JP7334053B2 - Electronic component manufacturing apparatus and electronic component manufacturing method - Google Patents
Electronic component manufacturing apparatus and electronic component manufacturing method Download PDFInfo
- Publication number
- JP7334053B2 JP7334053B2 JP2019082182A JP2019082182A JP7334053B2 JP 7334053 B2 JP7334053 B2 JP 7334053B2 JP 2019082182 A JP2019082182 A JP 2019082182A JP 2019082182 A JP2019082182 A JP 2019082182A JP 7334053 B2 JP7334053 B2 JP 7334053B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lid
- package substrate
- electronic component
- holding portion
- manufacturing apparatus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Description
この発明は、電子部品の製造装置及び電子部品の製造方法に関する。 The present invention relates to an electronic component manufacturing apparatus and an electronic component manufacturing method.
従来、半導体素子などが実装されたパッケージ基板にリッドを接合する工程を実施する電子部品の製造装置が知られている。上記電子部品では、パッケージ基板に実装された半導体素子などに対する電磁波の干渉またはパッケージ基板からの電磁波の漏洩を遮断するため、上述したリッドがパッケージ基板に接続されている。たとえば、特開2002-343896号公報では、パッケージ基板に相当する部材にリッドを接続する電子部品の製造装置が開示されている。特開2002-343896号公報では、リッドにプリコートはんだを形成しておき、当該リッドをパッケージ基板に相当する部材に当該させる。このとき、プリコーとはんだが当該部材に接触した状態としておく。この状態でプリコートはんだを加熱・溶融することで、部材にリッドをはんだ接合する。 2. Description of the Related Art Conventionally, there has been known an electronic component manufacturing apparatus that carries out a process of bonding a lid to a package substrate on which a semiconductor element or the like is mounted. In the electronic component, the lid is connected to the package substrate in order to block interference of electromagnetic waves with a semiconductor element or the like mounted on the package substrate or leakage of electromagnetic waves from the package substrate. For example, Japanese Patent Laying-Open No. 2002-343896 discloses an electronic component manufacturing apparatus in which a lid is connected to a member corresponding to a package substrate. In Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2002-343896, pre-coated solder is formed on a lid, and the lid is attached to a member corresponding to a package substrate. At this time, the precor and the solder are kept in contact with the member. By heating and melting the pre-coating solder in this state, the lid is soldered to the member.
上述した電子部品の製造装置において、パッケージ基板に相当する部材にリッドを接合する処理を繰り返し実施すると、当該製造装置においてリッドまたは部材を保持するステージに汚れなどの異物が付着し、リッドとステージとの間または部材とステージとの間に当該異物が挟まる場合がある。この結果、リッドと部材との平行度が保たれないままはんだ接合が実施される。その結果、はんだ接合部のギャップが相対的に広い部分または相対的に狭い部分が発生する。当該ギャップが広い部分でははんだ充填量が不足する。当該ギャップが狭い部分でははんだ充填量が過多になる。そのため、リッドと部材との接合部においてはんだ量が不均一となり、部分的に未接合部が発生するなど、リッドの実装不良(はんだ付け不良)が発生する。 In the above-described electronic component manufacturing apparatus, when the process of bonding the lid to the member corresponding to the package substrate is repeatedly performed, foreign matter such as dirt adheres to the stage that holds the lid or the member in the manufacturing apparatus, and the lid and the stage are separated. or between the member and the stage. As a result, soldering is performed while the parallelism between the lid and the member is not maintained. As a result, relatively wide or relatively narrow solder joint gaps occur. The amount of solder filling is insufficient in the portion where the gap is wide. An excessive amount of solder is filled in a portion where the gap is narrow. As a result, the amount of solder is not uniform at the joint between the lid and the member, resulting in mounting defects (soldering defects) of the lid, such as partially unjoined portions.
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の目的は、電子部品を構成するリッドの実装不良の発生を抑制することが可能な電子部品の製造装置および電子部品の製造方法を提供することである。 SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide an electronic component manufacturing apparatus capable of suppressing the occurrence of defective mounting of a lid that constitutes an electronic component; An object of the present invention is to provide a method for manufacturing an electronic component.
本開示に従った電子部品の製造装置は、第1保持部と第2保持部と移動部と姿勢調整部とを備える。電子部品は、パッケージ基板とリッドとを接合したものである。第1保持部は、パッケージ基板を保持する。第2保持部は、リッドを保持する。移動部は、第1保持部に保持されたパッケージ基板と第2保持部に保持されたリッドとが接触するように、第1保持部および第2保持部のいずれか一方を移動させる。姿勢調整部は、第1保持部に保持されたパッケージ基板に対する、第2保持部に保持されたリッドの相対的な姿勢を変更する。 An electronic component manufacturing apparatus according to the present disclosure includes a first holding section, a second holding section, a moving section, and an attitude adjusting section. An electronic component is formed by bonding a package substrate and a lid. The first holding part holds the package substrate. The second holding part holds the lid. The moving part moves either the first holding part or the second holding part so that the package substrate held by the first holding part and the lid held by the second holding part are in contact with each other. The attitude adjusting section changes the relative attitude of the lid held by the second holding section with respect to the package substrate held by the first holding section.
本開示に従った電子部品の製造方法は、パッケージ基板を第1保持部に保持する工程と、リッドを第2保持部に保持する工程と、移動させる工程と、接合する工程とを備える。移動させる工程では、第1保持部に保持されたパッケージ基板と第2保持部に保持されたリッドとがはんだを介して接触するように、第1保持部および第2保持部のいずれか一方を移動させる。接合する工程では、パッケージ基板とリッドとに接触したはんだを加熱して溶融させることで、はんだによりパッケージ基板とリッドとを接合する。移動させる工程では、第1保持部に保持されたパッケージ基板に対する、第2保持部に保持されたリッドの相対的な姿勢が変更可能になっている。 A method of manufacturing an electronic component according to the present disclosure includes the steps of holding a package substrate on a first holding portion, holding a lid on a second holding portion, moving, and bonding. In the moving step, either one of the first holding portion and the second holding portion is moved so that the package substrate held by the first holding portion and the lid held by the second holding portion are in contact via solder. move. In the joining step, the solder in contact with the package substrate and the lid is heated and melted, thereby joining the package substrate and the lid with the solder. In the moving step, the relative posture of the lid held by the second holding portion with respect to the package substrate held by the first holding portion can be changed.
上記によれば、電子部品を構成するリッドの実装不良の発生を抑制することができる。 According to the above, it is possible to suppress the occurrence of defective mounting of the lid that constitutes the electronic component.
以下、添付の図面を用いて、本発明の実施の形態を説明する。なお、以下の図面において相当する部分には同一の参照番号を付し、その説明は繰り返さない。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. In the drawings below, the same reference numerals are given to the corresponding parts, and the description thereof will not be repeated.
実施の形態1.
<電子部品の製造装置の構成>
図1は、実施の形態1に係る電子部品の製造装置を示す平面模式図である。図2は、図1に示した電子部品の製造装置の部分断面模式図である。図3は、図2の線分III-IIIにおける断面模式図である。図1~図3を参照して、本実施の形態に係る電子部品の製造装置を説明する。
<Configuration of electronic component manufacturing equipment>
FIG. 1 is a schematic plan view showing an electronic component manufacturing apparatus according to
図1~図3に示す電子部品の製造装置7は、ベース部材と、リッド供給部14と、リッド供給ユニット22と、リッドはんだ付けユニット10と、パッケージ基板はんだ付けユニット19と、リッド位置決めユニット17と、パッケージ基板供給部15と、パッケージ基板供給ユニット13と、実装完了品回収部16と、パッケージ基板位置補正カメラ18と、リッド供給ユニット22を移動させる可動ロボットと、リッドはんだ付けユニット10を移動させる可動ロボットと、パッケージ基板供給ユニット13を移動させる可動ロボットとを主に備える。
1 to 3 includes a base member, a
リッド供給ユニット22を移動させる可動ロボットは、X軸方向の搬送部20とY軸方向の搬送部21とを含む。X軸方向の搬送部20は、リッド供給ユニット22をX軸方向(図1の横方向)に移動させる。Y軸方向の搬送部21は、X軸方向の搬送部20をY軸方向(図1の縦方向)に移動させる。リッド供給ユニット22は、図示しない昇降機構を介して搬送部20と接続されている。昇降機構としては流体シリンダやモータなど任意の構成を採用できる。可動ロボットにより、リッド供給ユニット22はリッド供給部14上からリッド位置決めユニット17上まで移動することができる。
The movable robot that moves the
リッドはんだ付けユニット10を移動させる可動ロボットは、X軸方向の搬送部8とY軸方向の搬送部9とを含む。X軸方向の搬送部8は、リッドはんだ付けユニット10をX軸方向(図1の横方向)に移動させる。Y軸方向の搬送部9は、X軸方向の搬送部8をY軸方向に移動させる。リッドはんだ付けユニット10は、図示しない昇降機構を介して搬送部8と接続されている。昇降機構としては流体シリンダやモータなど任意の構成を採用できる。可動ロボットにより、リッドはんだ付けユニット10はリッド位置決めユニット17上からパッケージ基板はんだ付けユニット19上にまで移動することができる。
The movable robot for moving the
パッケージ基板供給ユニット13を移動させる可動ロボットは、X軸方向の搬送部11とY軸方向の搬送部12とを含む。X軸方向の搬送部11は、パッケージ基板供給ユニット13をX軸方向に移動させる。Y軸方向の搬送部12は、X軸方向の搬送部11をY軸方向に移動させる。パッケージ基板供給ユニット13は、図示しない昇降機構を介して搬送部11と接続されている。昇降機構としては流体シリンダやモータなど任意の構成を採用できる。可動ロボットにより、パッケージ基板供給ユニット13は、パッケージ基板供給部15からパッケージ基板位置補正カメラ18上およびパッケージ基板はんだ付けユニット19上にまで移動することができる。上述した搬送部8、9、11、12、20、21としては、リニアガイドなど従来周知の任意の部材を用いることができる。
The movable robot that moves the package
リッド供給部14は、プリコートはんだを形成した複数のリッド3が入ったトレイを受け入れる。リッド位置決めユニット17は、リッド供給部14から受け入れたリッド3の位置決めを行う。パッケージ基板供給部15は複数のパッケージ基板2が入ったトレイを受け入れる。
A
リッド供給ユニット22としては、リッド供給部14からリッド3をリッド位置決めユニット17に搬送できれば任意の構成を採用できる。たとえば、リッド供給ユニット22として真空吸着部装置を用いることができる。
Any configuration can be adopted as the
パッケージ基板供給ユニット13としては、パッケージ基板供給部15からパッケージ基板2をパッケージ基板はんだ付けユニット19に搬送できれば任意の構成を採用できる。たとえば、パッケージ基板供給ユニット13として真空吸着部装置を用いることができる。
As the package
リッドはんだ付けユニット10は、リッド位置決めユニット17からリッド3をパッケージ基板はんだ付けユニット19上に搬送する。リッドはんだ付けユニット10およびパッケージ基板はんだ付けユニット19の構成を図2および図3を参照しながら説明する。
The
図2および図3に示すように、リッドはんだ付けユニット10は開口部34aが形成されたハウジング34と、当該開口部34aの内部に配置された第2保持部39と、姿勢調整部35とを主に含む。姿勢調整部35は、第2保持部39とハウジング34とを接続し、ゴムなどの柔軟な弾性体からなる。姿勢調整部35は伸縮可能な弾性体であるため、後述するように第2保持部39のパッケージ基板はんだ付けユニット19に対する姿勢を変更できる。
As shown in FIGS. 2 and 3, the
第2保持部39の下面には真空吸着用の吸着孔26が形成されている。当該吸着孔26は第2保持部39の上面にまで延びている。第2保持部39の上面において、継ぎ手36を介して上記吸着孔26にホース37が接続されている。ホース37は、ハウジング34の内部から当該ハウジング34の上面に形成された穴を介してハウジング34の外部にまで延びている。ホース37は真空ポンプなどの吸引装置に接続されている。第2保持部39に負荷がかかることを避けるため、ホース37は柔軟性のある素材により構成されることが好ましく、たとえばフレキシブルホースをホース37として用いてもよい。
A
第2保持部39の内部にはヒータ24および熱電対25が配置されている。ヒータ24および熱電対25は第2保持部39においてリッド3を吸着する面である下面と上面との間において相対的に下面に近い領域に配置されている。第2保持部39の下面において、吸着孔26が複数箇所に形成されていてもよい。
A
第2保持部39の上面の外周部とハウジング34において開口部34aと隣接する壁部の一部とを接続するように姿勢調整部35が配置されている。姿勢調整部35は、たとえば第2保持部39と開口部34aと隣接する上記壁部との間を接続するため、環状の平面形状を有している。図3では、姿勢調整部35の平面形状における外径は四角形状である。姿勢調整部35には第2保持部39の上面を露出させるための開口部が形成されている。姿勢調整部35は取付ネジ38によりハウジング34および第2保持部39に固定されている。第2保持部39において、複数の取付ネジ38は上面の外周部において姿勢調整部35と重なる領域に配置されている。ハウジング34において、複数の取付ネジ38は開口部34aに隣接する壁部の一部であって姿勢調整部35の一部と重なる領域に配置されている。姿勢調整部35の材質は、はんだの融点(220℃)以上の温度に耐えられる耐熱性シリコーンゴム等を使用することが望ましい。
A
パッケージ基板はんだ付けユニット19は、ケース28と、当該ケース28の内部に配置されたパッケージ基板吸着ステージである第1保持部27とを主に含む。ケース28の上面には第2保持部39を挿入することが可能な開口部が形成されている。ケース28の側面には気体導入孔29および気体排気孔30が形成されている。気体導入孔29には図示しない配管が接続されていてもよい。当該配管は気体の供給源に接続されていてもよい。気体としては不活性ガスを用いることができる。気体としてはたとえば窒素ガスを用いることができる。気体排気孔30には図示しない配管が接続されていてもよい。当該配管は排気ポンプなどの排気装置に接続されていてもよい。ケース28の内部には気体導入孔29から窒素などの気体を供給できる。供給された気体は気体排気孔30を介してケース28の外部に排出される。
The package
第1保持部27の上面には真空吸着用の吸着孔26が形成されている。当該吸着孔26は第1保持部27の側面にまで延びている。第1保持部27の側面において、上記吸着孔26に図示しない配管が接続されていてもよい。当該配管は、ケース28の内部から外部にまで延びていてもよい。配管は真空ポンプなどの吸引装置に接続されていてもよい。
A
第1保持部27の内部にはヒータ24および熱電対25が配置されている。ヒータ24および熱電対25は第1保持部27においてパッケージ基板2を吸着する面である上面と下面との間において相対的に上面に近い領域に配置されている。第1保持部27の上面において、吸着孔26が複数箇所に形成されていてもよい。熱電対25はヒータ24のける温度制御および温度監視に用いられる。第1保持部27には、上面に搭載されたパッケージ基板2へ負荷される荷重を検出するセンサ(図示せず)が設置されている。当該センサとしては、たとえば圧電素子を用いることができる。
A
<電子部品の製造方法>
図4は、実施の形態1に係る電子部品の製造方法を説明するためのフローチャートである。図5は、図4に示した電子部品の製造方法を説明するための部分断面模式図である。図6は、図4に示した電子部品の製造方法を説明するための部分断面模式図である。図7は、図4に示した電子部品の製造方法を説明するための部分断面模式図である。図1~図7を参照しながら、本実施の形態に係る電子部品の製造方法を説明する。
<Method for manufacturing electronic components>
FIG. 4 is a flow chart for explaining the method for manufacturing an electronic component according to the first embodiment. FIG. 5 is a schematic partial cross-sectional view for explaining the method of manufacturing the electronic component shown in FIG. FIG. 6 is a schematic partial cross-sectional view for explaining the method of manufacturing the electronic component shown in FIG. FIG. 7 is a schematic partial cross-sectional view for explaining the method of manufacturing the electronic component shown in FIG. A method for manufacturing an electronic component according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 7. FIG.
まず、はんだ4(図2参照)をプリコートした複数のリッド3が入ったトレイをリッド供給部14に投入する。また、複数のパッケージ基板2が入ったトレイをパッケージ基板供給部15に投入する。
First, a tray containing a plurality of
次に、リッド供給ユニット22により、リッド供給部14のトレイ内に配置されたリッド3をリッド位置決めユニット17へ搬送する。リッド位置決めユニット17の詳細は図示しないが、たとえばリッド3の1辺に接触するべき第1基準面、および当該第1基準面と直角に交わる第2基準面を有した基準板をリッド位置決めユニット17として用いることができる。当該基準板の第1基準面および第2基準面にリッド3の2つの辺が接触するように、当該リッド3を基準板に押圧することで、リッド3の機械的な位置決めを行うことができる。
Next, the
次に、パッケージ基板供給ユニット13により、パッケージ基板供給部15のトレイ内に配置されたパッケージ基板2をパッケージ基板位置補正カメラ18上に搬送する。パッケージ基板位置補正カメラ18により、パッケージ基板供給ユニット13に保持されたパッケージ基板2の絶対位置を計測する。パッケージ基板2の絶対位置を示す情報としては、たとえばパッケージ基板2の外周における角部のX座標およびY座標などの情報を用いることができる。
Next, the package
この後、パッケージ基板供給ユニット13により、パッケージ基板2をパッケージ基板位置補正カメラ18上からパッケージ基板はんだ付けユニット19の第1保持部27上に搬送する。なお、上述したパッケージ基板2の絶対位置を示す情報は、第1保持部27の上面に搭載されたパッケージ基板2の位置補正など、リッド3をパッケージ基板2の表面における正確な位置に実装するために用いられる。
Thereafter, the package
次に、図4に示すようにパッケージ基板吸着工程(S11)を実施する。この工程(S11)では、第1保持部27においてパッケージ基板2を真空吸着する。具体的には、第1保持部27の吸着孔26を介してパッケージ基板2と第1保持部27の上面との間から気体を吸引することで、パッケージ基板2を第1保持部27の上面に吸着する。
Next, as shown in FIG. 4, a package substrate suction step (S11) is performed. In this step ( S<b>11 ), the first holding
次に、ヒータによりパッケージ基板2を予備加熱する工程(S12)を実施する。この工程(S12)では、第1保持部27のヒータ24を動作させることにより、パッケージ基板2を予備加熱する。このときのパッケージ基板2の加熱温度は、はんだ4の溶融温度(たとえば210℃)以下の温度とする。
Next, a step (S12) of preheating the
次に、リッドを吸着する工程(S21)を実施する。この工程(S21)では、リッドはんだ付けユニット10がリッド位置決めユニット17に配置されたリッド3を真空吸着する。具体的には、第2保持部39の吸着孔26を介してリッド3と第2保持部39の下面との間から気体を吸引することで、リッド3を第2保持部39の下面に吸着する。
Next, the step of sucking the lid (S21) is performed. In this step ( S<b>21 ), the
次に、ヒータによりリッド3を予備加熱する工程(S22)を実施する。この工程(S22)では、第2保持部39のヒータ24を動作させることにより、リッド3を予備加熱する。このときのリッド3の加熱温度は、工程(S12)におけるパッケージ基板2の加熱温度と同様に、はんだ4の溶融温度以下の温度とする。
Next, a step of preheating the
次に、リッドはんだ付けユニット10を移動させることにより、リッド3をパッケージ基板はんだ付けユニット19の上部へ移動する工程(S23)を実施する。
Next, by moving the
次に、リッドはんだ付けユニット10をパッケージ基板はんだ付けユニット19に向けて下降させる工程(S24)を実施する。この工程(S24)では、リッドはんだ付けユニット10に保持されたリッド3表面に配置されたはんだ4がパッケージ基板2の表面に接触するまで、リッドはんだ付けユニット10を下降させる。
Next, the step of lowering the
次に、圧電素子などのセンサによりパッケージ基板2への荷重増加を検出する工程(S31)が実施される。この工程(S31)では、リッド3がパッケージ基板2にはんだ4を介して接触することで、パッケージ基板2への荷重が増加したことを検出する。この結果、パッケージ基板2にリッド3がはんだ4を介して接触したことを確認できる。上記のように荷重増加を検知した場合、リッドはんだ付けユニット10の下降を停止する。
Next, a step (S31) of detecting an increase in the load on the
ここで、上述した工程(S21)において、図5に示すように第2保持部39の下面とリッド3との間に異物31が挟まった状態で、リッド3が第2保持部39に吸着された場合を考える。この場合、図5に示すように第2保持部39の下面に対して、リッド3においてはんだ4が配置された面(接合面)が傾いた状態になる。この状態で、工程(S31)のようにリッド3がパッケージ基板2にはんだ4を介して接触した場合、図6に示すように、本実施の形態に係る製造装置では姿勢調整部35が部分的に変形する。この結果、リッド3の接合面がパッケージ基板2の表面にほぼ平行になるように、第2保持部39の姿勢が変更される。このように、異物31が存在する場合であっても、リッド3のはんだ4全体がパッケージ基板2の表面に接触した状態を実現できる。
Here, in the step (S21) described above, the
また、図7に示すように、パッケージ基板2の厚みが一定ではなく、当該パッケージ基板2においてリッド3がはんだ接合されるべき表面が第1保持部27の表面に対して傾斜している場合も、姿勢調整部35が部分的に変形することで、リッド3のはんだ4全体がパッケージ基板2の表面に接触した状態を実現できる。
Moreover, as shown in FIG. 7, even if the thickness of the
次に、ヒータを加熱する工程(S32)を実施する。この工程(S32)では、リッド吸着ステージである第2保持部39とパッケージ基板吸着ステージである第1保持部27のヒータ24を動作させることで、リッド3およびパッケージ基板2をはんだ4の融点以上の温度に加熱する。当該加熱温度は、たとえば220℃以上である。また、このとき気体導入孔29から不活性ガスの一例である窒素ガスをケース28の内部に導入する。ケース28の内部は窒素ガスで満たされた状態とすることが好ましい。この状態で、予め設定したはんだの濡れ広がりに必要な保持時間だけ、加熱を続ける。このようにして、窒素ガス雰囲気中ではんだ付け工程(S33)が実施される。
Next, the step of heating the heater (S32) is performed. In this step ( S<b>32 ), the
次に、冷却工程(S34)を実施する。この工程(S34)では、ヒータ24での発熱量を低下させる、あるいはヒータ24の動作を止めて、リッド3およびパッケージ基板2の温度をはんだ4の融点以下に下げる。この状態で、上記工程(S33、S34)において溶融していたはんだ4の温度が低下し、はんだ4が固まるまで維持する。このようにして、リッド3とパッケージ基板2とのはんだ付けが完了する。
Next, a cooling step (S34) is performed. In this step (S34), the amount of heat generated by the
次に、リッド3の吸着を開放する工程(S41)を実施する。この工程(S41)では、第2保持部39におけるリッド3の真空吸着を停止し、リッド3から第2保持部39を取り外し可能な状態とする。
Next, the step of releasing the adsorption of the lid 3 (S41) is performed. In this step ( S<b>41 ), the vacuum suction of the
次に、リッドはんだ付けユニット10を上昇させる工程(S42)を実施する。この工程(S42)では、リッドはんだ付けユニット10をパッケージ基板はんだ付けユニット19から離れる方向に上昇させる。
Next, the step (S42) of raising the
次に、パッケージ基板の吸着を開放する工程(S51)を実施する。この工程(S51)では、第1保持部27におけるパッケージ基板2の真空吸着を停止し、第1保持部27からリッド3が接続されたパッケージ基板2を取り外し可能な状態とする。
Next, the step of releasing the adsorption of the package substrate (S51) is performed. In this step ( S<b>51 ), vacuum suction of the
次に、実装完了品であるリッド3が接続されたパッケージ基板2を実装完了品回収部16へ移動する工程(S52)を実施する。この工程(S52)では、パッケージ基板供給ユニット13により、電子部品としてのリッド3が接続されたパッケージ基板2を第1保持部27上から実装完了品回収部16へ搬送する。このようにして、電子部品1を得ることができる。
Next, a step (S52) of moving the
<電子部品の構成>
図8は、図4に示した電子部品の製造方法により製造された電子部品の模式図である。図8の上側の図は電子部品1の平面模式図を示す。図8の下側の図は電子部品1の側面模式図を示す。図9は、図8の線分IX-IXにおける断面模式図である。上述の電子部品の製造方法により得られる電子部品1は、たとえば通信機、レーダ等に使用される高周波用の電子部品であってもよい。
<Structure of Electronic Components>
FIG. 8 is a schematic diagram of an electronic component manufactured by the electronic component manufacturing method shown in FIG. The upper diagram in FIG. 8 shows a schematic plan view of the
図8および図9に示すように電子部品1はパッケージ基板2とリッド3とを主に備える。パッケージ基板2の表面には半導体素子5が搭載されている。半導体素子5はボンディングワイヤ6によりパッケージ基板2の表面に形成された導電体からなる配線層と接続されている。
As shown in FIGS. 8 and 9,
半導体素子5は、たとえば通信機やレーダ等に使用される高周波素子である。この場合、電子部品1の半導体素子5においては、電磁波の漏洩や干渉を遮断することが求められる。このため、半導体素子5をリッド3で保護する必要がある。リッド3は、例えばコバールなどの金属で作製されたものが用いられる。パッケージ基板2とリッド3とを接合する手段として、たとえば上述のようにはんだ実装を用いることができる。この場合、図4に示した電子部品の製造方法で説明したように、リッド3には予めはんだ4としてプリコートはんだを形成しておく。また、パッケージ基板2には、はんだ4が接続される領域に当該はんだ4が濡れ易い金属を形成しておく。そして、図4に示した工程により、はんだ4を溶融させてリッド3とパッケージ基板2とをはんだ接合する。この結果、リッド3の外周部の全体がはんだ4によりパッケージ基板2と接合された状態となっている。
<作用効果>
本開示に従った電子部品1の製造装置7は、第1保持部27と第2保持部39と移動部71と姿勢調整部35とを備える。電子部品1は、パッケージ基板2とリッド3とを接合したものである。第1保持部27は、パッケージ基板2を保持する。第2保持部39は、リッド3を保持する。移動部71は、第1保持部27に保持されたパッケージ基板2と第2保持部39に保持されたリッド3とが接触するように、第1保持部27および第2保持部39のいずれか一方を移動させる。姿勢調整部35は、第1保持部27に保持されたパッケージ基板2に対する、第2保持部39に保持されたリッド3の相対的な姿勢を変更する。
<Effect>
A manufacturing apparatus 7 for an
ここで、図4に示した工程(S31)~工程(S33)で説明したように、パッケージ基板2に対してリッド3を接合するために当該リッド3をパッケージ基板2に対して接触させる場合を考える。このとき、たとえば図5および図6に示すようにパッケージ基板2が第1保持部27において保持されている姿勢、またはリッド3が第2保持部39において保持されている姿勢が製造装置7の設計時に想定される姿勢とずれている場合であっても、姿勢調整部35によってパッケージ基板2に対するリッド3の相対的な姿勢を変更できる。この結果、上述した姿勢のずれを打ち消すようにパッケージ基板2またはリッド3の姿勢を姿勢調整部35により変更できるので、リッド3においてパッケージ基板2に接続されるべき接合面全体を、はんだ4を介してパッケージ基板2に接触させることができる。このため、リッド3をパッケージ基板2に対してはんだ接合する場合に、接合面全体がはんだ4を介してパッケージ基板2に接合された状態とすることができる。
Here, as described in the steps (S31) to (S33) shown in FIG. think. At this time, the posture in which the
上記電子部品の製造装置7において、姿勢調整部35は、第1保持部27に対する第2保持部39の姿勢を変更する。この場合、姿勢調整部35により第2保持部39の姿勢を変更することで、パッケージ基板2に対するリッド3の姿勢を変更することができる。
In the electronic component manufacturing apparatus 7 , the
上記電子部品の製造装置7において、姿勢調整部35は弾性体を含む。この場合、第1保持部27または第2保持部39をハウジング34またはケース28などの他の部材に接続する接続部に、姿勢調整部35としての弾性体を配置すれば、弾性体の弾性力を利用して第1保持部27または第2保持部39の姿勢を容易に変更できる。したがって、姿勢調整部35として電動アクチュエータなどを用いる場合より製造装置7の構成を簡略化できる。
In the electronic component manufacturing apparatus 7 described above, the
上記電子部品の製造装置7において、弾性体は樹脂からなる。この場合、樹脂の種類やサイズを変更することで、姿勢調整部35の特性を変更できる。
In the electronic component manufacturing apparatus 7, the elastic body is made of resin. In this case, the characteristics of the
本開示に従った電子部品の製造方法では、パッケージ基板2を第1保持部27に保持する工程(S11)と、リッド3を第2保持部39に保持する工程(S21)と、移動させる工程(S23、S24)と、接合する工程(S32、S33、S34)とを備える。移動させる工程(S23、S24、S31)では、第1保持部27に保持されたパッケージ基板2と第2保持部39に保持されたリッド3とがはんだ4を介して接触するように、第1保持部27および第2保持部39のいずれか一方を移動させる。接合する工程(S32、S33、S34)では、パッケージ基板2とリッド3とに接触したはんだ4を加熱して溶融させることで、はんだ4によりパッケージ基板2とリッド3とを接合する。移動させる工程(S23、S24、S31)では、第1保持部27に保持されたパッケージ基板2に対する、第2保持部39に保持されたリッド3の相対的な姿勢が変更可能になっている。
In the method of manufacturing an electronic component according to the present disclosure, the step of holding the
ここで、移動させる工程(S23、S24、S31)において、パッケージ基板2に対してリッド3を接合するために当該リッド3をパッケージ基板2に対して接触させた状態で、パッケージ基板2が第1保持部27において保持されている姿勢、またはリッド3が第2保持部39において保持されている姿勢が製造装置7の設計時に想定される姿勢とずれている場合を考える。このとき、パッケージ基板2とリッド3とがはんだ4を介して接触するときに、パッケージ基板2に対するリッド3の相対的な姿勢を変更できる。この結果、上述した姿勢のずれを打ち消すようにパッケージ基板2またはリッド3の姿勢を変更することで、リッド3においてパッケージ基板2に接続されるべき接合面全体を、はんだ4を介してパッケージ基板2に接触させることができる。このため、接合する工程(S32、S33、S34)において、リッド3をパッケージ基板2に対してはんだ接合する場合に、リッド3の接合面全体がはんだ4を介してパッケージ基板2に接合された状態とすることができる。
Here, in the moving step (S23, S24, S31), the
ここで、上述した本実施の形態に係る電子部品の製造装置および製造方法の効果を、比較例と対比することにより詳しく説明する。図10および図11は、電子部品の製造装置の比較例の動作を説明するための断面模式図である。図12~図14は、電子部品の製造装置の比較例における問題を説明するための断面模式図である。図10は図4の工程(S24)に対応する工程を示し、図11は図4の工程(S31)に対応する工程を示している。図10~図14に示した電子部品の製造装置の比較例では、姿勢調整部35を備えていないため、第1保持部27に対する第2保持部123の姿勢は固定されている。図10および図11に示すように、異物などが介在することなく、第2保持部123においてリッド3を正しい姿勢で真空吸着しておけば、電子部品の製造装置の比較例においてもリッド3のはんだ4の全体をパッケージ基板2の表面に接触させることができる。
Here, the effect of the electronic component manufacturing apparatus and manufacturing method according to the present embodiment described above will be described in detail by comparing with a comparative example. 10 and 11 are schematic cross-sectional views for explaining the operation of the comparative example of the electronic component manufacturing apparatus. 12 to 14 are schematic cross-sectional views for explaining problems in the comparative example of the electronic component manufacturing apparatus. 10 shows a process corresponding to the process (S24) in FIG. 4, and FIG. 11 shows a process corresponding to the process (S31) in FIG. In the comparative example of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 10 to 14, since the
しかし、図12に示すように、リッド3と第2保持部123との間に異物31が挟まった状態となったときには、電子部品の製造装置の比較例ではリッド3がパッケージ基板2に対して傾いた状態となり、リッド3のはんだ4の一部のみがパッケージ基板2の表面に接触した状態となる。つまり、リッド3のはんだ4とパッケージ基板2の表面との間に隙間33が形成された部分が発生する。この結果、リッド3とパッケージ基板2との接合部において部分的にはんだ接合されない部分が発生する。
However, as shown in FIG. 12, when a
また、図13に示すように、パッケージ基板2と第1保持部27との間に異物31が挟まった状態となったときには、電子部品の製造装置の比較例ではパッケージ基板2がリッド3に対して傾いた状態となり、図12の場合と同様にリッド3のはんだ4の一部のみがパッケージ基板2の表面に接触した状態となる。この結果、リッド3とパッケージ基板2との接合部において部分的にはんだ接合されない部分が発生する。
In addition, as shown in FIG. 13, when a
また、図14に示すように、パッケージ基板2の厚みが不均一で、パッケージ基板2の上面がリッド3に対して傾いた状態となっている場合も、図13の場合と同様にリッド3とパッケージ基板2との接合部において部分的にはんだ接合されない部分が発生する。
Also, as shown in FIG. 14, when the thickness of the
比較例では上記のように異物31の存在やパッケージ基板2の形状不良などによりリッド3とパッケージ基板2とのはんだ接合不良が発生する。しかし、本実施の形態に係る電子部品の製造装置および製造方法では、当該製造装置が姿勢調整部35を備えているため、上述のようにパッケージ基板2に対するリッド3の相対的な姿勢を変更でき、リッド3のはんだ4全体がパッケージ基板2の表面に接触させることができる。この結果、電子部品における上記のようなはんだ接合不良の発生を抑制できる。
In the comparative example, solder joint failure between the
実施の形態2.
<電子部品の製造装置の構成>
図15は、実施の形態2に係る電子部品の製造装置の部分断面模式図である。なお、図15は電子部品の製造装置におけるリッドはんだ付けユニット10のみを示している。図15に示す電子部品の製造装置は、基本的には図1~図3に示した電子部品の製造装置と同様の構成を備えるが、リッドはんだ付けユニット10の構成が図1~図3に示した電子部品の製造装置と異なっている。具体的には、図15に示した電子部品の製造装置では、リッドはんだ付けユニット10のハウジング34における内部空間42が外部から隔離された密閉空間となっている。図2に示したホース37に代えて、図15では内部ホース54、継ぎ手56、57、外部ホース44が用いられている。継ぎ手57はハウジング34の開口部34aと対向する外壁の部分に形成されたホース用の開口部を内部空間42側から塞ぐように配置されている。内部ホース54は第2保持部39の継ぎ手36と上記継ぎ手57とを接続するように配置されている。内部ホース54は継ぎ手36と継ぎ手57との間の距離より十分長い長さを有する。このため、内部ホース54は内部空間42内において屈曲した形状となっている。この結果、第2保持部43の姿勢が変化した場合であっても、内部ホース54の長さが足りず当該第2保持部43の動きを内部ホース54が阻害することはない。外部ホース44の先端部には継ぎ手56が接続されている。継ぎ手56は継ぎ手57に接続されている。外部ホース44の継ぎ手56が接続された先端部と反対側の端部は真空ポンプなどの吸引装置に接続されている。
<Configuration of electronic component manufacturing equipment>
FIG. 15 is a schematic partial cross-sectional view of the electronic component manufacturing apparatus according to the second embodiment. 15 shows only the
また、図15に示したリッドはんだ付けユニット10では、ハウジング34の内部空間42に加圧用の気体を供給するための加圧ホース41が接続されている。加圧ホース41の先端部は、ハウジング34の外壁に形成された加圧ホース用開口部を塞ぐように配置された継ぎ手58と接続されている。加圧ホース41の継ぎ手58と接続された先端部と反対側の端部は、加圧用の気体を内部空間42に供給するための供給部72に接続されている。供給部72としてはたとえばポンプ等を用いることができる。加圧ホース41には、内部空間42へのガスの供給および加圧状態を維持する状態と、内部空間42からガスを排出して内部空間42の内部の圧力を大気圧にまで下げた状態とを切り替え可能とするため、図示しない切替弁が接続されている。切替弁は、図示しない制御部からの制御信号により上述した2つの状態を切り替え可能となっている。切替弁の構成としては従来周知の任意の構成を採用できる。
Further, in the
図15に示したリッドはんだ付けユニット10では、ハウジング34の内部空間42における圧力を測定するための測定部73が配置されている。測定部73としては従来周知の任意の装置を採用できる。
In the
<電子部品の製造方法>
図16は、実施の形態2に係る電子部品の製造方法を説明するためのフローチャートである。図16に示した電子部品の製造方法は、図4に示した電子部品の製造方法と基本的に同様であるが、リッドはんだ付けユニット10のハウジング34における内部空間42に加圧用の気体を導入するとともに、内部空間42の圧力を検知する工程(S25)、はんだ接合後に内部空間42の圧力を検知する工程(S43)および内部空間42を大気開放する工程(S44)を備える点が、図4に示した電子部品の製造方法と異なっている。以下、説明する。
<Method for manufacturing electronic components>
FIG. 16 is a flow chart for explaining the method for manufacturing an electronic component according to the second embodiment. The electronic component manufacturing method shown in FIG. 16 is basically the same as the electronic component manufacturing method shown in FIG. In addition, the step of detecting the pressure in the internal space 42 (S25), the step of detecting the pressure in the
図16に示すように、工程(S11)、工程(S12)、工程(S21)~工程(S23)までを実施した後、上記工程(S25)を実施する。この工程(S25)では、加圧ホース41からハウジング34の内部空間42に加圧用のガスを導入する。加圧用のガスとしては空気を用いることができる。そして、測定部73により内部空間42の圧力を検出し、当該圧力が予め定めた基準値に達した場合に当該ガスの供給を停止する。その後、加圧ホース41に接続された切替弁を操作し、内部空間42が加圧された状態を維持する。この状態で、測定部73により内部空間42の圧力変動をモニタリングする。
As shown in FIG. 16, step (S11), step (S12), step (S21) to step (S23) are performed, and then step (S25) is performed. In this step ( S<b>25 ), pressurizing gas is introduced into the
当該圧力をモニタリングすることで、内部空間42からのガスのリーク量を推定できる。当該リーク量が大きい場合(つまり内部空間42の圧力の低下速度が予め定めた基準値より大きい場合)、姿勢調整部35に亀裂などの不良が発生していると考えられる。このような場合、工程(S31)~工程(S34)におけるはんだ接合工程においてリッド3をパッケージ基板2に均一に押圧することが難しく、はんだ付け不良が発生する可能性が高くなる。そのため、上記のようにリーク量が大きい場合にはプロセスを中断し、姿勢調整部35などの検査、必要であれば姿勢調整部35などの補修を行う。
By monitoring the pressure, the amount of gas leaking from the
一方、上記のモニタリングにより内部空間42からのリーク量が十分小さい場合には、次工程である工程(S24)、工程(S31)~工程(S34)、工程(S41)、工程(S42)を実施する。
On the other hand, if the amount of leakage from the
その後、ハウジング34の内部空間42の圧力を検知する工程(S43)を実施する。この工程(S43)では、測定部73により内部空間42の圧力を測定する。測定した結果を、上記工程(S25)において測定した圧力データと比較する。たとえば、工程(S25)において測定した圧力データと工程(S43)において測定した圧力データとの差分を算出し、当該差分が予め設定した基準値より小さいか否かを確認する。当該差分が基準値より小さい場合、リッドはんだ付けユニット10に設備不良などは無く、内部空間42の圧力に変動がほとんど無かったことが分かる。この結果、はんだ接合時に、リッド3をパッケージ基板2に対して押圧する力について問題となるような変動は無かったことがわかる。なお、この工程(S43)は、1つの電子部品を製造する毎に実施してもよいし、複数の電子部品の製造終了毎に実施してもよい。たとえば、1日の電子部品の生産開始時点と生産終了時点とで工程(S25)および工程(S43)を実施してもよい。
After that, the step of detecting the pressure in the
その後、図4に示した製造方法と同様に、工程(S51)および工程(S52)を実施する。このようにして、図15に示した電子部品の製造装置を用いて電子部品を製造できる。 Thereafter, steps (S51) and (S52) are performed in the same manner as in the manufacturing method shown in FIG. In this manner, an electronic component can be manufactured using the electronic component manufacturing apparatus shown in FIG.
<作用効果>
上記電子部品の製造装置7において、姿勢調整部35は、第1保持部27に対する第2保持部43の姿勢を変更する。上記電子部品の製造装置7は、さらに、第2保持部43を支持するためのハウジング34を備える。ハウジング34は内部空間42を囲む外壁を含む。外壁には開口部34aが形成される。第2保持部43は、開口部34aに配置される。姿勢調整部35は、弾性体を含む。弾性体は、開口部34aを塞ぐように第2保持部43と外壁とを接続する。上記電子部品の製造装置7は、さらに、供給部72と測定部73とを備える。供給部72は、内部空間42に気体を供給する。測定部73は、内部空間42の圧力を測定する。
<Effect>
In the electronic component manufacturing apparatus 7 , the
この場合、姿勢調整部35により第2保持部43の姿勢を変更することで、第2保持部43に保持されたリッド3のパッケージ基板2に対する姿勢を変更できる。さらに、ハウジング34の内部空間42に供給部72により気体を供給し、内部空間42の圧力を大気圧より高くすることで、第2保持部43に保持されたリッド3をパッケージ基板2に接触させるときにリッド3をパッケージ基板2に対して押しつけることができる。この結果、リッド3の姿勢がパッケージ基板2の姿勢に沿うように、弾性体を変形させて第2保持部43の姿勢を変更できる。
In this case, the posture of the
上記電子部品の製造方法において、移動させる工程(S23、S24、S31)では、はんだ4を介してリッド3をパッケージ基板2に向けて押圧する圧力を、第2保持部43を押圧する気体により発生させている。上記電子部品の製造方法は、気体の圧力を測定する工程(S25、S43)をさらに備える。
In the method of manufacturing the electronic component described above, in the moving steps (S23, S24, S31), the pressure for pressing the
この場合、第2保持部43を押圧する気体の圧力を大気圧より高くすることで、リッド3をパッケージ基板2に確実に押しつけることができる。この結果、リッド3の姿勢がパッケージ基板2の姿勢に沿うように、第2保持部43の姿勢を変更できる。また、たとえば接合する工程(S32、S33、S34)の前後において、上記気体の圧力を測定することで、当該気体の圧力が想定外に低下していない、つまり異常が発生していないことを確認できる。このため、上記接合する工程(S32、S33、S34)でリッド3がパッケージ基板2に対して十分な圧力で押圧されたかどうかを判断することができる。
In this case, the
実施の形態3.
<電子部品の製造装置の構成および動作>
図17は、実施の形態3に係る電子部品の製造装置の部分断面模式図である。図18は、図17に示した電子部品の製造装置の動作を説明するための模式図である。なお、図17および図18は電子部品の製造装置におけるリッドはんだ付けユニット10のみを示している。
<Structure and Operation of Electronic Component Manufacturing Equipment>
17 is a schematic partial cross-sectional view of an electronic component manufacturing apparatus according to
図17および図18に示した電子部品の製造装置は、基本的には図1~図3に示した電子部品の製造装置と同様の構成を備えるが、リッドはんだ付けユニット10の構成が図1~図3に示した電子部品の製造装置と異なっている。具体的には、リッドはんだ付けユニット10の第2保持部39の上面に弾性体からなる姿勢調整部45が配置されている。姿勢調整部45上にはハウジング34が配置されている。姿勢調整部45は第2保持部39とハウジング34とを接続している。ハウジング34の形状は任意の形状とすることができるが、たとえば板状である。姿勢調整部45は、ハウジング34に対して第2保持部39の姿勢を変更可能に構成されている。姿勢調整部45は、たとえば柔軟なゴム等の樹脂によって構成されていてもよい。この場合、図18に示すように、姿勢調整部45が局所的に収縮することで、第2保持部39をハウジング34に対して傾けることができる。このようにすれば、図6や図7に示した場合と同様に第2保持部39に吸着されたリッド3がパッケージ基板2の表面に沿うように、第2保持部39の姿勢を変更できる。
The electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 17 and 18 basically has the same configuration as the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 1 is different from the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. Specifically, a
<作用効果>
上記電子部品の製造装置では、柔軟なゴムなどの弾性体を姿勢調整部45として用いることで、実施の形態1と同様の効果を得ることができる。
<Effect>
In the above-described electronic component manufacturing apparatus, by using an elastic body such as flexible rubber as the
<変形例の構成および作用効果>
図19は、実施の形態3に係る電子部品の製造装置の第1変形例を示す部分断面模式図である。図20は、実施の形態3に係る電子部品の製造装置の第2変形例を示す部分断面模式図である。図21は、図20に示した電子部品の製造装置の動作を説明するための模式図である。なお、図19および図20は図17に対応し、図21は図18に対応する。
<Structure and effect of modification>
FIG. 19 is a schematic partial cross-sectional view showing a first modification of the electronic component manufacturing apparatus according to the third embodiment. FIG. 20 is a schematic partial cross-sectional view showing a second modification of the electronic component manufacturing apparatus according to the third embodiment. FIG. 21 is a schematic diagram for explaining the operation of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIG. 19 and 20 correspond to FIG. 17, and FIG. 21 corresponds to FIG.
図19に示した電子部品の製造装置は、基本的には図17および図18に示した電子部品の製造装置と同様の構成を備えるが、リッドはんだ付けユニット10の構成が図17および図18に示した電子部品の製造装置と異なっている。具体的には、リッドはんだ付けユニット10の第2保持部39の上面に部分的に弾性体からなる姿勢調整部45が配置されている。姿勢調整部45は第2保持部39の上面において離散的に複数配置されていてもよい。または、姿勢調整部45は第2保持部39の上面において外周部に沿った領域に環状に配置されていてもよい。また、姿勢調整部45の平面形状は第2保持部39の外周に沿った環状の形状であってもよい。このような構成によっても、図17および図18に示した電子部品の製造装置と同様の効果を得ることができる。
The electronic component manufacturing apparatus shown in FIG. 19 basically has the same configuration as the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. It is different from the electronic component manufacturing equipment shown in . Specifically, an
図20および図21に示した電子部品の製造装置は、基本的には図17および図18に示した電子部品の製造装置と同様の構成を備えるが、リッドはんだ付けユニット10の構成が図1~図3に示した電子部品の製造装置と異なっている。具体的には、リッドはんだ付けユニット10の第2保持部39の上面に部分的に弾性体としての圧縮コイルバネからなる姿勢調整部46が配置されている。このようにバネからなる姿勢調整部46は第2保持部39の上面において離散的に複数配置されていてもよい。または、姿勢調整部46は第2保持部39の上面において外周部に沿った領域に沿って配置されていてもよい。
The electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 20 and 21 basically has the same configuration as the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 1 is different from the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. Specifically, an
上述した電子部品の製造装置の特徴的な構成を要約すれば、上記電子部品の製造装置7において、姿勢調整部46を構成する弾性体はバネである。この場合も、図17および図18に示した電子部品の製造装置と同様の効果を得ることができる。さらに、ばね定数といった特性の異なるバネを適宜選択して弾性体として用いることで、姿勢調整部46の特性を変更できる。
To summarize the characteristic configuration of the electronic component manufacturing apparatus described above, in the electronic component manufacturing apparatus 7, the elastic body constituting the
実施の形態4.
<電子部品の製造装置の構成および動作>
図22は、実施の形態4に係る電子部品の製造装置の部分断面模式図である。図23は、図22に示した電子部品の製造装置の動作を説明するための模式図である。なお、図22および図23ではリッドはんだ付けユニット10およびパッケージ基板はんだ付けユニット19のみを示している。図22は図5に対応し、図23は図6に対応する。
<Structure and Operation of Electronic Component Manufacturing Equipment>
22 is a schematic partial cross-sectional view of an electronic component manufacturing apparatus according to
図22および図23に示した電子部品の製造装置は、基本的には図1~図3に示した電子部品の製造装置と同様の構成を備えるが、リッドはんだ付けユニット10およびパッケージ基板はんだ付けユニット19の構成が図1~図3に示した電子部品の製造装置と異なっている。具体的には、リッドはんだ付けユニット10は図2および図5に示すようなハウジング34を有さず、第2保持部123が直接移動部(図5参照)に接続されている。また、パッケージ基板はんだ付けユニット19では、第1保持部67の下面に弾性体からなる姿勢調整部65が配置されている。姿勢調整部65はケース28の内面と第1保持部67とを接続する。姿勢調整部65は第1保持部67の下面の大部分を覆うように配置されているが、図19に示したように第1保持部67の下面を部分的に覆うように配置されていてもよい。
The electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 22 and 23 basically has the same configuration as the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. The configuration of the
この場合、図23に示すように、姿勢調整部65が局所的に収縮することで、第1保持部67をケース28に対して傾けることができる。このようにすれば、第1保持部67に吸着されたパッケージ基板2をリッド3においてはんだ4が配置された接合面に沿わせるように、第1保持部67の姿勢を変更できる。
In this case, as shown in FIG. 23 , the first holding
<作用効果>
上記電子部品の製造装置7において、姿勢調整部65は、第2保持部123に対する第1保持部67の姿勢を変更する。この場合、姿勢調整部65により第1保持部67の姿勢を変更することで、リッド3に対するパッケージ基板2の姿勢を変更することができる。この結果、実施の形態1と同様の効果を得ることができる。
<Effect>
In the electronic component manufacturing apparatus 7 , the
<変形例の構成および作用効果>
図24は、実施の形態4に係る電子部品の製造装置の変形例を示す部分断面模式図である。図25は、図24に示した電子部品の製造装置の動作を説明するための模式図である。
<Structure and effect of modification>
FIG. 24 is a schematic partial cross-sectional view showing a modification of the electronic component manufacturing apparatus according to the fourth embodiment. FIG. 25 is a schematic diagram for explaining the operation of the electronic component manufacturing apparatus shown in FIG.
図24および図25に示した電子部品の製造装置は、基本的には図22および図23に示した電子部品の製造装置と同様の構成を備えるが、パッケージ基板はんだ付けユニット19の構成が図22および図23に示した電子部品の製造装置と異なっている。具体的には、パッケージ基板はんだ付けユニット19の第1保持部67の下面に部分的に弾性体としての圧縮コイルバネからなる姿勢調整部66が配置されている。このようにバネからなる姿勢調整部66は第1保持部67の下面において離散的に複数配置されていてもよい。または、姿勢調整部66は第1保持部67の下面において外周部に沿った領域に沿って配置されていてもよい。
The electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 24 and 25 basically has the same configuration as the electronic component manufacturing apparatus shown in FIGS. 22 and 23 are different from the electronic component manufacturing apparatus shown in FIG. Specifically, an
上述した電子部品の製造装置の特徴的な構成を要約すれば、上記電子部品の製造装置7において、姿勢調整部66を構成する弾性体はバネである。この場合も、図22および図23に示した電子部品の製造装置と同様の効果を得ることができる。さらに、ばね定数といった特性の異なるバネを適宜選択して姿勢調整部66を構成する弾性体として用いることで、姿勢調整部66の特性を変更できる。
To summarize the characteristic configuration of the electronic component manufacturing apparatus described above, in the electronic component manufacturing apparatus 7, the elastic body constituting the
なお、上述し各実施の形態では姿勢調整部として弾性体を用いたが、第1保持部27または第2保持部39の姿勢を変更できれば姿勢調整部として他の任意の構成を採用できる。たとえば、上述した各実施の形態における姿勢調整部としてユニバーサルジョイントなどの機械継ぎ手などを用いてもよい。
In addition, in each embodiment described above, an elastic body is used as the posture adjusting portion, but any other configuration can be adopted as the posture adjusting portion as long as the posture of the first holding
以上のように本発明の実施の形態について説明を行なったが、今回開示した実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。 Although the embodiment of the present invention has been described as above, it should be considered that the embodiment disclosed this time is illustrative in all respects and is not restrictive. The scope of the present invention is indicated by the claims, and is intended to include all changes within the meaning and range of equivalents to the claims.
1 電子部品、2 パッケージ基板、3 リッド、4 はんだ、5 半導体素子、6 ボンディングワイヤ、7 製造装置、8,9,11,12,20,21 搬送部、10 リッドはんだ付けユニット、13 パッケージ基板供給ユニット、14 リッド供給部、15 パッケージ基板供給部、16 実装完了品回収部、17 リッド位置決めユニット、18 パッケージ基板位置補正カメラ、19 パッケージ基板はんだ付けユニット、22 リッド供給ユニット、24 ヒータ、25 熱電対、26 吸着孔、27,67 第1保持部、28 ケース、29 気体導入孔、30 気体排気孔、31 異物、33 隙間、34 ハウジング、34a 開口部、35,45,46,65,66 姿勢調整部、36,56,57,58 継ぎ手、37 ホース、38 取付ネジ、39,43,123 第2保持部、41 加圧ホース、42 内部空間、44 外部ホース、54 内部ホース、71 移動部、72 供給部、73 測定部。
1
Claims (8)
前記パッケージ基板を保持する第1保持部と、
前記リッドを保持する第2保持部と、
前記第1保持部に保持された前記パッケージ基板と前記第2保持部に保持された前記リッドとが接触するように、前記第1保持部および前記第2保持部のいずれか一方を移動させる移動部と、
前記第1保持部に保持された前記パッケージ基板に対する、前記第2保持部に保持された前記リッドの相対的な姿勢を変更する姿勢調整部とを備え、
前記姿勢調整部は弾性体を含む、電子部品の製造装置。 An electronic component manufacturing apparatus in which a package substrate and a lid are joined,
a first holding portion that holds the package substrate;
a second holding portion that holds the lid;
moving one of the first holding portion and the second holding portion such that the package substrate held by the first holding portion and the lid held by the second holding portion are in contact with each other; Department and
an attitude adjustment unit that changes a relative attitude of the lid held by the second holding unit with respect to the package substrate held by the first holding unit ;
The electronic component manufacturing apparatus, wherein the posture adjusting unit includes an elastic body .
前記第2保持部を支持するためのハウジングを備え、
前記ハウジングは内部空間を囲む外壁を含み、
前記外壁には開口部が形成され、
前記第2保持部は、前記開口部に配置され、
前記姿勢調整部は、前記開口部を塞ぐように前記第2保持部と前記外壁とを接続する弾性体を含み、さらに、
前記内部空間に気体を供給する供給部と、
前記内部空間の圧力を測定する測定部とを備える、請求項1に記載の電子部品の製造装置。 The attitude adjusting section changes the attitude of the second holding section with respect to the first holding section, and
A housing for supporting the second holding part,
the housing includes an outer wall surrounding an interior space;
An opening is formed in the outer wall,
The second holding part is arranged in the opening,
The posture adjustment section includes an elastic body that connects the second holding section and the outer wall so as to close the opening, and
a supply unit that supplies gas to the internal space;
2. The electronic component manufacturing apparatus according to claim 1, further comprising a measuring unit that measures the pressure in said internal space.
リッドを第2保持部に保持する工程と、
前記第1保持部に保持された前記パッケージ基板と前記第2保持部に保持された前記リッドとがはんだを介して接触するように、前記第1保持部および前記第2保持部のいずれか一方を移動させる工程と、
前記パッケージ基板と前記リッドとに接触した前記はんだを加熱して溶融させることで、前記はんだにより前記パッケージ基板と前記リッドとを接合する工程と、を備え、
前記移動させる工程では、弾性体を含む姿勢調整部によって、前記第1保持部に保持された前記パッケージ基板に対する、前記第2保持部に保持された前記リッドの相対的な姿勢が変更可能になっている、電子部品の製造方法。 holding the package substrate on the first holding part;
holding the lid on the second holding portion;
Either one of the first holding portion and the second holding portion is held so that the package substrate held by the first holding portion and the lid held by the second holding portion are in contact via solder. a step of moving the
a step of heating and melting the solder in contact with the package substrate and the lid to join the package substrate and the lid with the solder;
In the moving step, an attitude adjusting portion including an elastic body can change the relative attitude of the lid held by the second holding portion with respect to the package substrate held by the first holding portion. A method of manufacturing an electronic component.
前記気体の圧力を測定する工程をさらに備える、請求項7に記載の電子部品の製造方法。 In the moving step, a pressure for pressing the lid toward the package substrate through the solder is generated by a gas pressing the second holding portion,
8. The method of manufacturing an electronic component according to claim 7 , further comprising the step of measuring the pressure of said gas.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019082182A JP7334053B2 (en) | 2019-04-23 | 2019-04-23 | Electronic component manufacturing apparatus and electronic component manufacturing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019082182A JP7334053B2 (en) | 2019-04-23 | 2019-04-23 | Electronic component manufacturing apparatus and electronic component manufacturing method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020181848A JP2020181848A (en) | 2020-11-05 |
JP7334053B2 true JP7334053B2 (en) | 2023-08-28 |
Family
ID=73024433
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019082182A Active JP7334053B2 (en) | 2019-04-23 | 2019-04-23 | Electronic component manufacturing apparatus and electronic component manufacturing method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7334053B2 (en) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001185841A (en) | 1999-12-27 | 2001-07-06 | Suzuka Fuji Xerox Co Ltd | Heating and melting device for attaching electronic component |
JP2007305857A (en) | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Dainippon Printing Co Ltd | Bonding apparatus |
JP2010205751A (en) | 2009-02-27 | 2010-09-16 | Nippon Avionics Co Ltd | Centering device |
JP2011014756A (en) | 2009-07-03 | 2011-01-20 | Akim Kk | Multiple head type lid welding apparatus by turret |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61276237A (en) * | 1985-05-31 | 1986-12-06 | Hitachi Ltd | Method for airtight sealing of semiconductor package and unit therefor |
JPH02214144A (en) * | 1989-02-15 | 1990-08-27 | Hitachi Ltd | Sealing jig |
JPH05315464A (en) * | 1992-05-06 | 1993-11-26 | Hitachi Ltd | Manufacture of semiconductor device |
JP3397127B2 (en) * | 1998-03-26 | 2003-04-14 | 松下電器産業株式会社 | Electronic component mounting apparatus and mounting method |
-
2019
- 2019-04-23 JP JP2019082182A patent/JP7334053B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001185841A (en) | 1999-12-27 | 2001-07-06 | Suzuka Fuji Xerox Co Ltd | Heating and melting device for attaching electronic component |
JP2007305857A (en) | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Dainippon Printing Co Ltd | Bonding apparatus |
JP2010205751A (en) | 2009-02-27 | 2010-09-16 | Nippon Avionics Co Ltd | Centering device |
JP2011014756A (en) | 2009-07-03 | 2011-01-20 | Akim Kk | Multiple head type lid welding apparatus by turret |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2020181848A (en) | 2020-11-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6764040B2 (en) | Joining system and joining method | |
TWI429019B (en) | Mating device and fitting method | |
TWI664681B (en) | Mounting head and mounting device using the same | |
JP2008060137A (en) | Chip feeding method in mounting apparatus, and mounting apparatus thereof | |
US8209858B2 (en) | Method for mounting electronic components on a support | |
US10199349B2 (en) | Mounting device and mounting method | |
US8490856B2 (en) | Joint apparatus, joint method, and computer storage medium | |
US20160118362A1 (en) | Bonding apparatus and substrate manufacturing equipment including the same | |
KR101976103B1 (en) | Thermocompression bonding apparatus | |
JP7334053B2 (en) | Electronic component manufacturing apparatus and electronic component manufacturing method | |
TW202032692A (en) | Laser bonding apparatus for semi-conductor chip | |
US20050071991A1 (en) | Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method | |
JP6596330B2 (en) | Joining apparatus, joining system, joining method, program, and computer storage medium | |
JP2015153851A (en) | Mask for mounting ball and ball mounting device | |
JP4666546B2 (en) | Pressure device and bump bonding device, bonding device, and pressure bonding device using the same | |
TWI588945B (en) | Apparatus for manufacturing package on package | |
JP7465197B2 (en) | Element mounting equipment | |
WO2023083087A1 (en) | Welding apparatus and welding method | |
TW201815505A (en) | Pressure head for flip chip bonder and pressure assembly containing the same | |
JP2005019957A (en) | Electronic component mounter and electronic component mounting method | |
JP2005251813A (en) | Wafer level burn in alignment device and method | |
KR20220131174A (en) | Die bonding apparatus and method of manufacturing semiconductor device | |
JP6115617B2 (en) | Mounting device | |
JPH04364090A (en) | Soldering jig | |
CN110953907A (en) | Manufacturing method of intermediate products of multiple temperature-equalizing plates and temperature-equalizing plate |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220224 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20230123 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230131 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230313 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230718 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230816 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7334053 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |