JP7336440B2 - 高い硬度および弾性率を有するイオン交換可能な透明ガーナイト-スピネル・ガラスセラミックス - Google Patents

高い硬度および弾性率を有するイオン交換可能な透明ガーナイト-スピネル・ガラスセラミックス Download PDF

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Description

関連出願
本願は、2017年11月30日に出願された米国特許仮出願第62/592,844号の優先権の利益を主張するものであり、その内容に依拠し、その全文を参照により本明細書に援用する。
本明細書は、概して、透明なガラスセラミックス組成物に関する。より具体的には、本明細書は、成形して電子機器のカバーガラスまたは筐体にすることができる、透明ガーナイト-スピネル・ガラスセラミックスに関する。
スマートフォン、タブレット、および(たとえば腕時計およびフィットネス・トラッカーなどの)ウェアラブル機器などの携帯型電子機器は、ますます小型化し、かつより複雑化している。したがって、そのような携帯型電子機器の少なくとも1つの外表面に従来使用されている材料も、より複雑化する一方である。たとえば、消費者の需要を満たすため携帯型電子機器がより小さく薄くなれば、こうした携帯型電子機器に使われるディスプレイカバーおよび筐体もより小さく薄くなり、したがってこうした構成要素の形成に用いられる材料にもより高性能が求められる。
したがって、携帯型電子機器に使用される、壊れにくいなどのより高い性能を示す材料に対する需要がある。
態様(1)では、ガラスセラミックスが提供される。ガラスセラミックスは、(MgZn1-x)Al[式中、xは1未満である]を含む第1の結晶相、および正方晶系ZrOを含む第2の結晶相を含む。ガラスセラミックスは可視領域で透明である。
態様(2)では、LiOおよびNaOの少なくとも1つをさらに含む、態様(1)記載のガラスセラミックスが提供される。
態様(3)では、LiOおよびNaOをさらに含む、態様(1)または(2)記載のガラスセラミックスが提供される。
態様(4)では、xが0よりも大きい、態様(1)から(3)までのいずれか1つ記載のガラスセラミックスが提供される。
態様(5)では、約35モル%~約70モル%のSiOをさらに含む、態様(1)から(4)までのいずれか1つ記載のガラスセラミックスが提供される。
態様(6)では、約35モル%~約60モル%のSiO;約13モル%よりも多くのAl;約8モル%よりも多くのZnO;0モル%~約8モル%のMgO;および0モル%よりも多く約10モル%までのZrOをさらに含む、態様(1)から(5)までのいずれか1つ記載のガラスセラミックスが提供される。
態様(7)では、0モル%~約6モル%のTiO;0モル%~約10モル%のNaO;0モル%~約8モル%のLiO;0モル%~約10モル%のHfO;0モル%~約0.1モル%のAs;および0モル%~約0.3モル%のSnOをさらに含む、態様(1)から(6)までのいずれか1つ記載のガラスセラミックスが提供される。
態様(8)では、ZrO+TiO+HfO≧約5モル%である、態様(1)から(7)までのいずれか1つ記載のガラスセラミックスが提供される。
態様(9)では、実質的にTiO不含である、態様(1)から(8)までのいずれか1つ記載のガラスセラミックスが提供される。
態様(10)では、少なくとも約10質量%の結晶化度を示す、態様(1)から(9)までのいずれか1つ記載のガラスセラミックスが提供される。
態様(11)では、可視領域で少なくとも約90%の透過率を有する、態様(1)から(10)までのいずれか1つ記載のガラスセラミックスが提供される。
態様(12)では、実質的に無色である、態様(1)から(11)までのいずれか1つ記載のガラスセラミックスが提供される。
態様(13)では、第1の結晶相の結晶子サイズが約10nm未満である、態様(1)から(12)までのいずれか1つ記載のガラスセラミックスが提供される。
態様(14)では、ガラスセラミックスの表面から圧縮深さまで延在する圧縮応力領域をさらに含む、態様(1)から(13)までのいずれか1つ記載のガラスセラミックスが提供される。
態様(15)では、少なくとも約9GPaの硬度を有する、態様(1)から(14)までのいずれか1つ記載のガラスセラミックスが提供される。
態様(16)では、少なくとも約98GPaのヤング率を有する、態様(1)から(15)までのいずれか1つ記載のガラスセラミックスが提供される。
態様(17)では、民生用電子製品が提供される。該民生用電子製品は、前面、背面、および側面を含む筐体;少なくとも部分的には筐体内にあり、少なくともコントローラ、メモリ、およびディスプレイを含む電気部品であって、該ディスプレイが筐体の前面にあるか前面に隣接している、電気部品;およびディスプレイ上に配置されたカバー基材を含む。筐体またはカバー基材の少なくとも1つの少なくとも一部分は、態様(1)から(16)までのいずれか1つ記載のガラスセラミックスを含む。
態様(18)では、方法が提供される。該方法は、前駆体ガラスをセラミックス化して、可視領域で透明なガラスセラミックスを形成するステップを含む。ガラスセラミックスは、(MgZn1-x)Al[式中、xは1未満である]を含む第1の結晶相、および正方晶系ZrOを含む第2の結晶相を含む。
態様(19)では、セラミックス化ステップの前に、前駆体ガラスにおいて核を形成するステップをさらに含む、態様(18)記載の方法が提供される。
態様(20)では、核を形成するステップが、前駆体ガラスを少なくとも約700℃の温度で少なくとも約1時間かけて加熱処理するステップを含む、態様(19)記載の方法が提供される。
態様(21)では、セラミックス化ステップが、前駆体ガラスを少なくとも約750℃の温度で少なくとも約30分かけて加熱処理するステップを含む、態様(18)から(20)までのいずれか1つ記載の方法が提供される。
態様(22)では、ガラスセラミックスをイオン交換処理するステップをさらに含む、態様(18)から(21)までのいずれか1つ記載の方法が提供される。
態様(23)では、イオン交換処理するステップが、ガラスセラミックスを混合イオン交換浴と接触させるステップを含む、態様(22)記載の方法が提供される。
態様(24)では、ガラス組成物が提供される。該ガラス組成物は、約35モル%~約60モル%のSiO;約13モル%よりも多くのAl;約8モル%よりも多くのZnO;0モル%~約8モル%のMgO;および0モル%よりも多く約10モル%までのZrOを含む。
態様(25)では、0モル%~約6モル%のTiO;0モル%~約10モル%のNaO;0モル%~約8モル%のLiO;0モル%~約10モル%のHfO;0モル%~約0.1モル%のAs;および0モル%~約0.3モル%のSnOをさらに含む、態様(24)記載のガラス組成物が提供される。
以下の詳細な説明では、さらなる特徴および利点が記載され、当業者にはその説明からその一部が容易に明らかになるか、または以下の詳細な説明、請求項、および添付の図面を含め、本明細書に記載される実施形態を実施することにより認識されよう。
以上の一般的な説明も、以下の詳細な説明も、さまざまな実施形態を説明していること、ならびに特許請求の主題の本質および特徴を理解するための概要または枠組みを提供するものであることを理解されたい。添付の図面は、さまざまな実施形態がさらに理解できるように本明細書に含まれ、組み込まれ、そして一部を構成している。図面は、本明細書に記載されるさまざまな実施形態を例示しており、また本明細書と一緒に特許請求の主題の原理および働きを説明する役割を果たす。
本明細書で開示され記載される実施形態の、表面に圧縮応力層を有するガラスセラミックスの断面の概略図である。 本明細書で開示されるガラスセラミックス物品のいずれかを備える例示的電子機器の平面図である。 図2Aの例示的電子機器の斜視図である。 一実施形態のガラスセラミックスのトンネル電子顕微鏡画像である。 実施形態のNaO含有量が異なるさまざまなガラスセラミックスの、バルクZnO+MgO濃度の関数としての、(a)硬度および(b)ヤング率のプロットである。 一実施形態のイオン交換ガラスセラミックスの、表面下深さの関数としての、NaOおよびKOの濃度のプロットである。 実施形態のアルカリ金属含有量が異なるさまざまなガラスセラミックスの、イオン交換中の時間の平方根の関数としての、質量パーセントの差のプロットである。 実施形態のガラスセラミックスおよび比較例ガラスの、波長の関数としての、透過率のプロットである。 一実施形態のガラスセラミックスのリングオンリング試験および研磨リングオンリング試験の結果のワイブルプロットである。 リングオンリング試験装置の概略図である。
さまざまな実施形態の透明ガーナイト-スピネル・ガラスセラミックスを詳細に参照していく。特に、透明ガーナイト-スピネル・ガラスセラミックスは、高い硬度を有しており、かつイオン交換処理することができる。したがって、透明ガーナイト-スピネル・ガラスセラミックスは、携帯型電子機器のディスプレイカバーおよび筐体としての使用に適している。
以下の記載では、図面に示すいくつかの図において、類似の参照符号は、類似のまたは対応する部分を指す。また、特に断らない限り、「上」「下」「外方」「内方」等などの用語は、便宜上の語であって、限定的な用語とは解釈されないことが理解される。ある群が、複数要素の群の少なくとも1つ、またはそれらの組み合わせからなると記載される場合はいつでも、該群は、個別であれ相互の組み合わせであれ記述要素の任意の数からなり得ることが理解される。特に断らない限り、値の範囲が記述される場合は、該範囲の上限および下限の両方、ならびにその間の任意の範囲が含まれる。本明細書で使用される場合、特に断らない限り、不定冠詞の「a」、「an」、および対応する定冠詞の「the」は、「少なくとも1つ」または「1つ以上」を意味する。また、本明細書および図面で開示されるさまざまな特徴は、任意のあらゆる組み合わせで使用できることが理解される。
特に断らない限り、本明細書に記載されるガラスのすべての組成は、モルパーセント(モル%)に換算して表され、構成要素は酸化物ベースで提供される。特に断らない限り、すべての温度は摂氏(℃)に換算して表される。
なお、本明細書で使用される場合、「実質的に」および「約」という用語が、任意の量的比較、値、測定、または他の表示に起因し得る本質的な不確実度を表すために用いられ得る。これらの用語はまた、本明細書で使用される場合、論点となる主題の基本的機能を変化させずに量的表示が記載の参照と異なり得る度合いを表すために用いられ得る。たとえば、「実質的にKO不含である」ガラスとは、KOが積極的にガラスに添加または混錬されてはいないが、汚染物質として、量にして約0.01モル%未満など、ごく少量だけ存在し得るガラスである。本明細書で使用される場合、「約」という用語がある値を修飾するために用いられるときは、ちょうどの値も開示される。
ガラスセラミックスは、第1の結晶相、第2の結晶相、および残存ガラス相を含有する。第1の結晶相が主な結晶相であり得、本明細書では、質量基準でガラスセラミックスの最大画分を占める結晶相、と定義される。したがって、第2の結晶相は、第1の結晶相のガラスセラミックスの質量パーセントよりも少ない質量パーセントで存在し得る。いくつかの実施形態では、ガラスセラミックスは、3つ以上の結晶相を含み得る。
実施形態では、第1の結晶相は、(MgZn1-x)Alを含み、式中、xは1未満である。結晶相(MgZn1-x)Alは、一般に、ガーナイト-スピネル固溶体と呼ばれることがあり、xがゼロであれば結晶相は純粋なガーナイトであると理解される。実施形態では、xは、0以上、たとえば約0.1以上、約0.2以上、約0.3以上、約0.4以上、約0.5以上、約0.6以上、約0.7以上、約0.8以上、または約0.9以上であり得る。実施形態では、xは、1.0未満、たとえば約0.9以下、約0.8以下、約0.7以下、約0.6以下、約0.5以下、約0.4以下、約0.3以下、約0.2以下、または約0.1以下であり得る。実施形態では、上記の範囲はいずれも、任意の他の範囲と組み合わせることができることを理解されたい。実施形態では、xは、0以上1.0未満、たとえば約0.1以上約0.9以下、約0.2以上約0.8以下、約0.3以上約0.7以下、または約0.4以上約0.6以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲であり得る。
第1の結晶相は、ガラスセラミックスの透明度を低下させないほど小さい結晶子サイズを有し得る。結晶子サイズがより大きいと、不透明なガラスセラミックスとなり得る。実施形態では、第1の結晶相は、約15nm未満、たとえば約14nm未満、約13nm未満、約12nm未満、約11nm未満、または約10nm未満の結晶子サイズを有する。本明細書で使用される結晶子サイズは、特に断らない限り、5~80度の2θを走査する粉末X線回析(XRD)分析により決定される。結晶子サイズは、相同定および定量分析に用いられるソフトウェア・パッケージ、MDI Jadeで利用できるScherrer式の機能を使って推定した。
実施形態では、第2の結晶相は、正方晶系ジルコニア(ZrO)を含む。ガラスセラミックスにおける正方晶系ZrOの形成は、前駆体ガラス中にZrOが存在することを必要とする。何ら特定の理論に縛られるものではないが、正方晶系ZrO結晶相は、セラミックス化中、(MgZn1-x)Al結晶相よりも前に結晶化し、(MgZn1-x)Al結晶相の核形成(nucleartion)部位となると考えられている。さらに、何ら特定の理論に縛られるものではないが、ガラスセラミックスに含まれるTiOは、正方晶系ZrO相に分配され、正方晶系ZrO相の核形成剤となると考えられている。いくつかの実施形態では、前駆体ガラスの組成およびセラミックス化条件により、上記以外のさらなる結晶相を含むガラスセラミックスが生じ得る。
実施形態では、ガラスセラミックスの全結晶化度は、硬度、ヤング率、および耐擦傷性などの機械的特性の増大をもたらすほど高いが、ガラスセラミックスの透明度が低下しないほど低い。本明細書で使用される場合、全結晶化度は質量%で提供され、ガラスセラミックス中に存在するすべての結晶相の質量%の和を指す。実施形態では、全結晶化度は、約10質量%以上、たとえば約15質量%以上、約20質量%以上、約25質量%以上、約30質量%以上、約35質量%以上、約40質量%以上、約45質量%以上、または約50質量%以上である。実施形態では、全結晶化度は、約50質量%以下、たとえば約45質量%以下、約40質量%以下、約35質量%以下、約30質量%以下、約25質量%以下、約20質量%以下、または約15質量%以下である。実施形態では、上記の範囲はいずれも、任意の他の範囲と組み合わせることができることを理解されたい。実施形態では、ガラスセラミックスの全結晶化度は、約10質量%以上約50質量%以下、たとえば約15質量%以上約45質量%以下、約20質量%以上約40質量%以下、または約25質量%以上約35質量%以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲である。ガラスセラミックスの全結晶化度は、上記のように収集したXRDデータのリートベルト定量分析により決定される。リートベルト分析は、最小二乗法を使ってXRDデータをモデルし、次いで試料中の相の濃度を、同定された相の既知の格子およびスケール因子に基づき決定する。
ガラスセラミックスは透明である。本明細書で使用される場合、ガラスセラミックスは、可視領域(380nm~760nm)で少なくとも約80%の透過率を示す場合に透明であるとみなされる。本明細書で使用される場合、透過率は、全透過率を指し、150mmの積分球を有するPerkin Elmer Lambda 950 UV/VIS/NIR分光測光器で測定される。試料を球の入射ポートに配置し、広角度の散乱光を集められるようにした。全透過率データを、球の出射ポート上のSpectralon反射ディスクを用いて収集した。全透過率パーセント(%T)を、オープンビーム基線測定に対し相対的に計算した。実施形態では、ガラスセラミックスは、可視領域での約80%以上、たとえば約81%以上、約82%以上、約83%以上、約84%以上、約85%以上、約86%以上、約87%以上、約88%以上、約89%以上、約90%以上、またはそれよりも高い透過率を示す。
実施形態では、ガラスセラミックスは、無色または実質的に無色である。本明細書で使用される場合、実質的に無色とは、次の色座標空間を指す:L*>90、a* -0.2~0.2、およびb* -0.1~0.6。色座標は、積分球を有する構成のUV/Vis/NIR分光測光器を用いて測定される。測定は、380nm~770nmの波長について、2nm間隔で、光源D65、A、およびF2を用いて10°の観測視野で実行した。CIE系の色空間を決定する手順は、“Standard practice for computing the colors of objects by using the CIR system”(ASTM E308-08)に、より詳しく記載されている。
実施形態では、ガラスセラミックスは、たとえば増加した耐擦傷性を与えることで、ガラスセラミックスがより破壊しにくくなるような硬度を有し得る。本明細書で使用される場合、硬度はナノ圧子を用いて測定され、特に断らない限り、GPaとして報告される。ナノ圧子測定を、ダイヤモンド製Berkovichチップを使用し、Agilent G200ナノ圧子を用いて実施される連続剛性測定法により実施した。連続剛性測定法は、試験片の表面に押し込まれるチップに正弦波変位小信号(45Hzで振幅1nm)を重畳し、荷重、深さ、および接触剛性を連続的に決定する。何ら特定の理論に縛られるものではないが、ガラスセラミックスの硬度は、少なくとも部分的には、それが含有する(MgZn1-x)Alおよび正方晶系ZrO結晶相の硬度によると考えられている。
実施形態では、ガラスセラミックスは、約9GPa以上、たとえば約9.1GPa以上、約9.2GPa以上、約9.3GPa以上、約9.4GPa以上、約9.5GPa以上、約9.6GPa以上、約9.7GPa以上、約9.8GPa以上、約9.9GPa以上、約10.0GPa以上、約10.1GPa以上、約10.2GPa以上、約10.3GPa以上、約10.4GPa以上、約10.5GPa以上、約10.6GPa以上、約10.7GPa以上、約10.8GPa以上、約10.9GPa以上、約11.0GPa以上、または約11.1GPa以上の硬度を有する。実施形態では、上記の範囲はいずれも、任意の他の範囲と組み合わせることができることを理解されたい。実施形態では、ガラスセラミックスは、約9.0GPa以上約11.2GPa以下、たとえば約9.1GPa以上約11.1GPa以下、約9.2GPa以上約11.0GPa以下、約9.3GPa以上約10.9GPa以下、約9.4GPa以上約10.8GPa以下、約9.5GPa以上約10.7GPa以下、約9.6GPa以上約10.6GPa以下、約9.7GPa以上約10.5GPa以下、約9.8GPa以上約10.4GPa以下、約9.9GPa以上約10.3GPa以下、または約10.0GPa以上約10.2GPa以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲の硬度を有する。
実施形態のガラスセラミックスは、約98.0GPa以上、たとえば約99.0GPa以上、約100.0GPa以上、約101.0GPa以上、約102.0GPa以上、約103.0GPa以上、約104.0GPa以上、約105.0GPa以上、約106.0GPa以上、約107.0GPa以上、約108.0GPa以上、約109.0GPa以上、約110.0GPa以上、約111.0GPa以上、約112.0GPa以上、または約113.0GPa以上のヤング率を有し得る。実施形態では、上記の範囲はいずれも、任意の他の範囲と組み合わせることができることを理解されたい。実施形態では、ガラスセラミックスは、約98.0GPa以上約114.0GPa以下、たとえば約99.0GPa以上約113.0GPa以下、約100.0GPa以上約112.0GPa以下、約101.0GPa以上約111.0GPa以下、約102.0GPa以上約110.0GPa以下、約103.0GPa以上約109.0GPa以下、約104.0GPa以上約108.0GPa以下、または約105.0GPa以上約107.0GPa以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲のヤング率を有する。本開示に記述するヤング率の値は、“Standard Guide for Resonant Ultrasound Spectroscopy for Defect Detection in Both Metallic and Non-metallic Parts”と題されるASTM E2001-13に記載の一般的なタイプの共鳴超音波スペクトロスコピー技法により測定される値を指し、特に断らない限り、GPaとして報告される。
ガラスセラミックスは、ガラスセラミックスの構造的完全性に対する有害な効果なしに、最高約800℃の温度でのガラスセラミックスの追加処理を可能にするほど高い歪点および徐冷点を有し得る。この追加処理は、イオン交換などの化学強化を含み得る。このような高い処理温度によって、追加処理の効率を、追加処理に必要な時間の削減などにより高めることができる。実施形態では、歪点は、約700℃以上約900℃以下などの約900℃以下であり得る。これらの歪点は、熱安定性の向上、およびイオン交換処理の可能な温度範囲の拡大を可能にする。歪点が低すぎると、ガラスセラミックスの追加処理が困難になり得る。歪点が高すぎると、前駆体ガラス組成物の製造が困難になり得る。
次に、透明ガーナイト-スピネル・ガラスセラミックスの組成について記載する。本明細書に記載されるガラスセラミックスの実施形態では、特に断らない限り、構成成分(たとえば、SiO、Al、LiO、NaO等)の濃度は酸化物ベースのモルパーセント(モル%)で提供される。実施形態のガラスセラミックスの成分を、以下、個別に論じる。一成分の多様に記述される範囲はどれでも、任意の他の成分の多様に記述される範囲のどれかと個別に組み合わせてもよいことを理解されたい。
本明細書で開示されるガラスセラミックスの実施形態では、SiOが最大の構成要素である。純粋なSiOは比較的低いCTEを有し、アルカリを含まない。しかし、純粋なSiOは高い融点を有する。したがって、ガラスセラミックス中のSiO濃度が高すぎると、SiOの濃度が高いほどガラスが溶融しにくくなり、したがって前駆体ガラスの成形性に不利な影響を与えるため、ガラスセラミックスの形成に用いられる前駆体ガラス組成物の成形性が低下し得る。実施形態では、ガラス組成物は、一般に、約35.0モル%以上、たとえば約40.0モル%以上、約45.0モル%以上、約50.0モル%以上、約55.0モル%以上、約60.0モル%以上、または約65.0モル%以上の量のSiOを含む。実施形態では、ガラス組成物は、約70.0モル%以下、約65.0モル%以下、約60.0モル%以下、約55.0モル%以下、約50.0モル%以下、約45.0モル%以下、約40.0モル%以下、または約35.0モル%以下の量のSiOを含む。実施形態では、上記の範囲はいずれも、任意の他の範囲と組み合わせることができることを理解されたい。実施形態では、ガラス組成物は、約35.0モル%以上約70.0モル%以下、約40.0モル%以上約65.0モル%以下、約45.0モル%以上約60.0モル%以下、または約50.0モル%以上約55.0モル%以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲の量のSiOを含む。1つ以上の実施形態では、ガラス組成物は、約35.0モル%以上約60.0モル%以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲の量のSiOを含む。
実施形態のガラスセラミックスは、Alをさらに含み得る。Alは、ガラス組成物から形成されたガラス溶融体におけるその四面体配位により、ガラスセラミックスの形成に用いられる前駆体ガラス組成物の粘度を増加させることができ、Al量が多すぎるとガラス組成物の成形性が低下する。しかし、Alの濃度と、ガラス組成物中のSiOの濃度およびアルカリ酸化物の濃度とのバランスがとれていれば、Alはガラス溶融体の液相線温度を低下させることができ、それによって液相線粘度を増大させ、ガラス組成物とフュージョン成形法などの特定の成形法との適合性を向上させる。前駆体ガラス中のAlはまた、前駆体ガラスをセラミックス化してガラスセラミックスを形成する際に、ガーナイト-スピネル結晶相の形成に必要なアルミニウムを供給する。実施形態では、ガラス組成物は、一般に、約13.0モル%以上、たとえば約14.0モル%以上、約15.0モル%以上、約16.0モル%以上、約17.0モル%以上、約18.0モル%以上、約19.0モル%以上、約20.0モル%以上、約21.0モル%以上、約22.0モル%以上、約23.0モル%以上、約24.0モル%以上、約25.0モル%以上、約26.0モル%以上、約27.0モル%以上、または約28.0モル%以上の濃度のAlを含む。実施形態では、ガラス組成物は、約30.0モル%以下、約29.0モル%以下、約28.0モル%以下、約27.0モル%以下、約26.0モル%以下、約27.0モル%以下、約26.0モル%以下、約25.0モル%以下、約24.0モル%以下、約23.0モル%以下、約22.0モル%以下、約21.0モル%以下、約20.0モル%以下、約19.0モル%以下、約18.0モル%以下、約17.0モル%以下、約16.0モル%以下、約15.0モル%以下、または約14.0モル%以下の量のAlを含む。実施形態では、上記の範囲はいずれも、任意の他の範囲と組み合わせることができることを理解されたい。実施形態では、ガラス組成物は、約13.0モル%以上約30.0モル%以下、たとえば約14.0モル%以上約29.0モル%以下、約15.0モル%以上約28.0モル%以下、約16.0モル%以上約27.0モル%以下、約17.0モル%以上約26.0モル%以下、約18.0モル%以上約25.0モル%以下、約19.0モル%以上約24.0モル%以下、約20.0モル%以上約23.0モル%以下、または約21.0モル%以上約22.0モル%以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲の量のAlを含む。
実施形態のガラスセラミックスは、ZnOをさらに含み得る。前駆体ガラス中のZnOは、前駆体ガラスをセラミックス化してガラスセラミックスを形成する際に、ガーナイト-スピネル結晶相の形成に必要な亜鉛を供給する。実施形態では、ガラス組成物は、一般に、約8.0モル%以上、たとえば約9.0モル%以上、約10.0モル%以上、約11.0モル%以上、約12.0モル%以上、約13.0モル%以上、約14.0モル%以上、約15.0モル%以上、または約16.0モル%以上の濃度のZnOを含む。実施形態では、ガラス組成物は、約20.0モル%以下、約19.0モル%以下、約18.0モル%以下、約17.0モル%以下、約16.0モル%以下、約17.0モル%以下、約16.0モル%以下、約15.0モル%以下、約14.0モル%以下、約13.0モル%以下、約12.0モル%以下、約11.0モル%以下、約10.0モル%以下、または約9.0モル%以下の量のZnOを含む。実施形態では、上記の範囲はいずれも、任意の他の範囲と組み合わせることができることを理解されたい。実施形態では、ガラス組成物は、約8.0モル%以上約20.0モル%以下、たとえば約9.0モル%以上約19.0モル%以下、約10.0モル%以上約18.0モル%以下、約11.0モル%以上約17.0モル%以下、約12.0モル%以上約16.0モル%以下、または約13.0モル%以上約15.0モル%以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲の量のZnOを含む。
実施形態のガラスセラミックスは、MgOをさらに含み得る。前駆体ガラス中のMgOは、前駆体ガラスをセラミックス化してガラスセラミックスを形成する際に、スピネル固溶体を含有する結晶相の形成に必要なマグネシウムを供給する。実施形態では、ガラスセラミックス中のMgOの量は、0モル%以上、たとえば約1.0モル%以上、約2.0モル%以上、約3.0モル%以上、約4.0モル%以上、約5.0モル%以上、約6.0モル%以上、または約7.0モル%以上である。実施形態では、ガラスセラミックス中のMgOの量は、約8.0モル%以下、たとえば約7.0モル%以下、約6.0モル%以下、約5.0モル%以下、約4.0モル%以下、約3.0モル%以下、約2.0モル%以下、または約1.0モル%以下である。実施形態では、上記の範囲はいずれも、任意の他の範囲と組み合わせることができることを理解されたい。実施形態では、ガラスセラミックス中のMgOの量は、0モル%以上約8.0モル%以下、たとえば約1.0モル%以上約7.0モル%以下、約2.0モル%以上約6.0モル%以下、または約3.0モル%以上約5.0モル%以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲である。実施形態では、ガラスセラミックスはMgOを実質的に含まないか、含まない。実施形態では、ガラスセラミックス中のZnOに対するMgOの比率が高すぎると、ガラスセラミックスの透明度が低下する。
実施形態のガラスセラミックスは、核形成剤をさらに含み得る。核形成剤は、ガーナイト-スピネル結晶相の結晶子サイズを低下させることにより、ガラスセラミックスが透明であることを可能にする。いくつかの実施形態では、核形成剤により、別個の核形成ステップなしにガラスセラミックスのセラミックス化が可能になる。核形成剤は、ZrO、TiO、およびHfOから選択され得る。核形成剤の全量が少なすぎると(たとえば約5モル%未満)、核形成の効果が少なく、ガーナイト-スピネル結晶子サイズが大きくなるため、ガラスセラミックスは可視領域で不透明になる。実施形態では、ガラスセラミックス中の核形成剤の全量は、約5.0モル%以上、たとえば約6.0モル%以上、約7.0モル%以上、約8.0モル%以上、約9.0モル%以上、約10.0モル%以上、約11.0モル%以上、約12.0モル%以上、約13.0モル%以上、約14.0モル%以上、または約15.0モル%以上の量であり得る。実施形態では、ガラスセラミックス中の核形成剤の全量は、約16.0モル%以下、たとえば約15.0モル%以下、約14.0モル%以下、約13.0モル%以下、約12.0モル%以下、約11.0モル%以下、約10.0モル%以下、約9.0モル%以下、約8.0モル%以下、約7.0モル%以下、または約6.0モル%以下の量であり得る。実施形態では、上記の範囲はいずれも、任意の他の範囲と組み合わせることができることを理解されたい。実施形態では、ガラスセラミックス中の核形成剤の全量は、約5.0モル%以上約16.0モル%以下の量、たとえば約6.0モル%以上約15.0モル%以下、約7.0モル%以上約14.0モル%以下、約8.0モル%以上約13.0モル%以下、約9.0モル%以上約12.0モル%以下、または約10.0モル%以上約11.0モル%以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲の量であり得る。
実施形態では、ガラスセラミックスは、ZrOを唯一の核形成剤として含み得る。核形成剤となることに加えて、前駆体ガラスにおけるZrOの存在は、セラミックス化プロセスの間の正方晶系ZrOの結晶化を促進する。前駆体ガラス組成物中のZrOの唯一の核形成剤としての使用により、外観が無色のガラスセラミックスの製造が可能になる。実施形態では、ガラスセラミックス中のZrOの量は、0モル%よりも多く、たとえば約1.0モル%以上、約2.0モル%以上、約3.0モル%以上、約4.0モル%以上、約5.0モル%以上、約6.0モル%以上、約7.0モル%以上、約8.0モル%以上、または約9.0モル%以上である。実施形態では、上記の範囲はいずれも、任意の他の範囲と組み合わせることができることを理解されたい。実施形態では、ガラスセラミックス中のZrOの量は、0モル%よりも多く約10.0モル%以下まで、たとえば約1.0モル%以上約9.0モル%以下、約2.0モル%以上約8.0モル%以下、約3.0モル%以上約7.0モル%以下、または約4.0モル%以上約6.0モル%以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲である。
実施形態では、ガラスセラミックスは、TiOを核形成剤として含み得る。TiOは有効な核形成剤である。しかし、前駆体ガラス中のTiOの量が多すぎると、得られたガラスセラミックスが望ましくない有色の外観をもつことがある。TiOを含むガラスセラミックスは、可視領域で透明であっても、黄色または褐色の外観を有し得る。何ら特定の理論に縛られるものではないが、Ti4+からTi3+への還元によって、ガラスセラミックスの有色の外観が生じると考えられている。実施形態では、ガラスセラミックス中のTiOの量は、0モル%以上、たとえば約1.0モル%以上、約2.0モル%以上、約3.0モル%以上、約4.0モル%以上、または約5.0モル以上である。実施形態では、ガラスセラミックス中のTiOの量は、約6.0モル%以下、たとえば約5.0モル%以下、約4.0モル%以下、約3.0モル%以下、約2.0モル%以下、または約1.0モル%以下である。実施形態では、上記の範囲はいずれも、任意の他の範囲と組み合わせることができることを理解されたい。実施形態では、ガラスセラミックス中のTiOの量は、0モル%以上約6.0モル%以下、たとえば約1.0モル%以上約5.0モル%以下、または約2.0モル%以上約4.0モル%以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲である。実施形態では、ガラスセラミックスはTiOを実質的に含まないか、含まない。
実施形態では、ガラスセラミックスは、HfOを核形成剤として含み得る。実施形態では、ガラスセラミックス中のHfOの量は、0モル%以上、たとえば約1.0モル%以上、約2.0モル%以上、約3.0モル%以上、約4.0モル%以上、約5.0モル%以上、約6.0モル%以上、約7.0モル%以上、約8.0モル%以上、または約9.0モル%以上である。実施形態では、ガラスセラミックス中のHfOの量は、約10.0モル%以下、たとえば約9.0モル%以下、約8.0モル%以下、約7.0モル%以下、約6.0モル%以下、約5.0モル%以下、約4.0モル%以下、約3.0モル%以下、約2.0モル%以下、または約1.0モル%以下である。実施形態では、上記の範囲はいずれも、任意の他の範囲と組み合わせることができることを理解されたい。実施形態では、ガラスセラミックス中のHfOの量は、0モル%以上約10.0モル%以下、たとえば約1.0モル%以上約9.0モル%以下、約2.0モル%以上約8.0モル%以下、約3.0モル%以上約7.0モル%以下、または約4.0モル%以上約6.0モル%以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲である。実施形態では、ガラスセラミックスは、HfOを実質的に含まない場合があり、または含まない場合がある。
ガラスセラミックスは、1つ以上のアルカリ金属酸化物を含み得る。アルカリ金属酸化物は、イオン交換法などによる、ガラスセラミックスの化学強化を促進する。ガラスセラミックス中のアルカリ金属酸化物(たとえば、LiO、NaO、およびKO、ならびに他のアルカリ金属酸化物、たとえばCsOおよびRbO)の和を、「RO」と呼ぶ場合があり、ROはモル%で表すことができる。いくつかの実施形態では、ガラスセラミックスは、LiOとNaOとの組み合わせ、NaOとKOとの組み合わせ、LiOとKOとの組み合わせ、またはLiOとNaOとKOとの組み合わせなどの、アルカリ金属酸化物の混合物を含み得る。ガラスセラミックスにアルカリ金属酸化物の混合物が含まれることにより、イオン交換がより速く、かつより効率よくなり得る。何ら特定の理論に縛られるものではないが、アルカリ金属酸化物は、セラミックス化するとガラスセラミックスの残存ガラス相中に偏析すると考えられている。
ガラスセラミックスにリチウムを添加すると、イオン交換法が可能になるうえに、前駆体ガラス組成物の軟化点が低下する。実施形態では、ガラス組成物は、一般に、0.0モル%以上、たとえば約0.5モル%以上、約1.0モル%以上、約1.5モル%以上、約2.0モル%以上、約2.5モル%以上、約3.0モル%以上、約3.5モル%以上、約4.0モル%以上、約4.5モル%以上、約5.0モル%以上、約5.5モル%以上、約6.0モル%以上、約6.5モル%以上、約7.0モル%以上、または約7.5モル%以上の量のLiOを含む。いくつかの実施形態では、ガラス組成物は、約8.0モル%以下、たとえば約7.5モル%以下、約7.0モル%以下、約6.5モル%以下、約6.0モル%以下、約5.5モル%以下、約5.0モル%以下、約4.5モル%以下、約4.0モル%以下、約3.5モル%以下、約3.0モル%以下、約2.5モル%以下、約2.0モル%以下、約1.5モル%以下、約1.0モル%以下、または約0.5モル%以下の量のLiOを含む。実施形態では、上記の範囲はいずれも、任意の他の範囲と組み合わせることができることを理解されたい。実施形態では、ガラス組成物は、0.0モル%以上約8.0モル%以下、たとえば約0.5モル%以上約7.5モル%以下、約1.0モル%以上7.0モル%以下、約1.5モル%以上約6.5モル%以下、約2.0モル%以上約6.0モル%以下、約2.5モル%以上約5.5モル%以下、約3.0モル%以上5.0モル%以下、または約3.5モル%以上約4.5モル%以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲の量のLiOを含む。
LiOと同じく、NaOはガラスセラミックスのイオン交換可能性を助け、また、前駆体ガラス組成物の融点を低下させ、前駆体ガラス組成物の成形性を向上させる。実施形態では、ガラス組成物は、一般に、0.0モル%以上、たとえば約0.5モル%以上、約1.0モル%以上、約1.5モル%以上、約2.0モル%以上、約2.5モル%以上、約3.0モル%以上、約3.5モル%以上、約4.0モル%以上、約4.5モル%以上、約5.0モル%以上、約5.5モル%以上、約6.0モル%以上、約6.5モル%以上、約7.0モル%以上、約7.5モル%以上、約8.0モル%以上、約8.5モル%以上、約9.0モル%以上、または約9.5モル%以上の量のNaOを含む。いくつかの実施形態では、ガラス組成物は、約10.0モル%以下、たとえば約9.5モル%以下、約9.0モル%以下、約8.5モル%以下、約8.0モル%以下、約7.5モル%以下、約7.0モル%以下、約6.5モル%以下、約6.0モル%以下、約5.5モル%以下、約5.0モル%以下、約4.5モル%以下、約4.0モル%以下、約3.5モル%以下、約3.0モル%以下、約2.5モル%以下、約2.0モル%以下、約1.5モル%以下、約1.0モル%以下、または約0.5モル%以下の量のNaOを含む。実施形態では、上記の範囲はいずれも、任意の他の範囲と組み合わせることができることを理解されたい。実施形態では、ガラス組成物は、0.0モル%以上約10.0モル%以下、たとえば約0.5モル%以上約9.5モル%以下、約1.0モル%以上9.0モル%以下、約1.5モル%以上約8.5モル%以下、約2.0モル%以上約8.0モル%以下、約2.5モル%以上約7.5モル%以下、約3.0モル%以上約7.0モル%以下、約3.5モル%以上約6.5モル%以下、約4.0モル%以上約6.0モル%以下、または約4.5モル%以上約5.5モル%以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲の量のNaOを含む。
実施形態では、ガラスセラミックスは、BaOをさらに含み得る。ガラスセラミックスにBaOが含まれることにより、ガラスセラミックス中の残存ガラス相の屈折率が増加する。BaOは、溶融中に系の酸化状態を維持するために、炭酸塩としても硝酸塩としてもガラス溶融体に添加することができ、組成物中にTiOが存在する場合はTi4+からTi3+への還元を防止する。BaOは、TiOの存在によるガラスセラミックスの望ましくない着色を防止する役割を果たし得る。
実施形態では、ガラスセラミックスは、任意選択により1つ以上の清澄剤を含み得る。いくつかの実施形態では、清澄剤として、たとえば酸化スズ(SnO)および/または酸化ヒ素を挙げることができる。実施形態では、SnOは、ガラス組成物中、0.3モル%以下、たとえば0.0モル%以上0.3モル%以下、0.1モル%以上0.2モル%以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲の量だけ存在し得る。実施形態では、酸化ヒ素は、ガラスセラミックス中、0.0モル%以上0.1モル%以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲の量だけ存在し得る。実施形態では、酸化ヒ素は漂白剤の役割も果たし得る。実施形態では、ガラスセラミックスは、ヒ素およびアンチモンの両方または片方を実質的に含まない場合があり、または含まない場合がある。
上記から、実施形態のガラスセラミックスは、スロット成形、フロート成形、ローリング法、フュージョン成形法、その他などの任意の好適な方法により成形された前駆体ガラス物品から形成され得る。
前駆体ガラス物品は、それが成形される方法によって特徴づけられることがある。たとえば、前駆体ガラス物品は、フロート成形可能(すなわち、フロート法により成形される)、ダウンドロー可能、および特に、フュージョン成形可能またはスロットドロー可能(すなわち、フュージョンドロー法またはスロットドロー法などのダウンドロー法により成形される)である、と特徴づけることができる。
本明細書に記載される前駆体ガラス物品のいくつかの実施形態は、ダウンドロー法により成形され得る。ダウンドロー法によって、均一の厚さを有する比較的完璧な状態の表面をもつガラス物品が製造される。ガラス物品の平均曲げ強度は、表面の傷の量およびサイズに左右されるため、最小限しか接触されていない完璧な状態の表面は、より高い初期強度を有する。さらに、ダウンドローされたガラス物品は非常に平らで滑らかな表面を有しており、高くつく研削および研磨をせずに最終用途に使用することができる。
前駆体ガラス物品のいくつかの実施形態は、フュージョン成形可能(すなわち、フュージョンドロー法により成形することができる)と記載される場合がある。フュージョン法は、溶融ガラス原材料を受けるためのチャネルを有する引出槽を用いる。チャネルはその長さに沿って両側に、上部が開口した堰を有する。チャネルが溶融材料でいっぱいになると、溶融ガラスは堰から溢れ出る。重力により、溶融ガラスは引出槽の外表面を2枚の流れるガラス膜として流れ落ちる。引出槽のこれらの外表面は、下方内側に向けて延在しているので、引出槽下のエッジで合流する。2枚の流れるガラス膜はこのエッジで合流して融合し、1枚の流れるガラス物品を形成する。このフュージョンドロー方法では、チャネルから溢れ出る2枚のガラス膜が一つに融合されるので、得られるガラス物品のどちらの外表面も、装置のどの部分とも接触しない、という利点を提供する。したがって、フュージョンドローされたガラス物品の表面特性は、そのような接触には影響されない。
本明細書に記載される前駆体ガラス物品のいくつかの実施形態は、スロットドロー法により成形される場合もある。スロットドロー法はフュージョンドロー方法とは異なる。スロットドロー法では、引出槽に原材料の溶融ガラスが供給される。引出槽の底には開口スロットがあり、該スロットの長さを延長させるノズルが付いている。溶融ガラスはスロット/ノズルを通って流れ、連続的なガラス物品として下方に引かれて徐冷領域に入る。
ガラスセラミックスは、任意の好適な条件で前駆体ガラスをセラミックス化することにより形成することができる。セラミックス化は、前駆体ガラス中に結晶核を形成するための別個の核形成処理を必ず含むわけではない。別個の核形成ステップなしに透明ガラスセラミックスを製造することができれば、製造法の複雑さが軽減され、結果としてエネルギーおよび時間の節約になる。いくつかの実施形態では、核形成処理を含めることで、製造される結晶子のサイズをさらに制御することが可能になり得る。
実施形態では、セラミックス化は、約750℃以上、たとえば約800℃以上、約850℃以上、約900℃以上、約950℃以上、約1000℃以上、約1050℃以上、約1100℃以上、またはそれよりも高い温度で行われる。実施形態では、セラミックス化は、約750℃以上約1100℃以下、たとえば約800℃以上約1050℃以下、約850℃以上約1000℃以下、または約900℃以上約950℃以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲の温度で行われる。
実施形態では、セラミックス化にかかる時間は、約30分以上、たとえば約1.0時間以上、約1.5時間以上、約2.0時間以上、約2.5時間以上、約3.0時間以上、約3.5時間以上、約4.0時間以上、約4.5時間以上、約5.0時間以上、約5.5時間以上、約6.0時間以上、約6.5時間以上、約7.0時間以上、約7.5時間以上、約8.0時間以上、約8.5時間以上、約9.0時間以上、約9.5時間以上、約10.0時間以上、約10.5時間以上、約11.0時間以上、約11.5時間以上、約12.0時間以上、約12.5時間以上、約13.0時間以上、約13.5時間以上、約14.0時間以上、約14.5時間以上、約15.0時間以上、約15.5時間以上、約16.0時間以上、約16.5時間以上、約17.0時間以上、約17.5時間以上、約18.0時間以上、約18.5時間以上、約19.0時間以上、約19.5時間以上、約20.0時間以上、約20.5時間以上、約21.0時間以上、約21.5時間以上、約22.0時間以上、約22.5時間以上、約23.0時間以上、または約23.5時間以上である。実施形態では、セラミックス化にかかる時間は、約30分以上約24.0時間以下、たとえば約1.0時間以上約23.0時間以下、約1.5時間以上約22.0時間以下、約2.0時間以上約21.0時間以下、約2.5時間以上約20.0時間以下、約3.0時間以上約19.0時間以下、約3.5時間以上約18.0時間以下、約4.0時間以上約17.0時間以下、約4.5時間以上約16.0時間以下、約5.0時間以上約15.0時間以下、約5.5時間以上約14.0時間以下、約6.0時間以上約13.0時間以下、約6.5時間以上約12.0時間以下、約7.0時間以上約11.0時間以下、約7.5時間以上約10.0時間以下、または約8.0時間以上約9.0時間以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲である。
核形成処理が含まれる実施形態では、核形成処理は、約700℃以上、たとえば約750℃以上、約800℃以上、約850℃以上、約900℃以上、約950℃以上、または約1000℃以上、またはそれよりも高い温度で行われる。実施形態では、核形成処理は、約700℃以上約1000℃以下、たとえば約750℃以上約950℃以下、または約800℃以上約900℃以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲の温度で行われる。
実施形態では、核形成処理にかかる時間は、0分よりも長く、たとえば約30分以上、約1.0時間以上、約1.5時間以上、約2.0時間以上、約2.5時間以上、約3.0時間以上、約3.5時間以上、約4.0時間以上、またはそれよりも長い。実施形態では、セラミックス化にかかる時間は、約30分以上約4.0時間以下、たとえば約1.0時間以上約3.5時間以下、または約1.5時間以上約3.0時間以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲である。
実施形態では、ガラスセラミックスは、イオン交換などにより化学強化もされ、限定ではないがディスプレイカバーなどの用途のための、壊れにくいガラスセラミックスになる。図1を参照すると、ガラスセラミックスは、ガラスセラミックスの表面から圧縮深さ(DOC)まで延在する、圧縮応力下にある第1の領域(たとえば、図1の第1および第2の圧縮層120、122)、およびガラスセラミックスのDOCから中心または内部領域まで延在する、引っ張り応力または内部引張応力(CT)下にある第2の領域(たとえば、図1の中心領域130)を有する。本明細書で使用される場合、DOCは、ガラスセラミックス内の応力が圧縮から引っ張りへと変化する深さを指す。DOCでは、応力が正の(圧縮)応力から負の(引っ張り)応力へと変わるので、応力値ゼロを示す。
当技術分野で用いられる通常の慣例では、圧縮または圧縮応力は負の(<0)応力として表され、張力または引っ張り応力は正の(>0)応力として表される。しかし本明細書の全体にわたり、CSは正の値または絶対値として、すなわち本明細書ではCS=|CS|として表される。圧縮応力(CS)はガラス表面で最大であり得、CSは機能に応じて表面からの距離dとともに変わり得る。再び図1を参照すると、第1の圧縮層120は第1の表面110から深さdまで延在し、第2の圧縮層122は第2の表面112から深さdまで延在している。これらの区域はともにガラスセラミックス100の圧縮またはCSを画定している。圧縮応力(表面CSを含む)は、折原製作所(日本国)製のFSM-6000などの市販されている器械を用いて、表面応力計(FSM)により測定される。表面応力測定は、応力光学係数(SOC)の正確な測定に依拠し、該係数はガラスの複屈折と関連がある。SOCは、“Standard Test Method for Measurement of Glass Stress-Optical Coefficient”と題されるASTM規格 C770-16に記載のProcedure C(Glass Disc Method)(その内容をすべて参照により本明細書に援用する)にしたがい測定される。
どちらの圧縮応力領域(図1の120、122)の圧縮応力も、ガラスの中心領域(130)に蓄積された張力によりバランスがとられている。最大内部引張応力(CT)およびDOC値は、当技術分野で公知の散乱光偏光計(SCALP)技法を用いて測定される。
圧縮応力層は、ガラスをイオン交換溶液に曝露することによりガラス内に形成することができる。実施形態では、イオン交換溶液は、溶融硝酸塩であり得る。いくつかの実施形態では、イオン交換溶液は、溶融KNO、溶融NaNO、またはそれらの組み合わせであり得る。特定の実施形態では、イオン交換溶液は、約100%以下の溶融KNO、たとえば約95%以下の溶融KNO、約90%以下の溶融KNO、約80%以下の溶融KNO、約75%以下の溶融KNO、約70%以下の溶融KNO、約65%以下の溶融KNO、約60%以下の溶融KNO、またはそれ未満の溶融KNOを含み得る。特定の実施形態では、イオン交換溶液は、約10%以上の溶融NaNO、たとえば約15%以上の溶融NaNO、約20%以上の溶融NaNO、約25%以上の溶融NaNO、約30%以上の溶融NaNO、約35%以上の溶融NaNO、約40%以上の溶融NaNO、またはそれより多くの溶融NaNOを含み得る。他の実施形態では、イオン交換溶液は、約80%の溶融KNOおよび約20%の溶融NaNO、約75%の溶融KNOおよび約25%の溶融NaNO、約70%の溶融KNOおよび約30%の溶融NaNO、約65%の溶融KNOおよび約35%の溶融NaNO、または約60%の溶融KNOおよび約40%の溶融NaNO、ならびに前述の値の間のすべての範囲および部分範囲を含み得る。実施形態では、他のナトリウム塩またはカリウム塩、たとえば亜硝酸ナトリウムもしくは亜硝酸カリウム、リン酸ナトリウムもしくはリン酸カリウム、または硫酸ナトリウムもしくは硫酸カリウムなどが、イオン交換溶液に用いられ得る。実施形態では、イオン交換溶液は、約1質量%以下のケイ酸などのケイ酸を含み得る。
ガラスセラミックスは、ガラスセラミックスをイオン交換溶液の浴に浸漬すること、イオン交換溶液をガラスセラミックスに噴霧すること、またはそれら以外にイオン交換溶液をガラスセラミックスに物理的に施与することにより、イオン交換溶液に曝露され得る。実施形態では、ガラスセラミックスへの曝露時、イオン交換溶液は、400℃以上500℃以下、たとえば410℃以上490℃以下、420℃以上480℃以下、430℃以上470℃以下、または440℃以上460℃以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲の温度であり得る。実施形態では、ガラスセラミックスは、4時間以上48時間以下、たとえば8時間以上44時間以下、12時間以上40時間以下、16時間以上36時間以下、20時間以上32時間以下、または24時間以上28時間以下、および前述の値の間のすべての範囲および部分範囲にわたりイオン交換溶液に曝露され得る。
イオン交換法は、イオン交換溶液中、たとえば米国特許出願公開第2016/0102011号明細書(その全文を参照により本明細書に援用する)に開示される改善された圧縮応力プロファイルを提供する処理条件で、実施され得る。
イオン交換法が実施された後、ガラスセラミックスの表面の組成は、原状のガラスセラミックス(すなわちイオン交換法に供される前のガラスセラミックス)の組成とは異なり得ることを理解されたい。このことは、原状ガラス中のあるタイプのアルカリ金属イオン、たとえばLiまたはNaが、より大きいアルカリ金属イオン、たとえばそれぞれNaまたはKで置換された結果である。しかし、ガラス物品の深さの中心またはその付近のガラスセラミックスの組成は、実施形態では、なおも原状ガラスセラミックスの組成を有している。
本明細書で開示されるガラスセラミックス物品は、別の物品、たとえばディスプレイを有する物品(たとえばモバイルフォン、タブレット、コンピューター、ナビゲーションシステム等をはじめとする家電)(またはディスプレイ物品)、建築用品、輸送体(たとえば自動車、電車、航空機、船舶、その他)、機器類、またはいくらかの透明度、耐擦傷性、摩擦抵抗、もしくはそれらの組み合わせを要する任意の物品に組み込まれ得る。本明細書で開示されるガラスセラミックス物品のいずれかを備える例示的な物品を、図2Aおよび2Bに示す。具体的には、図2Aおよび2Bは、前面204、背面206、および側面208を有する筐体202;少なくとも部分的にまたは完全に筐体内にあり、少なくともコントローラ、メモリ、および筐体の前面にあるか前面に隣接しているディスプレイ210を含む、電気部品(図示せず);およびディスプレイを覆うように筐体の前面にあるか前面上にあるカバー基材212、を含む、民生用電子機器200である。いくつかの実施形態では、カバー基材212および/または筐体202の少なくとも1つの少なくとも一部分は、本明細書で開示される任意のガラス物品を含み得る。
実施形態は、以下の実施例によって、さらに明らかになる。これらの実施例は、上記の実施形態を限定するものではないことを理解されたい。
以下の表1に挙げる成分を有するガラスセラミックスを製造し、表示のセラミックス化工程にしたがいセラミックス化した。セラミックス化工程の詳細を以下の表2に示す。表1ではすべての成分をモル%で表しており、ガラス組成物のさまざまな特性は、本明細書に記載される方法にしたがい測定した。
Figure 0007336440000001
Figure 0007336440000002
相の構成を、X線回析(XRD)分析に基づき決定した。ガラスセラミックスに存在する残存ガラス、ガーナイト、および正方晶系ZrO相の量を、リートベルト定量分析により質量%で測定した。密度値は、ASTM C693-93(2013)の浮力法により測定した値を指す。硬度は上記のナノ圧子を用いて測定した。ヤング率は、“Standard Guide for Resonant Ultrasound Spectroscopy for Defect Detection in Both Metallic and Non-metallic Parts”と題されるASTM E2001-13に記載の一般的なタイプの共鳴超音波スペクトロスコピー技法により測定した。徐冷点および歪点は、ASTM C598-93(2013)のビーム曲げ粘度法により決定した。
Figure 0007336440000003
特に断らない限り、セラミックス化工程は、前駆体ガラスを炉内で室温から昇温速度5℃/分で表示の処理条件まで加熱し、表示の時間だけ保持することを含み、それから炉を周囲温度まで放冷した。セラミックス化工程が2つの処理温度および時間を示すものは、第1の処理時間および温度が核形成処理に対応し、第2の処理時間および温度がセラミックス化処理に対応しており、2つの処理条件の間の昇温速度は5℃/分である。緩慢な勾配1条件を示すセラミックス化工程は、炉内で前駆体ガラスを室温から昇温速度5℃/分で700℃まで加熱してから、昇温速度1℃/分で表示の処理条件まで加熱することを含んでいた。緩慢な勾配2条件を示すセラミックス化工程は、炉内で前駆体ガラスを室温から昇温速度5℃/分で700℃まで加熱してから、昇温速度0.5℃/分で表示の処理条件まで加熱することを含んでいた。緩慢な冷却条件を示すセラミックス化工程は、5時間かけて1000℃から900℃へ低下させること、3時間10分かけて900℃から800℃へ低下させること、2時間かけて800℃から700℃へ低下させること、そして15分かけて700℃から室温へ低下させることを含んでいた。
相構成決定で検出された相を、以下の表3に記載する。
Figure 0007336440000004
以下の表4に挙げる組成を有する追加の前駆体ガラスを製造した。表4ではすべての成分をモル%で表しており、報告されている特性は前駆体ガラス組成物のものである。
Figure 0007336440000005
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Figure 0007336440000021
ポワソン比は、“Standard Guide for Resonant Ultrasound Spectroscopy for Defect Detection in Both Metallic and Non-metallic Parts”と題されるASTM E2001-13に記載の一般的なタイプの共鳴超音波スペクトロスコピー技法により測定した。ずれ弾性率は、“Standard Guide for Resonant Ultrasound Spectroscopy for Defect Detection in Both Metallic and Non-metallic Parts”と題されるASTM E2001-13に記載の一般的なタイプの共鳴超音波スペクトロスコピー技法により測定した。液相線温度は、“Standard Practice for Measurement of Liquidus Temperature of Glass by the Gradient Furnace Method”と題されるASTM C829-81(2015)または勾配ボート(gradient boat)法にしたがい測定した。空気、内部、および白金の液相線温度は、試料の測定部位を指し、内部とは試料の内部、空気とは空気-試料界面、白金とは白金るつぼ-試料界面のことである。いくつかの単離事例では、液相線温度は、試料をメルトから結晶化させ、そして結晶化が開始する温度を観測することにより決定した。前駆体ガラスの屈折率(RI)は、589.3nmの波長で測定した。
先に報告された組成物のセラミックス化工程を変えることにより、追加のガラスセラミックスを製造した。得られたガラスセラミックスの特性およびこれらのガラスセラミックスを製造したセラミックス化工程を以下の表5に報告する。表5に報告するように、さらに、一部のガラスセラミックスをイオン交換処理した。表5に報告している密度差は、ガラスセラミックス形成時の前駆体ガラスの密度の変化を指す。
Figure 0007336440000022
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結晶子のサイズはオングストロームで報告している。結晶子サイズに「*」がついているのは、関連する相の結晶子サイズが決定されなかったものである。
硬度はビッカーズ圧子および200グラムの荷重を用いて測定した。測定の標準偏差も表5に報告する。
擦傷閾値は、30μmコノスフィア圧子チップを用い、トルエン環境中、滑り速度10μm/秒で100秒間測定した。トルエン液滴を圧子チップ下に配置し、擦傷プロセス中に補充して、スロークラックの成長を防止した。印加荷重は1Nから5Nまで変化させ、そしてさらに、延性からクラッキング破壊応答への移行についての閾値荷重が得られるまで3.5N~4.5Nの間で1Nの増分で精査した。
図3は、1000℃で4時間セラミックス化した後の実施例Fのトンネル電子顕微鏡(TEM)画像である。画像からわかるように、小さい結晶粒が試料全体に形成されている。図3の最も暗い部分は残存ガラス相に対応し、グレーの部分はガーナイト-スピネル固溶体結晶相に対応し、最も明るい部分はチタン含有正方晶系ZrO結晶相に対応する。
図4は、ガラスセラミックス中のZnO+MgOのバルク濃度の関数としての、ガラスセラミックスの硬度およびヤング率を報告している。図4では、さまざまなNaO濃度を有するガラスセラミックスを報告している。図4で報告しているガラスセラミックスはイオン交換処理されていない。
1000℃で4時間セラミックス化した後の実施例Fのガラスセラミックスを、100%KNO溶融浴中、温度430℃で19.5時間かけて、イオン交換処理した。ガラスセラミックスの表面下深さの関数としての、得られたNaOおよびKOの濃度を、電子線マイクロアナライザー(EPMA)により測定し、図5に報告している。
実施例13、14、15、16、および10に対応するさまざまなアルカリ金属含有量のガラスセラミックスを製造してから、100%KNO溶融浴中でイオン交換処理した。図6に示すように、比較のため、イオン交換処理の時間を平方根(t)として正規化した。アルカリ金属濃度は図6に示すとおりであり、さまざまなガラスセラミックスの濃度の変化(質量%)を、時間の平方根(平方根(t))(単位は時間)の関数として測定した。図6に示すように、アルカリ金属酸化物の混合物を含むガラスセラミックスは、イオン交換処理がより速いことが示された。
実施例16、17、23、および24の組成を有し、かつ1000℃で4時間セラミックス化したガラスセラミックスの透過率を、波長の関数として測定した。厚さ1mmの、67.37モル%のSiO、3.67モル%のB、12.73モル%のAl、13.77モル%のNaO、0.01モル%のKO、2.39モル%のMgO、0.01モル%のFe、0.01モル%のZrO、および0.09モル%のSnOを含む組成の比較ガラス試料の透過率も分析した。図7は、ガラスセラミックスおよび比較ガラス試料の測定透過率を示す。
実施例35の組成のガラスセラミックスを、950℃で4時間、緩慢な勾配1プロセスでセラミックス化した。次いで、ガラスセラミックスをリングオンリング試験および研磨リングオンリング試験に供し、図8にワイブルプロットとして示す結果を得た。四角のデータポイントは研磨リングオンリング試験の結果であり、菱形のデータポイントはリングオンリング試験の結果である。
研磨リングオンリング(AROR)試験は、平坦なガラス試験片を試験する表面強度測定であり、“Standard Test Method for Monotonic Equibiaxial Flexural Strength of Advanced Ceramics at Ambient Temperature”と題されるASTM C1499-09(2013)が、本明細書に記載されるAROR試験法の基本となっている。ASTM C1499-09の内容は、その全体が参照により本明細書に援用される。リングオンリング試験に先立ち、“Standard Test Methods for Strength of Glass by Flexure (Determination of Modulus of Rupture)”と題されるASTM C158-02(2012)の“abrasion Procedures”と題されるAnnex A2に記載の方法および装置を用いて5psi(約34473.8Pa)でガラス試料に送達される90グリットの炭化ケイ素(SiC)粒子で、試験片を研磨する。ASTM C158-02の内容、および特にAnnex 2の内容は、その全体が参照により本明細書に援用される。
リングオンリング試験に先立ち、ASTM C158-02のAnnex 2に記載されるように、ASTM C158-02の図A2.1に示される装置を用いてガラス系物品の表面を研磨して、試料の表面欠陥条件を標準化および/または制御する。研磨材料を空気圧5psi(約34473.8Pa)でガラス系物品の表面にサンドブラストする。気流が定着した後、5cmの研磨材料をファンネルに投入し、そして研磨材料の導入後5秒間、試料をサンドブラストする。
AROR試験では、図9に示すように、少なくとも1つの研磨表面を有する試料を、サイズが異なる2つの同心リングの間に配置して、等二軸曲げ強度(すなわち、ある材料が2つの同心リング間で曲げに供されたときに持ちこたえられる最大応力)を決定する。AROR構成400では、研磨ガラス系物品410が、直径D2を有する支持リング420により支持されている。ロードセル(図示せず)により、直径D1を有する荷重リング430によって、ガラス系物品の表面に力Fを加える。
荷重リングと支持リングとの直径比D1/D2は、0.2~0.5の範囲であり得る。いくつかの実施形態では、D1/D2は0.5である。荷重リング130と支持リング120とは、支持リングの直径D2の0.5%以内まで同心に配置すべきである。試験に用いられるロードセルは、選択された範囲内のどの荷重でも±1%以内まで正確でなくてはならない。試験は温度23±2℃、相対湿度40±10%で実行される。
器具のデザインとしては、荷重リング430の凸面の半径rが、h/2≦r≦3h/2の範囲内であり、hはガラス系物品410の厚さである。荷重リング430および支持リング420は、硬度HRc>40の焼き入れ鋼でできている。AROR器具は市販されている。
AROR試験の所期の破損機構は、荷重リング430内の表面430aを起点とするガラス系物品410の亀裂を観測することである。この領域(すなわち荷重リング430と支持リング420との間)の外部で生じる破損は、データ分析からは除外される。しかし、ガラス系物品410の薄さおよび高い強度により、試験片厚さhの1/2を上回る大きな撓みが観測されることもある。したがって、荷重リング430の真下を起点とする破損の高パーセンテージを観測することは、珍しいことではない。リングの内部および下部両方での応力発生(歪みゲージ分析により収集)、ならびに各試験片における破損の起点についての知識なしには、正確に応力を計算することはできない。したがってAROR試験は、測定された応答としての破損時ピーク荷重に注目する。
リングオンリング試験は、AROR試験と同様にして実施するが、ただし試験前の研磨ステップは含まない。
ガラス系物品の強度は、表面の傷の存在に左右される。しかし、ガラス強度は本質的に統計的なものであって、所与のサイズの傷が存在している可能性を精密に予測することはできない。したがって、得られたデータの統計学的表示として、確率分布が用いられ得る。
本明細書に記載されるすべての組成成分、関係、および比率は、特に断らない限り、モル%で表されている。本明細書で開示するすべての範囲は、範囲が開示されている前後に明言されていようといまいと、任意のあらゆる範囲および広い開示範囲に包括される部分範囲を含む。
特許請求の主題の趣旨および範囲から逸脱することなく、本明細書に記載される実施形態にさまざまな変更および変形を加えることができることは、当業者には明白である。したがって、本明細書は、そうした変更形態および変形形態が添付の特許請求の範囲およびそれらの均等物の範囲内であるという前提で、本明細書に記載されるさまざまな実施形態の変更形態および変形形態を網羅するものとする。
以下、本発明の好ましい実施形態を項分け記載する。
実施形態1
(MgZn1-x)Al[式中、xは1未満である]を含む第1の結晶相;および
正方晶系ZrOを含む第2の結晶相
を含み、
可視領域において透明である、
ガラスセラミックス。
実施形態2
LiOおよびNaOの少なくとも1つをさらに含む、実施形態1記載のガラスセラミックス。
実施形態3
LiOおよびNaOをさらに含む、実施形態1または2記載のガラスセラミックス。
実施形態4
xが0よりも大きい、実施形態1から3までのいずれか1つ記載のガラスセラミックス。
実施形態5
35モル%以上70モル%以下のSiOをさらに含む、実施形態1から4までのいずれか1つ記載のガラスセラミックス。
実施形態6
35モル%~60モル%のSiO
13モル%よりも多くのAl
8モル%よりも多くのZnO;
0モル%~8モル%のMgO;および
0モル%よりも多く10モル%までのZrO
をさらに含む、実施形態1から5までのいずれか1つ記載のガラスセラミックス。
実施形態7
0モル%~6モル%のTiO
0モル%~10モル%のNaO;
0モル%~8モル%のLiO;
0モル%~10モル%のHfO
0モル%~0.1モル%のAs;および
0モル%~0.3モル%のSnO
をさらに含む、実施形態6記載のガラスセラミックス。
実施形態8
ZrO+TiO+HfO≧5モル%である、実施形態1から7までのいずれか1つ記載のガラスセラミックス。
実施形態9
実質的にTiO不含である、実施形態1から8までのいずれか1つ記載のガラスセラミックス。
実施形態10
少なくとも10質量%の結晶化度を示す、実施形態1から9までのいずれか1つ記載のガラスセラミックス。
実施形態11
可視領域で少なくとも90%の透過率を有する、実施形態1から10までのいずれか1つ記載のガラスセラミックス。
実施形態12
実質的に無色である、実施形態1から11までのいずれか1つ記載のガラスセラミックス。
実施形態13
前記第1の結晶相が10nm未満の結晶子サイズを有する、実施形態1から12までのいずれか1つ記載のガラスセラミックス。
実施形態14
前記ガラスセラミックスの表面から圧縮深さまで延在する圧縮応力領域をさらに含む、実施形態1から13までのいずれか1つ記載のガラスセラミックス。
実施形態15
少なくとも9GPaの硬度を有する、実施形態1から14までのいずれか1つ記載のガラスセラミックス。
実施形態16
少なくとも98GPaのヤング率を有する、実施形態1から15までのいずれか1つ記載のガラスセラミックス。
実施形態17
前面、背面、および側面を含む筐体;
少なくとも部分的には前記筐体内にあり、少なくともコントローラ、メモリ、およびディスプレイを含む電気部品であって、前記ディスプレイが前記筐体の前記前面にあるか前記前面に隣接している、電気部品;および
前記ディスプレイ上に配置されているカバー基材
を含み、
前記筐体または前記カバー基材の少なくとも1つの少なくとも一部分は、実施形態1から16までのいずれか1つ記載のガラスセラミックスを含む、
民生用電子製品。
実施形態18
前駆体ガラスをセラミックス化して、可視領域で透明なガラスセラミックスを形成するステップを含む方法であって、
前記ガラスセラミックスが、
(MgZn1-x)Al[式中、xは1未満である]を含む第1の結晶相;および
正方晶系ZrOを含む第2の結晶相
を含む、
方法。
実施形態19
前記セラミックス化ステップの前に、前記前駆体ガラスにおいて核を形成するステップをさらに含む、実施形態18記載の方法。
実施形態20
前記核を形成するステップが、前記前駆体ガラスを少なくとも700℃の温度で少なくとも1時間かけて加熱処理するステップを含む、実施形態19記載の方法。
実施形態21
前記セラミックス化ステップが、前記前駆体ガラスを少なくとも750℃の温度で少なくとも30分かけて加熱処理するステップを含む、実施形態18から20までのいずれか1つ記載の方法。
実施形態22
前記ガラスセラミックスをイオン交換処理するステップをさらに含む、実施形態18から21までのいずれか1つ記載の方法。
実施形態23
前記イオン交換処理するステップが、前記ガラスセラミックスを混合イオン交換浴と接触させるステップを含む、実施形態22記載の方法。

Claims (13)

  1. (MgZn1-x)Al[式中、xは1未満である]を含む第1の結晶相;および
    正方晶系ZrO からなる第2の結晶相
    を含むガラスセラミックスであって
    可視領域において透明であり、
    前記ガラスセラミックスは、無色であり、L*>90、a* -0.2~0.2、およびb* -0.1~0.6を有し、L*、a*、およびb*がCIE系における色空間を示す、ガラスセラミックス。
  2. xが0よりも大きい、請求項1記載のガラスセラミックス。
  3. 35モル%~60モル%のSiO
    13モル%よりも多くのAl
    8モル%よりも多くのZnO;
    0モル%~8モル%のMgO;および
    0モル%よりも多く10モル%までのZrO
    をさらに含む、請求項1記載のガラスセラミックス。
  4. 0モル%~6モル%のTiO
    0モル%~10モル%のNaO;
    0モル%~8モル%のLiO;
    0モル%~10モル%のHfO
    0モル%~0.1モル%のAs;および
    0モル%~0.3モル%のSnO
    をさらに含む、請求項3記載のガラスセラミックス。
  5. LiOおよびNaOの少なくとも1つをさらに含むこと;
    ZrO+TiO+HfO≧5モル%であること;および/または
    実質的にTiO不含であること
    の少なくとも1つを特徴とする、請求項1から4いずれか1項記載のガラスセラミックス。
  6. 少なくとも10質量%の結晶化度を示すこと;
    可視領域で少なくとも90%の透過率を有すること;
    実質的に無色であること;および/または
    前記第1の結晶相が10nm未満の結晶子サイズを有すること
    の少なくとも1つが成り立つ、請求項1から4いずれか1項記載のガラスセラミックス。
  7. 前記ガラスセラミックスの表面から圧縮深さまで延在する圧縮応力領域をさらに含む、請求項1から4いずれか1項記載のガラスセラミックス。
  8. 少なくとも9GPaの硬度;および/または
    少なくとも98GPaのヤング率
    の少なくとも1つを有する、請求項1から4いずれか1項記載のガラスセラミックス。
  9. 前駆体ガラスをセラミックス化して、可視領域で透明なガラスセラミックスを形成するステップを含む方法であって、
    前記ガラスセラミックスが、
    (MgZn1-x)Al[式中、xは1未満である]を含む第1の結晶相;および
    正方晶系ZrO からなる第2の結晶相
    を含み、
    前記ガラスセラミックスは、無色であり、L*>90、a* -0.2~0.2、およびb* -0.1~0.6を有し、L*、a*、およびb*がCIE系における色空間を示す、方法。
  10. 前記前駆体ガラスを少なくとも700℃の温度で少なくとも1時間かけて加熱処理することによる前記セラミックス化ステップの前に、前記前駆体ガラスにおいて核を形成するステップをさらに含む、請求項記載の方法。
  11. 前記セラミックス化ステップが、前記前駆体ガラスを少なくとも750℃の温度で少なくとも30分かけて加熱処理するステップを含む、請求項記載の方法。
  12. 前記セラミックス化ステップが、別個の核形成処理を含まない、請求項または11記載の方法。
  13. 前記ガラスセラミックスをイオン交換処理するステップをさらに含む、請求項から11いずれか1項記載の方法。
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