と熱交換しガス冷媒となる。ガス化した冷媒は配管96、四方弁100、配管97を通り圧縮機10へ戻る。
ここで、たとえば、空調負荷が下がり、圧縮機10の運転周波数が低下した場合について説明する。
空調負荷が小さい場合には、制御装置200は、空調能力が空調負荷に一致するまで圧縮機10の運転周波数を下げていく。圧縮機10の運転周波数が低下すると、冷媒回路150の冷媒循環量は低下する。冷媒循環量が低下すると、空調能力(=冷媒循環量×室内機エンタルピ差)は低下する。
また、圧縮機10の運転周波数が低下すると圧縮機10で発生する圧力差が小さくなり、室内熱交換器20および室外熱交換器40において冷媒温度と空気温度との温度差が小さくなる。温度差が小さくなると熱交換しにくくなり吐出温度が上がりにくくなる結果、吐出冷媒の過熱度は低下する。
そこで、制御装置200は、温度差を確保するために、LEV111を絞り圧力差を確保する制御を行なう。
しかし、空調能力1kW以下の低出力を精度良く実現するため、圧縮機10の周波数を下げて運転する場合、LEV111の開度を小さい開度に精度良く制御することが必要となる。この場合、制御装置200からモータ駆動回路203に送信する開度を指令するパルス数を小さくする必要がある。ここで、電子膨張弁が閉弁した状態から開弁した状態に移行する開弁点は、電子膨張弁ごとにばらつくことが問題となる。このような開弁点のばらつきは、ステッピングモータの取り付け方、弁体の寸法および弁座の寸法にばらつきがあるために生じる。したがって、パルス数の少ない領域での使用は、開弁点の製造ばらつきによって意図しない閉弁状態を招くおそれがあり、推奨されていない。
このため、国際公開2013/103061号には、膨張弁の特性を個別に予め計測し、開弁点のデータをバーコードで提供することが示されている。しかしながら、膨張弁の特性を個別に予め計測したり、空気調和機の制御装置に、膨張弁の特性を登録したりすることによって、製造工程が増加してしまう。
そこで、本実施の形態では、LEV111の開度が安定した使用ができる下限に近いある開度まで下がり、吐出冷媒の過熱度が不足していた場合、意図的にLEV111を全閉または全閉に近い第2開度とし、その後、開度を増加させ第1開度とすることを繰り返す。
図3は、電子膨張弁の開度の変化を説明するための波形図である。図3において横軸は時間、縦軸は、電子膨張弁の開度に相当するCv値を示す。なお、Cv値は、バルブの容量係数を示す。
周期tCで、LEV111の開度を第1開度(Cv値=CvA)に設定する期間と第2開度(Cv値=CvB)に設定する期間とをある時間比で繰り返す場合、その時間比に応じて第1開度と第2開度の間における任意の平均開度(Cv値=CvC)を実現できる。
制御装置200は、空調負荷が小さい状態において、吐出冷媒の所望の過熱度を実現するために、LEV111のCv値が所望のCv値になるように、図3の期間tA,tBを調整する。言い換えると、Cv値は、時間比(tA/tCまたはtB/tC)に応じて変化するので、制御装置200は、時間比を変化させて所望のCv値を得る。
図4は、LEV111のCv値と開度を示すパルス数との関係を説明するための図である。制御装置200は、モータ駆動回路203に、弁の開度に対応するパルス数を指令値として出力している。パルス数は0からnの間で変化させることができる。nの数は、電子膨張弁の仕様などによって異なるが、たとえば図4の例ではn=500であり、1/4×n=125である。指令値0が示す開度のCv値をCvminとし、最大パルス数である指令値500が示す開度のCv値をCvmaxとすると、Cvminは、ゼロであっても良いがゼロに近いゼロより大きい値であっても良い。Cvmin<Cvmaxであれば、Cvmin、Cvmaxは適宜定めることができる。
図5は、図4に示した開度において、図3のCvAおよびCvBの位置を説明するための図である。図5では、CvAに対応する指令値AもCvBに対応する指令値Bも、いずれも制御可能な最大開度に対応するパルス数n(たとえば500)の4分の1(たとえば125)以下のパルス数であることが示される。
図3に示すようにパルスを制御して実現するCv値=CvCに対応する膨張弁の開度は、空調負荷が極めて小さい場合に用いられるものであり、膨張弁の閉弁点のばらつきにより意図しないで閉弁状態となってしまうおそれがある場合に用いられるものである。このため、パルス数A,Bがnの1/4より大きい場合には、そのようなCv値は実現できない。
たとえば、パルス数Bをゼロとし、パルス数Aを500として、図3のtAをtBに対して極めて短くすることも考えられるが、膨張弁の応答速度、および膨張弁の開度の変化に応じてCv値が変化する応答速度は遅いため、精度良く所望のCv値を実現することが難しくなる。
したがって、本実施の形態では、指令値A,Bについて、0≦B<A≦n×1/4の関係としている。また、図3における周期tCもあまり長いと平均値としてのCvCを実現できないので、周期tCは1分以内とすることが望ましい。
図6は、実施の形態1の空気調和システムで実行される運転モード切替の制御を説明するためのフローチャートである。
制御装置200は、ステップS1において、室内温度Trと設定温度Tsetの差の大きさが判定値Tth1より小さいか否かを判断する。これによる空調負荷の大小が判断される。
|t-Tset|<Tth1の場合(S1でYES)、制御装置200は、ステップS2において、吐出冷媒の過熱度(以下、吐出SHと記載する)が判定値Tth2より小さいか否かを判断する。これにより冷媒回路150の状態が判定される。
吐出SH<Tth2の場合(S2でYES)、ステップS3において、制御装置200は、図3~5で説明したように、指令値A,Bを繰り返して出力することによって、LEV111の開度がH(第1開度、Cv値=CvA)とL(第2開度、Cv値=CvB)を定期的に繰り返すようにLEV111を制御する。これにより平均値としてCv値=CvCの開度が実現される。
一方、|t-Tset|≧Tth1の場合(S1でNO)または吐出SH≧Tth2の場合(S2でNO)には、ステップS4において、LEV111の開度を1つの指令値で指定する通常の制御が実行される。
ここで、図3において、時間比tA/tCは固定値(たとえば50%)でも良いが、時間比を変化させることによって、より細かい精度でLEV111の平均開度を変化させることができる。
図7は、図6のステップS3の処理内容の一例を示すフローチャートである。まずステップS11において、制御装置200は、吐出SHが判定値Tth2より小さいか否かを判断する。
吐出SH<Tth2の場合(S11でYES)、ステップS12において、制御装置200は、LEV開度が高い第1開度CvAである時間tAの時間を減少させ、時間比tA/tCを減少させる。そして再びステップS11の処理を実行する。
ステップS12における時間比の初期値を100%としておけば、吐出SHが所望の値になるように時間比が調整され、時間比調整後に(S11でYES)調整された時間比に固定された状態で一定時間のLEV開度H/L繰り返し運転が実行される(S13)。
以上説明したように、実施の形態1では、製造ばらつきによって、パルス指令値とLEV111の開度またはCv値との対応が取りにくい低開度領域(上限開度の1/4以下の領域)に相当する絞り状態にLEV111を制御することができる。このため、圧縮機の運転周波数を低くした低容量運転を行ないやすくなる。
実施の形態2.
実施の形態1では、図7に示すように、適切な時間比を吐出SHの値を検出しながら時間比を変化させていき、適切な時間比を決定した。
実施の形態2では、制御装置200のメモリ202に室内外温度に応じて吐出SHを規定値以上にするための膨張弁のCv値が記憶されており、室内外温度を計測しその温度に応じてLEV111の開度をある時間内で時間比を調整し所望のCv値(CvC)を得ることを特徴とする冷凍サイクル装置について説明する。
なお、冷凍サイクル装置内の冷媒の流れおよび状態については、実施の形態1と同様であるので、説明は繰り返さない。
図8は、実施の形態2において実行される処理を説明するためのフローチャートである。図7に示したステップS3に代えて、実施の形態2で実行されるステップS3Aの処理が図8に示される。
まずステップS21において、制御装置200は、温度センサ103から室外温度Teを取得し、温度センサ102から室内温度Trを取得する。そしてステップS22において、制御装置200は、メモリ202に予め記憶されているマップM1からCv値を決定し、ステップS23において決定されたCv値に対応する時間比を算出する。
図9は、実施の形態2で用いられるマップM1の一例を示す図である。図9に示すように、各室内外温度の組み合わせに対応した膨張弁開度に対応するCv値は、テーブルとして制御装置200に内蔵されているメモリ202内に記憶されている。制御装置200は、室内外の空気温度Tr,Teをサーミスタなどの温度センサ102,103で計測し、その空気温度に応じたCv値を実現する時間比を算出してLEV111の制御を行なう。
なお,図9では、マップにはCv値が記憶されているが、Cv値に代えて空気温度に応じた時間比を直接記憶させておいても良い。図10は、実施の形態2で用いられる他のマップM1Aを示す図である。図9において、室外温度が高く室内温度が低くなるほど(図9の左上方向)Cv値は小さくなり、室外温度が低く室内温度が高くなるほど(図9の右下方向)Cv値は大きくなる。よって、Cv値を小さくするには図3の時間tBを長くすればよく、時間比(図3中のtB/tC)を大きくすれ良い。したがって、図10のマップM1Aでは、室外温度が高く室内温度が低くなるほど(図10の左上方向)時間比RB(=tB/tC)は大きくなり、室外温度が低く室内温度が高くなるほど(図10の右下方向)時間比RBは小さくなる。
実施の形態2では、実施の形態1と同様に、時間比をもってLEV111を制御することで、制御が難しい小さい開度のCv値を時間平均で実現でき、吐出SHを確保することができる。さらに、室内外の空気温度によって変化する所望のCv値を予めテーブルとしてメモリ202に記憶しておくことで、実製品では温度センサ102,103で室内外温度を計測するだけで直ちに時間比を決定できるので、より速い制御が実現可能となる。
実施の形態3.
実施の形態3では、圧縮機10の運転周波数に応じて、LEV111の開度をある時間内で時間比(図3中のtB/tC)を調整し所望のCv値(CvC)を得ることを特徴とする。
一般的な制御において、冷凍サイクル装置内の冷媒の流れおよび冷媒の状態については、実施の形態1と同様であるので、説明は繰り返さない。
図11は、圧縮機の運転周波数と所望のCv値との関係を示す図である。一般に、運転周波数を増加させると、所望のCv値も図11に示すように増加する。しかし、実施の形態1でも説明したように、Cv値が小さい状態の膨張弁は、開度を制御することが難しい。したがって、実施の形態3では、小さいCv値が要求される周波数においては、図3に示した時間比を変化させて所望のCv値を実現する。
図12は、実施の形態3で実行される時間比の制御を説明するための図である。実施の形態3では、圧縮機10の各運転周波数に応じた膨張弁開度の時間比(tB/tC)は、テーブルとして制御装置200に内蔵されているメモリ202内に記憶されている。制御装置200は、運転周波数に応じた時間比をメモリ202から呼び出して制御を行なう。
なお、実施の形態1では、時間比は、tA/tCとしており、時間比が100%で開度大連続状態であるが、図12では、時間比はtB/tCとしているので時間比が0%で開度大連続状態となる。
したがって、図12では、運転周波数がfth~fmaxの間は、通常の制御のように1つの開度指令値でLEV111が連続運転され、運転周波数がfth以下になると第1開度(CvAに相当)と第2開度(CvBに相当)とを繰り返す運転となる。そして運転周波数がfthからfminに向かって低下するにしたがって、時間比tB/tCは増加しCv値は小さくなっていく。
実施の形態3によれば、実施の形態1と同様に、ある時間比でLEV111の開度を第1開度と第2開度の間で繰り返すように開度指令値を制御する。これによって、安定して制御できる最小のCv値より小さい領域のCv値を時間平均で実現でき、吐出SHを確保することができる。さらに、運転周波数によって変化する所望のCv値を予めテーブルとして記憶しておくことで、実製品ではその周波数に応じて時間比を読み込むだけでより良い制御が実現可能となる。
実施の形態4.
実施の形態4では、実施の形態1~3を組み合わせることによって、室内空気温度、室外空気温度および運転周波数に応じた時間比に基づいて、LEV111を制御することを特徴とする。
一般的な冷凍サイクル装置内の冷媒の流れおよび冷媒状態については、実施の形態1と同様であるので、説明は繰り返さない。
図13は、実施の形態4の空気調和システムで実行される運転モード切替の制御を説明するためのフローチャートである。図13のフローチャートは、図6のフローチャートにおいて、ステップS2の後にステップS2Aが追加され、ステップS3に代えてステップS3Bが実行される。
まず、制御装置200は、ステップS1において、室内温度Trと設定温度Tsetの差の大きさが判定値Tth1より小さいか否かを判断する。これによる空調負荷の大小が判断される。
|t-Tset|<Tth1の場合(S1でYES)、制御装置200は、ステップS2において、吐出SHが判定値Tth2より小さいか否かを判断する。これにより冷媒回路150の状態が判定される。
吐出SH<Tth2の場合(S2でYES)、ステップS2Aにおいて、制御装置200は、圧縮機10の運転周波数fが判定値fthより低いか否かを判断する。これにより、図12に示したような時間比制御を導入する周波数範囲fmin~fthであるか否かが判断される。
f<fthの場合(S2AでYES)、ステップS3Bにおいて、制御装置200は、指令値A,Bを繰り返して出力することによって、LEV111の開度がH(第1開度、Cv値=CvA)とL(第2開度、Cv値=CvB)を定期的に繰り返すようにLEV111を制御する。これにより平均値としてCv値=CvCの開度が実現される。
一方、|t-Tset|≧Tth1の場合(S1でNO)または吐出SH≧Tth2の場合(S2でNO)またはf≧fthの場合(S2AでNO)は、ステップS4において、LEV111の開度を1つの指令値で指定する通常の制御が実行される。
図14は、図13におけるステップS3Bの処理を説明するためのフローチャートである。まずステップS31において、制御装置200は、温度センサ103から室外温度Teを取得し、温度センサ102から室内温度Trを取得し、さらに圧縮機10の制御処理ルーチンから運転周波数fを取得する。そしてステップS32において、制御装置200は、メモリ202に予め記憶されているマップM2からCv値を決定し、ステップS33において決定されたCv値に対応する時間比を算出する。
図15は、実施の形態4で用いられるマップM2の一例を示す図である。図15に示すように、各室内外温度および運転周波数の組み合わせに対応した膨張弁開度に対応するCv値は、テーブルとして制御装置200に内蔵されているメモリ202内に記憶されている。制御装置200は、空気温度Tr,Teおよび運転周波数fに応じたCv値を実現する時間比を算出してLEV111の制御を行なう。
なお,図15では、マップにはCv値が記憶されているが、Cv値に代えて空気温度に応じた時間比を直接記憶させておいても良い。
以上説明したように、実施の形態4では、空気温度Tr,Teおよび運転周波数fに応じた膨張弁の開度のCv値または時間比がテーブルとしてメモリ202内に記憶されている。制御装置200は、運転中の空気温度Tr,Teおよび運転周波数fに応じたCv値または時間比をメモリ202から呼び出してLEV111の制御を行う。
実施の形態4によれば、実施の形態1と同様に、ある時間比でLEV111の開度を第1開度と第2開度の間で繰り返すように開度指令値を制御する。これによって、安定して制御できる最小のCv値より小さい領域のCv値を時間平均で実現でき、吐出SHを確保することができる。さらに、実施の形態2と実施の形態3を組み合わせることでより良い制御が実現可能となる。
(まとめ)
本実施の形態の空気調和装置1は、冷媒回路150と制御装置200とを備える。冷媒回路150は、圧縮機10と、凝縮器40,20と、LEV111と、蒸発器20,40とに冷媒が循環するように構成される。LEV111は、下限開度から上限開度までの間で開度が可変に構成される。制御装置200は、上限開度の4分の1の開度以下の範囲内において、第1開度CvAと第1開度CvAよりも小さい第2開度CvBとを交互に繰り返すようにLEV111を制御するように構成される。
好ましくは、nを自然数とすると、制御装置200は、下限開度Cvminから上限開度Cvmaxまでの間の複数開度を0からnの指令値によって指定する。制御装置200は、nの4分の1以下の指令値の範囲において、第1指令値Aと第1指令値Aよりも小さい第2指令値Bとを交互に繰り返すように指令値を出力するように構成される。
好ましくは、空気調和装置1は、凝縮器40,20および蒸発器20,40のいずれか一方と圧縮機とを収容する室外機2と、凝縮器40,20および蒸発器20,40のいずれか他方を収容する室内機3とをさらに備える。制御装置200は、室内機3に吸い込まれる空気の温度Trと設定温度Tsetとの差の大きさが閾値Tth1よりも小さいという第1条件を含む低容量運転条件が成立する場合(図6、S1でYES)に、第1開度CvBと第2開度CvAとを交互に繰り返すようにLEV111を制御する。
より好ましくは、低容量運転条件は、第1条件を満たし、かつ、圧縮機10が吐出する冷媒の過熱度の値が規定値以下Tth2であるという第2条件を満たす場合(図6、S2でYES)に成立する。
さらに好ましくは、図7に示すように、制御装置200は、過熱度の値を規定値Tth2に近づけるように、第1開度と第2開度とを交互に繰り返す周期における第1開度と第2開度との時間比を調整する。
好ましくは、制御装置200は、演算処理部201とメモリ202とを備える。メモリ202は、室内温度と、外気温度とを入力データとし、第1開度と第2開度とを交互に繰り返す周期における第1開度と第2開度との時間比または時間比に対応するLEV111の容量係数(Cv値)を出力データとする図9に示すようなマップを記憶する。演算処理部201は、マップを用いてLEV111を制御する。
好ましくは、制御装置200は、演算処理部201とメモリ202とを備える。メモリ202は、圧縮機10の運転周波数を入力データとし、第1開度と第2開度とを交互に繰り返す周期における第1開度と第2開度との時間比または時間比に対応する膨張弁の容量係数(Cv値)を出力データとするマップを記憶する。演算処理部201は、マップを用いてLEV111を制御する。
好ましくは、制御装置200は、演算処理部201とメモリ202とを備える。メモリ202は、室内温度と、外気温度と、圧縮機の運転周波数とを入力データとし、第1開度と第2開度とを交互に繰り返す周期における第1開度と第2開度との時間比または時間比に対応する膨張弁の容量係数を出力データとする図15に示すようなマップを記憶する。演算処理部201は、マップを用いてLEV111を制御する。
今回開示された実施の形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本開示の範囲は、上記した実施の形態の説明ではなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 空気調和装置、2 室外機、3 室内機、10 圧縮機、20,40 熱交換器、90,92,94,96,97,99 配管、100 四方弁、101,102,103,106,107 温度センサ、111 LEV、112 ステッピングモータ、113 弁本体、150 冷媒回路、200 制御装置、201 演算処理部、202 メモリ、203 モータ駆動回路、E,F,G,H,P1,P3,P4 ポート。

Claims (7)

  1. 圧縮機と、凝縮器と、膨張弁と、蒸発器とに冷媒が循環するように構成された冷媒回路と、
    前記凝縮器および前記蒸発器のいずれか一方と前記圧縮機とを収容する室外機と、
    前記凝縮器および前記蒸発器のいずれか他方を収容する室内機と、
    前記膨張弁を制御する制御装置とを備え、
    前記膨張弁は、下限開度から上限開度までの間で開度が可変に構成され、
    前記制御装置は、前記室内機に吸い込まれる空気の温度と設定温度との差の大きさが閾値よりも小さいという第1条件を含む低容量運転条件が成立する場合に、前記上限開度の4分の1の開度以下の範囲内において、第1開度と前記第1開度よりも小さい第2開度とを交互に繰り返すように前記膨張弁を制御するように構成され
    前記制御装置は、前記第1条件が成立しない場合には、1つの指令値で指定する開度に前記膨張弁を制御するように構成される、空気調和装置。
  2. nを自然数とすると、前記制御装置は、前記下限開度から前記上限開度までの間の複数開度を0からnの指令値によって指定し、
    前記制御装置は、nの4分の1以下の前記指令値の範囲において、第1指令値と前記第1指令値よりも小さい第2指令値とを交互に繰り返すように前記指令値を出力する、請求項1に記載の空気調和装置。
  3. 前記低容量運転条件は、前記第1条件を満たし、かつ、前記圧縮機が吐出する前記冷媒の過熱度の値が規定値以下であるという第2条件を満たす場合に成立する、請求項1に記載の空気調和装置。
  4. 前記制御装置は、前記過熱度の値を前記規定値に近づけるように、前記第1開度と前記第2開度とを交互に繰り返す周期における前記第1開度と前記第2開度との時間比を調整する、請求項3に記載の空気調和装置。
  5. 前記制御装置は、
    演算処理部とメモリとを備え、
    前記メモリは、室内温度と、外気温度とを入力データとし、前記第1開度と前記第2開度とを交互に繰り返す周期における前記第1開度と前記第2開度との時間比または前記時間比に対応する前記膨張弁の容量係数を出力データとするマップを記憶し、
    前記演算処理部は、前記マップを用いて前記膨張弁を制御する、請求項1に記載の空気調和装置。
  6. 前記制御装置は、
    演算処理部とメモリとを備え、
    前記メモリは、前記圧縮機の運転周波数を入力データとし、前記第1開度と前記第2開度とを交互に繰り返す周期における前記第1開度と前記第2開度との時間比または前記時間比に対応する前記膨張弁の容量係数を出力データとするマップを記憶し、
    前記演算処理部は、前記マップを用いて前記膨張弁を制御する、請求項1に記載の空気調和装置。
  7. 前記制御装置は、
    演算処理部とメモリとを備え、
    前記メモリは、室内温度と、外気温度と、前記圧縮機の運転周波数とを入力データとし、前記第1開度と前記第2開度とを交互に繰り返す周期における前記第1開度と前記第2開度との時間比または前記時間比に対応する前記膨張弁の容量係数を出力データとするマップを記憶し、
    前記演算処理部は、前記マップを用いて前記膨張弁を制御する、請求項1に記載の空気調和装置。
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