JP7240541B2 - semiconductor equipment - Google Patents

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Description

この発明は、パワーモジュール等の半導体装置に関する。 The present invention relates to a semiconductor device such as a power module.

パワーモジュールは、電源に一対のスイッチング素子を直列に接続し、その一対のスイッチング素子の間から出力を得る装置である。このようなパワーモジュールは、たとえば、電動モータを駆動するための駆動回路を構成するインバータ回路に用いられる。電動モータは、たとえば、電気自動車(ハイブリッド車を含む)、電車、産業用ロボット等の動力源として用いられる。パワーモジュールは、また、太陽電池、風力発電機その他の発電装置(とくに自家発電装置)が発生する電力を商用電源の電力と整合するように変換するインバータ回路にも適用される。 A power module is a device in which a pair of switching elements are connected in series to a power supply and an output is obtained between the pair of switching elements. Such a power module is used, for example, in an inverter circuit forming a drive circuit for driving an electric motor. Electric motors are used, for example, as power sources for electric vehicles (including hybrid vehicles), electric trains, industrial robots, and the like. Power modules are also applied to inverter circuits that convert the power generated by solar cells, wind power generators, and other power generators (especially in-house power generators) to match the power of the commercial power supply.

パワーモジュールのスイッチング素子には、従来から、Si(シリコン)半導体を用いたデバイスが用いられてきた。しかし、電力変換時におけるデバイスでの損失が問題となっており、Si材料を用いたデバイスでは、さらなる高効率化はもはや困難な状況に立ち至っている。
そこで、SiC(炭化シリコン)半導体を用いたパワーデバイスをスイッチング素子として用いたパワーモジュールが提案されている。SiCパワーデバイスは、スイッチング速度が高速であるため、高速なオン/オフ動作が可能である。したがって、オフ時に電流が速やかに減少するので、スイッチング損失を低減することができる。
Devices using Si (silicon) semiconductors have conventionally been used as switching elements of power modules. However, loss in devices during power conversion has become a problem, and devices using Si materials have reached a point where it is already difficult to achieve even higher efficiency.
Therefore, a power module using a power device using a SiC (silicon carbide) semiconductor as a switching element has been proposed. Since SiC power devices have a high switching speed, high-speed on/off operations are possible. Therefore, the switching loss can be reduced because the current quickly decreases when the device is turned off.

特開2003-133515号公報JP-A-2003-133515 特開2004-95769号公報JP-A-2004-95769

ところが、SiCパワーデバイスによる高速スイッチングは、スイッチング時のサージ電圧の増加という新たな問題をもたらす。
サージ電圧Vは、次式(A)に示すとおり、パワーモジュール内部の配線が有する自己インダクタンスLと、電流iの時間tによる微分(di/dt)(時間当たりの電流変化率)との積で与えられる。
However, high-speed switching by SiC power devices poses a new problem of increased surge voltage during switching.
As shown in the following equation (A), the surge voltage V is the product of the self-inductance L of the wiring inside the power module and the derivative of the current i with respect to time t (di/dt) (current change rate per time). Given.

V=L・(di/dt) ……(A)
スイッチング速度が速いほど、電流iの変化率(di/dt)が大きくなるから、サージ電圧Vが大きくなる。このサージ電圧によって、デバイスに耐圧以上の電圧が負荷されると、デバイスが破壊されるおそれがある。また、サージ電圧が大きいと、EMI(電磁気妨害)ノイズの増大や信頼性の低下の懸念もある。
V=L・(di/dt) ……(A)
As the switching speed increases, the rate of change (di/dt) of the current i increases, so the surge voltage V increases. If the device is loaded with a voltage higher than the withstand voltage due to this surge voltage, the device may be destroyed. Also, if the surge voltage is large, there is concern that EMI (electromagnetic interference) noise will increase and reliability will decrease.

そこで、SiCデバイス等の高速スイッチング素子を適用しながら、サージ電圧を低減するために、パワーモジュールの内部配線が有する自己インダクタンスLを低減する必要がある。この課題は、パワーモジュールのみならず、スイッチング素子を有する半導体装置に共通している。むろん、Si半導体を用いたスイッチング素子を有する半導体装置においても、サージ電圧の低減は重要な課題である。 Therefore, in order to reduce the surge voltage while applying high-speed switching elements such as SiC devices, it is necessary to reduce the self-inductance L of the internal wiring of the power module. This problem is common not only to power modules but also to semiconductor devices having switching elements. Of course, reduction of surge voltage is also an important issue for semiconductor devices having switching elements using Si semiconductors.

この発明の目的は、新規な構成のパワーモジュールを実現できる半導体装置を提供することである。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a semiconductor device capable of realizing a power module having a novel configuration.

この発明の一実施形態は、平面視において、所定の一方向に隣接して配置された第1電源端子および第2電源端子と、前記第1電源端子と前記第2電源端子との間に電気的に接続された回路素子とを含み、前記第1電源端子は、第1内部配線接続部および第1外部配線接続部と、前記第1内部配線接続部および前記第1外部配線接続部における前記第2電源端子側の縁部どうしを連結する第1連結部とを含み、前記第2電源端子は、第2内部配線接続部および第2外部配線接続部と、前記第2内部配線接続部と前記第2外部配線接続部とを連結しかつ前記第1連結部に隣接して配置された第2連結部を含み、前記第1連結部および前記第2連結部は、それぞれ端子台に埋め込まれている部分を有しており、前記第1連結部における前記端子台に埋め込まれている部分と前記第2連結部における前記端子台に埋め込まれている部分との間の間隔は、前記第1外部配線接続部と前記第2外部配線接続部との間の最小間隔よりも小さい、半導体装置を提供する。 In one embodiment of the present invention, a first power terminal and a second power terminal are arranged adjacent to each other in a predetermined direction in a plan view, and an electric current is provided between the first power terminal and the second power terminal. the first power supply terminal includes a first internal wiring connection portion and a first external wiring connection portion; a first connecting portion for connecting edges on the second power terminal side, wherein the second power terminal is connected to the second internal wiring connecting portion and the second external wiring connecting portion; and the second internal wiring connecting portion. a second connecting portion connected to the second external wiring connecting portion and arranged adjacent to the first connecting portion, wherein the first connecting portion and the second connecting portion are embedded in the terminal block, respectively; and a space between a portion of the first connecting portion embedded in the terminal block and a portion of the second connecting portion embedded in the terminal block is the first A semiconductor device is provided in which the distance between the external wiring connection portion and the second external wiring connection portion is smaller than the minimum distance.

この発明の一実施形態では、前記回路素子は、縦続接続された第1および第2のスイッチング素子を有し、前記第1および前記第2のスイッチング素子の接続部から出力が取り出される。
この発明の一実施形態では、前記第1内部配線接続部および前記第1外部配線接続部は、所定の間隔を空けて互いに対向配置されており、前記第2内部配線接続部および前記第2外部配線接続部は、所定の間隔を空けて互いに対向配置されている。
In one embodiment of the invention, the circuit element has first and second switching elements connected in cascade, and the output is taken from the junction of the first and second switching elements.
In one embodiment of the present invention, the first internal wiring connection portion and the first external wiring connection portion are arranged to face each other with a predetermined space therebetween, and the second internal wiring connection portion and the second external wiring connection portion are arranged to face each other. The wiring connection portions are arranged to face each other with a predetermined interval.

この発明の一実施形態では、前記第1内部配線接続部、前記第2内部配線接続部および前記回路素子は、ケース内に封止されている。
この発明の一実施形態では、前記第1および第2のスイッチング素子は、それぞれ、逆方向に並列接続されたダイオードを含む。
この発明の一実施形態では、前記第1および第2のスイッチング素子は、SiC MOSFETまたはIGBTからなる。
In one embodiment of the invention, the first internal wiring connection portion, the second internal wiring connection portion and the circuit element are sealed within a case.
In one embodiment of the invention, the first and second switching elements each include diodes connected in parallel in opposite directions.
In one embodiment of the invention, said first and second switching elements are composed of SiC MOSFETs or IGBTs.

この発明の一実施形態では、前記第1連結部と前記第2連結部は、上下方向に延びかつ所定の間隔を空けて互いに対向する対向部分と、これらの対向部分から上方に向かって互いの間隔が徐々に大きくなるように延びた傾斜部とをそれぞれ含んでいる。
この発明の一実施形態では、前記第1連結部の前記対向部分と前記第2連結部の前記対向部分との間隔は、2mm以下である。
この発明の一実施形態では、前記第1連結部と前記第2連結部は、上下方向に延びかつ所定の間隔を空けて互いに対向する対向部分をそれぞれ含んでおり、前記第1連結部の前記対向部分と前記第2連結部の前記対向部分との間隔は、前記出力が接続される出力端子と、前記第1電源端子または前記第2電源端子との間の最小間隔よりも小さい。
In one embodiment of the present invention, the first connecting portion and the second connecting portion have opposing portions that extend in the vertical direction and are opposed to each other with a predetermined space therebetween. and ramps extending to gradually increasing spacing.
In one embodiment of the invention, the distance between the facing portion of the first connecting portion and the facing portion of the second connecting portion is 2 mm or less.
In one embodiment of the present invention, the first connecting portion and the second connecting portion each include opposing portions that extend in the vertical direction and face each other with a predetermined space therebetween, and the The distance between the facing portion and the facing portion of the second connecting portion is smaller than the minimum distance between the output terminal to which the output is connected and the first power terminal or the second power terminal.

この発明の一実施形態では、前記回路素子が取り付けられた回路基板を含み、前記回路基板は平面視略長方形であり、前記第1電源端子の前記内部配線接続部および前記第2電源端子の前記内部配線接続部は、前記回路基板の長手方向の端部に取り付けられている。
この発明の一実施形態では、前記第1のスイッチング素子は、並列接続された複数のスイッチング素子を有し、前記第2のスイッチング素子は、並列接続された複数のスイッチング素子を有する。
An embodiment of the present invention includes a circuit board on which the circuit element is mounted, the circuit board being substantially rectangular in plan view, the internal wiring connection portion of the first power terminal and the internal wiring connection portion of the second power terminal. The internal wiring connection portion is attached to the longitudinal end portion of the circuit board.
In one embodiment of the present invention, the first switching element has a plurality of switching elements connected in parallel, and the second switching element has a plurality of switching elements connected in parallel.

この発明の一実施形態では、前記端子台の表面における前記第1外部配線接続部と前記第1外部配線接続部との間領域には、凸部が形成されている。
この発明の一実施形態では、前記凸部の表面に複数の溝が形成されている。
In one embodiment of the present invention, a convex portion is formed in a region between the first external wiring connection portion and the first external wiring connection portion on the surface of the terminal block.
In one embodiment of the invention, a plurality of grooves are formed on the surface of the protrusion.

この発明の一実施形態では、前記凸部および前記溝は、前記第1連結部の前記対向部分と前記第2連結部の前記対向部分とが対向している方向と直交する方向であって、前記端子台の表面に沿う方向に延びている。
この発明の一実施形態では、前記凸部および前記溝の長さは、前記第1連結部および前記第2連結部の前記対向部分における前記凸部および前記溝が延びている方向の長さよりも大きい。
In one embodiment of the present invention, the projection and the groove are in a direction orthogonal to the direction in which the facing portion of the first connecting portion and the facing portion of the second connecting portion face each other, It extends along the surface of the terminal block.
In one embodiment of the present invention, the lengths of the protrusions and the grooves are longer than the lengths in the direction in which the protrusions and the grooves extend in the facing portions of the first connecting portion and the second connecting portion. big.

図1は、この発明の一実施形態に係るパワーモジュールの内部構造を示す図解的な平面図である。FIG. 1 is an illustrative plan view showing the internal structure of a power module according to one embodiment of the invention. 図2は、図1の右側面図である。2 is a right side view of FIG. 1. FIG. 図3は、図1の背面図である。3 is a rear view of FIG. 1. FIG. 図4は、図1のIV-IV線に沿う図解的な断面図である。FIG. 4 is a schematic cross-sectional view along line IV--IV in FIG. 図5は、図1のV-V線に沿う図解的な断面図である。5 is a schematic cross-sectional view along line VV of FIG. 1. FIG. 図6は、図1のVI-VI線に沿う図解的な拡大断面図である。6 is a schematic enlarged cross-sectional view taken along line VI-VI of FIG. 1. FIG. 図7は、ケース内に収容されたパワーモジュール回路の構成を説明するための図解的な斜視図である。FIG. 7 is an illustrative perspective view for explaining the configuration of the power module circuit housed in the case. 図8は、図7のVIII-VIII線に沿う図解的な拡大断面図である。8 is a schematic enlarged sectional view along line VIII-VIII of FIG. 7. FIG. 図9は、放熱板の裏面を研削することにより、放熱板の厚さを薄くすることを説明する説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram illustrating how the back surface of the heat sink is ground to reduce the thickness of the heat sink. 図10は、パワーモジュールの電気的構成を説明するための電気回路図である。FIG. 10 is an electrical circuit diagram for explaining the electrical configuration of the power module. 図11は、パワーモジュールがHブリッジ回路に利用された場合の電気回路を示す電気回路図である。FIG. 11 is an electric circuit diagram showing an electric circuit when the power module is used in an H-bridge circuit. 図12は、平板状の接続金属部材の代わりにワイヤを用いた場合のパワーモジュールの熱抵抗に対する、平板状の接続金属部材を用いたときのパワーモジュールの熱抵抗の比を熱抵抗比として表したグラフである。FIG. 12 shows, as a thermal resistance ratio, the ratio of the thermal resistance of the power module when the flat connecting metal members are used to the thermal resistance of the power module when wires are used instead of the flat connecting metal members. is a graph. 図13は、放熱板の裏面を研削しなかった場合のパワーモジュールの熱抵抗に対する、放熱板の裏面を研削した場合のパワーモジュールの熱抵抗の比を熱抵抗比として示すグラフである。FIG. 13 is a graph showing, as a thermal resistance ratio, the ratio of the thermal resistance of the power module when the back surface of the heat sink is ground to the thermal resistance of the power module when the back surface of the heat sink is not ground. 図14は、スイッチング素子を導体層に接合するための半田層の厚さが基準値である場合のパワーモジュールの熱抵抗に対する、半田層の厚さを基準値よりも薄くした場合のパワーモジュールの熱抵抗の比を熱抵抗比として示すグラフである。FIG. 14 shows the thermal resistance of the power module when the thickness of the solder layer for joining the switching element to the conductor layer is the reference value, and the thermal resistance of the power module when the thickness of the solder layer is thinner than the reference value. It is a graph which shows the ratio of thermal resistance as a thermal resistance ratio.

以下では、この発明の実施の形態を、添付図面を参照して詳細に説明する。
図1は、この発明の一実施形態に係るパワーモジュールの内部構造を示す図解的な平面図であり、天板を取り除いた状態が示されている。図2は、図1の右側面図である。図3は、図1の背面図である。図4は、図1のIV-IV線に沿う図解的な断面図である。図5は、図1のV-V線に沿う図解的な断面図である。図6は、図1のVI-VI線に沿う図解的な拡大断面図である。図7は、ケース内に収容されたパワーモジュール回路の構成を説明するための図解的な斜視図である。図8は、図7のVIII-VIII線に沿う図解的な拡大断面図である。図7では、明確化のために、ワイヤ59,60;69,70;99,100;109,110に関しては、一部のみ(それぞれ1組のみ)図示している。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Below, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 is a schematic plan view showing the internal structure of a power module according to one embodiment of the present invention, with the top plate removed. 2 is a right side view of FIG. 1. FIG. 3 is a rear view of FIG. 1. FIG. FIG. 4 is a schematic cross-sectional view along line IV--IV in FIG. 5 is a schematic cross-sectional view along line VV of FIG. 1. FIG. 6 is a schematic enlarged cross-sectional view taken along line VI-VI of FIG. 1. FIG. FIG. 7 is an illustrative perspective view for explaining the configuration of the power module circuit housed in the case. 8 is a schematic enlarged sectional view along line VIII-VIII of FIG. 7. FIG. 69, 70; 99, 100; 109, 110 are shown only partially (only one pair of each) in FIG. 7 for clarity.

パワーモジュール1は、放熱板2と、ケース3と、ケース3に組み付けられた複数の端子とを含んでいる。複数の端子は、第1電源端子(この例では正極側電源端子)Pと、第2電源端子(この例では負極側電源端子)Nと、第1出力端子OUT1と第2出力端子OUT2とを含んでいる。さらに、複数の端子は、ドレインセンス端子DSと、第1ソースセンス端子SS1と、第1ゲート端子G1と、第1および第2サーミスタ端子T1,T2と、第2ソースセンス端子SS2と、第2ゲート端子G2とを含んでいる。第1出力端子OUT1と第2出力端子OUT2とを総称する場合には、「出力端子OUT」ということにする。 A power module 1 includes a heat sink 2 , a case 3 , and a plurality of terminals attached to the case 3 . The plurality of terminals includes a first power terminal (positive power terminal in this example) P, a second power terminal (negative power terminal in this example) N, a first output terminal OUT1, and a second output terminal OUT2. contains. Furthermore, the plurality of terminals includes a drain sense terminal DS, a first source sense terminal SS1, a first gate terminal G1, first and second thermistor terminals T1 and T2, a second source sense terminal SS2, and a second and a gate terminal G2. When collectively referring to the first output terminal OUT1 and the second output terminal OUT2, they will be referred to as "output terminal OUT".

説明の便宜上、以下では、図1に示した+X方向、-X方向、+Y方向および-Y方向と、図4に示した+Z方向および-Z方向とを用いることがある。+X方向および-X方向は、平面視略矩形のケース3(放熱板2)の長辺に沿う2つの方向であり、これらを総称するときには単に「X方向」という。+Y方向および-Y方向はケース3の短辺に沿う2つの方向であり、これらを総称するときには単に「Y方向」という。+Z方向および-Z方向は放熱板2の法線に沿う2つの方向であり、これらを総称するときには単に「Z方向」という。放熱板2を水平面においたとき、X方向およびY方向は互いに直交する2つの水平な直線(X軸およびY軸)に沿う2つの水平方向(第1水平方向および第2水平方向)となり、Z方向は鉛直な直線(Z軸)に沿う鉛直方向(高さ方向)となる。 For convenience of explanation, the +X direction, −X direction, +Y direction and −Y direction shown in FIG. 1 and the +Z direction and −Z direction shown in FIG. 4 may be used hereinafter. The +X direction and the -X direction are two directions along the long sides of the case 3 (radiator plate 2), which is substantially rectangular in plan view, and are collectively referred to simply as the "X direction". The +Y direction and the -Y direction are two directions along the short sides of the case 3, and are collectively referred to simply as the "Y direction". The +Z direction and the -Z direction are two directions along the normal line of the radiator plate 2, and are collectively referred to simply as the "Z direction". When the radiator plate 2 is placed on a horizontal plane, the X direction and the Y direction are two horizontal directions (first horizontal direction and second horizontal direction) along two horizontal straight lines (X axis and Y axis) perpendicular to each other. The direction is the vertical direction (height direction) along the vertical straight line (Z-axis).

放熱板2は、平面視長方形の一様厚さの板状体であり、熱伝導率の高い材料で構成されている。より具体的には、放熱板2は、銅で構成された銅板であってもよい。この銅板は、表面にニッケルめっき層が形成されたものであってもよい。放熱板2の-Z方向側の表面には、必要に応じて、ヒートシンクその他の冷却手段が取り付けられる。
ケース3は、略直方体形状に形成されており、樹脂材料で構成されている。特に、PPS(ポリフェニレンサルファイド)等の耐熱性樹脂を用いることが好ましい。ケース3は、平面視において放熱板2とほぼ同じ大きさの矩形をなしており、放熱板2の一表面(+Z方向側表面)に固定された枠部4と、この枠部4に固定された天板(図示略)とを備えている。天板は、枠部4の一方側(+Z方向側)を閉鎖し、枠部4の他方側(-Z方向側)を閉鎖する放熱板2の一表面と対向している。これにより、放熱板2、枠部4および天板によって、回路収容空間がケース3の内部に区画されている。この実施形態では、枠部4と前記複数の端子とは、同時成形により作られている。
The radiator plate 2 is a plate-like body that is rectangular in plan view and has a uniform thickness, and is made of a material with high thermal conductivity. More specifically, the heat sink 2 may be a copper plate made of copper. This copper plate may have a nickel plating layer formed on its surface. A heat sink or other cooling means is attached to the surface of the heat sink 2 on the -Z direction side, if necessary.
The case 3 has a substantially rectangular parallelepiped shape and is made of a resin material. In particular, it is preferable to use a heat-resistant resin such as PPS (polyphenylene sulfide). The case 3 has a rectangular shape with substantially the same size as the radiator plate 2 in a plan view, and includes a frame portion 4 fixed to one surface (+Z direction side surface) of the radiator plate 2 and a frame portion 4 fixed to the frame portion 4 . and a top plate (not shown). The top plate faces one surface of the radiator plate 2 that closes one side (+Z direction side) of the frame portion 4 and closes the other side (−Z direction side) of the frame portion 4 . Thus, a circuit accommodating space is defined inside the case 3 by the heat sink 2, the frame portion 4 and the top plate. In this embodiment, the frame 4 and the plurality of terminals are made by simultaneous molding.

枠部4は、一対の側壁6,7と、これら一対の側壁6,7の両端をそれぞれ結合する一対の端壁8,9とを備えている。枠部4の+Z方向側表面における4つのコーナ部には、外方に向かって開放した凹部10が形成されている。各凹部10の外方開放部と反対側にある壁は内方に突出するように湾曲している。凹部10の底壁には、底壁を貫通する取付用貫通孔11が形成されている。取付用貫通孔11には、筒状金属部材12が嵌め込まれた状態で固定されている。放熱板2には、各取付用貫通孔11に連通する取付用貫通孔13(図7参照)が形成されている。パワーモジュール1は、ケース3および放熱板2の取付用貫通孔11,13を挿通するボルト(図示略)によって、取付対象の所定の固定位置に固定される。これらの取付用貫通孔11,13を利用して、前述のヒートシンク等の冷却手段が取り付けられてもよい。 The frame portion 4 includes a pair of side walls 6, 7 and a pair of end walls 8, 9 connecting the ends of the pair of side walls 6, 7, respectively. Four corner portions of the +Z direction side surface of the frame portion 4 are formed with concave portions 10 that open outward. The wall of each recess 10 on the side opposite to the outward opening is curved so as to protrude inward. A mounting through-hole 11 is formed through the bottom wall of the recess 10 . A cylindrical metal member 12 is fitted and fixed in the mounting through hole 11 . Mounting through-holes 13 (see FIG. 7) communicating with the mounting through-holes 11 are formed in the heat sink 2 . The power module 1 is fixed at a predetermined fixed position to be mounted by bolts (not shown) inserted through the mounting through holes 11 and 13 of the case 3 and the radiator plate 2 . Using these mounting through holes 11 and 13, cooling means such as the aforementioned heat sink may be mounted.

端壁9の外面には、平面視でY方向に長い矩形の電源端子用端子台14が形成されている。電源端子用端子台14は、端壁9と一体的に形成されている。端壁9および電源端子用端子台14の表面(+Z方向側表面)の長さ方向中央部には、X方向に延びた凸部15が形成されている。この凸部15の表面には、X方向に延びた複数の溝16が形成されている。電源端子用端子台14における長さ方向中央から+Y方向側の部分が、第1電源端子P用の端子台21である。電源端子用端子台14における長さ方向中央から-Y方向側の部分が、第2電源端子N用の端子台22である。 On the outer surface of the end wall 9, a rectangular terminal block 14 for power supply terminals is formed which is elongated in the Y direction in a plan view. The terminal block 14 for power supply terminals is integrally formed with the end wall 9 . A projecting portion 15 extending in the X direction is formed at the center in the length direction of the surface (+Z direction side surface) of the end wall 9 and the power supply terminal block 14 . A plurality of grooves 16 extending in the X direction are formed on the surface of the projection 15 . A terminal block 21 for the first power terminal P is a portion on the +Y direction side from the center in the length direction of the terminal block 14 for power supply terminals. A terminal block 22 for the second power terminal N is located on the -Y direction side from the center in the length direction of the terminal block 14 for power supply terminals.

端壁8の外面には、平面視でY方向に長い矩形の出力端子用端子台17が形成されている。出力端子用端子台17は、端壁8と一体的に形成されている。端壁8および出力端子用端子台17の表面(+Z方向側表面)の長さ方向中央部には、X方向に延びた凸部18が形成されている。この凸部18の表面には、X方向に延びた複数の溝19が形成されている。出力端子用端子台17における長さ方向中央から+Y方向側の部分が、第1出力端子OUT1用の端子台23である。出力端子用端子台17における長さ方向中央から-Y方向側の部分が、第2出力端子OUT2用の端子台24である。 On the outer surface of the end wall 8, a rectangular output terminal block 17 elongated in the Y direction in plan view is formed. The output terminal block 17 is formed integrally with the end wall 8 . A projecting portion 18 extending in the X direction is formed at the center in the length direction of the surface (+Z direction side surface) of the end wall 8 and the output terminal block 17 . A plurality of grooves 19 extending in the X direction are formed on the surface of the projection 18 . A portion of the output terminal terminal block 17 on the +Y direction side from the center in the length direction is a terminal block 23 for the first output terminal OUT1. A terminal block 24 for the second output terminal OUT2 is located on the -Y direction side from the longitudinal center of the output terminal block 17 .

端子台21の表面(+Z方向側表面)には、第1電源端子Pが配置されている。端子台22の表面(+Z方向側表面)には、第2電源端子Nが配置されている。端子台23の表面(+Z方向側表面)には、第1出力端子OUT1が配置されている。端子台24の表面(+Z方向側表面)には、第2出力端子OUT2が配置されている。
第1電源端子P、第2電源端子N、第1出力端子OUT1および第2出力端子OUT2は、それぞれ、導電性の板状体(たとえば、銅板または銅板にニッケルめっきを施したもの)を所定形状に切り出し、曲げ加工を施して作成されたものであり、ケース3の内部の回路に電気的に接続されている。第1電源端子P、第2電源端子N、第1出力端子OUT1および第2出力端子OUT2の各先端部は、それぞれ端子台21,22,23,24上に引き出されている。第1電源端子P、第2電源端子N、第1出力端子OUT1および第2出力端子OUT2の各先端部は、それぞれ端子台21,22,23,24の表面に沿うように形成されている。
A first power supply terminal P is arranged on the surface of the terminal block 21 (surface on the +Z direction side). A second power supply terminal N is arranged on the surface of the terminal block 22 (surface on the +Z direction side). A first output terminal OUT1 is arranged on the surface of the terminal block 23 (surface on the +Z direction side). A second output terminal OUT2 is arranged on the surface of the terminal block 24 (surface on the +Z direction side).
The first power terminal P, the second power terminal N, the first output terminal OUT1, and the second output terminal OUT2 are each made of a conductive plate (for example, a copper plate or a copper plate plated with nickel) in a predetermined shape. It is made by cutting out and bending, and is electrically connected to the circuit inside the case 3 . The tip portions of the first power terminal P, the second power terminal N, the first output terminal OUT1 and the second output terminal OUT2 are led out onto the terminal blocks 21, 22, 23 and 24, respectively. The tip portions of the first power terminal P, the second power terminal N, the first output terminal OUT1 and the second output terminal OUT2 are formed along the surfaces of the terminal blocks 21, 22, 23 and 24, respectively.

一方の側壁7には、ドレインセンス端子DS、第1ソースセンス端子SS1、第1ゲート端子G1ならびに第1および第2サーミスタ端子T1,T2が取り付けられている。これらの端子DS,SS1,G1,T1,T2の先端部は、側壁7の表面(+Z方向側表面)からケース3の外方(+Z方向)に突出している。ドレインセンス端子DSは、側壁7の-X方向側端寄りに配置されている。第1および第2サーミスタ端子T1,T2は、側壁7の+X方向側端寄りにおいて、X方向に間隔をおいて配置されている。第1ソースセンス端子SS1および第1ゲート端子G1は、側壁7の-X方向側端と長さ方向(X方向)中央との間において、X方向に間隔をおいて配置されている。 A drain sense terminal DS, a first source sense terminal SS1, a first gate terminal G1, and first and second thermistor terminals T1 and T2 are attached to one side wall 7 . The tips of these terminals DS, SS1, G1, T1, and T2 protrude outward (+Z direction) from the surface of the side wall 7 (+Z direction side surface). The drain sense terminal DS is arranged near the end of the side wall 7 in the -X direction. The first and second thermistor terminals T1 and T2 are arranged in the +X direction side end of the side wall 7 with a space therebetween in the X direction. The first source sense terminal SS1 and the first gate terminal G1 are spaced apart in the X direction between the -X direction side end of the side wall 7 and the center in the length direction (X direction).

他方の側壁6には、第2ゲート端子G2および第2ソースセンス端子SS2が取り付けられている。これらの端子G2,SS2の先端部は、側壁6の表面(+Z方向側表面)からケース3の外方(+Z方向)に突出している。第2ゲート端子G2および第2ソースセンス端子SS2は、側壁6の長さ方向(X方向)中央と+X方向側端との間において、X方向に間隔をおいて配置されている。ドレインセンス端子DS、サーミスタ端子T1,T2、ソースセンス端子SS1,SS2およびゲート端子G1,G2は、それぞれ、横断面矩形の金属棒(たとえば、銅の棒状体または銅の棒状体にニッケルめっきを施したもの)に曲げ加工を施して作成されたものであり、ケース3の内部の回路に電気的に接続されている。 A second gate terminal G2 and a second source sense terminal SS2 are attached to the other side wall 6 . The tip portions of these terminals G2 and SS2 protrude outward (+Z direction) from the surface of the side wall 6 (+Z direction side surface) of the case 3 . The second gate terminal G2 and the second source sense terminal SS2 are arranged at intervals in the X direction between the center in the longitudinal direction (X direction) of the side wall 6 and the +X direction side end. The drain sense terminal DS, thermistor terminals T1 and T2, the source sense terminals SS1 and SS2, and the gate terminals G1 and G2 are each made of a metal rod having a rectangular cross section (for example, a copper rod or a copper rod plated with nickel). It is made by bending the material of the case 3, and is electrically connected to the circuit inside the case 3. As shown in FIG.

図1、図6、図7および図8を参照して、第1電源端子Pは、内部配線接続部31Aと、内部配線接続部31Aに結合された立上部31Bと、立上部31Bに結合された傾斜部31Cと、傾斜部31Cに結合された外部配線接続部31Dとを有している。内部配線接続部31Aは、平面視で4辺が放熱板2の4辺と平行な略矩形状の基部31Aaと、基部31Aaの-X方向側端から-X方向に突出した櫛歯状端子31Abとを有している。基部31Aaは、XY平面に沿う板状体からなり、4つのコーナ部のうち、+X方向側でかつ+Y方向側のコーナ部が切除された形状に形成されている。櫛歯状端子31Abは、Y方向に並んで配置された3つの端子を有している。これらの端子は、基部31Aaの-X方向側端から-X方向に延びた後、-Z方向に屈曲してから、再び-X方向に延びるクランク形状を有している。基部31Aaの大部分は、端壁9および端子台21の内部に埋め込まれている。 1, 6, 7 and 8, first power supply terminal P is connected to internal wiring connection portion 31A, rising portion 31B connected to internal wiring connection portion 31A, and rising portion 31B. and an external wiring connection portion 31D coupled to the inclined portion 31C. The internal wiring connection portion 31A includes a substantially rectangular base portion 31Aa whose four sides are parallel to the four sides of the heat sink 2 in a plan view, and a comb-shaped terminal 31Ab protruding in the -X direction from the -X direction side end of the base portion 31Aa. and The base portion 31Aa is formed of a plate-like body along the XY plane, and is formed into a shape in which the +X direction side and the +Y direction side corner portion of the four corner portions are cut off. The comb-shaped terminal 31Ab has three terminals arranged side by side in the Y direction. These terminals have a crank shape extending in the -X direction from the -X direction side end of the base portion 31Aa, bending in the -Z direction, and extending again in the -X direction. Most of the base portion 31Aa is embedded inside the end wall 9 and the terminal block 21 .

立上部31Bは、内部配線接続部31Aの基部31Aaの-Y方向側縁部から+Z方向に立ち上がっている。立上部31Bは、XZ平面に沿う板状体からなり、基部31Aaの-Y方向側縁部の長さと略同幅に形成されている。立上部31Bは、端壁9および端子台21の内部に埋め込まれている。傾斜部31Cは、立上部31Bの+Z方向側縁部に結合されており、+Y方向に向かって斜め+Z方向に延びている。傾斜部31Cは、前記斜め方向に延びた板状体からなり、立上部31Bと略同幅に形成されている。傾斜部31Cは、端壁9および端子台21の内部に埋め込まれている。 The rising portion 31B rises in the +Z direction from the −Y direction side edge of the base portion 31Aa of the internal wiring connection portion 31A. The rising portion 31B is made of a plate-like body along the XZ plane, and is formed to have a width substantially equal to the length of the -Y direction side edge portion of the base portion 31Aa. The rising portion 31B is embedded inside the end wall 9 and the terminal block 21 . The inclined portion 31C is coupled to the +Z direction side edge portion of the rising portion 31B and extends obliquely in the +Z direction toward the +Y direction. The inclined portion 31C is formed of a plate-like body extending in the oblique direction, and is formed to have substantially the same width as the rising portion 31B. The inclined portion 31C is embedded inside the end wall 9 and the terminal block 21 .

外部配線接続部31Dは、傾斜部31Cの+Z方向側縁部に結合されており、+Y方向に延びている。外部配線接続部31Dは、XY平面に沿う板状体からなり、傾斜部31Cと略同幅に形成されている。外部配線接続部31Dは、端子台21の表面に沿って配置されている。外部配線接続部31Dの略中央部には、外部配線接続用の挿通孔31Daが形成されている。外部配線接続部31Dの-Z方向側表面には、挿通孔31Daにねじ孔が整合するようにしてナット35(図6参照)が固定されている。このナット35は、端子台21の内部に埋め込まれている。 The external wiring connection portion 31D is coupled to the +Z direction side edge portion of the inclined portion 31C and extends in the +Y direction. The external wiring connection portion 31D is made of a plate-like body along the XY plane, and is formed to have substantially the same width as the inclined portion 31C. The external wiring connection portion 31</b>D is arranged along the surface of the terminal block 21 . An insertion hole 31Da for external wiring connection is formed in a substantially central portion of the external wiring connection portion 31D. A nut 35 (see FIG. 6) is fixed to the -Z direction surface of the external wiring connection portion 31D so that the screw hole is aligned with the insertion hole 31Da. This nut 35 is embedded inside the terminal block 21 .

第2電源端子Nは、端壁9の長さ中央を通るXZ平面に対して、第1電源端子Pと面対称となる形状を有している。第2電源端子Nは、内部配線接続部32Aと、内部配線接続部32Aに結合された立上部32Bと、立上部32Bに結合された傾斜部32Cと、傾斜部32Cに結合された外部配線接続部32Dとを有している。内部配線接続部32Aは、平面視で4辺が放熱板2の4辺と平行な略矩形状の基部32Aaと、基部32Aaの-X方向側端から-X方向に突出した櫛歯状端子32Abとを有している。基部32Aaは、XY平面に沿う板状体からなり、4つのコーナ部のうち、+X方向側でかつ-Y方向側のコーナ部が切除された形状に形成されている。櫛歯状端子32Abは、Y方向に並んで配置された3つの端子を有している。これらの端子は、基部32Aaの-X方向側端から-X方向に延びた後、-Z方向に屈曲してから、再び-X方向に延びるクランク形状を有している。基部32Aaの大部分は、端壁9および端子台22の内部に埋め込まれている。 The second power terminal N has a shape that is symmetrical with the first power terminal P with respect to the XZ plane passing through the center of the length of the end wall 9 . The second power supply terminal N includes an internal wiring connection portion 32A, a rising portion 32B coupled to the internal wiring connection portion 32A, an inclined portion 32C coupled to the rising portion 32B, and an external wiring connection coupled to the inclined portion 32C. and a portion 32D. The internal wiring connection portion 32A includes a substantially rectangular base portion 32Aa whose four sides are parallel to the four sides of the heat sink 2 in plan view, and a comb-shaped terminal 32Ab protruding in the -X direction from the -X direction side end of the base portion 32Aa. and The base portion 32Aa is formed of a plate-like body along the XY plane, and is formed in a shape in which the corner portion on the +X direction side and the −Y direction side among the four corner portions is cut off. The comb-like terminal 32Ab has three terminals arranged side by side in the Y direction. These terminals have a crank shape extending in the -X direction from the -X direction side end of the base portion 32Aa, bending in the -Z direction, and extending again in the -X direction. Most of the base portion 32</b>Aa is embedded inside the end wall 9 and the terminal block 22 .

立上部32Bは、内部配線接続部32Aの基部32Aaの+Y方向側縁部から+Z方向に立ち上がっている。立上部32Bは、XZ平面に沿う板状体からなり、基部32Aaの+Y方向側縁部の長さと略同幅に形成されている。立上部32Bは、端壁9および端子台22の内部に埋め込まれている。傾斜部32Cは、立上部32Bの+Z方向側縁部に結合されており、-Y方向に向かって斜め+Z方向に延びている。傾斜部32Cは、前記斜め方向に延びた板状体からなり、立上部32Bと略同幅に形成されている。傾斜部32Cは、端壁9および端子台22の内部に埋め込まれている。 The rising portion 32B rises in the +Z direction from the +Y direction side edge of the base portion 32Aa of the internal wiring connection portion 32A. The rising portion 32B is formed of a plate-like body along the XZ plane, and is formed to have substantially the same width as the length of the +Y direction side edge portion of the base portion 32Aa. The upright portion 32B is embedded inside the end wall 9 and the terminal block 22 . The inclined portion 32C is coupled to the +Z direction side edge portion of the rising portion 32B and extends obliquely in the +Z direction toward the -Y direction. The inclined portion 32C is formed of a plate-like body extending in the oblique direction, and is formed to have substantially the same width as the rising portion 32B. The inclined portion 32</b>C is embedded inside the end wall 9 and the terminal block 22 .

外部配線接続部32Dは、傾斜部32Cの+Z方向側縁部に結合されており、-Y方向に延びている。外部配線接続部32Dは、XY平面に沿う板状体からなり、傾斜部32Cと略同幅に形成されている。外部配線接続部32Dは、端子台22の表面に沿って配置されている。外部配線接続部32Dの略中央部には、外部配線接続用の挿通孔32Daが形成されている。外部配線接続部32Dの-Z方向側表面には、挿通孔32Daにねじ孔が整合するようにしてナット36(図6参照)が固定されている。このナット36は、端子台22の内部に埋め込まれている。 The external wiring connection portion 32D is coupled to the +Z direction side edge portion of the inclined portion 32C and extends in the -Y direction. The external wiring connection portion 32D is made of a plate-like body along the XY plane and formed to have substantially the same width as the inclined portion 32C. The external wiring connection portion 32</b>D is arranged along the surface of the terminal block 22 . An insertion hole 32Da for external wiring connection is formed in a substantially central portion of the external wiring connection portion 32D. A nut 36 (see FIG. 6) is fixed to the -Z direction surface of the external wiring connection portion 32D so that the screw hole is aligned with the insertion hole 32Da. This nut 36 is embedded inside the terminal block 22 .

第1電源端子Pの立上部31Bおよび第2電源端子Nの立上部32Bは、所定の間隔を開けて互いに対向するように配置されており、本願発明の「板状対向部分」を構成している。第1電源端子Pの立上部31Bおよび傾斜部31Cは、本願発明の「第1連結部」を構成している。第2電源端子Nの立上部32Bおよび傾斜部32Cは、本願発明の「第2連結部」を構成している。 The rising portion 31B of the first power supply terminal P and the rising portion 32B of the second power supply terminal N are arranged to face each other with a predetermined gap therebetween, and constitute the "plate-shaped facing portion" of the present invention. there is The rising portion 31B and the inclined portion 31C of the first power terminal P constitute the "first connecting portion" of the present invention. The rising portion 32B and the inclined portion 32C of the second power terminal N constitute the "second connecting portion" of the present invention.

第1出力端子OUT1は、側壁7の長さ中央を通るYZ平面に対して、第1電源端子Pと面対称となる形状を有している。第1出力端子OUT1は、内部配線接続部33Aと、内部配線接続部33Aに結合された立上部33Bと、立上部33Bに結合された傾斜部33Cと、傾斜部33Cに結合された外部配線接続部33Dとを有している。内部配線接続部33Aは、平面視で4辺が放熱板2の4辺と平行な略矩形状の基部33Aaと、基部33Aaの+X方向側端から+X方向に突出した櫛歯状端子33Abとを有している。基部33Aaは、XY平面に沿う板状体からなり、4つのコーナ部のうち、-X方向側でかつ+Y方向側のコーナ部が切除された形状に形成されている。櫛歯状端子33Abは、Y方向に並んで配置された3つの端子を有している。これらの端子は、基部33Aaの+X方向側端から+X方向に延びた後、-Z方向に屈曲してから、再び+X方向に延びるクランク形状を有している。基部33Aaの大部分は、端壁8および端子台23の内部に埋め込まれている。 The first output terminal OUT1 has a shape that is symmetrical to the first power supply terminal P with respect to the YZ plane passing through the center of the length of the side wall 7 . The first output terminal OUT1 includes an internal wiring connection portion 33A, a rising portion 33B coupled to the internal wiring connection portion 33A, an inclined portion 33C coupled to the rising portion 33B, and an external wiring connection coupled to the inclined portion 33C. and a portion 33D. The internal wiring connection portion 33A includes a substantially rectangular base portion 33Aa whose four sides are parallel to the four sides of the heat sink 2 in plan view, and a comb-shaped terminal 33Ab protruding in the +X direction from the +X direction side end of the base portion 33Aa. have. The base portion 33Aa is formed of a plate-like body along the XY plane, and is formed in a shape in which the corner portion on the −X direction side and the +Y direction side among the four corner portions is cut off. The comb-shaped terminal 33Ab has three terminals arranged side by side in the Y direction. These terminals have a crank shape extending in the +X direction from the +X direction side end of the base portion 33Aa, bending in the -Z direction, and extending again in the +X direction. Most of the base portion 33</b>Aa is embedded inside the end wall 8 and the terminal block 23 .

立上部33Bは、内部配線接続部33Aの基部33Aaの-Y方向側縁部から+Z方向に立ち上がっている。立上部33Bは、XZ平面に沿う板状体からなり、基部33Aaの-Y方向側縁部の長さと略同幅に形成されている。立上部33Bは、端壁8および端子台23の内部に埋め込まれている。傾斜部33Cは、立上部33Bの+Z方向側縁部に結合されており、+Y方向に向かって斜め+Z方向に延びている。傾斜部33Cは、前記斜め方向に延びた板状体からなり、立上部33Bと略同幅に形成されている。傾斜部33Cは、端壁8および端子台23の内部に埋め込まれている。 The rising portion 33B rises in the +Z direction from the -Y direction side edge of the base portion 33Aa of the internal wiring connection portion 33A. The rising portion 33B is formed of a plate-like body along the XZ plane, and is formed to have substantially the same width as the length of the -Y direction side edge portion of the base portion 33Aa. The rising portion 33B is embedded inside the end wall 8 and the terminal block 23 . The inclined portion 33C is coupled to the +Z direction side edge portion of the rising portion 33B and extends obliquely in the +Z direction toward the +Y direction. The inclined portion 33C is formed of a plate-like body extending in the oblique direction, and is formed to have substantially the same width as the rising portion 33B. The inclined portion 33C is embedded inside the end wall 8 and the terminal block 23 .

外部配線接続部33Dは、傾斜部33Cの+Z方向側縁部に結合されており、+Y方向に延びている。外部配線接続部33Dは、XY平面に沿う板状体からなり、傾斜部33Cと略同幅に形成されている。外部配線接続部33Dは、端子台23の表面に沿って配置されている。外部配線接続部33Dの略中央部には、外部配線接続用の挿通孔33Daが形成されている。外部配線接続部33Dの-Z方向側表面には、挿通孔33Daにねじ孔が整合するようにしてナット(図示略)が固定されている。このナットは、端子台23の内部に埋め込まれている。 The external wiring connection portion 33D is coupled to the +Z direction side edge portion of the inclined portion 33C and extends in the +Y direction. The external wiring connection portion 33D is made of a plate-like body along the XY plane, and is formed to have substantially the same width as the inclined portion 33C. The external wiring connection portion 33D is arranged along the surface of the terminal block 23 . An insertion hole 33Da for external wiring connection is formed in a substantially central portion of the external wiring connection portion 33D. A nut (not shown) is fixed to the −Z direction surface of the external wiring connection portion 33D so that the screw hole is aligned with the insertion hole 33Da. This nut is embedded inside the terminal block 23 .

第2出力端子OUT2は、端壁8の長さ中央を通るXZ平面に対して、第1出力端子OUT1と面対称となる形状を有している。第2出力端子OUT2は、内部配線接続部34Aと、内部配線接続部34Aに結合された立上部34Bと、立上部34Bに結合された傾斜部34Cと、傾斜部34Cに結合された外部配線接続部34Dとを有している。内部配線接続部34Aは、平面視で4辺が放熱板2の4辺と平行な略矩形状の基部34Aaと、基部34Aaの+X方向側端から+X方向に突出した櫛歯状端子34Abとを有している。基部34Aaは、XY平面に沿う板状体からなり、4つのコーナ部のうち、-X方向側でかつ-Y方向側のコーナ部が切除された形状に形成されている。櫛歯状端子34Abは、Y方向に並んで配置された3つの端子を有している。これらの端子は、基部34Aaの+X方向側端から+X方向に延びた後、-Z方向に屈曲してから、再び+X方向に延びるクランク形状を有している。基部34Aaの大部分は、端壁8および端子台24の内部に埋め込まれている。 The second output terminal OUT2 has a shape that is symmetrical with the first output terminal OUT1 with respect to the XZ plane passing through the center of the length of the end wall 8 . The second output terminal OUT2 includes an internal wiring connection portion 34A, a rising portion 34B coupled to the internal wiring connection portion 34A, an inclined portion 34C coupled to the rising portion 34B, and an external wiring connection coupled to the inclined portion 34C. and a portion 34D. The internal wiring connection portion 34A includes a substantially rectangular base portion 34Aa whose four sides are parallel to the four sides of the heat sink 2 in plan view, and a comb-shaped terminal 34Ab protruding in the +X direction from the +X direction side end of the base portion 34Aa. have. The base portion 34Aa is formed of a plate-like body along the XY plane, and is formed into a shape in which the corner portion on the -X direction side and the -Y direction side among the four corner portions is cut off. The comb-shaped terminal 34Ab has three terminals arranged side by side in the Y direction. These terminals have a crank shape extending in the +X direction from the +X direction side end of the base portion 34Aa, bending in the -Z direction, and extending again in the +X direction. Most of the base portion 34Aa is embedded inside the end wall 8 and the terminal block 24 .

立上部34Bは、内部配線接続部34Aの基部34Aaの+Y方向側縁部から+Z方向に立ち上がっている。立上部34Bは、XZ平面に沿う板状体からなり、基部34Aaの+Y方向側縁部の長さと略同幅に形成されている。立上部34Bは、端壁8および端子台24の内部に埋め込まれている。傾斜部34Cは、立上部34Bの+Z方向側縁部に結合されており、-Y方向に向かって斜め+Z方向に延びている。傾斜部34Cは、前記斜め方向に延びた板状体からなり、立上部34Bと略同幅に形成されている。傾斜部34Cは、端壁8および端子台24の内部に埋め込まれている。 The rising portion 34B rises in the +Z direction from the +Y direction side edge of the base portion 34Aa of the internal wiring connection portion 34A. The rising portion 34B is formed of a plate-like body along the XZ plane, and is formed to have substantially the same width as the length of the +Y direction side edge portion of the base portion 34Aa. The upright portion 34B is embedded inside the end wall 8 and the terminal block 24 . The inclined portion 34C is coupled to the +Z direction side edge portion of the rising portion 34B and extends obliquely in the +Z direction toward the -Y direction. The inclined portion 34C is formed of a plate-like body extending in the oblique direction, and is formed to have substantially the same width as the rising portion 34B. The inclined portion 34C is embedded inside the end wall 8 and the terminal block 24 .

外部配線接続部34Dは、傾斜部34Cの+Z方向側縁部に結合されており、-Y方向に延びている。外部配線接続部34Dは、XY平面に沿う板状体からなり、傾斜部34Cと略同幅に形成されている。外部配線接続部34Dは、端子台24の表面に沿って配置されている。外部配線接続部34Dの略中央部には、外部配線接続用の挿通孔34Daが形成されている。外部配線接続部34Dの-Z方向側表面には、挿通孔34Daにねじ孔が整合するようにしてナット(図示略)が固定されている。このナットは、端子台24の内部に埋め込まれている。 The external wiring connection portion 34D is coupled to the +Z direction side edge portion of the inclined portion 34C and extends in the -Y direction. The external wiring connection portion 34D is made of a plate-like body along the XY plane and formed to have substantially the same width as the inclined portion 34C. The external wiring connection portion 34D is arranged along the surface of the terminal block 24 . An insertion hole 34Da for external wiring connection is formed in a substantially central portion of the external wiring connection portion 34D. A nut (not shown) is fixed to the -Z direction surface of the external wiring connection portion 34D so that the screw hole is aligned with the insertion hole 34Da. This nut is embedded inside the terminal block 24 .

ドレインセンス端子DSは、X方向から見てクランク状であり、それらの中間部分は側壁7に埋め込まれている。ドレインセンス端子DSの基端部は、ケース3内に配置されている。ドレインセンス端子DSの先端部は、側壁7の表面から+Z方向に突出している。
第1ソースセンス端子SS1は、X方向から見てクランク状であり、それらの中間部分は側壁7に埋め込まれている。第1ソースセンス端子SS1の基端部は、ケース3内に配置されている。第1ソースセンス端子SS1の先端部は、側壁7の表面から+Z方向に突出している。
The drain sense terminals DS are crank-shaped when viewed in the X direction, and their intermediate portions are embedded in the sidewalls 7 . A base end portion of the drain sense terminal DS is arranged inside the case 3 . The tip of the drain sense terminal DS protrudes from the surface of the side wall 7 in the +Z direction.
The first source sense terminals SS1 are crank-shaped when viewed from the X direction, and their intermediate portions are embedded in the side walls 7. As shown in FIG. A base end portion of the first source sense terminal SS1 is arranged inside the case 3 . The tip of the first source sense terminal SS1 protrudes from the surface of the side wall 7 in the +Z direction.

第1ゲート端子G1は、X方向から見てクランク状であり、それらの中間部分は側壁7に埋め込まれている。第1ゲート端子G1の基端部は、ケース3内に配置されている。第1ゲート端子G1の先端部は側壁7の表面から+Z方向に突出している。
各サーミスタ端子T1,T2は、X方向から見てクランク状であり、それらの中間部分は側壁7に埋め込まれている。各サーミスタ端子T1,T2の基端部は、ケース3内に配置されている。各サーミスタ端子T1,T2の先端部は、側壁7の表面から+Z方向に突出している。
The first gate terminals G1 are crank-shaped when viewed from the X direction, and their intermediate portions are embedded in the side walls 7. As shown in FIG. A base end portion of the first gate terminal G1 is arranged inside the case 3 . The tip of the first gate terminal G1 protrudes from the surface of the side wall 7 in the +Z direction.
Each thermistor terminal T1, T2 is crank-shaped when viewed from the X direction, and their middle portions are embedded in the side wall 7. As shown in FIG. Base ends of the thermistor terminals T1 and T2 are arranged inside the case 3 . The tips of the thermistor terminals T1 and T2 protrude from the surface of the side wall 7 in the +Z direction.

第2ソースセンス端子SS2は、X方向から見てクランク状であり、それらの中間部分は側壁6に埋め込まれている。第2ソースセンス端子SS2の基端部は、ケース3内に配置されている。第2ソースセンス端子SS2の先端部は、側壁6の表面から+Z方向に突出している。
第2ゲート端子G2は、X方向から見てクランク状であり、それらの中間部分は側壁6に埋め込まれている。第2ゲート端子G2の基端部は、ケース3内に配置されている。第2ゲート端子G2の先端部は、側壁6の表面から+Z方向に突出している。
The second source sense terminals SS2 are crank-shaped when viewed in the X direction, and their intermediate portions are embedded in the sidewalls 6. As shown in FIG. A base end portion of the second source sense terminal SS2 is arranged inside the case 3 . The tip of the second source sense terminal SS2 protrudes from the surface of the side wall 6 in the +Z direction.
The second gate terminals G2 are crank-shaped when viewed in the X direction, and their intermediate portions are embedded in the side walls 6. As shown in FIG. A base end portion of the second gate terminal G2 is arranged inside the case 3 . The tip of the second gate terminal G2 protrudes from the surface of the side wall 6 in the +Z direction.

放熱板2の表面(+Z方向側表面)における枠部4に囲まれた領域には、第1アッセンブリ40と第2アッセンブリ80とがX方向に並んで配置されている。第1アッセンブリ40が電源端子P,N側に配置され、第2アッセンブリ80が出力端子OUT側に配置されている。第1アッセンブリ40は、上アーム(ハイサイド)回路の半分と下アーム(ローサイド)回路の半分とを構成している。第2アッセンブリ80は、上アーム回路の残りの半分と下アーム回路の残りの半分とを構成している。上アーム回路および下アーム回路のうちの一方は、本願発明の「第1回路」を構成しており、他方は本願発明の「第2回路」を構成している。 A first assembly 40 and a second assembly 80 are arranged side by side in the X direction in a region surrounded by the frame portion 4 on the surface (+Z direction side surface) of the heat sink 2 . The first assembly 40 is arranged on the power supply terminals P, N side, and the second assembly 80 is arranged on the output terminal OUT side. The first assembly 40 constitutes one half of the upper arm (high side) circuit and one half of the lower arm (low side) circuit. The second assembly 80 comprises the other half of the upper arm circuit and the other half of the lower arm circuit. One of the upper arm circuit and the lower arm circuit constitutes the "first circuit" of the present invention, and the other constitutes the "second circuit" of the present invention.

第1アッセンブリ40は、第1絶縁基板41と、複数の第1スイッチング素子Tr1と、複数の第1ダイオード素子Di1と、複数の第2スイッチング素子Tr2と、複数の第2ダイオード素子Di2と、サーミスタThとを含む。
第1絶縁基板41は、平面視で略矩形であり、4辺が放熱板2の4辺とそれぞれ平行な姿勢で、放熱板2の表面に接合されている。第1絶縁基板41の放熱板2側の表面(-Z方向側表面)には、第1接合用導体層42(図4参照)が形成されている。この第1接合用導体層42が半田層52を介して放熱板2に接合されている。
The first assembly 40 includes a first insulating substrate 41, a plurality of first switching elements Tr1, a plurality of first diode elements Di1, a plurality of second switching elements Tr2, a plurality of second diode elements Di2, and a thermistor. and Th.
The first insulating substrate 41 has a substantially rectangular shape in plan view, and is joined to the surface of the heat sink 2 in such a manner that four sides thereof are parallel to the four sides of the heat sink 2 . A first bonding conductor layer 42 (see FIG. 4) is formed on the surface of the first insulating substrate 41 on the side of the radiator plate 2 (surface on the −Z direction side). The first bonding conductor layer 42 is bonded to the radiator plate 2 via the solder layer 52 .

第1絶縁基板41の放熱板2とは反対側の表面(+Z方向側表面)には、上アーム回路用の複数の導体層と、下アーム回路用の複数の導体層と、サーミスタ用の複数の導体層とが形成されている。上アーム回路用の複数の導体層は、第1素子接合用導体層43と、第1ゲート端子用導体層44と、第1ソースセンス端子用導体層45とを含む。下アーム回路用の複数の導体層は、第2素子接合用導体層46と、N端子用導体層47と、第2ゲート端子用導体層48と、第2ソースセンス端子用導体層49とを含む。サーミスタ用の複数の導体層は、第1サーミスタ端子用導体層50と第2サーミスタ端子用導体層51とを含む。 A plurality of conductor layers for upper arm circuits, a plurality of conductor layers for lower arm circuits, and a plurality of conductor layers for thermistors are formed on the surface of the first insulating substrate 41 opposite to the heat sink 2 (the surface on the +Z direction side). A conductor layer of is formed. The plurality of conductor layers for the upper arm circuit includes a first element bonding conductor layer 43 , a first gate terminal conductor layer 44 , and a first source sense terminal conductor layer 45 . The plurality of conductor layers for the lower arm circuit includes a second element bonding conductor layer 46, an N terminal conductor layer 47, a second gate terminal conductor layer 48, and a second source sense terminal conductor layer 49. include. The multiple conductor layers for the thermistor include a first thermistor terminal conductor layer 50 and a second thermistor terminal conductor layer 51 .

この実施形態では、第1絶縁基板41は、AlN(窒化アルミニウム)からなる。第1絶縁基板41として、たとえば、セラミックスの両面に銅箔を直接接合した基板(DBC:Direct Bonding Copper)を用いることができる。第1絶縁基板41として、DBC基板を用いた場合には、その銅箔により各導体層42~51を形成できる。
第1素子接合用導体層43は、第1絶縁基板41の表面における+Y方向側の辺寄りに配置され、平面視でX方向に長い矩形状である。第1素子接合用導体層43は、その+X方向側端部に、-Y方向に延びた突出部を有する。N端子用導体層47は、第1絶縁基板41の表面における-Y方向側の辺寄りに配置され、平面視でX方向に長い矩形状である。N端子用導体層47は、その+X方向側端部に、第1素子接合用導体層43の突出部に向かって延びた突出部を有する。第2素子接合用導体層46は、平面視で、第1素子接合用導体層43とN端子用導体層47と第1絶縁基板41の-X方向側の辺とによって囲まれた領域に配置され、平面視でX方向に長い矩形状である。
In this embodiment, the first insulating substrate 41 is made of AlN (aluminum nitride). As the first insulating substrate 41, for example, a substrate in which copper foil is directly bonded to both surfaces of ceramics (DBC: Direct Bonding Copper) can be used. When a DBC substrate is used as the first insulating substrate 41, the conductor layers 42 to 51 can be formed from its copper foil.
The first element-bonding conductor layer 43 is arranged near the +Y direction side on the surface of the first insulating substrate 41 and has a rectangular shape elongated in the X direction in a plan view. The first element bonding conductor layer 43 has a projecting portion extending in the -Y direction at its +X direction side end. The N-terminal conductor layer 47 is arranged near the −Y direction side on the surface of the first insulating substrate 41 and has a rectangular shape elongated in the X direction in a plan view. The N terminal conductor layer 47 has a projecting portion extending toward the projecting portion of the first element bonding conductor layer 43 at its +X direction side end. The second element-bonding conductor layer 46 is arranged in a region surrounded by the first element-bonding conductor layer 43, the N-terminal conductor layer 47, and the −X direction side of the first insulating substrate 41 in plan view. and has a rectangular shape elongated in the X direction in plan view.

第1ゲート端子用導体層44は、第1素子接合用導体層43と第1絶縁基板41の+Y方向側の辺との間に配置され、平面視でX方向に細長い矩形である。第1ソースセンス端子用導体層45は、第1ゲート端子用導体層44と第1絶縁基板41の+Y方向側の辺との間に配置され、平面視でX方向に細長い矩形である。
第1サーミスタ端子用導体層50は、第1素子接合用導体層43と第1絶縁基板41の+Y方向側の辺との間において、第1ゲート端子用導体層44の+X方向側に配置されている。第2サーミスタ端子用導体層51は、第1素子接合用導体層43と第1絶縁基板41の+Y方向側の辺との間において、第1ソースセンス端子用導体層45の+X方向側に配置されている。
The first gate terminal conductor layer 44 is arranged between the first element bonding conductor layer 43 and the side of the first insulating substrate 41 on the +Y direction side, and has a rectangular shape elongated in the X direction in plan view. The first source/sense terminal conductor layer 45 is arranged between the first gate terminal conductor layer 44 and the side of the first insulating substrate 41 on the +Y direction side, and has a rectangular shape elongated in the X direction in plan view.
The first thermistor terminal conductor layer 50 is arranged on the +X direction side of the first gate terminal conductor layer 44 between the first element bonding conductor layer 43 and the +Y direction side of the first insulating substrate 41 . ing. The second thermistor terminal conductor layer 51 is arranged on the +X direction side of the first source sense terminal conductor layer 45 between the first element bonding conductor layer 43 and the +Y direction side of the first insulating substrate 41 . It is

第2ゲート端子用導体層48は、N端子用導体層47と第1絶縁基板41の-Y方向側の辺との間に配置され、平面視でX方向に細長い矩形である。第2ソースセンス端子用導体層49は、第2ゲート端子用導体層48と第1絶縁基板41の-Y方向側の辺との間に配置され、平面視でX方向に細長い矩形である。
第1電源端子Pの櫛歯状端子31Abは、第1素子接合用導体層43の表面の+X方向側端部に接合されている。第2電源端子Nの櫛歯状端子32Abは、N端子用導体層47の表面の+X方向側端部に接合されている。第1電源端子Pの内部配線接続部31Aは櫛歯状端子31Abを有しているので、第1電源端子Pを第1素子接合用導体層43に接合するにあたり、例えば超音波接合用のヘッドを櫛歯状端子31Abの先端に押し当てて、容易に櫛歯状端子31Abを第1素子接合用導体層43に超音波接合できる。また、第2電源端子Nの内部配線接続部32Aは櫛歯状端子32Abを有しているので、第2電源端子NをN端子用導体層47に接合するにあたり、例えば超音波接合用のヘッドを櫛歯状端子32Abの先端に押し当てて、容易に櫛歯状端子32AbをN端子用導体層47に超音波接合できる。
The second gate terminal conductor layer 48 is arranged between the N terminal conductor layer 47 and the -Y direction side of the first insulating substrate 41, and has a rectangular shape elongated in the X direction in plan view. The second source/sense terminal conductor layer 49 is arranged between the second gate terminal conductor layer 48 and the -Y direction side of the first insulating substrate 41, and has a rectangular shape elongated in the X direction in plan view.
The comb-shaped terminal 31Ab of the first power supply terminal P is bonded to the +X direction side end of the surface of the first element bonding conductor layer 43 . The comb-shaped terminal 32Ab of the second power supply terminal N is joined to the +X direction side end of the surface of the conductor layer 47 for the N terminal. Since the internal wiring connection portion 31A of the first power supply terminal P has a comb-shaped terminal 31Ab, when joining the first power supply terminal P to the first element joining conductor layer 43, for example, an ultrasonic joining head is pressed against the tip of the comb-shaped terminal 31Ab, the comb-shaped terminal 31Ab can be easily ultrasonically bonded to the first element-bonding conductor layer 43. As shown in FIG. Further, since the internal wiring connection portion 32A of the second power supply terminal N has the comb-shaped terminal 32Ab, when joining the second power supply terminal N to the N-terminal conductor layer 47, for example, an ultrasonic joining head is pressed against the tip of the comb-shaped terminal 32Ab, and the comb-shaped terminal 32Ab can be easily ultrasonically bonded to the conductor layer 47 for the N terminal.

第2ゲート端子G2の基端部は、第2ゲート端子用導体層48に接合されている。第2ソースセンス端子SS2の基端部は、第2ソースセンス端子用導体層49に接合されている。第1サーミスタ端子T1の基端部は、第1サーミスタ端子用導体層50に接合されている。第2サーミスタ端子T2の基端部は、第2サーミスタ端子用導体層51に接合されている。これらの接合は、超音波溶接によって行われてもよい。 A base end portion of the second gate terminal G2 is joined to the conductor layer 48 for the second gate terminal. A base end portion of the second source sense terminal SS2 is joined to the conductor layer 49 for the second source sense terminal. A base end portion of the first thermistor terminal T1 is joined to the conductor layer 50 for the first thermistor terminal. A base end portion of the second thermistor terminal T2 is joined to the conductor layer 51 for the second thermistor terminal. These joints may be made by ultrasonic welding.

第1サーミスタ端子用導体層50および第2サーミスタ端子用導体層51上には、それらに跨るようにサーミスタThが配置されている。サーミスタThの一方の電極が第1サーミスタ端子用導体層50に接合され、他方の電極が第2サーミスタ端子用導体層51に接合されている。
第1素子接合用導体層43の表面には、複数の第1スイッチング素子Tr1のドレイン電極が半田層53(図4参照)を介して接合されているとともに複数の第1ダイオード素子Di1のカソード電極が半田層54を介して接合されている。この実施形態では、これらの半田層53,54の材料は、SnAgCu系の半田である。この実施形態では、これらの半田層53,54の厚さは、一般的な厚さ(例えば、0.12mm)よりも薄く(例えば、0.08mm)されている。各第1スイッチング素子Tr1は、第1素子接合用導体層43に接合されている面とは反対側の表面にソース電極とゲート電極とを有している。各第1ダイオード素子Di1は、第1素子接合用導体層43に接合されている面とは反対側の表面にアノード電極を有している。
A thermistor Th is arranged on the conductor layer 50 for the first thermistor terminal and the conductor layer 51 for the second thermistor terminal so as to straddle them. One electrode of the thermistor Th is joined to the conductor layer 50 for the first thermistor terminal, and the other electrode is joined to the conductor layer 51 for the second thermistor terminal.
Drain electrodes of a plurality of first switching elements Tr1 are bonded to the surface of the first element bonding conductor layer 43 via a solder layer 53 (see FIG. 4), and cathode electrodes of a plurality of first diode elements Di1 are connected to the surface of the first element bonding conductor layer 43. are joined via a solder layer 54 . In this embodiment, the material of these solder layers 53 and 54 is SnAgCu-based solder. In this embodiment, the thickness of these solder layers 53, 54 is thinner (eg, 0.08 mm) than the typical thickness (eg, 0.12 mm). Each first switching element Tr1 has a source electrode and a gate electrode on the surface opposite to the surface bonded to the first element bonding conductor layer 43 . Each first diode element Di1 has an anode electrode on the surface opposite to the surface bonded to the first element bonding conductor layer 43 .

第1素子接合用導体層43の表面の+Y方向側の辺寄りに、5つの第1ダイオード素子Di1がX方向に間隔をおいて並んで配置されている。また、第1素子接合用導体層43の-Y方向側の辺と5つの第1ダイオード素子Di1との間に、5つの第1スイッチング素子Tr1が、X方向に間隔をおいて並んで配置されている。5つの第1スイッチング素子Tr1は、Y方向に関して、5つの第1ダイオード素子Di1と位置整合している。 Five first diode elements Di1 are arranged side by side in the X direction at intervals in the +Y direction on the surface of the first element bonding conductor layer 43 . In addition, five first switching elements Tr1 are arranged side by side at intervals in the X direction between the −Y direction side of the first element bonding conductor layer 43 and the five first diode elements Di1. ing. The five first switching elements Tr1 are aligned with the five first diode elements Di1 in the Y direction.

Y方向に位置整合している第1スイッチング素子Tr1および第1ダイオード素子Di1は、平面視において、略Y方向に延びた第1接続金属部材55によって、第2素子接合用導体層46に接続されている。第1接続金属部材55は、平面視でY方向に長い矩形状である。第1接続金属部材55は、導電性の板状体(たとえば、銅板または銅板にニッケルめっきを施したもの)に、曲げ加工を施して作成されたものである。第1接続金属部材55は、第2素子接合用導体層46に接合された接合部55a(図4参照)と、接合部55aに結合された立上部55bと、立上部55bに結合された横行部55cとからなる。 The first switching element Tr1 and the first diode element Di1 aligned in the Y direction are connected to the second element bonding conductor layer 46 by a first connection metal member 55 extending substantially in the Y direction in plan view. ing. The first connection metal member 55 has a rectangular shape elongated in the Y direction in plan view. The first connection metal member 55 is formed by bending a conductive plate (for example, a copper plate or a nickel-plated copper plate). The first connection metal member 55 includes a joint portion 55a (see FIG. 4) joined to the second element-joining conductor layer 46, a raised portion 55b joined to the joint portion 55a, and a horizontal portion joined to the raised portion 55b. and a portion 55c.

接合部55aは、第2素子接合用導体層46の+Y方向側縁寄りの領域に半田層56を介して接合されており、平面視においてX方向に延びた矩形に形成されている。立上部55bは、接合部55aの+Y方向側縁部から+Z方向に立ち上がっている。立上部55bは、XZ平面に沿う板状体からなり、接合部55aと略同幅に形成されている。横行部55cは、立上部55bの+Z方向側縁部に結合されており、+Y方向に延びている。横行部55cの長さ中間部および先端部は、それぞれ第1スイッチング素子Tr1および第1ダイオード素子Di1の上方に配置されている。横行部55cは、放熱板2の主面に平行な板状体からなり、立上部55bと略同幅に形成されている。横行部55cの先端部(+Y方向側端部)は半田層57を介して第1ダイオード素子Di1のアノード電極に接合され、横行部55cの長さ中間部は半田層58を介して第1スイッチング素子Tr1のソース電極に接合されている。これにより、第1ダイオード素子Di1のアノード電極および第1スイッチング素子Tr1のソース電極は、第1接続金属部材55を介して第2素子接合用導体層46に電気的に接続されている。 The joint portion 55a is joined to a region near the +Y-direction side edge of the second element-bonding conductor layer 46 via the solder layer 56, and is formed in a rectangular shape extending in the X direction in plan view. The rising portion 55b rises in the +Z direction from the +Y direction side edge of the joint portion 55a. The rising portion 55b is made of a plate-like body along the XZ plane, and is formed to have substantially the same width as the joint portion 55a. The transverse portion 55c is coupled to the +Z direction side edge of the rising portion 55b and extends in the +Y direction. A length intermediate portion and a tip portion of the transverse portion 55c are arranged above the first switching element Tr1 and the first diode element Di1, respectively. The horizontal portion 55c is made of a plate-like body parallel to the main surface of the heat sink 2 and formed to have substantially the same width as the rising portion 55b. The tip of the transverse portion 55c (the end in the +Y direction) is joined to the anode electrode of the first diode element Di1 through the solder layer 57, and the intermediate portion of the transverse portion 55c is connected through the solder layer 58 to the first switching terminal. It is joined to the source electrode of the element Tr1. As a result, the anode electrode of the first diode element Di1 and the source electrode of the first switching element Tr1 are electrically connected to the second element bonding conductor layer 46 via the first connection metal member 55 .

第1接続金属部材55の幅(X方向の長さ)は、第1スイッチング素子Tr1の幅(X方向の長さ)よりも短い。平面視において、第1接続金属部材55の横行部55cの+X方向側縁は、第1スイッチング素子Tr1および第1ダイオード素子Di1の+X方向側縁と位置整合している。平面視において、第1接続金属部材55の横行部55cの-X方向側縁は、第1スイッチング素子Tr1および第1ダイオード素子Di1の-X方向側縁よりも+X方向側に位置している。これにより、ケース3内において、第1スイッチング素子Tr1および第1ダイオード素子Di1の+Z方向側表面のうち、-X方向側縁寄りの領域が露出している。 The width (length in the X direction) of the first connection metal member 55 is shorter than the width (length in the X direction) of the first switching element Tr1. In plan view, the +X direction side edge of the horizontal portion 55c of the first connection metal member 55 is aligned with the +X direction side edge of the first switching element Tr1 and the first diode element Di1. In a plan view, the −X direction side edge of the horizontal portion 55c of the first connection metal member 55 is located on the +X direction side relative to the −X direction side edges of the first switching element Tr1 and the first diode element Di1. As a result, in the case 3, of the +Z direction side surfaces of the first switching element Tr1 and the first diode element Di1, the regions near the -X direction side edges are exposed.

各第1スイッチング素子Tr1のゲート電極は、ワイヤ59によって、第1ゲート端子用導体層44に接続されている。各第1スイッチング素子Tr1のソース電極は、ワイヤ60によって、第1ソースセンス端子用導体層45に接続されている。
第2素子接合用導体層46の表面には、複数の第2スイッチング素子Tr2のドレイン電極が半田層61(図4参照)を介して接合されているとともに複数の第2ダイオード素子Di2のカソード電極が半田層62を介して接合されている。この実施形態では、これらの半田層61,62の材料は、SnAgCu系の半田である。この実施形態では、これらの半田層61,62の厚さは、一般的な厚さ(例えば、0.12mm)よりも薄く(例えば、0.08mm)されている。各第2スイッチング素子Tr2は、第2素子接合用導体層46に接合されている面とは反対側の表面にソース電極とゲート電極とを有している。各第2ダイオード素子Di2は、第2素子接合用導体層46に接合されている面とは反対側の表面にアノード電極を有している。
A gate electrode of each first switching element Tr1 is connected to the first gate terminal conductor layer 44 by a wire 59 . A source electrode of each first switching element Tr1 is connected to the conductor layer 45 for the first source sense terminal by a wire 60 .
Drain electrodes of a plurality of second switching elements Tr2 are bonded to the surface of the second element bonding conductor layer 46 via a solder layer 61 (see FIG. 4), and cathode electrodes of a plurality of second diode elements Di2 are connected to the surface of the second element bonding conductor layer 46. are joined via a solder layer 62 . In this embodiment, the material of these solder layers 61 and 62 is SnAgCu-based solder. In this embodiment, the thickness of these solder layers 61 and 62 is thinner (eg, 0.08 mm) than the general thickness (eg, 0.12 mm). Each second switching element Tr2 has a source electrode and a gate electrode on the surface opposite to the surface bonded to the second element bonding conductor layer 46 . Each second diode element Di2 has an anode electrode on the surface opposite to the surface bonded to the second element bonding conductor layer 46 .

第2素子接合用導体層46の表面の-Y方向側の辺寄りに、5つの第2スイッチング素子Tr2が、X方向に間隔をおいて並んで配置されている。また、第2素子接合用導体層46の+Y方向側の辺と5つの第2スイッチング素子Tr2との間に、5つの第2ダイオード素子Di2が、X方向に間隔をおいて並んで配置されている。5つの第2ダイオード素子Di2は、Y方向に関して、5つの第2スイッチング素子Tr2と位置整合している。また、5つの第2ダイオード素子Di2は、Y方向に関して、5つの第1スイッチング素子Tr1とも位置整合している。 Five second switching elements Tr2 are arranged side by side in the X direction at intervals in the -Y direction on the surface of the second element bonding conductor layer 46 . In addition, between the +Y direction side of the second element bonding conductor layer 46 and the five second switching elements Tr2, five second diode elements Di2 are arranged side by side at intervals in the X direction. there is The five second diode elements Di2 are aligned with the five second switching elements Tr2 in the Y direction. In addition, the five second diode elements Di2 are also aligned with the five first switching elements Tr1 in the Y direction.

Y方向に位置整合している第2スイッチング素子Tr2および第2ダイオード素子Di2は、平面視において、略Y方向に延びた第2接続金属部材65によって、N端子用導体層47に接続されている。第2接続金属部材65は、導電性の板状体(たとえば、銅板または銅板にニッケルめっきを施したもの)に、曲げ加工を施して作成されたものである。第2接続金属部材65は、N端子用導体層47に接合された接合部65a(図4参照)と、接合部65aに結合された立上部65bと、立上部65bに結合された横行部65cとからなる。 The second switching element Tr2 and the second diode element Di2 aligned in the Y direction are connected to the N-terminal conductor layer 47 by a second connection metal member 65 extending substantially in the Y direction in plan view. . The second connection metal member 65 is formed by bending a conductive plate (for example, a copper plate or a nickel-plated copper plate). The second connection metal member 65 includes a joint portion 65a (see FIG. 4) joined to the N-terminal conductor layer 47, a raised portion 65b joined to the joint portion 65a, and a horizontal portion 65c joined to the raised portion 65b. Consists of

接合部65aは、N端子用導体層47の+Y方向側縁寄りの領域に半田層66を介して接合されており、平面視においてX方向に延びた矩形に形成されている。立上部65bは、接合部65aの+Y方向側縁部から+Z方向に立ち上がっている。立上部65bは、XZ平面に沿う板状体からなり、接合部65aと略同幅に形成されている。横行部65cは、立上部65bの+Z方向側縁部に結合されており、+Y方向に延びている。横行部65cの長さ中間部および先端部は、それぞれ第2スイッチング素子Tr2および第2ダイオード素子Di2の上方に配置されている。横行部65cは、放熱板2の主面に平行な板状体からなり、立上部65bと略同幅に形成されている。横行部65cの先端部(+Y方向側端部)は半田層67を介して第2ダイオード素子Di2のアノード電極に接合され、横行部65cの長さ中間部は半田層68を介して第2スイッチング素子Tr2のソース電極に接合されている。これにより、第2ダイオード素子Di2のアノード電極および第2スイッチング素子Tr2のソース電極は、第2接続金属部材65を介してN端子用導体層47に電気的に接続されている。 The joint portion 65a is joined to a region near the +Y direction side edge of the N-terminal conductor layer 47 via a solder layer 66, and is formed in a rectangular shape extending in the X direction in plan view. The rising portion 65b rises in the +Z direction from the +Y direction side edge of the joint portion 65a. The upright portion 65b is made of a plate-like body along the XZ plane, and is formed to have substantially the same width as the joint portion 65a. The transverse portion 65c is coupled to the +Z direction side edge of the rising portion 65b and extends in the +Y direction. A length intermediate portion and a tip portion of the transverse portion 65c are arranged above the second switching element Tr2 and the second diode element Di2, respectively. The transverse portion 65c is made of a plate-like body parallel to the main surface of the heat sink 2 and formed to have substantially the same width as the rising portion 65b. The tip of the transverse portion 65c (the end in the +Y direction) is joined to the anode electrode of the second diode element Di2 via the solder layer 67, and the intermediate portion of the transverse portion 65c is connected via the solder layer 68 to the second switching switching element. It is joined to the source electrode of the element Tr2. Thus, the anode electrode of the second diode element Di2 and the source electrode of the second switching element Tr2 are electrically connected to the N-terminal conductor layer 47 via the second connection metal member 65 .

第2接続金属部材65の幅(X方向の長さ)は、第2スイッチング素子Tr2の幅(X方向の長さ)よりも短い。平面視において、第2接続金属部材65の横行部65cの+X方向側縁は、第2スイッチング素子Tr2および第2ダイオード素子Di2の+X方向側縁と位置整合している。平面視において、第2接続金属部材65の横行部65cの-X方向側縁は、第2スイッチング素子Tr2および第2ダイオード素子Di2の-X方向側縁よりも+X方向側に位置している。これにより、ケース3内において、第2スイッチング素子Tr2および第2ダイオード素子Di2の+Z方向側表面のうち、-X方向側縁寄りの領域が露出している。 The width (length in the X direction) of the second connection metal member 65 is shorter than the width (length in the X direction) of the second switching element Tr2. In plan view, the +X direction side edge of the horizontal portion 65c of the second connection metal member 65 is aligned with the +X direction side edge of the second switching element Tr2 and the second diode element Di2. In a plan view, the −X direction side edge of the horizontal portion 65c of the second connection metal member 65 is positioned on the +X direction side relative to the −X direction side edges of the second switching element Tr2 and the second diode element Di2. As a result, in the case 3, of the surfaces on the +Z direction side of the second switching element Tr2 and the second diode element Di2, the regions near the edges in the -X direction are exposed.

各第2スイッチング素子Tr2のゲート電極は、ワイヤ69によって、第2ゲート端子用導体層48に接続されている。各第2スイッチング素子Tr2のソース電極はワイヤ70によって、第2ソースセンス端子用導体層49に接続されている。
第2アッセンブリ80は、第2絶縁基板81と、複数の第3スイッチング素子Tr3と、複数の第3ダイオード素子Di3と、複数の第4スイッチング素子Tr4と、複数の第4ダイオード素子Di4とを含む。
A gate electrode of each second switching element Tr2 is connected to the second gate terminal conductor layer 48 by a wire 69 . A source electrode of each second switching element Tr2 is connected to the conductor layer 49 for the second source sense terminal by a wire 70 .
The second assembly 80 includes a second insulating substrate 81, a plurality of third switching elements Tr3, a plurality of third diode elements Di3, a plurality of fourth switching elements Tr4, and a plurality of fourth diode elements Di4. .

第1アッセンブリ40の第1スイッチング素子Tr1および/または第2アッセンブリ80の第3スイッチング素子Tr3は、本願発明の「第1スイッチング素子」を構成している。第1アッセンブリ40の第2スイッチング素子Tr2および/または第2アッセンブリ80の第4スイッチング素子Tr4は、本願発明の「第2スイッチング素子」を構成している。第1アッセンブリ40の第1ダイオード素子Di3および/または第2アッセンブリ80の第3ダイオード素子Di3は、本願発明の「第1ダイオード素子」を構成している。第1アッセンブリ40の第2ダイオード素子Di2および/または第2アッセンブリ80の第4ダイオード素子Di4は、本願発明の「第2ダイオード素子」を構成している。 The first switching element Tr1 of the first assembly 40 and/or the third switching element Tr3 of the second assembly 80 constitute the "first switching element" of the present invention. The second switching element Tr2 of the first assembly 40 and/or the fourth switching element Tr4 of the second assembly 80 constitute the "second switching element" of the present invention. The first diode element Di3 of the first assembly 40 and/or the third diode element Di3 of the second assembly 80 constitute the "first diode element" of the present invention. The second diode element Di2 of the first assembly 40 and/or the fourth diode element Di4 of the second assembly 80 constitute the "second diode element" of the present invention.

第2絶縁基板81は、平面視で略矩形であり、4辺が放熱板2の4辺とそれぞれ平行な姿勢で、放熱板2の表面に接合されている。第2絶縁基板81の放熱板2側の表面(-Z方向側表面)には、第2接合用導体層82(図5参照)が形成されている。この第2接合用導体層82が半田層90を介して放熱板2に接合されている。
第2絶縁基板81の放熱板2とは反対側の表面(+Z方向側表面)には、上アーム 回路用の複数の導体層と、下アーム回路用の複数の導体層とが形成されている。上アーム回路用の複数の導体層は、第3素子接合用導体層83と、第3ゲート端子用導体層84と、第3ソースセンス端子用導体層85とを含む。下アーム回路用の複数の導体層は、第4素子接合用導体層86と、ソース用導体層87と、第4ゲート端子用導体層88と、第4ソースセンス端子用導体層89とを含む。
The second insulating substrate 81 has a substantially rectangular shape in a plan view, and is bonded to the surface of the heat sink 2 with four sides parallel to the four sides of the heat sink 2 . A second bonding conductor layer 82 (see FIG. 5) is formed on the surface of the second insulating substrate 81 on the side of the radiator plate 2 (surface on the −Z direction side). This second bonding conductor layer 82 is bonded to the radiator plate 2 via a solder layer 90 .
A plurality of conductor layers for the upper arm circuit and a plurality of conductor layers for the lower arm circuit are formed on the surface of the second insulating substrate 81 opposite to the heat sink 2 (the surface on the +Z direction side). . The plurality of conductor layers for the upper arm circuit includes a third element bonding conductor layer 83, a third gate terminal conductor layer 84, and a third source sense terminal conductor layer 85. FIG. The plurality of conductor layers for the lower arm circuit includes a fourth element bonding conductor layer 86, a source conductor layer 87, a fourth gate terminal conductor layer 88, and a fourth source sense terminal conductor layer 89. .

第1アッセンブリ40の第1素子接合用導体層43および/または第2アッセンブリ80の第3素子接合用導体層83は、本願発明の「第1素子接合用導体層」を構成している。第1アッセンブリ40の第2素子接合用導体層46および/または第2アッセンブリ80の第4素子接合用導体層86は、本願発明の「第2素子接合用導体層」を構成している。第1アッセンブリ40のN端子用導体層47および/または第2アッセンブリ80のソース用導体層87は、本願発明の「第2電源端子用導体層」を構成している。 The first element-bonding conductor layer 43 of the first assembly 40 and/or the third element-bonding conductor layer 83 of the second assembly 80 constitute the "first element-bonding conductor layer" of the present invention. The second element-bonding conductor layer 46 of the first assembly 40 and/or the fourth element-bonding conductor layer 86 of the second assembly 80 constitute the "second element-bonding conductor layer" of the present invention. The N terminal conductor layer 47 of the first assembly 40 and/or the source conductor layer 87 of the second assembly 80 constitute the "second power supply terminal conductor layer" of the present invention.

この実施形態では、第2絶縁基板81は、AlN(窒化アルミニウム)からなる。第2絶縁基板81として、たとえば、セラミックスの両面に銅箔を直接接合した基板(DBC:Direct Bonding Copper)を用いることができる。第2絶縁基板81として、DBC基板を用いた場合には、その銅箔により各導体層82~89を形成できる。
第3素子接合用導体層83は、第2絶縁基板81の表面における+Y方向側の辺寄りに配置され、平面視でX方向に長い矩形状である。第3素子接合用導体層83は、その-X方向側端部に、+Y方向に延びた突出部を有する。この突出部に、ドレインセンス端子DSの基端部が接合されている。
In this embodiment, the second insulating substrate 81 is made of AlN (aluminum nitride). As the second insulating substrate 81, for example, a substrate in which copper foil is directly bonded to both surfaces of ceramics (DBC: Direct Bonding Copper) can be used. When a DBC substrate is used as the second insulating substrate 81, the conductor layers 82 to 89 can be formed from its copper foil.
The third element-bonding conductor layer 83 is arranged near the +Y direction side on the surface of the second insulating substrate 81 and has a rectangular shape elongated in the X direction in a plan view. The third element bonding conductor layer 83 has a projecting portion extending in the +Y direction at its -X direction side end. A base end portion of the drain sense terminal DS is joined to the projecting portion.

ソース用導体層87は、第2絶縁基板81の表面における-Y方向側の辺寄りに配置され、平面視でX方向に長い矩形状である。第4素子接合用導体層86は、平面視でT字状である。第4素子接合用導体層86は、第3素子接合用導体層83とソース用導体層87との間に配置され、かつ平面視でX方向に長い矩形状の素子接合部86aと、第2絶縁基板81の-X方向側の辺に沿って延びた出力端子接合部86bとを含む。素子接合部86aの-X方向側端部が、出力端子接合部86bの長さ中央部に連結されている。 The source conductor layer 87 is arranged near the −Y direction side on the surface of the second insulating substrate 81, and has a rectangular shape elongated in the X direction in plan view. The fourth element bonding conductor layer 86 is T-shaped in plan view. The fourth element-bonding conductor layer 86 is disposed between the third element-bonding conductor layer 83 and the source conductor layer 87, and has a rectangular element-bonding portion 86a elongated in the X direction in plan view, and a second element-bonding conductor layer 86a. and an output terminal joint portion 86b extending along the side of the insulating substrate 81 on the -X direction side. The −X direction end of the element joint portion 86a is connected to the length center portion of the output terminal joint portion 86b.

第3ゲート端子用導体層84は、第3素子接合用導体層83と第2絶縁基板81の+Y方向側の辺との間に配置され、平面視でX方向に細長い矩形状である。第3ソースセンス端子用導体層85は、第3ゲート端子用導体層84と第2絶縁基板81の+Y方向側の辺との間に配置され、平面視でX方向に細長い矩形状である。
第4ゲート端子用導体層88は、ソース用導体層87と第2絶縁基板81の-Y方向側の辺との間に配置され、平面視でX方向に細長い矩形である。第4ソースセンス端子用導体層89は、第4ゲート端子用導体層88と第2絶縁基板81の-Y方向側の辺との間に配置され、平面視でX方向に細長い矩形である。
The third gate terminal conductor layer 84 is arranged between the third element bonding conductor layer 83 and the side of the second insulating substrate 81 on the +Y direction side, and has a rectangular shape elongated in the X direction in plan view. The third source/sense terminal conductor layer 85 is arranged between the third gate terminal conductor layer 84 and the side of the second insulating substrate 81 on the +Y direction side, and has a rectangular shape elongated in the X direction in plan view.
The fourth gate terminal conductor layer 88 is arranged between the source conductor layer 87 and the -Y direction side of the second insulating substrate 81, and has a rectangular shape elongated in the X direction in plan view. The fourth source/sense terminal conductor layer 89 is arranged between the fourth gate terminal conductor layer 88 and the -Y direction side of the second insulating substrate 81, and has a rectangular shape elongated in the X direction in plan view.

第1出力端子OUT1の櫛歯状端子33Abおよび第2出力端子OUT2の櫛歯状端子34Abは、第4素子接合用導体層86の出力端子接合部86bの表面に接合されている。第1出力端子OUT1の内部配線接続部33Aは櫛歯状端子33Abを有しているので、第1出力端子OUT1を出力端子接合部86bに接合するにあたり、例えば超音波接合用のヘッドを櫛歯状端子33Abの先端に押し当てて、容易に櫛歯状端子33Abを出力端子接合部86bに超音波接合できる。また、第2出力端子OUT2の内部配線接続部34Aは櫛歯状端子34Abを有しているので、第2出力端子OUT2を出力端子接合部86bに接合するにあたり、例えば超音波接合用のヘッドを櫛歯状端子34Abの先端に押し当てて、容易に櫛歯状端子34Abcを出力端子接合部86bに超音波接合できる。 The comb-shaped terminal 33Ab of the first output terminal OUT1 and the comb-shaped terminal 34Ab of the second output terminal OUT2 are joined to the surface of the output terminal joint portion 86b of the fourth element-joining conductor layer 86. FIG. Since the internal wiring connection portion 33A of the first output terminal OUT1 has a comb-shaped terminal 33Ab, when joining the first output terminal OUT1 to the output terminal joint portion 86b, for example, a head for ultrasonic bonding is used. The comb-shaped terminal 33Ab can be easily ultrasonically bonded to the output terminal bonding portion 86b by pressing against the tip of the shaped terminal 33Ab. In addition, since the internal wiring connection portion 34A of the second output terminal OUT2 has a comb-like terminal 34Ab, when joining the second output terminal OUT2 to the output terminal joining portion 86b, for example, an ultrasonic joining head is used. The comb-shaped terminal 34Abc can be easily ultrasonically bonded to the output terminal joint portion 86b by pressing against the tip of the comb-shaped terminal 34Ab.

第1ゲート端子G1の基端部は、第3ゲート端子用導体層84に接合されている。第1ソースセンス端子SS1の基端部は、第3ソースセンス端子用導体層85に接合されている。これらの接合は、超音波溶接によって行われてもよい。
第3素子接合用導体層83の表面には、複数の第3スイッチング素子Tr3のドレイン電極が半田層91(図5参照)を介して接合されているとともに複数の第3ダイオード素子Di3のカソード電極が半田層92を介して接合されている。前述した半田層53および/または半田層91は、本願発明の「第1半田層」を構成している。前述した半田層54および/または半田層92は、本願発明の「第3半田層」を構成している。この実施形態では、これらの半田層91,92の材料は、SnAgCu系の半田である。この実施形態では、これらの半田層91,92の厚さは、一般的な厚さ(例えば、0.12mm)よりも薄く(例えば、0.08mm)されている。各第3スイッチング素子Tr3は、第3素子接合用導体層83に接合されている面とは反対側の表面にソース電極とゲート電極とを有している。各第3ダイオード素子Di3は、第3素子接合用導体層83に接合されている面とは反対側の表面にアノード電極を有している。
A base end portion of the first gate terminal G1 is joined to the conductor layer 84 for the third gate terminal. The base end portion of the first source sense terminal SS1 is joined to the conductor layer 85 for the third source sense terminal. These joints may be made by ultrasonic welding.
Drain electrodes of the plurality of third switching elements Tr3 are bonded to the surface of the third element bonding conductor layer 83 via solder layers 91 (see FIG. 5), and cathode electrodes of the plurality of third diode elements Di3 are connected to the surface of the third element bonding conductor layer 83. are joined via a solder layer 92 . The solder layer 53 and/or the solder layer 91 described above constitute the "first solder layer" of the present invention. The solder layer 54 and/or the solder layer 92 described above constitute the "third solder layer" of the present invention. In this embodiment, the material of these solder layers 91 and 92 is SnAgCu-based solder. In this embodiment, the thickness of these solder layers 91 and 92 is thinner (eg, 0.08 mm) than the general thickness (eg, 0.12 mm). Each third switching element Tr3 has a source electrode and a gate electrode on the surface opposite to the surface bonded to the third element bonding conductor layer 83 . Each third diode element Di3 has an anode electrode on the surface opposite to the surface bonded to the third element bonding conductor layer 83 .

第3素子接合用導体層83の表面の+Y方向側の辺寄りに、5つの第3ダイオード素子Di3がX方向に間隔をおいて並んで配置されている。また、第3素子接合用導体層203の-Y方向側の辺と5つの第3ダイオード素子Di3との間に、5つの第3スイッチング素子Tr3が、X方向に間隔をおいて並んで配置されている。5つの第3スイッチング素子Tr3は、Y方向に関して、5つの第3ダイオード素子Di3と位置整合している。 Five third diode elements Di3 are arranged side by side in the X direction at intervals in the +Y direction on the surface of the third element bonding conductor layer 83 . In addition, five third switching elements Tr3 are arranged side by side at intervals in the X direction between the −Y direction side of the third element bonding conductor layer 203 and the five third diode elements Di3. ing. The five third switching elements Tr3 are aligned with the five third diode elements Di3 in the Y direction.

Y方向に位置整合している第3スイッチング素子Tr3および第3ダイオード素子Di3は、平面視において、略Y方向に延びた第3接続金属部材95によって、第4素子接合用導体層86に接続されている。第3接続金属部材95は、導電性の板状体(たとえば、銅板または銅板にニッケルめっきを施したもの)に、曲げ加工を施して作成されたものである。第3接続金属部材95は、第4素子接合用導体層86に接合された接合部95a(図5参照)と、接合部95aに結合された立上部95bと、立上部95bに結合された横行部95cとからなる。 The third switching element Tr3 and the third diode element Di3 aligned in the Y direction are connected to the fourth element bonding conductor layer 86 by a third connection metal member 95 extending substantially in the Y direction in plan view. ing. The third connection metal member 95 is formed by bending a conductive plate (for example, a copper plate or a nickel-plated copper plate). The third connection metal member 95 includes a joint portion 95a (see FIG. 5) joined to the fourth element-joining conductor layer 86, a raised portion 95b joined to the joint portion 95a, and a horizontal portion joined to the raised portion 95b. and a portion 95c.

接合部95aは、第4素子接合用導体層86の+Y方向側縁寄りの領域に半田層96を介して接合されており、平面視においてX方向に延びた矩形に形成されている。立上部95bは、接合部95aの+Y方向側縁部から+Z方向に立ち上がっている。立上部95bは、XZ平面に沿う板状体からなり、接合部95aと略同幅に形成されている。横行部95cは、立上部95bの+Z方向側縁部に結合されており、+Y方向に延びている。横行部95cの長さ中間部および先端部は、それぞれ第3スイッチング素子Tr3および第3ダイオード素子Di3の上方に配置されている。横行部95cは、放熱板2の主面に平行な板状体からなり、立上部95bと略同幅に形成されている。横行部95cの先端部(+Y方向側端部)は半田層97を介して第3ダイオード素子Di3のアノード電極に接合され、横行部95cの長さ中間部は半田層98を介して第3スイッチング素子Tr3のソース電極に接合されている。これにより、第3ダイオード素子Di3のアノード電極および第3スイッチング素子Tr3のソース電極は、第3接続金属部材95を介して第4素子接合用導体層86に電気的に接続されている。 The joint portion 95a is joined to a region near the +Y-direction side edge of the fourth element-bonding conductor layer 86 via a solder layer 96, and is formed in a rectangular shape extending in the X direction in plan view. The rising portion 95b rises in the +Z direction from the +Y direction side edge of the joint portion 95a. The rising portion 95b is made of a plate-like body along the XZ plane, and is formed to have substantially the same width as the joint portion 95a. The transverse portion 95c is coupled to the +Z direction side edge of the rising portion 95b and extends in the +Y direction. A length intermediate portion and a tip portion of the transverse portion 95c are arranged above the third switching element Tr3 and the third diode element Di3, respectively. The horizontal portion 95c is made of a plate-like body parallel to the main surface of the heat sink 2 and formed to have substantially the same width as the rising portion 95b. The tip of the transverse portion 95c (the end in the +Y direction) is joined to the anode electrode of the third diode element Di3 through the solder layer 97, and the intermediate portion of the transverse portion 95c is connected through the solder layer 98 to the third switching terminal. It is joined to the source electrode of the element Tr3. Thereby, the anode electrode of the third diode element Di3 and the source electrode of the third switching element Tr3 are electrically connected to the fourth element bonding conductor layer 86 via the third connection metal member 95 .

第3接続金属部材95の幅(X方向の長さ)は、第3スイッチング素子Tr3の幅(X方向の長さ)よりも短い。平面視において、第3接続金属部材95の横行部95cの-X方向側縁は、第3スイッチング素子Tr3および第3ダイオード素子Di3の-X方向側縁と位置整合している。平面視において、第3接続金属部材95の横行部95cの+X方向側縁は、第3スイッチング素子Tr3および第3ダイオード素子Di3の+X方向側縁よりも-X方向側に位置している。これにより、ケース3内において、第3スイッチング素子Tr3および第3ダイオード素子Di3の+Z方向側表面のうち、+X方向側縁寄りの領域が露出している。 The width (length in the X direction) of the third connection metal member 95 is shorter than the width (length in the X direction) of the third switching element Tr3. In plan view, the -X direction side edge of the horizontal portion 95c of the third connection metal member 95 is aligned with the -X direction side edges of the third switching element Tr3 and the third diode element Di3. In a plan view, the +X direction side edge of the horizontal portion 95c of the third connection metal member 95 is located on the -X direction side of the +X direction side edges of the third switching element Tr3 and the third diode element Di3. As a result, in the case 3, of the +Z direction side surfaces of the third switching element Tr3 and the third diode element Di3, the regions near the +X direction side edges are exposed.

各第3スイッチング素子Tr3のゲート電極は、ワイヤ99によって、第3ゲート端子用導体層84に接続されている。各第3スイッチング素子Tr3のソース電極は、ワイヤ100によって、第3ソースセンス端子用導体層85に接続されている。
第4素子接合用導体層86の表面には、複数の第4スイッチング素子Tr4のドレイン電極が半田層101(図5参照)を介して接合されているとともに複数の第4ダイオード素子Di4のカソード電極が半田層102を介して接合されている。前述した半田層61および/または半田層101は、本願発明の「第2半田層」を構成している。前述した半田層62および/または半田層102は、本願発明の「第4半田層」を構成している。この実施形態では、これらの半田層101,102の材料は、SnAgCu系の半田である。この実施形態では、これらの半田層101,102の厚さは、一般的な厚さ(例えば、0.12mm)よりも薄く(例えば、0.08mm)されている。各第4スイッチング素子Tr4は、第4素子接合用導体層86に接合されている面とは反対側の表面にソース電極とゲート電極とを有している。各第4ダイオード素子Di4は、第4素子接合用導体層86に接合されている面とは反対側の表面にアノード電極を有している。
A gate electrode of each third switching element Tr3 is connected to the third gate terminal conductor layer 84 by a wire 99 . A source electrode of each third switching element Tr3 is connected to the third source sense terminal conductor layer 85 by a wire 100 .
Drain electrodes of a plurality of fourth switching elements Tr4 are bonded to the surface of the fourth element bonding conductor layer 86 via a solder layer 101 (see FIG. 5), and cathode electrodes of a plurality of fourth diode elements Di4 are connected to the surface of the fourth element bonding conductor layer 86. are joined through the solder layer 102 . The solder layer 61 and/or the solder layer 101 described above constitute the "second solder layer" of the present invention. The solder layer 62 and/or the solder layer 102 described above constitute the "fourth solder layer" of the present invention. In this embodiment, the material of these solder layers 101 and 102 is SnAgCu-based solder. In this embodiment, the thickness of these solder layers 101 and 102 is thinner (eg, 0.08 mm) than the typical thickness (eg, 0.12 mm). Each fourth switching element Tr4 has a source electrode and a gate electrode on the surface opposite to the surface bonded to the fourth element bonding conductor layer 86 . Each fourth diode element Di4 has an anode electrode on the surface opposite to the surface bonded to the fourth element bonding conductor layer 86 .

第4素子接合用導体層86の表面の-Y方向側の辺寄りに、5つの第4スイッチング素子Tr4が、X方向に間隔をおいて並んで配置されている。また、第4素子接合用導体層86の+Y方向側の辺と5つの第4スイッチング素子Tr4との間に、5つの第4ダイオード素子Di4が、X方向に間隔をおいて並んで配置されている。5つの第4ダイオード素子Di4は、Y方向に関して、5つの第4スイッチング素子Tr4と位置整合している。また、5つの第4ダイオード素子Di4は、Y方向に関して、5つの第3スイッチング素子Tr3とも位置整合している。 Five fourth switching elements Tr4 are arranged side by side at intervals in the X direction near the −Y direction side of the surface of the fourth element bonding conductor layer 86 . In addition, between the +Y direction side of the fourth element bonding conductor layer 86 and the five fourth switching elements Tr4, five fourth diode elements Di4 are arranged side by side at intervals in the X direction. there is The five fourth diode elements Di4 are aligned with the five fourth switching elements Tr4 in the Y direction. In addition, the five fourth diode elements Di4 are also aligned with the five third switching elements Tr3 in the Y direction.

Y方向に位置整合している第4スイッチング素子Tr4および第4ダイオード素子Di4は、平面視において、略Y方向に延びた第4接続金属部材105によって、ソース用導体層87に接続されている。第4接続金属部材105は、導電性の板状体(たとえば、銅板または銅板にニッケルめっきを施したもの)に、曲げ加工を施して作成されたものである。第4接続金属部材105は、ソース用導体層87に接合された接合部105a(図5参照)と、接合部105aに結合された立上部105bと、立上部105bに結合された横行部105cとからなる。 The fourth switching element Tr4 and the fourth diode element Di4 aligned in the Y direction are connected to the source conductor layer 87 by a fourth connection metal member 105 extending substantially in the Y direction in plan view. The fourth connection metal member 105 is formed by bending a conductive plate (for example, a copper plate or a nickel-plated copper plate). The fourth connection metal member 105 includes a joint portion 105a (see FIG. 5) joined to the source conductor layer 87, a raised portion 105b joined to the joint portion 105a, and a horizontal portion 105c joined to the raised portion 105b. consists of

接合部105aは、ソース用導体層87の+Y方向側縁寄りの領域に半田層106を介して接合されており、平面視においてX方向に延びた矩形に形成されている。立上部105bは、接合部105aの+Y方向側縁部から+Z方向に立ち上がっている。立上部105bは、XZ平面に沿う板状体からなり、接合部105aと略同幅に形成されている。横行部105cは、立上部105bの+Z方向側縁部に結合されており、+Y方向に延びている。横行部105cの長さ中間部および先端部は、それぞれ第4スイッチング素子Tr4および第4ダイオード素子Di4の上方に配置されている。横行部105cは、放熱板2の主面に平行な板状体からなり、立上部105bと略同幅に形成されている。横行部105cの先端部(+Y方向側端部)は半田層107を介して第4ダイオード素子Di4のアノード電極に接合され、横行部105cの長さ中間部は半田層108を介して第4スイッチング素子Tr4のソース電極に接合されている。これにより、第4ダイオード素子Di4のアノード電極および第4スイッチング素子Tr4のソース電極は、第4接続金属部材105を介してソース用導体層87に電気的に接続されている。 The joint portion 105a is joined to a region near the edge of the source conductor layer 87 in the +Y direction via a solder layer 106, and is formed in a rectangular shape extending in the X direction in plan view. The rising portion 105b rises in the +Z direction from the +Y direction side edge of the joint portion 105a. The upright portion 105b is formed of a plate-like body along the XZ plane, and is formed to have substantially the same width as the joint portion 105a. The transverse portion 105c is coupled to the +Z direction side edge of the rising portion 105b and extends in the +Y direction. A length intermediate portion and a tip portion of the transverse portion 105c are arranged above the fourth switching element Tr4 and the fourth diode element Di4, respectively. The horizontal portion 105c is made of a plate-like body parallel to the main surface of the heat sink 2 and formed to have substantially the same width as the rising portion 105b. The front end (+Y direction side end) of the transverse portion 105c is joined to the anode electrode of the fourth diode element Di4 through the solder layer 107, and the intermediate portion of the transverse portion 105c is connected through the solder layer 108 to the fourth switching terminal. It is joined to the source electrode of the element Tr4. As a result, the anode electrode of the fourth diode element Di4 and the source electrode of the fourth switching element Tr4 are electrically connected to the source conductor layer 87 via the fourth connection metal member 105 .

第4接続金属部材105の幅(X方向の長さ)は、第4スイッチング素子Tr4の幅(X方向の長さ)よりも短い。平面視において、第4接続金属部材105の横行部105cの-X方向側縁は、第4スイッチング素子Tr4および第4ダイオード素子Di4の-X方向側縁と位置整合している。平面視において、第4接続金属部材105の横行部105cの+X方向側縁は、第4スイッチング素子Tr4および第4ダイオード素子Di4の+X方向側縁よりも-X方向側に位置している。これにより、ケース3内において、第4スイッチング素子Tr4および第4ダイオード素子Di4の+Z方向側表面のうち、+X方向側縁寄りの領域が露出している。 The width (length in the X direction) of the fourth connection metal member 105 is shorter than the width (length in the X direction) of the fourth switching element Tr4. In plan view, the -X direction side edge of the horizontal portion 105c of the fourth connection metal member 105 is aligned with the -X direction side edges of the fourth switching element Tr4 and the fourth diode element Di4. In plan view, the +X direction side edge of the horizontal portion 105c of the fourth connection metal member 105 is located on the -X direction side of the +X direction side edge of the fourth switching element Tr4 and the fourth diode element Di4. As a result, in the case 3, of the +Z-direction surfaces of the fourth switching element Tr4 and the fourth diode element Di4, the +X-direction edge-side regions are exposed.

各第4スイッチング素子Tr4のゲート電極は、ワイヤ109によって、第4ゲート端子用導体層88に接続されている。各第4スイッチング素子Tr4のソース電極は、ワイヤ110によって、第4ソースセンス端子用導体層89に接続されている。
第2アッセンブリ80の第3素子接合用導体層83は、第1アッセンブリ40の第1素子接合用導体層43に、第1導体層接続部材111によって接続されている。第1導体層接続部材111は、平面視でH形の導電性の板状体からなる。第1導体層接続部材111は、第3素子接合用導体層83と第1素子接合用導体層43とに跨る一対の矩形部と、これらの矩形部の長さ中央部を連結する連結部とから構成されている。一対の矩形部の一端部および他端部は、それぞれ櫛歯状端子を構成している。第1素子接合用導体層43と第3素子接合用導体層83とを板状体からなる第1導体層接続部材111で接続するので、これらをワイヤで接続する場合と比べて、低インダクタンス化を図ることができる。
A gate electrode of each fourth switching element Tr4 is connected to the fourth gate terminal conductor layer 88 by a wire 109 . A source electrode of each fourth switching element Tr4 is connected to the conductor layer 89 for the fourth source sense terminal by a wire 110. As shown in FIG.
The third element-bonding conductor layer 83 of the second assembly 80 is connected to the first element-bonding conductor layer 43 of the first assembly 40 by a first conductor-layer connecting member 111 . The first conductor layer connecting member 111 is made of an H-shaped conductive plate in a plan view. The first conductor layer connecting member 111 includes a pair of rectangular portions extending over the third element-bonding conductor layer 83 and the first element-bonding conductor layer 43, and a connecting portion connecting the central portions of the lengths of these rectangular portions. consists of One end and the other end of the pair of rectangular portions form comb-like terminals. Since the first element-bonding conductor layer 43 and the third element-bonding conductor layer 83 are connected by the first conductor-layer connecting member 111 made of a plate-like body, the inductance is reduced compared to the case of connecting them with a wire. can be achieved.

また、第1導体層接続部材111は、櫛歯状端子を有しているので、例えば第1導体層接続部材111を第1素子接合用導体層43に接合するにあたり、超音波接合用のヘッドを第1導体層接続部材111の+X方向側の櫛歯状端子に押し当てて、容易に第1導体層接続部材111を第1素子接合用導体層43に超音波接合できる。
第2アッセンブリ80の第4素子接合用導体層86は、第1アッセンブリ40の第2素子接合用導体層46に、第2導体層接続部材112によって接続されている。第2導体層接続部材112は、平面視でH形の導電性の板状体からなる。第2導体層接続部材112は、第4素子接合用導体層86と第2素子接合用導体層46とに跨る一対の矩形部と、これらの矩形部の長さ中央部を連結する連結部とから構成されている。一対の矩形部の一端部および他端部は、それぞれ櫛歯状端子を構成している。第2素子接合用導体層46と第4素子接合用導体層86を板状体からなる第2導体層接続部材112で接続するので、これらをワイヤで接続する場合と比べて、低インダクタンス化を図ることができる。
In addition, since the first conductor layer connecting member 111 has a comb-like terminal, for example, in bonding the first conductor layer connecting member 111 to the first element bonding conductor layer 43, an ultrasonic bonding head is used. is pressed against the comb-shaped terminal of the first conductor layer connecting member 111 on the +X direction side, the first conductor layer connecting member 111 can be easily ultrasonically bonded to the first element bonding conductor layer 43 .
The fourth element bonding conductor layer 86 of the second assembly 80 is connected to the second element bonding conductor layer 46 of the first assembly 40 by a second conductor layer connecting member 112 . The second conductor layer connecting member 112 is made of an H-shaped conductive plate in a plan view. The second conductor layer connecting member 112 includes a pair of rectangular portions extending over the fourth element bonding conductor layer 86 and the second element bonding conductor layer 46, and a connecting portion connecting the central portions of the lengths of these rectangular portions. consists of One end and the other end of the pair of rectangular portions form comb-like terminals. Since the second element-bonding conductor layer 46 and the fourth element-bonding conductor layer 86 are connected by the second conductor-layer connecting member 112 made of a plate-like body, the inductance can be reduced compared to the case of connecting them with a wire. can be planned.

また、第2導体層接続部材112が、櫛歯状端子を有しているので、例えば第2導体層接続部材112を第2素子接合用導体層46に接合するにあたり、超音波接合用のヘッドを第2導体層接続部材112の+X方向側の櫛歯状端子に押し当てて、容易に第2導体層接続部材112を第2素子接合用導体層46に超音波接合できる。
第2アッセンブリ80のソース用導体層87は、第1アッセンブリ40のN端子用導体層47に、第3導体層接続部材113によって接続されている。第3導体層接続部材113は、平面視でH形の導電性の板状体からなる。第3導体層接続部材113は、ソース用導体層87とN端子用導体層47とに跨る一対の矩形部と、これらの矩形部の長さ中央部を連結する連結部とから構成されている。一対の矩形部の一端部および他端部は、それぞれ櫛歯状端子を構成している。N端子用導体層47とソース用導体層87を板状体からなる第3導体層接続部材113で接続するので、これらをワイヤで接続する場合と比べて、低インダクタンス化を図ることができる。また、第3導体層接続部材113が、櫛歯状端子を有しているので、例えば第3導体層接続部材113をN端子用導体層47に接合するにあたり、超音波接合用のヘッドを第3導体層接続部材113の+X方向側の櫛歯状端子に押し当てて、容易に第3導体層接続部材113をN端子用導体層47に超音波接合できる。
Further, since the second conductor layer connecting member 112 has comb-shaped terminals, for example, when the second conductor layer connecting member 112 is joined to the second element bonding conductor layer 46, an ultrasonic bonding head is used. is pressed against the comb-shaped terminal of the second conductor layer connecting member 112 on the +X direction side, the second conductor layer connecting member 112 can be easily ultrasonically bonded to the second element bonding conductor layer 46 .
The source conductor layer 87 of the second assembly 80 is connected to the N-terminal conductor layer 47 of the first assembly 40 by a third conductor layer connecting member 113 . The third conductor layer connecting member 113 is made of an H-shaped conductive plate in a plan view. The third conductor layer connecting member 113 is composed of a pair of rectangular portions spanning the source conductor layer 87 and the N terminal conductor layer 47, and a connecting portion connecting the central portions of the lengths of these rectangular portions. . One end and the other end of the pair of rectangular portions form comb-like terminals. Since the N terminal conductor layer 47 and the source conductor layer 87 are connected by the plate-like third conductor layer connecting member 113, the inductance can be reduced as compared with the case of connecting them with a wire. Further, since the third conductor layer connecting member 113 has a comb-like terminal, for example, when the third conductor layer connecting member 113 is joined to the N terminal conductor layer 47, the head for ultrasonic bonding is set to the third terminal. The third conductor layer connection member 113 can be easily ultrasonically bonded to the N-terminal conductor layer 47 by pressing the third conductor layer connection member 113 against the comb-shaped terminal on the +X direction side.

第2アッセンブリ80の第3ゲート端子用導体層84は、第1アッセンブリ40の第1ゲート端子用導体層44に、ワイヤ114を介して接続されている。第2アッセンブリ80の第3ソースセンス端子用導体層85は、第1アッセンブリ40の第1ソースセンス端子用導体層45に、ワイヤ115を介して接続されている。
第2アッセンブリ80の第4ゲート端子用導体層88は、第1アッセンブリ40の第2ゲート端子用導体層48に、ワイヤ116を介して接続されている。第2アッセンブリ80の第4ソースセンス端子用導体層89は、第1アッセンブリ40の第2ソースセンス端子用導体層49に、ワイヤ117を介して接続されている。
The third gate terminal conductor layer 84 of the second assembly 80 is connected to the first gate terminal conductor layer 44 of the first assembly 40 via a wire 114 . The third source sense terminal conductor layer 85 of the second assembly 80 is connected to the first source sense terminal conductor layer 45 of the first assembly 40 via a wire 115 .
The fourth gate terminal conductor layer 88 of the second assembly 80 is connected to the second gate terminal conductor layer 48 of the first assembly 40 via a wire 116 . The fourth source sense terminal conductor layer 89 of the second assembly 80 is connected to the second source sense terminal conductor layer 49 of the first assembly 40 via a wire 117 .

放熱板2上に第1アッセンブリ40および第2アッセンブリ80を組み付けると、放熱板2は、図9の上側に示すように、中央部が凸となるように反る。この実施形態では、放熱板2上に第1アッセンブリ40および第2アッセンブリ80を組み付けた後に、放熱板2の下面(-Z方向の表面)を二点鎖線120で示すような平坦面となるまで切削している。これにより、図9の下側に示すように図9の上側に示す放熱板2よりも薄肉の放熱板2を実現している。この実施形態では、図9の上側に示す放熱板2の周縁部の厚さtは、例えば4mm程度であるのに対し、図9の下側に示す放熱板2の周縁部の厚さtは、例えば3.5mm程度である。 When the first assembly 40 and the second assembly 80 are assembled on the heat sink 2, the heat sink 2 warps so that the central portion is convex as shown in the upper side of FIG. In this embodiment, after assembling the first assembly 40 and the second assembly 80 on the heat sink 2, the lower surface of the heat sink 2 (the surface in the -Z direction) becomes a flat surface as indicated by the chain double-dashed line 120. cutting. As a result, as shown in the lower side of FIG. 9, a heat sink 2 thinner than the heat sink 2 shown in the upper side of FIG. 9 is realized. In this embodiment, the thickness t of the peripheral portion of the heat sink 2 shown in the upper side of FIG. , for example, about 3.5 mm.

図10は、パワーモジュール1の電気的構成を説明するための電気回路図である。図10においては、2つの出力端子OUT1,OUT2を、1つの出力端子OUTとして示している。
第1アッセンブリ40に備えられた複数の第1スイッチング素子Tr1および複数の第1ダイオード素子Di1ならびに第2アッセンブリ80に備えられた複数の第3スイッチング素子Tr3および複数の第3ダイオード素子Di3は、第1電源端子Pと出力端子OUTとの間に並列に接続されて、上アーム回路(ハイサイド回路)301を形成している。第1アッセンブリ40に備えられた複数の第2スイッチング素子Tr2および複数の第2ダイオード素子Di2ならびに第2アッセンブリ80に備えられた複数の第4スイッチング素子Tr4および複数の第4ダイオード素子Di4は、出力端子OUTと第2電源端子Nとの間に接続されて、下アーム回路(ローサイド回路)302を形成している。
FIG. 10 is an electrical circuit diagram for explaining the electrical configuration of the power module 1. As shown in FIG. In FIG. 10, two output terminals OUT1 and OUT2 are shown as one output terminal OUT.
The plurality of first switching elements Tr1 and the plurality of first diode elements Di1 provided in the first assembly 40 and the plurality of third switching elements Tr3 and the plurality of third diode elements Di3 provided in the second assembly 80 are 1 is connected in parallel between the power supply terminal P and the output terminal OUT to form an upper arm circuit (high side circuit) 301 . The plurality of second switching elements Tr2 and the plurality of second diode elements Di2 provided in the first assembly 40 and the plurality of fourth switching elements Tr4 and the plurality of fourth diode elements Di4 provided in the second assembly 80 provide output It is connected between the terminal OUT and the second power supply terminal N to form a lower arm circuit (low side circuit) 302 .

上アーム回路301と下アーム回路302とは、第1電源端子Pと第2電源端子Nとの間に直列に接続されており、上アーム回路301と下アーム回路302との接続点303に出力端子OUTが接続されている。このようにしてハーフブリッジ回路が構成されている。このハーフブリッジ回路を単相ブリッジ回路として用いることができる。また、このハーフブリッジ回路(パワーモジュール1)を電源に複数個(たとえば3個)並列に接続することにより、複数相(たとえば3相)のブリッジ回路を構成することができる。 The upper arm circuit 301 and the lower arm circuit 302 are connected in series between the first power terminal P and the second power terminal N, and output to the connection point 303 between the upper arm circuit 301 and the lower arm circuit 302. A terminal OUT is connected. A half-bridge circuit is thus configured. This half-bridge circuit can be used as a single-phase bridge circuit. Also, by connecting a plurality of (eg, three) half-bridge circuits (power modules 1) in parallel to a power source, a multi-phase (eg, three-phase) bridge circuit can be configured.

第1~第4スイッチング素子Tr1~Tr4は、この実施形態では、Nチャンネル型DMOS(Double-Diffused Metal Oxide Semiconductor)電界効果型トランジスタで構成されている。とくに、この実施形態では、第1~第4スイッチング素子Tr1~Tr4は、SiC半導体デバイスで構成された高速スイッチング型のMOSFET(SiC-DMOS)である。 The first to fourth switching elements Tr1 to Tr4 are composed of N-channel DMOS (Double-Diffused Metal Oxide Semiconductor) field effect transistors in this embodiment. In particular, in this embodiment, the first to fourth switching elements Tr1 to Tr4 are high-speed switching MOSFETs (SiC-DMOS) composed of SiC semiconductor devices.

また、第1~第4ダイオード素子Di1~Di4は、この実施形態では、ショットキーバリアダイオード(SBD)で構成されている。とくに、この実施形態では、第1~第4ダイオード素子Di1~Di4は、SiC半導体デバイス(SiC-SBD)で構成されている。
各第1スイッチング素子Tr1には、第1ダイオード素子Di1が並列に接続されている。各第3スイッチング素子Tr3には、第3ダイオード素子Di3が並列に接続されている。各第1スイッチング素子Tr1および各第3スイッチング素子Tr3のドレインならびに各第1ダイオード素子Di1および各第3ダイオード素子Di3のカソードは、第1電源端子Pに接続されている。
Also, the first to fourth diode elements Di1 to Di4 are constituted by Schottky barrier diodes (SBD) in this embodiment. Particularly, in this embodiment, the first to fourth diode elements Di1 to Di4 are composed of SiC semiconductor devices (SiC-SBD).
A first diode element Di1 is connected in parallel to each first switching element Tr1. A third diode element Di3 is connected in parallel to each third switching element Tr3. A drain of each first switching element Tr1 and each third switching element Tr3 and a cathode of each first diode element Di1 and each third diode element Di3 are connected to a first power supply terminal P.

複数の第1ダイオード素子Di1のアノードは、対応する第1スイッチング素子Tr1のソースに接続され、第1スイッチング素子Tr1のソースが、出力端子OUTに接続されている。同様に、複数の第3ダイオード素子Di3のアノードは、対応する第3スイッチング素子Tr3のソースに接続され、第3スイッチング素子Tr3のソースが、出力端子OUTに接続されている。 Anodes of the plurality of first diode elements Di1 are connected to sources of the corresponding first switching elements Tr1, and sources of the first switching elements Tr1 are connected to the output terminal OUT. Similarly, the anodes of the plurality of third diode elements Di3 are connected to the sources of the corresponding third switching elements Tr3, and the sources of the third switching elements Tr3 are connected to the output terminal OUT.

複数の第1スイッチング素子Tr1および複数の第3スイッチング素子Tr3のゲートは、第1ゲート端子G1に接続されている。複数の第1スイッチング素子Tr1および複数の第3スイッチング素子Tr3のソースは、第1ソースセンス端子SS1にも接続されている。複数の第1スイッチング素子Tr1および複数の第3スイッチング素子Tr3のドレインは、ドレインセンス端子DSにも接続されている。 Gates of the plurality of first switching elements Tr1 and the plurality of third switching elements Tr3 are connected to a first gate terminal G1. The sources of the plurality of first switching elements Tr1 and the plurality of third switching elements Tr3 are also connected to the first source sense terminal SS1. The drains of the plurality of first switching elements Tr1 and the plurality of third switching elements Tr3 are also connected to the drain sense terminal DS.

各第2スイッチング素子Tr2には、第2ダイオード素子Di2が並列に接続されている。各第4スイッチング素子Tr4には、第4ダイオード素子Di4が並列に接続されている。各第2スイッチング素子Tr2および各第4スイッチング素子Tr4のドレインならびに各第2ダイオード素子Di2および各第4ダイオード素子Di4のカソードは、出力端子OUTに接続されている。 A second diode element Di2 is connected in parallel to each second switching element Tr2. A fourth diode element Di4 is connected in parallel to each fourth switching element Tr4. The drain of each second switching element Tr2 and each fourth switching element Tr4 and the cathode of each second diode element Di2 and each fourth diode element Di4 are connected to the output terminal OUT.

複数の第2ダイオード素子Di2のアノードは、対応する第2スイッチング素子Tr2のソースに接続され、第2スイッチング素子Tr2のソースが、第2電源端子Nに接続されている。同様に、複数の第4ダイオード素子Di4のアノードは、対応する第4スイッチング素子Tr4のソースに接続され、第4スイッチング素子Tr4のソースが、第2電源端子Nに接続されている。 The anodes of the plurality of second diode elements Di2 are connected to the sources of the corresponding second switching elements Tr2, and the sources of the second switching elements Tr2 are connected to the second power supply terminal N. Similarly, the anodes of the plurality of fourth diode elements Di4 are connected to the sources of the corresponding fourth switching elements Tr4, and the sources of the fourth switching elements Tr4 are connected to the second power supply terminal N.

複数の第2スイッチング素子Tr2および複数の第4スイッチング素子Tr4のゲートは、第2ゲート端子G2に接続されている。複数の第2スイッチング素子Tr2および複数の第4スイッチング素子Tr4のソースは、第2ソースセンス端子SS2にも接続されている。
図11は、このパワーモジュール1がHブリッジ回路に利用された場合の電気回路を示している。Hブリッジ回路では、2個のパワーモジュール1が電源201に並列接続される。一方のパワーモジュール1を第1のパワーモジュール1A、他方のパワーモジュール1を第2のパワーモジュール1Bということにする。図11においては、説明の便宜上、上アーム回路を構成している複数の第1および第3トランジスタ素子Tr1,Tr3ならびに複数の第1および第3ダイオード素子Di1,Di3を、それぞれ1個の第1トランジスタ素子Tr1および1個の第1ダイオード素子Di1で表している。同様に、下アーム回路を構成する複数の第2および第4トランジスタ素子Tr2,Tr4ならびに複数の第2および第4ダイオード素子Di2,Di4を、それぞれ1個の第2トランジスタ素子Tr2および1個の第2ダイオード素子Di2で表している。2個のパワーモジュール1A,1Bの出力端子OUTの間に、モータ等の誘導性の負荷202が接続されている。
Gates of the plurality of second switching elements Tr2 and the plurality of fourth switching elements Tr4 are connected to a second gate terminal G2. The sources of the plurality of second switching elements Tr2 and the plurality of fourth switching elements Tr4 are also connected to the second source sense terminal SS2.
FIG. 11 shows an electric circuit when this power module 1 is used in an H bridge circuit. In the H bridge circuit, two power modules 1 are connected in parallel to a power supply 201 . One power module 1 is called a first power module 1A, and the other power module 1 is called a second power module 1B. In FIG. 11, for convenience of explanation, each of the plurality of first and third transistor elements Tr1 and Tr3 and the plurality of first and third diode elements Di1 and Di3 which constitute the upper arm circuit is replaced by one first transistor element. It is represented by a transistor element Tr1 and one first diode element Di1. Similarly, the plurality of second and fourth transistor elements Tr2 and Tr4 and the plurality of second and fourth diode elements Di2 and Di4, which constitute the lower arm circuit, are replaced by one second transistor element Tr2 and one second transistor element Tr2, respectively. It is represented by two diode elements Di2. An inductive load 202 such as a motor is connected between output terminals OUT of the two power modules 1A and 1B.

このようなHブリッジ回路では、例えば第1のパワーモジュール1Aの第1トランジスタ素子Tr1と第2のパワーモジュール1Bの第2トランジスタ素子Tr2とが導電状態とされる。この後、これらのトランジスタ素子Tr1,Tr2が遮断状態にされる。そして、第1のパワーモジュール1Aの第2トランジスタ素子Tr2と第2のパワーモジュール1Bの第1トランジスタ素子Tr1とが導電状態とされる。この後、これらのトランジスタ素子Tr1,Tr2が遮断状態にされる。そして、第1のパワーモジュール1Aの第1トランジスタ素子Tr1と第2のパワーモジュール1Bの第2トランジスタ素子Tr2とが導電状態とされる。このような動作が繰り返されることにより、負荷202が交流駆動される。 In such an H-bridge circuit, for example, the first transistor element Tr1 of the first power module 1A and the second transistor element Tr2 of the second power module 1B are rendered conductive. After that, these transistor elements Tr1 and Tr2 are turned off. Then, the second transistor element Tr2 of the first power module 1A and the first transistor element Tr1 of the second power module 1B are brought into a conductive state. After that, these transistor elements Tr1 and Tr2 are turned off. Then, the first transistor element Tr1 of the first power module 1A and the second transistor element Tr2 of the second power module 1B are brought into a conductive state. By repeating such operations, the load 202 is AC-driven.

第1のパワーモジュール1A内の第1スイッチング素子Tr1が導電状態から遮断状態に切り換えられ、第2スイッチング素子Tr2が遮断状態から導電状態に切り換えられるときの過渡期には、第1のパワーモジュール1Aでは、図11に矢印で示すように、第1電源端子Pから第1スイッチング素子Tr1を通って出力端子OUTに電流が流れ、出力端子OUTから第2スイッチング素子Tr2を通って第2電源端子Nに電流が流れる。また、第1のパワーモジュール1A内の第2スイッチング素子Tr2が導電状態から遮断状態に切り換えられ、第1スイッチング素子Tr1が遮断状態から導電状態に切り換えられるときの過渡期にも、第1のパワーモジュール1Aでは、第1電源端子Pから第1スイッチング素子Tr1を通って出力端子OUTに電流が流れ、出力端子OUTから第2スイッチング素子Tr2を通って第2電源端子Nに電流が流れる。 In the transition period when the first switching element Tr1 in the first power module 1A is switched from the conductive state to the cutoff state and the second switching element Tr2 is switched from the cutoff state to the conductive state, the first power module 1A 11, current flows from the first power supply terminal P through the first switching element Tr1 to the output terminal OUT, and from the output terminal OUT through the second switching element Tr2 to the second power supply terminal N. current flows through Also, in the transition period when the second switching element Tr2 in the first power module 1A is switched from the conductive state to the cutoff state and the first switching element Tr1 is switched from the cutoff state to the conductive state, the first power In the module 1A, current flows from the first power terminal P through the first switching element Tr1 to the output terminal OUT, and current flows from the output terminal OUT to the second power terminal N through the second switching element Tr2.

図7および図8を参照して、このような過渡期には、第1のパワーモジュール1Aの第1電源端子Pの立上部31Bには主として-Z方向(外部配線接続部31D側から内部配線接続部31A側に向かう方向)に電流が流れる。一方、第1のパワーモジュール1Aの第2電源端子Nの立上部32Bには主として+Z方向(内部配線接続部32A側から外部配線接続部32D側に向かう方向)に電流が流れる。 Referring to FIGS. 7 and 8, during such a transitional period, the rising portion 31B of the first power supply terminal P of the first power module 1A is mainly in the -Z direction (from the side of the external wiring connection portion 31D to the internal wiring). current flows in the direction toward the connecting portion 31A). On the other hand, current mainly flows in the +Z direction (the direction from the internal wiring connection portion 32A side to the external wiring connection portion 32D side) in the rising portion 32B of the second power supply terminal N of the first power module 1A.

-Z方向に電流が流れる第1電源端子Pの立上部31Bと+Z方向に電流が流れる第2電源端子Nの立上部32Bとは、互いに対向しているとともに互いに接近している。これにより、第1電源端子Pの自己インダクタンスと、第2電源端子Nの自己インダクタンスとが、それらの間の相互インダクタンスによって少なくとも部分的に打ち消される。これにより、パワーモジュール1のインダクタンスを低減できる。 The rising portion 31B of the first power supply terminal P through which current flows in the -Z direction and the rising portion 32B of the second power supply terminal N through which current flows in the +Z direction are opposed to each other and are close to each other. Thereby, the self-inductance of the first power supply terminal P and the self-inductance of the second power supply terminal N are at least partially canceled by the mutual inductance therebetween. Thereby, the inductance of the power module 1 can be reduced.

第1電源端子Pの立上部31Bおよび第2電源端子Nの立上部32Bの高さH(図8参照)は5mm以上であることが好ましく、幅(X方向の長さ)W(図7参照)は14mm以上であることが好ましく、それらの間隔d(図8参照)は、2mm以下であることが好ましい。この実施形態では、H=5.5mm、W=16.75mm、d=1mmである。 The height H (see FIG. 8) of the rising portion 31B of the first power terminal P and the rising portion 32B of the second power terminal N is preferably 5 mm or more, and the width (length in the X direction) W (see FIG. 7) ) is preferably 14 mm or more, and the distance d (see FIG. 8) therebetween is preferably 2 mm or less. In this embodiment H=5.5 mm, W=16.75 mm and d=1 mm.

この実施形態では、各スイッチング素子Tr1,Tr2,Tr3,Tr4のソース電極および各ダイオード素子Di1,Di2,Di3,Di4のアノード電極を、ワイヤではなく板状体の接続金属部材55,65,95,105を用いて、導体層46,47,86,87に電気的に接続している。これにより、パワーモジュール1の熱抵抗を低減することができる。 In this embodiment, the source electrodes of the switching elements Tr1, Tr2, Tr3, and Tr4 and the anode electrodes of the diode elements Di1, Di2, Di3, and Di4 are connected by plate-like connection metal members 55, 65, 95, 95, 95, 95, 95, 95, 95, 95, 95, 95, 95, 95, 95, 95, 95, 95, 95, 95. 105 are used to electrically connect to conductor layers 46, 47, 86, 87. FIG. Thereby, the thermal resistance of the power module 1 can be reduced.

図12は、平板状の接続金属部材55,65,95,105の代わりにワイヤを用いた場合のパワーモジュールの熱抵抗に対する、平板状の接続金属部材55,65,95,105を用いたときのパワーモジュールの熱抵抗の比を熱抵抗比として表したグラフである。図12では、横軸に接続金属部材55,65,95,105の厚さ(Z方向の長さ)がとられ、縦軸に熱抵抗比がとられている。 FIG. 12 shows the thermal resistance of the power module when wires are used instead of the flat connecting metal members 55, 65, 95, 105 when the flat connecting metal members 55, 65, 95, 105 are used. 1 is a graph showing the ratio of thermal resistance of the power module in the form of a thermal resistance ratio. In FIG. 12, the horizontal axis represents the thickness (length in the Z direction) of the connecting metal members 55, 65, 95 and 105, and the vertical axis represents the thermal resistance ratio.

図12から、接続金属部材55,65,95,105の厚さが大きくなるほど、パワーモジュール1の熱抵抗が小さくなることがわかる。これは、接続金属部材55,65,95,105の厚さを大きくすると、スイッチング素子Tr1~Tr4およびダイオード素子Di1~Di4で発生した熱に対する、接続金属部材55,65,95,105の放熱効果が高くなるからである。ただし、接続金属部材55,65,95,105の厚さが、2mmよりも大きくなっても、パワーモジュール1の熱抵抗はさほど小さくならないことがわかる。したがって、接続金属部材55,65,95,105の厚さは、0.8mm以上2.0mm以下であることが好ましい。この実施形態では、接続金属部材55,65,95,105の厚さは1.0mmであり、接続金属部材55,65,95,105の代わりにワイヤを用いた場合に比べて、パワーモジュール1の熱抵抗を約15%低減することかできる。 It can be seen from FIG. 12 that the thermal resistance of the power module 1 decreases as the thickness of the connecting metal members 55, 65, 95, 105 increases. This is because when the thickness of the connection metal members 55, 65, 95, and 105 is increased, the heat dissipation effect of the connection metal members 55, 65, 95, and 105 against the heat generated by the switching elements Tr1 to Tr4 and the diode elements Di1 to Di4. is higher. However, it can be seen that even if the thickness of the connection metal members 55, 65, 95, 105 exceeds 2 mm, the thermal resistance of the power module 1 does not decrease so much. Therefore, the thickness of the connection metal members 55, 65, 95, 105 is preferably 0.8 mm or more and 2.0 mm or less. In this embodiment, the thickness of the connection metal members 55, 65, 95, 105 is 1.0 mm, and the power module 1 is more compact than when wires are used instead of the connection metal members 55, 65, 95, 105. thermal resistance can be reduced by about 15%.

この実施形態では、前述したように、放熱板2の裏面を研削することにより、放熱板2の厚さを薄くしている。これにより、パワーモジュール1の熱抵抗を低減することができる。
図13は、放熱板2の裏面を研削しなかった場合のパワーモジュールの熱抵抗に対する、放熱板2の裏面を研削した場合のパワーモジュールの熱抵抗の比を熱抵抗比として示すグラフである。図13では、横軸に放熱板2の周縁部の厚さ(Z方向の長さ)がとられ、縦軸に熱抵抗比がとられている。図13では、放熱板2の裏面を研削しなかった場合の放熱板2の厚さを4mmとしている。
In this embodiment, as described above, the thickness of the heat sink 2 is reduced by grinding the back surface of the heat sink 2 . Thereby, the thermal resistance of the power module 1 can be reduced.
FIG. 13 is a graph showing, as a thermal resistance ratio, the ratio of the thermal resistance of the power module when the back surface of the heat sink 2 is ground to the thermal resistance of the power module when the back surface of the heat sink 2 is not ground. In FIG. 13, the horizontal axis represents the thickness (length in the Z direction) of the peripheral portion of the heat sink 2, and the vertical axis represents the thermal resistance ratio. In FIG. 13, the thickness of the heat sink 2 is 4 mm when the back surface of the heat sink 2 is not ground.

図13から、放熱板2を薄く研削するほど、パワーモジュール1の熱抵抗が小さくなることがわかる。これは、放熱板2の厚さを薄くすると、スイッチング素子Tr1~Tr4およびダイオード素子Di1~Di4で発生した熱が、放熱板2の裏面(-Z方向側の表面)に取り付けられるヒートシンク等の冷却手段に伝達されやすくなるからである。したがって、放熱板2の裏面を研削することにより、放熱板2を薄くすることが好ましい。この実施形態では、放熱板2の周縁部の厚さは3.5mmであり、放熱板2の裏面を研削しない場合に比べて、パワーモジュール1の熱抵抗を約2%低減することができる。 As can be seen from FIG. 13, the thinner the heat sink 2 is ground, the smaller the thermal resistance of the power module 1 becomes. This is because the heat generated by the switching elements Tr1 to Tr4 and the diode elements Di1 to Di4 is transferred to the back surface of the heat sink 2 (surface on the -Z direction side) when the thickness of the heat sink 2 is reduced. This is because it is easily transmitted to the means. Therefore, it is preferable to reduce the thickness of the heat sink 2 by grinding the back surface of the heat sink 2 . In this embodiment, the thickness of the peripheral portion of the heat sink 2 is 3.5 mm, and the thermal resistance of the power module 1 can be reduced by approximately 2% compared to the case where the back surface of the heat sink 2 is not ground.

この実施形態では、各スイッチング素子Tr1,Tr2,Tr3,Tr4を素子接合用導体層43,46,83,86に接合するための半田層53,61,91,101の厚さを、一般的な厚さよりも薄くしている。これにより、パワーモジュール1の熱抵抗を低減することができる。
図14は、半田層53,61,91,101の厚さが基準値である場合のパワーモジュールの熱抵抗に対する、半田層53,61,91,101の厚さを基準値よりも薄くした場合のパワーモジュールの熱抵抗の比を熱抵抗比として示すグラフである。図14では、横軸に半田層53,61,91,101の厚さがとられ、縦軸に熱抵抗比がとられている。図14では、半田層53,61,91,101の厚さの基準値を0.12mmとしている。
In this embodiment, the thickness of the solder layers 53, 61, 91, 101 for bonding the switching elements Tr1, Tr2, Tr3, Tr4 to the element bonding conductor layers 43, 46, 83, 86 is set to a general thickness of Thinner than thick. Thereby, the thermal resistance of the power module 1 can be reduced.
FIG. 14 shows the thermal resistance of the power module when the thicknesses of the solder layers 53, 61, 91, and 101 are the reference values when the thicknesses of the solder layers 53, 61, 91, and 101 are thinner than the reference values. 2 is a graph showing the ratio of thermal resistance of the power module in the form of a thermal resistance ratio. In FIG. 14, the horizontal axis represents the thickness of the solder layers 53, 61, 91 and 101, and the vertical axis represents the thermal resistance ratio. In FIG. 14, the reference value for the thickness of the solder layers 53, 61, 91 and 101 is 0.12 mm.

図14から、半田層53,61,91,101の厚さを薄くするほど、パワーモジュール1の熱抵抗が小さくなることがわかる。これは、半田層53,61,91,101の厚さを薄くすると、スイッチング素子Tr1~Tr4で発生した熱が、放熱板2に伝達されやすくなるからである。したがって、半田層53,61,91,101の厚さを、0.08mm以上0.10mm以下にすることが好ましい。この実施形態では、半田層53,61,91,101の厚さは0.08mmであり、半田層53,61,91,101の厚さが0.12mmである場合に比べて、パワーモジュール1の熱抵抗を約2%低減することができる。 As can be seen from FIG. 14, the thinner the solder layers 53, 61, 91 and 101 are, the smaller the thermal resistance of the power module 1 is. This is because the heat generated by the switching elements Tr1 to Tr4 is more easily transmitted to the heat sink 2 when the solder layers 53, 61, 91 and 101 are made thinner. Therefore, it is preferable to set the thickness of the solder layers 53, 61, 91, 101 to 0.08 mm or more and 0.10 mm or less. In this embodiment, the thickness of the solder layers 53, 61, 91, 101 is 0.08 mm, and the thickness of the power module 1 is reduced compared to the case where the thickness of the solder layers 53, 61, 91, 101 is 0.12 mm. can be reduced by about 2%.

以上、この発明の実施形態について説明してきたが、この発明は、さらに他の形態で実施することもできる。たとえば、前述の実施形態では、SiC半導体デバイスで構成したMOS型電界効果トランジスタをスイッチング素子の例として説明したが、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)等の他の形態のスイッチング素子が適用されてもよい。また、前述の実施形態では、スイッチング素子およびダイオード素子を備えた構成について説明したが、ダイオード素子が備えられていない半導体装置に対しても、この発明を適用できる。また、半導体装置は、必ずしもパワーモジュールを構成している必要はない。 Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention can also be implemented in other forms. For example, in the above-described embodiments, MOS field effect transistors made of SiC semiconductor devices have been described as examples of switching elements, but other forms of switching elements such as IGBTs (Insulated Gate Bipolar Transistors) may be applied. . Also, in the above-described embodiments, a configuration including switching elements and diode elements has been described, but the present invention can also be applied to semiconductor devices that do not include diode elements. Also, the semiconductor device does not necessarily constitute a power module.

その他、特許請求の範囲に記載された事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能である。 In addition, various design changes can be made within the scope of the matters described in the claims.

1 半導体モジュール
2 放熱板
21~24 端子台
31A 内部配線接続部
31Aa 基部
31Ab 櫛歯状端子
31B 立上部
31C 傾斜部
31D 外部配線接続部
32A 内部配線接続部
32Aa 基部
32Ab 櫛歯状端子
32B 立上部
32C 傾斜部
32D 外部配線接続部
40 第1アッセンブリ
41 第1絶縁基板
42 第1接合用導体層
43 第1素子接合用導体層
46 第2素子接合用導体層
47 N端子用導体層
55 第1接続金属部材
65 第2接続金属部材
80 第2アッセンブリ
81 第2絶縁基板
82 第2接合用導体層
83 第3素子接合用導体層
84 第3ゲート端子用導体層
85 第3ソースセンス端子用導体層
86 第4素子接合用導体層
87 ソース用導体層
95 第3接続金属部材
105 第4接続金属部材
P 第1電源端子
N 第2電源端子
OUT1 第1出力端子
OUT2 第2出力端子
Tr1~Tr4 スイッチング素子
Di1~Di4 ダイオード素子
1 semiconductor module 2 heat sinks 21 to 24 terminal block 31A internal wiring connection portion 31Aa base portion 31Ab comb-like terminal 31B rising portion 31C inclined portion 31D external wiring connecting portion 32A internal wiring connecting portion 32Aa base portion 32Ab comb-like terminal 32B rising portion 32C Inclined portion 32D External wiring connection portion 40 First assembly 41 First insulating substrate 42 First bonding conductor layer 43 First element bonding conductor layer 46 Second element bonding conductor layer 47 N terminal conductor layer 55 First connection metal Member 65 Second connection metal member 80 Second assembly 81 Second insulating substrate 82 Second bonding conductor layer 83 Third element bonding conductor layer 84 Third gate terminal conductor layer 85 Third source/sense terminal conductor layer 86 Four-element junction conductor layer 87 Source conductor layer 95 Third connection metal member 105 Fourth connection metal member P First power supply terminal N Second power supply terminal OUT1 First output terminal OUT2 Second output terminals Tr1 to Tr4 Switching elements Di1 to Di4 diode element

Claims (15)

平面視において、所定の一方向に隣接して配置された第1電源端子および第2電源端子と、
前記第1電源端子と前記第2電源端子との間に電気的に接続された回路素子とを含み、
前記第1電源端子は、第1内部配線接続部および第1外部配線接続部と、前記第1内部配線接続部および前記第1外部配線接続部における前記第2電源端子側の縁部どうしを連結する第1連結部とを含み、
前記第2電源端子は、第2内部配線接続部および第2外部配線接続部と、前記第2内部配線接続部と前記第2外部配線接続部とを連結しかつ前記第1連結部に隣接して配置された第2連結部を含み、
前記第1連結部および前記第2連結部は、それぞれ端子台に埋め込まれている部分を有しており、
前記第1連結部における前記端子台に埋め込まれている部分と前記第2連結部における前記端子台に埋め込まれている部分との間の間隔は、前記第1外部配線接続部と前記第2外部配線接続部との間の最小間隔よりも小さい、半導体装置。
a first power terminal and a second power terminal arranged adjacent to each other in a predetermined direction in plan view;
a circuit element electrically connected between the first power terminal and the second power terminal;
The first power supply terminal connects the first internal wiring connection part and the first external wiring connection part, and the edges of the first internal wiring connection part and the first external wiring connection part on the side of the second power supply terminal. and a first connecting portion to
The second power terminal connects the second internal wiring connection portion and the second external wiring connection portion, and the second internal wiring connection portion and the second external wiring connection portion, and is adjacent to the first connection portion. a second joint positioned at the
The first connecting portion and the second connecting portion each have a portion embedded in the terminal block,
The distance between the portion of the first connecting portion embedded in the terminal block and the portion of the second connecting portion embedded in the terminal block is the distance between the first external wiring connection portion and the second external wiring connection portion. A semiconductor device that is smaller than the minimum distance between wiring connection parts.
前記回路素子は、縦続接続された第1および第2のスイッチング素子を有し、前記第1および前記第2のスイッチング素子の接続部から出力が取り出される、請求項1に記載の半導体装置。 2. The semiconductor device according to claim 1, wherein said circuit element has first and second switching elements connected in cascade, and an output is taken out from a connecting portion of said first and said second switching elements. 前記第1内部配線接続部および前記第1外部配線接続部は、所定の間隔を空けて互いに対向配置されており、
前記第2内部配線接続部および前記第2外部配線接続部は、所定の間隔を空けて互いに対向配置されている、請求項1または2に記載の半導体装置。
The first internal wiring connection portion and the first external wiring connection portion are arranged to face each other with a predetermined gap therebetween,
3. The semiconductor device according to claim 1, wherein said second internal wiring connection portion and said second external wiring connection portion are arranged opposite to each other with a predetermined gap therebetween.
前記第1内部配線接続部、前記第2内部配線接続部および前記回路素子は、ケース内に封止されている、請求項1または2に記載の半導体装置。 3. The semiconductor device according to claim 1, wherein said first internal wiring connection portion, said second internal wiring connection portion and said circuit element are sealed in a case. 前記第1および第2のスイッチング素子は、それぞれ、逆方向に並列接続されたダイオードを含む、請求項2に記載の半導体装置。 3. The semiconductor device according to claim 2, wherein said first and second switching elements each include diodes connected in parallel in opposite directions. 前記第1および第2のスイッチング素子は、SiC MOSFETまたはIGBTからなる、請求項2または5に記載の半導体装置。 6. The semiconductor device according to claim 2, wherein said first and second switching elements are SiC MOSFETs or IGBTs. 前記第1連結部と前記第2連結部は、上下方向に延びかつ所定の間隔を空けて互いに対向する対向部分と、これらの対向部分から上方に向かって互いの間隔が徐々に大きくなるように延びた傾斜部とをそれぞれ含んでいる、請求項1または2に記載の半導体装置。 The first connecting portion and the second connecting portion have opposing portions that extend in the vertical direction and face each other at a predetermined interval, and the interval between the opposing portions gradually increases upward from the opposing portions. 3. A semiconductor device according to claim 1 or 2, each comprising an elongated sloping portion. 前記第1連結部の前記対向部分と前記第2連結部の前記対向部分との間隔は、2mm以下である、請求項7に記載の半導体装置。 8. The semiconductor device according to claim 7, wherein a distance between said facing portion of said first connecting portion and said facing portion of said second connecting portion is 2 mm or less. 前記第1連結部と前記第2連結部は、上下方向に延びかつ所定の間隔を空けて互いに対向する対向部分をそれぞれ含んでおり、
前記第1連結部の前記対向部分と前記第2連結部の前記対向部分との間隔は、前記出力が接続される出力端子と、前記第1電源端子または前記第2電源端子との間の最小間隔よりも小さい、請求項2に記載の半導体装置。
The first connecting portion and the second connecting portion each include opposing portions that extend in the vertical direction and face each other with a predetermined spacing,
The distance between the facing portion of the first connecting portion and the facing portion of the second connecting portion is the minimum distance between the output terminal to which the output is connected and the first power terminal or the second power terminal. 3. The semiconductor device according to claim 2, which is smaller than the spacing.
前記回路素子が取り付けられた回路基板を含み、
前記回路基板は平面視略長方形であり、
前記第1電源端子の前記第1内部配線接続部および前記第2電源端子の前記第2内部配線接続部は、前記回路基板の長手方向の端部に取り付けられている、請求項1または2に記載の半導体装置。
including a circuit board on which the circuit element is mounted;
The circuit board is substantially rectangular in plan view,
3. The circuit board according to claim 1, wherein said first internal wiring connection portion of said first power supply terminal and said second internal wiring connection portion of said second power supply terminal are attached to longitudinal ends of said circuit board. The semiconductor device described.
前記第1のスイッチング素子は、並列接続された複数のスイッチング素子を有し、
前記第2のスイッチング素子は、並列接続された複数のスイッチング素子を有する、請求項2に記載の半導体装置。
The first switching element has a plurality of switching elements connected in parallel,
3. The semiconductor device according to claim 2, wherein said second switching element has a plurality of switching elements connected in parallel.
前記端子台の表面における前記第1外部配線接続部と前記第外部配線接続部との間領域には、凸部が形成されている、請求項1または2に記載の半導体装置。 3. The semiconductor device according to claim 1, wherein a convex portion is formed in a region between said first external wiring connection portion and said second external wiring connection portion on the surface of said terminal block. 前記凸部の表面に複数の溝が形成されている、請求項12に記載の半導体装置。 13. The semiconductor device according to claim 12, wherein a plurality of grooves are formed on the surface of said protrusion. 前記第1連結部と前記第2連結部は、上下方向に延びかつ所定の間隔を空けて互いに対向する対向部分をそれぞれ含んでおり、
前記凸部および前記溝は、前記第1連結部の前記対向部分と前記第2連結部の前記対向部分とが対向している方向と直交する方向であって、前記端子台の表面に沿う方向に延びている、請求項13に記載の半導体装置。
The first connecting portion and the second connecting portion each include opposing portions that extend in the vertical direction and face each other with a predetermined spacing,
The projection and the groove are in a direction orthogonal to the direction in which the facing portion of the first connecting portion and the facing portion of the second connecting portion face each other, and along the surface of the terminal block. 14. The semiconductor device of claim 13, extending into the
前記凸部および前記溝の長さは、前記第1連結部および前記第2連結部の前記対向部分における前記凸部および前記溝が延びている方向の長さよりも大きい、請求項14に記載の半導体装置。 15. The length of the protrusion and the groove according to claim 14, wherein the length of the protrusion and the groove in the facing portion of the first connection portion and the second connection portion is greater than the length of the direction in which the protrusion and the groove extend. semiconductor equipment.
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