JP7444110B2 - 試験機特性評価方法、試験機特性評価装置、及び材料試験機 - Google Patents
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Description
本発明は、材料試験機の試験機特性評価方法、試験機特性評価装置、及び材料試験機に関する。
材料試験機において、動作限界速度に関する種々の技術が知られている。
例えば、特許文献１に記載の材料試験機の制御装置５０は、伝達関数演算部５１と、駆動信号生成部５２と、駆動信号出力部５４と、検出信号受信部５５と、制御目標波形生成部６１と、を備え、制御目標波形生成部６１は、実働波形に対応した目標波形の時系列データから振幅のピーク点を抽出するピーク点抽出部６２と、ピーク点抽出部６２により抽出されたピーク点の隣接する２点間における速度が材料試験機の動作限界速度を超えるときに、当該ピーク点の時間軸における位置を変更する時間変更部６３と、ピーク点抽出部５２により抽出された各ピーク点を滑らかに接続するピーク点接続部５４と、を備える。
例えば、特許文献１に記載の材料試験機の制御装置５０は、伝達関数演算部５１と、駆動信号生成部５２と、駆動信号出力部５４と、検出信号受信部５５と、制御目標波形生成部６１と、を備え、制御目標波形生成部６１は、実働波形に対応した目標波形の時系列データから振幅のピーク点を抽出するピーク点抽出部６２と、ピーク点抽出部６２により抽出されたピーク点の隣接する２点間における速度が材料試験機の動作限界速度を超えるときに、当該ピーク点の時間軸における位置を変更する時間変更部６３と、ピーク点抽出部５２により抽出された各ピーク点を滑らかに接続するピーク点接続部５４と、を備える。
しかしながら、特許文献１等に記載の従来の材料試験機では、動作限界速度、すなわち最大速度を正確に把握することが困難であった。
また、最大速度や最大加速度を正確に把握することができないために、試験条件を適正に設定できない場合があった。
例えば、試験可能だと判断しても、実際には試験が困難である場合があった。また、例えば、仕様上で決定した限界特性（最大速度や最大加速度）によって、実際の応答特性よりも過剰に試験条件が制限される場合があった。
また、最大速度や最大加速度を正確に把握することができないために、試験条件を適正に設定できない場合があった。
例えば、試験可能だと判断しても、実際には試験が困難である場合があった。また、例えば、仕様上で決定した限界特性（最大速度や最大加速度）によって、実際の応答特性よりも過剰に試験条件が制限される場合があった。
本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、最大速度、及び最大加速度の少なくとも一方を正確に求めることの可能な試験機特性評価方法、試験機特性評価装置及び材料試験機を提供することを目的とする。
本発明の第１態様に係る試験機特性評価方法は、材料試験機の試験片に印加する変位の周波数を変更して、前記周波数と前記変位に対応する振幅との関係を求める実験を実行する実験実行ステップと、前記周波数と前記振幅との関係を近似する最大速度曲線、及び最大加速度曲線の少なくとも一方を算出する曲線近似ステップと、を含み、前記最大速度曲線は、前記変位に対応する最大速度が一定である曲線を示し、前記最大加速度曲線は、前記変位に対応する最大加速度が一定である曲線を示す。
本発明の第２態様に係る試験機特性評価装置は、材料試験機の試験片に印加する変位の周波数を変更して、前記周波数と前記変位に対応する振幅との関係を求める実験を実行する実験実行部と、前記周波数と前記振幅との関係を近似する最大速度曲線、及び最大加速度曲線の少なくとも一方を算出する曲線近似部と、を備え、前記最大速度曲線は、前記変位に対応する最大速度が一定である曲線を示し、前記最大加速度曲線は、前記変位に対応する最大加速度が一定である曲線を示す。
本発明の第３態様に係る材料試験機は、材料試験機の試験片に印加する変位の周波数を変更して、前記周波数と前記変位に対応する振幅との関係を求める実験を実行する実験実行部と、前記周波数と前記振幅との関係を近似する最大速度曲線、及び最大加速度曲線の少なくとも一方を算出する曲線近似部と、を備え、前記最大速度曲線は、前記変位に対応する最大速度が一定である曲線を示し、前記最大加速度曲線は、前記変位に対応する最大加速度が一定である曲線を示す。
本発明の第１態様に係る試験機特性評価方法、本発明の第２態様に係る試験機特性評価装置、及び、本発明の第３態様に係る材料試験機によれば、最大速度、及び最大加速度の少なくとも一方を正確に求めることができる。
以下、図面を参照して本実施形態について説明する。
［１．引張試験機の構成］
図１は、本実施形態に係る疲労試験機１の構成の一例を示す図である。
本実施形態の疲労試験機１は、試験片ＴＰに試験力ＦＰを与えて、試料の引張強度、降伏点、伸び、絞りなどの機械的性質を測定する引張試験を行う。試験力ＦＰは、引張力である。
疲労試験機１は、試験対象の材料である試験片ＴＰに試験力ＦＰを与えて引張試験を行う試験機本体２と、試験機本体２による引張試験動作を制御する制御ユニット３と、を備える。
なお、疲労試験機１は、「材料試験機」の一例に対応する。
図１は、本実施形態に係る疲労試験機１の構成の一例を示す図である。
本実施形態の疲労試験機１は、試験片ＴＰに試験力ＦＰを与えて、試料の引張強度、降伏点、伸び、絞りなどの機械的性質を測定する引張試験を行う。試験力ＦＰは、引張力である。
疲労試験機１は、試験対象の材料である試験片ＴＰに試験力ＦＰを与えて引張試験を行う試験機本体２と、試験機本体２による引張試験動作を制御する制御ユニット３と、を備える。
なお、疲労試験機１は、「材料試験機」の一例に対応する。
図１に示すように、試験機本体２は、基台２６上に、一対の支柱２８，２９と、ヨーク１３と、によって負荷枠を形成し、支柱２８，２９に、クロスヘッド１０を固定して構成される。
基台２６には、油圧アクチュエータ１８が配置され、油圧アクチュエータ１８のピストンロッド１８１には、試験片ＴＰの下端部を把持する下つかみ具２２が取り付けられる。また、クロスヘッド１０には、ロードセル１４を介して、試験片ＴＰの上端部を把持する上つかみ具２１が取り付けられる。
油圧アクチュエータ１８は、サーボ弁２０によって、圧油方向と圧油量とが制御されて、ピストンロッド１８１が伸縮する。その結果、上つかみ具２１と下つかみ具２２との間隔が伸縮し、上つかみ具２１と下つかみ具２２との間に固定された試験片ＴＰに試験力ＦＰが印加される。また、油圧アクチュエータ１８のストローク、すなわち試験片ＴＰの変位Ｘは、油圧アクチュエータ１８に取り付けられた差動トランス１９によって検出される。
ロードセル１４は、試験片ＴＰに与えられる引張荷重である試験力ＦＰを測定し、試験力測定信号ＳＧ１を制御ユニット３に出力するセンサである。
差動トランス１９は、試験片ＴＰの変位Ｘを測定し、変位Ｘに応じた変位測定信号ＳＧ２を制御ユニット３に出力するセンサである。
差動トランス１９は、試験片ＴＰの変位Ｘを測定し、変位Ｘに応じた変位測定信号ＳＧ２を制御ユニット３に出力するセンサである。
試験片ＴＰには、変位センサ１５が配置される。試験片ＴＰは、例えば、中央がくびれて形成されたダンベル型試験片が用いられる。変位センサ１５は、試験片ＴＰの１対の標点の間の距離を測定することによって、伸び計測値ＥＤを測定し、伸び測定信号ＳＧ３を制御ユニット３に出力するセンサである。１対の標点は、試験片ＴＰがくびれた領域の上部と下部とに配置される。
制御ユニット３は、信号入出力装置４０と、制御装置５０と、を備える。
信号入出力装置４０は、試験機本体２との間で信号を送受信する入出力インターフェース回路を構成するものであり、本実施形態では、第１センサアンプ４２と、第２センサアンプ４５と、第３センサアンプ４３と、サーボアンプ４４とを有する。
第１センサアンプ４２は、ロードセル１４が出力する試験力測定信号ＳＧ１を増幅して試験力計測値ＦＤを生成し、試験力計測値ＦＤを制御装置５０に出力する増幅器である。
第２センサアンプ４５は、変位センサ１５が出力する伸び測定信号ＳＧ３を増幅して伸び計測値ＥＤを生成し、伸び計測値ＥＤを制御装置５０に出力する増幅器である。
第３センサアンプ４３は、差動トランス１９が出力する変位測定信号ＳＧ２を増幅して変位計測値ＸＤを示す変位測定信号Ａ３を制御装置５０にデジタル信号で出力する。
サーボアンプ４４は、制御装置５０の制御に従って、サーボ弁２０を制御する装置である。制御装置５０は、変位計測値ＸＤの指令値ｄＸを演算し、指令値ｄＸを示す指令信号Ａ４をサーボ弁２０に対して送信する。
信号入出力装置４０は、試験機本体２との間で信号を送受信する入出力インターフェース回路を構成するものであり、本実施形態では、第１センサアンプ４２と、第２センサアンプ４５と、第３センサアンプ４３と、サーボアンプ４４とを有する。
第１センサアンプ４２は、ロードセル１４が出力する試験力測定信号ＳＧ１を増幅して試験力計測値ＦＤを生成し、試験力計測値ＦＤを制御装置５０に出力する増幅器である。
第２センサアンプ４５は、変位センサ１５が出力する伸び測定信号ＳＧ３を増幅して伸び計測値ＥＤを生成し、伸び計測値ＥＤを制御装置５０に出力する増幅器である。
第３センサアンプ４３は、差動トランス１９が出力する変位測定信号ＳＧ２を増幅して変位計測値ＸＤを示す変位測定信号Ａ３を制御装置５０にデジタル信号で出力する。
サーボアンプ４４は、制御装置５０の制御に従って、サーボ弁２０を制御する装置である。制御装置５０は、変位計測値ＸＤの指令値ｄＸを演算し、指令値ｄＸを示す指令信号Ａ４をサーボ弁２０に対して送信する。
［２．制御装置の構成］
制御装置５０は、ユーザからの操作に基づき、試験機本体２の動作を制御する。また、制御装置５０は、試験機本体２に引張試験を実行させる。
本実施形態において、「ユーザ」は、試験機本体２を操作する作業者を含む。
制御装置５０は、ユーザからの操作に基づき、試験機本体２の動作を制御する。また、制御装置５０は、試験機本体２に引張試験を実行させる。
本実施形態において、「ユーザ」は、試験機本体２を操作する作業者を含む。
図２は、本実施形態に係る制御装置５０の構成の一例を示す図である。
制御装置５０は、制御部５１と、操作部５２と、表示部５３と、を備える。
制御装置５０は、「試験機特性評価装置」の一例に対応する。
制御装置５０は、制御部５１と、操作部５２と、表示部５３と、を備える。
制御装置５０は、「試験機特性評価装置」の一例に対応する。
操作部５２は、例えば、キーボード、マウス等を備え、ユーザからの操作を受け付け、操作信号を制御部５１へ出力する。
表示部５３は、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）等を備え、制御部５１からの指示に従って、ＬＣＤに種々の画像を表示する。
表示部５３は、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）等を備え、制御部５１からの指示に従って、ＬＣＤに種々の画像を表示する。
制御部５１は、例えば、パーソナルコンピュータによって構成され、制御装置５０の動作を制御する。制御部５１は、プロセッサ５１Ａと、メモリ５１Ｂと、を備える。
プロセッサ５１Ａは、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）やＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ－Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）などで構成される。
メモリ５１Ｂは、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）やＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）などで構成される。また、メモリ５１Ｂは、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）やＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）を備えてもよい。
メモリ５１Ｂは、制御プログラムを記憶する。
プロセッサ５１Ａは、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）やＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ－Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）などで構成される。
メモリ５１Ｂは、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）やＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）などで構成される。また、メモリ５１Ｂは、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）やＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）を備えてもよい。
メモリ５１Ｂは、制御プログラムを記憶する。
なお、制御部５１は、パーソナルコンピュータに限らず、ＩＣチップやＬＳＩなどの集積回路といった１つ又は複数の適宜の回路によって構成されてもよい。また、制御部５１は、例えば、タブレット端末、又はスマートフォン等で構成されてもよい。
また、制御部５１は、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）やＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）等、プログラムされたハードウェアを備えてもよい。また、制御部５１は、ＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ－ｏｎ－ａ－Ｃｈｉｐ）－ＦＰＧＡを備えてもよい。
また、制御部５１は、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）やＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）等、プログラムされたハードウェアを備えてもよい。また、制御部５１は、ＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ－ｏｎ－ａ－Ｃｈｉｐ）－ＦＰＧＡを備えてもよい。
図２に示すように、制御部５１は、実験実行部５１１と、曲線近似部５１２と、表示制御部５１３と、試験条件設定部５１４と、実験条件記憶部５１５と、実験結果記憶部５１６と、曲線記憶部５１７と、設定条件記憶部５１８と、を備える。
具体的には、制御部５１のプロセッサ５１Ａが、メモリ５１Ｂに記憶された制御プログラムを実行することによって、実験実行部５１１、曲線近似部５１２、表示制御部５１３、及び試験条件設定部５１４、として機能する。
また、制御部５１のプロセッサ５１Ａが、メモリ５１Ｂに記憶された制御プログラムを実行することによって、メモリ５１Ｂを、実験条件記憶部５１５、実験結果記憶部５１６、曲線記憶部５１７、及び設定条件記憶部５１８、として機能させる。
また、制御部５１のプロセッサ５１Ａが、メモリ５１Ｂに記憶された制御プログラムを実行することによって、メモリ５１Ｂを、実験条件記憶部５１５、実験結果記憶部５１６、曲線記憶部５１７、及び設定条件記憶部５１８、として機能させる。
実験条件記憶部５１５は、疲労試験機１における周波数Ｆと変位Ｘに対応する振幅Ｗとの関係を求める実験の実験条件を記憶する。実験では、疲労試験機１の試験片ＴＰに印加する変位Ｘの周波数Ｆを変更しながら、変位Ｘを検出する。
変位Ｘは、差動トランス１９から出力される変位測定信号ＳＧ２に対応する変位計測値ＸＤとして検出する。
周波数Ｆは、例えば、時間Ｔに対して直線的に変化させる。周波数Ｆは、例えば、次の式（１）で表される。
Ｆ＝β×Ｔ （１）
ここで、定数βは、例えば、１（Ｈｚ／秒）である。すなわち、１秒間で周波数Ｆが１Ｈｚ増加するように、周波数Ｆを連続的に変化させる。また、周波数Ｆの最大値は、疲労試験機１の性能や行いたい周波数域に応じて決定し、例えば５０Ｈｚである。
変位Ｘは、差動トランス１９から出力される変位測定信号ＳＧ２に対応する変位計測値ＸＤとして検出する。
周波数Ｆは、例えば、時間Ｔに対して直線的に変化させる。周波数Ｆは、例えば、次の式（１）で表される。
Ｆ＝β×Ｔ （１）
ここで、定数βは、例えば、１（Ｈｚ／秒）である。すなわち、１秒間で周波数Ｆが１Ｈｚ増加するように、周波数Ｆを連続的に変化させる。また、周波数Ｆの最大値は、疲労試験機１の性能や行いたい周波数域に応じて決定し、例えば５０Ｈｚである。
本実施形態では、周波数Ｆを、時間Ｔに対して直線的に変化させる場合について説明するが、これに限定されない。周波数Ｆを時間Ｔに対して増加するように変化させればよい。
例えば、変位Ｘの周期ＴＸの所定個数ＮＸ倍の期間が経過する度に、１Ｈｚ増加するように、周波数Ｆを変化させてもよい。所定個数ＮＸは、例えば、１０個である。この場合には、周波数Ｆを直線的に変化させる場合と比較して、実験に要する時間を削減できる。
周波数Ｆが１０Ｈｚである場合には、周期ＴＸは、０．１秒であるため、１秒間が１０個の周期ＴＸに対応する。そこで、周波数Ｆが１０Ｈｚである場合には、１秒後に、周波数Ｆが１１Ｈｚに変更される。
周波数Ｆが２０Ｈｚである場合には、周期ＴＸは、０．０５秒であるため、０．５秒間が１０個の周期ＴＸに対応する。そこで、周波数Ｆが２０Ｈｚである場合には、０．５秒後に、周波数Ｆが２１Ｈｚに変更される。
なお、この場合には、振幅Ｗがゼロの近傍で、周波数Ｆを変更することが好ましい。
例えば、変位Ｘの周期ＴＸの所定個数ＮＸ倍の期間が経過する度に、１Ｈｚ増加するように、周波数Ｆを変化させてもよい。所定個数ＮＸは、例えば、１０個である。この場合には、周波数Ｆを直線的に変化させる場合と比較して、実験に要する時間を削減できる。
周波数Ｆが１０Ｈｚである場合には、周期ＴＸは、０．１秒であるため、１秒間が１０個の周期ＴＸに対応する。そこで、周波数Ｆが１０Ｈｚである場合には、１秒後に、周波数Ｆが１１Ｈｚに変更される。
周波数Ｆが２０Ｈｚである場合には、周期ＴＸは、０．０５秒であるため、０．５秒間が１０個の周期ＴＸに対応する。そこで、周波数Ｆが２０Ｈｚである場合には、０．５秒後に、周波数Ｆが２１Ｈｚに変更される。
なお、この場合には、振幅Ｗがゼロの近傍で、周波数Ｆを変更することが好ましい。
実験結果記憶部５１６は、実験実行部５１１によって実行される実験の結果を記憶する。具体的には、実験結果記憶部５１６は、周波数Ｆと変位Ｘとを対応付けて記憶する。
実験実行部５１１によって実行された実験の結果は、実験実行部５１１によって実験結果記憶部５１６に記憶される。
実験実行部５１１によって実行された実験の結果は、実験実行部５１１によって実験結果記憶部５１６に記憶される。
曲線記憶部５１７は、曲線近似部５１２によって算出された最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び、最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）を記憶する。最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）は、変位Ｘに対応する最大速度ＶＭが一定である曲線を示す。最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）は、変位Ｘに対応する最大加速度αＭが一定である曲線を示す。最大速度ＶＭ及び最大加速度αＭについては、曲線近似部５１２の説明において、後述する。
最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び、最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）は、曲線近似部５１２によって曲線記憶部５１７に記憶される。
最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び、最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）は、曲線近似部５１２によって曲線記憶部５１７に記憶される。
設定条件記憶部５１８は、試験条件設定部５１４によって設定された試験条件を記憶する。試験条件は、例えば、疲労試験の一例である繰り返し引張試験の試験条件である。
実験実行部５１１は、実験条件記憶部５１５に記憶された実験条件に基づいて、疲労試験機１における周波数Ｆと変位Ｘに対応する振幅Ｗとの関係を求める実験を実行する。具体的には、実験実行部５１１は、疲労試験機１の試験片ＴＰに印加する変位Ｘの周波数Ｆを変更しながら、変位Ｘを検出する。周波数Ｆが一定の期間における変位Ｘの最小値と最大値との差が、振幅Ｗの２倍と一致する。本実施形態では、振幅Ｗは、いわゆる、「片振幅」である。
また、実験実行部５１１は、振幅一定制御を行う。振幅一定制御では、実験実行部５１１は、振幅ＷＡが、目標振幅ＷＴと一致するように、変位Ｘを制御する。目標振幅ＷＴは、振幅ＷＡの目標値を示す。目標振幅ＷＴは、例えば、±１ｍｍである。
実験実行部５１１は、実験を実行することによって、実験結果として、設定された周波数Ｆと、周波数Ｆに対応する変位Ｘとを所定時間ΔＴ毎に取得する。所定時間ΔＴは、例えば、０．００１秒である。
また、実験実行部５１１は、実験結果、すなわち、周波数Ｆと変位Ｘとを対応付けて実験結果記憶部５１６に記憶させる。
また、実験実行部５１１は、振幅一定制御を行う。振幅一定制御では、実験実行部５１１は、振幅ＷＡが、目標振幅ＷＴと一致するように、変位Ｘを制御する。目標振幅ＷＴは、振幅ＷＡの目標値を示す。目標振幅ＷＴは、例えば、±１ｍｍである。
実験実行部５１１は、実験を実行することによって、実験結果として、設定された周波数Ｆと、周波数Ｆに対応する変位Ｘとを所定時間ΔＴ毎に取得する。所定時間ΔＴは、例えば、０．００１秒である。
また、実験実行部５１１は、実験結果、すなわち、周波数Ｆと変位Ｘとを対応付けて実験結果記憶部５１６に記憶させる。
曲線近似部５１２は、実験結果として得られる周波数Ｆと振幅Ｗとの関係を近似する最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）を算出する。以下に、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）の算出方法について説明する。
まず、変位Ｘの変化の速さを示す速度Ｖ（Ｔ）を、次の式（２）で規定する。
Ｖ（Ｔ）＝Ａ１×ｓｉｎ（２π×Ｆ×Ｔ） （２）
ここで、第１係数Ａ１は、速度Ｖ（Ｔ）の振幅Ｗを示す。第１係数Ａ１は、最大速度ＶＭを示す。
変位Ｘ（Ｔ）は、式（２）を時間Ｔについて１回積分することによって、次の式（３）で表される。
Ｘ（Ｔ）＝（Ａ１／（２π×Ｆ））×ｃｏｓ（２π×Ｆ×Ｔ） （３）
よって、速度Ｖ（Ｔ）が一定の条件で周波数Ｆが変化する場合における振幅Ｗを示す最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）は、次の式（４）で表される。
Ｗ１（Ｆ）＝±Ａ１／（２π×Ｆ） （４）
ただし、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）の絶対値が目標振幅ＷＴより大きい場合には、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）の絶対値を目標振幅ＷＴとする。目標振幅ＷＴは、例えば、±１ｍｍである。
なお、式（４）は、特許請求の範囲に記載する式（Ａ）と同一である。
Ｖ（Ｔ）＝Ａ１×ｓｉｎ（２π×Ｆ×Ｔ） （２）
ここで、第１係数Ａ１は、速度Ｖ（Ｔ）の振幅Ｗを示す。第１係数Ａ１は、最大速度ＶＭを示す。
変位Ｘ（Ｔ）は、式（２）を時間Ｔについて１回積分することによって、次の式（３）で表される。
Ｘ（Ｔ）＝（Ａ１／（２π×Ｆ））×ｃｏｓ（２π×Ｆ×Ｔ） （３）
よって、速度Ｖ（Ｔ）が一定の条件で周波数Ｆが変化する場合における振幅Ｗを示す最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）は、次の式（４）で表される。
Ｗ１（Ｆ）＝±Ａ１／（２π×Ｆ） （４）
ただし、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）の絶対値が目標振幅ＷＴより大きい場合には、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）の絶対値を目標振幅ＷＴとする。目標振幅ＷＴは、例えば、±１ｍｍである。
なお、式（４）は、特許請求の範囲に記載する式（Ａ）と同一である。
次に、速度Ｖの変化の速さを示す加速度α（Ｔ）を、次の式（５）で規定する。
α（Ｔ）＝Ａ２×ｓｉｎ（２π×Ｆ×Ｔ） （５）
ここで、第２係数Ａ２は、加速度α（Ｔ）の振幅Ｗを示す。第２係数Ａ２は、最大加速度αＭを示す。
変位Ｘ（Ｔ）は、式（５）を時間Ｔについて２回積分することによって、次の式（６）で表される。
Ｘ（Ｔ）＝（－Ａ２／（２π×Ｆ）２）×ｓｉｎ（２π×Ｆ×Ｔ） （６）
よって、加速度α（Ｔ）が一定の条件で周波数Ｆが変化する場合における振幅Ｗを示す最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）は、次の式（７）で表される。
Ｗ２（Ｆ）＝±Ａ２／（２π×Ｆ）２ （７）
ただし、最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）の絶対値が目標振幅ＷＴより大きい場合には、最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）の絶対値を目標振幅ＷＴとする。目標振幅ＷＴは、例えば、±１ｍｍである。
なお、式（７）は、特許請求の範囲に記載する式（Ｂ）と同一である。
α（Ｔ）＝Ａ２×ｓｉｎ（２π×Ｆ×Ｔ） （５）
ここで、第２係数Ａ２は、加速度α（Ｔ）の振幅Ｗを示す。第２係数Ａ２は、最大加速度αＭを示す。
変位Ｘ（Ｔ）は、式（５）を時間Ｔについて２回積分することによって、次の式（６）で表される。
Ｘ（Ｔ）＝（－Ａ２／（２π×Ｆ）２）×ｓｉｎ（２π×Ｆ×Ｔ） （６）
よって、加速度α（Ｔ）が一定の条件で周波数Ｆが変化する場合における振幅Ｗを示す最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）は、次の式（７）で表される。
Ｗ２（Ｆ）＝±Ａ２／（２π×Ｆ）２ （７）
ただし、最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）の絶対値が目標振幅ＷＴより大きい場合には、最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）の絶対値を目標振幅ＷＴとする。目標振幅ＷＴは、例えば、±１ｍｍである。
なお、式（７）は、特許請求の範囲に記載する式（Ｂ）と同一である。
次に、第１係数Ａ１及び第２係数Ａ２を、次の（８）式を満たすように算出する。
Ｍｉｎ（Ｗ１（Ｆ），Ｗ２（Ｆ））≦Ａｍｐ（Ｆ） （８）
ここで、Ｍｉｎ（Ｗ１（Ｆ），Ｗ２（Ｆ））は、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）の絶対値と最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）の絶対値とのうち、小さい方の値を示す。関数Ａｍｐ（Ｆ）は、実験によって周波数Ｆの関数として求められる（（周波数Ｆにおける変位１周期の最大値）－（周波数Ｆにおける変位１周期の最小値）／２）である。
なお、式（７）は、特許請求の範囲に記載する式（Ｃ）と同一である。
Ｍｉｎ（Ｗ１（Ｆ），Ｗ２（Ｆ））≦Ａｍｐ（Ｆ） （８）
ここで、Ｍｉｎ（Ｗ１（Ｆ），Ｗ２（Ｆ））は、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）の絶対値と最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）の絶対値とのうち、小さい方の値を示す。関数Ａｍｐ（Ｆ）は、実験によって周波数Ｆの関数として求められる（（周波数Ｆにおける変位１周期の最大値）－（周波数Ｆにおける変位１周期の最小値）／２）である。
なお、式（７）は、特許請求の範囲に記載する式（Ｃ）と同一である。
例えば、第１係数Ａ１及び第２係数Ａ２は、以下のようにして算出する。
まず、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）と、最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）との交点における交点周波数Ｆｉｎは、式（４）及び式（７）によって、次の式（９）として算出される。
Ｆｉｎ＝Ａ２／（２π×Ａ１） （９）
また、評価関数ＧＥ（Ａ１，Ａ２）は、次の式（１０）で表される。
ただし、最小周波数Ｆｍｉｎは、目標振幅ＦＴ（例えば、±１ｍｍ）よりも関数Ａｍｐ（Ｆ）の値が小さい周波数Ｆのうち、最も小さい周波数Ｆを示す。最大周波数Ｆｍａｘは、実験における最大の周波数Ｆを示す。最大周波数Ｆｍａｘは、例えば、５０Ｈｚである。
評価関数ＧＥ（Ａ１，Ａ２）が最小になる第１係数Ａ１及び第２係数Ａ２を算出することによって、第１係数Ａ１及び第２係数Ａ２を算出できる。
なお、評価関数ＧＥ（Ａ１，Ａ２）が最小になる第１係数Ａ１及び第２係数Ａ２は、最適化問題として、周知の最急降下法、共役勾配法等によって求めることができる。
その結果，最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）が算出される。
交点周波数Ｆｉｎ、最小周波数Ｆｍｉｎ、及び最大周波数Ｆｍａｘについては、図３を参照して更に説明する。
まず、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）と、最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）との交点における交点周波数Ｆｉｎは、式（４）及び式（７）によって、次の式（９）として算出される。
Ｆｉｎ＝Ａ２／（２π×Ａ１） （９）
また、評価関数ＧＥ（Ａ１，Ａ２）は、次の式（１０）で表される。
評価関数ＧＥ（Ａ１，Ａ２）が最小になる第１係数Ａ１及び第２係数Ａ２を算出することによって、第１係数Ａ１及び第２係数Ａ２を算出できる。
なお、評価関数ＧＥ（Ａ１，Ａ２）が最小になる第１係数Ａ１及び第２係数Ａ２は、最適化問題として、周知の最急降下法、共役勾配法等によって求めることができる。
その結果，最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）が算出される。
交点周波数Ｆｉｎ、最小周波数Ｆｍｉｎ、及び最大周波数Ｆｍａｘについては、図３を参照して更に説明する。
また、曲線近似部５１２は、算出した最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）を曲線記憶部５１７に記憶させる。
表示制御部５１３は、実験実行部５１１によって実行された実験結果と、曲線近似部５１２によって算出された最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）と、を表示部５３に表示させる。
試験条件設定部５１４は、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）に基づいて、試験条件を設定する。試験条件は、例えば、疲労試験の一例である繰り返し引張試験の試験条件である。試験条件は、例えば、周波数ＦＡと、振幅ＷＡとを含む。周波数ＦＡは、例えば、３５Ｈｚであり、振幅ＷＡは、例えば、±０．５ｍｍである。
試験条件設定部５１４によって設定された試験条件に対応する試験を実行する場合には、制御部５１は、振幅一定制御を行う。振幅一定制御では、制御部５１は、振幅ＷＡが、目標振幅ＷＴ（＝±０．５ｍｍ）と一致するように、変位Ｘを制御する。
試験条件設定部５１４は、設定した試験条件を設定条件記憶部５１８に記憶させる。
試験条件設定部５１４によって設定された試験条件に対応する試験を実行する場合には、制御部５１は、振幅一定制御を行う。振幅一定制御では、制御部５１は、振幅ＷＡが、目標振幅ＷＴ（＝±０．５ｍｍ）と一致するように、変位Ｘを制御する。
試験条件設定部５１４は、設定した試験条件を設定条件記憶部５１８に記憶させる。
図３は、実験結果、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）の一例を示すグラフである。
図３の横軸は、周波数Ｆ（Ｈｚ）を示し、縦軸は振幅Ｗ（ｍｍ）を示す。
グラフＧ１１は、実験実行部５１１によって実行された実験結果を示す。グラフＧ１２は、曲線近似部５１２によって算出された最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）を示す。グラフＧ１３は、曲線近似部５１２によって算出された最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）を示す。
グラフＧ１２に示す最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）と、グラフＧ１３に示す最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）とは、周波数Ｆ１３（＝交点周波数Ｆｉｎ）において交差する。
第１係数Ａ１は、曲線近似部５１２によって、例えば、１４０ｍｍ／ｓｅｃと算出され、第２係数Ａ２は、曲線近似部５１２によって、例えば、２．８Ｇと算出される。Ｇは重力加速度を示す。重力加速度Ｇは、９．８ｍ／ｓｅｃ２であるから、第１係数Ａ１は、２７．４４ｍ／ｓｅｃ２である。
図３の横軸は、周波数Ｆ（Ｈｚ）を示し、縦軸は振幅Ｗ（ｍｍ）を示す。
グラフＧ１１は、実験実行部５１１によって実行された実験結果を示す。グラフＧ１２は、曲線近似部５１２によって算出された最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）を示す。グラフＧ１３は、曲線近似部５１２によって算出された最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）を示す。
グラフＧ１２に示す最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）と、グラフＧ１３に示す最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）とは、周波数Ｆ１３（＝交点周波数Ｆｉｎ）において交差する。
第１係数Ａ１は、曲線近似部５１２によって、例えば、１４０ｍｍ／ｓｅｃと算出され、第２係数Ａ２は、曲線近似部５１２によって、例えば、２．８Ｇと算出される。Ｇは重力加速度を示す。重力加速度Ｇは、９．８ｍ／ｓｅｃ２であるから、第１係数Ａ１は、２７．４４ｍ／ｓｅｃ２である。
グラフＧ１１に示すように、実験実行部５１１は、振幅一定制御を行う。振幅一定制御では、実験実行部５１１は、周波数Ｆを１Ｈｚから５０Ｈｚまで時間Ｔに対して直線的に変化させて、振幅Ｗが目標振幅ＷＴと一致するように、変位Ｘを制御する。目標振幅ＷＴは、振幅Ｗの目標値を示す。目標振幅ＷＴは、例えば、±１ｍｍである。最大周波数Ｆｍａｘは、５０Ｈｚである。
その結果、第１周波数Ｆ１１以降において、振幅Ｗの絶対値は、目標振幅ＷＴの絶対値よりも小さくなる。第１周波数Ｆ１１は、最小周波数Ｆｍｉｎに対応する。
図３に示すように、周波数Ｆが、周波数Ｆ１１（＝最小周波数Ｆｍｉｎ）以下では、直線ＬＭ１１に示すように、振幅Ｗは目標振幅ＷＴ（±１ｍｍ）と一致する。
周波数Ｆが、第１周波数Ｆ１１より大きく、第３周波数Ｆ１３以下の領域では、曲線ＬＭ１２に示すように、グラフＧ１２に示す最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）によって振幅Ｗが近似される。
また、周波数Ｆが、第３周波数Ｆ１３より大きく第４周波数Ｆ１４（＝最大周波数Ｆｍａｘ）以下の領域では、曲線ＬＭ１３に示すように、グラフＧ１３に示す最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）によって振幅Ｗが近似される。
なお、第２周波数Ｆ１２は、最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）の値が目標振幅ＷＴ（±１ｍｍ）と一致する周波数Ｆを示す。
周波数Ｆが、第１周波数Ｆ１１より大きく、第３周波数Ｆ１３以下の領域では、曲線ＬＭ１２に示すように、グラフＧ１２に示す最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）によって振幅Ｗが近似される。
また、周波数Ｆが、第３周波数Ｆ１３より大きく第４周波数Ｆ１４（＝最大周波数Ｆｍａｘ）以下の領域では、曲線ＬＭ１３に示すように、グラフＧ１３に示す最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）によって振幅Ｗが近似される。
なお、第２周波数Ｆ１２は、最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）の値が目標振幅ＷＴ（±１ｍｍ）と一致する周波数Ｆを示す。
このように、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）によって、実験実行部５１１によって実行された実験結果を示す周波数Ｆと振幅Ｗとの関係を、正確に近似できる。したがって、試験条件を適正に設定できる。
なお、この効果については、図５～図７を参照して更に説明する。
なお、この効果については、図５～図７を参照して更に説明する。
［３．制御部の処理］
次に、図４を参照して、制御部５１の処理について説明する。
図４は、本実施形態に係る制御部５１の処理の一例を示すフローチャートである。
まず、ステップＳ１０１において、実験実行部５１１は、実験条件記憶部５１５に記憶された実験条件に基づいて、疲労試験機１における周波数Ｆと変位Ｘに対応する振幅Ｗとの関係を求める実験を実行する。
次に、ステップＳ１０３において、実験実行部５１１は、実験結果を実験結果記憶部５１６に記憶させる。
次に、図４を参照して、制御部５１の処理について説明する。
図４は、本実施形態に係る制御部５１の処理の一例を示すフローチャートである。
まず、ステップＳ１０１において、実験実行部５１１は、実験条件記憶部５１５に記憶された実験条件に基づいて、疲労試験機１における周波数Ｆと変位Ｘに対応する振幅Ｗとの関係を求める実験を実行する。
次に、ステップＳ１０３において、実験実行部５１１は、実験結果を実験結果記憶部５１６に記憶させる。
次に、ステップＳ１０５において、曲線近似部５１２は、実験結果として得られる周波数Ｆと振幅Ｗとの関係を近似する最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）を算出する。
次に、ステップＳ１０７において、曲線近似部５１２は、算出した最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）を曲線記憶部５１７に記憶させる。
次に、ステップＳ１０９において、表示制御部５１３は、実験結果、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）を、表示部５３に表示させる。
次に、ステップＳ１１１において、試験条件設定部５１４は、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）に基づいて、試験条件を設定する。その後、処理が終了する。
次に、ステップＳ１０７において、曲線近似部５１２は、算出した最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）を曲線記憶部５１７に記憶させる。
次に、ステップＳ１０９において、表示制御部５１３は、実験結果、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）を、表示部５３に表示させる。
次に、ステップＳ１１１において、試験条件設定部５１４は、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）に基づいて、試験条件を設定する。その後、処理が終了する。
ステップＳ１０１は、「実験実行ステップ」の一例に対応する。ステップＳ１０５は、「曲線近似ステップ」の一例に対応する。ステップＳ１０９は、「表示ステップ」の一例に対応する。
［４．効果の説明］
次に、図５～図７を参照して、本実施形態に係る制御装置５０の効果の一例について説明する。
図５は、材料試験機１の仕様書に記載の振幅特性図の一例を示すグラフである。図５の横軸は、周波数（Ｈｚ）を示し、縦軸は片振幅（ｍｍ）を示す。
グフフＧＡは、無負荷時の特性を示し、グラフＧＢは、定格負荷時の特性を示す。
次に、図５～図７を参照して、本実施形態に係る制御装置５０の効果の一例について説明する。
図５は、材料試験機１の仕様書に記載の振幅特性図の一例を示すグラフである。図５の横軸は、周波数（Ｈｚ）を示し、縦軸は片振幅（ｍｍ）を示す。
グフフＧＡは、無負荷時の特性を示し、グラフＧＢは、定格負荷時の特性を示す。
図６は、振幅特性図から推定した最大速度曲線Ｗ１Ａ（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２Ａ（Ｆ）の一例を示すグラフである。図６に示す最大速度曲線Ｗ１Ａ（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２Ａ（Ｆ）を求めた条件を、以下に示す。
なお、最大速度曲線Ｗ１Ａ（Ｆ）は、式（４）に示す最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）と同様に、次の（１１）式で表される。
Ｗ１Ａ（Ｆ）＝±ＶＭ／（２π×Ｆ） （１１）
ただし、最大速度ＶＭは、変位Ｘの速度の最大値を示す。
また、最大加速度曲線Ｗ２Ａ（Ｆ）は、式（７）に示す最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）と同様に、次の（１２）式で表される。
Ｗ２Ａ（Ｆ）＝±αＭ／（２π×Ｆ）２ （１２）
ただし、最大加速度αＭは、変位Ｘの加速度の最大値を示す。
なお、最大速度曲線Ｗ１Ａ（Ｆ）は、式（４）に示す最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）と同様に、次の（１１）式で表される。
Ｗ１Ａ（Ｆ）＝±ＶＭ／（２π×Ｆ） （１１）
ただし、最大速度ＶＭは、変位Ｘの速度の最大値を示す。
また、最大加速度曲線Ｗ２Ａ（Ｆ）は、式（７）に示す最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）と同様に、次の（１２）式で表される。
Ｗ２Ａ（Ｆ）＝±αＭ／（２π×Ｆ）２ （１２）
ただし、最大加速度αＭは、変位Ｘの加速度の最大値を示す。
油圧アクチュエータ１８の容量は、２０ｋＮであり、油圧アクチュエータ１８のストロークは、±２５ｍｍであった。電源周波数は、インバータによって６０Ｈｚから３５Ｈｚに低下した省エネ運転を行った。
最大吐出量、リーク量、アキュムレータの効果、油圧アクチュエータ１８の断面積、及び、電源周波数の低下による吐出量の減少等を考慮して、最大速度ＶＭを８６ｍｍ／ｓｅｃと推定した。
また、油圧アクチュエータ１８の重量、上つかみ具２１及び下つかみ具２２の重量、油の圧縮性、サーボ弁２０の特性、及びサーボ弁２０の最大力等を考慮して、最大加速度αＭを２Ｇと推定した。Ｇは、重力加速度を示す。重力加速度Ｇは、９．８ｍ／ｓｅｃ２であるから、最大加速度αＭは、１９．６ｍ／ｓｅｃ２である。
最大吐出量、リーク量、アキュムレータの効果、油圧アクチュエータ１８の断面積、及び、電源周波数の低下による吐出量の減少等を考慮して、最大速度ＶＭを８６ｍｍ／ｓｅｃと推定した。
また、油圧アクチュエータ１８の重量、上つかみ具２１及び下つかみ具２２の重量、油の圧縮性、サーボ弁２０の特性、及びサーボ弁２０の最大力等を考慮して、最大加速度αＭを２Ｇと推定した。Ｇは、重力加速度を示す。重力加速度Ｇは、９．８ｍ／ｓｅｃ２であるから、最大加速度αＭは、１９．６ｍ／ｓｅｃ２である。
図３に示す第１係数Ａ１は、１４０ｍｍ／ｓｅｃと算出されるため、振幅特性図から推定した最大速度ＶＭ（＝８６ｍｍ／ｓｅｃ）は、第１係数Ａ１（＝１４０ｍｍ／ｓｅｃ）よりも小さい。また、図３に示す第２係数Ａ２は、２．８Ｇと算出されるため、図５に示す振幅特性図から推定した最大加速度αＭ（＝２Ｇ）は、第２係数Ａ２（＝２．８Ｇ）よりも小さい。
図６の横軸は、周波数Ｆ（Ｈｚ）を示し、縦軸は振幅Ｗ（ｍｍ）を示す。
グラフＧ２１は、実験実行部５１１によって実行された実験結果を示す。すなわち、グラフＧ２１は、図３に示すグラフＧ１１と同一のグラフである。
また、グラフＧ２２は、振幅特性図から推定した最大速度曲線Ｗ１Ａ（Ｆ）を示す。グラフＧ２３は、振幅特性図から推定した最大加速度曲線Ｗ２Ａ（Ｆ）を示す。
グラフＧ２１は、実験実行部５１１によって実行された実験結果を示す。すなわち、グラフＧ２１は、図３に示すグラフＧ１１と同一のグラフである。
また、グラフＧ２２は、振幅特性図から推定した最大速度曲線Ｗ１Ａ（Ｆ）を示す。グラフＧ２３は、振幅特性図から推定した最大加速度曲線Ｗ２Ａ（Ｆ）を示す。
図６に示すように、周波数Ｆが、第１周波数Ｆ２１以下では、直線ＬＭ２１に示すように、振幅Ｗは目標振幅ＷＴ（１ｍｍ）と一致する。
周波数Ｆが、第１周波数Ｆ２１より大きく、第３周波数Ｆ２３以下の領域では、曲線ＬＭ２２に示すように、グラフＧ２２に示す最大速度曲線Ｗ１Ａ（Ｆ）によって振幅Ｗが推定される。
また、周波数Ｆが、第３周波数Ｆ２３より大きく第４周波数Ｆ２４（＝最大周波数Ｆｍａｘ）以下の領域では、曲線ＬＭ２３に示すように、グラフＧ２３に示す最大加速度曲線Ｗ２Ａ（Ｆ）によって振幅Ｗが推定される。
なお、第２周波数Ｆ２２は、最大加速度曲線Ｗ２Ａ（Ｆ）の値が目標振幅ＷＴ（±１ｍｍ）と一致する周波数Ｆを示す。
周波数Ｆが、第１周波数Ｆ２１より大きく、第３周波数Ｆ２３以下の領域では、曲線ＬＭ２２に示すように、グラフＧ２２に示す最大速度曲線Ｗ１Ａ（Ｆ）によって振幅Ｗが推定される。
また、周波数Ｆが、第３周波数Ｆ２３より大きく第４周波数Ｆ２４（＝最大周波数Ｆｍａｘ）以下の領域では、曲線ＬＭ２３に示すように、グラフＧ２３に示す最大加速度曲線Ｗ２Ａ（Ｆ）によって振幅Ｗが推定される。
なお、第２周波数Ｆ２２は、最大加速度曲線Ｗ２Ａ（Ｆ）の値が目標振幅ＷＴ（±１ｍｍ）と一致する周波数Ｆを示す。
図６に示すように、周波数Ｆが第１周波数Ｆ２１よりも大きい領域では、グラフＧ２１に示す実験結果の振幅Ｗの絶対値は、振幅特性図から推定した曲線ＬＭ２２、及び曲線ＬＭ２３の絶対値よりも大きい。
図７は、振幅特性図から推定した最大速度曲線Ｗ１Ａ（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２Ａ（Ｆ）と、本実施形態に係る最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）との差異の一例を示すグラフである。
図７の横軸は、周波数Ｆ（Ｈｚ）を示し、縦軸は振幅Ｗ（ｍｍ）を示す。領域ＡＲＮは、図３に示す直線ＬＭ１１、曲線ＬＭ１２及び曲線ＬＭ１３と、図６に示す曲線ＬＭ２２及び曲線ＬＭ２３と、で挟まれる領域である。
換言すれば、領域ＡＲＮは、振幅特性図から推定した最大速度曲線Ｗ１Ａ（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２Ａ（Ｆ）では、試験を実行できないと判定され、且つ、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）では、試験を実行できると判定される試験条件の領域を示す。
図７の横軸は、周波数Ｆ（Ｈｚ）を示し、縦軸は振幅Ｗ（ｍｍ）を示す。領域ＡＲＮは、図３に示す直線ＬＭ１１、曲線ＬＭ１２及び曲線ＬＭ１３と、図６に示す曲線ＬＭ２２及び曲線ＬＭ２３と、で挟まれる領域である。
換言すれば、領域ＡＲＮは、振幅特性図から推定した最大速度曲線Ｗ１Ａ（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２Ａ（Ｆ）では、試験を実行できないと判定され、且つ、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）では、試験を実行できると判定される試験条件の領域を示す。
このように、従来の振幅特性図から推定した最大速度曲線Ｗ１Ａ（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２Ａ（Ｆ）では、実行できないと判定された試験条件での疲労試験が、本実施形態に係る最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）では、実行できると判定される。図７に示すように、例えば、周波数ＦＡが３５Ｈｚであり、振幅ＷＡが±０．５ｍｍである繰り返し引張試験（＝疲労試験の一例）を実行することが可能であることが分かる。図７の点Ｐは、この試験条件を示す。
したがって、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）に基づいて、試験条件を設定することによって、適正な試験条件を設定できる。
したがって、最大速度曲線Ｗ１（Ｆ）、及び最大加速度曲線Ｗ２（Ｆ）に基づいて、試験条件を設定することによって、適正な試験条件を設定できる。
［５．態様と効果］
上述した本実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
上述した本実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
（第１項）
第１態様に関わる試験機特性評価方法は、材料試験機の試験片に印加する変位の周波数を変更して、前記周波数と前記変位に対応する振幅との関係を求める実験を実行する実験実行ステップと、前記周波数と前記振幅との関係を近似する最大速度曲線、及び最大加速度曲線の少なくとも一方を算出する曲線近似ステップと、を含み、前記最大速度曲線は、前記変位に対応する最大速度が一定である曲線を示し、前記最大加速度曲線は、前記変位に対応する最大加速度が一定である曲線を示す。
第１態様に関わる試験機特性評価方法は、材料試験機の試験片に印加する変位の周波数を変更して、前記周波数と前記変位に対応する振幅との関係を求める実験を実行する実験実行ステップと、前記周波数と前記振幅との関係を近似する最大速度曲線、及び最大加速度曲線の少なくとも一方を算出する曲線近似ステップと、を含み、前記最大速度曲線は、前記変位に対応する最大速度が一定である曲線を示し、前記最大加速度曲線は、前記変位に対応する最大加速度が一定である曲線を示す。
第１項に記載の試験機特性評価方法によれば、前記周波数と前記変位に対応する振幅との関係を求める実験の実験結果である前記周波数と前記振幅との関係を近似する最大速度曲線、及び最大加速度曲線の少なくとも一方を算出する。
よって、最大速度及び最大加速度の少なくとも一方を正確に求めることができる。したがって、試験条件を適正に設定できる。
よって、最大速度及び最大加速度の少なくとも一方を正確に求めることができる。したがって、試験条件を適正に設定できる。
（第２項）
第１項に記載の試験機特性評価方法において、前記最大速度曲線は、次の式（Ａ）で表わされる。
Ｗ１（Ｆ）＝±Ａ１／（２π×Ｆ） （Ａ）
ここで、Ｆは、前記周波数を示し、Ａ１は前記最大速度を規定する第１係数を示す。
第１項に記載の試験機特性評価方法において、前記最大速度曲線は、次の式（Ａ）で表わされる。
Ｗ１（Ｆ）＝±Ａ１／（２π×Ｆ） （Ａ）
ここで、Ｆは、前記周波数を示し、Ａ１は前記最大速度を規定する第１係数を示す。
第２項に記載の試験機特性評価方法によれば、前記最大速度曲線は、上記式（Ａ）で表わされる。
よって、前記最大速度曲線を用いて、簡素な処理で正確な最大速度を算出できる。したがって、試験条件を適正に設定できる。
よって、前記最大速度曲線を用いて、簡素な処理で正確な最大速度を算出できる。したがって、試験条件を適正に設定できる。
（第３項）
第２項に記載の試験機特性評価方法において、前記最大加速度曲線は、次の式（Ｂ）で表わされる。
Ｗ２（Ｆ）＝±Ａ２／（２π×Ｆ）２ （Ｂ）
ここで、Ｆは、前記周波数を示し、Ａ２は前記最大加速度を規定する第２係数を示す。
第２項に記載の試験機特性評価方法において、前記最大加速度曲線は、次の式（Ｂ）で表わされる。
Ｗ２（Ｆ）＝±Ａ２／（２π×Ｆ）２ （Ｂ）
ここで、Ｆは、前記周波数を示し、Ａ２は前記最大加速度を規定する第２係数を示す。
第３項に記載の試験機特性評価方法によれば、前記最大加速度曲線は、上記式（Ｂ）で表わされる。
よって、前記最大加速度曲線を用いて、簡素な処理で正確な最大加速度を算出できる。したがって、試験条件を適正に設定できる。
よって、前記最大加速度曲線を用いて、簡素な処理で正確な最大加速度を算出できる。したがって、試験条件を適正に設定できる。
（第４項）
第３項に記載の試験機特性評価方法において、前記最大速度曲線、及び前記最大加速度曲線は、次の式（Ｃ）を満たす最大の前記第１係数、及び最大の前記第２係数を決定することによって求められる。
Ｍｉｎ（Ｗ１（Ｆ），Ｗ２（Ｆ））≦Ａｍｐ（Ｆ）
ただし、Ｍｉｎ（Ｗ１（Ｆ），Ｗ２（Ｆ））は、Ｗ１（Ｆ）の絶対値とＷ２（Ｆ）の絶対値とのうち、小さい方の値を示し、Ａｍｐ（Ｆ）は、前記実験によって前記周波数の関数として求められる前記振幅を示す。
第３項に記載の試験機特性評価方法において、前記最大速度曲線、及び前記最大加速度曲線は、次の式（Ｃ）を満たす最大の前記第１係数、及び最大の前記第２係数を決定することによって求められる。
Ｍｉｎ（Ｗ１（Ｆ），Ｗ２（Ｆ））≦Ａｍｐ（Ｆ）
ただし、Ｍｉｎ（Ｗ１（Ｆ），Ｗ２（Ｆ））は、Ｗ１（Ｆ）の絶対値とＷ２（Ｆ）の絶対値とのうち、小さい方の値を示し、Ａｍｐ（Ｆ）は、前記実験によって前記周波数の関数として求められる前記振幅を示す。
第４項に記載の試験機特性評価方法によれば、前記最大速度曲線、及び前記最大加速度曲線は、上記式（Ｃ）を満たす最大の前記第１係数Ａ１、及び最大の前記第２係数Ａ２を決定することによって求められる。
よって、前記最大速度曲線、及び前記最大加速度曲線を算出できる。したがって、試験条件を適正に設定できる。
よって、前記最大速度曲線、及び前記最大加速度曲線を算出できる。したがって、試験条件を適正に設定できる。
（第５項）
第２項から第４項のいずれか１項に記載の試験機特性評価方法において、前記実験によって求められる前記周波数と前記振幅との関係を示すグラフと、前記最大速度曲線、及び前記最大加速度曲線の少なくとも一方とを１つのグラフとして表示する表示ステップ（ステップＳ１０９）、を更に含む。
第２項から第４項のいずれか１項に記載の試験機特性評価方法において、前記実験によって求められる前記周波数と前記振幅との関係を示すグラフと、前記最大速度曲線、及び前記最大加速度曲線の少なくとも一方とを１つのグラフとして表示する表示ステップ（ステップＳ１０９）、を更に含む。
第５項に記載の試験機特性評価方法によれば、前記実験によって求められる前記周波数と前記振幅との関係を示すグラフと、前記最大速度曲線、及び前記最大加速度曲線の少なくとも一方とが１つのグラフとして表示される。
よって、実験結果と、前記最大速度曲線、及び前記最大加速度曲線の少なくとも一方とをユーザが視認できる。したがって、ユーザの利便性を向上できる。
よって、実験結果と、前記最大速度曲線、及び前記最大加速度曲線の少なくとも一方とをユーザが視認できる。したがって、ユーザの利便性を向上できる。
（第６項）
第２態様に関わる試験機特性評価装置は、材料試験機の試験片に印加する変位の周波数を変更して、前記周波数と前記変位に対応する振幅（Ｗ）との関係を求める実験を実行する実験実行部と、前記周波数と前記振幅との関係を近似する最大速度曲線、及び最大加速度曲線の少なくとも一方を算出する曲線近似部と、を備え、前記最大速度曲線は、前記変位に対応する最大速度が一定である曲線を示し、前記最大加速度曲線は、前記変位に対応する最大加速度が一定である曲線を示す。
第２態様に関わる試験機特性評価装置は、材料試験機の試験片に印加する変位の周波数を変更して、前記周波数と前記変位に対応する振幅（Ｗ）との関係を求める実験を実行する実験実行部と、前記周波数と前記振幅との関係を近似する最大速度曲線、及び最大加速度曲線の少なくとも一方を算出する曲線近似部と、を備え、前記最大速度曲線は、前記変位に対応する最大速度が一定である曲線を示し、前記最大加速度曲線は、前記変位に対応する最大加速度が一定である曲線を示す。
第６項に記載の試験機特性評価装置によれば、第１項に記載の試験機特性評価方法と同様の作用効果を奏する。
（第７項）
第３態様に関わる材料試験機は、材料試験機の試験片に印加する変位の周波数を変更して、前記周波数と前記変位に対応する振幅との関係を求める実験を実行する実験実行部と、前記周波数と前記振幅との関係を近似する最大速度曲線、及び最大加速度曲線の少なくとも一方を算出する曲線近似部と、を備え、前記最大速度曲線は、前記変位に対応する最大速度が一定である曲線を示し、前記最大加速度曲線は、前記変位に対応する最大加速度が一定である曲線を示す。
第３態様に関わる材料試験機は、材料試験機の試験片に印加する変位の周波数を変更して、前記周波数と前記変位に対応する振幅との関係を求める実験を実行する実験実行部と、前記周波数と前記振幅との関係を近似する最大速度曲線、及び最大加速度曲線の少なくとも一方を算出する曲線近似部と、を備え、前記最大速度曲線は、前記変位に対応する最大速度が一定である曲線を示し、前記最大加速度曲線は、前記変位に対応する最大加速度が一定である曲線を示す。
第７項に記載の材料試験機によれば、第１項に記載の試験機特性評価方法と同様の作用効果を奏する。
［６．その他の実施形態］
なお、本実施形態に係る疲労試験機１は、あくまでも本発明に係る材料試験機の態様の例示であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲において任意に変形および応用が可能である。
例えば、本実施形態では、材料試験機が疲労試験機１である場合について説明したが、本実施形態はこれに限定されない。材料試験機が試験片ＴＰに試験力を付与し、試験片ＴＰを変形させて材料試験を行えばよい。例えば、材料試験機が、圧縮試験機、曲げ試験機、又はねじり試験機でもよい。
なお、本実施形態に係る疲労試験機１は、あくまでも本発明に係る材料試験機の態様の例示であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲において任意に変形および応用が可能である。
例えば、本実施形態では、材料試験機が疲労試験機１である場合について説明したが、本実施形態はこれに限定されない。材料試験機が試験片ＴＰに試験力を付与し、試験片ＴＰを変形させて材料試験を行えばよい。例えば、材料試験機が、圧縮試験機、曲げ試験機、又はねじり試験機でもよい。
また、本実施形態では、「試験機特性評価装置」が制御装置５０である場合について説明したが、これに限定されない。「試験機特性評価装置」が試験機本体２と通信可能に構成され、試験機本体２に引張試験を実行させればよい。例えば、「試験機特性評価装置」が制御装置５０と通信可能に構成されたパーソナルコンピュータ、タブレット端末、スマートフォン等でもよい。
また、図１及び図２に示した各機能部は機能的構成を示すものであって、具体的な実装形態は特に制限されない。つまり、必ずしも各機能部に個別に対応するハードウェアが実装される必要はなく、一つのプロセッサがプログラムを実行することで複数の機能部の機能を実現する構成とすることも勿論可能である。また、上記実施形態においてソフトウェアで実現される機能の一部をハードウェアで実現してもよく、或いは、ハードウェアで実現される機能の一部をソフトウェアで実現してもよい。
また、図４に示すフローチャートの処理単位は、制御部５１の処理を理解容易にするために、主な処理内容に応じて分割したものである。図４のフローチャートに示す処理単位の分割の仕方や名称によって制限されることはなく、処理内容に応じて、さらに多くの処理単位に分割することもできるし、１つの処理単位がさらに多くの処理を含むように分割することもできる。また、上記のフローチャートの処理順序も、図示した例に限られるものではない。
また、疲労試験機１の制御装置５０は、制御部５１が備えるプロセッサ５１Ａに、疲労試験機１の試験機特性評価方法に対応した制御プログラムを実行させる。また、この制御プログラムは、コンピュータで読み取り可能に記録した記録媒体に記録しておくことも可能である。記録媒体としては、磁気的、光学的記録媒体又は半導体メモリデバイスを用いることができる。具体的には、フレキシブルディスク、ＨＤＤ、ＳＳＤ、ＣＤ－ＲＯＭ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｋ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＤＶＤ、Ｂｌｕ－ｒａｙ（登録商標） Ｄｉｓｃ、光磁気ディスク、フラッシュメモリ、カード型記録媒体等の可搬型、或いは固定式の記録媒体が挙げられる。また、記録媒体は、制御部５１が備える内部記憶装置であるＲＡＭ、ＲＯＭ、ＨＤＤ等の不揮発性記憶装置であってもよい。また、制御プログラムをサーバー装置等に記憶させておき、サーバー装置から制御部５１に、制御プログラムをダウンロードしてもよい。
１ 疲労試験機（材料試験機）
２ 試験機本体
３ 制御ユニット
１０ クロスヘッド
１４ ロードセル
１５ 変位センサ
１８ 油圧アクチュエータ
１８１ ピストンロッド
１９ 差動トランス
２０ サーボ弁
２１ 上つかみ具
２２ 下つかみ具
２６ テーブル
２８、２９ 支柱
４０ 信号入出力装置
４２ 第１センサアンプ
４３ 第３センサアンプ
４４ サーボアンプ
４５ 第２センサアンプ
５０ 制御装置（試験機特性評価装置）
５１ 制御部
５１Ａ プロセッサ
５１Ｂ メモリ
５１１ 実験実行部
５１２ 曲線近似部
５１３ 表示制御部
５１４ 試験条件設定部
５１５ 実験条件記憶部
５１６ 実験結果記憶部
５１７ 曲線記憶部
５１８ 設定条件記憶部
５２ 操作部
５３ 表示部
Ａ１ 第１係数
Ａ２ 第２係数
ＡＲＮ 領域
Ａｍｐ 関数
ＥＤ 伸び計測値
Ｆ 周波数
ＦＤ 試験力計測値
ＦＰ 試験力
ＦＴ 目標振幅
Ｆｉｎ 交点周波数
Ｆｍａｘ 最小周波数
Ｆｍｉｎ 最大周波数
Ｆ１１、Ｆ２１ 第１周波数
Ｆ１２、Ｆ２２ 第２周波数
Ｆ１３、Ｆ２３ 第３周波数
Ｆ１４、Ｆ２４ 第４周波数
Ｇ 重力加速度
Ｇ１１、Ｇ１２、Ｇ１３、Ｇ２１、Ｇ２２、Ｇ２３ グラフ
ＧＡ、ＧＢ グフフ
ＧＥ 評価関数
ＬＭ１１、ＬＭ２１ 直線
ＬＭ１２、ＬＭ１３、ＬＭ２２、ＬＭ２３ 曲線
ＮＸ 所定個数
Ｐ 点
ＳＧ１ 試験力測定信号
ＳＧ２ 変位測定信号
ＳＧ３ 伸び測定信号
Ｔ 時間
ＴＰ 試験片
ＴＸ 周期
Ｖ 速度
ＶＭ 最大速度
Ｗ 振幅
Ｗ１、Ｗ１Ａ 最大速度曲線
Ｗ２、Ｗ２Ａ 最大加速度曲線
ＷＴ 目標振幅
Ｘ 変位
ＸＤ 変位計測値
ｄＸ 指令値
ΔＴ 所定時間
α 加速度
αＭ 最大加速度
２ 試験機本体
３ 制御ユニット
１０ クロスヘッド
１４ ロードセル
１５ 変位センサ
１８ 油圧アクチュエータ
１８１ ピストンロッド
１９ 差動トランス
２０ サーボ弁
２１ 上つかみ具
２２ 下つかみ具
２６ テーブル
２８、２９ 支柱
４０ 信号入出力装置
４２ 第１センサアンプ
４３ 第３センサアンプ
４４ サーボアンプ
４５ 第２センサアンプ
５０ 制御装置（試験機特性評価装置）
５１ 制御部
５１Ａ プロセッサ
５１Ｂ メモリ
５１１ 実験実行部
５１２ 曲線近似部
５１３ 表示制御部
５１４ 試験条件設定部
５１５ 実験条件記憶部
５１６ 実験結果記憶部
５１７ 曲線記憶部
５１８ 設定条件記憶部
５２ 操作部
５３ 表示部
Ａ１ 第１係数
Ａ２ 第２係数
ＡＲＮ 領域
Ａｍｐ 関数
ＥＤ 伸び計測値
Ｆ 周波数
ＦＤ 試験力計測値
ＦＰ 試験力
ＦＴ 目標振幅
Ｆｉｎ 交点周波数
Ｆｍａｘ 最小周波数
Ｆｍｉｎ 最大周波数
Ｆ１１、Ｆ２１ 第１周波数
Ｆ１２、Ｆ２２ 第２周波数
Ｆ１３、Ｆ２３ 第３周波数
Ｆ１４、Ｆ２４ 第４周波数
Ｇ 重力加速度
Ｇ１１、Ｇ１２、Ｇ１３、Ｇ２１、Ｇ２２、Ｇ２３ グラフ
ＧＡ、ＧＢ グフフ
ＧＥ 評価関数
ＬＭ１１、ＬＭ２１ 直線
ＬＭ１２、ＬＭ１３、ＬＭ２２、ＬＭ２３ 曲線
ＮＸ 所定個数
Ｐ 点
ＳＧ１ 試験力測定信号
ＳＧ２ 変位測定信号
ＳＧ３ 伸び測定信号
Ｔ 時間
ＴＰ 試験片
ＴＸ 周期
Ｖ 速度
ＶＭ 最大速度
Ｗ 振幅
Ｗ１、Ｗ１Ａ 最大速度曲線
Ｗ２、Ｗ２Ａ 最大加速度曲線
ＷＴ 目標振幅
Ｘ 変位
ＸＤ 変位計測値
ｄＸ 指令値
ΔＴ 所定時間
α 加速度
αＭ 最大加速度
Claims (7)
- 材料試験機の試験片に印加する変位の周波数を変更して、前記周波数と前記変位に対応する振幅との関係を求める実験を実行する実験実行ステップと、
前記周波数と前記振幅との関係を近似する最大速度曲線、及び最大加速度曲線の少なくとも一方を算出する曲線近似ステップと、
を含み、
前記最大速度曲線は、前記変位に対応する最大速度が一定である曲線を示し、前記最大加速度曲線は、前記変位に対応する最大加速度が一定である曲線を示す、
試験機特性評価方法。 - 前記最大速度曲線は、次の式（Ａ）で表わされる、
請求項１に記載の試験機特性評価方法。
Ｗ１（Ｆ）＝±Ａ１／（２π×Ｆ） （Ａ）
ここで、Ｆは、前記周波数を示し、Ａ１は前記最大速度を規定する第１係数を示す。 - 前記最大加速度曲線は、次の式（Ｂ）で表わされる、
請求項２に記載の試験機特性評価方法。
Ｗ２（Ｆ）＝±Ａ２／（２π×Ｆ）２ （Ｂ）
ここで、Ｆは、前記周波数を示し、Ａ２は前記最大加速度を規定する第２係数を示す。 - 前記最大速度曲線、及び前記最大加速度曲線は、次の式（Ｃ）を満たす最大の前記第１係数、及び最大の前記第２係数を決定することによって求められる、
請求項３に記載の試験機特性評価方法。
Ｍｉｎ（Ｗ１（Ｆ），Ｗ２（Ｆ））≦Ａｍｐ（Ｆ）
ただし、Ｍｉｎ（Ｗ１（Ｆ），Ｗ２（Ｆ））は、Ｗ１（Ｆ）の絶対値とＷ２（Ｆ）の絶対値とのうち、小さい方の値を示し、Ａｍｐ（Ｆ）は、前記実験によって前記周波数の関数として求められる前記振幅を示す。 - 前記実験によって求められる前記周波数と前記振幅との関係を示すグラフと、前記最大速度曲線、及び前記最大加速度曲線の少なくとも一方とを１つのグラフとして表示する表示ステップ、を更に含む、
請求項２から請求項４のいずれか１項に記載の試験機特性評価方法。 - 材料試験機の試験片に印加する変位の周波数を変更して、前記周波数と前記変位に対応する振幅との関係を求める実験を実行する実験実行部と、
前記周波数と前記振幅との関係を近似する最大速度曲線、及び最大加速度曲線の少なくとも一方を算出する曲線近似部と、
を備え、
前記最大速度曲線は、前記変位に対応する最大速度が一定である曲線を示し、前記最大加速度曲線は、前記変位に対応する最大加速度が一定である曲線を示す、
試験機特性評価装置。 - 材料試験機の試験片に印加する変位の周波数を変更して、前記周波数と前記変位に対応する振幅との関係を求める実験を実行する実験実行部と、
前記周波数と前記振幅との関係を近似する最大速度曲線、及び最大加速度曲線の少なくとも一方を算出する曲線近似部と、
を備え、
前記最大速度曲線は、前記変位に対応する最大速度が一定である曲線を示し、前記最大加速度曲線は、前記変位に対応する最大加速度が一定である曲線を示す、
材料試験機。
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|---|---|---|---|
| JP2021034050A JP7444110B2 (ja) | 2021-03-04 | 2021-03-04 | 試験機特性評価方法、試験機特性評価装置、及び材料試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021034050A JP7444110B2 (ja) | 2021-03-04 | 2021-03-04 | 試験機特性評価方法、試験機特性評価装置、及び材料試験機 |
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| JP2006292400A (ja) | 2005-04-06 | 2006-10-26 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
| JP3138716U (ja) | 2007-10-30 | 2008-01-17 | 株式会社島津製作所 | 試験装置 |
| JP2013002824A (ja) | 2011-06-13 | 2013-01-07 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
| JP2014001948A (ja) | 2012-06-15 | 2014-01-09 | Saginomiya Seisakusho Inc | 疲労試験装置 |
| JP2017053698A (ja) | 2015-09-09 | 2017-03-16 | 三菱航空機株式会社 | ランダムな波形の荷重を負荷するシステムおよび方法、疲労試験用プログラム、および疲労試験機 |
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2021
- 2021-03-04 JP JP2021034050A patent/JP7444110B2/ja active Active
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| JP3138716U (ja) | 2007-10-30 | 2008-01-17 | 株式会社島津製作所 | 試験装置 |
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| JP2017053698A (ja) | 2015-09-09 | 2017-03-16 | 三菱航空機株式会社 | ランダムな波形の荷重を負荷するシステムおよび方法、疲労試験用プログラム、および疲労試験機 |
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