JP7238385B2 - 分光フィルターモジュール、分光カメラおよび電子機器 - Google Patents
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Description
特許文献1に記載された分光フィルターモジュール(測色センサー)は、測定対象物で反射された反射光のうちの所定波長の光を透過させる分光フィルター(波長可変干渉フィルター)と、分光フィルターに駆動電圧を印加する駆動部(電圧印加部)とを備えている。この分光フィルターモジュールを制御する制御装置は、目的波長を指示する制御信号を駆動部に対して出力する。駆動部が制御信号に基づいて駆動電圧を分光フィルターに印加することにより、分光フィルターは目的波長の光を透過させる。
図1に示すように、本実施形態の分光測定装置100は、所定波長の光を検出する分光カメラ1と、分光カメラ1を制御する制御部6とを備えている。分光カメラ1は、対象物で反射された反射光Lrのうち、所定波長の光Lsを分光し、分光された光Lsに基づいて取得される受光値Diを制御部6に送信する。制御部6は、分光カメラ1から入力された受光値Diに基づいてスペクトル情報を分析する。これにより、分光測定装置100は、対象物の色の測定や物質分析が可能である。このような分光測定装置100は、例えばプリンターやプロジェクターなどの電子機器に組み込まれて利用可能である。
分光カメラ1は、一点からの光に対する分光測定を実施するものでもよいし、分光画像を取得するものであってもよい。この分光カメラ1は、入射光から所定波長の光を分光する分光フィルターモジュール2と、分光フィルターモジュール2により分光された光を受光して受光信号Siを出力する受光センサー3とを備えている。
分光フィルターモジュール2は、分光フィルター5、記憶部21、駆動制御部22および駆動回路23を備えている。
分光フィルター5は、例えば波長可変干渉フィルターである。この分光フィルター5は、図2に示すように、第一基板51および第二基板52を有する。第一基板51は、第二基板52に対向する面に、例えばエッチングにより形成された電極配置溝511と、反射膜設置部512とを有する。第二基板52は、可動部521と、可動部521の外周に設けられ、可動部521よりも厚み寸法が小さいダイアフラム部522とを有している。この第二基板52は、ダイアフラム部522の外周において、接着層53を介して第一基板51に固定されている。
図3は、波長リストLの例を示す図である。波長リストLには、複数の測定波長にそれぞれ対応する複数の波長指令値Vc(1)~Vc(n)の一覧が、測定番号に対応付けられた状態で記憶されている。なお、本実施形態における波長指令値Vcは、分光フィルター5のギャップGで検出される静電容量に関する指令値である。
また、駆動制御部22は、リセット信号Srを入力された場合、現在選択している波長指令値Vcに関わらず、波長リストLにおいて最初の測定番号に対応する波長指令値Vc(1)を選択して出力する。
また、駆動回路23は、フィードバック制御系を構成しており、分光フィルター5のギャップGで検出された静電容量が、波長指令値Vcに対応する静電容量になるように、静電アクチュエーター56に印加する駆動電圧Vを増減させる。これにより、分光フィルター5におけるギャップGが測定波長に対応した寸法に調整される。
受光センサー3は、受光部31と、受光部31を制御する受光制御部32とを有している。
受光部31は、分光フィルター5により分光された光Lsを受光し、受光した光Lsの光強度に応じた受光信号Siに変換して出力する。受光部31は、例えばCMOSによって構成される。
また、受光制御部32は、トリガー信号Stを、自身で利用するだけでなく、分光フィルター5の駆動制御部22に対して出力している。
制御部6は、パーソナルコンピューターなどによって構成可能である。また、分光測定装置100がプリンターまたはプロジェクターなどの電子機器に組み込まれる場合、制御部6は、当該電子機器の全体動作を制御するコントローラーとして構成されてもよい。
なお、リスト生成部61は、分光カメラ1に送信した波長リストLを、制御部6内の記憶部(図示省略)にも記憶させる。
本実施形態の分光測定装置100が分光測定動作を行う例について説明する。なお、以下の説明では、記憶部21が波長リストLを記憶しているものとする。
まず、制御部6は、外部機器または操作部から入力される操作信号に基づき、分光カメラ1に測定開始信号を出力する。これにより、分光カメラ1では、駆動制御部22および受光制御部32がそれぞれ処理を開始する。
まず、駆動制御部22は、波長指令値Vcを示す変数iを初期化(i=1)する(ステップS11)。
その後、駆動制御部22は、トリガー信号Stに基づく波長切替タイミングを検出する(ステップS12)。なお、本実施形態において、波長切替タイミングは、トリガー信号Stがハイレベルからローレベルに立ち下がるタイミングに設定されている。
まず、受光制御部32は、トリガー信号Stを所定間隔で出力することを開始する(ステップS21)。
次いで、受光制御部32は、トリガー信号Stに基づく信号取込タイミングを検出する(ステップS22)。なお、本実施形態において、信号取込タイミングは、トリガー信号Stがローレベルからハイレベルに立ち上がるタイミングに設定されている。これにより、トリガー信号Stの立ち下がりから立ち上がりまでの時間分、分光フィルター5の透過波長が変更されて安定することを待つことができる。
以上の処理によれば、分光フィルターモジュール2において、分光フィルター5の透過波長の変更タイミングと、受光信号Siの取り込みタイミングとが連携される。これにより、制御部6は、分光フィルター5の透過波長が安定しているときの受光値Diを取得できる。
本実施形態の分光フィルターモジュール2は、入力される駆動電圧Vに応じた波長の光を透過させる分光フィルター5と、入力される波長指令値Vcに基づいて駆動電圧Vを出力する駆動回路23と、波長指令値Vcを出力し、外部からトリガー信号Stが入力される毎に波長指令値Vcを切り替える駆動制御部22と、を備えている。ここで、分光フィルター5の透過波長を切り替えるためのトリガーとなるトリガー信号Stは、パルス信号などの1ビット信号でよい。すなわち、本実施形態の分光フィルターモジュール2では、分光フィルター5の透過波長を切り替えるために、単純なトリガー信号Stを受信するため、複雑な演算処理を必要としない。このため、分光フィルター5の透過波長を切り替えるためにかかる時間を短縮できる。また、分光フィルターモジュール2と外部との間で波長切替のための制御線を必要としないため、分光フィルターモジュール2の構成を簡素化することも可能である。
一般に、分光フィルターの透過波長が切り替えられた直後において、受光センサーから出力される受光信号は安定しない。このため、従来技術では、分光カメラを制御する制御装置において、波長指令値を切り替えるタイミングと、受光センサーから受光信号を取り込むタイミングとの連携を図ることで、安定した受光値を取得している。
これに対して、本実施形態では、受光制御部32は、トリガー信号Stに応じた信号取込タイミングで受光信号Siを取り込むように構成されている。これにより、分光カメラ1を制御する制御部6は、自身の構成を簡素化しつつ、安定した受光値Diを取得することができる。
なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
前記実施形態では、分光測定装置100について説明しているが、本発明の電子機器はこれに限定されず、分光測定装置100を組み込まれたプロジェクターやプリンターなどであってもよい。
また、本発明の電子機器は、受光センサー3を備えなくてもよい。
図7は、例えば分光照明装置や可視光通信装置として構成される電子機器200の概略構成を示す図である。なお、図7では、前記実施形態と同様の構成には同じ符号を付している。
図7に示すように、電子機器200は、分光フィルターモジュール2と、光源71と、トリガー信号出力部72と、を備えている。この電子機器200において、駆動制御部22は、トリガー信号出力部72からトリガー信号Stが入力される毎に波長指令値Vcを切り替える。これにより、光源71から出射された光は、分光フィルター5によって、順次、異なる波長に分光される。
このような電子機器200においても、前記実施形態と同様、分光フィルター5が分光させる波長の切り替えにかかる時間を短縮できるという効果を奏することができる。
前記実施形態において、トリガー信号Stとして、所定間隔で出力されるパルス信号が例示されているが、本発明はこれに限られず、任意の信号を利用可能である。例えば、任意の間隔でオン(ハイレベル)およびオフ(ローレベル)を切り替えられる1ビット信号を利用できる。
前記実施形態において、駆動制御部22は、波長リストLに従って波長指令値Vcを切り替えているが、本発明はこれに限られない。例えば、駆動制御部22は、トリガー信号Stが入力される毎に、予め設定された波長ずつ波長指令値Vcを段階的に増加または減少させてもよい。
前記実施形態の波長指令値Vcは、分光フィルター5のギャップGにおける静電容量の値であるが、本発明はこれに限定されない。例えば、本発明の波長指令値は、静電アクチュエーター56に印加される駆動電圧Vの値であってもよいし、測定を行う波長の値であってもよい。
具体的には、本発明の波長指令値が駆動電圧Vの値である場合、前記実施形態のようなフィードバック制御を行わずともよい。また、本発明の波長指令値が波長の値である場合、駆動制御部22が波長の値から分光フィルター5のギャップGにおける静電容量の値を計算(変換)して、当該値を駆動回路23に送ってもよい。
例えば、本発明の分光フィルターにおいて、特開2017-187799号公報などに記載された2電極駆動を行う場合、波長リストLは、駆動電圧Vに加算されるバイアス電圧を含んでいてもよい。
また、波長リストLは、フィードバック制御の応答性を調節するパラメーター(具体的にはPID制御のP、I、Dの数値)を含んでいてもよい。
また、波長リストLは、制御には利用しないが、ユーザーに対して表示する値として、波長の値を含んでいてもよい。
前記実施形態において、駆動制御部22は、トリガー信号Stが立ち下がるタイミングを波長切替タイミングとして検出し、この波長切替タイミングで波長指令値Vcを切り替えているが、本発明はこれに限られない。
例えば、駆動制御部22は、図8に示すように、トリガー信号Stが立ち上がるタイミングを波長切替タイミングとして検出し、この波長切替タイミングで波長指令値Vcを切り替えてもよい。このような例においても、駆動制御部22は、トリガー信号Stが入力される毎に波長指令値Vcを切り替えることになる。
また、図8に示す例において、受光制御部32は、トリガー信号Stが立ち下がるタイミングを信号取込タイミングとして検出することが好ましい。これにより、トリガー信号Stの立ち上がりから立ち下がりまでの時間分、分光フィルター5の透過波長が変更されて安定することを待つことができる。
前記実施形態において、駆動制御部22は、波長リストLの最後の波長指令値Vc(n)を出力した後に波長切替処理を終了しているが、波長リストLの最初の波長指令値Vc(1)に戻って、波長切替処理を繰り返してもよい。
前記実施形態では、分光フィルター5として、所望の波長の光を透過させる透過型分光フィルターを例示しているが、所望の波長の光を反射させる反射型分光フィルターであってもよい。すなわち、前記実施形態における分光フィルター5の透過波長とは、反射型分光フィルターの反射波長であってもよい。
Claims (4)
- 入力される駆動電圧に応じた波長の光を入射光から分光して出力する分光フィルターと、
入力される波長指令値に基づいて前記駆動電圧を出力する駆動部と、
前記波長指令値を出力し、外部から同一の信号線を介したトリガー信号が入力される毎に前記波長指令値を変更する駆動制御部と、
を備えることを特徴とする分光フィルターモジュール。 - 請求項1に記載の分光フィルターモジュールにおいて、
複数の前記波長指令値を一覧にした波長リストを記憶する記憶部をさらに備え、
前記駆動制御部は、前記波長リストから選択した前記波長指令値を出力し、前記トリガー信号が入力される毎に選択する前記波長指令値を切り替えることを特徴とする分光フィルターモジュール。 - 請求項1または請求項2に記載の分光フィルターモジュールと、
前記分光フィルターから分光された光を受光して当該光の強度に応じた受光信号を出力する受光部と、
前記トリガー信号を出力すると共に、前記トリガー信号の出力タイミングに応じて前記受光信号を取り込む受光制御部と、を備えることを特徴とする分光カメラ。 - 請求項1または請求項2に記載の分光フィルターモジュールと、
前記トリガー信号を出力するトリガー信号出力部と、を備えることを特徴とする電子機器。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002243937A (ja) | 2001-02-14 | 2002-08-28 | Seiko Epson Corp | 干渉フィルタの製造手段、干渉フィルタ、波長可変干渉フィルタ製造手段、波長可変干渉フィルタ、及び、波長選択フィルタ |
JP2011150108A (ja) | 2010-01-21 | 2011-08-04 | Seiko Epson Corp | 光フィルター、特性測定方法、分析機器、および光機器 |
JP2013222122A (ja) | 2012-04-18 | 2013-10-28 | Seiko Epson Corp | 波長可変干渉フィルター、光学フィルターデバイス、光学モジュール、及び電子機器 |
CN103675977A (zh) | 2012-09-12 | 2014-03-26 | 精工爱普生株式会社 | 光学模块、电子设备以及驱动方法 |
US20170146404A1 (en) | 2015-11-24 | 2017-05-25 | Oxford Instruments Analytical Oy | Portable Analyzer Using Optical Emission Spectroscopy |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH102796A (ja) * | 1996-06-13 | 1998-01-06 | Ando Electric Co Ltd | 光スペクトラムアナライザ |
JP2001183232A (ja) | 1999-12-27 | 2001-07-06 | Shimadzu Corp | 分光測定システム |
JP2010112809A (ja) * | 2008-11-06 | 2010-05-20 | Shimadzu Corp | 分光蛍光光度計 |
JP2013238755A (ja) * | 2012-05-16 | 2013-11-28 | Seiko Epson Corp | 光学モジュール、電子機器、食物分析装置、分光カメラ、及び波長可変干渉フィルターの駆動方法 |
JP6064468B2 (ja) | 2012-09-12 | 2017-01-25 | セイコーエプソン株式会社 | 光学モジュール及び電子機器 |
JP6014432B2 (ja) | 2012-09-14 | 2016-10-25 | 東急建設株式会社 | 特定物質検出方法 |
JP2014164068A (ja) * | 2013-02-25 | 2014-09-08 | Seiko Epson Corp | 波長可変干渉フィルター、光学フィルターデバイス、光学モジュール、および電子機器 |
JP6136356B2 (ja) * | 2013-02-25 | 2017-05-31 | セイコーエプソン株式会社 | 測定装置 |
JP6311307B2 (ja) * | 2013-12-27 | 2018-04-18 | セイコーエプソン株式会社 | 光学モジュール、電子機器、及び光学モジュールの駆動方法 |
JP6337467B2 (ja) * | 2013-12-27 | 2018-06-06 | セイコーエプソン株式会社 | 光学モジュール、電子機器、及び光学モジュールの駆動方法 |
JP6244945B2 (ja) * | 2014-01-29 | 2017-12-13 | セイコーエプソン株式会社 | 電子機器 |
JP6492532B2 (ja) * | 2014-10-27 | 2019-04-03 | セイコーエプソン株式会社 | 光学モジュール、電子機器、及び光学モジュールの駆動方法 |
JP6897226B2 (ja) * | 2017-03-28 | 2021-06-30 | セイコーエプソン株式会社 | 光学モジュール及び光学モジュールの駆動方法 |
JP2017187799A (ja) | 2017-06-27 | 2017-10-12 | セイコーエプソン株式会社 | 光フィルターの駆動方法 |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002243937A (ja) | 2001-02-14 | 2002-08-28 | Seiko Epson Corp | 干渉フィルタの製造手段、干渉フィルタ、波長可変干渉フィルタ製造手段、波長可変干渉フィルタ、及び、波長選択フィルタ |
JP2011150108A (ja) | 2010-01-21 | 2011-08-04 | Seiko Epson Corp | 光フィルター、特性測定方法、分析機器、および光機器 |
JP2013222122A (ja) | 2012-04-18 | 2013-10-28 | Seiko Epson Corp | 波長可変干渉フィルター、光学フィルターデバイス、光学モジュール、及び電子機器 |
CN103675977A (zh) | 2012-09-12 | 2014-03-26 | 精工爱普生株式会社 | 光学模块、电子设备以及驱动方法 |
JP2014056073A (ja) | 2012-09-12 | 2014-03-27 | Seiko Epson Corp | 光学モジュール、電子機器、及び駆動方法 |
US20170146404A1 (en) | 2015-11-24 | 2017-05-25 | Oxford Instruments Analytical Oy | Portable Analyzer Using Optical Emission Spectroscopy |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2020101602A (ja) | 2020-07-02 |
US11530949B2 (en) | 2022-12-20 |
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CN111352283B (zh) | 2023-08-11 |
US20200200607A1 (en) | 2020-06-25 |
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