JP7299346B2 - 近赤外帯域通過光フィルター及び光センシングシステム - Google Patents
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Description
本出願は、2019年6月5日に中国専利局に提出され、出願番号が201910486854.8であり、発明の名称が「近赤外帯域通過光フィルター及び光センシングシステム」である中国特許出願の優先権を主張し、その全文の内容が援用により本出願に組み込まれる。
高屈折率膜層の屈折率n1は、3<n1を満たし、高屈折率膜層の屈折率温度係数は、
第一低屈折率膜層の線膨張係数β2は、
このように設定すると、主膜系52の線膨張係数βは、
Claims (18)
- 基板と、前記基板の第1側に位置する主膜系と、前記基板の、前記第1側と対向する第2側に位置する補助膜系とを含む近赤外帯域通過光フィルターであって、
前記主膜系は、第1所定積層構造に従って設けられた第1低屈折率膜層と高屈折率膜層とを含み、
前記補助膜系は、第2所定積層構造に従って設けられた第2低屈折率膜層及び第3低屈折率膜層を含み、前記第2低屈折率膜層の屈折率は、前記第3低屈折率膜層の屈折率と等しくなく、又は、前記補助膜系は、第2所定積層構造に従って設けられた前記第2低屈折率膜層と前記高屈折率膜層とを含み、
780nm~3000nmの波長範囲において、前記近赤外帯域通過光フィルターは、少なくとも1つの通過帯域を有し、温度が-150℃から300℃に変化する時、前記の少なくとも1つの通過帯域の中心波長のドリフト量が0.15nm/℃より小さく、
前記高屈折率膜層の材料の一部の結晶構造は晶質であり、他の部分の結晶構造は非晶質であり、
前記結晶構造が晶質である部分の体積と前記高屈折率膜層の体積との間の比率は10%~20%以内である、ことを特徴とする近赤外帯域通過光フィルター。 - 温度が-30℃から85℃に変化する時、前記近赤外帯域通過光フィルターの通過帯域の中心波長のドリフト量は0.09nm/℃より小さい、ことを特徴とする請求項1に記載の近赤外帯域通過光フィルター。
- 前記高屈折率膜層の屈折率は780nm~3000nmの波長範囲内の任意の波長に対応しても3より大きい、ことを特徴とする請求項1に記載の近赤外帯域通過光フィルター。
- 前記高屈折率膜層の消光係数は0.01より小さい、ことを特徴とする請求項3に記載の近赤外帯域通過光フィルター。
- 850nmの波長に対応する高屈折率膜層の屈折率は3.6より大きく、消光係数は0.005より小さい、ことを特徴とする請求項4に記載の近赤外帯域通過光フィルター。
- 前記高屈折率膜層の材料は、水素化ケイ素、水素化ゲルマニウム、ホウ素添加水素化ケイ素、ホウ素添加水素化ゲルマニウム、窒素添加水素化ケイ素、窒素添加水素化ゲルマニウム、リン添加水素化ケイ素、リン添加水素化ゲルマニウムまたはSixGe1-xのうちの1つまたは複数の混合物を含み、ただし、0<x<1である、ことを特徴とする請求項1に記載の近赤外帯域通過光フィルター。
- 前記第1低屈折率膜層の材料、前記第2低屈折率膜層の材料及び前記第3低屈折率膜層の材料は、それぞれSiO2、Si3N4、SiOpNq、Ta2O5、Nb2O5、TiO2、Al2O3、SiCN、SiCのうちの1つまたは複数の混合物を含み、ただし、q=(4-2p)/3,0<p<1である、ことを特徴とする請求項1に記載の近赤外帯域通過光フィルター。
- 基板から離れる方向に沿って、第1所定積層構造の形式は、(L1-H)s-L1または(H-L1)sであり、
前記Hは高屈折率膜層を表し、前記L1は第1低屈折率膜層を表し、sは括弧内の構造の形式の繰り返しの数を表し、sは1以上の整数である、ことを特徴とする請求項1に記載の近赤外帯域通過光フィルター。 - 前記主膜系は、さらに第4低屈折率膜層を含み、前記第1低屈折率膜層の屈折率は前記第4低屈折率膜層の屈折率に等しくない、ことを特徴とする請求項1に記載の近赤外帯域通過光フィルター。
- 基板から離れる方向に沿って、第1所定積層構造の形式は、(L1-L4-L1-H)s-L1、(L1-L4-L1-H)s-L4、H-(L1-L4-L1-H)s-L1、またはH-(L1-L4-L1-H)s-L4であり、
前記Hは高屈折率膜層を表し、前記L1は第1低屈折率膜層を表し、前記L4は第4低屈折率膜層を表し、前記sは括弧内の構造の形式の繰り返しの数を表し、sは1以上の整数である、ことを特徴とする請求項10に記載の近赤外帯域通過光フィルター。 - 前記主膜系は狭帯域通過膜系であり、前記補助膜系は、広帯域通過膜系または長波通過膜系である、ことを特徴とする請求項1に記載の近赤外帯域通過光フィルター。
- 780nm~3000nmの波長範囲に対応して、前記狭帯域通過膜系は少なくとも一つの通過帯域を有する、ことを特徴とする請求項12に記載の近赤外帯域通過光フィルター。
- 前記補助膜系は長波通過膜系であり、350nm~1200nmの波長範囲に対応して、前記長波通過膜系は少なくとも一つの通過帯域と一つのカットオフ帯域を有し、前記長波通過膜系の通過帯域は、前記狭帯域通過膜系の通過帯域をカバーする、ことを特徴とする請求項13に記載の近赤外帯域通過光フィルター。
- 前記補助膜系は広帯域通過膜系であり、前記広帯域通過膜系の通過帯域は前記狭帯域通過膜系の通過帯域をカバーし、
前記広帯域通過膜系の通過帯域の最小波長より小さい波長領域において、前記広帯域通過膜系の平均カットオフ度は、前記狭帯域通過膜系のカットオフ度よりも大きい、ことを特徴とする請求項13に記載の近赤外帯域通過光フィルター。 - 前記基板の材料の線膨張係数は、3*10-6/℃~17*10-6/℃の間である、ことを特徴とする請求項1に記載の近赤外帯域通過光フィルター。
- 前記主膜系と前記補助膜系はスパッタ反応装置または蒸発装置によって生成される、ことを特徴とする請求項1に記載の近赤外帯域通過光フィルター。
- 光センシングシステムであって、
画像センサーと請求項1~17のいずれか1項に記載の近赤外帯域通過光フィルターとを含み、前記画像センサーの受光面側に前記近赤外帯域通過光フィルターが設けられている、ことを特徴とする光センシングシステム。
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