JP7374318B2 - 光学センサ窓洗浄装置 - Google Patents

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Description

関連出願の相互参照
本出願は、2019年11月6日に出願された米国仮出願第62/931,409号の利益および優先権を主張し、あらゆる目的のためにその全体が参照により本明細書に組み込まれる。
本開示は、流体の特性を測定するために使用されるセンサに関する。より具体的には、本開示は、流れる流体の光学特性を測定する光学センサに関する。
光学センサを使用して、流れる流体の1つまたは複数の特性を決定することができる。光学センサは、窓を通って流体に向かって光を送出することができる。光は、窓と流体との間の境界で屈折され得る。光学センサは、流体によって屈折される光の量、角度、または量および角度を検出することによって、流体の屈折率を決定することができる。流体の屈折率は、流体の他の特性を決定するために使用することができる。例えば、流体の濃度または純度は、流体の屈折率を使用して決定され得る。プロセス流体は、液体または液体と固体を含む混合物を含むことができる。
センサシステムは、センサアセンブリと、センサアセンブリにプロセス流体を供給する導管と、を含む。センサアセンブリは、プロセス流体のための通路と、光学窓と、光学センサと、を含む。光学窓は、通路の側壁を形成する。プロセス流体は、通路を通って流れ、光学窓に接触する。センサは、光学窓を通して光を送出し、プロセス流体の光学特性を検出するように構成される。
センサシステム、センサアセンブリ、および光学窓を洗浄するための方法のための実施形態が開示される。一実施形態では、センサシステムはセンサアセンブリを含む。プロセス流体がセンサアセンブリに供給される。いくつかの実施形態では、センサアセンブリは、プロセス流体の光学特性を検出するための光学窓および光学センサを含む。
一実施形態では、センサシステムは、センサアセンブリと、プロセス流体、液体、および気体をセンサアセンブリに供給するための流体回路(例えば、導管、配管、チューブ、それらの組み合わせなど)と、を含む。センサアセンブリは、プロセス流体のための通路と、光学窓と、ノズルと、を含む。光学窓は通路の側壁を形成し、プロセス流体は光学窓と接触する。流体回路は、液体を供給するためのノズルに流体接続する。流体回路はまた、気体を供給するためのノズルに流体接続する。ノズルは、液体および気体を含む霧化流体を、光学窓の内面に衝突する方向に吐出するように構成されている。霧化流体は、光を散乱させる可能性がある材料に衝突して除去する。
一実施形態では、センサアセンブリは、プロセス流体のための通路、光学窓、およびノズルを含む。光学窓は通路の側壁を形成し、プロセス流体は光学窓に接触するように構成される。ノズルは、光学窓の内面に衝突する方向に液体および気体を含む霧化流体を形成して吐出するように構成される。
一実施形態では、センサアセンブリ内の光学窓を洗浄する方法は、液体および気体を霧化することを含む。センサアセンブリは、プロセス流体のための通路、光学窓、およびプロセス流体のための光学センサを含む。霧化流体は、光学窓に衝突する方向に通路内に吐出される。
センサシステム、センサアセンブリ、およびセンサアセンブリ内の光学窓を洗浄する方法の説明された特徴、態様、および利点と他の特徴、態様、および利点の両方は、以下の図面によってよりよく理解されるであろう。
センサシステムの一実施形態の概略図である。 本開示の一実施形態による、図1のセンサアセンブリの断面図である。 本開示の一実施形態による、図2のノズルの拡大断面図である。 センサアセンブリ内の光学窓を洗浄する方法の一実施形態のブロック図である。
本開示は様々な変更および代替形式に従うが、それらの詳細は図面において例として示され、詳細に説明される。しかしながら、本開示の態様を記載された特定の例示的な実施形態に限定することを意図するものではないことを理解されたい。むしろ、本開示の趣旨および範囲内に入るすべての変形例、等価例、および代替例を含むことを意図するものである。
本明細書および添付の特許請求の範囲で使用されるように、単数形(「a」、「an」および「the」)は、その内容が明確に指示しない限り、複数の指示対象を含む。本明細書および添付の特許請求の範囲で使用されるように、「または」という用語は、その内容が明確に指示しない限り、「および/または」を含む意味で一般的に使用される。
「約」という用語は、一般に、列挙された値と等価である(例えば、同じ機能または結果を有する)と考えられる数の範囲を指す。多くの場合、「約」という用語は、最も近い有効数字に丸められた数字を含むことができる。
端点を使用して表される数値範囲は、その範囲内に包含されるすべての数を含む(例えば、1から5は、1、1.5、2、2.75、3、3.80、4、5を含む)。
以下の詳細な説明は、図面を参照して読まれるべきであり、異なる図面における同様の要素には同じ符号が付けられている。詳細な説明および図面は、必ずしも縮尺通りではなく、例示的な実施形態を示しており、本発明の範囲を限定することを意図するものではない。図示する例示的な実施形態は、例示的なものとしてのみ意図されている。任意の例示的な実施形態の選択された特徴は、それとは明らかに反対の場合を除いて、追加の実施形態に組み込むことができる。
光学センサを使用して、流体の1つまたは複数の光学特性を検出することができる。流体は、光学センサが窓の別の側面に沿って配置されている間に、光学窓の一方の側面に沿って流れるように導くことができる。光学センサは、光学窓を通して光を送出し、流体が光にどのように影響するかを検出するように構成され得る。例えば、光学センサは、光学窓と流れる流体との間の移行部で光がどのように屈折するかを検出するように構成されてもよい。例えば、光学センサは、流れる流体によって反射された光の量を検出するように構成されてもよい。プロセス流体の光学特性を使用して、例えばプロセス流体の濃度または純度などのプロセス流体の1つまたは複数の他の特性を決定することができる。
流体の成分は、光学窓に引き付けられ、光学窓上に堆積し、光学窓上に材料の層を形成することができる。光学窓への成分の引力および堆積は、例えば、成分と光学窓の材料との間の分子間力によって引き起こされ得る(例えば、成分のゼータ電位が成分を光学窓に向かって駆動することができ、互いに近接すると引力がファンデルワールス力によって駆動される)。この問題は、流体が、光学窓により容易に付着し得る固体粒子を含む場合に、より顕著に生じ得る。さらに、堆積物は経時的に除去することがより困難になることが分かっている。したがって、粒子はより強く堆積し、光学窓上に残るほど除去がより困難になる。
当業者は、光学窓上の材料の部分層が光の透過に悪影響を及ぼし、誤った測定値を生成する可能性があることを認識するであろう。半導体製造などの高精度測定に依存するセンサでは、この誤差は半導体製造プロセスに大きな悪影響を及ぼす可能性がある。
本明細書では、センサアセンブリ、センサシステム、およびセンサアセンブリ内の光学窓を洗浄する方法に関する実施形態を開示する。本明細書で使用する場合、光学窓を洗浄することは、例えば、光学窓から堆積した成分を除去して、光学窓の表面を少なくとも部分的に露出させることを含むことができる。センサシステムは、センサアセンブリを含むことができる。本明細書に記載の実施形態は、霧化流体を光学窓に吐出して、光学窓に堆積した任意の材料の大部分をすべて除去することができる。液体を霧化して霧化流体を吐出すると、霧化流体の液体部分が加速し、表面にキャビテーション(例えば、光学窓に衝突した後の霧化された流体の液体部分の液滴の内破)を引き起こすことができる。理論に束縛されるものではないが、霧化流体の液体部分の液滴の光学窓への衝突は、衝撃波を開始し、それによって光学窓から堆積物または材料を除去することができると考えられる。
図1は、センサシステム1の一実施形態の概略図である。センサシステム1は、プロセス流体Fの1つまたは複数の光学特性を検出するように構成されたセンサアセンブリ10を含む。一実施形態では、センサアセンブリ10は、プロセス流体Fの屈折率を検出する。
センサアセンブリ10は、通路12と、光学窓32と、光学センサ38と、ノズル50と、を含む。通路12は、入口20および出口22を含む。通路12は、センサアセンブリ12を通って入口20から出口22まで延在する。プロセス流体Fは、通路12を通って流れることによってセンサアセンブリ10を通って流れる。プロセス流体Fは、入口20を通って入り、通路12を通って流れ、次いで出口22を通って出ることによって、センサアセンブリ10を通って流れる。
第1の導管60は、プロセス流体Fを通路12の入口20に供給する。第1の導管60は、プロセス流体源62を入口20に流体接続する。プロセス流体Fは、プロセス流体源62から第1の導管60を通って通路12に流れる。一実施形態では、プロセス流体源62は、プロセス流体Fを収容するタンクであってもよい。一実施形態では、プロセス流体源62は、プロセス流体Fの成分を収容する複数のタンクであってもよく、プロセス流体源62は、成分を混合してプロセス流体Fを形成し、次いで第1の導管60によって供給される。第1の導管60は、フローバルブ64を有する。フローバルブ64は、第1の導管60によって通路12およびセンサアセンブリ10に供給されるプロセス流体Fの流量fを制御する。一実施形態では、フローバルブ64はコントローラ90によって制御される。コントローラ90は、センサアセンブリ10への、およびセンサアセンブリを通るプロセス流体Fの流量fを制御するようにフローバルブ64を調整するように構成される。
一実施形態では、プロセス流体Fは、半導体製造における半導体ウエハの研磨に使用される。プロセス流体Fは、液体および研磨粒子を含む。一実施形態では、研磨粒子は、セリア、コロイダルシリカ、ヒュームドシリカ、およびフッ化ランタンのうちの1つまたは複数を含む。一実施形態では、プロセス流体Fは少なくとも0.1重量%の研磨粒子を含む。一実施形態では、プロセス流体Fは、約0.1重量%~約30重量%の研磨粒子を含む。一実施形態では、プロセス流体Fに使用される液体は、水または水系溶液を含むことができる。
プロセス流体Fは、入口20から出口22まで通路12を通って流れるときに光学窓32に沿って流れる。光学センサ38は、光学窓32に沿って配置されている。光学センサ38は、光学窓32を通して通路12に向かって光を送出する。また、光学センサ38は、プロセス流体Fによって屈折された光を検出する。光学センサ38は、プロセス流体Fによって屈折された光を検出することによってプロセス流体Fの屈折率を検出するように構成されている。
ノズル50は、光学窓32を洗浄することができる。ノズル50は、霧化流体52を形成し、霧化流体52を光学窓32に向けて吐出する。霧化流体52は、光学窓32に衝突し、光学窓32上に堆積した材料を除去するように構成される。一実施形態では、ノズル50は、エアブラストアトマイザまたはエアアシストアトマイザと呼ぶことができる。ノズル50の動作は、以下でより詳細に説明される。霧化流体52は、液体Fおよび気体Fを含む。第2の導管70はノズル50に液体Fを供給し、第3の導管80はノズル50に気体Fを供給する。ノズル50は、液体Fと気体Fとを組み合わせて霧化流体52を形成するように構成される。
第2の導管70は、ノズル50と流体接続され、ノズル50に液体Fを供給する。一実施形態では、液体Fは、水、水酸化アンモニウム、および液体低汚染物質半導体製造洗浄製品(例えば、PlanarCleanAG-Ce1000K、ESC784洗浄液など)のうちの1つまたは複数を含む。一実施形態では、水は脱イオン(「DI」)水である。一実施形態では、第2の導管70は、液体源72をノズル50に流体接続する。一実施形態では、液体源72は、液体Fを収容するフィルタおよび/または1つまたは複数のタンクを含む。一実施形態では、液体源72は、DI水を生成するフィルタである。
第2の導管70は、フローバルブ74および流量センサ76を含む。フローバルブ74は、ノズル50に供給される液体Fの流量fを制御する。流量センサ76は、第2の導管70を通ってノズル50に供給される液体Fの流量fを検出する。一実施形態では、コントローラ90はフローバルブ74を制御する。コントローラ90は、後述するように、ノズル50に供給される液体Fの流量fを特定の量または特定の範囲内に制御することができる。コントローラ90は、流量センサ76を利用して、ノズル50に供給されている液体Fの流量fを検出することができる。
第3の導管80は、ノズル50に流体接続され、加圧気体Fをノズル50に供給する。一実施形態では、気体Fは、1つまたは複数の不活性気体および清浄な乾燥空気(CDA)を含む。一実施形態では、気体Fは、窒素、ヘリウム、ネオン、アルゴン、クリプトン、キセノンなどのうちの1つまたは複数を含み得るがこれらに限定されない不活性気体である。一実施形態では、気体Fは窒素である。一実施形態では、第1の導管80は、気体源82をノズル50に流体接続する。一実施形態では、液体源82は、フィルタおよび気体Fを収容する1つまたは複数のタンクの一方または両方を含む。一実施形態では、液体源82は、空気から精製窒素および/またはアルゴンを生成するフィルタである。
導管80は、フローバルブ84および流量センサ86を含む。フローバルブ84は、ノズル50に供給される気体Fの流量fを制御する。流量センサ86は、導管80を通ってノズル50に供給される気体Fの流量fを検出する。一実施形態では、コントローラ90はフローバルブ84を制御する。コントローラ90は、後述するように、ノズル50に供給される気体Fの流量fを特定の量または特定の範囲内に制御することができる。コントローラ90は、流量センサ86を利用して、ノズル50に供給されている気体Fの流量fを検出することができる。
図2は、センサアセンブリ10の一実施形態の断面図である。センサアセンブリ10は、入口20および出口22を有する通路12と、光学窓32と、光学センサ38と、ノズル50と、液体F用の第2の導管70と、気体F用の第3の導管80と、を含む。
プロセス流体Fは、通路12を通って流れることによってセンサアセンブリ10を通って流れる。通路12は、入口20から出口22まで延在する。プロセス流体Fは、入口20を通って入り、出口22を通って出るように構成される。光学窓32およびノズル50はそれぞれ、通路12に沿って配置される。
光学窓32は、通路12の側壁14を形成する。光学窓32は、内面34および外面36を含む。外面36は、内面34の反対側にある。一実施形態では、光学窓32の内面34は、通路12の側壁14を形成する。プロセス流体Fは、通路12を通って流れるときに光学窓32の内面34に接触する。光学窓32の内面34は、耐傷性材料で形成されている。一実施形態では、光学窓32の内面34は、ダイヤモンドまたはサファイアで作られる。一実施形態では、光学窓32の内面34はホウケイ酸ガラスで作られる。
光学センサ38は、光学窓32に取り付けられている。一実施形態では、光学センサ38は、光学窓32の外面36に取り付けられる。光学センサ38は、光学窓32を通して光を送出し、光学窓32内の光学センサ38に向かって送出された光を検出するように構成される。例えば、光学センサ38は、通路32に向かって方向Dに光を送出することができる。光学センサ38は、内面34でプロセス流体Fによって屈折された光を検出するように構成される。次いで、検出された光屈折を使用して、プロセス流体Fの屈折率を決定することができる。
導管70、80は、ノズル50に液体Fおよび気体Fを供給する。ノズル50は、液体Fおよび気体Fの霧化流体52を通路12内に吐出する。霧化流体52は、通路12の第2の側壁16の開口部18を通って吐出される。一実施形態では、第2の側壁16は第1の側壁14の反対側にある。一実施形態では、第2の側壁16はノズル50によって形成される。一実施形態では、霧化流体52、液体F、および気体Fは、通路12の入口20を通って入らない。霧化流体52は、光学窓32の内面34で吐出される。ノズル50は、光学窓32の内面34に衝突する方向に霧化流体52を吐出する。一実施形態では、霧化流体52の方向は、吐出方向Dと呼ぶことができる。一実施形態では、吐出方向Dは、光学窓32の内面34と交差する。一実施形態では、吐出方向Dは、光学窓32の内面34に対して垂直である。
上述したのと同様に、プロセス流体Fが光学窓32の内面34に沿って流れ、光学窓32の内面34を収縮させると、材料が光学窓の内面に蓄積する。一実施形態では、プロセス流体F中の固体研磨粒子は、光学窓32の内面34に付着して堆積する。
ノズル50は、光学窓32において霧化流体52を高速で吐出するように構成される。ノズル50の構成および動作については、以下でより詳細に説明する。霧化流体52中の液体Fの液滴は、光学窓32の内面34に高速で衝突する。一実施形態では、各高速衝撃は、衝撃点から内面34に沿って外側に移動する液体衝撃波を生成する。液体衝撃波は、内面に蓄積した材料を除去するせん断力を加える。一実施形態では、光学窓32への液滴の高速衝撃は、衝撃点でキャビテーションを引き起こす。キャビテーションは、光学窓32の内面34に付着した任意の材料を除去するようにさらに作用する。一実施形態では、霧化流体52は、光学窓32の内面34に付着した材料の大部分からほとんどすべてを除去することができる。一実施形態では、液体F用に選択された液体は、例えば、破片および粒子が光学窓32の内面34に再付着するのを防止することができる好ましいゼータ電位(例えば、反発対引き付け)を確立することができる。
一実施形態では、吐出方向は、内面34に対して垂直から変化してもよい。一実施形態では、ノズル50は、光学窓32の内面34に垂直な方向Dの45度以内の吐出方向Dに霧化流体52を吐出するように構成されてもよい。例えば、ノズル50は、吐出方向Dと内面34に垂直な方向Dとの間の角度αが45度未満であるように霧化流体52を吐出するように構成されてもよい。本開示の知識を有する当業者は、所望の洗浄効果を達成するように吐出方向Dを選択できることを理解するであろうことが理解されよう。
図2では、ノズル50および通路12は別個の部品であり、ノズル50にはねじ山24が取り付けられている。しかしながら、一実施形態におけるノズル50は、限定はしないが、クランプ、溶接、機械加工、それらの適切な組み合わせなどの異なる方法で取り付けられてもよいことを理解されたい。一実施形態では、通路12およびノズル50は、単一の連続した構成要素であってもよい。
図3は、ノズル50および導管70、80の拡大図である。上述したように、導管70,80は、ノズル50に液体Fおよび気体Fをそれぞれ供給する。一実施形態では、ノズル50は、液体Fおよび気体Fから霧化流体52を形成するためのチャンバ59を含む。
ノズル50は、内側チャネル54と、液体Fのための第1の入口58Aと、を含む。第2の導管70は、第1の入口58Aに接続し、ノズル50の第1の入口58Aに液体Fを供給する。第1の入口58Aは、内側チャネル54に流体接続されている。液体Fは、第1の入口58Aを介して、第2の導管70から内側チャネル54に流れる。液体Fは、内側チャネル54を通ってチャンバ59に流入する。
ノズル50は、外側チャネル56と、気体Fのための第2の入口58Bと、を含む。第2の導管80は、第2の入口58Bに接続し、ノズル50の第2の入口58Bに気体Fを供給する。第2の入口58Bは、外側チャネル56に流体接続されている。気体Fは、導管80から第2の入口58Bを介して外側チャネル56に流れる。気体Fは、外側チャネル56を通ってチャンバ59に流入する。
外側チャネル56は、内側チャネル54を取り囲む。内側チャネル54は、チャンバ59にある端部55を有する。端部55は、第1の入口58Aの反対側にある。一実施形態では、外側チャネル56は、内側チャネル54の端部55において第1のチャネル56と同心である。液体Fは内側チャネル54からチャンバ59に流入し、気体Fは外側チャネル54からチャンバ59に流入する。
気体Fは、外側チャネル56を出て、チャンバ59内の液体Fと混合する。気体Fは、液体Fに混合する際に、液体Fを液滴に分散させ、液体Fの液滴を加速させる。一実施形態では、外側チャネル56を出る気体Fは、内側チャネル54を出る液体Fよりも速い速度を有する。霧化流体52は、次いで、チャンバ59からノズル50の開口部18を通って吐出方向Dに導かれる。一実施形態では、吐出方向Dは、開口部18における霧化流体52の平均速度の方向である。
一実施形態では、ノズル50に供給された液体Fおよび気体Fのすべてが吐出される。霧化流体52は、光学窓32を洗浄する。ノズル50に供給される液体Fおよび気体Fの流量f、fを制御することにより、ノズル50が動作する。一実施形態では、上述のように、フローバルブ74、84(図1に示す)は、ノズル50への液体Fおよび気体Fの流量f、fを制御する。一実施形態では、フローバルブ74、84を閉じて、ノズル50による光学窓32の洗浄を停止する。一実施形態では、光学窓32の洗浄は、バルブ74、84の両方を開くことによって開始される。一実施形態では、コントローラ90は、プロセス流体F用のバルブ64が閉じられたときにのみ洗浄を開始するように構成される。
光学窓32の洗浄が望まれる場合、フローバルブ74、84が開かれて、液体Fおよび気体Fがノズル50に送られる。次いで、ノズル50は、光学窓32の内面34に霧化流体52を吐出し、光学窓32の内面34を洗浄する。一実施形態では、霧化流体52は、体積で約20%または20%未満の液体Fを含む。一実施形態では、霧化流体52は、体積で約0.65%または0.65%未満の液体Fを含む。一実施形態では、霧化流体52は、体積で約0.02%または0.02%超の液体Fを含む。一実施形態では、霧化流体52は、体積で約0.15%または0.15%超の液体Fを含む。一実施形態では、霧化流体52は、体積で約0.02%~20%の液体Fを含む。
一実施形態では、光学窓32が洗浄されているとき、第2の導管70は、約0.5~2リットル/分(LPM)の液体Fをノズル50に供給する。一実施形態では、光学窓32が洗浄されているとき、第3の導管80は、約10~300標準リットル/分(SLPM)の気体Fをノズル50に供給する。一実施形態では、気体Fの流量fに対する液体Fの流量fの比(f:f)は、約0.05:300から約2:10である。一実施形態では、コントローラ90は、液体Fおよび気体Fの上記流量f、fがノズル50に供給されるように、フローバルブ74、84を調整するように構成されてもよい。一実施形態では、コントローラ90は、プロセス流体Fが通路12を通って流入しているときにフローバルブ74、84を閉じるように構成されてもよい。
図4は、センサアセンブリ内の光学窓を洗浄する方法100の一実施形態のブロック図である。例えば、方法100は、図1~図3のセンサアセンブリ10内の光学窓32を洗浄するためのものであってもよい。一実施形態では、光学窓32は、センサシステム(例えば、センサシステム1)の一部であってもよい。本方法は110で開始する。
110において、プロセス流体(例えば、プロセス流体F)の流れが、センサアセンブリ(例えば、センサアセンブリ10)の通路(例えば、通路12)に供給される。センサアセンブリは、通路、光学窓(例えば、光学窓32)、および光学センサ(例えば、光学センサ38)を含む。光学センサは、光学窓を通って通路に向かって光を送出して流体の光学特性を検出するように構成される。プロセス流体は、通路を通って流れる間に光学窓に接触する。次いで、方法100は120に進む。
120において、通路へのプロセス流体の流れが停止される。一実施形態では、フローバルブ(例えば、フローバルブ64)がプロセス流体の流れを制御する。一実施形態では、プロセス流体120の流れを停止することは、フローバルブを閉じることを含むことができる。次いで、方法100は130に進む。
130において、気体(例えば、気体F)および液体(例えば、液体F)を含む霧化流体(例えば、霧化流体52)が形成される。一実施形態では、霧化流体130を形成することは、液体の流れをノズル132(例えば、ノズル50)に供給することを含む。一実施形態では、液体は導管(例えば、導管70)によってノズルに供給される。導管は、ノズルの入口(例えば、第1の入口58A)に液体を供給することができる。一実施形態では、霧化流体130を形成することは、気体の流れをノズル134に供給することを含む。一実施形態では、気体は、第2の導管(例えば、導管80)によってノズルに供給される。導管は、第2の入口(例えば、第2の入口58B)に気体を供給することができる。
一実施形態では、霧化流体130を形成することはまた、ノズル136内の液体の流れと気体の流れとを組み合わせることを含む。液体の流れと気体の流れとが合わさって霧化流体を形成する。一実施形態では、ノズル136はチャンバ(例えば、チャンバ59)を含む。液体の流れおよびフロー気体はそれぞれチャンバに流入し、チャンバ内で合流する。次いで、方法100は130から140に進む。
140において、霧化流体は、ノズルによって通路に吐出される。霧化流体は、光学窓32の内面34と交差する吐出方向(例えば、吐出方向D)に吐出される。霧化流体中の液滴は、内面34に高速で衝突するように構成される。光学窓32の内面34に付着した物質は、液滴の高速衝撃によって除去される。
一実施形態では、方法100は、図1に示すような、または上述したセンサシステム1と、図1~図3に示す、または上述したセンサアセンブリ1とに基づいて修正されてもよい。例えば、方法100は、バルブを用いて液体の供給を停止することを含むことができる。
態様
態様1~7のいずれかを態様8~19のいずれかと組み合わせることができ、態様8~15のいずれかを態様16~19のいずれかと組み合わせることができる。
態様1.センサアセンブリであって、プロセス流体がセンサアセンブリを通って流れるための通路と、通路の側壁の第1の部分を形成する内面を含む光学窓と、プロセス流体の光学特性を検出するために光学窓を通って通路に向かって光を送出するように構成された光学センサと、霧化流体の形態の液体および気体を光学窓の内面に衝突する方向に通路内に吐出するためのノズルと、を含むセンサアセンブリ。
態様2.霧化流体は、通路の側壁の第2の部分の開口部を通って通路に吐出される、態様1に記載のセンサアセンブリ。
態様3.側壁の第1の部分と側壁の第2の部分が、通路内の相対向する側に配置される、態様2に記載のセンサアセンブリ。
態様4.吐出方向と光学窓の内面に垂直な方向との間の角度は45度未満である、態様1~3のいずれか1つに記載のセンサアセンブリ。
態様5.ノズルは、気体のための外側チャネルおよび液体のための内側チャネルを含み、外側チャネルは内側チャネルを取り囲み、ノズルが、気体を液体と組み合わせることによって霧化流体を形成する、態様1~4のいずれか1つに記載のセンサアセンブリ。
態様6.霧化流体は体積で約0.05~20%の液体を含む、態様1~5のいずれか1つに記載のセンサアセンブリ。
態様7.液体は脱イオン水であり、気体は不活性気体である、態様1~6のいずれか1つに記載のセンサアセンブリ。
態様8.プロセス流体のためのセンサアセンブリであって、プロセス流体がセンサアセンブリを通って流れるための通路と、通路の側壁を形成する内面を有する光学窓と、プロセス流体の光学特性を検出するために光学窓を通って通路に向かって光を送出するように構成された光学センサと、液体および気体を含む霧化流体を形成するためのノズルであって、光学窓の内面に衝突する方向に霧化流体を通路内に吐出するように構成されたノズルと、を含むセンサアセンブリと、ノズルに液体を供給するためにノズルに流体接続された第1の導管と、ノズルに気体を供給するためにノズルに流体接続された第2の導管と、を含むセンサシステム。
態様9.プロセス流体は光学窓の内面に接触する、態様8に記載のセンサシステム。
態様10.霧化流体は、通路の側壁の開口部を通って通路に吐出される、態様8または9に記載のセンサシステム。
態様11.通路の側壁の開口部と光学窓が、通路内の相対向する側に配置される、態様10に記載のセンサシステム。
態様12.ノズルは外側チャネルおよび内側チャネルを含み、外側チャネルは内側チャネルを取り囲み、第1の導管は、ノズルの内側チャネルに液体を供給し、第2の導管は、ノズルの外側チャネルに気体を供給する、態様8~11のいずれか1つに記載のセンサシステム。
態様13.霧化流体が体積で約0.02%~20%の液体を含むように、第1の導管がノズルに液体の流量を供給し、第2の導管がノズルに気体の流量を供給する、態様8~12のいずれか1つに記載のセンサシステム。
態様14.第1の導管は、ノズルに液体の流量を供給し、第2の導管は、ノズルに気体の流量を供給し、気体の体積に対する液体の流量の比は、0.05:300から2:10である、態様8~13のいずれか1つに記載のセンサシステム。
態様15.第1の導管を通ってノズルに向かう液体の流れを制御する第1のフローバルブと、第2の導管を通ってノズルに向かう気体の流れを制御する第2のフローバルブと、をさらに含み、コントローラは、プロセス流体が通路に流入しているときに第1のフローバルブおよび第2のフローバルブを閉じるように構成される、態様8~14のいずれか1つに記載のセンサシステム。
態様16.センサアセンブリ内の光学窓を洗浄する方法であって、センサアセンブリは、通路と、通路を通って流れるプロセス流体の光学特性を検出するために光学窓を介して通路に向かって光を送出する光学センサと、を含み、本方法は、気体と液体とを含む霧化流体を形成することと、霧化流体を光学窓の内面に衝突する方向に通路内に吐出することと、を含む方法。
態様17.霧化流体を形成することは、液体の流れをノズルに供給することと、気体の流れをノズルに供給することと、ノズル内で、液体の流れと気体の流れとを混合することと、を含む、態様16に記載の方法。
態様18.霧化流体を光学窓の内面に衝突する方向に通路内に吐出することは、霧化流体を通路の側壁の開口部を通して方向に導くことを含む、態様16または17に記載の方法。
態様19.プロセス流体の流れを通路に供給することと、霧化流体を通路内に吐出する前に、通路内へのプロセス流体の流れを停止させることと、をさらに含む、態様16~18のいずれか1つに記載の方法。
本開示のいくつかの例示的な実施形態をこのように記載してきたが、当業者であれば、添付の特許請求の範囲内でさらに他の実施形態を作製および使用できることを容易に理解するであろう。この文書に含まれる開示の多くの利点は、上記の説明に記載されている。しかしながら、この開示は、多くの点において例示的なものに過ぎないことが理解されるであろう。本開示の範囲を逸脱することなく、特に部品の形状、サイズ、および配置の事項について、詳細な変更を行うことができる。本開示の範囲は、言うまでもなく、添付の特許請求の範囲が表現されている文言で規定される。

Claims (5)

  1. プロセス流体がセンサアセンブリを通って流れるための通路と、通路の側壁の第1の部分を形成する内面および内面の反対側にある外面を含む光学窓と、光学窓の外面に取り付けられ、光学窓を通って通路に向かって光を送出してプロセス流体の光学特性を検出するように構成された光学センサと、霧化流体の形態の液体及び気体を光学窓の内面に衝突する方向に通路内に吐出すべく側壁の第2の部分を形成するように構成されたノズルと、を含み、側壁の第1の部分と側壁の第2の部分とは、通路内の相対向する側に配置される、センサアセンブリ。
  2. 霧化流体が、通路の側壁の第2の部分の開口部を通って通路に吐出される、請求項1に記載のセンサアセンブリ。
  3. ノズルは、気体のための外側チャネル及び液体のための内側チャネルを含み、外側チャネルは内側チャネルを取り囲み、ノズルが、気体を液体と組み合わせることによって霧化流体を形成する、請求項1に記載のセンサアセンブリ。
  4. プロセス流体がセンサアセンブリを通って流れるための通路と、通路の側壁の第1の部分を形成する内面および内面の反対側にある外面を有する光学窓と、光学窓の外面に取り付けられ、光学窓を通って通路に向かって光を送出してプロセス流体の光学特性を検出するように構成された光学センサと、光学窓の内面に衝突する方向に霧化流体を通路内に吐出すべく側壁の第2の部分を形成するように構成されたノズルであって、液体及び気体を含む霧化流体を形成するためのノズルとを含み、側壁の第1の部分と側壁の第2の部分とは、通路内の相対向する側に配置される、プロセス流体のためのセンサアセンブリと、ノズルに液体を供給するためにノズルに流体接続された第1の導管と、ノズルに気体を供給するためにノズルに流体接続された第2の導管とを含むセンサシステム。
  5. 第1の導管を通ってノズルに向かう液体の流れを制御する第1のフローバルブと、第2の導管を通ってノズルに向かう気体の流れを制御する第2のフローバルブと、を更に含み、コントローラは、プロセス流体が通路に流入しているときに第1のフローバルブ及び第2のフローバルブを閉じるように構成される、請求項4に記載のセンサシステム。
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