JP7342776B2 - イオン分析方法、イオン分析装置、及びイオン分析装置用プログラム - Google Patents
イオン分析方法、イオン分析装置、及びイオン分析装置用プログラム Download PDFInfo
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Description
試料の光学画像を取得し、
前記光学画像を表示画面上に表示し、
前記試料に対してレーザ光を照射する複数の測定点を配置する領域を設定し、
前記領域を前記光学画像に重畳表示する
ものである。
前記試料の光学画像を取得する画像取得部と、
表示部と、
前記試料に対してレーザ光を照射する複数の測定点を配置する領域を設定する入力を受け付ける測定領域入力受付部と、
前記領域を前記光学画像に重畳させて前記表示部に表示する表示処理部と
を備える。
試料の光学画像を取得する画像取得部を備えたイオン分析装置及び表示部に接続されたコンピュータを、
前記試料に対してレーザ光を照射する複数の測定点を配置する領域を設定する入力を受け付ける測定領域入力受付部と、
前記領域を前記光学画像に重畳させて前記表示部に表示する表示処理部
として動作させるものである。
上述した複数の例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
一態様は、試料にレーザ光を照射することにより生成されるイオンを分析するイオン分析装置であって、
前記試料の光学画像を取得する画像取得部と、
表示部と、
前記試料に対してレーザ光を照射する複数の測定点を配置する領域を設定する入力を受け付ける測定領域入力受付部と、
前記領域を前記光学画像に重畳させて前記表示部に表示する表示処理部と
を備える。
別の一態様に係るイオン分析方法は、
試料の光学画像を取得し、
前記光学画像を表示画面上に表示し、
前記試料に対してレーザ光を照射する複数の測定点を配置する領域を設定し、
前記領域を前記光学画像に重畳表示する
ものである。
さらに別の一態様に係るイオン分析装置用プログラムは、試料の光学画像を取得する画像取得部を備えたイオン分析装置及び表示部に接続されたコンピュータを、
前記試料に対してレーザ光を照射する複数の測定点を配置する領域を設定する入力を受け付ける測定領域入力受付部と、
前記領域を前記光学画像に重畳させて前記表示部に表示する表示処理部
として動作させるものである。
第1項に記載のイオン分析装置において、
前記測定領域入力受付部は、さらに、前記複数の測定点の間隔又は数を設定する入力を受け付け、
前記表示処理部は、さらに、前記領域内に前記複数の測定点を表示する。
第1項又は第2項に記載のイオン分析装置において、さらに、
前記複数の測定点に対して所定の順番にレーザ光を照射してイオンを生成及び分析する分析実行部
を備える。
第1項から第3項のいずれかに記載のイオン分析装置において、
前記表示処理部は、前記イオンの生成及び分析を実行中である測定点が画面の中央に位置するように前記光学画像の位置を変更する。
第1項から第4項のいずれかに記載のイオン分析装置において、
前記表示処理部は、さらに、前記イオンの生成及び分析を終了した測定点を、それ以外の測定点と異なる形態で表示する。
第1項から第5項のいずれかに記載のイオン分析装置において、さらに、
前記複数の測定点において取得した測定データを収集して統合する測定データ収集部
を備える。
10…イオン化室
111…サンプルプレート
112…ウェル
113…試料
12…試料ステージ
13…ステージ移動機構
20…質量分析室
201…窓部
22…第1イオンレンズ
23…偏向部
24…第2イオンレンズ
25…イオントラップ
26…イオン検出器
27…ガス供給部
30…電圧印加部
40…制御・処理部
41…記憶部
42…質量分析用プログラム
421…光学画像取得部
422…測定領域入力受付部
423…表示処理部
424…分析実行部
425…測定データ収集部
51…表示部
52…入力部
3…レーザ光源
4…ハーフミラー
5…カメラ
60…光学画像
61…クロスヘア
62…測定点
621…測定実行中の測定点
622…測定終了後の測定点
Claims (8)
- 試料にレーザ光を照射することにより生成されるイオンを分析するイオン分析装置であって、
前記試料の光学画像を取得する画像取得部と、
表示部と、
前記試料に対してレーザ光を照射する複数の測定点を設定する入力を受け付ける測定領域入力受付部と、
前記複数の測定点を前記光学画像に重畳させて前記表示部に表示する表示処理部と
を備えるイオン分析装置。 - 前記測定領域入力受付部は、さらに、前記複数の測定点の間隔又は数を設定する入力を受け付ける、請求項1に記載のイオン分析装置。
- さらに、前記複数の測定点に対して所定の順番にレーザ光を照射してイオンを生成及び分析する分析実行部を備える、請求項1又は2に記載のイオン分析装置。
- 前記表示処理部は、前記イオンの生成及び分析を実行中である測定点が画面の中央に位置するように前記光学画像の位置を変更する、請求項1から3のいずれかに記載のイオン分析装置。
- 前記表示処理部は、さらに、前記イオンの生成及び分析を終了した測定点を、それ以外の測定点と異なる形態で表示する、請求項1から4のいずれかに記載のイオン分析装置。
- さらに、
前記複数の測定点において取得した測定データを収集して統合する測定データ収集部
を備える、請求項1から5のいずれかに記載のイオン分析装置。 - 試料の光学画像を取得し、
前記光学画像を表示画面上に表示し、
前記試料に対してレーザ光を照射する複数の測定点を設定し、
前記複数の測定点を前記光学画像に重畳表示する
イオン分析方法。 - 試料の光学画像を取得する画像取得部を備えたイオン分析装置及び表示部に接続されたコンピュータを、
前記試料に対してレーザ光を照射する複数の測定点を設定する入力を受け付ける測定領域入力受付部と、
前記複数の測定点を前記光学画像に重畳させて前記表示部に表示する表示処理部
として動作させる、イオン分析装置用プログラム。
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JP2020075281A JP7342776B2 (ja) | 2020-04-21 | 2020-04-21 | イオン分析方法、イオン分析装置、及びイオン分析装置用プログラム |
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