JP7265517B2 - 成膜方法 - Google Patents
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Description
図2に、本発明に係る成膜方法に使用可能な成膜装置101の一例を示す。成膜装置101は、原料溶液をミスト化してミストを発生させるミスト化部120と、ミストを搬送するキャリアガスを供給するキャリアガス供給部130と、ミストを熱処理して基板上に成膜を行う成膜部140と、ミスト化部120と成膜部140とを接続し、キャリアガスによってミストが搬送される搬送部109とを有する。また、成膜装置101は、成膜装置101の全体又は一部を制御する制御部(図示なし)を備えることによって、その動作が制御されてもよい。
ミスト化部120では、原料溶液をミスト化してミストを発生させる。ミスト化手段は、原料溶液をミスト化できさえすれば特に限定されず、公知のミスト化手段であってもよいが、超音波振動によるミスト化手段を用いることが好ましい。より安定してミスト化することができるためである。
図2,4におけるキャリアガス供給部130は、キャリアガスを供給するキャリアガス源102aを有し、キャリアガス源102aから送り出されるキャリアガスの流量を調節するための流量調節弁103aを備えていてもよい。また、必要に応じて希釈用キャリアガスを供給する希釈用キャリアガス源102bや、希釈用キャリアガス源102bから送り出される希釈用キャリアガスの流量を調節するための流量調節弁103bを備えることもできる。
搬送部109は、ミスト化部120と成膜部140とを接続する。搬送部109を介して、ミスト化部120のミスト化容器104から成膜部140の成膜室107へと、キャリアガスによってミストが搬送される。搬送部109は、例えば、供給管109aとすることができる。供給管109aとしては、例えば石英管や樹脂製のチューブなどを使用することができる。
成膜部140では、ミストを加熱し熱反応を生じさせて、基板の表面の一部又は全部に成膜を行う。成膜部140は、例えば成膜室107を備え、成膜室107内には基板110が設置され、該基板110を加熱するためのホットプレート108を備えることができる。ホットプレート108は、図2,4に示されるように成膜室107の内部に設けられていてもよいし、成膜室107の外部に設けられていてもよい。また、成膜室107には、基板110へのミストの供給に影響を及ぼさない位置に、排ガスの排気口111が設けられてもよい。また、基板110を成膜室107の上面に設置するなどして、フェイスダウンとしてもよいし、基板110を成膜室107の底面に設置して、フェイスアップとしてもよい。
次に、本発明に係る成膜方法について、図を参照しながら説明する。図1に本発明に係る成膜方法のフローの概略を示す。
図1のP1に示すように、まず、成膜原料を含む原料溶液を調製する。原料溶液は、ミスト化が可能な材料を含んでいれば特に限定されず、無機材料であっても、有機材料であってもよい。金属又は金属化合物が好適に用いられ、ガリウム、鉄、インジウム、アルミニウム、バナジウム、チタン、クロム、ロジウム、ニッケル及びコバルトから選ばれる1種又は2種以上の金属を含むものを使用できる。特に原料溶液としては、ガリウムを含むものを用いることが好ましい。これにより酸化ガリウムなどのガリウム含有膜を高い成膜速度で成膜できる。また、原料溶液としては、ハロゲンを含むものを用いることが好ましい。これにより後述の前処理工程によるミストの生成量が更に増加し、成膜速度に優れた成膜方法となる。
次に、図1のP2に示すように、原料溶液調製工程で調整した原料溶液に対し霧化又は液滴化処理を行い、霧化又は液滴化処理を受けた液状の前処理済原料溶液を得る。このように、原料溶液に対し霧化又は液滴化処理の前処理を行っておくことで、次の成膜工程のミスト化ステップにおいて原料溶液のミスト化を行うときに、ミスト発生量を増大させることができる。
図1のP3に示すように、本発明に係る成膜方法における成膜工程は、前処理済原料溶液を霧化又は液滴化してミストを生成するミスト化ステップ(S1)と、ミストをキャリアガスにより成膜装置の成膜部に搬送する搬送ステップ(S2)と、成膜部においてミストを加熱した基板上にて熱処理して成膜を行う熱処理ステップ(S3)を含んでいる。
図1に示す成膜装置を用いてミストCVDによる酸化ガリウムの成膜を行った。まず、ヨウ化ガリウムを水に溶解させ、0.05mol/Lの水溶液を調製し、これを原料溶液とした。上述のようにして得た原料溶液をミスト化容器104内に収容した。このときの溶液の温度は25℃であった。
原料溶液に対して前処理工程を行わず、調製したままの原料溶液を用いてミスト化して生成したミストを成膜に用いた以外は、実施例1と同様に成膜を行った。
アルミニウムアセチルアセトナート錯体を塩酸溶液に溶解させ、0.05mol/Lの水溶液を調製し、原料溶液としたこと以外は、実施例1と同様に成膜を行った。
硝酸ガリウムを水に溶解させ0.05mol/Lの水溶液を調製し、原料溶液としたこと以外は、実施例1と同様に成膜を行った。
ミスト化ステップ中に補液ステップを行うため、図4に示すような、前処理部220及びミスト化容器104の上面に補液容器230を設置した成膜装置201を用いた。
成膜工程中の原料溶液の消費量を測定し、原料溶液の消費量を成膜工程の時間で割った平均値をミストの生成速度とした。
基板上に形成した薄膜について、測定箇所を基板上の面内の17点として、段差計を用いて膜厚を測定し、それぞれの値から平均膜厚を算出した。平均膜厚を成膜工程の時間で割ることで成膜速度を算出した。
102b…希釈用キャリアガス源、 103a…流量調節弁、
103b…流量調節弁、 104…ミスト化容器、 104a…原料溶液、
105…容器、 105a…水、 106…超音波振動子、 107…成膜室、
108…ホットプレート、 109…搬送部、 109a…供給管、 110…基板、
111…排気口、 116…発振器、 120…ミスト化部、
130…キャリアガス供給部、 140…成膜部、
201…成膜装置、 204…前処理容器、 204a…原料溶液、 205…容器、
205a…水、 206…超音波振動子、 216…発振器、 220…前処理部、
230…補液容器。
Claims (5)
- ミスト化した原料溶液を成膜部内の基板上で熱処理して成膜を行う成膜方法であって、
成膜原料を含む原料溶液を調製する原料溶液調製工程と、
前記原料溶液に対し超音波により霧化又は液滴化処理を行い、前記霧化又は液滴化処理を受けた液状の前処理済原料溶液を得る前処理工程と、
前記前処理済原料溶液を霧化又は液滴化してミストを生成するミスト化ステップと、前記ミストをキャリアガスにより前記成膜部に搬送する搬送ステップと、前記成膜部において前記ミストを加熱した前記基板上にて熱処理して成膜を行う熱処理ステップを含む成膜工程を有し、
前記前処理工程と前記成膜工程における前記ミスト化ステップとの間では、前記原料溶液の霧化又は液滴化を行わないことを特徴とする成膜方法。 - 前記原料溶液がガリウムを含むことを特徴とする請求項1に記載の成膜方法。
- 前記原料溶液がハロゲンを含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の成膜方法。
- 前記前処理工程において前記霧化又は液滴化処理を行う前処理容器と前記成膜工程のミスト化ステップにおいて前記霧化又は液滴化を行うミスト化容器とを異なるものとすることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の成膜方法。
- 前記成膜工程が、前記ミスト化ステップ中に前記前処理済原料溶液を前記ミスト化容器に補給する補液ステップを更に含むことを特徴とする請求項4に記載の成膜方法。
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