JP7334053B2 - Electronic component manufacturing apparatus and electronic component manufacturing method - Google Patents

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Description

この発明は、電子部品の製造装置及び電子部品の製造方法に関する。 The present invention relates to an electronic component manufacturing apparatus and an electronic component manufacturing method.

従来、半導体素子などが実装されたパッケージ基板にリッドを接合する工程を実施する電子部品の製造装置が知られている。上記電子部品では、パッケージ基板に実装された半導体素子などに対する電磁波の干渉またはパッケージ基板からの電磁波の漏洩を遮断するため、上述したリッドがパッケージ基板に接続されている。たとえば、特開2002-343896号公報では、パッケージ基板に相当する部材にリッドを接続する電子部品の製造装置が開示されている。特開2002-343896号公報では、リッドにプリコートはんだを形成しておき、当該リッドをパッケージ基板に相当する部材に当該させる。このとき、プリコーとはんだが当該部材に接触した状態としておく。この状態でプリコートはんだを加熱・溶融することで、部材にリッドをはんだ接合する。 2. Description of the Related Art Conventionally, there has been known an electronic component manufacturing apparatus that carries out a process of bonding a lid to a package substrate on which a semiconductor element or the like is mounted. In the electronic component, the lid is connected to the package substrate in order to block interference of electromagnetic waves with a semiconductor element or the like mounted on the package substrate or leakage of electromagnetic waves from the package substrate. For example, Japanese Patent Laying-Open No. 2002-343896 discloses an electronic component manufacturing apparatus in which a lid is connected to a member corresponding to a package substrate. In Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2002-343896, pre-coated solder is formed on a lid, and the lid is attached to a member corresponding to a package substrate. At this time, the precor and the solder are kept in contact with the member. By heating and melting the pre-coating solder in this state, the lid is soldered to the member.

特開2002-343896号公報JP-A-2002-343896

上述した電子部品の製造装置において、パッケージ基板に相当する部材にリッドを接合する処理を繰り返し実施すると、当該製造装置においてリッドまたは部材を保持するステージに汚れなどの異物が付着し、リッドとステージとの間または部材とステージとの間に当該異物が挟まる場合がある。この結果、リッドと部材との平行度が保たれないままはんだ接合が実施される。その結果、はんだ接合部のギャップが相対的に広い部分または相対的に狭い部分が発生する。当該ギャップが広い部分でははんだ充填量が不足する。当該ギャップが狭い部分でははんだ充填量が過多になる。そのため、リッドと部材との接合部においてはんだ量が不均一となり、部分的に未接合部が発生するなど、リッドの実装不良(はんだ付け不良)が発生する。 In the above-described electronic component manufacturing apparatus, when the process of bonding the lid to the member corresponding to the package substrate is repeatedly performed, foreign matter such as dirt adheres to the stage that holds the lid or the member in the manufacturing apparatus, and the lid and the stage are separated. or between the member and the stage. As a result, soldering is performed while the parallelism between the lid and the member is not maintained. As a result, relatively wide or relatively narrow solder joint gaps occur. The amount of solder filling is insufficient in the portion where the gap is wide. An excessive amount of solder is filled in a portion where the gap is narrow. As a result, the amount of solder is not uniform at the joint between the lid and the member, resulting in mounting defects (soldering defects) of the lid, such as partially unjoined portions.

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の目的は、電子部品を構成するリッドの実装不良の発生を抑制することが可能な電子部品の製造装置および電子部品の製造方法を提供することである。 SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide an electronic component manufacturing apparatus capable of suppressing the occurrence of defective mounting of a lid that constitutes an electronic component; An object of the present invention is to provide a method for manufacturing an electronic component.

本開示に従った電子部品の製造装置は、第1保持部と第2保持部と移動部と姿勢調整部とを備える。電子部品は、パッケージ基板とリッドとを接合したものである。第1保持部は、パッケージ基板を保持する。第2保持部は、リッドを保持する。移動部は、第1保持部に保持されたパッケージ基板と第2保持部に保持されたリッドとが接触するように、第1保持部および第2保持部のいずれか一方を移動させる。姿勢調整部は、第1保持部に保持されたパッケージ基板に対する、第2保持部に保持されたリッドの相対的な姿勢を変更する。 An electronic component manufacturing apparatus according to the present disclosure includes a first holding section, a second holding section, a moving section, and an attitude adjusting section. An electronic component is formed by bonding a package substrate and a lid. The first holding part holds the package substrate. The second holding part holds the lid. The moving part moves either the first holding part or the second holding part so that the package substrate held by the first holding part and the lid held by the second holding part are in contact with each other. The attitude adjusting section changes the relative attitude of the lid held by the second holding section with respect to the package substrate held by the first holding section.

本開示に従った電子部品の製造方法は、パッケージ基板を第1保持部に保持する工程と、リッドを第2保持部に保持する工程と、移動させる工程と、接合する工程とを備える。移動させる工程では、第1保持部に保持されたパッケージ基板と第2保持部に保持されたリッドとがはんだを介して接触するように、第1保持部および第2保持部のいずれか一方を移動させる。接合する工程では、パッケージ基板とリッドとに接触したはんだを加熱して溶融させることで、はんだによりパッケージ基板とリッドとを接合する。移動させる工程では、第1保持部に保持されたパッケージ基板に対する、第2保持部に保持されたリッドの相対的な姿勢が変更可能になっている。 A method of manufacturing an electronic component according to the present disclosure includes the steps of holding a package substrate on a first holding portion, holding a lid on a second holding portion, moving, and bonding. In the moving step, either one of the first holding portion and the second holding portion is moved so that the package substrate held by the first holding portion and the lid held by the second holding portion are in contact via solder. move. In the joining step, the solder in contact with the package substrate and the lid is heated and melted, thereby joining the package substrate and the lid with the solder. In the moving step, the relative posture of the lid held by the second holding portion with respect to the package substrate held by the first holding portion can be changed.

上記によれば、電子部品を構成するリッドの実装不良の発生を抑制することができる。 According to the above, it is possible to suppress the occurrence of defective mounting of the lid that constitutes the electronic component.

実施の形態1に係る電子部品の製造装置を示す平面模式図である。1 is a schematic plan view showing an electronic component manufacturing apparatus according to Embodiment 1. FIG. 図1に示した電子部品の製造装置の部分断面模式図である。2 is a schematic partial cross-sectional view of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIG. 1. FIG. 図2の線分III-IIIにおける断面模式図である。FIG. 3 is a schematic cross-sectional view taken along line III-III in FIG. 2; 実施の形態1に係る電子部品の製造方法を説明するためのフローチャートである。4 is a flowchart for explaining a method for manufacturing an electronic component according to Embodiment 1; 図4に示した電子部品の製造方法を説明するための部分断面模式図である。5 is a schematic partial cross-sectional view for explaining a method of manufacturing the electronic component shown in FIG. 4; FIG. 図4に示した電子部品の製造方法を説明するための部分断面模式図である。5 is a schematic partial cross-sectional view for explaining a method of manufacturing the electronic component shown in FIG. 4; FIG. 図4に示した電子部品の製造方法を説明するための部分断面模式図である。5 is a schematic partial cross-sectional view for explaining a method of manufacturing the electronic component shown in FIG. 4; FIG. 図4に示した電子部品の製造方法により製造された電子部品の模式図である。5 is a schematic diagram of an electronic component manufactured by the method for manufacturing an electronic component shown in FIG. 4; FIG. 図8の線分IX-IXにおける断面模式図である。FIG. 9 is a schematic cross-sectional view along the line segment IX-IX in FIG. 8; 電子部品の製造装置の比較例の動作を説明するための断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram for demonstrating operation|movement of the comparative example of the manufacturing apparatus of an electronic component. 電子部品の製造装置の比較例の動作を説明するための断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram for demonstrating operation|movement of the comparative example of the manufacturing apparatus of an electronic component. 電子部品の製造装置の比較例における問題を説明するための断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram for demonstrating the problem in the comparative example of the manufacturing apparatus of electronic components. 電子部品の製造装置の比較例における問題を説明するための断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram for demonstrating the problem in the comparative example of the manufacturing apparatus of electronic components. 電子部品の製造装置の比較例における問題を説明するための断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram for demonstrating the problem in the comparative example of the manufacturing apparatus of electronic components. 実施の形態2に係る電子部品の製造装置の部分断面模式図である。FIG. 7 is a schematic partial cross-sectional view of an electronic component manufacturing apparatus according to Embodiment 2; 実施の形態2に係る電子部品の製造方法を説明するためのフローチャートである。8 is a flowchart for explaining a method for manufacturing an electronic component according to Embodiment 2; 実施の形態3に係る電子部品の製造装置の部分断面模式図である。FIG. 11 is a schematic partial cross-sectional view of an electronic component manufacturing apparatus according to Embodiment 3; 図17に示した電子部品の製造装置の動作を説明するための模式図である。18 is a schematic diagram for explaining the operation of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIG. 17; FIG. 実施の形態3に係る電子部品の製造装置の第1変形例を示す部分断面模式図である。FIG. 11 is a schematic partial cross-sectional view showing a first modification of the electronic component manufacturing apparatus according to Embodiment 3; 実施の形態3に係る電子部品の製造装置の第2変形例を示す部分断面模式図である。FIG. 11 is a schematic partial cross-sectional view showing a second modification of the electronic component manufacturing apparatus according to Embodiment 3; 図20に示した電子部品の製造装置の動作を説明するための模式図である。21 is a schematic diagram for explaining the operation of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIG. 20; FIG. 実施の形態4に係る電子部品の製造装置の部分断面模式図である。FIG. 11 is a schematic partial cross-sectional view of an electronic component manufacturing apparatus according to Embodiment 4; 図22に示した電子部品の製造装置の動作を説明するための模式図である。23 is a schematic diagram for explaining the operation of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIG. 22; FIG. 実施の形態4に係る電子部品の製造装置の変形例を示す部分断面模式図である。FIG. 11 is a schematic partial cross-sectional view showing a modification of the electronic component manufacturing apparatus according to Embodiment 4; 図24に示した電子部品の製造装置の動作を説明するための模式図である。25 is a schematic diagram for explaining the operation of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIG. 24; FIG.

以下、添付の図面を用いて、本発明の実施の形態を説明する。なお、以下の図面において相当する部分には同一の参照番号を付し、その説明は繰り返さない。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. In the drawings below, the same reference numerals are given to the corresponding parts, and the description thereof will not be repeated.

実施の形態1.
<電子部品の製造装置の構成>
図1は、実施の形態1に係る電子部品の製造装置を示す平面模式図である。図2は、図1に示した電子部品の製造装置の部分断面模式図である。図3は、図2の線分III-IIIにおける断面模式図である。図1~図3を参照して、本実施の形態に係る電子部品の製造装置を説明する。
Embodiment 1.
<Configuration of electronic component manufacturing equipment>
FIG. 1 is a schematic plan view showing an electronic component manufacturing apparatus according to Embodiment 1. FIG. FIG. 2 is a schematic partial cross-sectional view of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIG. FIG. 3 is a schematic cross-sectional view taken along line III-III in FIG. An electronic component manufacturing apparatus according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 3. FIG.

図1~図3に示す電子部品の製造装置7は、ベース部材と、リッド供給部14と、リッド供給ユニット22と、リッドはんだ付けユニット10と、パッケージ基板はんだ付けユニット19と、リッド位置決めユニット17と、パッケージ基板供給部15と、パッケージ基板供給ユニット13と、実装完了品回収部16と、パッケージ基板位置補正カメラ18と、リッド供給ユニット22を移動させる可動ロボットと、リッドはんだ付けユニット10を移動させる可動ロボットと、パッケージ基板供給ユニット13を移動させる可動ロボットとを主に備える。 1 to 3 includes a base member, a lid supply unit 14, a lid supply unit 22, a lid soldering unit 10, a package board soldering unit 19, a lid positioning unit 17, and a lid supply unit 14. , the package substrate supply unit 15 , the package substrate supply unit 13 , the mounted product recovery unit 16 , the package substrate position correction camera 18 , the movable robot that moves the lid supply unit 22 , and the lid soldering unit 10 . and a movable robot for moving the package substrate supply unit 13 are mainly provided.

リッド供給ユニット22を移動させる可動ロボットは、X軸方向の搬送部20とY軸方向の搬送部21とを含む。X軸方向の搬送部20は、リッド供給ユニット22をX軸方向(図1の横方向)に移動させる。Y軸方向の搬送部21は、X軸方向の搬送部20をY軸方向(図1の縦方向)に移動させる。リッド供給ユニット22は、図示しない昇降機構を介して搬送部20と接続されている。昇降機構としては流体シリンダやモータなど任意の構成を採用できる。可動ロボットにより、リッド供給ユニット22はリッド供給部14上からリッド位置決めユニット17上まで移動することができる。 The movable robot that moves the lid supply unit 22 includes an X-axis direction transport section 20 and a Y-axis direction transport section 21 . The X-axis direction transport section 20 moves the lid supply unit 22 in the X-axis direction (horizontal direction in FIG. 1). The Y-axis direction conveying unit 21 moves the X-axis direction conveying unit 20 in the Y-axis direction (vertical direction in FIG. 1). The lid supply unit 22 is connected to the transport section 20 via an elevation mechanism (not shown). Any configuration such as a fluid cylinder or a motor can be adopted as the lifting mechanism. The movable robot allows the lid supply unit 22 to move from above the lid supply section 14 to above the lid positioning unit 17 .

リッドはんだ付けユニット10を移動させる可動ロボットは、X軸方向の搬送部8とY軸方向の搬送部9とを含む。X軸方向の搬送部8は、リッドはんだ付けユニット10をX軸方向(図1の横方向)に移動させる。Y軸方向の搬送部9は、X軸方向の搬送部8をY軸方向に移動させる。リッドはんだ付けユニット10は、図示しない昇降機構を介して搬送部8と接続されている。昇降機構としては流体シリンダやモータなど任意の構成を採用できる。可動ロボットにより、リッドはんだ付けユニット10はリッド位置決めユニット17上からパッケージ基板はんだ付けユニット19上にまで移動することができる。 The movable robot for moving the lid soldering unit 10 includes an X-axis direction transfer section 8 and a Y-axis direction transfer section 9 . The X-axis direction conveying unit 8 moves the lid soldering unit 10 in the X-axis direction (horizontal direction in FIG. 1). The Y-axis direction transporter 9 moves the X-axis direction transporter 8 in the Y-axis direction. The lid soldering unit 10 is connected to the transport section 8 via an elevation mechanism (not shown). Any configuration such as a fluid cylinder or a motor can be adopted as the lifting mechanism. The movable robot allows the lid soldering unit 10 to move from above the lid positioning unit 17 to above the package substrate soldering unit 19 .

パッケージ基板供給ユニット13を移動させる可動ロボットは、X軸方向の搬送部11とY軸方向の搬送部12とを含む。X軸方向の搬送部11は、パッケージ基板供給ユニット13をX軸方向に移動させる。Y軸方向の搬送部12は、X軸方向の搬送部11をY軸方向に移動させる。パッケージ基板供給ユニット13は、図示しない昇降機構を介して搬送部11と接続されている。昇降機構としては流体シリンダやモータなど任意の構成を採用できる。可動ロボットにより、パッケージ基板供給ユニット13は、パッケージ基板供給部15からパッケージ基板位置補正カメラ18上およびパッケージ基板はんだ付けユニット19上にまで移動することができる。上述した搬送部8、9、11、12、20、21としては、リニアガイドなど従来周知の任意の部材を用いることができる。 The movable robot that moves the package substrate supply unit 13 includes an X-axis direction transfer section 11 and a Y-axis direction transfer section 12 . The X-axis direction transfer unit 11 moves the package substrate supply unit 13 in the X-axis direction. The Y-axis direction transport unit 12 moves the X-axis direction transport unit 11 in the Y-axis direction. The package substrate supply unit 13 is connected to the transport section 11 via an elevation mechanism (not shown). Any configuration such as a fluid cylinder or a motor can be adopted as the lifting mechanism. The movable robot allows the package substrate supply unit 13 to move from the package substrate supply unit 15 onto the package substrate position correction camera 18 and onto the package substrate soldering unit 19 . Conventionally well-known arbitrary members such as linear guides can be used as the above-described transport units 8, 9, 11, 12, 20, and 21. FIG.

リッド供給部14は、プリコートはんだを形成した複数のリッド3が入ったトレイを受け入れる。リッド位置決めユニット17は、リッド供給部14から受け入れたリッド3の位置決めを行う。パッケージ基板供給部15は複数のパッケージ基板2が入ったトレイを受け入れる。 A lid supply section 14 receives a tray containing a plurality of lids 3 on which pre-coated solder is formed. The lid positioning unit 17 positions the lid 3 received from the lid supply section 14 . A package substrate supply unit 15 receives a tray containing a plurality of package substrates 2 .

リッド供給ユニット22としては、リッド供給部14からリッド3をリッド位置決めユニット17に搬送できれば任意の構成を採用できる。たとえば、リッド供給ユニット22として真空吸着部装置を用いることができる。 Any configuration can be adopted as the lid supply unit 22 as long as the lid 3 can be transported from the lid supply unit 14 to the lid positioning unit 17 . For example, a vacuum suction device can be used as the lid supply unit 22 .

パッケージ基板供給ユニット13としては、パッケージ基板供給部15からパッケージ基板2をパッケージ基板はんだ付けユニット19に搬送できれば任意の構成を採用できる。たとえば、パッケージ基板供給ユニット13として真空吸着部装置を用いることができる。 As the package substrate supply unit 13 , any configuration can be adopted as long as the package substrate 2 can be transferred from the package substrate supply unit 15 to the package substrate soldering unit 19 . For example, a vacuum suction device can be used as the package substrate supply unit 13 .

リッドはんだ付けユニット10は、リッド位置決めユニット17からリッド3をパッケージ基板はんだ付けユニット19上に搬送する。リッドはんだ付けユニット10およびパッケージ基板はんだ付けユニット19の構成を図2および図3を参照しながら説明する。 The lid soldering unit 10 transfers the lid 3 from the lid positioning unit 17 onto the package substrate soldering unit 19 . The configurations of the lid soldering unit 10 and the package substrate soldering unit 19 will be described with reference to FIGS. 2 and 3. FIG.

図2および図3に示すように、リッドはんだ付けユニット10は開口部34aが形成されたハウジング34と、当該開口部34aの内部に配置された第2保持部39と、姿勢調整部35とを主に含む。姿勢調整部35は、第2保持部39とハウジング34とを接続し、ゴムなどの柔軟な弾性体からなる。姿勢調整部35は伸縮可能な弾性体であるため、後述するように第2保持部39のパッケージ基板はんだ付けユニット19に対する姿勢を変更できる。 As shown in FIGS. 2 and 3, the lid soldering unit 10 includes a housing 34 having an opening 34a, a second holding portion 39 arranged inside the opening 34a, and an attitude adjusting portion 35. Mainly contains The posture adjusting portion 35 connects the second holding portion 39 and the housing 34 and is made of a flexible elastic body such as rubber. Since the posture adjusting portion 35 is an elastic body that can expand and contract, the posture of the second holding portion 39 with respect to the package substrate soldering unit 19 can be changed as described later.

第2保持部39の下面には真空吸着用の吸着孔26が形成されている。当該吸着孔26は第2保持部39の上面にまで延びている。第2保持部39の上面において、継ぎ手36を介して上記吸着孔26にホース37が接続されている。ホース37は、ハウジング34の内部から当該ハウジング34の上面に形成された穴を介してハウジング34の外部にまで延びている。ホース37は真空ポンプなどの吸引装置に接続されている。第2保持部39に負荷がかかることを避けるため、ホース37は柔軟性のある素材により構成されることが好ましく、たとえばフレキシブルホースをホース37として用いてもよい。 A suction hole 26 for vacuum suction is formed in the lower surface of the second holding portion 39 . The suction hole 26 extends to the upper surface of the second holding portion 39 . A hose 37 is connected to the suction hole 26 via a joint 36 on the upper surface of the second holding portion 39 . The hose 37 extends from the inside of the housing 34 to the outside of the housing 34 through a hole formed in the upper surface of the housing 34 . Hose 37 is connected to a suction device such as a vacuum pump. In order to avoid applying a load to the second holding portion 39, the hose 37 is preferably made of a flexible material, and a flexible hose may be used as the hose 37, for example.

第2保持部39の内部にはヒータ24および熱電対25が配置されている。ヒータ24および熱電対25は第2保持部39においてリッド3を吸着する面である下面と上面との間において相対的に下面に近い領域に配置されている。第2保持部39の下面において、吸着孔26が複数箇所に形成されていてもよい。 A heater 24 and a thermocouple 25 are arranged inside the second holding portion 39 . The heater 24 and the thermocouple 25 are arranged in a region relatively close to the lower surface of the second holding portion 39 between the upper surface and the lower surface, which are the surfaces on which the lid 3 is attracted. A plurality of suction holes 26 may be formed on the lower surface of the second holding portion 39 .

第2保持部39の上面の外周部とハウジング34において開口部34aと隣接する壁部の一部とを接続するように姿勢調整部35が配置されている。姿勢調整部35は、たとえば第2保持部39と開口部34aと隣接する上記壁部との間を接続するため、環状の平面形状を有している。図3では、姿勢調整部35の平面形状における外径は四角形状である。姿勢調整部35には第2保持部39の上面を露出させるための開口部が形成されている。姿勢調整部35は取付ネジ38によりハウジング34および第2保持部39に固定されている。第2保持部39において、複数の取付ネジ38は上面の外周部において姿勢調整部35と重なる領域に配置されている。ハウジング34において、複数の取付ネジ38は開口部34aに隣接する壁部の一部であって姿勢調整部35の一部と重なる領域に配置されている。姿勢調整部35の材質は、はんだの融点(220℃)以上の温度に耐えられる耐熱性シリコーンゴム等を使用することが望ましい。 A posture adjusting portion 35 is arranged so as to connect the outer peripheral portion of the upper surface of the second holding portion 39 and a portion of the wall adjacent to the opening 34 a in the housing 34 . The posture adjusting portion 35 has an annular planar shape to connect, for example, the second holding portion 39 and the wall adjacent to the opening 34a. In FIG. 3, the outer diameter of the posture adjusting portion 35 in plan view is square. An opening for exposing the upper surface of the second holding portion 39 is formed in the posture adjusting portion 35 . The posture adjusting portion 35 is fixed to the housing 34 and the second holding portion 39 with mounting screws 38 . In the second holding portion 39 , the plurality of mounting screws 38 are arranged in a region overlapping the attitude adjusting portion 35 on the outer peripheral portion of the upper surface. In the housing 34 , the plurality of mounting screws 38 are arranged in a portion of the wall portion adjacent to the opening 34 a and in a region overlapping with a portion of the posture adjusting portion 35 . As for the material of the posture adjusting portion 35, it is desirable to use a heat-resistant silicone rubber or the like that can withstand temperatures above the melting point (220° C.) of solder.

パッケージ基板はんだ付けユニット19は、ケース28と、当該ケース28の内部に配置されたパッケージ基板吸着ステージである第1保持部27とを主に含む。ケース28の上面には第2保持部39を挿入することが可能な開口部が形成されている。ケース28の側面には気体導入孔29および気体排気孔30が形成されている。気体導入孔29には図示しない配管が接続されていてもよい。当該配管は気体の供給源に接続されていてもよい。気体としては不活性ガスを用いることができる。気体としてはたとえば窒素ガスを用いることができる。気体排気孔30には図示しない配管が接続されていてもよい。当該配管は排気ポンプなどの排気装置に接続されていてもよい。ケース28の内部には気体導入孔29から窒素などの気体を供給できる。供給された気体は気体排気孔30を介してケース28の外部に排出される。 The package substrate soldering unit 19 mainly includes a case 28 and a first holding portion 27 that is a package substrate suction stage arranged inside the case 28 . An opening into which the second holding portion 39 can be inserted is formed in the upper surface of the case 28 . A gas introduction hole 29 and a gas exhaust hole 30 are formed in the side surface of the case 28 . A pipe (not shown) may be connected to the gas introduction hole 29 . The piping may be connected to a gas supply source. An inert gas can be used as the gas. Nitrogen gas, for example, can be used as the gas. A pipe (not shown) may be connected to the gas exhaust hole 30 . The pipe may be connected to an exhaust device such as an exhaust pump. A gas such as nitrogen can be supplied to the inside of the case 28 from the gas introduction hole 29 . The supplied gas is discharged outside the case 28 through the gas exhaust hole 30 .

第1保持部27の上面には真空吸着用の吸着孔26が形成されている。当該吸着孔26は第1保持部27の側面にまで延びている。第1保持部27の側面において、上記吸着孔26に図示しない配管が接続されていてもよい。当該配管は、ケース28の内部から外部にまで延びていてもよい。配管は真空ポンプなどの吸引装置に接続されていてもよい。 A suction hole 26 for vacuum suction is formed in the upper surface of the first holding portion 27 . The suction hole 26 extends to the side surface of the first holding portion 27 . A pipe (not shown) may be connected to the suction hole 26 on the side surface of the first holding portion 27 . The pipe may extend from the inside of the case 28 to the outside. The tubing may be connected to a suction device such as a vacuum pump.

第1保持部27の内部にはヒータ24および熱電対25が配置されている。ヒータ24および熱電対25は第1保持部27においてパッケージ基板2を吸着する面である上面と下面との間において相対的に上面に近い領域に配置されている。第1保持部27の上面において、吸着孔26が複数箇所に形成されていてもよい。熱電対25はヒータ24のける温度制御および温度監視に用いられる。第1保持部27には、上面に搭載されたパッケージ基板2へ負荷される荷重を検出するセンサ(図示せず)が設置されている。当該センサとしては、たとえば圧電素子を用いることができる。 A heater 24 and a thermocouple 25 are arranged inside the first holding portion 27 . The heater 24 and the thermocouple 25 are arranged in a region relatively close to the upper surface of the first holding portion 27 between the upper surface and the lower surface of the package substrate 2 . A plurality of suction holes 26 may be formed on the upper surface of the first holding portion 27 . Thermocouple 25 is used for temperature control and temperature monitoring of heater 24 . A sensor (not shown) for detecting a load applied to the package substrate 2 mounted on the upper surface is installed in the first holding portion 27 . A piezoelectric element, for example, can be used as the sensor.

<電子部品の製造方法>
図4は、実施の形態1に係る電子部品の製造方法を説明するためのフローチャートである。図5は、図4に示した電子部品の製造方法を説明するための部分断面模式図である。図6は、図4に示した電子部品の製造方法を説明するための部分断面模式図である。図7は、図4に示した電子部品の製造方法を説明するための部分断面模式図である。図1~図7を参照しながら、本実施の形態に係る電子部品の製造方法を説明する。
<Method for manufacturing electronic components>
FIG. 4 is a flow chart for explaining the method for manufacturing an electronic component according to the first embodiment. FIG. 5 is a schematic partial cross-sectional view for explaining the method of manufacturing the electronic component shown in FIG. FIG. 6 is a schematic partial cross-sectional view for explaining the method of manufacturing the electronic component shown in FIG. FIG. 7 is a schematic partial cross-sectional view for explaining the method of manufacturing the electronic component shown in FIG. A method for manufacturing an electronic component according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 7. FIG.

まず、はんだ4(図2参照)をプリコートした複数のリッド3が入ったトレイをリッド供給部14に投入する。また、複数のパッケージ基板2が入ったトレイをパッケージ基板供給部15に投入する。 First, a tray containing a plurality of lids 3 precoated with solder 4 (see FIG. 2) is put into the lid supply section 14 . Also, a tray containing a plurality of package substrates 2 is put into the package substrate supply section 15 .

次に、リッド供給ユニット22により、リッド供給部14のトレイ内に配置されたリッド3をリッド位置決めユニット17へ搬送する。リッド位置決めユニット17の詳細は図示しないが、たとえばリッド3の1辺に接触するべき第1基準面、および当該第1基準面と直角に交わる第2基準面を有した基準板をリッド位置決めユニット17として用いることができる。当該基準板の第1基準面および第2基準面にリッド3の2つの辺が接触するように、当該リッド3を基準板に押圧することで、リッド3の機械的な位置決めを行うことができる。 Next, the lid supply unit 22 conveys the lid 3 arranged in the tray of the lid supply section 14 to the lid positioning unit 17 . Although details of the lid positioning unit 17 are not shown, for example, the lid positioning unit 17 has a reference plate having a first reference surface to be in contact with one side of the lid 3 and a second reference surface perpendicular to the first reference surface. can be used as The lid 3 can be mechanically positioned by pressing the lid 3 against the reference plate so that the two sides of the lid 3 are in contact with the first reference surface and the second reference surface of the reference plate. .

次に、パッケージ基板供給ユニット13により、パッケージ基板供給部15のトレイ内に配置されたパッケージ基板2をパッケージ基板位置補正カメラ18上に搬送する。パッケージ基板位置補正カメラ18により、パッケージ基板供給ユニット13に保持されたパッケージ基板2の絶対位置を計測する。パッケージ基板2の絶対位置を示す情報としては、たとえばパッケージ基板2の外周における角部のX座標およびY座標などの情報を用いることができる。 Next, the package board supply unit 13 conveys the package board 2 arranged in the tray of the package board supply unit 15 onto the package board position correction camera 18 . The package substrate position correcting camera 18 measures the absolute position of the package substrate 2 held by the package substrate supply unit 13 . As the information indicating the absolute position of the package substrate 2, for example, information such as the X and Y coordinates of the corners on the outer periphery of the package substrate 2 can be used.

この後、パッケージ基板供給ユニット13により、パッケージ基板2をパッケージ基板位置補正カメラ18上からパッケージ基板はんだ付けユニット19の第1保持部27上に搬送する。なお、上述したパッケージ基板2の絶対位置を示す情報は、第1保持部27の上面に搭載されたパッケージ基板2の位置補正など、リッド3をパッケージ基板2の表面における正確な位置に実装するために用いられる。 Thereafter, the package substrate supply unit 13 conveys the package substrate 2 from the package substrate position correcting camera 18 onto the first holding portion 27 of the package substrate soldering unit 19 . The information indicating the absolute position of the package substrate 2 described above is used for correcting the position of the package substrate 2 mounted on the upper surface of the first holding portion 27 and for mounting the lid 3 at an accurate position on the surface of the package substrate 2. used for

次に、図4に示すようにパッケージ基板吸着工程(S11)を実施する。この工程(S11)では、第1保持部27においてパッケージ基板2を真空吸着する。具体的には、第1保持部27の吸着孔26を介してパッケージ基板2と第1保持部27の上面との間から気体を吸引することで、パッケージ基板2を第1保持部27の上面に吸着する。 Next, as shown in FIG. 4, a package substrate suction step (S11) is performed. In this step ( S<b>11 ), the first holding portion 27 vacuum-sucks the package substrate 2 . Specifically, by sucking the gas from between the package substrate 2 and the upper surface of the first holding portion 27 through the suction holes 26 of the first holding portion 27 , the package substrate 2 is attached to the upper surface of the first holding portion 27 . to be adsorbed.

次に、ヒータによりパッケージ基板2を予備加熱する工程(S12)を実施する。この工程(S12)では、第1保持部27のヒータ24を動作させることにより、パッケージ基板2を予備加熱する。このときのパッケージ基板2の加熱温度は、はんだ4の溶融温度(たとえば210℃)以下の温度とする。 Next, a step (S12) of preheating the package substrate 2 with a heater is performed. In this step ( S<b>12 ), the package substrate 2 is preheated by operating the heater 24 of the first holding portion 27 . The heating temperature of the package substrate 2 at this time is set to a temperature equal to or lower than the melting temperature (for example, 210° C.) of the solder 4 .

次に、リッドを吸着する工程(S21)を実施する。この工程(S21)では、リッドはんだ付けユニット10がリッド位置決めユニット17に配置されたリッド3を真空吸着する。具体的には、第2保持部39の吸着孔26を介してリッド3と第2保持部39の下面との間から気体を吸引することで、リッド3を第2保持部39の下面に吸着する。 Next, the step of sucking the lid (S21) is performed. In this step ( S<b>21 ), the lid soldering unit 10 vacuum-sucks the lid 3 placed on the lid positioning unit 17 . Specifically, gas is sucked from between the lid 3 and the lower surface of the second holding portion 39 through the suction holes 26 of the second holding portion 39 , whereby the lid 3 is attracted to the lower surface of the second holding portion 39 . do.

次に、ヒータによりリッド3を予備加熱する工程(S22)を実施する。この工程(S22)では、第2保持部39のヒータ24を動作させることにより、リッド3を予備加熱する。このときのリッド3の加熱温度は、工程(S12)におけるパッケージ基板2の加熱温度と同様に、はんだ4の溶融温度以下の温度とする。 Next, a step of preheating the lid 3 with a heater (S22) is performed. In this step ( S<b>22 ), the lid 3 is preheated by operating the heater 24 of the second holding portion 39 . The heating temperature of the lid 3 at this time is set to a temperature equal to or lower than the melting temperature of the solder 4, similarly to the heating temperature of the package substrate 2 in step (S12).

次に、リッドはんだ付けユニット10を移動させることにより、リッド3をパッケージ基板はんだ付けユニット19の上部へ移動する工程(S23)を実施する。 Next, by moving the lid soldering unit 10, the step (S23) of moving the lid 3 to the upper part of the package substrate soldering unit 19 is performed.

次に、リッドはんだ付けユニット10をパッケージ基板はんだ付けユニット19に向けて下降させる工程(S24)を実施する。この工程(S24)では、リッドはんだ付けユニット10に保持されたリッド3表面に配置されたはんだ4がパッケージ基板2の表面に接触するまで、リッドはんだ付けユニット10を下降させる。 Next, the step of lowering the lid soldering unit 10 toward the package substrate soldering unit 19 (S24) is performed. In this step ( S<b>24 ), the lid soldering unit 10 is lowered until the solder 4 placed on the surface of the lid 3 held by the lid soldering unit 10 contacts the surface of the package substrate 2 .

次に、圧電素子などのセンサによりパッケージ基板2への荷重増加を検出する工程(S31)が実施される。この工程(S31)では、リッド3がパッケージ基板2にはんだ4を介して接触することで、パッケージ基板2への荷重が増加したことを検出する。この結果、パッケージ基板2にリッド3がはんだ4を介して接触したことを確認できる。上記のように荷重増加を検知した場合、リッドはんだ付けユニット10の下降を停止する。 Next, a step (S31) of detecting an increase in the load on the package substrate 2 by a sensor such as a piezoelectric element is performed. In this step ( S<b>31 ), it is detected that the load on the package substrate 2 has increased due to the lid 3 coming into contact with the package substrate 2 via the solder 4 . As a result, it can be confirmed that the lid 3 is in contact with the package substrate 2 via the solder 4 . When the load increase is detected as described above, the lowering of the lid soldering unit 10 is stopped.

ここで、上述した工程(S21)において、図5に示すように第2保持部39の下面とリッド3との間に異物31が挟まった状態で、リッド3が第2保持部39に吸着された場合を考える。この場合、図5に示すように第2保持部39の下面に対して、リッド3においてはんだ4が配置された面(接合面)が傾いた状態になる。この状態で、工程(S31)のようにリッド3がパッケージ基板2にはんだ4を介して接触した場合、図6に示すように、本実施の形態に係る製造装置では姿勢調整部35が部分的に変形する。この結果、リッド3の接合面がパッケージ基板2の表面にほぼ平行になるように、第2保持部39の姿勢が変更される。このように、異物31が存在する場合であっても、リッド3のはんだ4全体がパッケージ基板2の表面に接触した状態を実現できる。 Here, in the step (S21) described above, the lid 3 is attracted to the second holding portion 39 while the foreign object 31 is sandwiched between the lower surface of the second holding portion 39 and the lid 3 as shown in FIG. Consider the case of In this case, the surface (bonding surface) of the lid 3 on which the solder 4 is arranged is inclined with respect to the lower surface of the second holding portion 39 as shown in FIG. In this state, when the lid 3 contacts the package substrate 2 through the solder 4 as in step (S31), as shown in FIG. Transform into As a result, the posture of the second holding portion 39 is changed such that the bonding surface of the lid 3 is substantially parallel to the surface of the package substrate 2 . In this way, even if the foreign matter 31 exists, the state in which the entire solder 4 of the lid 3 is in contact with the surface of the package substrate 2 can be achieved.

また、図7に示すように、パッケージ基板2の厚みが一定ではなく、当該パッケージ基板2においてリッド3がはんだ接合されるべき表面が第1保持部27の表面に対して傾斜している場合も、姿勢調整部35が部分的に変形することで、リッド3のはんだ4全体がパッケージ基板2の表面に接触した状態を実現できる。 Moreover, as shown in FIG. 7, even if the thickness of the package substrate 2 is not uniform and the surface of the package substrate 2 to which the lid 3 is to be soldered is inclined with respect to the surface of the first holding portion 27. By partially deforming the posture adjusting portion 35 , a state in which the entire solder 4 of the lid 3 is in contact with the surface of the package substrate 2 can be realized.

次に、ヒータを加熱する工程(S32)を実施する。この工程(S32)では、リッド吸着ステージである第2保持部39とパッケージ基板吸着ステージである第1保持部27のヒータ24を動作させることで、リッド3およびパッケージ基板2をはんだ4の融点以上の温度に加熱する。当該加熱温度は、たとえば220℃以上である。また、このとき気体導入孔29から不活性ガスの一例である窒素ガスをケース28の内部に導入する。ケース28の内部は窒素ガスで満たされた状態とすることが好ましい。この状態で、予め設定したはんだの濡れ広がりに必要な保持時間だけ、加熱を続ける。このようにして、窒素ガス雰囲気中ではんだ付け工程(S33)が実施される。 Next, the step of heating the heater (S32) is performed. In this step ( S<b>32 ), the heaters 24 of the second holding portion 39 as the lid suction stage and the first holding portion 27 as the package substrate suction stage are operated to heat the lid 3 and the package substrate 2 above the melting point of the solder 4 . to a temperature of The heating temperature is, for example, 220° C. or higher. At this time, nitrogen gas, which is an example of an inert gas, is introduced into the case 28 through the gas introduction hole 29 . The interior of the case 28 is preferably filled with nitrogen gas. In this state, heating is continued for a preset retention time required for the solder to wet and spread. Thus, the soldering step (S33) is performed in the nitrogen gas atmosphere.

次に、冷却工程(S34)を実施する。この工程(S34)では、ヒータ24での発熱量を低下させる、あるいはヒータ24の動作を止めて、リッド3およびパッケージ基板2の温度をはんだ4の融点以下に下げる。この状態で、上記工程(S33、S34)において溶融していたはんだ4の温度が低下し、はんだ4が固まるまで維持する。このようにして、リッド3とパッケージ基板2とのはんだ付けが完了する。 Next, a cooling step (S34) is performed. In this step (S34), the amount of heat generated by the heater 24 is reduced or the operation of the heater 24 is stopped to lower the temperature of the lid 3 and the package substrate 2 to the melting point of the solder 4 or less. This state is maintained until the temperature of the solder 4 that was melted in the steps (S33, S34) drops and the solder 4 solidifies. Thus, the soldering of the lid 3 and the package substrate 2 is completed.

次に、リッド3の吸着を開放する工程(S41)を実施する。この工程(S41)では、第2保持部39におけるリッド3の真空吸着を停止し、リッド3から第2保持部39を取り外し可能な状態とする。 Next, the step of releasing the adsorption of the lid 3 (S41) is performed. In this step ( S<b>41 ), the vacuum suction of the lid 3 to the second holding portion 39 is stopped so that the second holding portion 39 can be removed from the lid 3 .

次に、リッドはんだ付けユニット10を上昇させる工程(S42)を実施する。この工程(S42)では、リッドはんだ付けユニット10をパッケージ基板はんだ付けユニット19から離れる方向に上昇させる。 Next, the step (S42) of raising the lid soldering unit 10 is performed. In this step ( S<b>42 ), the lid soldering unit 10 is raised in a direction away from the package substrate soldering unit 19 .

次に、パッケージ基板の吸着を開放する工程(S51)を実施する。この工程(S51)では、第1保持部27におけるパッケージ基板2の真空吸着を停止し、第1保持部27からリッド3が接続されたパッケージ基板2を取り外し可能な状態とする。 Next, the step of releasing the adsorption of the package substrate (S51) is performed. In this step ( S<b>51 ), vacuum suction of the package substrate 2 to the first holding portion 27 is stopped, and the package substrate 2 to which the lid 3 is connected from the first holding portion 27 is put into a detachable state.

次に、実装完了品であるリッド3が接続されたパッケージ基板2を実装完了品回収部16へ移動する工程(S52)を実施する。この工程(S52)では、パッケージ基板供給ユニット13により、電子部品としてのリッド3が接続されたパッケージ基板2を第1保持部27上から実装完了品回収部16へ搬送する。このようにして、電子部品1を得ることができる。 Next, a step (S52) of moving the package substrate 2, to which the lid 3, which is a mounted product, is connected to the mounted product collection unit 16, is carried out. In this step ( S<b>52 ), the package board supply unit 13 conveys the package board 2 to which the lid 3 as an electronic component is connected from the first holding section 27 to the mounted product collecting section 16 . Thus, the electronic component 1 can be obtained.

<電子部品の構成>
図8は、図4に示した電子部品の製造方法により製造された電子部品の模式図である。図8の上側の図は電子部品1の平面模式図を示す。図8の下側の図は電子部品1の側面模式図を示す。図9は、図8の線分IX-IXにおける断面模式図である。上述の電子部品の製造方法により得られる電子部品1は、たとえば通信機、レーダ等に使用される高周波用の電子部品であってもよい。
<Structure of Electronic Components>
FIG. 8 is a schematic diagram of an electronic component manufactured by the electronic component manufacturing method shown in FIG. The upper diagram in FIG. 8 shows a schematic plan view of the electronic component 1 . The lower diagram in FIG. 8 shows a schematic side view of the electronic component 1 . FIG. 9 is a schematic cross-sectional view along line segment IX-IX in FIG. The electronic component 1 obtained by the above-described electronic component manufacturing method may be a high-frequency electronic component used in, for example, communication equipment, radar, and the like.

図8および図9に示すように電子部品1はパッケージ基板2とリッド3とを主に備える。パッケージ基板2の表面には半導体素子5が搭載されている。半導体素子5はボンディングワイヤ6によりパッケージ基板2の表面に形成された導電体からなる配線層と接続されている。 As shown in FIGS. 8 and 9, electronic component 1 mainly includes package substrate 2 and lid 3 . A semiconductor element 5 is mounted on the surface of the package substrate 2 . The semiconductor element 5 is connected by bonding wires 6 to a wiring layer made of a conductor formed on the surface of the package substrate 2 .

半導体素子5は、たとえば通信機やレーダ等に使用される高周波素子である。この場合、電子部品1の半導体素子5においては、電磁波の漏洩や干渉を遮断することが求められる。このため、半導体素子5をリッド3で保護する必要がある。リッド3は、例えばコバールなどの金属で作製されたものが用いられる。パッケージ基板2とリッド3とを接合する手段として、たとえば上述のようにはんだ実装を用いることができる。この場合、図4に示した電子部品の製造方法で説明したように、リッド3には予めはんだ4としてプリコートはんだを形成しておく。また、パッケージ基板2には、はんだ4が接続される領域に当該はんだ4が濡れ易い金属を形成しておく。そして、図4に示した工程により、はんだ4を溶融させてリッド3とパッケージ基板2とをはんだ接合する。この結果、リッド3の外周部の全体がはんだ4によりパッケージ基板2と接合された状態となっている。 Semiconductor device 5 is a high-frequency device used in, for example, communication equipment, radar, and the like. In this case, the semiconductor element 5 of the electronic component 1 is required to block leakage and interference of electromagnetic waves. Therefore, it is necessary to protect the semiconductor element 5 with the lid 3 . The lid 3 is made of metal such as Kovar, for example. As means for joining the package substrate 2 and the lid 3, for example, solder mounting can be used as described above. In this case, as described in the electronic component manufacturing method shown in FIG. Also, on the package substrate 2, a metal that is easily wetted by the solder 4 is formed in a region to which the solder 4 is to be connected. 4, the solder 4 is melted and the lid 3 and the package substrate 2 are soldered together. As a result, the entire outer peripheral portion of the lid 3 is joined to the package substrate 2 by the solder 4 .

<作用効果>
本開示に従った電子部品1の製造装置7は、第1保持部27と第2保持部39と移動部71と姿勢調整部35とを備える。電子部品1は、パッケージ基板2とリッド3とを接合したものである。第1保持部27は、パッケージ基板2を保持する。第2保持部39は、リッド3を保持する。移動部71は、第1保持部27に保持されたパッケージ基板2と第2保持部39に保持されたリッド3とが接触するように、第1保持部27および第2保持部39のいずれか一方を移動させる。姿勢調整部35は、第1保持部27に保持されたパッケージ基板2に対する、第2保持部39に保持されたリッド3の相対的な姿勢を変更する。
<Effect>
A manufacturing apparatus 7 for an electronic component 1 according to the present disclosure includes a first holding section 27 , a second holding section 39 , a moving section 71 and an attitude adjusting section 35 . The electronic component 1 is obtained by joining a package substrate 2 and a lid 3 . The first holding portion 27 holds the package substrate 2 . The second holding portion 39 holds the lid 3 . The moving portion 71 moves either the first holding portion 27 or the second holding portion 39 so that the package substrate 2 held by the first holding portion 27 and the lid 3 held by the second holding portion 39 are in contact with each other. move one. The attitude adjusting section 35 changes the relative attitude of the lid 3 held by the second holding section 39 with respect to the package substrate 2 held by the first holding section 27 .

ここで、図4に示した工程(S31)~工程(S33)で説明したように、パッケージ基板2に対してリッド3を接合するために当該リッド3をパッケージ基板2に対して接触させる場合を考える。このとき、たとえば図5および図6に示すようにパッケージ基板2が第1保持部27において保持されている姿勢、またはリッド3が第2保持部39において保持されている姿勢が製造装置7の設計時に想定される姿勢とずれている場合であっても、姿勢調整部35によってパッケージ基板2に対するリッド3の相対的な姿勢を変更できる。この結果、上述した姿勢のずれを打ち消すようにパッケージ基板2またはリッド3の姿勢を姿勢調整部35により変更できるので、リッド3においてパッケージ基板2に接続されるべき接合面全体を、はんだ4を介してパッケージ基板2に接触させることができる。このため、リッド3をパッケージ基板2に対してはんだ接合する場合に、接合面全体がはんだ4を介してパッケージ基板2に接合された状態とすることができる。 Here, as described in the steps (S31) to (S33) shown in FIG. think. At this time, the posture in which the package substrate 2 is held by the first holding portion 27 as shown in FIGS. Even if the posture is deviated from the assumed posture, the relative posture of the lid 3 with respect to the package substrate 2 can be changed by the posture adjusting section 35 . As a result, the posture of the package substrate 2 or the lid 3 can be changed by the posture adjustment unit 35 so as to cancel the deviation of the posture described above. can be brought into contact with the package substrate 2. Therefore, when the lid 3 is soldered to the package substrate 2 , the entire bonding surface can be bonded to the package substrate 2 via the solder 4 .

上記電子部品の製造装置7において、姿勢調整部35は、第1保持部27に対する第2保持部39の姿勢を変更する。この場合、姿勢調整部35により第2保持部39の姿勢を変更することで、パッケージ基板2に対するリッド3の姿勢を変更することができる。 In the electronic component manufacturing apparatus 7 , the attitude adjustment section 35 changes the attitude of the second holding section 39 with respect to the first holding section 27 . In this case, the posture of the lid 3 with respect to the package substrate 2 can be changed by changing the posture of the second holding portion 39 by the posture adjusting portion 35 .

上記電子部品の製造装置7において、姿勢調整部35は弾性体を含む。この場合、第1保持部27または第2保持部39をハウジング34またはケース28などの他の部材に接続する接続部に、姿勢調整部35としての弾性体を配置すれば、弾性体の弾性力を利用して第1保持部27または第2保持部39の姿勢を容易に変更できる。したがって、姿勢調整部35として電動アクチュエータなどを用いる場合より製造装置7の構成を簡略化できる。 In the electronic component manufacturing apparatus 7 described above, the attitude adjusting section 35 includes an elastic body. In this case, if an elastic body serving as the posture adjustment part 35 is arranged at the connecting part that connects the first holding part 27 or the second holding part 39 to another member such as the housing 34 or the case 28, the elastic force of the elastic body can be used to easily change the posture of the first holding portion 27 or the second holding portion 39 . Therefore, the configuration of the manufacturing apparatus 7 can be simplified as compared with the case where an electric actuator or the like is used as the posture adjusting section 35 .

上記電子部品の製造装置7において、弾性体は樹脂からなる。この場合、樹脂の種類やサイズを変更することで、姿勢調整部35の特性を変更できる。 In the electronic component manufacturing apparatus 7, the elastic body is made of resin. In this case, the characteristics of the posture adjusting section 35 can be changed by changing the type and size of the resin.

本開示に従った電子部品の製造方法では、パッケージ基板2を第1保持部27に保持する工程(S11)と、リッド3を第2保持部39に保持する工程(S21)と、移動させる工程(S23、S24)と、接合する工程(S32、S33、S34)とを備える。移動させる工程(S23、S24、S31)では、第1保持部27に保持されたパッケージ基板2と第2保持部39に保持されたリッド3とがはんだ4を介して接触するように、第1保持部27および第2保持部39のいずれか一方を移動させる。接合する工程(S32、S33、S34)では、パッケージ基板2とリッド3とに接触したはんだ4を加熱して溶融させることで、はんだ4によりパッケージ基板2とリッド3とを接合する。移動させる工程(S23、S24、S31)では、第1保持部27に保持されたパッケージ基板2に対する、第2保持部39に保持されたリッド3の相対的な姿勢が変更可能になっている。 In the method of manufacturing an electronic component according to the present disclosure, the step of holding the package substrate 2 on the first holding portion 27 (S11), the step of holding the lid 3 on the second holding portion 39 (S21), and the step of moving (S23, S24) and a joining step (S32, S33, S34). In the step of moving (S23, S24, S31), the first holding portion 27 is moved so that the package substrate 2 held by the first holding portion 27 and the lid 3 held by the second holding portion 39 are in contact via the solder 4. Either one of the holding portion 27 and the second holding portion 39 is moved. In the joining step (S32, S33, S34), the package substrate 2 and the lid 3 are joined by the solder 4 by heating and melting the solder 4 in contact with the package substrate 2 and the lid 3 . In the moving steps (S23, S24, S31), the relative posture of the lid 3 held by the second holding portion 39 with respect to the package substrate 2 held by the first holding portion 27 can be changed.

ここで、移動させる工程(S23、S24、S31)において、パッケージ基板2に対してリッド3を接合するために当該リッド3をパッケージ基板2に対して接触させた状態で、パッケージ基板2が第1保持部27において保持されている姿勢、またはリッド3が第2保持部39において保持されている姿勢が製造装置7の設計時に想定される姿勢とずれている場合を考える。このとき、パッケージ基板2とリッド3とがはんだ4を介して接触するときに、パッケージ基板2に対するリッド3の相対的な姿勢を変更できる。この結果、上述した姿勢のずれを打ち消すようにパッケージ基板2またはリッド3の姿勢を変更することで、リッド3においてパッケージ基板2に接続されるべき接合面全体を、はんだ4を介してパッケージ基板2に接触させることができる。このため、接合する工程(S32、S33、S34)において、リッド3をパッケージ基板2に対してはんだ接合する場合に、リッド3の接合面全体がはんだ4を介してパッケージ基板2に接合された状態とすることができる。 Here, in the moving step (S23, S24, S31), the package substrate 2 is moved to the first position while the lid 3 is in contact with the package substrate 2 in order to bond the lid 3 to the package substrate 2. Consider a case where the posture held by the holding portion 27 or the posture held by the second holding portion 39 of the lid 3 deviates from the posture assumed at the time of designing the manufacturing apparatus 7 . At this time, when the package substrate 2 and the lid 3 are in contact with each other through the solder 4, the relative posture of the lid 3 with respect to the package substrate 2 can be changed. As a result, by changing the posture of the package substrate 2 or the lid 3 so as to cancel out the above-described deviation of the posture, the entire bonding surface of the lid 3 to be connected to the package substrate 2 can be transferred to the package substrate 2 via the solder 4 . can be contacted. Therefore, when the lid 3 is solder-bonded to the package substrate 2 in the bonding step (S32, S33, S34), the entire bonding surface of the lid 3 is bonded to the package substrate 2 via the solder 4. can be

ここで、上述した本実施の形態に係る電子部品の製造装置および製造方法の効果を、比較例と対比することにより詳しく説明する。図10および図11は、電子部品の製造装置の比較例の動作を説明するための断面模式図である。図12~図14は、電子部品の製造装置の比較例における問題を説明するための断面模式図である。図10は図4の工程(S24)に対応する工程を示し、図11は図4の工程(S31)に対応する工程を示している。図10~図14に示した電子部品の製造装置の比較例では、姿勢調整部35を備えていないため、第1保持部27に対する第2保持部123の姿勢は固定されている。図10および図11に示すように、異物などが介在することなく、第2保持部123においてリッド3を正しい姿勢で真空吸着しておけば、電子部品の製造装置の比較例においてもリッド3のはんだ4の全体をパッケージ基板2の表面に接触させることができる。 Here, the effect of the electronic component manufacturing apparatus and manufacturing method according to the present embodiment described above will be described in detail by comparing with a comparative example. 10 and 11 are schematic cross-sectional views for explaining the operation of the comparative example of the electronic component manufacturing apparatus. 12 to 14 are schematic cross-sectional views for explaining problems in the comparative example of the electronic component manufacturing apparatus. 10 shows a process corresponding to the process (S24) in FIG. 4, and FIG. 11 shows a process corresponding to the process (S31) in FIG. In the comparative example of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 10 to 14, since the posture adjusting portion 35 is not provided, the posture of the second holding portion 123 with respect to the first holding portion 27 is fixed. As shown in FIGS. 10 and 11, if the lid 3 is vacuum-sucked in the correct posture on the second holding portion 123 without any foreign matter intervening, the lid 3 can be held even in the comparative example of the electronic component manufacturing apparatus. The entire solder 4 can be brought into contact with the surface of the package substrate 2 .

しかし、図12に示すように、リッド3と第2保持部123との間に異物31が挟まった状態となったときには、電子部品の製造装置の比較例ではリッド3がパッケージ基板2に対して傾いた状態となり、リッド3のはんだ4の一部のみがパッケージ基板2の表面に接触した状態となる。つまり、リッド3のはんだ4とパッケージ基板2の表面との間に隙間33が形成された部分が発生する。この結果、リッド3とパッケージ基板2との接合部において部分的にはんだ接合されない部分が発生する。 However, as shown in FIG. 12, when a foreign object 31 is caught between the lid 3 and the second holding portion 123, the lid 3 is placed against the package substrate 2 in the comparative example of the electronic component manufacturing apparatus. The lid 3 is tilted, and only a part of the solder 4 of the lid 3 is in contact with the surface of the package substrate 2 . In other words, a gap 33 is formed between the solder 4 of the lid 3 and the surface of the package substrate 2 . As a result, a part of the joint between the lid 3 and the package substrate 2 is not soldered.

また、図13に示すように、パッケージ基板2と第1保持部27との間に異物31が挟まった状態となったときには、電子部品の製造装置の比較例ではパッケージ基板2がリッド3に対して傾いた状態となり、図12の場合と同様にリッド3のはんだ4の一部のみがパッケージ基板2の表面に接触した状態となる。この結果、リッド3とパッケージ基板2との接合部において部分的にはんだ接合されない部分が発生する。 In addition, as shown in FIG. 13, when a foreign object 31 is caught between the package substrate 2 and the first holding portion 27, the package substrate 2 is placed against the lid 3 in the comparative example of the electronic component manufacturing apparatus. As in the case of FIG. 12, only a part of the solder 4 of the lid 3 is in contact with the surface of the package substrate 2 . As a result, a part of the joint between the lid 3 and the package substrate 2 is not soldered.

また、図14に示すように、パッケージ基板2の厚みが不均一で、パッケージ基板2の上面がリッド3に対して傾いた状態となっている場合も、図13の場合と同様にリッド3とパッケージ基板2との接合部において部分的にはんだ接合されない部分が発生する。 Also, as shown in FIG. 14, when the thickness of the package substrate 2 is uneven and the upper surface of the package substrate 2 is tilted with respect to the lid 3, the lid 3 and the lid 3 can be arranged in the same manner as in FIG. At the junction with the package substrate 2, there is a part that is not soldered.

比較例では上記のように異物31の存在やパッケージ基板2の形状不良などによりリッド3とパッケージ基板2とのはんだ接合不良が発生する。しかし、本実施の形態に係る電子部品の製造装置および製造方法では、当該製造装置が姿勢調整部35を備えているため、上述のようにパッケージ基板2に対するリッド3の相対的な姿勢を変更でき、リッド3のはんだ4全体がパッケージ基板2の表面に接触させることができる。この結果、電子部品における上記のようなはんだ接合不良の発生を抑制できる。 In the comparative example, solder joint failure between the lid 3 and the package substrate 2 occurs due to the presence of the foreign matter 31 and the shape defect of the package substrate 2 as described above. However, in the electronic component manufacturing apparatus and manufacturing method according to the present embodiment, since the manufacturing apparatus includes the attitude adjusting unit 35, the relative attitude of the lid 3 with respect to the package substrate 2 can be changed as described above. , the entire solder 4 of the lid 3 can be brought into contact with the surface of the package substrate 2 . As a result, it is possible to suppress the occurrence of solder joint defects as described above in the electronic component.

実施の形態2.
<電子部品の製造装置の構成>
図15は、実施の形態2に係る電子部品の製造装置の部分断面模式図である。なお、図15は電子部品の製造装置におけるリッドはんだ付けユニット10のみを示している。図15に示す電子部品の製造装置は、基本的には図1~図3に示した電子部品の製造装置と同様の構成を備えるが、リッドはんだ付けユニット10の構成が図1~図3に示した電子部品の製造装置と異なっている。具体的には、図15に示した電子部品の製造装置では、リッドはんだ付けユニット10のハウジング34における内部空間42が外部から隔離された密閉空間となっている。図2に示したホース37に代えて、図15では内部ホース54、継ぎ手56、57、外部ホース44が用いられている。継ぎ手57はハウジング34の開口部34aと対向する外壁の部分に形成されたホース用の開口部を内部空間42側から塞ぐように配置されている。内部ホース54は第2保持部39の継ぎ手36と上記継ぎ手57とを接続するように配置されている。内部ホース54は継ぎ手36と継ぎ手57との間の距離より十分長い長さを有する。このため、内部ホース54は内部空間42内において屈曲した形状となっている。この結果、第2保持部43の姿勢が変化した場合であっても、内部ホース54の長さが足りず当該第2保持部43の動きを内部ホース54が阻害することはない。外部ホース44の先端部には継ぎ手56が接続されている。継ぎ手56は継ぎ手57に接続されている。外部ホース44の継ぎ手56が接続された先端部と反対側の端部は真空ポンプなどの吸引装置に接続されている。
Embodiment 2.
<Configuration of electronic component manufacturing equipment>
FIG. 15 is a schematic partial cross-sectional view of the electronic component manufacturing apparatus according to the second embodiment. 15 shows only the lid soldering unit 10 in the electronic component manufacturing apparatus. The electronic component manufacturing apparatus shown in FIG. 15 basically has the same configuration as the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. It is different from the electronic component manufacturing equipment shown. Specifically, in the electronic component manufacturing apparatus shown in FIG. 15, the internal space 42 in the housing 34 of the lid soldering unit 10 is a closed space isolated from the outside. Instead of the hose 37 shown in FIG. 2, an inner hose 54, joints 56, 57 and an outer hose 44 are used in FIG. The joint 57 is arranged so as to block the opening for the hose formed in the portion of the outer wall facing the opening 34a of the housing 34 from the inner space 42 side. The internal hose 54 is arranged to connect the joint 36 of the second holding portion 39 and the joint 57 . The inner hose 54 has a length sufficiently longer than the distance between the joints 36 and 57 . Therefore, the internal hose 54 has a bent shape inside the internal space 42 . As a result, even when the posture of the second holding portion 43 changes, the inner hose 54 does not hinder the movement of the second holding portion 43 due to insufficient length of the inner hose 54 . A joint 56 is connected to the tip of the external hose 44 . Joint 56 is connected to joint 57 . The end of the external hose 44 opposite to the end to which the joint 56 is connected is connected to a suction device such as a vacuum pump.

また、図15に示したリッドはんだ付けユニット10では、ハウジング34の内部空間42に加圧用の気体を供給するための加圧ホース41が接続されている。加圧ホース41の先端部は、ハウジング34の外壁に形成された加圧ホース用開口部を塞ぐように配置された継ぎ手58と接続されている。加圧ホース41の継ぎ手58と接続された先端部と反対側の端部は、加圧用の気体を内部空間42に供給するための供給部72に接続されている。供給部72としてはたとえばポンプ等を用いることができる。加圧ホース41には、内部空間42へのガスの供給および加圧状態を維持する状態と、内部空間42からガスを排出して内部空間42の内部の圧力を大気圧にまで下げた状態とを切り替え可能とするため、図示しない切替弁が接続されている。切替弁は、図示しない制御部からの制御信号により上述した2つの状態を切り替え可能となっている。切替弁の構成としては従来周知の任意の構成を採用できる。 Further, in the lid soldering unit 10 shown in FIG. 15, a pressure hose 41 is connected to the internal space 42 of the housing 34 for supplying pressure gas. The distal end of the pressure hose 41 is connected to a joint 58 arranged to close the pressure hose opening formed in the outer wall of the housing 34 . The end of the pressurization hose 41 opposite to the tip connected to the joint 58 is connected to a supply section 72 for supplying pressurization gas to the internal space 42 . For example, a pump or the like can be used as supply unit 72 . The pressurizing hose 41 has a state in which gas is supplied to the internal space 42 and a pressurized state is maintained, and a state in which the gas is discharged from the internal space 42 and the pressure inside the internal space 42 is lowered to atmospheric pressure. A switching valve (not shown) is connected in order to switch between . The switching valve can switch between the two states described above in response to a control signal from a control unit (not shown). Any conventionally known configuration can be adopted as the configuration of the switching valve.

図15に示したリッドはんだ付けユニット10では、ハウジング34の内部空間42における圧力を測定するための測定部73が配置されている。測定部73としては従来周知の任意の装置を採用できる。 In the lid soldering unit 10 shown in FIG. 15, a measuring section 73 for measuring the pressure in the internal space 42 of the housing 34 is arranged. Any conventionally known device can be employed as the measurement unit 73 .

<電子部品の製造方法>
図16は、実施の形態2に係る電子部品の製造方法を説明するためのフローチャートである。図16に示した電子部品の製造方法は、図4に示した電子部品の製造方法と基本的に同様であるが、リッドはんだ付けユニット10のハウジング34における内部空間42に加圧用の気体を導入するとともに、内部空間42の圧力を検知する工程(S25)、はんだ接合後に内部空間42の圧力を検知する工程(S43)および内部空間42を大気開放する工程(S44)を備える点が、図4に示した電子部品の製造方法と異なっている。以下、説明する。
<Method for manufacturing electronic components>
FIG. 16 is a flow chart for explaining the method for manufacturing an electronic component according to the second embodiment. The electronic component manufacturing method shown in FIG. 16 is basically the same as the electronic component manufacturing method shown in FIG. In addition, the step of detecting the pressure in the internal space 42 (S25), the step of detecting the pressure in the internal space 42 after soldering (S43), and the step of opening the internal space 42 to the atmosphere (S44) are the points shown in FIG. It is different from the manufacturing method of the electronic parts shown in . This will be explained below.

図16に示すように、工程(S11)、工程(S12)、工程(S21)~工程(S23)までを実施した後、上記工程(S25)を実施する。この工程(S25)では、加圧ホース41からハウジング34の内部空間42に加圧用のガスを導入する。加圧用のガスとしては空気を用いることができる。そして、測定部73により内部空間42の圧力を検出し、当該圧力が予め定めた基準値に達した場合に当該ガスの供給を停止する。その後、加圧ホース41に接続された切替弁を操作し、内部空間42が加圧された状態を維持する。この状態で、測定部73により内部空間42の圧力変動をモニタリングする。 As shown in FIG. 16, step (S11), step (S12), step (S21) to step (S23) are performed, and then step (S25) is performed. In this step ( S<b>25 ), pressurizing gas is introduced into the internal space 42 of the housing 34 through the pressurizing hose 41 . Air can be used as the gas for pressurization. Then, the pressure in the internal space 42 is detected by the measurement unit 73, and the supply of the gas is stopped when the pressure reaches a predetermined reference value. After that, the switching valve connected to the pressure hose 41 is operated to maintain the state in which the internal space 42 is pressurized. In this state, the measurement unit 73 monitors pressure fluctuations in the internal space 42 .

当該圧力をモニタリングすることで、内部空間42からのガスのリーク量を推定できる。当該リーク量が大きい場合(つまり内部空間42の圧力の低下速度が予め定めた基準値より大きい場合)、姿勢調整部35に亀裂などの不良が発生していると考えられる。このような場合、工程(S31)~工程(S34)におけるはんだ接合工程においてリッド3をパッケージ基板2に均一に押圧することが難しく、はんだ付け不良が発生する可能性が高くなる。そのため、上記のようにリーク量が大きい場合にはプロセスを中断し、姿勢調整部35などの検査、必要であれば姿勢調整部35などの補修を行う。 By monitoring the pressure, the amount of gas leaking from the internal space 42 can be estimated. If the leak amount is large (that is, if the rate of pressure decrease in the internal space 42 is greater than a predetermined reference value), it is conceivable that a defect such as a crack has occurred in the attitude adjustment section 35 . In such a case, it is difficult to uniformly press the lid 3 against the package substrate 2 in the soldering steps of steps (S31) to (S34), and the possibility of soldering failures increases. Therefore, when the amount of leakage is large as described above, the process is interrupted to inspect the attitude adjustment unit 35 and the like, and repair the attitude adjustment unit 35 and the like if necessary.

一方、上記のモニタリングにより内部空間42からのリーク量が十分小さい場合には、次工程である工程(S24)、工程(S31)~工程(S34)、工程(S41)、工程(S42)を実施する。 On the other hand, if the amount of leakage from the internal space 42 is sufficiently small as a result of the above monitoring, the next steps, step (S24), step (S31) to step (S34), step (S41), and step (S42) are carried out. do.

その後、ハウジング34の内部空間42の圧力を検知する工程(S43)を実施する。この工程(S43)では、測定部73により内部空間42の圧力を測定する。測定した結果を、上記工程(S25)において測定した圧力データと比較する。たとえば、工程(S25)において測定した圧力データと工程(S43)において測定した圧力データとの差分を算出し、当該差分が予め設定した基準値より小さいか否かを確認する。当該差分が基準値より小さい場合、リッドはんだ付けユニット10に設備不良などは無く、内部空間42の圧力に変動がほとんど無かったことが分かる。この結果、はんだ接合時に、リッド3をパッケージ基板2に対して押圧する力について問題となるような変動は無かったことがわかる。なお、この工程(S43)は、1つの電子部品を製造する毎に実施してもよいし、複数の電子部品の製造終了毎に実施してもよい。たとえば、1日の電子部品の生産開始時点と生産終了時点とで工程(S25)および工程(S43)を実施してもよい。 After that, the step of detecting the pressure in the internal space 42 of the housing 34 (S43) is performed. In this step ( S<b>43 ), the pressure in the internal space 42 is measured by the measuring section 73 . The measured result is compared with the pressure data measured in the step (S25). For example, the difference between the pressure data measured in step (S25) and the pressure data measured in step (S43) is calculated, and it is confirmed whether or not the difference is smaller than a preset reference value. If the difference is smaller than the reference value, it can be seen that the lid soldering unit 10 has no equipment defects and the pressure in the internal space 42 hardly fluctuates. As a result, it can be seen that there was no problem-causing variation in the force pressing the lid 3 against the package substrate 2 during soldering. Note that this step (S43) may be performed each time one electronic component is manufactured, or may be performed each time the manufacture of a plurality of electronic components is completed. For example, step (S25) and step (S43) may be performed at the start and end of production of electronic components in one day.

その後、図4に示した製造方法と同様に、工程(S51)および工程(S52)を実施する。このようにして、図15に示した電子部品の製造装置を用いて電子部品を製造できる。 Thereafter, steps (S51) and (S52) are performed in the same manner as in the manufacturing method shown in FIG. In this manner, an electronic component can be manufactured using the electronic component manufacturing apparatus shown in FIG.

<作用効果>
上記電子部品の製造装置7において、姿勢調整部35は、第1保持部27に対する第2保持部43の姿勢を変更する。上記電子部品の製造装置7は、さらに、第2保持部43を支持するためのハウジング34を備える。ハウジング34は内部空間42を囲む外壁を含む。外壁には開口部34aが形成される。第2保持部43は、開口部34aに配置される。姿勢調整部35は、弾性体を含む。弾性体は、開口部34aを塞ぐように第2保持部43と外壁とを接続する。上記電子部品の製造装置7は、さらに、供給部72と測定部73とを備える。供給部72は、内部空間42に気体を供給する。測定部73は、内部空間42の圧力を測定する。
<Effect>
In the electronic component manufacturing apparatus 7 , the attitude adjustment section 35 changes the attitude of the second holding section 43 with respect to the first holding section 27 . The electronic component manufacturing apparatus 7 further includes a housing 34 for supporting the second holding portion 43 . Housing 34 includes an outer wall surrounding an interior space 42 . An opening 34a is formed in the outer wall. The second holding portion 43 is arranged in the opening portion 34a. Posture adjustment section 35 includes an elastic body. The elastic body connects the second holding portion 43 and the outer wall so as to close the opening 34a. The electronic component manufacturing apparatus 7 further includes a supply section 72 and a measurement section 73 . The supply unit 72 supplies gas to the internal space 42 . The measuring section 73 measures the pressure in the internal space 42 .

この場合、姿勢調整部35により第2保持部43の姿勢を変更することで、第2保持部43に保持されたリッド3のパッケージ基板2に対する姿勢を変更できる。さらに、ハウジング34の内部空間42に供給部72により気体を供給し、内部空間42の圧力を大気圧より高くすることで、第2保持部43に保持されたリッド3をパッケージ基板2に接触させるときにリッド3をパッケージ基板2に対して押しつけることができる。この結果、リッド3の姿勢がパッケージ基板2の姿勢に沿うように、弾性体を変形させて第2保持部43の姿勢を変更できる。 In this case, the posture of the lid 3 held by the second holding portion 43 with respect to the package substrate 2 can be changed by changing the posture of the second holding portion 43 by the posture adjusting portion 35 . Further, gas is supplied to the inner space 42 of the housing 34 by the supply part 72 to make the pressure in the inner space 42 higher than the atmospheric pressure, thereby bringing the lid 3 held by the second holding part 43 into contact with the package substrate 2. Sometimes the lid 3 can be pressed against the package substrate 2 . As a result, the posture of the second holding portion 43 can be changed by deforming the elastic body so that the posture of the lid 3 follows the posture of the package substrate 2 .

上記電子部品の製造方法において、移動させる工程(S23、S24、S31)では、はんだ4を介してリッド3をパッケージ基板2に向けて押圧する圧力を、第2保持部43を押圧する気体により発生させている。上記電子部品の製造方法は、気体の圧力を測定する工程(S25、S43)をさらに備える。 In the method of manufacturing the electronic component described above, in the moving steps (S23, S24, S31), the pressure for pressing the lid 3 toward the package substrate 2 via the solder 4 is generated by the gas pressing the second holding portion 43. I am letting The electronic component manufacturing method further includes the steps of measuring the pressure of the gas (S25, S43).

この場合、第2保持部43を押圧する気体の圧力を大気圧より高くすることで、リッド3をパッケージ基板2に確実に押しつけることができる。この結果、リッド3の姿勢がパッケージ基板2の姿勢に沿うように、第2保持部43の姿勢を変更できる。また、たとえば接合する工程(S32、S33、S34)の前後において、上記気体の圧力を測定することで、当該気体の圧力が想定外に低下していない、つまり異常が発生していないことを確認できる。このため、上記接合する工程(S32、S33、S34)でリッド3がパッケージ基板2に対して十分な圧力で押圧されたかどうかを判断することができる。 In this case, the lid 3 can be reliably pressed against the package substrate 2 by making the pressure of the gas that presses the second holding portion 43 higher than the atmospheric pressure. As a result, the posture of the second holding portion 43 can be changed so that the posture of the lid 3 follows the posture of the package substrate 2 . In addition, for example, before and after the bonding steps (S32, S33, S34), by measuring the pressure of the gas, it is confirmed that the pressure of the gas has not decreased unexpectedly, that is, that no abnormality has occurred. can. Therefore, it can be determined whether or not the lid 3 is pressed against the package substrate 2 with a sufficient pressure in the bonding steps (S32, S33, S34).

実施の形態3.
<電子部品の製造装置の構成および動作>
図17は、実施の形態3に係る電子部品の製造装置の部分断面模式図である。図18は、図17に示した電子部品の製造装置の動作を説明するための模式図である。なお、図17および図18は電子部品の製造装置におけるリッドはんだ付けユニット10のみを示している。
Embodiment 3.
<Structure and Operation of Electronic Component Manufacturing Equipment>
17 is a schematic partial cross-sectional view of an electronic component manufacturing apparatus according to Embodiment 3. FIG. FIG. 18 is a schematic diagram for explaining the operation of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIG. 17 and 18 show only the lid soldering unit 10 in the electronic component manufacturing apparatus.

図17および図18に示した電子部品の製造装置は、基本的には図1~図3に示した電子部品の製造装置と同様の構成を備えるが、リッドはんだ付けユニット10の構成が図1~図3に示した電子部品の製造装置と異なっている。具体的には、リッドはんだ付けユニット10の第2保持部39の上面に弾性体からなる姿勢調整部45が配置されている。姿勢調整部45上にはハウジング34が配置されている。姿勢調整部45は第2保持部39とハウジング34とを接続している。ハウジング34の形状は任意の形状とすることができるが、たとえば板状である。姿勢調整部45は、ハウジング34に対して第2保持部39の姿勢を変更可能に構成されている。姿勢調整部45は、たとえば柔軟なゴム等の樹脂によって構成されていてもよい。この場合、図18に示すように、姿勢調整部45が局所的に収縮することで、第2保持部39をハウジング34に対して傾けることができる。このようにすれば、図6や図7に示した場合と同様に第2保持部39に吸着されたリッド3がパッケージ基板2の表面に沿うように、第2保持部39の姿勢を変更できる。 The electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 17 and 18 basically has the same configuration as the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 1 is different from the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. Specifically, a posture adjusting portion 45 made of an elastic body is arranged on the upper surface of the second holding portion 39 of the lid soldering unit 10 . A housing 34 is arranged on the attitude adjusting portion 45 . The attitude adjusting portion 45 connects the second holding portion 39 and the housing 34 . Although the shape of the housing 34 can be any shape, it is plate-like, for example. The posture adjusting portion 45 is configured to change the posture of the second holding portion 39 with respect to the housing 34 . Posture adjusting portion 45 may be made of resin such as flexible rubber, for example. In this case, as shown in FIG. 18 , the second holding portion 39 can be tilted with respect to the housing 34 by locally contracting the posture adjusting portion 45 . 6 and 7, the posture of the second holding portion 39 can be changed so that the lid 3 sucked by the second holding portion 39 follows the surface of the package substrate 2. .

<作用効果>
上記電子部品の製造装置では、柔軟なゴムなどの弾性体を姿勢調整部45として用いることで、実施の形態1と同様の効果を得ることができる。
<Effect>
In the above-described electronic component manufacturing apparatus, by using an elastic body such as flexible rubber as the posture adjusting portion 45, the same effect as in the first embodiment can be obtained.

<変形例の構成および作用効果>
図19は、実施の形態3に係る電子部品の製造装置の第1変形例を示す部分断面模式図である。図20は、実施の形態3に係る電子部品の製造装置の第2変形例を示す部分断面模式図である。図21は、図20に示した電子部品の製造装置の動作を説明するための模式図である。なお、図19および図20は図17に対応し、図21は図18に対応する。
<Structure and effect of modification>
FIG. 19 is a schematic partial cross-sectional view showing a first modification of the electronic component manufacturing apparatus according to the third embodiment. FIG. 20 is a schematic partial cross-sectional view showing a second modification of the electronic component manufacturing apparatus according to the third embodiment. FIG. 21 is a schematic diagram for explaining the operation of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIG. 19 and 20 correspond to FIG. 17, and FIG. 21 corresponds to FIG.

図19に示した電子部品の製造装置は、基本的には図17および図18に示した電子部品の製造装置と同様の構成を備えるが、リッドはんだ付けユニット10の構成が図17および図18に示した電子部品の製造装置と異なっている。具体的には、リッドはんだ付けユニット10の第2保持部39の上面に部分的に弾性体からなる姿勢調整部45が配置されている。姿勢調整部45は第2保持部39の上面において離散的に複数配置されていてもよい。または、姿勢調整部45は第2保持部39の上面において外周部に沿った領域に環状に配置されていてもよい。また、姿勢調整部45の平面形状は第2保持部39の外周に沿った環状の形状であってもよい。このような構成によっても、図17および図18に示した電子部品の製造装置と同様の効果を得ることができる。 The electronic component manufacturing apparatus shown in FIG. 19 basically has the same configuration as the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. It is different from the electronic component manufacturing equipment shown in . Specifically, an attitude adjusting portion 45 partially made of an elastic body is arranged on the upper surface of the second holding portion 39 of the lid soldering unit 10 . A plurality of posture adjusting portions 45 may be discretely arranged on the upper surface of the second holding portion 39 . Alternatively, the posture adjusting portion 45 may be arranged in an annular shape on the upper surface of the second holding portion 39 in a region along the outer peripheral portion. Moreover, the planar shape of the posture adjusting portion 45 may be an annular shape along the outer circumference of the second holding portion 39 . With such a configuration, the same effects as those of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 17 and 18 can be obtained.

図20および図21に示した電子部品の製造装置は、基本的には図17および図18に示した電子部品の製造装置と同様の構成を備えるが、リッドはんだ付けユニット10の構成が図1~図3に示した電子部品の製造装置と異なっている。具体的には、リッドはんだ付けユニット10の第2保持部39の上面に部分的に弾性体としての圧縮コイルバネからなる姿勢調整部46が配置されている。このようにバネからなる姿勢調整部46は第2保持部39の上面において離散的に複数配置されていてもよい。または、姿勢調整部46は第2保持部39の上面において外周部に沿った領域に沿って配置されていてもよい。 The electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 20 and 21 basically has the same configuration as the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 1 is different from the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. Specifically, an attitude adjusting portion 46 made of a compression coil spring as an elastic body is partially arranged on the upper surface of the second holding portion 39 of the lid soldering unit 10 . In this manner, a plurality of posture adjusting portions 46 made of springs may be discretely arranged on the upper surface of the second holding portion 39 . Alternatively, the posture adjusting portion 46 may be arranged on the upper surface of the second holding portion 39 along a region along the outer peripheral portion.

上述した電子部品の製造装置の特徴的な構成を要約すれば、上記電子部品の製造装置7において、姿勢調整部46を構成する弾性体はバネである。この場合も、図17および図18に示した電子部品の製造装置と同様の効果を得ることができる。さらに、ばね定数といった特性の異なるバネを適宜選択して弾性体として用いることで、姿勢調整部46の特性を変更できる。 To summarize the characteristic configuration of the electronic component manufacturing apparatus described above, in the electronic component manufacturing apparatus 7, the elastic body constituting the posture adjusting section 46 is a spring. Also in this case, the same effects as those of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 17 and 18 can be obtained. Furthermore, by appropriately selecting springs having different characteristics such as spring constants and using them as elastic bodies, the characteristics of the posture adjusting section 46 can be changed.

実施の形態4.
<電子部品の製造装置の構成および動作>
図22は、実施の形態4に係る電子部品の製造装置の部分断面模式図である。図23は、図22に示した電子部品の製造装置の動作を説明するための模式図である。なお、図22および図23ではリッドはんだ付けユニット10およびパッケージ基板はんだ付けユニット19のみを示している。図22は図5に対応し、図23は図6に対応する。
Embodiment 4.
<Structure and Operation of Electronic Component Manufacturing Equipment>
22 is a schematic partial cross-sectional view of an electronic component manufacturing apparatus according to Embodiment 4. FIG. FIG. 23 is a schematic diagram for explaining the operation of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIG. 22 and 23 show only the lid soldering unit 10 and the package substrate soldering unit 19. FIG. 22 corresponds to FIG. 5 and FIG. 23 corresponds to FIG.

図22および図23に示した電子部品の製造装置は、基本的には図1~図3に示した電子部品の製造装置と同様の構成を備えるが、リッドはんだ付けユニット10およびパッケージ基板はんだ付けユニット19の構成が図1~図3に示した電子部品の製造装置と異なっている。具体的には、リッドはんだ付けユニット10は図2および図5に示すようなハウジング34を有さず、第2保持部123が直接移動部(図5参照)に接続されている。また、パッケージ基板はんだ付けユニット19では、第1保持部67の下面に弾性体からなる姿勢調整部65が配置されている。姿勢調整部65はケース28の内面と第1保持部67とを接続する。姿勢調整部65は第1保持部67の下面の大部分を覆うように配置されているが、図19に示したように第1保持部67の下面を部分的に覆うように配置されていてもよい。 The electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 22 and 23 basically has the same configuration as the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. The configuration of the unit 19 is different from that of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. Specifically, the lid soldering unit 10 does not have the housing 34 as shown in FIGS. 2 and 5, and the second holding portion 123 is directly connected to the moving portion (see FIG. 5). Also, in the package substrate soldering unit 19 , the posture adjusting portion 65 made of an elastic body is arranged on the lower surface of the first holding portion 67 . The posture adjusting portion 65 connects the inner surface of the case 28 and the first holding portion 67 . The posture adjusting portion 65 is arranged to cover most of the lower surface of the first holding portion 67, but is arranged to partially cover the lower surface of the first holding portion 67 as shown in FIG. good too.

この場合、図23に示すように、姿勢調整部65が局所的に収縮することで、第1保持部67をケース28に対して傾けることができる。このようにすれば、第1保持部67に吸着されたパッケージ基板2をリッド3においてはんだ4が配置された接合面に沿わせるように、第1保持部67の姿勢を変更できる。 In this case, as shown in FIG. 23 , the first holding portion 67 can be tilted with respect to the case 28 by locally contracting the posture adjusting portion 65 . In this way, the posture of the first holding portion 67 can be changed so that the package substrate 2 sucked by the first holding portion 67 is aligned with the bonding surface of the lid 3 on which the solder 4 is arranged.

<作用効果>
上記電子部品の製造装置7において、姿勢調整部65は、第2保持部123に対する第1保持部67の姿勢を変更する。この場合、姿勢調整部65により第1保持部67の姿勢を変更することで、リッド3に対するパッケージ基板2の姿勢を変更することができる。この結果、実施の形態1と同様の効果を得ることができる。
<Effect>
In the electronic component manufacturing apparatus 7 , the attitude adjustment section 65 changes the attitude of the first holding section 67 with respect to the second holding section 123 . In this case, the posture of the package substrate 2 with respect to the lid 3 can be changed by changing the posture of the first holding portion 67 using the posture adjusting portion 65 . As a result, effects similar to those of the first embodiment can be obtained.

<変形例の構成および作用効果>
図24は、実施の形態4に係る電子部品の製造装置の変形例を示す部分断面模式図である。図25は、図24に示した電子部品の製造装置の動作を説明するための模式図である。
<Structure and effect of modification>
FIG. 24 is a schematic partial cross-sectional view showing a modification of the electronic component manufacturing apparatus according to the fourth embodiment. FIG. 25 is a schematic diagram for explaining the operation of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIG.

図24および図25に示した電子部品の製造装置は、基本的には図22および図23に示した電子部品の製造装置と同様の構成を備えるが、パッケージ基板はんだ付けユニット19の構成が図22および図23に示した電子部品の製造装置と異なっている。具体的には、パッケージ基板はんだ付けユニット19の第1保持部67の下面に部分的に弾性体としての圧縮コイルバネからなる姿勢調整部66が配置されている。このようにバネからなる姿勢調整部66は第1保持部67の下面において離散的に複数配置されていてもよい。または、姿勢調整部66は第1保持部67の下面において外周部に沿った領域に沿って配置されていてもよい。 The electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 24 and 25 basically has the same configuration as the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 22 and 23 are different from the electronic component manufacturing apparatus shown in FIG. Specifically, an attitude adjusting portion 66 made of a compression coil spring as an elastic body is partially arranged on the lower surface of the first holding portion 67 of the package board soldering unit 19 . In this manner, a plurality of posture adjusting portions 66 made of springs may be discretely arranged on the lower surface of the first holding portion 67 . Alternatively, the posture adjusting portion 66 may be arranged on the lower surface of the first holding portion 67 along a region along the outer peripheral portion.

上述した電子部品の製造装置の特徴的な構成を要約すれば、上記電子部品の製造装置7において、姿勢調整部66を構成する弾性体はバネである。この場合も、図22および図23に示した電子部品の製造装置と同様の効果を得ることができる。さらに、ばね定数といった特性の異なるバネを適宜選択して姿勢調整部66を構成する弾性体として用いることで、姿勢調整部66の特性を変更できる。 To summarize the characteristic configuration of the electronic component manufacturing apparatus described above, in the electronic component manufacturing apparatus 7, the elastic body constituting the posture adjusting section 66 is a spring. Also in this case, the same effects as those of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 22 and 23 can be obtained. Furthermore, by appropriately selecting springs having different characteristics such as spring constants and using them as elastic bodies constituting the attitude adjustment section 66, the characteristics of the attitude adjustment section 66 can be changed.

なお、上述し各実施の形態では姿勢調整部として弾性体を用いたが、第1保持部27または第2保持部39の姿勢を変更できれば姿勢調整部として他の任意の構成を採用できる。たとえば、上述した各実施の形態における姿勢調整部としてユニバーサルジョイントなどの機械継ぎ手などを用いてもよい。 In addition, in each embodiment described above, an elastic body is used as the posture adjusting portion, but any other configuration can be adopted as the posture adjusting portion as long as the posture of the first holding portion 27 or the second holding portion 39 can be changed. For example, a mechanical joint such as a universal joint may be used as the posture adjusting section in each of the above-described embodiments.

以上のように本発明の実施の形態について説明を行なったが、今回開示した実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。 Although the embodiment of the present invention has been described as above, it should be considered that the embodiment disclosed this time is illustrative in all respects and is not restrictive. The scope of the present invention is indicated by the claims, and is intended to include all changes within the meaning and range of equivalents to the claims.

1 電子部品、2 パッケージ基板、3 リッド、4 はんだ、5 半導体素子、6 ボンディングワイヤ、7 製造装置、8,9,11,12,20,21 搬送部、10 リッドはんだ付けユニット、13 パッケージ基板供給ユニット、14 リッド供給部、15 パッケージ基板供給部、16 実装完了品回収部、17 リッド位置決めユニット、18 パッケージ基板位置補正カメラ、19 パッケージ基板はんだ付けユニット、22 リッド供給ユニット、24 ヒータ、25 熱電対、26 吸着孔、27,67 第1保持部、28 ケース、29 気体導入孔、30 気体排気孔、31 異物、33 隙間、34 ハウジング、34a 開口部、35,45,46,65,66 姿勢調整部、36,56,57,58 継ぎ手、37 ホース、38 取付ネジ、39,43,123 第2保持部、41 加圧ホース、42 内部空間、44 外部ホース、54 内部ホース、71 移動部、72 供給部、73 測定部。 1 Electronic component 2 Package substrate 3 Lid 4 Solder 5 Semiconductor element 6 Bonding wire 7 Manufacturing device 8, 9, 11, 12, 20, 21 Transfer unit 10 Lid soldering unit 13 Package substrate supply unit, 14 lid supply unit, 15 package substrate supply unit, 16 mounted product recovery unit, 17 lid positioning unit, 18 package substrate position correction camera, 19 package substrate soldering unit, 22 lid supply unit, 24 heater, 25 thermocouple , 26 suction hole, 27, 67 first holding portion, 28 case, 29 gas introduction hole, 30 gas exhaust hole, 31 foreign matter, 33 gap, 34 housing, 34a opening, 35, 45, 46, 65, 66 attitude adjustment Parts 36, 56, 57, 58 Coupling 37 Hose 38 Mounting screw 39, 43, 123 Second holding part 41 Pressure hose 42 Internal space 44 External hose 54 Internal hose 71 Moving part 72 feeding section, 73 measuring section;

Claims (8)

パッケージ基板とリッドとを接合した電子部品の製造装置であって、
前記パッケージ基板を保持する第1保持部と、
前記リッドを保持する第2保持部と、
前記第1保持部に保持された前記パッケージ基板と前記第2保持部に保持された前記リッドとが接触するように、前記第1保持部および前記第2保持部のいずれか一方を移動させる移動部と、
前記第1保持部に保持された前記パッケージ基板に対する、前記第2保持部に保持された前記リッドの相対的な姿勢を変更する姿勢調整部とを備え
前記姿勢調整部は弾性体を含む、電子部品の製造装置。
An electronic component manufacturing apparatus in which a package substrate and a lid are joined,
a first holding portion that holds the package substrate;
a second holding portion that holds the lid;
moving one of the first holding portion and the second holding portion such that the package substrate held by the first holding portion and the lid held by the second holding portion are in contact with each other; Department and
an attitude adjustment unit that changes a relative attitude of the lid held by the second holding unit with respect to the package substrate held by the first holding unit ;
The electronic component manufacturing apparatus, wherein the posture adjusting unit includes an elastic body .
前記姿勢調整部は、前記第1保持部に対する前記第2保持部の姿勢を変更する、請求項1に記載の電子部品の製造装置。 2. The electronic component manufacturing apparatus according to claim 1, wherein said posture adjusting section changes the posture of said second holding portion with respect to said first holding portion. 前記姿勢調整部は、前記第2保持部に対する前記第1保持部の姿勢を変更する、請求項1に記載の電子部品の製造装置。 2. The electronic component manufacturing apparatus according to claim 1, wherein said attitude adjusting section changes the attitude of said first holding section with respect to said second holding section. 前記弾性体は樹脂からなる、請求項に記載の電子部品の製造装置。 2. The electronic component manufacturing apparatus according to claim 1 , wherein said elastic body is made of resin. 前記弾性体はバネである、請求項に記載の電子部品の製造装置。 2. The electronic component manufacturing apparatus according to claim 1 , wherein said elastic body is a spring. 前記姿勢調整部は、前記第1保持部に対する前記第2保持部の姿勢を変更し、さらに、
前記第2保持部を支持するためのハウジングを備え、
前記ハウジングは内部空間を囲む外壁を含み、
前記外壁には開口部が形成され、
前記第2保持部は、前記開口部に配置され、
前記姿勢調整部は、前記開口部を塞ぐように前記第2保持部と前記外壁とを接続する弾性体を含み、さらに、
前記内部空間に気体を供給する供給部と、
前記内部空間の圧力を測定する測定部とを備える、請求項1に記載の電子部品の製造装置。
The attitude adjusting section changes the attitude of the second holding section with respect to the first holding section, and
A housing for supporting the second holding part,
the housing includes an outer wall surrounding an interior space;
An opening is formed in the outer wall,
The second holding part is arranged in the opening,
The posture adjustment section includes an elastic body that connects the second holding section and the outer wall so as to close the opening, and
a supply unit that supplies gas to the internal space;
2. The electronic component manufacturing apparatus according to claim 1, further comprising a measuring unit that measures the pressure in said internal space.
パッケージ基板を第1保持部に保持する工程と、
リッドを第2保持部に保持する工程と、
前記第1保持部に保持された前記パッケージ基板と前記第2保持部に保持された前記リッドとがはんだを介して接触するように、前記第1保持部および前記第2保持部のいずれか一方を移動させる工程と、
前記パッケージ基板と前記リッドとに接触した前記はんだを加熱して溶融させることで、前記はんだにより前記パッケージ基板と前記リッドとを接合する工程と、を備え、
前記移動させる工程では、弾性体を含む姿勢調整部によって、前記第1保持部に保持された前記パッケージ基板に対する、前記第2保持部に保持された前記リッドの相対的な姿勢が変更可能になっている、電子部品の製造方法。
holding the package substrate on the first holding part;
holding the lid on the second holding portion;
Either one of the first holding portion and the second holding portion is held so that the package substrate held by the first holding portion and the lid held by the second holding portion are in contact via solder. a step of moving the
a step of heating and melting the solder in contact with the package substrate and the lid to join the package substrate and the lid with the solder;
In the moving step, an attitude adjusting portion including an elastic body can change the relative attitude of the lid held by the second holding portion with respect to the package substrate held by the first holding portion. A method of manufacturing an electronic component.
前記移動させる工程では、前記はんだを介して前記リッドを前記パッケージ基板に向けて押圧する圧力を、前記第2保持部を押圧する気体により発生させており、
前記気体の圧力を測定する工程をさらに備える、請求項に記載の電子部品の製造方法。
In the moving step, a pressure for pressing the lid toward the package substrate through the solder is generated by a gas pressing the second holding portion,
8. The method of manufacturing an electronic component according to claim 7 , further comprising the step of measuring the pressure of said gas.
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