JP7434926B2 - 液体吐出方法、駆動パルス決定プログラム、および、液体吐出装置 - Google Patents
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Description
前記液体吐出ヘッドからの前記液体の第1吐出特性と、前記液体吐出ヘッドからの前記液体の第2吐出特性であって前記第1吐出特性と異なる前記第2吐出特性と、を含む記録条件を取得する取得工程と、
前記駆動素子に印加する前記駆動パルスを前記記録条件に基づいて決定する決定工程と、
前記決定工程において決定された前記駆動パルスを前記駆動素子に印加する駆動工程と、を含み、
前記決定工程において、前記第1吐出特性が前記第2吐出特性よりも大きい重みを有する重み付けであって、前記第1吐出特性と前記第2吐出特性とを含む前記記録条件により決定される前記各記録条件の仮駆動パルスを表す値を用い、前記第1吐出特性により決定される仮駆動パルスを表す値と、前記第2吐出特性により決定される仮駆動パルスを表す値と、に対して重み付けを行って決定する決定方法により前記駆動パルスを決定する、態様を有する。
前記液体吐出ヘッドからの前記液体の第1吐出特性と、前記液体吐出ヘッドからの前記液体の第2吐出特性であって前記第1吐出特性と異なる前記第2吐出特性と、を含む記録条件を取得する取得機能と、
前記駆動素子に印加する前記駆動パルスを前記記録条件に基づいて決定する決定機能と、をコンピューターに実現させ、
前記決定機能は、前記第1吐出特性が前記第2吐出特性よりも大きい重みを有する重み付けであって、前記第1吐出特性と前記第2吐出特性とを含む前記記録条件により決定される前記各記録条件の仮駆動パルスを表す値を用い、前記第1吐出特性により決定される仮駆動パルスを表す値と、前記第2吐出特性により決定される仮駆動パルスを表す値と、に対して重み付けを行って決定する決定手順により前記駆動パルスを決定する、態様を有する。
前記液体吐出ヘッドからの前記液体の第1吐出特性と、前記液体吐出ヘッドからの前記液体の第2吐出特性であって前記第1吐出特性と異なる前記第2吐出特性と、を含む記録条件を取得する取得部と、
前記駆動素子に印加する前記駆動パルスを前記記録条件に基づいて決定する決定部と、
前記決定部において決定された前記駆動パルスを前記駆動素子に印加する駆動部と、を含み、
前記決定部は、前記第1吐出特性が前記第2吐出特性よりも大きい重みを有する重み付けであって、前記第1吐出特性と前記第2吐出特性とを含む前記記録条件により決定される前記各記録条件の仮駆動パルスを表す値を用い、前記第1吐出特性により決定される仮駆動パルスを表す値と、前記第2吐出特性により決定される仮駆動パルスを表す値と、に対して重み付けを行って決定する決定手順により前記駆動パルスを決定する、態様を有する。
まず、本発明に含まれる技術の概要を説明する。尚、本願の図1~56は模式的に例を示す図であり、これらの図に示される各方向の拡大率は異なることがあり、各図は整合していないことがある。むろん、本技術の各要素は、符号で示される具体例に限定されない。「本発明に含まれる技術の概要」において、括弧内は直前の語の補足説明を意味する。
前記駆動パルスは、第1電位と、前記第1電位と異なる第2電位であって前記第1電位よりも後に印加される前記第2電位と、前記第1電位および前記第2電位と異なる第3電位であって前記第2電位よりも後に印加される前記第3電位と、を含んでいてもよい。本液体吐出方法は、本液体吐出方法は、前記決定工程ST2において決定された前記1つの駆動パルスP0の波形を表す波形情報60を前記液体吐出ヘッド11の識別情報IDに紐付けられた状態で記憶部に記憶させる記憶工程ST4(例えば図10のステップS110)を更に含んでいてもよい。ここで、記憶部は、例えば、図1に示す液体吐出ヘッド11を含む装置10のメモリー43でもよいし、コンピューター200の記憶装置204でもよいし、図56に示すサーバー250の記憶装置254でもよい。
上記態様は、様々な吐出特性を実現可能な駆動パルス決定プログラムを提供することができる。本駆動パルス決定プログラムPR0は、駆動工程ST3に対応する印加制御機能FU3、および、記憶工程ST4に対応する記憶機能FU4を更にコンピューター200に実現させてもよい。
上記態様は、様々な吐出特性を実現可能な液体吐出装置を提供することができる。本液体吐出装置は、記憶工程ST4に対応する記憶処理部U4を更に含んでいてもよい。
本願における「第1」、「第2」、「第3」、…は、類似点を有する複数の構成要素に含まれる各構成要素を識別するための用語であり、順番を意味しない。
本願における電位変化率は、電位の変化がプラス方向であってもマイナス方向であっても電位の変化がある場合に正の値で表されるものとする。
図1は、本技術の液体吐出方法を実施するためのシステム例として駆動パルス生成システムSYの構成を模式的に示している。図2は、液体吐出ヘッド11のノズル面14の例を模式的に示している。
図1に示す駆動パルス生成システムSYは、液体吐出ヘッド11を含む装置10、コンピューター200、および、駆動素子31の駆動結果を検出する検出装置300を含んでいる。
尚、駆動素子31は、圧電素子に限定されず、発熱により圧力室内に気泡を発生させる発熱素子等でもよい。
記録媒体MDは、複数の液滴により形成される複数のドットを保持する素材である。記録媒体には、紙、合成樹脂、金属、等を用いることができる。記録媒体の形状は、長方形、ロール状、略円形、長方形以外の多角形、立体形状、等、特に限定されない。
尚、吐出制御回路32は、装置本体40に配置されてもよい。
図3に示すように、駆動信号COMは、周期T0で繰り返される駆動パルスP0を含んでいる。駆動パルスP0は、ノズル13から液滴DRが吐出されるように駆動素子31を駆動させる電位の変化の単位を意味する。駆動パルスP0の周波数、すなわち、駆動素子31の駆動周波数f0は、1/T0である。
d1=|E1-E2|
d2=|E3-E2|
また、電位Eが変化する状態s2,s4,s6における電位Eの変化率を、それぞれ、ΔE(s2),ΔE(s4),ΔE(s6)とする。電位変化率ΔE(s2),ΔE(s4),ΔE(s6)は、以下に示す式のように、電位Eが変化しない場合を0として正の値で表されるものとする。
ΔE(s2)=|E1-E2|/T1
ΔE(s4)=|E3-E2|/T3
ΔE(s6)=|E3-E1|/T5
すなわち、電位変化率ΔE(s2)は差分d1が大きいほど大きく、電位変化率ΔE(s4)は差分d2が大きいほど大きく、電位変化率ΔE(s6)は第3電位E3と第1電位E1との差分が大きいほど大きい。
以下、状態s1~s6、タイミングt1~t6、時間T1~T6、差分d1,d2、および、電位変化率ΔE(s2),ΔE(s4),ΔE(s6)を用いた説明を行う。
図4の上段は、駆動パルスP0が第1電位E1に維持されている状態s1の或る瞬間における液体吐出ヘッド11の様子を例示している。駆動パルスP0の電位Eが一定である時、駆動素子31の動作は停止している。駆動パルスP0が第1電位E1から第2電位E2に変化すると、駆動パルスP0が印加された駆動素子31は、圧力室23が広がるように変形する。圧力室23が広がると、液体LQのメニスカスMNがノズル面14から奥の方へ引き込まれ、供給路22から圧力室23に液体LQが供給される。図4の中段は、駆動パルスP0が第2電位E2に維持されている状態s3の或る瞬間における液体吐出ヘッド11の様子を例示している。
図5Bに示す駆動パルスP0の第2電位E2は、第1電位E1よりも低い。図5Bに示す第3電位E3は、第1電位E1よりも低く、第2電位E2よりも高い。図5Bに示す駆動パルスP0でも、駆動パルスP0が第2電位E2から第3電位E3に変化することにより圧力室23が狭まるように駆動素子31が変形するので、ノズル13から液滴DRが吐出される。
また、液体吐出ヘッド11から吐出される液体LQによって記録媒体MDに形成されるドットDTの状態は、記録媒体MDの種類、液体LQの性質、等に応じて異なる。ここで、液体吐出ヘッド11から吐出される液体LQによって記録媒体MDに形成されるドットDTの状態を、紙面上特性と呼ぶことにする。紙面上特性に応じて波形が異なる駆動パルスP0を駆動素子31に印加すると、液体LQを吐出する液体吐出ヘッド11に紙面上特性に応じた様々な吐出特性を付与することができる。
図6は、目標吐出特性テーブルTA1の例を模式的に示している。目標吐出特性テーブルTA1は、例えば、図1に示すコンピューター200の記憶装置204に記憶され、駆動パルスP0の波形を決定するために使用される。目標吐出特性テーブルTA1には、駆動周波数f0、吐出量VM、吐出速度VC、吐出角度θ、アスペクト比AR、等といった複数の吐出特性項目のそれぞれについて、目標値と許容範囲が格納されている。便宜上、各吐出特性項目が識別番号No.1~に紐付けられている。図6に示すように、吐出特性には、駆動周波数f0、吐出量VM、吐出速度VC、吐出角度θ、アスペクト比AR、等が含まれる。
駆動周波数f0は、駆動素子31を駆動する周波数であり、図3に示すように、駆動パルスP0の周期T0の逆数であり、例えば、kHz単位で表される。吐出量VMは、記録条件取得用の駆動パルスが駆動素子31に所定周期印加された時にノズル13から吐出された液体LQの量を意味し、例えば、1周期におけるノズル13からの液滴DRの体積で表され、pL単位で表される。吐出速度VCは、記録条件取得用の駆動パルスが駆動素子31に印加された時にノズル13から吐出された液体LQの速度を意味し、例えば、サテライトDR2が生じる場合のメイン液滴DR1、または、サテライトDR2が生じない場合の液滴DRの吐出速度で表され、m/s単位で表される。吐出角度θは、記録条件取得用の駆動パルスが駆動素子31に印加された時にノズル13から吐出された液体LQの吐出方向D1の基準方向に対する角度を意味する。アスペクト比ARは、記録条件取得用の駆動パルスが駆動素子31に印加された時にノズル13から吐出された液体LQの形状を表す指標値を意味する。
液体LQの吐出速度VCは、例えば、ノズル13から吐出された液体LQをカメラで連続撮影し撮影画像群を解析することにより求めることができる。この場合、検出装置300にカメラまたはビデオカメラを用いることができる。また後述する角度θが0度である場合、液体吐出ヘッド11を走査させながら液体LQを吐出したとき、記録媒体上に形成されたドットの位置と液体吐出時の液体吐出ヘッド11の位置の間の走査方向における距離と、液体吐出ヘッド11と記録媒体の間の高さ方向における距離との比は、液体吐出ヘッド11の走査速度と、液体LQの吐出速度VCとの比に略一致する。この関係に基づいて、液体の吐出速度VCを算出することもできる。
そこで、ノズル13から吐出された液体LQの分布のアスペクト比ARを吐出液体形状の指標値にしている。アスペクト比ARは、例えば、ノズル13から離れた少し後の液滴DRの空間分布から算出することができる。ここで、液滴DRの空間分布において、最も長い方向における長さをLAとし、前述の方向と直交する方向における長さをLBとすると、アスペクト比はAR=LA/LBとすることができる。液滴DRの空間分布において最も長い方向は吐出方向D1になることが多いので、液滴DRの空間分布において、吐出方向D1における長さをLAとし、吐出方向D1と直交する方向における長さをLBとしてもよい。尚、図8Aに示すように液滴DRが分かれていなければ、液滴DRの形状におけるLA/LBがアスペクト比ARとなる。この場合、液滴DRが柱状に細長くなればアスペクト比ARが大きくなり、液滴DRが球状に近くなればアスペクト比ARが小さくなる。図8Bに示すように液滴DRが分かれていれば、液体LQが存在しない空間を含めたLA/LBがアスペクト比ARとなる。この場合、液滴DRに孫サテライトDR3が生じると、アスペクト比ARが大きくなる。
図9A~9Cは、紙面上特性の検出例を模式的に示している。紙面上特性には、ドットDTの被覆率CR、にじみ量FT、ブリーディング量BD、等が含まれる。
また、にじみ量FTは、本体部Dbの外縁からにじみ部Dfの外縁までの長さの平均等でもよい。
また、にじみ部Dfが多くなるほど、同じノズル13から複数回吐出された液滴DRにより形成されるドットDTの中心位置のばらつきが大きくなる。このばらつきは、例えば、ドットDTの設計上の中心位置から実際に形成されたドットDTの中心位置までのずれの標準偏差で表される。
また、混合部Dmは、色相角以外にも、ドットDTの部分的な領域の濃度等により判別することも可能である。部分的な領域の濃度は、例えば、部分的な領域の明度から算出することができる。
図10は、吐出特性と紙面上特性を含む記録条件に応じて異なる駆動パルスP0を設定する駆動パルス設定手順の例を示している。駆動パルス設定手順は、駆動パルス決定プログラムPR0を実行するコンピューター200によって行われる。ここで、ステップS102は、取得工程ST1、取得機能FU1、および、取得部U1に対応している。ステップS104は、決定工程ST2、決定機能FU2、および、決定部U2に対応している。ステップS106は、駆動工程ST3、印加制御機能FU3、および、駆動部U3に対応している。ステップS110は、記憶工程ST4、記憶機能FU4、および、記憶処理部U4に対応している。以下、「ステップ」の記載を省略する。駆動パルス設定手順が行われると、本技術の液体吐出方法が実施される。コンピューター200と装置10は、本技術の液体吐出装置に対応している。
また、コンピューター200が備えている記憶装置204が記憶部でもよい。この場合、コンピューター200は、波形情報60を識別情報IDに紐付けられた状態で記憶装置204に記憶させることになる。詳細は後述するが、コンピューター200に接続されたサーバーコンピューターの記憶装置が記憶部でもよい。
図11~17は、図10のS104において行われる駆動パルス決定手順の例を示している。図18は、図11~17のS212,S222,S232,S242,S252,S262,S272において行われる重み付け手順の例を示している。重み付け手順を含む駆動パルス決定手順は、コンピューター200によって行われる。図11~17のフロー中には、横軸を時間tとし縦軸を電位Eとしたグラフが示されている。これらのグラフにおいて、図3に示す駆動パルスP0の波形をデフォルトとして、デフォルトの波形から変更された波形が太線で示されている。
本具体例では、図3,5A,5Bに示す駆動パルスP0の波形を変えることにより液体吐出ヘッド11の吐出特性を制御することができることに着目して、優先度が比較的高い第1吐出特性と優先度が比較的低い第2吐出特性を含む記録条件400に応じて波形が異なる駆動パルスP0を決定することにしている。従って、図10のS102の記録条件取得手順において、記録条件400が第1吐出特性と第2吐出特性を含んでいることを前提としている。コンピューター200は、S102において、液体吐出ヘッド11からの液体LQの第1吐出特性と、液体吐出ヘッド11からの液体の第2吐出特性であって第1吐出特性と異なる第2吐出特性と、を含む記録条件400を取得する記録条件取得処理を行う。図11は、第1吐出特性と第2吐出特性を含む記録条件400に応じて第3電位E3が異なる駆動パルスP0を決定する例を示している。図12は、第1吐出特性と第2吐出特性を含む記録条件400に応じて第1電位E1が異なる駆動パルスP0を決定する例を示している。図13は、第1吐出特性と第2吐出特性を含む記録条件400に応じて電位変化率ΔE(s2)が異なる駆動パルスP0を決定する例を示している。図14は、第1吐出特性と第2吐出特性を含む記録条件400に応じて電位変化率ΔE(s4)が異なる駆動パルスP0を決定する例を示している。図15は、第1吐出特性と第2吐出特性を含む記録条件400に応じて電位変化率ΔE(s6)が異なる駆動パルスP0を決定する例を示している。図16は、第1吐出特性と第2吐出特性を含む記録条件400に応じて第2電位E2である時間T2が異なる駆動パルスP0を決定する例を示している。図17は、第1吐出特性と第2吐出特性を含む記録条件400に応じて第3電位E3である時間T4が異なる駆動パルスP0を決定する例を示している。尚、第2電位E2の時間T2を第2電位時間T2とも呼ぶことにし、第3電位E3の時間T4を第3電位時間T4とも呼ぶことにする。
図6に示す目標吐出特性テーブルTA1の識別番号No.1~は、各吐出特性の優先順位を示している。図6に示す例では、駆動周波数f0、吐出量VM、吐出速度VC、吐出角度θ、及び、アスペクト比ARの順に優先順位が下がっている。この場合、以下のように第1吐出特性と第2吐出特性が定まる。
図10のS102の記録条件取得手順において駆動周波数f0と吐出速度VCを含む記録条件400が取得された場合、第1吐出特性は駆動素子31の駆動周波数f0であって、第2吐出特性はノズル13からの液体LQの吐出速度VCである。
図10のS102の記録条件取得手順において駆動周波数f0と吐出角度θを含む記録条件400が取得された場合、第1吐出特性は駆動素子31の駆動周波数f0であって、第2吐出特性はノズル13から吐出された液体LQの吐出方向D1の基準方向D0に対する角度θである。
図10のS102の記録条件取得手順において駆動周波数f0とアスペクト比ARを含む記録条件400が取得された場合、第1吐出特性は駆動素子31の駆動周波数f0であって、第2吐出特性はノズル13から吐出された液体LQの分布のアスペクト比ARである。
図10のS102の記録条件取得手順において吐出量VMと吐出角度θを含む記録条件400が取得された場合、第1吐出特性はノズル13からの液体LQの吐出量VMであって、第2吐出特性はノズル13から吐出された液体LQの吐出方向D1の基準方向D0に対する角度θである。
図10のS102の記録条件取得手順において吐出量VMとアスペクト比ARを含む記録条件400が取得された場合、第1吐出特性はノズル13からの液体LQの吐出量VMであって、第2吐出特性はノズル13から吐出された液体LQの分布のアスペクト比ARである。
図10のS102の記録条件取得手順において吐出速度VCとアスペクト比ARを含む記録条件400が取得された場合、第1吐出特性はノズル13からの液体LQの吐出速度VCであって、第2吐出特性はノズル13から吐出された液体LQの分布のアスペクト比ARである。
図10のS102の記録条件取得手順において吐出角度θとアスペクト比ARを含む記録条件400が取得された場合、第1吐出特性はノズル13から吐出された液体LQの吐出方向D1の基準方向D0に対する角度θであって、第2吐出特性はノズル13から吐出された液体LQの分布のアスペクト比ARである。
例えば、第1吐出特性の重みが0よりも大きく1よりも小さいwであるとする。第1吐出特性と第2吐出特性の2種類に基づいて初期パラメーターp0を決定する場合、第2吐出特性の重みは1-wとなる。この場合、初期パラメーターp0は、例えば、以下の計算式により求めることができる。
p0=w×p1+(1-w)×p2 …(1)
ここで、w>1-w、すなわち、重みwが0.5よりも大きく1よりも小さい場合、初期パラメーターp1,p2に対して第1吐出特性が第2吐出特性よりも大きい重みを有する重み付けが行われる。
重み付け処理において初期パラメーターp0が決定されると、図11~17に示すS214,S224,S234,S244,S254,S264,S274において初期パラメーターp0に基づいて駆動パルスP0の他のパラメーターが決定される。
p0’=w×p1+(1-w)×p2 …(2)
仮の初期パラメーターp0’に基づいて決定される初期パラメーターp0は、結果として、第1吐出特性に基づいて決定される第1初期パラメーターp1と同じになることがある。この場合も、第1吐出特性が第2吐出特性よりも大きい重みを有する重み付けをした決定方法が実施されていることになる。
以下、図19以降を参照して、第1吐出特性と第2吐出特性を含む記録条件400に応じてパラメーターが異なる駆動パルスP0を決定する例を説明する。図6に示すように、液体吐出ヘッド11からの液体LQの吐出特性には、駆動周波数f0、吐出量VM、吐出速度VC、吐出角度θ、アスペクト比AR、等が含まれる。以下の説明において、駆動パルスP0は、図3に示す波形をデフォルトとしてパラメーターが変更された波形を有するものとする。また、記録条件取得手順は図10に示すS102の手順を意味し、駆動パルス決定手順は図10に示すS104の手順を意味する。
また、本具体例の液体吐出方法は、取得工程ST1において吐出速度VCを含む記録条件400を取得し、決定工程ST2において取得工程ST1で取得された吐出速度VCに基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。この態様は、吐出速度VCを含む記録条件400に応じた吐出特性を実現することができ、液体吐出ヘッド11から吐出される液体LQによって記録媒体MDに形成されるドットDTに様々な特性を付与することができる。
更に、本具体例の液体吐出方法は、取得工程ST1において吐出角度θを含む記録条件400を取得し、決定工程ST2において取得工程ST1で取得された吐出角度θに基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。この態様は、吐出角度θを含む記録条件400に応じた吐出特性を実現することができ、液体吐出ヘッド11から吐出される液体LQによって記録媒体MDに形成されるドットDTに様々な特性を付与することができる。
更に、本具体例の液体吐出方法は、取得工程ST1において駆動周波数f0を含む記録条件400を取得し、決定工程ST2において取得工程ST1で取得された駆動周波数f0に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。この態様は、駆動周波数f0を含む記録条件400に応じた吐出特性を実現することができ、液体吐出ヘッド11から吐出される液体LQによって記録媒体MDに形成されるドットDTに様々な特性を付与することができる。
更に、本具体例の液体吐出方法は、取得工程ST1においてアスペクト比ARを含む記録条件400を取得し、決定工程ST2において取得工程ST1で取得されたアスペクト比ARに基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。この態様は、アスペクト比ARを含む記録条件400に応じた吐出特性を実現することができ、液体吐出ヘッド11から吐出される液体LQによって記録媒体MDに形成されるドットDTに様々な特性を付与することができる。
試験を行ったところ、第3電位E3が高くなるほど、すなわち、差分d2=|E3-E2|が大きくなるほど、吐出量VMが多くなる傾向が判明した。この傾向から、吐出量VMが少ないために実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出量を多くしたい時には第3電位E3を高くすればよく、吐出量VMが多いために実際の吐出量を少なくしたい時には第3電位E3を低くすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得された吐出量VMが第1吐出量VM1である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際の吐出量が入るように、第1駆動パルスP1の第3電位E3を初期パラメーターとして決定することにしている。言い換えると、吐出量VMが第1吐出量VM1である場合、第1駆動パルスP1における第3電位E3と第2電位E2の差分d2が初期パラメーターとして決定されることになる。第1駆動パルスP1の差分d2は、第1差分の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の吐出量が多くなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおける実際の吐出量を目標値に近付けることができる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された吐出量VMが第1吐出量VM1である場合に第3電位E3と第2電位E2の差分d2として第1差分に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された吐出量VMが第1吐出量VM1よりも少ない第2吐出量VM2である場合に第3電位E3と第2電位E2の差分d2として第1差分よりも大きい第2差分に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、吐出特性としての吐出量VMに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出量のばらつきを少なくすることができる。この効果は、吐出量VMが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの吐出量のばらつきが少なくなる。
試験を行ったところ、第3電位E3が高くなるほど、すなわち、差分d2=|E3-E2|が大きくなるほど、吐出速度VCが速くなる傾向が判明した。この傾向から、吐出速度VCが遅いために実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出速度を速くしたい時には第3電位E3を高くすればよく、吐出速度VCが速いために実際の吐出速度を遅くしたい時には第3電位E3を低くすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際の吐出速度が入るように、第1駆動パルスP1の第3電位E3を初期パラメーターとして決定することにしている。言い換えると、吐出速度VCが第1吐出速度VC1である場合、第1駆動パルスP1における第3電位E3と第2電位E2の差分d2が初期パラメーターとして決定されることになる。第1駆動パルスP1の差分d2は、第1差分の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の吐出速度が速くなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際の吐出速度と目標の吐出速度との差が少なくなる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1である場合に第3電位E3と第2電位E2の差分d2として第1差分に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1よりも遅い第2吐出速度VC2である場合に第3電位E3と第2電位E2の差分d2として第1差分よりも大きい第2差分に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、吐出特性としての吐出速度VCに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出速度のばらつきを少なくすることができる。この効果は、吐出速度VCが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの吐出速度のばらつきが少なくなる。
液滴DRの吐出サイクルを短くしたいときには、駆動周波数f0を高くする必要がある。駆動周波数f0を高くしたいとき、第3電位E3を低くすればよい。すなわち、駆動周波数f0を高くしたいとき、差分d2=|E3-E2|を小さくすればよい。これは、差分d2=|E3-E2|を小さくすると、液体LQの吐出量VMが少なくなる結果、液滴DRの吐出サイクルを短くすることができるためである。このことから、駆動周波数f0が低いために実際の駆動周波数を高くしたい時には第3電位E3を低くすればよく、駆動周波数f0が高いために実際の駆動周波数を低くしたい時には第3電位E3を高くすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際の駆動周波数が入るように、第1駆動パルスP1の第3電位E3を初期パラメーターとして決定することにしている。言い換えると、駆動周波数f0が第1駆動周波数f1である場合、第1駆動パルスP1における第3電位E3と第2電位E2の差分d2が初期パラメーターとして決定されることになる。第1駆動パルスP1の差分d2は、第1差分の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の駆動周波数が低くなるように調整されるので、液体吐出ヘッドによらず適切な駆動周波数f0の駆動パルスP0が決定される。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1である場合に第3電位E3と第2電位E2の差分d2として第1差分に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1よりも高い第2駆動周波数f2である場合に第3電位E3と第2電位E2の差分d2として第1差分よりも大きい第2差分に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、液体吐出ヘッドに応じて適切な駆動周波数f0の駆動パルスP0を駆動素子31に印加することができる。この効果は、駆動周波数f0が第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、液体吐出ヘッドに応じて適切な駆動周波数f0の駆動パルスP0が駆動素子31に印加される。
試験を行ったところ、第3電位E3が低くなるほど、すなわち、差分d2=|E3-E2|が小さくなるほど、アスペクト比ARが小さくなる傾向が判明した。孫サテライトDR3を抑制する点では、第3電位E3が低くなり、差分d2が小さくなると、メニスカスMNの振動が弱くなり、孫サテライトDR3が抑制される結果、アスペクト比ARが小さくなると考えられる。柱状に細長い液滴DRを抑制する点では、第3電位E3が低くなり、差分d2が小さくなると、液体LQの吐出速度VCが遅くなる結果、アスペクト比ARが小さくなると考えられる。
以上の傾向から、孫サテライトDR3を抑制したり柱状に細長い液滴DRを抑制したりしたい時にはアスペクト比ARが小さくなるように第3電位E3を低くすればよく、アスペクト比ARを大きくしたい時には第3電位E3を高くすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得されたアスペクト比ARが第2アスペクト比AR2である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際のアスペクト比が入るように、第2駆動パルスP2の第3電位E3を初期パラメーターとして決定することにしている。言い換えると、アスペクト比ARが第2アスペクト比AR2である場合、第2駆動パルスP2における第3電位E3と第2電位E2の差分d2が初期パラメーターとして決定されることになる。第2駆動パルスP2の差分d2は、第2差分の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際のアスペクト比が小さくなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際のアスペクト比と目標のアスペクト比との差が少なくなる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得されたアスペクト比ARが第1アスペクト比AR1である場合に第3電位E3と第2電位E2の差分d2として第1差分に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得されたアスペクト比ARが第1アスペクト比AR1よりも小さい第2アスペクト比AR2である場合に第3電位E3と第2電位E2の差分d2として第1差分よりも大きい第2差分に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、吐出特性としてのアスペクト比ARに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQのアスペクト比のばらつきを少なくすることができる。この効果は、アスペクト比ARが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、実際にノズル13から吐出される液体LQのアスペクト比のばらつきが少なくなる。
試験を行ったところ、駆動素子31の駆動周波数f0が比較的低い場合、第1電位E1が低くなるほど吐出量VMが多くなる傾向が判明した。この傾向から、吐出量VMが少ないために実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出量を多くしたい時には第1電位E1を低くすればよく、吐出量VMが多いために実際の吐出量を少なくしたい時には第1電位E1を高くすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得された吐出量VMが第1吐出量VM1である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際の吐出量が入るように、第1駆動パルスP1の第1電位E1を初期パラメーターとして決定することにしている。言い換えると、吐出量VMが第1吐出量VM1である場合、第1駆動パルスP1における第1電位E1と第2電位E2の差分d1が初期パラメーターとして決定されることになる。第1駆動パルスP1の差分d1は、第3差分の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の吐出量が少なくなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおける実際の吐出量を目標値に近付けることができる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された吐出量VMが第1吐出量VM1である場合に第1電位E1と第2電位E2の差分d1として第3差分に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された吐出量VMが第1吐出量VM1よりも多い第2吐出量VM2である場合に第1電位E1と第2電位E2の差分d1として第3差分よりも大きい第4差分に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、駆動素子31の駆動周波数f0が比較的低い場合に、吐出特性としての吐出量VMに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出量のばらつきを少なくすることができる。この効果は、吐出量VMが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの吐出量のばらつきが少なくなる。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の吐出量が多くなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおける実際の吐出量を目標値に近付けることができる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された吐出量VMが第1吐出量VM1である場合に第1電位E1と第2電位E2の差分d1として第3差分に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された吐出量VMが第1吐出量VM1よりも少ない第2吐出量VM2である場合に第1電位E1と第2電位E2の差分d1として第3差分よりも大きい第4差分に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、駆動素子31の駆動周波数f0が比較的高い場合に、吐出特性としての吐出量VMに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出量のばらつきを少なくすることができる。この効果は、吐出量VMが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの吐出量のばらつきが少なくなる。
更に、駆動パルス決定手順では、別の液体吐出ヘッドについて記録条件400として取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1よりも高い第2駆動周波数f2である場合、第1電位E1の高低の関係が第1駆動周波数f1の場合とは逆になるように初期パラメーターを決定する。例えば、駆動パルス決定手順では、対象の液体吐出ヘッドにおける吐出量VMが第1吐出量VM1であれば、図6に示す目標値の許容範囲に実際の吐出量が入るように、第2駆動パルスP2の第1電位E1を初期パラメーターとして決定する。当該駆動パルス決定手順では、対象の液体吐出ヘッドにおける吐出量VMが第1吐出量VM1よりも多い第2吐出量VM2であれば、目標値の許容範囲に実際の吐出量が入るように、第2駆動パルスP2よりも第1電位E1が低い第1駆動パルスP1の第1電位E1を初期パラメーターとして決定する。これにより、対象の液体吐出ヘッドにおける実際の吐出量を目標値に近付けることができる。
a.駆動周波数f0が閾値Tf0未満であり、且つ、吐出量VMが閾値TVM未満である場合、第1駆動パルスP1の第1電位E1を初期パラメーターとして決定。
b.駆動周波数f0が閾値Tf0未満であり、且つ、吐出量VMが閾値TVM以上である場合、第2駆動パルスP2の第1電位E1を初期パラメーターとして決定。
c.駆動周波数f0が閾値Tf0以上であり、且つ、吐出量VMが閾値TVM未満である場合、第2駆動パルスP2の第1電位E1を初期パラメーターとして決定。
d.駆動周波数f0が閾値Tf0以上であり、且つ、吐出量VMが閾値TVM以上である場合、第1駆動パルスP1の第1電位E1を初期パラメーターとして決定。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、以下のことを含んでいる。
A.取得工程ST1で取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1であり、且つ、取得工程ST1で取得された吐出量VMが第1吐出量VM1である場合、第1電位E1と第2電位E2の差分d1として第3差分に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
B.取得工程ST1で取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1であり、且つ、取得工程ST1で取得された吐出量VMが第1吐出量VM1よりも多い第2吐出量VM2である場合、第1電位E1と第2電位E2の差分d1として第3差分よりも大きい第4差分に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
C.取得工程ST1で取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1よりも高い第2駆動周波数f2であり、且つ、取得工程ST1で取得された吐出量VMが第1吐出量VM1である場合、第1電位E1と第2電位E2の差分d1として第4差分に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
D.取得工程ST1で取得された駆動周波数f0が第2駆動周波数f2であり、且つ、取得工程ST1で取得された吐出量VMが第2吐出量VM2である場合、第1電位E1と第2電位E2の差分d1として第3差分に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
駆動素子31の駆動周波数f0が比較的高い第2駆動周波数f2である場合、第1電位E1が高くなるほど吐出量VMが多くなる傾向がある。ここで、対象の液体吐出ヘッドにおいて、記録条件400として取得された吐出量VMが比較的少ない第1吐出量VM1である場合、駆動素子31には、比較的高い第1電位E1に基づいて決定された駆動パルスP0が印加される。対象の液体吐出ヘッドにおいて、記録条件400として取得された吐出量VMが比較的多い第2吐出量VM2である場合、駆動素子31には、実際の吐出量が少なくなるように比較的低い第1電位E1に基づいて決定された駆動パルスP0が印加される。これにより、駆動素子31の駆動周波数f0が第2駆動周波数f2である場合に対象の液体吐出ヘッドにおいて実際の吐出量と目標吐出量との差が少なくなる。
試験を行ったところ、第1電位E1が高くなるほど、すなわち、差分d1=|E1-E2|が大きくなるほど、吐出速度VCが速くなる傾向が判明した。第1電位E1が高いほど、状態s2において第1電位E1から第2電位E2までの差分が大きくなるため、吐出前に圧力室内23に液体を引き込む量が多くなることが理由と考えられる。この傾向から、吐出速度VCが遅いために実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出速度を速くしたい時には第1電位E1を高くすればよく、吐出速度VCが速いために実際の吐出速度を遅くしたい時には第1電位E1を低くすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際の吐出速度が入るように、第1駆動パルスP1の第1電位E1を初期パラメーターとして決定することにしている。言い換えると、吐出速度VCが第1吐出速度VC1である場合、第1駆動パルスP1における第1電位E1と第2電位E2の差分d1が初期パラメーターとして決定されることになる。第1駆動パルスP1の差分d1は、第3差分の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の吐出速度が速くなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際の吐出速度と目標の吐出速度との差が少なくなる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1である場合に第1電位E1と第2電位E2の差分d1として第3差分に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1よりも遅い第2吐出速度VC2である場合に第1電位E1と第2電位E2の差分d1として第3差分よりも大きい第4差分に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、吐出特性としての吐出速度VCに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出速度のばらつきを少なくすることができる。この効果は、吐出速度VCが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの吐出速度のばらつきが少なくなる。
液滴DRの吐出サイクルを短くしたいときには、駆動周波数f0を高くする必要がある。駆動周波数f0を高くしたいとき、第1電位E1を高くすればよい。すなわち、駆動周波数f0を高くしたいとき、差分d1=|E1-E2|を大きくすればよい。これは、差分d1=|E1-E2|を大きくすると、図4に示すメニスカスMNの戻りを慣性力により早くすることができるためである。このことから、駆動周波数f0が低いために実際の駆動周波数を高くしたい時には第1電位E1を高くすればよく、駆動周波数f0が高いために実際の駆動周波数を低くしたい時には第1電位E1を低くすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際の駆動周波数が入るように、第1駆動パルスP1の第1電位E1を初期パラメーターとして決定することにしている。言い換えると、駆動周波数f0が第1駆動周波数f1である場合、第1駆動パルスP1における第1電位E1と第2電位E2の差分d1が初期パラメーターとして決定されることになる。第1駆動パルスP1の差分d1は、第3差分の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の駆動周波数が低くなるように調整されるので、液体吐出ヘッドによらず適切な駆動周波数f0の駆動パルスP0が決定される。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1である場合に第1電位E1と第2電位E2の差分d1として第3差分に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1よりも低い第2駆動周波数f2である場合に第1電位E1と第2電位E2の差分d1として第3差分よりも大きい第4差分に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、液体吐出ヘッドに応じて適切な駆動周波数f0の駆動パルスP0を駆動素子31に印加することができる。この効果は、駆動周波数f0が第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、液体吐出ヘッドに応じて適切な駆動周波数f0の駆動パルスP0が駆動素子31に印加される。
試験を行ったところ、第1電位E1が低くなるほど、すなわち、差分d1=|E1-E2|が小さくなるほど、アスペクト比ARが小さくなる傾向が判明した。図8Bに示すように液滴DRに孫サテライトDR3が生じる場合、アスペクト比ARが大きくなる。また、液滴DRが柱状に細長くなる場合も、アスペクト比ARが大きくなる。そこで、孫サテライトDR3を抑制したり柱状に細長い液滴DRを抑制したりしたい時にはアスペクト比ARが小さくなるように第1電位E1を低くすればよく、アスペクト比ARを大きくしたい時には第1電位E1を高くすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得されたアスペクト比ARが第2アスペクト比AR2である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際のアスペクト比が入るように、第2駆動パルスP2の第1電位E1を初期パラメーターとして決定することにしている。言い換えると、アスペクト比ARが第2アスペクト比AR2である場合、第2駆動パルスP2における第1電位E1と第2電位E2の差分d1が初期パラメーターとして決定されることになる。第2駆動パルスP2の差分d1は、第4差分の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際のアスペクト比が小さくなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際のアスペクト比と目標のアスペクト比との差が少なくなる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得されたアスペクト比ARが第1アスペクト比AR1である場合に第1電位E1と第2電位E2の差分d1として第3差分に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得されたアスペクト比ARが第1アスペクト比AR1よりも小さい第2アスペクト比AR2である場合に第1電位E1と第2電位E2の差分d1として第3差分よりも大きい第4差分に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、吐出特性としてのアスペクト比ARに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQのアスペクト比のばらつきを少なくすることができる。この効果は、アスペクト比ARが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、実際にノズル13から吐出される液体LQのアスペクト比のばらつきが少なくなる。
試験を行ったところ、第1電位E1から第2電位E2に変化する間における電位変化率ΔE(s2)が大きくなるほど吐出速度VCが速くなる傾向が判明した。この傾向から、吐出速度VCが遅いために実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出速度を速くしたい時には電位変化率ΔE(s2)を大きくすればよく、吐出速度VCが速いために実際の吐出速度を遅くしたい時には電位変化率ΔE(s2)を小さくすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際の吐出速度が入るように、第1駆動パルスP1の電位変化率ΔE(s2)を初期パラメーターとして決定することにしている。第1駆動パルスP1の電位変化率ΔE(s2)は、第1電位変化率の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の吐出速度が遅くなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際の吐出速度と目標の吐出速度との差が少なくなる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1である場合に第1電位E1から第2電位E2に変化する間における電位変化率ΔE(s2)として第1電位変化率に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1よりも速い第2吐出速度VC2である場合に第1電位E1から第2電位E2に変化する間における電位変化率ΔE(s2)として第1電位変化率よりも小さい第2電位変化率に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、吐出特性としての吐出速度VCに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出速度のばらつきを少なくすることができる。この効果は、吐出速度VCが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの吐出速度のばらつきが少なくなる。
試験を行ったところ、第1電位E1から第2電位E2に変化する間における電位変化率ΔE(s2)が大きくなるほど吐出角度θが大きくなる傾向が判明した。この傾向から、吐出角度θが大きいために実際の吐出角度を小さくしたい時には電位変化率ΔE(s2)を小さくすればよく、吐出角度θが小さい時には電位変化率ΔE(s2)を大きくすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得された吐出角度θが第1角度θ1である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際の吐出角度が入るように、第1駆動パルスP1の電位変化率ΔE(s2)を初期パラメーターとして決定することにしている。第1駆動パルスP1の電位変化率ΔE(s2)は、第1電位変化率の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の吐出角度が小さくなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際の吐出角度と目標の吐出角度との差が少なくなる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された吐出角度θが第1角度θ1である場合に第1電位E1から第2電位E2に変化する間における電位変化率ΔE(s2)として第1電位変化率に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された吐出角度θが第1角度θ1よりも大きい第2角度θ2である場合に第1電位E1から第2電位E2に変化する間における電位変化率ΔE(s2)として第1電位変化率よりも小さい第2電位変化率に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、吐出特性としての吐出角度θに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出角度のばらつきを少なくすることができる。この効果は、吐出角度θが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの吐出角度のばらつきが少なくなる。
液滴DRの吐出サイクルを短くしたいときには、駆動周波数f0を高くする必要がある。駆動周波数f0を高くしたいとき、第1電位E1から第2電位E2に変化する間における電位変化率ΔE(s2)を大きくすればよい。これは、電位変化率ΔE(s2)を大きくすると、図4に示すメニスカスMNの戻りを慣性力により早くすることができるためである。このことから、駆動周波数f0が低いために実際の駆動周波数を高くしたい時には電位変化率ΔE(s2)を大きくすればよく、駆動周波数f0が高いために実際の駆動周波数を低くしたい時には電位変化率ΔE(s2)を小さくすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際の駆動周波数が入るように、第1駆動パルスP1の電位変化率ΔE(s2)を初期パラメーターとして決定することにしている。第1駆動パルスP1の電位変化率ΔE(s2)は、第1電位変化率の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の駆動周波数が低くなるように調整されるので、液体吐出ヘッドによらず適切な駆動周波数f0の駆動パルスP0が決定される。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1である場合に第1電位E1から第2電位E2に変化する間における電位変化率ΔE(s2)として第1電位変化率に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1よりも高い第2駆動周波数f2である場合に第1電位E1から第2電位E2に変化する間における電位変化率ΔE(s2)として第1電位変化率よりも小さい第2電位変化率に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、液体吐出ヘッドに応じて適切な駆動周波数f0の駆動パルスP0を駆動素子31に印加することができる。この効果は、駆動周波数f0が第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、液体吐出ヘッドに応じて適切な駆動周波数f0の駆動パルスP0が駆動素子31に印加される。
試験を行ったところ、第2電位E2から第3電位E3に変化する間における電位変化率ΔE(s4)が大きくなるほど吐出量VMが多くなる傾向が判明した。この傾向から、吐出量VMが少ないために実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出量を多くしたい時には電位変化率ΔE(s4)を大きくすればよく、吐出量VMが多いために実際の吐出量を少なくしたい時には電位変化率ΔE(s4)を小さくすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得された吐出量VMが第1吐出量VM1である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際の吐出量が入るように、第1駆動パルスP1の電位変化率ΔE(s4)を初期パラメーターとして決定することにしている。第1駆動パルスP1の電位変化率ΔE(s4)は、第3電位変化率の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の吐出量が少なくなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて、実際の吐出量を目標値に近付けることができる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された吐出量VMが第1吐出量VM1である場合に第2電位E2から第3電位E3に変化する間における電位変化率ΔE(s4)として第3電位変化率に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された吐出量VMが第1吐出量VM1よりも多い第2吐出量VM2である場合に第2電位E2から第3電位E3に変化する間における電位変化率ΔE(s4)として第3電位変化率よりも小さい第4電位変化率に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、吐出特性としての吐出量VMに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出量のばらつきを少なくすることができる。この効果は、吐出量VMが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの吐出量のばらつきが少なくなる。
試験を行ったところ、第2電位E2から第3電位E3に変化する間における電位変化率ΔE(s4)が大きくなるほど吐出速度VCが速くなる傾向が判明した。この傾向から、吐出速度VCが遅いために実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出速度を速くしたい時には電位変化率ΔE(s4)を大きくすればよく、吐出速度VCが速いために実際の吐出速度を遅くしたい時には電位変化率ΔE(s4)を小さくすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際の吐出速度が入るように、第1駆動パルスP1の電位変化率ΔE(s4)を初期パラメーターとして決定することにしている。第1駆動パルスP1の電位変化率ΔE(s4)は、第3電位変化率の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の吐出速度が遅くなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際の吐出速度と目標の吐出速度との差が少なくなる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1である場合に第2電位E2から第3電位E3に変化する間における電位変化率ΔE(s4)として第3電位変化率に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1よりも速い第2吐出速度VC2である場合に第2電位E2から第3電位E3に変化する間における電位変化率ΔE(s4)として第3電位変化率よりも小さい第4電位変化率に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、吐出特性としての吐出速度VCに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出速度のばらつきを少なくすることができる。この効果は、吐出速度VCが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの吐出速度のばらつきが少なくなる。
試験を行ったところ、第2電位E2から第3電位E3に変化する間における電位変化率ΔE(s4)が大きくなるほどアスペクト比ARが大きくなる傾向が判明した。孫サテライトDR3を抑制する点では、電位変化率ΔE(s4)が小さくなると、メニスカスMNの振動が弱くなり、孫サテライトDR3が抑制される結果、アスペクト比ARが小さくなると考えられる。柱状に細長い液滴DRを抑制する点では、電位変化率ΔE(s4)が小さくなると、液体LQの吐出速度VCが遅くなる結果、アスペクト比ARが小さくなると考えられる。
以上の傾向から、アスペクト比ARが大きいために実際のアスペクト比を小さくしたい時には電位変化率ΔE(s4)を小さくすればよく、アスペクト比ARが小さい時には電位変化率ΔE(s4)を大きくすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得されたアスペクト比ARが第1アスペクト比AR1である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際のアスペクト比が入るように、第1駆動パルスP1の電位変化率ΔE(s4)を初期パラメーターとして決定することにしている。第1駆動パルスP1の電位変化率ΔE(s4)は、第3電位変化率の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際のアスペクト比が小さくなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際のアスペクト比と目標のアスペクト比との差が少なくなる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得されたアスペクト比ARが第1アスペクト比AR1である場合に第2電位E2から第3電位E3に変化する間における電位変化率ΔE(s4)として第3電位変化率に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得されたアスペクト比ARが第1アスペクト比AR1よりも大きい第2アスペクト比AR2である場合に第2電位E2から第3電位E3に変化する間における電位変化率ΔE(s4)として第3電位変化率よりも小さい第4電位変化率に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、吐出特性としてのアスペクト比ARに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQのアスペクト比のばらつきを少なくすることができる。この効果は、アスペクト比ARが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQのアスペクト比のばらつきが少なくなる。
試験を行ったところ、第3電位E3から第1電位E1に変化する間における電位変化率ΔE(s6)が大きくなるほど吐出角度θが小さくなる傾向が判明した。この傾向から、吐出角度θが大きいために実際の吐出角度を小さくしたい時には電位変化率ΔE(s6)を大きくすればよく、実際の吐出角度を大きくしたい時には電位変化率ΔE(s6)を小さくすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得された吐出角度θが第2角度θ2である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際の吐出角度が入るように、第2駆動パルスP2の電位変化率ΔE(s6)を初期パラメーターとして決定することにしている。第2駆動パルスP2の電位変化率ΔE(s6)は、第6電位変化率の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の吐出角度が小さくなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際の吐出角度と目標の吐出角度との差が少なくなる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された吐出角度θが第1角度θ1である場合に第3電位E3から第1電位E1に変化する間における電位変化率ΔE(s6)として第5電位変化率に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された吐出角度θが第1角度θ1よりも小さい第2角度θ2である場合に第3電位E3から第1電位E1に変化する間における電位変化率ΔE(s6)として第5電位変化率よりも小さい第6電位変化率に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、吐出特性としての吐出角度θに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出角度のばらつきを少なくすることができる。この効果は、吐出角度θが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの吐出角度のばらつきが少なくなる。
試験を行ったところ、第3電位E3から第1電位E1に変化する間における電位変化率ΔE(s6)が大きくなるほどアスペクト比ARが小さくなる傾向が判明した。電位変化率ΔE(s6)が大きくなると、メニスカスMNの制振が強くなり、孫サテライトDR3が抑制される結果、アスペクト比ARが小さくなると考えられる。
以上の傾向から、アスペクト比ARが大きいために実際のアスペクト比を小さくしたい時には電位変化率ΔE(s6)を大きくすればよく、アスペクト比ARが小さい時には電位変化率ΔE(s6)を小さくすればよいことが分かる。特に、電位変化率ΔE(s6)を大きくすることは、孫サテライトDR3を抑制する点で効果的である。
駆動パルス決定手順では、取得されたアスペクト比ARが第2アスペクト比AR2である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際のアスペクト比が入るように、第2駆動パルスP2の電位変化率ΔE(s6)を初期パラメーターとして決定することにしている。第2駆動パルスP2の電位変化率ΔE(s6)は、第6電位変化率の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際のアスペクト比が小さくなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際のアスペクト比と目標のアスペクト比との差が少なくなる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得されたアスペクト比ARが第1アスペクト比AR1である場合に第3電位E3から第1電位E1に変化する間における電位変化率ΔE(s6)として第5電位変化率に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得されたアスペクト比ARが第1アスペクト比AR1よりも小さい第2アスペクト比AR2である場合に第3電位E3から第1電位E1に変化する間における電位変化率ΔE(s6)として第5電位変化率よりも小さい第6電位変化率に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、吐出特性としてのアスペクト比ARに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQのアスペクト比のばらつきを少なくすることができる。この効果は、アスペクト比ARが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQのアスペクト比のばらつきが少なくなる。
試験を行ったところ、第2電位時間T2が比較的短い場合、第2電位時間T2が長くなるほど吐出量VMが多くなる傾向が判明した。この傾向から、吐出量VMが少ないために実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出量を多くしたい時には第2電位時間T2を長くすればよく、吐出量VMが多いために実際の吐出量を少なくしたい時には第2電位時間T2を短くすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得された吐出量VMが第1吐出量VM1である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際の吐出量が入るように、第1駆動パルスP1の第2電位時間T2を初期パラメーターとして決定することにしている。第1駆動パルスP1の第2電位時間T2は、第1基時間の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の吐出量が多くなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて、実際の吐出量を目標値に近付けることができる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された吐出量VMが第1吐出量VM1である場合に第2電位時間T2として第1基時間に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された吐出量VMが第1吐出量VM1よりも少ない第2吐出量VM2である場合に第2電位時間T2として第1基時間よりも長い第2基時間に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、第2電位時間T2が比較的短い場合に、吐出特性としての吐出量VMに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出量のばらつきを少なくすることができる。この効果は、吐出量VMが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの吐出量のばらつきが少なくなる。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の吐出量が少なくなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて、実際の吐出量を目標値に近付けることができる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された吐出量VMが第1吐出量VM1である場合に第2電位時間T2として第1基時間に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された吐出量VMが第1吐出量VM1よりも多い第2吐出量VM2である場合に第2電位時間T2として第1基時間よりも長い第2基時間に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、第2電位時間T2が比較的長い場合に、吐出特性としての吐出量VMに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出量のばらつきを少なくすることができる。この効果は、吐出量VMが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの吐出量のばらつきが少なくなる。
以上により、対象の液体吐出ヘッドにおいて、実際の吐出量を目標値に近付けることができる。
以上により、対象の液体吐出ヘッドにおいて、実際の吐出量を目標値に近付けることができる。
a.第2電位時間T2(P2)が閾値THT2未満であり、且つ、吐出量VMが閾値TVM以上である場合、第1駆動パルスP1の第2電位時間T2を初期パラメーターとして決定。
b.第2電位時間T2(P2)が閾値THT2未満であり、且つ、吐出量VMが閾値TVM未満である場合、第2駆動パルスP2の第2電位時間T2を初期パラメーターとして決定。
c.第2電位時間T2(P1)が閾値THT2以上であり、且つ、吐出量VMが閾値TVM以上である場合、第2駆動パルスP2の第2電位時間T2を初期パラメーターとして決定。
d.第2電位時間T2(P1)が閾値THT2以上であり、且つ、吐出量VMが閾値TVM未満である場合、第1駆動パルスP1の第2電位時間T2を初期パラメーターとして決定。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、第2電位時間T2として、第1基時間と、第1基時間よりも長い第2基時間と、を少なくとも含む複数の基時間の中から選ばれる1つの基時間に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。更に、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、以下のことを含んでいる。
A.第2基時間が第1時間TT1であり、且つ、取得工程ST1で取得された吐出量VMが第1吐出量VM1である場合、第2電位時間T2として第1基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
B.第2基時間が第1時間TT1であり、且つ、取得工程ST1で取得された吐出量VMが第1吐出量VM1よりも少ない第2吐出量VM2である場合、第2電位時間T2として第2基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
C.第1基時間が第1時間TT1よりも長い第2時間TT2であり、且つ、取得工程ST1で取得された吐出量VMが第1吐出量VM1である場合、第2電位時間T2として第2基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
D.第1基時間が第2時間TT2であり、且つ、取得工程ST1で取得された吐出量VMが第2吐出量VM2である場合、第2電位時間T2として第1基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
駆動パルスP0の第2電位時間T2が比較的長い場合、第2電位時間T2が短くなるほど吐出量VMが多くなる傾向がある。ここで、対象の液体吐出ヘッドにおいて、記録条件400として取得された吐出量VMが比較的多い第1吐出量VM1である場合、駆動素子31には、比較的長い第2電位時間T2に基づいて決定された駆動パルスP0が印加される。対象の液体吐出ヘッドにおいて、記録条件400として取得された吐出量VMが比較的少ない第2吐出量VM2である場合、駆動素子31には、実際の吐出量が多くなるように比較的短い第2電位時間T2に基づいて決定された駆動パルスP0が印加される。これにより、第2電位時間T2が比較的長い場合に対象の液体吐出ヘッドにおいて、実際の吐出量と目標吐出量との差が少なくなる。
試験を行ったところ、第2電位時間T2が比較的短い場合、第2電位時間T2が長くなるほど吐出速度VCが速くなる傾向が判明した。この傾向から、吐出速度VCが少ないために実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出速度を速くしたい時には第2電位時間T2を長くすればよく、吐出速度VCが速いために実際の吐出速度を遅くしたい時には第2電位時間T2を短くすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際の吐出速度が入るように、第1駆動パルスP1の第2電位時間T2を初期パラメーターとして決定することにしている。第1駆動パルスP1の第2電位時間T2は、第1基時間の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の吐出速度が速くなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際の吐出速度と目標の吐出速度との差が少なくなる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1である場合に第2電位時間T2として第1基時間に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1よりも遅い第2吐出速度VC2である場合に第2電位時間T2として第1基時間よりも長い第2基時間に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、第2電位時間T2が比較的短い場合に、吐出特性としての吐出速度VCに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出速度のばらつきを少なくすることができる。この効果は、吐出速度VCが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの吐出速度のばらつきが少なくなる。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の吐出速度が遅くなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際の吐出速度と目標の吐出速度との差が少なくなる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1である場合に第2電位時間T2として第1基時間に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1よりも速い第2吐出速度VC2である場合に第2電位時間T2として第1基時間よりも長い第2基時間に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、第2電位時間T2が比較的長い場合に、吐出特性としての吐出速度VCに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出速度のばらつきを少なくすることができる。この効果は、吐出速度VCが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの吐出速度のばらつきが少なくなる。
以上により、対象の液体吐出ヘッドにおいて、実際の吐出速度と目標の吐出速度との差が少なくなる。
以上により、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際の吐出速度と目標の吐出速度との差が少なくなる。
a.第2電位時間T2(P2)が閾値THT2未満であり、且つ、吐出速度VCが閾値TVC以上である場合、第1駆動パルスP1の第2電位時間T2を初期パラメーターとして決定。
b.第2電位時間T2(P2)が閾値THT2未満であり、且つ、吐出速度VCが閾値TVC未満である場合、第2駆動パルスP2の第2電位時間T2を初期パラメーターとして決定。
c.第2電位時間T2(P1)が閾値THT2以上であり、且つ、吐出速度VCが閾値TVC以上である場合、第2駆動パルスP2の第2電位時間T2を初期パラメーターとして決定。
d.第2電位時間T2(P1)が閾値THT2以上であり、且つ、吐出速度VCが閾値TVC未満である場合、第1駆動パルスP1の第2電位時間T2を初期パラメーターとして決定。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、第2電位時間T2として、第1基時間と、第1基時間よりも長い第2基時間と、を少なくとも含む複数の基時間の中から選ばれる1つの基時間に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。更に、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、以下のことを含んでいる。
A.第2基時間が第1時間TT1であり、且つ、取得工程ST1で取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1である場合、第2電位時間T2として第1基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
B.第2基時間が第1時間TT1であり、且つ、取得工程ST1で取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1よりも遅い第2吐出速度VC2である場合、第2電位時間T2として第2基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
C.第1基時間が第1時間TT1よりも長い第2時間TT2であり、且つ、取得工程ST1で取得された吐出速度VCが第1吐出速度VC1である場合、第2電位時間T2として第2基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
D.第1基時間が第2時間TT2であり、且つ、取得工程ST1で取得された吐出速度VCが第2吐出速度VC2である場合、第2電位時間T2として第1基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
駆動パルスP0の第2電位時間T2が比較的長い場合、第2電位時間T2が短くなるほど吐出速度VCが速くなる傾向がある。ここで、対象の液体吐出ヘッドにおいて、記録条件400として取得された吐出速度VCが比較的速い第1吐出速度VC1である場合、駆動素子31には、比較的長い第2電位時間T2に基づいて決定された駆動パルスP0が印加される。対象の液体吐出ヘッドにおいて、記録条件400として取得された吐出速度VCが比較的遅い第2吐出速度VC2である場合、駆動素子31には、実際の吐出速度が速くなるように比較的短い第2電位時間T2に基づいて決定された駆動パルスP0が印加される。これにより、第2電位時間T2が比較的長い場合に対象の液体吐出ヘッドにおいて実際の吐出速度と目標の吐出速度との差が少なくなる。
試験を行ったところ、第2電位時間T2が比較的短い場合、駆動周波数f0を高くするためには第2電位時間T2を長くすればよいことが判明した。このことから、駆動周波数f0が低いために実際の駆動周波数を高くしたい時には第2電位時間T2を長くすればよく、駆動周波数f0が高いために実際の駆動周波数を低くしたい時には第2電位時間T2を短くすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際の駆動周波数が入るように、第1駆動パルスP1の第2電位時間T2を初期パラメーターとして決定することにしている。第1駆動パルスP1の第2電位時間T2は、第1基時間の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の駆動周波数が高くなるように調整されるので、液体吐出ヘッドによらず適切な駆動周波数f0の駆動パルスP0が決定される。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1である場合に第2電位時間T2として第1基時間に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1よりも低い第2駆動周波数f2である場合に第2電位時間T2として第1基時間よりも長い第2基時間に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、第2電位時間T2が比較的短い場合に、液体吐出ヘッドに応じて適切な駆動周波数f0の駆動パルスP0を駆動素子31に印加することができる。この効果は、駆動周波数f0が第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの駆動周波数のばらつきが少なくなる。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の駆動周波数が低くなるように調整されるので、液体吐出ヘッドによらず適切な駆動周波数f0の駆動パルスP0が決定される。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1である場合に第2電位時間T2として第1基時間に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1よりも高い第2駆動周波数f2である場合に第2電位時間T2として第1基時間よりも長い第2基時間に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、第2電位時間T2が比較的長い場合に、液体吐出ヘッドに応じて適切な駆動周波数f0の駆動パルスP0を駆動素子31に印加することができる。この効果は、駆動周波数f0が第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの駆動周波数のばらつきが少なくなる。
以上により、液体吐出ヘッドによらず適切な駆動周波数f0の駆動パルスP0が決定される。
以上により、液体吐出ヘッドによらず適切な駆動周波数f0の駆動パルスP0が決定される。
a.第2電位時間T2(P2)が閾値THT2未満であり、且つ、駆動周波数f0が閾値Tf0以上である場合、第1駆動パルスP1の第2電位時間T2を初期パラメーターとして決定。
b.第2電位時間T2(P2)が閾値THT2未満であり、且つ、駆動周波数f0が閾値Tf0未満である場合、第2駆動パルスP2の第2電位時間T2を初期パラメーターとして決定。
c.第2電位時間T2(P1)が閾値THT2以上であり、且つ、駆動周波数f0が閾値Tf0以上である場合、第2駆動パルスP2の第2電位時間T2を初期パラメーターとして決定。
d.第2電位時間T2(P1)が閾値THT2以上であり、且つ、駆動周波数f0が閾値Tf0未満である場合、第1駆動パルスP1の第2電位時間T2を初期パラメーターとして決定。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、第2電位時間T2として、第1基時間と、第1基時間よりも長い第2基時間と、を少なくとも含む複数の基時間の中から選ばれる1つの基時間に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。更に、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、以下のことを含んでいる。
A.第2基時間が第1時間TT1であり、且つ、取得工程ST1で取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1である場合、第2電位時間T2として第1基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
B.第2基時間が第1時間TT1であり、且つ、取得工程ST1で取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1よりも低い第2駆動周波数f2である場合、第2電位時間T2として第2基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
C.第1基時間が第1時間TT1よりも長い第2時間TT2であり、且つ、取得工程ST1で取得された駆動周波数f0が第1駆動周波数f1である場合、第2電位時間T2として第2基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
D.第1基時間が第2時間TT2であり、且つ、取得工程ST1で取得された駆動周波数f0が第2駆動周波数f2である場合、第2電位時間T2として第1基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
駆動パルスP0の第2電位時間T2が比較的長い場合、駆動周波数f0を高くするためには第2電位時間T2を短くすればよい。ここで、対象の液体吐出ヘッドにおいて、記録条件400として取得された駆動周波数f0が比較的高い第1駆動周波数f1である場合、駆動素子31には、比較的長い第2電位時間T2に基づいて決定された駆動パルスP0が印加される。対象の液体吐出ヘッドにおいて、記録条件400として取得された駆動周波数f0が比較的低い第2駆動周波数f2である場合、駆動素子31には、実際の駆動周波数が高くなるように比較的短い第2電位時間T2に基づいて決定された駆動パルスP0が印加される。これにより、第2電位時間T2が比較的長い場合に液体吐出ヘッドによらず適切な駆動周波数f0の駆動パルスP0が決定される。
試験を行ったところ、第3電位時間T4が比較的短い場合、第3電位時間T4が長くなるほど吐出角度θが小さくなる傾向が判明した。この傾向から、吐出角度θが大きいために実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出角度を小さくしたい時には第3電位時間T4を長くすればよく、実際の吐出角度が小さい時には第3電位時間T4を短くすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得された吐出角度θが第1角度θ1である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際の吐出角度が入るように、第1駆動パルスP1の第3電位時間T4を初期パラメーターとして決定することにしている。第1駆動パルスP1の第3電位時間T4は、第3基時間の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の吐出角度が小さくなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際の吐出角度と目標の吐出角度との差が少なくなる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された吐出角度θが第1角度θ1である場合に第3電位時間T4として第3基時間に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された吐出角度θが第1角度θ1よりも大きい第2角度θ2である場合に第3電位時間T4として第3基時間よりも長い第4基時間に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、第3電位時間T4が比較的短い場合に、吐出特性としての吐出角度θに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出角度のばらつきを少なくすることができる。この効果は、吐出角度θが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの吐出角度のばらつきが少なくなる。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際の吐出角度が小さくなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際の吐出角度と目標の吐出角度との差が少なくなる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得された吐出角度θが第1角度θ1である場合に第3電位時間T4として第3基時間に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得された吐出角度θが第1角度θ1よりも小さい第2角度θ2である場合に第3電位時間T4として第3基時間よりも長い第4基時間に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、第3電位時間T4が比較的長い場合に、吐出特性としての吐出角度θに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQの吐出角度のばらつきを少なくすることができる。この効果は、吐出角度θが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQの吐出角度のばらつきが少なくなる。
以上により、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際の吐出角度と目標の吐出角度との差が少なくなる。
以上により、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際の吐出角度と目標の吐出角度との差が少なくなる。
a.第3電位時間T4(P2)が閾値THT4未満であり、且つ、吐出角度θが閾値Tθ以上である場合、第1駆動パルスP1の第3電位時間T4を初期パラメーターとして決定。
b.第3電位時間T4(P2)が閾値THT4未満であり、且つ、吐出角度θが閾値Tθ未満である場合、第2駆動パルスP2の第3電位時間T4を初期パラメーターとして決定。
c.第3電位時間T4(P1)が閾値THT4以上であり、且つ、吐出角度θが閾値Tθ以上である場合、第2駆動パルスP2の第3電位時間T4を初期パラメーターとして決定。
d.第3電位時間T4(P1)が閾値THT4以上であり、且つ、吐出角度θが閾値Tθ未満である場合、第1駆動パルスP1の第3電位時間T4を初期パラメーターとして決定。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、第3電位時間T4として、第3基時間と、第3基時間よりも長い第4基時間と、を少なくとも含む複数の基時間の中から選ばれる1つの基時間に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。更に、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、以下のことを含んでいる。
A.第4基時間が第3時間TT3であり、且つ、取得工程ST1で取得された吐出角度θが第1角度θ1である場合、第3電位時間T4として第3基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
B.第4基時間が第3時間TT3であり、且つ、取得工程ST1で取得された吐出角度θが第1角度θ1よりも大きい第2角度θ2である場合、第3電位時間T4として第4基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
C.第3基時間が第3時間TT3よりも長い第4時間TT4であり、且つ、取得工程ST1で取得された吐出角度θが第1角度θ1である場合、第3電位時間T4として第4基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
D.第3基時間が第4時間TT4であり、且つ、取得工程ST1で取得された吐出角度θが第2角度θ2である場合、第3電位時間T4として第3基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
駆動パルスP0の第3電位時間T4が比較的長い場合、第3電位時間T4が短くなるほど吐出角度θが小さくなる傾向がある。ここで、対象の液体吐出ヘッドにおいて、記録条件400として取得された吐出角度θが比較的小さい第1角度θ1である場合、駆動素子31には、比較的長い第3電位時間T4に基づいて決定された駆動パルスP0が印加される。対象の液体吐出ヘッドにおいて、記録条件400として取得された吐出角度θが比較的大きい第2角度θ2である場合、駆動素子31には、実際の吐出角度が小さくなるように比較的短い第3電位時間T4に基づいて決定された駆動パルスP0が印加される。これにより、第3電位時間T4が比較的長い場合に対象の液体吐出ヘッドにおいて実際の吐出角度と目標の吐出角度との差が少なくなる。
試験を行ったところ、第3電位時間T4が比較的短い場合、第3電位時間T4が長くなるほどアスペクト比ARが小さくなる傾向が判明した。この傾向から、アスペクト比ARが大きいために実際にノズル13から吐出される液体LQのアスペクト比を小さくしたい時には第3電位時間T4を長くすればよく、実際のアスペクト比が小さい時には第3電位時間T4を短くすればよいことが分かる。
駆動パルス決定手順では、取得されたアスペクト比ARが第1アスペクト比AR1である場合、図6に示す目標値の許容範囲に実際のアスペクト比が入るように、第1駆動パルスP1の第3電位時間T4を初期パラメーターとして決定することにしている。第1駆動パルスP1の第3電位時間T4は、第3基時間の例である。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際のアスペクト比が小さくなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドについて実際のアスペクト比と目標のアスペクト比との差が少なくなる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得されたアスペクト比ARが第1アスペクト比AR1である場合に第3電位時間T4として第3基時間に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得されたアスペクト比ARが第1アスペクト比AR1よりも大きい第2アスペクト比AR2である場合に第3電位時間T4として第3基時間よりも長い第4基時間に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、第3電位時間T4が比較的短い場合に、吐出特性としてのアスペクト比ARに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQのアスペクト比のばらつきを少なくすることができる。この効果は、アスペクト比ARが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQのアスペクト比のばらつきが少なくなる。
以上により、対象の液体吐出ヘッドについて実際のアスペクト比が小さくなるように調整されるので、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際のアスペクト比と目標のアスペクト比との差が少なくなる。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、記録条件400として取得されたアスペクト比ARが第1アスペクト比AR1である場合に第3電位時間T4として第3基時間に基づいて駆動パルスP0を決定し、且つ、記録条件400として取得されたアスペクト比ARが第1アスペクト比AR1よりも小さい第2アスペクト比AR2である場合に第3電位時間T4として第3基時間よりも長い第4基時間に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。従って、本具体例は、第3電位時間T4が比較的長い場合に、吐出特性としてのアスペクト比ARに応じて実際にノズル13から吐出される液体LQのアスペクト比のばらつきを少なくすることができる。この効果は、アスペクト比ARが第1吐出特性である場合、大きい。
また、図5A,5Bに示す例を含む様々な駆動パルスP0の波形がデフォルトの波形であっても、類似する作用が生じ、ノズル13から吐出される液体LQのアスペクト比のばらつきが少なくなる。
以上により、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際のアスペクト比と目標のアスペクト比との差が少なくなる。
以上により、対象の液体吐出ヘッドにおいて実際のアスペクト比と目標のアスペクト比との差が少なくなる。
a.第3電位時間T4(P2)が閾値THT4未満であり、且つ、アスペクト比ARが閾値TAR以上である場合、第1駆動パルスP1の第3電位時間T4を初期パラメーターとして決定。
b.第3電位時間T4(P2)が閾値THT4未満であり、且つ、アスペクト比ARが閾値TAR未満である場合、第2駆動パルスP2の第3電位時間T4を初期パラメーターとして決定。
c.第3電位時間T4(P1)が閾値THT4以上であり、且つ、アスペクト比ARが閾値TAR以上である場合、第2駆動パルスP2の第3電位時間T4を初期パラメーターとして決定。
d.第3電位時間T4(P1)が閾値THT4以上であり、且つ、アスペクト比ARが閾値TAR未満である場合、第1駆動パルスP1の第3電位時間T4を初期パラメーターとして決定。
以上より、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、第3電位時間T4として、第3基時間と、第3基時間よりも長い第4基時間と、を少なくとも含む複数の基時間の中から選ばれる1つの基時間に基づいて駆動パルスP0を決定することを含んでいる。更に、本具体例の液体吐出方法は、決定工程ST2において、以下のことを含んでいる。
A.第4基時間が第3時間TT3であり、且つ、取得工程ST1で取得されたアスペクト比ARが第1アスペクト比AR1である場合、第3電位時間T4として第3基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
B.第4基時間が第3時間TT3であり、且つ、取得工程ST1で取得されたアスペクト比ARが第1アスペクト比AR1よりも大きい第2アスペクト比AR2である場合、第3電位時間T4として第4基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
C.第3基時間が第3時間TT3よりも長い第4時間TT4であり、且つ、取得工程ST1で取得されたアスペクト比ARが第1アスペクト比AR1である場合、第3電位時間T4として第4基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
D.第3基時間が第4時間TT4であり、且つ、取得工程ST1で取得されたアスペクト比ARが第2アスペクト比AR2である場合、第3電位時間T4として第3基時間に基づいて駆動パルスP0を決定すること。
駆動パルスP0の第3電位時間T4が比較的長い場合、第3電位時間T4が短くなるほどアスペクト比ARが小さくなる傾向がある。ここで、対象の液体吐出ヘッドにおいて、記録条件400として取得されたアスペクト比ARが比較的小さい第1アスペクト比AR1である場合、駆動素子31には、比較的長い第3電位時間T4に基づいて決定された駆動パルスP0が印加される。対象の液体吐出ヘッドにおいて、記録条件400として取得されたアスペクト比ARが比較的大きい第2アスペクト比AR2である場合、駆動素子31には、実際のアスペクト比が小さくなるように比較的短い第3電位時間T4に基づいて決定された駆動パルスP0が印加される。これにより、第3電位時間T4が比較的長い場合に対象の液体吐出ヘッドにおいて実際のアスペクト比と目標のアスペクト比との差が少なくなる。
また、図10のS104の駆動パルス決定手順では、吐出特性と紙面上特性の組合せに基づいて駆動パルスP0が決定されてもよい。
上述した具体例では、記録条件400に基づいて第1吐出特性が第2吐出特性よりも大きい重みを有する重み付けがされた決定方法により決定された駆動パルスP0が駆動素子31に印加されるので、液体LQを吐出する液体吐出ヘッド11に様々な吐出特性が付与される。従って、上述した具体例は、様々な吐出特性を実現可能な液体吐出方法、駆動パルス生成プログラム、液体吐出装置、等の技術を提供することができる。また、液体吐出ヘッド11に様々な吐出特性が付与されると、液体吐出ヘッド11から吐出される液体LQによって記録媒体MDに形成されるドットDTに様々な特性が付与される。
記録条件400には様々な条件が含まれているので、駆動素子31に印加する駆動パルスP0をコンピューター200が自動的に決定することができると好適である。そこで、図52以降を参照して、記録条件400に基づいて複数の駆動パルスP0の中から駆動工程ST3において印加する1つの駆動パルスを決定する自動アルゴリズムの例を説明する。
駆動パルス決定処理が開始すると、コンピューター200は、試験的に駆動素子31に印加する駆動パルスP0である仮パルスを設定する(S302)。
要因F1.差分d2すなわち|E3-E2|。
要因F2.差分d1すなわち|E1-E2|。
要因F3.電位Eの変化率ΔE(s2)すなわち|E1-E2|/T1。
要因F4.電位Eの変化率ΔE(s4)すなわち|E3-E2|/T3。
要因F5.電位Eの変化率ΔE(s6)すなわち|E3-E1|/T5。
要因F6.タイミングt2からタイミングt3までの時間T2。
要因F7.タイミングt4からタイミングt5までの時間T4。
尚、複数の要因F0は、タイミングt6から次の駆動パルスP0のタイミングt1までの時間T6等を含んでいてもよい。
S302の仮パルス設定処理では、変更対象の要因F0を順次設定し、且つ、設定された要因F0の数値を順次変える処理が行われる。この処理を実現させる仮パルス設定処理の例が図54に示されている。便宜上、図53に示す要因F1~F7が変数a~gで示されている。尚、変数a~gは、同じ要因が複数の変数に対応付けられない限り、要因F1~F7の中から任意に1つずつ対応付けられる。例えば、要因F1~F7のうち1つの要因が変数aに対応付けられると、残る6つの要因のうち1つの要因が変数bに対応付けられ、残る5つの要因のうち1つの要因が変数bに対応付けられることが繰り返される。具体例を挙げると、変数aに要因F2が対応付けられ、変数bに要因F6が対応付けられ、変数cに要因F3が対応付けられることが繰り返されるという意味である。変数a~gの値は、図54に示す仮パルス設定処理において扱うための整数値であり、要因F0の各段階に対応する整数値である。例えば、要因F1に対応付けられた変数は、整数値1が30Vに対応付けられ、整数値2が35Vに対応付けられ、整数値3が40Vに対応付けられ、整数値4が45Vに対応付けられ、整数値5が50Vに対応付けられている。以下の説明において、変数a~gに対応付けられた要因を単に要因a~gと呼ぶことにする。
以上説明したようにして、駆動パルスP0に含まれる複数段階の要因a~cの全組合せについて設定され、仮パルスが設定される。
手順1.第1要因を第1所定条件に固定し、且つ、第2要因を漸次異ならせて駆動パルスP0を駆動素子31に印加したときの第1駆動結果を取得し、第1要因が第1所定条件に固定された複数の駆動パルスP0の中から駆動工程ST3において印加する候補の駆動パルスである第1候補パルスを第1駆動結果に基づいて決定すること。
手順2.第1要因を第1所定条件と異なる第2所定条件に固定し、且つ、第2要因を漸次異ならせて駆動パルスP0を駆動素子31に印加したときの第2駆動結果を取得し、第1要因が第2所定条件に固定された複数の駆動パルスP0の中から駆動工程ST3において印加する候補の駆動パルスである第2候補パルスを第2駆動結果に基づいて決定すること。
手順3.第1候補パルスと第2候補パルスとを少なくとも含む複数の候補パルスの中から駆動工程ST3において印加する1つの駆動パルスを決定すること。
本具体例は、様々な吐出特性を容易に実現させる好適な液体吐出方法、駆動パルス生成プログラム、液体吐出装置、等の技術を提供することができる。
決定された駆動パルスP0を表す波形情報60は、コンピューター200の外部にあるサーバーコンピューターに記憶されてもよい。この場合、液体吐出ヘッド11を含む装置10のユーザーは、サーバーコンピューターから波形情報60をダウンロードすることにより、波形情報60で表される駆動パルスP0を液体吐出ヘッド11の駆動素子31に印加させることができる。
図56に示すサーバー250は、プロセッサーであるCPU251、半導体メモリーであるROM252、半導体メモリーであるRAM253、記憶装置254、通信I/F257、等を有している。これらの要素251~254,257等は、電気的に接続されていることにより互いに情報を入出力可能である。
記憶装置254は、液体吐出ヘッド11の識別情報ID、および、識別情報IDに紐付けられている波形情報60を記憶している。図56に示す記憶装置254は、識別情報ID1に紐付けられている波形情報601、識別情報ID2に紐付けられている波形情報602、識別情報ID3に紐付けられている波形情報603、…を記憶している。本具体例において、記憶装置254は記憶部の例である。
以上により、装置10に接続可能な或るコンピューターが識別情報IDに紐付けられている波形情報60の送信をサーバー250に要求すると、サーバー250は識別情報IDに紐付けられている波形情報60をコンピューターに送信する。これにより、コンピューターは、識別情報IDに紐付けられている波形情報60をサーバー250から受信し、当該波形情報60を装置10のメモリー43に記憶させることができる。ここで、或るコンピューターは、上述したコンピューター200でもよいし、コンピューター200以外のコンピューターでもよい。
以上説明したように、本発明によると、種々の態様により、様々な記録条件に応じて液体を吐出可能な液体吐出方法、駆動パルス生成プログラム、液体吐出装置、等の技術を提供することができる。むろん、独立請求項に係る構成要件のみからなる技術でも、上述した基本的な作用、効果が得られる。
また、上述した例の中で開示した各構成を相互に置換したり組み合わせを変更したりした構成、公知技術および上述した例の中で開示した各構成を相互に置換したり組み合わせを変更したりした構成、等も実施可能である。本発明は、これらの構成等も含まれる。
Claims (24)
- 駆動素子およびノズルを備えた液体吐出ヘッドを用い、前記駆動素子に駆動パルスを印加することにより前記ノズルから液体を吐出させる液体吐出方法であって、
前記液体吐出ヘッドからの前記液体の第1吐出特性と、前記液体吐出ヘッドからの前記液体の第2吐出特性であって前記第1吐出特性と異なる前記第2吐出特性と、を含む記録条件を取得する取得工程と、
前記駆動素子に印加する前記駆動パルスを前記記録条件に基づいて決定する決定工程と、
前記決定工程において決定された前記駆動パルスを前記駆動素子に印加する駆動工程と、を含み、
前記決定工程において、前記第1吐出特性が前記第2吐出特性よりも大きい重みを有する重み付けであって、前記第1吐出特性と前記第2吐出特性とを含む前記記録条件により決定される前記各記録条件の仮駆動パルスを表す値を用い、前記第1吐出特性により決定される仮駆動パルスを表す値と、前記第2吐出特性により決定される仮駆動パルスを表す値と、に対して重み付けを行って決定する決定方法により前記駆動パルスを決定することを特徴とする液体吐出方法。 - 前記第1吐出特性は、前記駆動素子の駆動周波数であって、
前記第2吐出特性は、前記ノズルからの液体の吐出量であることを特徴とする請求項1に記載の液体吐出方法。 - 前記第1吐出特性は、前記駆動素子の駆動周波数であって、
前記第2吐出特性は、前記ノズルからの前記液体の吐出速度であることを特徴とする請求項1に記載の液体吐出方法。 - 前記第1吐出特性は、前記駆動素子の駆動周波数であって、
前記第2吐出特性は、前記ノズルから吐出された前記液体の吐出方向の基準方向に対する角度であることを特徴とする請求項1に記載の液体吐出方法。 - 前記第1吐出特性は、前記駆動素子の駆動周波数であって、
前記第2吐出特性は、前記ノズルから吐出された前記液体の分布のアスペクト比であることを特徴とする請求項1に記載の液体吐出方法。 - 前記第1吐出特性は、前記ノズルからの液体の吐出量であって、
前記第2吐出特性は、前記ノズルからの前記液体の吐出速度であることを特徴とする請求項1に記載の液体吐出方法。 - 前記第1吐出特性は、前記ノズルからの液体の吐出量であって、
前記第2吐出特性は、前記ノズルから吐出された前記液体の吐出方向の基準方向に対する角度であることを特徴とする請求項1に記載の液体吐出方法。 - 前記第1吐出特性は、前記ノズルからの液体の吐出量であって、
前記第2吐出特性は、前記ノズルから吐出された前記液体の分布のアスペクト比であることを特徴とする請求項1に記載の液体吐出方法。 - 前記第1吐出特性は、前記ノズルからの前記液体の吐出速度であって、
前記第2吐出特性は、前記ノズルから吐出された前記液体の吐出方向の基準方向に対する角度であることを特徴とする請求項1に記載の液体吐出方法。 - 前記第1吐出特性は、前記ノズルからの前記液体の吐出速度であって、
前記第2吐出特性は、前記ノズルから吐出された前記液体の分布のアスペクト比であることを特徴とする請求項1に記載の液体吐出方法。 - 前記第1吐出特性は、前記ノズルから吐出された前記液体の吐出方向の基準方向に対する角度であって、
前記第2吐出特性は、前記ノズルから吐出された前記液体の分布のアスペクト比であることを特徴とする請求項1に記載の液体吐出方法。 - 前記駆動パルスは、第1電位と、前記第1電位と異なる第2電位であって前記第1電位よりも後に印加される前記第2電位と、前記第1電位および前記第2電位と異なる第3電位であって前記第2電位よりも後に印加される前記第3電位と、を含むことを特徴とする請求項1から11のいずれか1項に記載の液体吐出方法。
- 前記第1電位は、前記第2電位と前記第3電位の間の電位であることを特徴とする請求項12に記載の液体吐出方法。
- 前記第2電位は、前記第1電位よりも低く、
前記第3電位は、前記第1電位よりも高いことを特徴とする請求項13に記載の液体吐出方法。 - 前記第2電位は、前記第1電位よりも高く、
前記第3電位は、前記第1電位よりも低いことを特徴とする請求項13に記載の液体吐出方法。 - 前記決定工程において、複数の前記駆動パルスの中から前記駆動工程において印加する1つの駆動パルスを決定することを特徴とする請求項1から15のいずれか1項に記載の液体吐出方法。
- 前記決定工程において、前記取得工程で取得された前記記録条件に基づいて前記複数の駆動パルスの中から前記駆動工程において印加する前記1つの駆動パルスを自動アルゴリズムの適用により決定することを特徴とする請求項16に記載の液体吐出方法。
- 前記駆動パルスは、変更可能な複数の要因を含み、
前記複数の要因は、第1要因と、前記第1要因と異なる第2要因と、を少なくとも含み、
前記決定工程において、前記第1要因を固定し、且つ、前記第2要因を漸次異ならせて前記駆動パルスを前記駆動素子に印加したときの駆動結果を取得し、前記複数の駆動パルスの中から前記駆動工程において印加する前記1つの駆動パルスを前記駆動結果に基づいて決定することを特徴とする請求項16または17に記載の液体吐出方法。 - 前記決定工程において、
前記第1要因を第1所定条件に固定し、且つ、前記第2要因を漸次異ならせて前記駆動パルスを前記駆動素子に印加したときの第1駆動結果を取得し、前記第1要因が前記第1所定条件に固定された前記複数の駆動パルスの中から前記駆動工程において印加する候補の前記駆動パルスである第1候補パルスを前記第1駆動結果に基づいて決定し、
前記第1要因を前記第1所定条件と異なる第2所定条件に固定し、且つ、前記第2要因を漸次異ならせて前記駆動パルスを前記駆動素子に印加したときの第2駆動結果を取得し、前記第1要因が前記第2所定条件に固定された前記複数の駆動パルスの中から前記駆動工程において印加する候補の前記駆動パルスである第2候補パルスを前記第2駆動結果に基づいて決定し、
前記第1候補パルスと前記第2候補パルスとを少なくとも含む複数の候補パルスの中から前記駆動工程において印加する前記1つの駆動パルスを決定する
ことを特徴とする請求項18に記載の液体吐出方法。 - 前記決定工程において決定された前記1つの駆動パルスの波形を表す波形情報を前記液体吐出ヘッドの識別情報に紐付けられた状態で記憶部に記憶させる記憶工程を更に含むことを特徴とする請求項16から19のいずれか1項に記載の液体吐出方法。
- 前記記憶工程において、前記記憶部の外部にあるコンピューターにより、前記識別情報に紐付けられた前記波形情報を送信することにより前記波形情報を前記識別情報に紐付けられた状態で前記記憶部に記憶させることを特徴とする請求項20に記載の液体吐出方法。
- 前記第3電位は、前記第1電位と前記第2電位の間の電位であることを特徴とする請求項12に記載の液体吐出方法。
- 駆動パルスに従ってノズルに液体を吐出させる駆動素子を備えた液体吐出ヘッドにおける前記駆動素子に印加する前記駆動パルスを決定するための駆動パルス決定プログラムであって、
前記液体吐出ヘッドからの前記液体の第1吐出特性と、前記液体吐出ヘッドからの前記液体の第2吐出特性であって前記第1吐出特性と異なる前記第2吐出特性と、を含む記録条件を取得する取得機能と、
前記駆動素子に印加する前記駆動パルスを前記記録条件に基づいて決定する決定機能と、をコンピューターに実現させ、
前記決定機能は、前記第1吐出特性が前記第2吐出特性よりも大きい重みを有する重み付けであって、前記第1吐出特性と前記第2吐出特性とを含む前記記録条件により決定される前記各記録条件の仮駆動パルスを表す値を用い、前記第1吐出特性により決定される仮駆動パルスを表す値と、前記第2吐出特性により決定される仮駆動パルスを表す値と、に対して重み付けを行って決定する決定手順により前記駆動パルスを決定することを特徴とする駆動パルス決定プログラム。 - 駆動素子およびノズルを備えた液体吐出ヘッドを含み、前記駆動素子に駆動パルスを印加することにより前記ノズルから液体を吐出させる液体吐出装置であって、
前記液体吐出ヘッドからの前記液体の第1吐出特性と、前記液体吐出ヘッドからの前記液体の第2吐出特性であって前記第1吐出特性と異なる前記第2吐出特性と、を含む記録条件を取得する取得部と、
前記駆動素子に印加する前記駆動パルスを前記記録条件に基づいて決定する決定部と、
前記決定部において決定された前記駆動パルスを前記駆動素子に印加する駆動部と、を含み、
前記決定部は、前記第1吐出特性が前記第2吐出特性よりも大きい重みを有する重み付けであって、前記第1吐出特性と前記第2吐出特性とを含む前記記録条件により決定される前記各記録条件の仮駆動パルスを表す値を用い、前記第1吐出特性により決定される仮駆動パルスを表す値と、前記第2吐出特性により決定される仮駆動パルスを表す値と、に対して重み付けを行って決定する決定手順により前記駆動パルスを決定することを特徴とする液体吐出装置。
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