JP7302922B1 - 検査装置、検査方法、および、検査プログラム - Google Patents
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Description
図1は、本実施形態にかかる検査システムの構成が示される概念図である。図1に基づいて、本実施形態にかかる検査システムの構成が説明される。
図3は、本実施形態にかかる検査装置12の機能ブロック図である。図3に基づいて、本実施形態にかかる検査装置12の構成とその機能とが説明される。
本実施形態にかかる検査装置12は、上述されたコンピュータ20の制御部30がメモリ32から読出したプログラムを実行することにより実現される。一般的にこうしたプログラムは、USBメモリ300などのコンピュータ20が読取可能な記録媒体に記録された状態で流通する。こうしたプログラムは図示されないインターネットを介して流通することもある。こうしたプログラムは、固定ディスク34にいったん記録される。制御部30が実行するプログラムは、その固定ディスク34に記録されたプログラムをメモリ32が記憶したものである。したがって、本実施形態にかかる検査装置12の最も本質的な部分は、USBメモリ300などのコンピュータ読取可能な記録媒体に記録されたプログラムである。
図4は、本実施形態にかかる関数特定方法の制御の手順が示されるフローチャートである。この関数特定方法は、次に述べられる複数の工程を検査装置12に実行させるものである。それら複数の工程は、測定値集合体受付工程S130、測定値集合体記憶工程S132、残差関数特定工程S134、および、標準偏差特定工程S136である。以下、これらの各工程の具体的な内容が説明される。
図5は、本実施形態にかかる検査方法の制御の手順が示されるフローチャートである。この検査方法は、次に述べられる複数の工程を検査装置12に実行させるものである。それら複数の工程は、測定値集合体受付工程S130、測定値集合体記憶工程S132、合否判断工程S154、および、合否情報出力工程S156である。以下、これらの各工程の具体的な内容が説明される。
以下、本実施形態にかかる検査システム特に検査装置12の動作が説明される。
まず、作業者は、インピーダンスアナライザ10を操作することで、次に述べられる可変コンデンサのレジスタンスとリアクタンスとインピーダンスとを測定する。その可変コンデンサは、インピーダンスマッチングに用いられるとき適切に機能を発揮できることが明らかなものである。インピーダンスアナライザ10は検査装置12にそれらの測定値を出力する。出力された測定値が本実施形態にかかる測定値の集合体となる。本実施形態の場合、それらの測定値は、それらの測定値が測定された際のロータの角度に対応付けられる。そのロータは、その可変コンデンサが有するものである。「ロータの角度」とは、基準とみなされる所定の方向と可変コンデンサのロータの外周の所定の箇所が向く方向とがなしロータの中心を原点とする角度のことである。ロータの角度は可変コンデンサの電極対向面積ひいては静電容量に対応する。
作業者は、検査の対象となる可変コンデンサのレジスタンスとリアクタンスとインピーダンスとをインピーダンスアナライザ10により測定する。それらが測定されると、インピーダンスアナライザ10は検査装置12に測定値の集合体を出力する。この測定値の集合体においても、レジスタンスの測定値とリアクタンスの測定値とインピーダンスの測定値とはロータの角度に対応付けられている。検査装置12の測定値集合体受付部60は作業者の指示を受けてその出力された測定値の集合体を受付ける(S130)。測定値の集合体が受付けられると、測定値集合体記憶部62は測定値の集合体を記憶する(S132)。
作業者は、検査の対象となる可変コンデンサのレジスタンスとリアクタンスとインピーダンスとをインピーダンスアナライザ10により測定する。それらが測定されると、インピーダンスアナライザ10は検査装置12に測定値の集合体を出力する。この測定値の集合体においても、レジスタンスの測定値とリアクタンスの測定値とインピーダンスの測定値とはロータの角度に対応付けられている。検査装置12の測定値集合体受付部60は作業者の指示を受けてその出力された測定値の集合体を受付ける(S130)。測定値の集合体が受付けられると、測定値集合体記憶部62は測定値の集合体を記憶する(S132)。
インピーダンスマッチングに用いられるとき適切に機能を発揮する可変コンデンサのレジスタンスとリアクタンスとの関係は、それらの一方を独立変数とし他方を従属変数とする多項式関数によって示すことができる。多項式関数の例は二次関数である。また、インピーダンスマッチングに用いられるとき適切に機能を発揮する可変コンデンサのレジスタンスとリアクタンスとの関係においては、多項式関数が二次関数であることが多い。このことを裏付けるため、インピーダンスマッチングに用いられるとき適切に機能を発揮する可変コンデンサのレジスタンスとリアクタンスとが測定された。測定の対象となった可変コンデンサは、中国上海復旦電容器工場製の「CB-2X-440」であった。その可変コンデンサのレジスタンスとリアクタンスとは、キーサイト・テクノロジー・インターナショナル合同会社製のインピーダンスアナライザ「4294A」によって測定された。その可変コンデンサは、それぞれが可変コンデンサとして動作できる2つの部分を有する。図6は、その可変コンデンサの2つの部分のうち一方についてのレジスタンスの測定値とそのレジスタンスの測定値が得られたときのリアクタンスの測定値との関係が示される図である。図7は、その可変コンデンサの2つの部分のうち他方についてのレジスタンスの測定値とそのレジスタンスの測定値が得られたときのリアクタンスの測定値との関係が示される図である。いずれにおいても、測定周波数は12.88メガヘルツであった。同様に、中国上海復旦電容器工場製の可変コンデンサ「CB-2X-250」についても上述のインピーダンスアナライザによってレジスタンスとリアクタンスとが測定された。これもそれぞれが可変コンデンサとして動作できる2つの部分を有する。図8は、その可変コンデンサの2つの部分のうち一方についてのレジスタンスの測定値とそのレジスタンスの測定値が得られたときのリアクタンスの測定値との関係が示される図である。図9は、その可変コンデンサの2つの部分のうち他方についてのレジスタンスの測定値とそのレジスタンスの測定値が得られたときのリアクタンスの測定値との関係が示される図である。いずれにおいても、測定周波数は12.88メガヘルツであった。
今回開示された実施形態はすべての点で例示である。本発明の範囲は上述した実施形態に基づいて制限されるものではない。もちろん、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の設計変更が可能である。
12…検査装置
20…コンピュータ
22…マウス
24…プリンタ
30…制御部
32…メモリ
34…固定ディスク
36…キーボード
38…表示装置
40…コネクタ
42…第1I/O
44…第2I/O
46…第3I/O
60…測定値集合体受付部
62…測定値集合体記憶部
64…合否判断部
66…合否情報出力部
80…従属変数算出部
82…残差算出部
84…全充足判断部
86…残差関数特定部
300…USBメモリ
Claims (6)
- 可変コンデンサに関する測定値の集合体を受付ける測定値集合体受付部を備える検査装置であって、
前記測定値の集合体が、前記測定値の対を複数対有しており、
前記測定値の対が、
前記可変コンデンサのレジスタンスの測定値と、
前記レジスタンスの測定値に対応するリアクタンスの測定値とを有しており、
前記測定値の集合体を記憶する測定値集合体記憶部と、
前記測定値の集合体が有する前記測定値の対において残差が閾値を超えるか否かに応じて前記可変コンデンサについての検査の合否を判断する合否判断部とをさらに備え、
前記残差が、共通する前記測定値の対に属する前記レジスタンスの測定値と前記リアクタンスの測定値とのうち一方の測定値と残差関数の従属変数との差であり、
前記残差関数が、共通する前記測定値の対に属する前記レジスタンスの測定値と前記リアクタンスの測定値とのうち前記残差の算出に用いられる前記一方の測定値を前記従属変数とし他方の測定値を独立変数とする多項式関数であり、
前記検査の合否を示す情報を出力する合否情報出力部をさらに備えることを特徴とする検査装置。 - 前記合否判断部が、
前記他方の測定値と前記残差関数とに基づいて前記残差関数の前記従属変数を算出する従属変数算出部と、
前記従属変数算出部が前記残差関数の従属変数の算出に用いた前記他方の測定値と共通する前記測定値の対に属する前記一方の測定値と前記残差関数の従属変数とから前記残差を算出する残差算出部と、
前記測定値の集合体が有する前記測定値の対のいずれかにおいて前記測定値の対に基づき算出された前記残差が前記閾値を超えるか否かに応じて前記検査の合否を判断する全充足判断部を有していることを特徴とする請求項1に記載の検査装置。 - 前記合否判断部が、前記残差関数を前記測定値の集合体に基づいて特定する残差関数特定部をさらに有しており、
前記従属変数算出部が、前記他方の測定値と前記残差関数特定部によって特定された前記残差関数とに基づいて前記残差関数の前記従属変数を算出することを特徴とする請求項2に記載の検査装置。 - 前記残差関数特定部が、前記残差関数における前記従属変数の標準偏差を前記残差関数に加えて特定するものであり、
前記閾値が前記従属変数の標準偏差に1を超える実数を乗じて得られる値であることを特徴とする請求項3に記載の検査装置。 - 可変コンデンサに関する測定値の集合体をコンピュータが受付ける測定値集合体受付工程を備える検査方法であって、
前記測定値の集合体が、前記測定値の対を複数対有しており、
前記測定値の対が、
前記可変コンデンサのレジスタンスの測定値と、
前記レジスタンスの測定値に対応するリアクタンスの測定値とを有しており、
前記測定値の集合体を前記コンピュータが記憶する測定値集合体記憶工程と、
前記測定値の集合体が有する前記測定値の対において残差が閾値を超えるか否かに応じて前記可変コンデンサについての検査の合否を前記コンピュータが判断する合否判断工程とをさらに備え、
前記残差が、共通する前記測定値の対に属する前記レジスタンスの測定値と前記リアクタンスの測定値とのうち一方の測定値と残差関数の従属変数との差であり、
前記残差関数が、共通する前記測定値の対に属する前記レジスタンスの測定値と前記リアクタンスの測定値とのうち前記残差の算出に用いられる前記一方の測定値を前記従属変数とし他方の測定値を独立変数とする多項式関数であり、
前記検査の合否を示す情報を前記コンピュータが出力する合否情報出力工程をさらに備えることを特徴とする検査方法。 - 可変コンデンサに関する測定値の集合体が受付けられる測定値集合体受付工程を備える検査方法をコンピュータが実施するための検査プログラムであって、
前記測定値の集合体が、前記測定値の対を複数対有しており、
前記測定値の対が、
前記可変コンデンサのレジスタンスの測定値と、
前記レジスタンスの測定値に対応するリアクタンスの測定値とを有しており、
前記検査方法が、
前記測定値の集合体が記憶される測定値集合体記憶工程と、
前記測定値の集合体が有する前記測定値の対において残差が閾値を超えるか否かに応じて前記可変コンデンサについての検査の合否が判断される合否判断工程とをさらに備え、
前記残差が、共通する前記測定値の対に属する前記レジスタンスの測定値と前記リアクタンスの測定値とのうち一方の測定値と残差関数の従属変数との差であり、
前記残差関数が、共通する前記測定値の対に属する前記レジスタンスの測定値と前記リアクタンスの測定値とのうち前記残差の算出に用いられる前記一方の測定値を前記従属変数とし他方の測定値を独立変数とする多項式関数であり、
前記検査方法が、前記検査の合否を示す情報が出力される合否情報出力工程をさらに備えることを特徴とする検査プログラム。
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---|---|---|---|
JP2023036250A JP7302922B1 (ja) | 2023-03-09 | 2023-03-09 | 検査装置、検査方法、および、検査プログラム |
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002151366A (ja) | 2000-11-10 | 2002-05-24 | Toyota Motor Corp | 電気二重層キャパシタの検査方法 |
JP5273282B2 (ja) | 2012-07-17 | 2013-08-28 | 辰巳電子工業株式会社 | 画像編集装置、画像編集方法、画像印刷装置及びコンピュータプログラム |
JP2016180692A (ja) | 2015-03-24 | 2016-10-13 | 中国電力株式会社 | 周波数決定装置、周波数決定方法、プログラム、測定装置、及び歪計 |
US20170322262A1 (en) | 2016-05-04 | 2017-11-09 | The Paper Battery Company, Inc. | System and method for estimating state of health of capacitive device |
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