JP7387880B2 - ピンセット、搬送装置および試料片の搬送方法 - Google Patents
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Description
<搬送装置1の構成>
以下に図1を用いて、実施の形態1における搬送装置1について説明する。
本願の主な特徴の1つは、ピンセット8の構造にある。以下にピンセット8によって把持される試料片9の構造と、ピンセット8の構造とについて説明する。
以下に、図5のフローチャートに示される各ステップS1~S13と、図9~図17とを対比させながら、実施の形態1における試料片9の搬送方法について説明する。また、搬送装置1に備えられている試料片取得機能および試料片搭載機能など、各種の機能についても説明する。
各ステップS1~S13の説明を行う前に、図6~図8を用いて、実施の形態1におけるキャリア10の構造について説明を行う。
試料片取得機能は、ステージ5に試料90が設置されている場合、ピンセット8を用いて、試料90の一部から試料片9を取り出すための機能である。
図14は、試料片9が把持部材8a1と把持部材8a2との間(把持面SF1と把持面SF2との間)で把持された状態で、試料片9がずれる又は回転した場合を示している。この状態のまま試料片9をキャリア10へ搭載すると、解析部9aの位置が正常な位置からずれている状態になるので、解析部9aの位置を探索し、解析部9aがどの程度ずれているかを特定する作業に膨大な時間が必要となる。
試料片搭載機能は、取得された試料片9をキャリア10へ搭載するための機能である。試料片9を取得した後に、ピンセット8によって試料片9が把持された状態で、試料片9はキャリア10へ搭載される。
図18および図19は、それぞれ実施の形態1の変形例1および変形例2におけるピンセットを示している。変形例1および変形例2では、実施の形態1と比較して、対抗面SF3および対抗面SF4の形状が異なる。
2 電子ビームカラム
3 イオンビームカラム
4 試料室
5 ステージ
6 検出器
7 マニピュレータ
8 ピンセット
8a1、8a2 把持部材
8b1、8b2 突当て領域
8c1、8c2 把持領域
9 試料片(薄膜試料、ラメラ)
9a 解析部
9b 上端部
9c 下端部
9d 接合部
10 キャリア(グリッド、メッシュ)
11 基体
11a 載置面
12 支持部
12a~12d 支柱
50 入力デバイス
51 ディスプレイ
90 試料(ウェハ)
C0 総合制御部
C1 電子ビームカラム制御部
C2 イオンビームカラム制御部
C3 ステージ制御部
C4 検出器制御部
C5 ピンセット制御部
EB 電子ビーム
IB イオンビーム
OA1、OA2 光軸
S1~S13 ステップ
SF1、SF2 把持面
SF3、SF4 対向面
SF5、SF6 突当て面
Claims (14)
- 第1挟持部材および第2挟持部材を備え、且つ、荷電粒子線装置を用いて解析が行われる試料片を挟持可能なピンセットであって、
前記第1挟持部材は、前記試料片を挟持した状態で摺動させる第1挟持領域および前記第1挟持領域と一体化し、且つ、摺動した前記試料片が突き当たる第1突当て領域を有し、
前記第2挟持部材は、前記試料片を挟持した状態で摺動させる第2挟持領域および前記第2挟持領域と一体化し、且つ、摺動した前記試料片が突き当たる第2突当て領域を有し、
前記第1挟持領域は、前記試料片を挟持するための第1面を含み、
前記第2挟持領域は、前記第1面に対向し、且つ、前記試料片を挟持するための第2面を含み、
前記第1突当て領域は、前記第1面から前記第2面へ向かう方向において、前記第1挟持領域から突出し、
前記第2突当て領域は、前記第2面から前記第1面へ向かう方向において、前記第2挟持領域から突出している、ピンセット。 - 第1挟持部材および第2挟持部材を備え、且つ、荷電粒子線装置を用いて解析が行われる試料片を挟持可能なピンセットであって、
前記第1挟持部材は、第1挟持領域および前記第1挟持領域と一体化した第1突当て領域を有し、
前記第2挟持部材は、第2挟持領域および前記第2挟持領域と一体化した第2突当て領域を有し、
前記第1挟持領域は、前記試料片を挟持するための第1面を含み、
前記第2挟持領域は、前記第1面に対向し、且つ、前記試料片を挟持するための第2面を含み、
前記第1突当て領域は、前記第1面から前記第2面へ向かう方向において、前記第1挟持領域から突出し、
前記第2突当て領域は、前記第2面から前記第1面へ向かう方向において、前記第2挟持領域から突出し、
前記第1突当て領域は、前記第1面よりも前記第2挟持部材に近い第3面を含み、
前記第2突当て領域は、前記第3面に対向し、且つ、前記第2面よりも前記第1挟持部材に近い第4面を含み、
前記第3面および前記第4面は、それぞれ凹部および凸部を有し、
前記第3面の凹部が前記第4面の凸部に嵌合し、且つ、前記第3面の凸部が前記第4面の凹部に嵌合するように、前記第3面および前記第4面は、互いに対向している、ピンセット。 - 第1挟持部材および第2挟持部材を備え、且つ、荷電粒子線装置を用いて解析が行われる試料片を挟持可能なピンセットであって、
前記第1挟持部材は、第1挟持領域および前記第1挟持領域と一体化した第1突当て領域を有し、
前記第2挟持部材は、第2挟持領域および前記第2挟持領域と一体化した第2突当て領域を有し、
前記第1挟持領域は、前記試料片を挟持するための第1面を含み、
前記第2挟持領域は、前記第1面に対向し、且つ、前記試料片を挟持するための第2面を含み、
前記第1突当て領域は、前記第1面から前記第2面へ向かう方向において、前記第1挟持領域から突出し、
前記第2突当て領域は、前記第2面から前記第1面へ向かう方向において、前記第2挟持領域から突出し、
前記第1突当て領域は、前記第1面よりも前記第2挟持部材に近い第3面、および、前記第3面と前記第1面とを結ぶ第5面を含み、
前記第2突当て領域は、前記第3面に対向し、且つ、前記第2面よりも前記第1挟持部材に近い第4面、および、前記第4面と前記第2面とを結ぶ第6面を含み、
前記第1挟持領域、前記第1突当て領域、前記第2挟持領域および前記第2突当て領域は、それぞれ第1方向へ延在し、
前記第5面および前記第6面は、それぞれ前記第1方向と垂直な面に対して傾斜している、ピンセット。 - 請求項1に記載のピンセットを備える搬送装置において、
試料を設置するためのステージと、
前記試料片を搭載するためのキャリアと、
前記ステージに前記試料が設置されている場合、前記ピンセットを用いて、前記試料の一部から前記試料片を取り出すための試料片取得機能と、
前記ピンセットによって挟持された前記試料片を前記キャリアへ搭載するための試料片搭載機能と、
を備える、搬送装置。 - 請求項4に記載の搬送装置において、
前記ピンセットに接続されたマニピュレータと、
前記マニピュレータを制御可能な制御部と、
を更に備え、
前記ピンセットの動作および移動は、前記制御部からの制御信号に基づいて前記マニピュレータによって行われる、搬送装置。 - 請求項4に記載の搬送装置において、
前記ピンセットによる前記試料片の挟持状態を観察可能な撮像媒体を更に備える、搬送装置。 - 請求項6に記載の搬送装置において、
電子ビームを照射可能な電子ビームカラム、または、イオンビームを照射可能なイオンビームカラムと、
前記電子ビームまたは前記イオンビームが照射された観察対象から放出される二次電子を検出可能な検出器と、
を更に備え、
前記撮像媒体は、前記電子ビームカラムまたは前記イオンビームカラムと、前記検出器とを含む、搬送装置。 - 試料を設置するためのステージと、第1挟持部材および第2挟持部材を備えるピンセットと、を備えた搬送装置を用いて行われる試料片の搬送方法であって、
(a)前記ステージに、その一部に前記試料片が作製されている前記試料を設置するステップ、
(b)前記ステップ(a)の後、前記第1挟持部材と前記第2挟持部材との間で、前記試料片を挟持するステップ、
(c)前記ステップ(b)の後、前記ピンセットによって前記試料片が挟持された状態で、前記試料から前記試料片を取り出すステップ、
(d)前記ステップ(c)の後、前記ピンセットによって前記試料片が挟持された状態で、前記試料片を、荷電粒子線装置を用いて解析が行われる前記試料片を搭載するためのキャリアへ搭載するステップ、
を備え、
前記ステップ(c)の開始時から前記ステップ(d)の終了時までの間において、前記第1挟持部材と前記第2挟持部材との間で挟持されている前記試料片の状態が、前記試料片と、前記第1挟持部材および前記第2挟持部材との間の摺動によって、第1状態から第2状態へ変化し、
前記試料片は、下端部および前記下端部と反対側の上端部を有し、
前記第1挟持部材は、前記試料片を挟持した状態で摺動させる第1挟持領域および前記第1挟持領域と一体化し、且つ、摺動した前記試料片の前記上端部が突き当たる第1突当て領域を有し、
前記第2挟持部材は、前記試料片を挟持した状態で摺動させる第2挟持領域および前記第2挟持領域と一体化し、且つ、摺動した前記試料片の前記上端部が突き当たる第2突当て領域を有し、試料片の搬送方法。 - 請求項8に記載の試料片の搬送方法において、
前記下端部は、前記試料片が前記キャリアへ搭載された際に、前記上端部よりも前記キャリアの載置面の近くに位置し、
前記第2状態における前記上端部は、前記第1状態における前記上端部よりも、前記載置面に対して平行に近い、試料片の搬送方法。 - 試料を設置するためのステージと、第1挟持部材および第2挟持部材を備えるピンセットと、を備えた搬送装置を用いて行われる試料片の搬送方法であって、
(a)前記ステージに、その一部に前記試料片が作製されている前記試料を設置するステップ、
(b)前記ステップ(a)の後、前記第1挟持部材と前記第2挟持部材との間で、前記試料片を挟持するステップ、
(c)前記ステップ(b)の後、前記ピンセットによって前記試料片が挟持された状態で、前記試料から前記試料片を取り出すステップ、
(d)前記ステップ(c)の後、前記ピンセットによって前記試料片が挟持された状態で、前記試料片を、荷電粒子線装置を用いて解析が行われる前記試料片を搭載するためのキャリアへ搭載するステップ、
を備え、
前記ステップ(c)の開始時から前記ステップ(d)の終了時までの間において、前記第1挟持部材と前記第2挟持部材との間で挟持されている前記試料片の状態が、第1状態から第2状態へ変化し、
前記第1挟持部材は、第1挟持領域および前記第1挟持領域と一体化した第1突当て領域を有し、
前記第2挟持部材は、第2挟持領域および前記第2挟持領域と一体化した第2突当て領域を有し、
前記第1挟持領域は、前記試料片を挟持するための第1面を含み、
前記第2挟持領域は、前記第1面に対向し、且つ、前記試料片を挟持するための第2面を含み、
前記第1突当て領域は、前記第1面から前記第2面へ向かう方向において、前記第1挟持領域から突出し、
前記第2突当て領域は、前記第2面から前記第1面へ向かう方向において、前記第2挟持領域から突出し、
前記試料片は、下端部および前記下端部と反対側の上端部を有し、
前記下端部は、前記試料片が前記キャリアに搭載された際に、前記上端部よりも前記キャリアの載置面の近くに位置し、
前記第1状態における前記上端部は、前記第1突当て領域および前記第2突当て領域から離間している、または、前記第1突当て領域および前記第2突当て領域の各々の一部に接触し、
前記第2状態における前記上端部は、前記第1状態よりも接触面積が大きくなるように、前記第1突当て領域および前記第2突当て領域に接触している、試料片の搬送方法。 - 請求項10に記載の試料片の搬送方法において、
前記第1状態から前記第2状態への変化は、前記試料片が前記第1面と前記第2面との間で摺動しながら行われる、試料片の搬送方法。 - 請求項11に記載の試料片の搬送方法において、
前記第1状態から前記第2状態への変化は、前記ステップ(c)において、前記ピンセットを前記上端部から前記下端部へ向かう方向へ移動させることで、行われる、試料片の搬送方法。 - 請求項12に記載の試料片の搬送方法において、
前記試料片の取り出しは、前記第2状態において、前記ピンセットを前記上端部から前記下端部へ向かう方向へ更に移動させ、前記試料片を前記試料から分離することで、行われる、試料片の搬送方法。 - 請求項11に記載の試料片の搬送方法において、
前記第1状態から前記第2状態への変化は、前記ステップ(d)において、前記ピンセットを前記上端部から前記下端部へ向かう方向へ移動させることで、行われる、試料片の搬送方法。
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