JP7299706B2 - 研削工具を試験する方法及び対応する装置 - Google Patents
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Description
-装置の工具軸線(tool spindle axis)周りを研削工具が回転駆動するステップと、
-光学試験装置による試験方法を実行し、光学試験装置は、研削工具の回転駆動中に光に少なくとも部分的に照射される領域に配置され、光は、光学試験装置のエミッタにより発せられ、さらに、光の少なくとも一部は、光学試験装置のセンサの方向に研削工具によって反射され、センサは、試験情報を提供するステップと、
-試験情報は、研削工具の3次元ベクトルモデルの形態で巨視的基本情報を決定するため計算装置によって処理されるステップと、
-計算機を用いて、3次元ベクトルモデルをメモリから提供された標的ベクトルモデル(target vector model)と比較して、3次元ベクトルモデルと標的ベクトルモデルとの間の偏差を決定するステップとを有しており、
巨視的基本情報は、少なくとも
-前記研削工具(20)の直径、
-前記研削工具(20)の幅、
-前記研削工具(20)のピッチ及び/または傾斜、
-前記研削工具(20)の輪郭の角度、
-前記研削工具(20)の輪郭の厚さ、
-前記研削工具(20)のポイントの半径
のうち、1つまたはそれ以上に関する情報を含む。
-回転駆動可能なレセプタクルの領域に配置され、研削工具が回転駆動されている間、少なくとも部分的に、光学試験装置のエミッタの発する光によって照射され、光の少なくとも一部は、光学試験装置のセンサの方向に研削工具から反射でき、センサは、試験情報を提供するように適合されている、光学試験装置と、
-巨視的基本情報から研削工具の3次元ベクトルモデルを決定するために、試験情報を処理するように設計された、計算装置と、
-標的ベクトルモデルが記憶されているメモリと、
-3次元ベクトルモデルを標的ベクトルモデルと比較して、3次元ベクトルモデル(Vm)と標的ベクトルモデル(S-Vm)との間の偏差(ΔVm)の決定を可能とするように適合された計算装置とを備え、
巨視的基本情報は、少なくとも
-前記研削工具(20)の直径、
-前記研削工具(20)の幅、
-前記研削工具(20)のピッチ及び/または傾斜、
-前記研削工具(20)の輪郭の角度、
-前記研削工具(20)の輪郭の厚さ、
-前記研削工具(20)のポイントの半径
のうち、1つまたはそれ以上に関する情報を含むことを特徴とする。
-装置1(例えば、歯切り盤、歯車切削センタ、または測定装置10)の工具軸線A1周りに研削工具20が回転駆動する。
-図2で単に概略的な形態で示されるように、回転駆動中に研削工具20が少なくとも部分的に光Lによって照射されるような領域に配置された、光学試験装置30による試験方法を実行する。上述の光Lは、試験装置30のエミッタ31によって放射され、研削工具20の有効領域21に向けられる。図2では、エミッタ31が、有効領域21上に線状の光帯(light strip)を形成することが分かる。光Lの少なくとも一部は、試験装置30のセンサ32の方向に研削工具20から反射される(エミッタ31もセンサ32も図2には示されていない)。
-このセンサ32は、図2にPIと表示された矢印で示すように、試験情報PIを提供する。
-この試験情報PIは、研削工具20の3次元ベクトルモデルVmの形態で巨視的基本情報(macroscopic basic information)mGを決定するため、計算装置40によって処理される。
-そして、ベクトルモデルVmが、標的ベクトルモデルS-Vm(例えば、同じ計算装置40によって、または別の計算装置41によって実行され得る)と比較される。標的ベクトルモデルS-Vmは、図2に示すように、例えば、メモリ42から提供され得る。比較は、ベクトルモデルVmとS-Vmとの間の偏差ΔVmが数学的に決定可能なように実行される。
例えば、円を360個の等しい大きさの角度セグメントに分割すると、対応する円は360個の短いベクトルに分割できる。これらの各ベクトルは、中心基準軸に対して同じ半径、同じ長さ、及び異なる角度の値を有する。
-光学試験装置30は、回転駆動可能なレセプタクル13,14の領域に配置されており、研削工具20.3は回転駆動されながら、試験装置30のエミッタ31から発する光Lに少なくとも部分的に照射される。図10に示すように、光Lの少なくとも一部は、研削工具20.3から試験装置30のセンサ32の方向に反射されて戻る。センサ32は試験情報PIを提供するように設計されている。
-巨視的基本情報mGから研削工具20.3の3次元ベクトルモデルVmを決定するために、試験情報PIを処理するよう設計された計算装置40/41が使用される。
-標的ベクトルモデルS-Vmが記憶されるメモリ42も存在する。
-計算によってベクトルモデルVmとS-Vmとの間の偏差ΔVmの決定を可能とするために、ベクトルモデルVmを標的ベクトルモデルS-Vmと比較するよう設計された計算装置40/41が使用される。
10・・・(座標)測定装置
11・・・研削盤
12.1,12.・・・スタブシャフト
13,14・・・レセプタクル
13.1・・・回転盤
13.2・・・スピンドルまたはレセプタクル
20,20.1,20.2,20.3・・・研削工具
21・・・環状外周/環状輪郭領域/有効領域
22・・・端面
23・・・損傷
24・・・基体
25・・・歯
26・・・乱れ
30・・・光学試験装置
31・・・エミッタ
32・・・センサ
33・・・ラインレーザ
34・・・クロスレーザ
35,36・・・開口
37,38・・・光線
39・・・ハウジング
40・・・計算装置
41・・・計算装置
42・・・メモリ
43・・・センサ
A1・・・工具軸線
I1・・・情報
ΔVm・・・偏差
L・・・光/ビーム経路
L1、L2・・・光ビーム
PI・・・試験情報
r1、r2、r3・・・半径
S-Vm・・・標的ベクトルモデル
X1、Y1、Z1、A1・・・軸線
x・・・座標軸/基準軸
x、y、z・・・座標系
Vm・・・ベクトルモデル
ω1・・・回転運動
Claims (10)
- 装置(1)で研削工具(20)を試験する方法であって、
-前記装置(1)の工具軸線(A1)周りを前記研削工具(20)が回転駆動するステップと、
-光学試験装置(30)による試験方法を実行し、前記光学試験装置(30)は、前記研削工具(20)の回転駆動中に光(L)に少なくとも部分的に照射される領域に配置され、前記光(L)は、前記光学試験装置(30)のエミッタ(31)より発せられ、さらに、前記光(L)の少なくとも一部は、前記光学試験装置(30)のセンサ(32)の方向に前記研削工具(20)によって反射され、前記センサ(32)は、試験情報(PI)を提供するステップと、
-前記試験情報(PI)は、前記研削工具(20)の3次元ベクトルモデル(Vm)の形態に巨視的基本情報(mG)を決定するため、計算装置(40)によって処理されるステップと、
-メモリ(42)から標的ベクトルモデル(S-Vm)が提供され、計算機を使用して前記3次元ベクトルモデル(Vm)を前記標的ベクトルモデル(S-Vm)と比較して、前記3次元ベクトルモデル(Vm)と前記標的ベクトルモデル(S-Vm)との間の偏差(ΔVm)を決定するステップとを有しており、
前記巨視的基本情報(mG)は、少なくとも
-前記研削工具(20)の直径、
-前記研削工具(20)の幅、
-前記研削工具(20)のピッチ及び/または傾斜、
-前記研削工具(20)の輪郭の角度、
-前記研削工具(20)の輪郭の厚さ、
-前記研削工具(20)のポイントの半径
のうち、1つまたはそれ以上に関する情報を含む方法。 - 前記3次元ベクトルモデル(Vm)が、少なくとも基体(24)によって前記研削工具(20)を定めることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記3次元ベクトルモデル(Vm)が、少なくとも基体(24)の縁によって前記研削工具(20)を定めることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 少なくとも、前記研削工具(20)の第1の部分領域が、前記3次元ベクトルモデル(Vm)に基づいて決定されることを特徴とする、請求項1から請求項3のいずれかに記載の方法。
- 前記研削工具(20)の前記第1の部分領域の局所的偏差は、前記標的ベクトルモデル(S-Vm)の対応する前記第1の部分領域から計算された結果として、互いに関連して設定されていることを特徴とする、請求項4に記載の方法。
- 前記研削工具(20)は、ガルバニック被覆の研削工具、ガルバニック砥石車(20.1)、ガルバニック研削ウォーム(20.2)、またはガルバニックカップ砥石(20.3)であることを特徴とする、請求項1から請求項5のいずれかに記載の方法。
- 前記研削工具(20)を用いて研削材を研削するように設計されている研削盤、または測定装置(10)において使用されることを特徴とする、請求項1から請求項6のいずれかに記載の方法。
- 試験される研削工具(20)用の回転駆動可能なレセプタクル(13,14)を備える装置(1)であって、
-回転駆動可能な前記レセプタクル(13,14)の領域に配置され、前記研削工具(20)が回転駆動されている間、少なくとも部分的に、光学試験装置(30)のエミッタ(31)の発する光(L)によって照射され、光(L)の少なくとも一部は、前記光学試験装置(30)のセンサ(32)の方向に前記研削工具(20)から反射可能であり、前記センサ(32)は、試験情報(PI)を提供するように適合されている、前記光学試験装置(30)と、
-巨視的基本情報(mG)から前記研削工具(20)の3次元ベクトルモデル(Vm)を決定するために、前記試験情報(PI)を処理するように設計された、計算装置(40)と、
-標的ベクトルモデル(S-Vm)が記憶されているメモリ(42)と、
-前記3次元ベクトルモデル(Vm)を前記標的ベクトルモデル(S-Vm)と比較して、前記3次元ベクトルモデル(Vm)と前記標的ベクトルモデル(S-Vm)との間の偏差(ΔVm)の決定を可能とするように設計された前記計算装置(40)とを備え、
前記巨視的基本情報(mG)は、少なくとも
-前記研削工具(20)の直径、
-前記研削工具(20)の幅、
-前記研削工具(20)のピッチ及び/または傾斜、
-前記研削工具(20)の輪郭の角度、
-前記研削工具(20)の輪郭の厚さ、
-前記研削工具(20)のポイントの半径
のうち、1つまたはそれ以上に関する情報を含むことを特徴とする、装置(1)。 - 前記研削工具(20)を試験するために設計された座標測定装置(10)であることを特徴とする、請求項8に記載の装置(1)。
- 前記研削工具(20)を用いて研削材を研削し、さらに前記研削工具(20)を試験するように設計された研削盤(11)であることを特徴とする、請求項8に記載の装置(1)。
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