JP7379219B2 - レーダシステムの試験装置及び試験設備 - Google Patents
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Description
[第1の実施形態]
図1は、第1の実施形態のレーダシステムの試験装置を備えたレーダシステムの試験設備の一例の構成を示す図である。試験設備1は、レーダシステム2の試験のための設備であって、レーダシステム2の試験装置を含む。レーダシステム2の試験装置は、模擬信号生成装置3と、アンテナ4とを有している。そして、レーダシステム2、模擬信号生成装置3、アンテナ4は、電波暗室5に収容される。
次に第2の実施形態を説明する。図2は、第2の実施形態のレーダシステムの試験装置を備えたレーダシステムの試験設備の一例の構成を示す図である。第1の実施形態で説明したように、アンテナ素子41は、細かな角度ステップで配置される。したがって、アンテナ素子41毎の高精度の位相制御の必要はない。したがって、図2に示すように、位相制御回路を模擬信号生成装置3に持たせることもできる。位相制御回路32は、位相制御回路43と同様に、制御信号に応じて模擬信号生成装置3のアンテナ31から放射される模擬信号の位相を制御する。一方で、アンテナ4では位相制御は行われない。その他の動作は第1の実施形態と同様である。したがって、説明を省略する。
前述した実施形態では角度移動する目標を模擬するために、アンテナ素子41は、レーダシステム2を中心とする球面上に配置されるとしている。しかしながら、アンテナ素子41は、必ずしも球面上に配置される必要はない。アンテナ素子41は、想定される目標の移動の軌跡に応じて適宜に配置されてよい。
Claims (7)
- レーダシステムの試験装置であって、
試験のための模擬信号を放射する模擬信号生成装置と、
前記模擬信号生成装置から放射された前記模擬信号を受信する複数のアンテナ素子と、
それぞれの前記アンテナ素子に対応して設けられ、それぞれの前記アンテナ素子で受信される前記模擬信号を反射して前記アンテナ素子を介して放射させるか又は終端させるかを切り替える複数の反射/終端切替回路と、
を具備するアンテナと、
を有するレーダシステムの試験装置。 - 複数の前記アンテナ素子は、前記レーダシステムに向けられている請求項1に記載のレーダシステムの試験装置。
- 複数の前記アンテナ素子は、前記レーダシステムの探索対象の目標において想定される移動の軌跡に沿って所定の間隔を持って配置されている請求項1又は2に記載のレーダシステムの試験装置。
- 複数の前記反射/終端切替回路は、前記レーダシステムの探索対象の目標の移動を模擬するように順次に反射に切り替えられる請求項1乃至3の何れか1項に記載のレーダシステムの試験装置。
- 前記模擬信号生成装置は、放射される前記模擬信号の位相を制御する位相制御回路をさらに具備する請求項1乃至4の何れか1項に記載のレーダシステムの試験装置。
- 複数の前記反射/終端切替回路のそれぞれで反射された前記模擬信号の位相を制御する複数の位相制御回路をさらに具備する請求項1乃至4の何れか1項に記載のレーダシステムの試験装置。
- レーダシステムの試験装置を備えた試験設備であって、
試験のための模擬信号を放射する模擬信号生成装置と、
前記模擬信号生成装置から放射された前記模擬信号を受信する複数のアンテナ素子と、
それぞれの前記アンテナ素子に対応して設けられ、それぞれの前記アンテナ素子で受信される前記模擬信号を反射して前記アンテナ素子を介して放射させるか又は終端させるかを切り替える複数の反射/終端切替回路と、
を有するアンテナと、
を具備する試験装置と、
前記レーダシステム及び前記試験装置が収容され、外部からの電波を遮断するように構成された電波暗室と、
を有するレーダシステムの試験設備。
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