JP7396560B2 - X線撮像装置及びx線撮像装置の制御方法 - Google Patents
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Description
図1は、第1実施形態におけるX線撮像装置100を示す模式図である。X線撮像装置100は、光電変換パネル1とシンチレータ2とを含むX線撮像パネル10と、制御部3と、X線源4と、記憶部5と、操作部6とを備える。
次に、図10を参照して、第1実施形態によるX線撮像装置100の制御方法について説明する。図10は、X線撮像装置100の制御処理を示すフロー図である。下記の制御処理(閾値補正モード)は、制御回路33により実行される。なお、通常の撮像モードにおける制御処理の説明は省略する。
図11~図14を参照して、第2実施形態におけるX線撮像装置200の構成について説明する。図11は、第2実施形態におけるX線撮像装置200のブロック図である。図12は、第2実施形態における黒点画素B1及びB2の検出を説明するための図である。図13は、黒点画素B1及びB2の座標情報251を説明するための図である。図14は、第2実施形態によるTFT14のプラスシフトを説明するための図である。第2実施形態では、X線撮像装置200は、マイナスシフトの度合が異なる黒点画素B1及びB2を検出し、マイナスシフトの度合に応じたプラスシフト電圧Vh1及びVh2を、TFT14に印加する。なお、第1実施形態と同様の構成には、第1実施形態と同じ符号を用い説明を省略する。
図15~図17を参照して、第3実施形態におけるX線撮像装置300の構成について説明する。図15は、第3実施形態におけるX線撮像装置300のブロック図である。図16Aは、検査電圧値Vb1を用いて生成された検査撮像画像R1の例の図であり、図16Bは、検査電圧値Vb2を用いて生成された検査撮像画像R2の例の図である。図17は、黒点画素B11及びB12の座標情報351を説明するための図である。図18は、第3実施形態によるTFT14のプラスシフトを説明するための図である。第3実施態では、X線撮像装置300は、2段階の検査電圧値Vb1及びVb2を用いて、検査撮像画像R1及びR2を生成し、マイナスシフトの度合が異なる黒点画素B11及びB12を検出する。なお、第1又は第2実施形態と同様の構成には、第1又は第2実施形態と同じ符号を用い説明を省略する。
次に、図19を参照して、第3実施形態によるX線撮像装置300の制御方法について説明する。図19は、X線撮像装置300の制御処理を示すフロー図である。下記の制御処理は、制御回路333により実行される。
Claims (8)
- X線源と、
前記X線源から照射されるX線を光に変換するシンチレータと、当該シンチレータからの光を電気信号に変換する光電変換素子と、当該光電変換素子に接続された薄膜トランジスタと、を含む、X線撮像パネルと、
前記X線源によるX線の照射、及び前記X線撮像パネルによる撮像を制御する制御部と、
前記薄膜トランジスタのゲートに電圧を印加するゲート駆動回路と、を備え、
前記制御部は、
前記薄膜トランジスタにゲート信号を供給し、前記薄膜トランジスタから読み出したデータ信号に基づいて、前記X線源と前記X線撮像パネルとの間に被写体を配置しない状態で撮像された撮像画像である検査撮像画像を生成する画像処理部と、
前記検査撮像画像から黒点画素を検出する検出制御部と、
前記ゲート駆動回路から、前記黒点画素に対応する薄膜トランジスタのゲートに、当該薄膜トランジスタのゲートオフ閾値電圧を上昇させるプラスシフト電圧を印加させる閾値補正部と、を含む、X線撮像装置。 - 前記薄膜トランジスタのソースに読み出し電圧を印加する信号読出回路をさらに備え、
前記閾値補正部は、前記ゲート駆動回路から、前記黒点画素に対応する薄膜トランジスタのゲートに、前記プラスシフト電圧を印加させるとともに、前記信号読出回路から、前記黒点画素に対応する薄膜トランジスタのソースに、前記読み出し電圧を印加させる、請求項1に記載のX線撮像装置。 - X線源と、
前記X線源から照射されるX線を光に変換するシンチレータと、当該シンチレータからの光を電気信号に変換する光電変換素子と、当該光電変換素子に接続された薄膜トランジスタと、を含む、X線撮像パネルと、
前記X線源によるX線の照射、及び前記X線撮像パネルによる撮像を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、
前記薄膜トランジスタにゲート信号を供給し、前記薄膜トランジスタから読み出したデータ信号に基づいて、前記X線源と前記X線撮像パネルとの間に被写体を配置しない状態で撮像された撮像画像である検査撮像画像を生成する画像処理部と、
前記検査撮像画像から黒点画素を検出する検出制御部と、
前記黒点画素に対応する薄膜トランジスタのゲートに、当該薄膜トランジスタのゲートオフ閾値電圧を上昇させるプラスシフト電圧を印加する閾値補正部と、を含み、
前記画像処理部は、被写体を撮像する場合に前記薄膜トランジスタに供給されるゲートオフ電圧よりも高いゲートオフ電圧である検査電圧値を有するゲート信号を、前記薄膜トランジスタに供給し、前記薄膜トランジスタから読み出したデータ信号に基づいて、前記検査撮像画像を生成する、X線撮像装置。 - 記憶部をさらに備え、
前記検出制御部は、前記黒点画素に対応する座標の情報を、前記記憶部に記憶させ、
前記閾値補正部は、前記座標の情報に基づく薄膜トランジスタのゲートに、前記プラスシフト電圧を印加する、請求項1~3のいずれか1項に記載のX線撮像装置。 - 前記検出制御部は、前記撮像画像における2つ以上の画素の画素値の平均値、中央値又は最頻値のうちのいずれかの値よりも所定の値以上小さい画素を、前記黒点画素として検出する、請求項1~4のいずれか1項に記載のX線撮像装置。
- X線源と、
前記X線源から照射されるX線を光に変換するシンチレータと、当該シンチレータからの光を電気信号に変換する光電変換素子と、当該光電変換素子に接続された薄膜トランジスタと、を含む、X線撮像パネルと、前記薄膜トランジスタのゲートに電圧を印加するゲート駆動回路と、を備えたX線撮像装置の制御方法であって、
前記X線源から前記X線撮像パネルにX線を照射するステップと、
前記薄膜トランジスタにゲート信号を供給し、前記薄膜トランジスタから読み出したデータ信号に基づいて、前記X線源と前記X線撮像パネルとの間に被写体を配置しない状態で撮像された撮像画像である検査撮像画像を取得するステップと、
前記検査撮像画像から黒点画素を検出するステップと、
前記ゲート駆動回路から、前記黒点画素に対応する薄膜トランジスタのゲートに、当該薄膜トランジスタのゲートオフ閾値電圧を上昇させるプラスシフト電圧を印加するステップと、を備える、X線撮像装置の制御方法。 - 前記X線撮像装置は、前記薄膜トランジスタのソースに読み出し電圧を印加する信号読出回路をさらに備え、
前記プラスシフト電圧を印加するステップは、前記ゲート駆動回路から、前記黒点画素に対応する薄膜トランジスタのゲートに、前記プラスシフト電圧を印加するとともに、前記信号読出回路から、前記黒点画素に対応する薄膜トランジスタのソースに、前記読み出し電圧を印加するステップである、請求項6に記載のX線撮像装置の制御方法。 - X線源と、
前記X線源から照射されるX線を光に変換するシンチレータと、当該シンチレータからの光を電気信号に変換する光電変換素子と、当該光電変換素子に接続された薄膜トランジスタと、を含む、X線撮像パネルと、を備えたX線撮像装置の制御方法であって、
前記X線源から前記X線撮像パネルにX線を照射するステップと、
前記薄膜トランジスタにゲート信号を供給し、前記薄膜トランジスタから読み出したデータ信号に基づいて、前記X線源と前記X線撮像パネルとの間に被写体を配置しない状態で撮像された撮像画像である検査撮像画像を取得するステップと、
前記検査撮像画像から黒点画素を検出するステップと、
前記黒点画素に対応する薄膜トランジスタのゲートに、当該薄膜トランジスタのゲートオフ閾値電圧を上昇させるプラスシフト電圧を印加するステップと、を備え、
前記検査撮像画像を取得するステップは、被写体を撮像する場合に前記薄膜トランジスタに供給されるゲートオフ電圧よりも高いゲートオフ電圧である検査電圧値を有するゲート信号を、前記薄膜トランジスタに供給し、前記薄膜トランジスタから読み出したデータ信号に基づいて、前記検査撮像画像を生成することを含む、X線撮像装置の制御方法。
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