JP7440271B2 - 放射線撮像装置および光子計数型検出器の較正方法 - Google Patents
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Description
算出部302は、記憶部301から複数の物質について線減弱係数を取得する。なお線減弱係数は、記憶部301に記憶される線減弱係数に限定されず、ネットワークなどを介して外部から取得されても良い。
算出部302は、S401にて取得した線減弱係数を用いて、規格化減弱係数を算出する。具体的には、光子エネルギー毎の線減弱係数が所定の光子エネルギーの線減弱係数で除算されることにより、規格化減弱係数が算出される。なお所定の光子エネルギーは、全物質について共通の光子エネルギーであり、X線CT装置101によって計測される光子エネルギーの範囲の最大エネルギーであることが好ましい。例えば、X線管103に印加される管電圧が120kVであるときには、120keVでの線減弱係数で光子エネルギー毎の線減弱係数が除算される。
選択部303は、S402にて算出された規格化減弱係数に基づいて、基底物質を選択する。例えば、弁別物質の規格化減弱係数よりも小さい規格化減弱係数を有する物質群である第一物質群の中の物質である第一物質が基底物質の一つとして選択される。第一物質には、第一物質群の中で最大の規格化減弱係数を有する物質が選択されることが好ましい。また弁別物質の規格化減弱係数よりも大きい規格化減弱係数を有する物質群である第二物質群の中の物質である第二物質が基底物質のもう一つとして選択される。第二物質には、第二物質群の中で最小の規格化減弱係数を有する物質が選択されることが好ましい。
演算装置108は、S403で選択された基底物質を用いて光子計数型検出器を較正する。より具体的には、図2に示される構成により、基底物質の厚さの組み合わせを変える毎に光子スペクトルが計測される。なお、弁別物質が決まっている場合は、基底物質の厚さの組み合わせの範囲を限定して設定しても良い。
Claims (6)
- 入射する放射線光子のエネルギーである光子エネルギーに対応する電気信号を出力する光子計数型検出器を備える放射線撮像装置であって、
複数の物質について線減弱係数と前記光子エネルギーとの関係を記憶する記憶部と、
光子エネルギー毎の線減弱係数を所定の光子エネルギーの線減弱係数で除算することより規格化された線減弱係数である規格化減弱係数を各物質について算出する算出部と、
弁別される物質である弁別物質に対して用いられる基底物質を前記規格化減弱係数に基づいて選択する選択部を備え、
前記選択部は、前記弁別物質の規格化減弱係数よりも小さい規格化減弱係数を有する物質群において前記弁別物質の規格化減弱係数との差異がより小さい規格化減弱係数を有する物質と、前記弁別物質の規格化減弱係数よりも大きい規格化減弱係数を有する物質群において前記弁別物質の規格化減弱係数との差異がより小さい規格化減弱係数を有する物質とを前記基底物質として選択することを特徴とする放射線撮像装置。 - 請求項1に記載の放射線撮像装置であって、
前記選択部は、前記弁別物質が水である場合、前記基底物質としてPMMAとPTFEを選択することを特徴とする放射線撮像装置。 - 請求項1に記載の放射線撮像装置であって、
前記選択部は、前記弁別物質が脂肪組織である場合、前記基底物質としてポリエチレンとPTFEを選択することを特徴とする放射線撮像装置。 - 入射する放射線光子のエネルギーである光子エネルギーに対応する電気信号を出力する光子計数型検出器の較正方法であって、
複数の物質について線減弱係数と前記光子エネルギーとの関係を取得する取得ステップと、
光子エネルギー毎の線減弱係数を所定の光子エネルギーの線減弱係数で除算することより規格化された線減弱係数である規格化減弱係数を各物質について算出する算出ステップと、
弁別される物質である弁別物質に対して用いられる基底物質を前記規格化減弱係数に基づいて選択する選択ステップを備え、
前記選択ステップでは、前記弁別物質の規格化減弱係数よりも小さい規格化減弱係数を有する物質群において前記弁別物質の規格化減弱係数との差異がより小さい規格化減弱係数を有する物質と、前記弁別物質の規格化減弱係数よりも大きい規格化減弱係数を有する物質群において前記弁別物質の規格化減弱係数との差異がより小さい規格化減弱係数を有する物質とが前記基底物質として選択されることを特徴とする光子計数型検出器の較正方法。 - 請求項4に記載の光子計数型検出器の較正方法であって、
前記選択ステップでは、前記弁別物質が水である場合、前記基底物質としてPMMAとPTFEが選択されることを特徴とする光子計数型検出器の較正方法。 - 請求項4に記載の光子計数型検出器の較正方法であって、
前記選択ステップでは、前記弁別物質が脂肪組織である場合、前記基底物質としてポリエチレンとPTFEが選択されることを特徴とする光子計数型検出器の較正方法。
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