JP7230787B2 - 障害物検出装置 - Google Patents

Description

本発明は、障害物検出装置に関する。

産業車両には、産業車両の進行の妨げとなる障害物を検出するための障害物検出装置が搭載される場合がある。障害物検出装置としては、例えば、センサの検出結果から物体の一部を表す点の３次元座標を導出し、点の集合である点群を物体として抽出するものが挙げられる。センサとしては、ステレオカメラ、LIDAR、ミリ波レーダー等の３次元座標の導出が可能なものが用いられる。この種の障害物検出装置では、路面が物体として抽出される場合があり、抽出された物体が路面か障害物かを区別する必要がある。

特許文献１に記載の障害物検出装置は、距離画像の画素を３次元座標に変換する変換部と、距離画像の画素から３点を抽出して面法線ベクトルを導出する面法線ベクトル導出部と、を備える。面法線ベクトル導出部により、３点で表される局所面の面法線ベクトルを導出することができる。局所面が路面であれば、路面の面法線ベクトルと局所面の面法線ベクトルとのなす角が閾値未満となるため、局所面の面法線ベクトルから障害物と路面とを区別することができる。

国際公開第２０１３／０３５６１２号

特許文献１では、雨や小石等、産業車両の進行の妨げとなりにくい物体であっても障害物として検出されるおそれがある。また、面法線ベクトルの導出を行っているため、障害物検出装置の処理負荷が大きい。処理負荷が大きいと、障害物の検出に要する時間が長くなったり、障害物検出装置の処理能力を向上させるためのコストが増加する。

本発明の目的は、産業車両の進行の妨げとなりにくい物体が障害物として検出されることを抑制でき、かつ、処理負荷を軽減することができる障害物検出装置を提供することにある。

上記課題を解決する障害物検出装置は、産業車両に搭載され、前記産業車両の進行の妨げとなる障害物を検出する障害物検出装置であって、前記産業車両の車幅方向に延びる軸をＸ軸、前記Ｘ軸に直交する軸であって前記産業車両が位置している路面に沿う軸をＹ軸、前記Ｘ軸及び前記Ｙ軸に直交する軸をＺ軸とする座標系において、物体の一部を表す点の座標を取得する座標取得部と、前記座標取得部により取得された前記点から一部の前記点を間引くダウンサンプリングを行うダウンサンプリング部と、前記ダウンサンプリングが行われた後に残った前記点毎に面法線ベクトルを導出する面法線ベクトル導出部と、前記Ｘ軸及び前記Ｙ軸で表されるＸＹ平面に対する前記面法線ベクトルの角度が第１閾値未満となる前記点を集合させた点群であって、前記点の数が第２閾値以上の前記点群を前記障害物として抽出する障害物抽出部と、を備える。

ＸＹ平面は、産業車両の位置している路面と平行な平面である。従って、ＸＹ平面に対する面法線ベクトルの角度は、路面に対する面法線ベクトルの角度を表しているといえる。物体の一部を表す点の面法線ベクトルは、点の周囲の局所的な平面に対して垂直となる方向に延びるベクトルである。従って、点が路面とは異なる物体の一部を表している場合、ＸＹ平面に対する面法線ベクトルの角度は第１閾値未満となる。ＸＹ平面に対する面法線ベクトルの角度が第１閾値未満の点を集合させた点群は路面とは異なる物体といえる。面法線ベクトルを用いることで、路面とは異なる物体を抽出することができる。面法線ベクトルの導出は、ダウンサンプリングが行われた後の点毎に行われるため、ダウンサンプリングを行わない場合に比べて、障害物検出装置の処理負荷を軽減することができる。障害物検出装置は、ＸＹ平面に対する面法線ベクトルの角度が第１閾値未満の点を集合させた点群のうち点の数が第２閾値以上の点群を障害物として抽出する。点の数が少ない点群ほど小さい物体であり、進行の妨げとはなりにくい。第２閾値を設定し、点の数が第２閾値未満の点群については障害物として扱わないことで、産業車両の進行の妨げとなりにくい物体が障害物として検出されることを抑制できる。

上記障害物検出装置について、前記点のＺ座標に対して、前記点が前記路面よりも下方に位置しているか否かを判定するための閾値が設定されており、前記Ｚ座標が前記閾値未満となる前記点を除去する除去部を備えていてもよい。

本発明によれば、産業車両の進行の妨げとなりにくい物体が障害物として検出されることを抑制でき、かつ、処理負荷を軽減することができる障害物検出装置を提供することにある。

フォークリフトを示す概略側面図。 フォークリフトの概略構成図。 フォークリフトが用いられる環境の一例を示す図。 障害物検出装置が行う処理を示すフローチャート。 第２路面と、第２路面に存在する障害物を模式的に示す斜視図。 障害物の周辺にレーザーを照射した場合に得られる点を示す模式図。 ダウンサンプリングが行われた後に残る点を示す模式図。 面法線ベクトルを導出する手法を説明するための図。 第１閾値について説明するための図。

以下、障害物検出装置の一実施形態について説明する。
図１に示すように、産業車両としてのフォークリフト１０は、車体１１と、車体１１の前下部に配置された駆動輪１２と、車体１１の後下部に配置された操舵輪１３と、荷役装置１４と、を備える。荷役装置１４は、車体１１の前部に立設されたマスト１５と、マスト１５に固定されたリフトブラケット１６と、リフトブラケット１６に固定された一対のフォーク１７と、マスト１５を昇降動作させるリフトシリンダ１８と、マスト１５を傾動動作させるティルトシリンダ１９と、を備える。フォーク１７には、荷Ｗが積載される。リフトシリンダ１８及びティルトシリンダ１９は油圧シリンダである。フォークリフト１０としては、自動で動作するものであってもよいし、人による操作によって動作するものであってもよいし、自動での動作と人による操作での動作とを切り替えられるものであってもよい。

図２に示すように、フォークリフト１０は、駆動機構２１と、油圧機構２２と、制御装置２３と、を備える。駆動機構２１は、フォークリフト１０を走行動作させるための部材であり、駆動輪１２を駆動させるための走行用モータや、操舵輪１３を操舵させるための操舵機構を含む。油圧機構２２は、リフトシリンダ１８及びティルトシリンダ１９への作動油の給排を制御するための部材であり、ポンプを駆動させるための荷役モータや、コントロールバルブを含む。

制御装置２３は、ＣＰＵやＧＰＵ等のプロセッサ２４と、ＲＡＭ及びＲＯＭ等からなる記憶部２５と、を備える。記憶部２５には、フォークリフト１０を動作させるためのプログラムが記憶されている。記憶部２５は、処理をプロセッサ２４に実行させるように構成されたプログラムコードまたは指令を格納しているといえる。記憶部２５すなわちコンピュータ可読媒体は、汎用または専用のコンピュータでアクセスできるあらゆる利用可能な媒体を含む。制御装置２３は、ASIC：Application Specific Integrated CircuitやFPGA：Field Programmable Gate Array等のハードウェア回路によって構成されていてもよい。処理回路である制御装置２３は、コンピュータプログラムに従って動作する１つ以上のプロセッサ、ASICやFPGA等の１つ以上のハードウェア回路、或いは、それらの組み合わせを含み得る。

フォークリフト１０には、障害物検出装置３１が搭載されている。障害物検出装置３１は、フォークリフト１０の進行の妨げとなる障害物を検出する。障害物検出装置３１は、フォークリフト１０と検出した障害物との相対距離を導出することも可能である。障害物検出装置３１は、検出結果を制御装置２３に出力する。制御装置２３は、障害物検出装置３１の検出結果に応じた制御を行う。例えば、制御装置２３は、フォークリフト１０と障害物との相対距離が予め定められた所定距離未満になると、駆動機構２１を制御することで車速制限を課すようにしてもよい。制御装置２３は、フォークリフト１０と障害物との相対距離が予め定められた所定距離未満になると、警報を行うようにしてもよい。

障害物検出装置３１は、センサ３０の検出結果から障害物を検出するものである。センサ３０としては、３次元計測を行うことができるものが用いられる。３次元計測とは、実空間を表す３次元の座標系における物体の座標を導出することである。本実施形態では、センサ３０としてLIDAR：Laser Imaging Detection and Rangingを用いている。LIDARは、レーザーを周辺に照射し、レーザーが当たった点から反射された反射光を受光することで周辺環境を認識可能な距離計である。LIDARは水平方向及び鉛直方向への照射角度を変更しながらレーザーを照射する３次元の距離計である。

センサ３０としては、フォーク１７に荷Ｗが積載されている場合であっても、荷Ｗによってレーザーが遮られない位置に設けられることが好ましい。センサ３０としては、マスト１５とともに昇降及び傾動しない位置に設けられることが好ましい。本実施形態において、センサ３０は、フォークリフト１０の前部に取り付けられている。

センサ３０は、レーザーの照射角度、及びレーザーの照射から反射光の受光までに要した時間から、レーザーが当たった点までの距離を照射角度に対応付けて導出できる。言い換えれば、センサ３０は、センサ３０を原点とする実空間上の座標系において、レーザーが当たった点の座標を導出することができる。座標系は、フォークリフト１０の車幅方向に延びる軸をＸ軸、Ｘ軸に直交する軸であってフォークリフト１０が位置している路面に沿う軸をＹ軸、Ｘ軸及びＹ軸に直交する軸をＺ軸とする３軸直交座標系である。Ｘ軸及びＹ軸で表されるＸＹ平面は、フォークリフト１０が位置している路面と平行な面といえる。図中、Ｘ軸を矢印Ｘ、Ｙ軸を矢印Ｙ、Ｚ軸を矢印Ｚで示している。

障害物検出装置３１は、ＣＰＵやＧＰＵ等のプロセッサ３２と、ＲＡＭ及びＲＯＭ等からなる記憶部３３と、を備える。記憶部３３には、障害物を検出するためのプログラムが記憶されている。記憶部３３は、処理をプロセッサ３２に実行させるように構成されたプログラムコードまたは指令を格納しているといえる。記憶部３３すなわちコンピュータ可読媒体は、汎用または専用のコンピュータでアクセスできるあらゆる利用可能な媒体を含む。障害物検出装置３１は、ASIC：Application Specific Integrated CircuitやFPGA：Field Programmable Gate Array等のハードウェア回路によって構成されていてもよい。処理回路である障害物検出装置３１は、コンピュータプログラムに従って動作する１つ以上のプロセッサ、ASICやFPGA等の１つ以上のハードウェア回路、或いは、それらの組み合わせを含み得る。

本実施形態の作用について、障害物検出装置３１が行う処理とともに説明を行う。本実施形態では、一例として、図３に示す環境でフォークリフト１０が用いられている場合について説明する。フォークリフト１０の用いられる環境は、工場、商業施設、港湾等である。図３に示すように、フォークリフト１０が用いられる環境では、路面として第１路面Ｒ１及び第２路面Ｒ２が存在する。第１路面Ｒ１と第２路面Ｒ２では水平面に対する傾斜角度が異なる。フォークリフト１０は第１路面Ｒ１から第２路面Ｒ２に向けて進行している。第２路面Ｒ２には、フォークリフト１０の進行の妨げとなる障害物Ｏが存在している。

図４に示すように、ステップＳ１において、障害物検出装置３１は、センサ３０から検出結果を取得する。図５に示すように、障害物Ｏの周辺にレーザーが照射されたとする。この場合、障害物検出装置３１は、図６に示すように、レーザーが当たった点Ｐの座標を得ることができる。図６では、説明の便宜上、第２路面Ｒ２にレーザーが当たった点ＰＲと、障害物Ｏにレーザーが当たった点ＰＯとを区別して図示している。図示は省略しているが、第１路面Ｒ１にもレーザーは照射されており、第１路面Ｒ１にレーザーが当たった点Ｐの座標も障害物検出装置３１に取得される。ステップＳ１の処理を行うことで、障害物検出装置３１は座標取得部を備えているといえる。

図４に示すように、ステップＳ２において、障害物検出装置３１は、ステップＳ１で取得された点Ｐから一部の点Ｐを間引くダウンサンプリングを行う。障害物検出装置３１は、予め定められた規則に従って点Ｐを間引く。予め定められた規則は、任意に設定することができる。例えば、障害物検出装置３１は、Ｘ軸の延びる方向に隣り合う点Ｐの間隔が予め定められた間隔以上になるように点Ｐを間引いてもよいし、所定の数毎に点Ｐを間引いてもよい。ダウンサンプリングは、ダウンサンプリングが行われた後に残る点Ｐが、レーザーの照射された範囲の全体に亘って分散するように行われることが好ましい。即ち、レーザーが照射された範囲のうち一部に偏って点Ｐが存在しないように点Ｐが間引かれることが好ましい。ステップＳ２の処理を行うことで、障害物検出装置３１はダウンサンプリング部を備えているといえる。

次に、ステップＳ３において、障害物検出装置３１は、ステップＳ２でダウンサンプリングが行われた後に残った点Ｐ毎に面法線ベクトルを導出する。言い換えれば、ステップＳ２で間引かれなかった点Ｐ毎に面法線ベクトルが導出される。図６に示す点Ｐに対してダウンサンプリングを行い、図７に示す点Ｐが残ったとすると、図７に示す点Ｐ毎に面法線ベクトルは導出されるといえる。面法線ベクトルの導出は、ベクトルの外積を用いて導出する手法や、点Ｐを通る平面の方程式を導出する手法等、どのような手法を用いて行われてもよい。面法線ベクトルは、複数の点Ｐに囲まれる平面に対して垂直な方向に向けたベクトルである。面法線ベクトルの導出は、面法線ベクトルを導出する対象となる点Ｐを含む少なくとも３つの点Ｐを用いて行われる。障害物検出装置３１は、面法線ベクトルを導出する対象となる点Ｐと、この点Ｐから所定範囲内に位置する２つ以上の点Ｐとを用いて面法線ベクトルを導出する。点Ｐ同士が過剰に離れた点Ｐを用いて面法線ベクトルを導出すると、点Ｐ同士に囲まれる領域内で平面の傾斜が変化しているおそれがあり、導出される面法線ベクトルの精度が低下するおそれがある。このため、点Ｐ同士に囲まれる領域内で平面の傾斜が変化している場合であっても、導出される面法線ベクトルの精度に与える影響が許容範囲に収まるように所定範囲を設定している。障害物検出装置３１は、面法線ベクトルを導出する対象となる点Ｐから所定範囲内に２つ以上の点Ｐが存在する場合には、面法線ベクトルを導出する対象となる点Ｐについて面法線ベクトルを導出する。一方で、障害物検出装置３１は、面法線ベクトルを導出する対象となる点Ｐから所定範囲内に２つ以上の点Ｐが存在しない場合には、当該面法線ベクトルを導出する対象となる点Ｐについては面法線ベクトルを導出しない。面法線ベクトルを導出できなかった点Ｐについては、障害物Ｏを表す点Ｐではないとして扱う。

一例として、ベクトルの外積を用いて面法線ベクトルを導出する手法について説明する。
図８に示すように、面法線ベクトルを導出する対象となる点Ｐ１の所定範囲には、点Ｐ２と点Ｐ３が存在している。点Ｐ１から点Ｐ２に向かうベクトルを（１）式、点Ｐ１から点Ｐ３に向かうベクトルを（２）式とすると、面法線ベクトルは（３）式から導出することができる。即ち、点Ｐ１から点Ｐ２に向かうベクトルと点Ｐ１から点Ｐ３に向かうベクトルの外積が面法線ベクトルとなる。ステップＳ３の処理を行うことで、障害物検出装置３１は、面法線ベクトル導出部を備えているといえる。

図４に示すように、ステップＳ４において、障害物検出装置３１は、障害物Ｏの一部を表す点Ｐの候補である候補点を抽出する。候補点の抽出は、Ｘ軸及びＹ軸で表されるＸＹ平面に対する面法線ベクトルの角度が予め定められた第１閾値未満となるか否かを判定することで行われる。障害物検出装置３１は、点Ｐ毎にＸＹ平面に対する面法線ベクトルの角度が第１閾値未満か否かを判定する。障害物検出装置３１は、ＸＹ平面に対する面法線ベクトルの角度が予め定められた第１閾値未満となる点Ｐを候補点として抽出する。言い換えれば、障害物検出装置３１は、ＸＹ平面に対する面法線ベクトルの角度が予め定められた第１閾値以上となる点Ｐは、障害物Ｏとは異なる物体の一部を表す点Ｐと判定する。第１閾値は、点Ｐが障害物Ｏの一部を表す点Ｐか、路面Ｒ１，Ｒ２の一部を表す点Ｐかを判別するための閾値である。ＸＹ平面は、フォークリフト１０が位置している路面である第１路面Ｒ１と平行な平面である。従って、ＸＹ平面に対する面法線ベクトルの角度は、フォークリフト１０が位置している第１路面Ｒ１に対する面法線ベクトルの角度といえる。なお、本実施形態において、ＸＹ平面に対する面法線ベクトルの角度とは、Ｙ軸と面法線ベクトルとがなす角の角度である。

図９に実線で示すように、面法線ベクトルは、各点Ｐの周囲の局所的な平面に対して垂直となる方向に延びるベクトルなので、点Ｐが第１路面Ｒ１の一部を表す点Ｐであれば、ＸＹ平面に対する当該点Ｐの面法線ベクトルの角度θは９０°となる。第１路面Ｒ１と第２路面Ｒ２では傾斜角度が異なっており、第１路面Ｒ１にフォークリフト１０が位置している場合、第２路面Ｒ２の一部を表す点Ｐの面法線ベクトルは、ＸＹ平面に対して垂直とならない。第２路面Ｒ２の一部を表す点Ｐの面法線ベクトルは、ＸＹ平面に対して９０°未満の角度となる。一般に、水平面に対する路面の傾斜角度は１０°未満に収まると考えられる。また、フォークリフト１０の用いられる環境は、工場、港湾、商業施設などの限られた環境である。このような環境では、水平面に対する路面の傾斜角度は更に低い値に収まると考えられる。第１閾値としては、フォークリフト１０が位置している第１路面Ｒ１とは傾斜角度の異なる第２路面Ｒ２が存在している場合であっても、第２路面Ｒ２を障害物Ｏとして検出しないような値に設定されている。また、路面Ｒ１，Ｒ２に障害物Ｏが存在している場合、障害物Ｏの一部は路面Ｒ１，Ｒ２から鉛直方向上方に向けて立ち上がるように位置する。例えば、図５に示した障害物Ｏのように、障害物Ｏが直方体とすると、障害物Ｏの側面は路面Ｒ１，Ｒ２から鉛直方向上方に向けて立ち上がるように位置する。路面Ｒ１，Ｒ２に障害物Ｏが位置している場合に、当該障害物Ｏの局所的な平面を想定すると、障害物Ｏは路面Ｒ１，Ｒ２との傾斜が大きく異なる局所的な平面を側面に備えているといえる。路面Ｒ１，Ｒ２との傾斜が大きく異なる平面では、面法線ベクトルの傾きが路面Ｒ１，Ｒ２の傾斜角度に近くなる。図９に一点鎖線で示すように、路面Ｒ１，Ｒ２に障害物Ｏが存在している場合、ＸＹ平面に対する角度θが小さくなる面法線ベクトルが導出されるといえる。このような要素に基づき、第１閾値としては、例えば、１５°～６０°の範囲で任意に設定することができる。

図７に示す例では、点ＰＲが第２路面Ｒ２、点ＰＯが障害物Ｏの一部を表している。従って、点ＰＲの面法線ベクトルは、ＸＹ平面に対する角度が第１閾値以上となる。また、点ＰＯの一部については、ＸＹ平面に対する面法線ベクトルの角度が第１閾値未満になる。障害物Ｏは、局所的な平面の傾斜角度と第１路面Ｒ１の傾斜角度との差が大きい部分と、局所的な平面の傾斜角度と第１路面Ｒ１の傾斜角度との差が小さい部分とを備える。図５に示す例では、障害物Ｏの上面は、第１路面Ｒ１の傾斜角度との差が小さく、上面にレーザーが当たることで得られる点ＰＯの面法線ベクトルはＸＹ平面に対する角度が第１閾値以上となる。一方で、障害物Ｏの側面にレーザーが当たることで得られる点ＰＯの面法線ベクトルはＸＹ平面に対する角度が第１閾値未満となる。従って、点ＰＯの一部が候補点として抽出される。

図４に示すように、ステップＳ５において、障害物検出装置３１は、Ｚ座標が閾値未満の点Ｐを除去する。閾値は、点ＰのＺ座標に対して設定された閾値であって、点Ｐが路面Ｒ１，Ｒ２よりも下方に位置しているか否かを判定するための閾値である。障害物検出装置３１は点Ｐ毎にＺ座標が閾値未満か否かを判定する。本実施形態では、ステップＳ４で候補点と判定された点Ｐに対して、Ｚ座標が閾値未満か否かを判定する。路面Ｒ１，Ｒ２に水溜まりが存在している場合等、路面Ｒ１，Ｒ２にレーザーを正反射する鏡面が存在している場合、レーザーの正反射により点Ｐの座標を正しく検出できない場合がある。詳細にいえば、センサ３０から照射されたレーザーが鏡面に照射されると、鏡面で正反射されたレーザーが更に他の部材によって反射された反射光をセンサ３０は受光することになる。結果として、レーザーが鏡面に照射されると、鏡面におけるレーザーが当たった点Ｐよりも遠方の座標が検出されることになる。この場合、鏡面に照射されたレーザーによって得られる点Ｐの座標のうちＺ座標は、路面Ｒ１，Ｒ２よりも鉛直方向下方の座標となる。この点Ｐを用いて障害物Ｏを検出すると、障害物Ｏが存在していないにも関わらず障害物Ｏが存在していると判定されるおそれがあるため、レーザーが鏡面に照射されることで得られた点Ｐについては除去を行う。除去とは、除去された点Ｐについては、障害物Ｏを検出するための処理に用いないことを意味する。

路面Ｒ１，Ｒ２からセンサ３０までのＺ軸の延びる方向に対する距離は既知の値である。即ち、センサ３０を原点とした場合の路面Ｒ１，Ｒ２のＺ座標は予め把握することができる。検出誤差を加味した上で、路面Ｒ１，Ｒ２のＺ座標よりも若干低いＺ座標を閾値として設定することで、鏡面に照射されたレーザーによって得られた点Ｐを除去することができる。ステップＳ６の処理を行うことで、障害物検出装置３１は除去部を備えているといえる。

次に、ステップＳ６において、障害物検出装置３１は、点Ｐを用いて物体の抽出を行う。点Ｐは、物体の表面の一部を表したものである。このため、点Ｐの集合である点群を１つの物体として扱うことができる。障害物検出装置３１は、互いに離散した複数の点Ｐを１つの点群としてクラスタ化することで、物体を抽出することができる。本実施形態では、面法線ベクトルが第１閾値以上の点Ｐを除いた候補点のうちＺ座標が閾値以上の点Ｐを用いて物体が抽出される。

次に、ステップＳ７において、障害物検出装置３１は、フィルタリングを行う。フィルタリングとは、物体のサイズが過剰に小さいものを除去することで、物体のうちフォークリフト１０の進行の妨げとなり得る障害物Ｏを抽出することである。障害物検出装置３１は、点群を構成する点Ｐの数が第２閾値未満の点群は障害物Ｏではないと判定する。第２閾値としては、障害物Ｏとして検出したい物体の大きさに応じて、ユーザーが任意に設定することができる。例えば、小石や雨を障害物Ｏとして検出したくない場合、小石や雨の大きさを想定した上で、小石や雨にレーザーが当たった場合の点Ｐの数を想定して第２閾値を設定する。本実施形態では、ダウンサンプリングを行っているため、小石や雨にレーザーが当たった場合の点Ｐの数を想定し、更に、この点Ｐの数に対してダウンサンプリングを行ったときに残る点Ｐの数を想定した第２閾値を設定する。障害物検出装置３１は、点群を構成する点Ｐの数が第２閾値以上のものを障害物Ｏであると判定する。ステップＳ４～ステップＳ７の処理を行うことで、障害物検出装置３１は障害物抽出部を備えているといえる。

上記したように、障害物検出装置３１は、面法線ベクトルが第１閾値未満の点Ｐを障害物Ｏの一部を表す候補点として抽出し、候補点による点群を物体として抽出している。そして、障害物検出装置３１は、点Ｐの数が第２閾値以上の点群を障害物Ｏであると判定している。障害物検出装置３１は、ＸＹ平面に対する面法線ベクトルの角度が予め定められた第１閾値未満となる点Ｐを集合させた点群であって、点Ｐの数が第２閾値以上の点群を障害物Ｏとして抽出しているといえる。座標取得部、ダウンサンプリング部、面法線ベクトル導出部、除去部、及び障害物抽出部は、障害物検出装置３１のプロセッサ３２が予め定められた動作をすることで機能する機能要素といえる。

本実施形態の効果について説明する。
（１）障害物検出装置３１は、センサ３０の検出結果から得られた点Ｐを間引くダウンサンプリングを行い、ダウンサンプリングを行った後に残った点Ｐの面法線ベクトルを導出している。点Ｐは、物体においてレーザーが当たった部位の座標を示しており、物体の一部を表しているといえる。点Ｐの面法線ベクトルは、複数の点Ｐに囲まれる平面に対して垂直となる方向に延びるベクトルであり、点Ｐの周囲の局所的な平面に対して垂直となる方向に延びるベクトルといえる。点Ｐが路面Ｒ１，Ｒ２とは異なる物体の一部を表している場合、ＸＹ平面に対する面法線ベクトルは第１閾値未満となる。第１閾値未満の点Ｐを集合させた点群は路面Ｒ１，Ｒ２とは異なる物体といえる。面法線ベクトルを用いることで、路面Ｒ１，Ｒ２とは異なる物体を抽出することができる。面法線ベクトルは、ダウンサンプリングが行われた後の点Ｐ毎に行われるため、ダウンサンプリングを行わない場合に比べて、障害物検出装置３１の処理負荷を軽減することができる。障害物検出装置３１は、第１閾値未満の点Ｐを集合させた点群のうち点Ｐの数が第２閾値以上の点群を障害物Ｏとして抽出する。点Ｐの数が少ない点群ほど、小さい物体であり、進行の妨げとはなりにくい。第２閾値を設定し、点Ｐの数が第２閾値未満の点群については障害物Ｏとして扱わないことで、フォークリフト１０の進行の妨げとなりにくい物体が障害物Ｏとして検出されることを抑制できる。

（２）障害物検出装置３１は、点ＰのうちＺ座標が閾値未満のものを除去している。路面Ｒ１，Ｒ２にレーザーを正反射する鏡面が存在している場合、レーザーの正反射により点Ｐの座標を正しく検出できない場合がある。Ｚ座標が閾値未満となる点Ｐを除去することで、鏡面にレーザーが照射されることで得られた点Ｐを除去することができる。従って、路面Ｒ１，Ｒ２に鏡面が存在している場合に、障害物Ｏが存在しないにも関わらず障害物Ｏが誤検出されることが抑制される。

実施形態は、以下のように変更して実施することができる。実施形態及び以下の変形例は、技術的に矛盾しない範囲で互いに組み合わせて実施することができる。
○センサ３０としては、ステレオカメラ、ToF:Time of Flightカメラ、ミリ波レーダー等を用いてもよい。ステレオカメラは、互いに離間して配置された２つのカメラを備え、両カメラによって撮像された画像に写る同一物体の画素差を用いて物体の座標を導出するためのものである。TOFカメラは、カメラと、光を照射する光源と、を備え、光源から照射された光の反射光を受光するまでの時間からカメラによって撮像された画像の画素毎に奥行き方向の距離を導出するものである。ステレオカメラやToFカメラを用いる場合、物体の一部を表す点とは、画素となる。ミリ波レーダーとは、所定の周波数帯域の電波を周囲に照射することで周辺環境を認識可能なセンサである。ミリ波レーダーを用いる場合、物体の一部を表す点とは、電波が当たった点となる。即ち、物体の一部を表す点とは、センサによって実空間上の座標系における座標を検出できる点といえる。センサとしては、LIDARとステレオカメラ等、複数のセンサを組み合わせたものであってもよい。

○障害物検出装置３１は、Ｚ座標が閾値未満の点Ｐを除去しなくてもよい。この場合、フォークリフト１０を屋内で用いる等、路面Ｒ１，Ｒ２に鏡面が存在しない環境でフォークリフト１０を用いることが好ましい。また、センサ３０として、ミリ波レーダー等、鏡面を原因とする座標の誤差が生じにくいものを用いることで、路面Ｒ１，Ｒ２に鏡面が存在している場合であっても、障害物の誤検出を抑制することができる。

○障害物検出装置３１は、ダウンサンプリングを行う前に、Ｚ座標が閾値未満の点Ｐの除去を行ってもよい。
○障害物検出装置３１は、ダウンサンプリングを行う前にフィルタリングを行ってもよい。障害物検出装置３１は、検出結果から取得した点Ｐを集合させた点群の数から、物体が障害物Ｏか否かを判定する。この場合、第２閾値としては、ダウンサンプリングを行った後にフィルタリングを行う場合に比べて、大きい値が用いられる。

○座標取得部、ダウンサンプリング部、面法線ベクトル導出部、除去部、及び障害物抽出部は、それぞれ、個別の装置であってもよい。
○産業車両としては、港湾で用いられ、主としてコンテナを搬送する無人搬送車や、トーイングトラクタ等でもよい。

Ｏ…障害物、Ｐ…点、Ｒ１…第１路面、Ｒ２…第２路面、１０…産業車両としてのフォークリフト、３１…障害物検出装置。

Claims (2)

1. 産業車両に搭載され、前記産業車両の進行の妨げとなる障害物を検出する障害物検出装置であって、
   前記産業車両の車幅方向に延びる軸をＸ軸、前記Ｘ軸に直交する軸であって前記産業車両が位置している路面に沿う軸をＹ軸、前記Ｘ軸及び前記Ｙ軸に直交する軸をＺ軸とする座標系において、物体の一部を表す点の座標を取得する座標取得部と、
   前記座標取得部により取得された前記点から一部の前記点を間引くダウンサンプリングを行うダウンサンプリング部と、
   前記ダウンサンプリングが行われた後に残った前記点毎に面法線ベクトルを導出する面法線ベクトル導出部と、
   前記Ｘ軸及び前記Ｙ軸で表されるＸＹ平面に対する前記面法線ベクトルの角度が第１閾値未満となる前記点を集合させた点群であって、前記点の数が第２閾値以上の前記点群を前記障害物として抽出する障害物抽出部と、を備える障害物検出装置。
2. 前記点のＺ座標に対して、前記点が前記路面よりも下方に位置しているか否かを判定するための閾値が設定されており、
   前記Ｚ座標が前記閾値未満となる前記点を除去する除去部を備える請求項１に記載の障害物検出装置。

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