JP7223387B2 - Duty compensator - Google Patents
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Description
本発明は、クロックのデューティを補償するデューティ補償装置に関するものである。 The present invention relates to a duty compensator for compensating the duty of a clock.
一般にデジタル回路はクロックに同期して動作するように設計される。すなわち、デジタル回路は、クロックの立上り及び立下りの双方または何れか一方のタイミングにおいて新たな論理状態に遷移する。或いは、デジタル回路は、多相クロックを構成する各相のクロックの立上り又は立下りのタイミングにおいて新たな論理状態に遷移する。 Digital circuits are generally designed to operate in synchronization with a clock. That is, the digital circuit transitions to a new logic state at the rising and/or falling edges of the clock. Alternatively, the digital circuit transitions to a new logic state at the timing of the rise or fall of each phase clock that constitutes the multiphase clock.
デジタル回路において、クロックのデューティは適正範囲内にあることが重要である。単相クロックのデューティは、ハイレベルの時間tHと周期Tとの比(tH/T)で表される。二相クロックのデューティは、その二相クロックを構成する互いに相補的な二つのクロックのうち一方のハイレベルの時間と周期との比で表される。 In a digital circuit, it is important that the clock duty is within an appropriate range. The duty of the single-phase clock is represented by the ratio (t H /T) between the high level time t H and the period T. The duty of the two-phase clock is expressed by the ratio of the high level time of one of the two mutually complementary clocks forming the two-phase clock to the period.
もし、クロックのデューティが適正範囲から外れていると、デジタル回路が所望の動作をしない場合がある。例えば、パラレルデータをシリアルデータに変換して該シリアルデータを出力するシリアライザ装置において、シリアルデータの各ビットデータの出力タイミングを指示するクロックのデューティが0.5から大きく異なると、出力されるシリアルデータのうち奇数番目のビットのデータおよび偶数番目のビットのデータそれぞれの期間の長さが互いに大きく異なることになって、いわゆる Even/Oddジッタが発生する。このようなジッタが誤動作の要因となる場合がある。それ故、クロックのデューティは適正範囲内にあることが重要である。 If the duty of the clock is out of the proper range, the digital circuit may not operate as desired. For example, in a serializer device that converts parallel data into serial data and outputs the serial data, if the duty of the clock that indicates the output timing of each bit data of the serial data is greatly different from 0.5, the serial data that is output Of these, the period lengths of the odd-numbered bit data and the even-numbered bit data are greatly different from each other, resulting in so-called even/odd jitter. Such jitter may cause malfunction. Therefore, it is important that the clock duty is within the proper range.
クロックのデューティを補償する装置の発明が特許文献1~3に開示されている。これらの文献に記載されたデューティ補償装置は、クロックのデューティを調整するデューティ調整部と、クロックのデューティを測定するデューティ測定部と、を備える。そして、デューティ補償装置は、デューティ測定部により測定されるクロックのデューティが適正範囲内になるように、デューティ調整部においてクロックのデューティを調整する。
しかし、従来のデューティ補償装置では、デューティ測定部により得られるデューティ測定値が真値から大きく異なる場合があり、それ故、デューティ調整部から出力されるクロックのデューティを適正範囲内にすることができない場合がある。 However, in the conventional duty compensator, the duty measurement value obtained by the duty measurement section may differ greatly from the true value, and therefore the duty of the clock output from the duty adjustment section cannot be kept within an appropriate range. Sometimes.
本発明は、上記問題点を解消する為になされたものであり、より正確にクロックのデューティを適正範囲内にすることができるデューティ補償装置を提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a duty compensator capable of more accurately setting the duty of a clock within an appropriate range.
本発明のデューティ補償装置は、(1) 入力されるクロックのデューティを制御コードに応じて調整して、当該調整後のクロックを出力するデューティ調整部と、(2) Nを3以上の整数とし、nを1~Nの各整数として、各期間Tnに亘って、クロックに対して非同期であって他の何れの期間における周波数とも異なる周波数のサンプリングクロックをサンプリングクロック生成部により生成し、サンプリングクロックが指示するタイミングにおいてデューティ調整部から出力されるクロックのレベルを検出して、そのレベル検出結果に基づいて該クロックのデューティを測定するデューティ測定部と、(3) デューティ調整部におけるデューティの調整を制御するための制御コードを出力し、各期間Tnにおいてデューティ測定部により測定されるデューティが所定範囲となる制御コードを求め、N個の期間T1~TNそれぞれにおいて求めた制御コードに基づいて、デューティ調整部へ与える制御コードを決定する制御部と、を備える。 The duty compensator of the present invention comprises (1) a duty adjustment unit that adjusts the duty of an input clock according to a control code and outputs the adjusted clock, and (2) N is an integer of 3 or more. , where n is an integer from 1 to N, over each period Tn , a sampling clock generating unit generates a sampling clock asynchronous to the clock and having a frequency different from the frequency in any other period, and performs sampling a duty measuring section that detects the level of the clock output from the duty adjusting section at the timing indicated by the clock and measures the duty of the clock based on the level detection result; and (3) adjustment of the duty in the duty adjusting section. to output a control code for controlling , obtain a control code in which the duty measured by the duty measuring unit in each period T n becomes a predetermined range, and use the control code obtained in each of the N periods T 1 to T N as and a control unit that determines a control code to be given to the duty adjustment unit based on the control code.
本発明において、制御部は、N個の期間T1~TNそれぞれにおいて求めた制御コードを昇順または降順に並べたときの最大値および最小値を除く何れかの制御コードを、デューティ調整部へ与える制御コードとして決定するのが好適である。また、制御部は、N個の期間T1~TNそれぞれにおいて求めた制御コードを昇順または降順に並べたときの中央値の制御コードを、デューティ調整部へ与える制御コードとして決定するのも好適である。 In the present invention, the control unit transmits any control code except the maximum value and the minimum value when the control codes obtained in each of the N periods T 1 to T N are arranged in ascending or descending order to the duty adjustment unit. It is preferable to determine it as the control code to be given. Also, it is preferable that the control unit determines the control code of the median when the control codes obtained in each of the N periods T 1 to T N are arranged in ascending order or descending order as the control code to be given to the duty adjustment unit. is.
本発明において、サンプリングクロック生成部は、複数の遅延セルがリング状に接続されたリングオシレータと、複数の遅延セルそれぞれに電流を供給する電流源と、を含み、電流源が供給する電流の量に応じた周波数のサンプリングクロックをリングオシレータにより生成して出力するのが好適である。 In the present invention, the sampling clock generator includes a ring oscillator in which a plurality of delay cells are connected in a ring, and a current source that supplies a current to each of the plurality of delay cells. It is preferable to generate and output a sampling clock having a frequency according to the ring oscillator.
本発明のデューティ補償装置は、より正確にクロックのデューティを適正範囲内にすることができる。 The duty compensator of the present invention can more accurately set the duty of the clock within the appropriate range.
以下、添付図面を参照して、本発明を実施するための形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。本発明は、これらの例示に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての調整が含まれることが意図される。 BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the description of the drawings, the same elements are denoted by the same reference numerals, and overlapping descriptions are omitted. The present invention is not limited to these examples, but is indicated by the scope of the claims, and is intended to include all adjustments within the meaning and scope of equivalents of the scope of the claims.
図1は、デューティ補償装置1の構成を示す図である。この図には、デューティ補償装置1の他に、シリアライザ装置2およびPLL回路3も示されている。PLL回路3は、基準クロックCLK0を入力し、シリアライザ装置2におけるシリアルデータ出力のタイミングを指示するためのクロックCLK1を基準クロックCLK0に基づいて生成して、このクロックCLK1を出力する。デューティ補償装置1は、PLL回路3とシリアライザ装置2との間に挿入されている。デューティ補償装置1は、PLL回路3から出力されたクロックCLK1を入力し、このクロックCLK1のデューティを調整して、そのデューティ調整後のクロックCLK2をシリアライザ装置2へ出力する。シリアライザ装置2は、入力されたパラレルデータPar_Dataをシリアライズして、シリアルデータSer_Dataを出力する。シリアライザ装置2は、シリアルデータSer_Dataを出力する際に、そのシリアルデータSer_Dataの各ビットデータをクロックCLK2に同期して出力する。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of the
デューティ補償装置1は、デューティ調整部10、デューティ測定部20および制御部30を備える。デューティ調整部10は、PLL回路3から出力されるクロックCLK1を入力するとともに、制御部30から出力される制御コードを入力する。デューティ調整部10は、制御コードに応じてクロックCLK1のデューティを調整して、当該調整後のクロックCLK2をシリアライザ装置2およびデューティ測定部20へ出力する。
The
デューティ測定部20は、デューティ調整部10から出力されるクロックCLK2を入力して、そのクロックCLK2のデューティを測定する。デューティ測定部20は、クロックCLK2に対して非同期であるサンプリングクロックを生成するサンプリングクロック生成部を含む。デューティ測定部20は、そのサンプリングクロックが指示するタイミングにおいてクロックCLK2のレベルを検出して、そのレベル検出結果に基づいて該クロックCLK2のデューティを測定する。
The
Nを3以上の整数とし、nを1~Nの各整数とする。第nの期間Tnに亘って、デューティ測定部20のサンプリングクロック生成部は、クロックCLK2に対して非同期である周波数fnのサンプリングクロックを生成する。各期間Tnに生成されるサンプリングクロックの周波数fnは、他の何れの期間に生成されるサンプリングクロックの周波数とも異なる。各期間Tnに、デューティ測定部20は、周波数fnのサンプリングクロックを用いて、クロックCLK2のデューティを測定する。
Let N be an integer of 3 or more, and let n be an integer of 1 to N. Over the n-th period Tn , the sampling clock generator of the
制御部30は、デューティ調整部10におけるデューティの調整を制御するための制御コードをデューティ調整部10へ出力する。制御部30は、デューティ測定部20の動作を制御するための制御信号をデューティ測定部20へ出力し、また、各期間Tnのデューティ測定部20による測定の結果を受け取る。制御部30は、各期間Tnにおいてデューティ測定部20により測定されるデューティが所定範囲となる制御コードを求め、N個の期間T1~TNそれぞれにおいて求めた制御コードに基づいて、デューティ調整部10へ与える制御コードを決定する。
図2は、デューティ調整部10の構成例を示す図である。デューティ調整部10は、互いに並列的に接続された複数のインバータ111~11Kを含む。各インバータ11kは、高電位側(Rise側)および低電位側(Fall側)それぞれが独立に制御可能であるトライステートインバータである。各インバータ11kは、制御部30から与えられる制御コードによってレベル反転動作が制御される。K個のインバータ111~11Kそれぞれにおけるレベル反転動作によって、入力されるクロックCLK1のデューティが調整されて、その調整後のクロックCLK2が出力される。Kは2以上の整数であり、kは1以上K以下の各整数である。
FIG. 2 is a diagram showing a configuration example of the
図3は、デューティ調整部10の各インバータ11kの回路例を示す図である。各インバータ11kは、PMOSトランジスタ12、PMOSトランジスタ13、NMOSトランジスタ14およびNMOSトランジスタ15が直列的に順に接続された構成を有する。PMOSトランジスタ12およびNMOSトランジスタ15それぞれのゲートにクロックCLK1が入力される。PMOSトランジスタ13のゲートに、制御コードに応じてオン/オフを設定するUP信号が入力される。NMOSトランジスタ14のゲートに、制御コードに応じてオン/オフを設定するDN信号が入力される。PMOSトランジスタ13およびNMOSトランジスタ14それぞれのドレインからクロックCLK2が出力される。
FIG. 3 is a diagram showing a circuit example of each inverter 11k of the
図4は、デューティ測定部20の構成例を示す図である。この図には、制御部30も示されている。デューティ測定部20は、サンプリングクロック生成部21、サンプラ22およびカウンタ23を含む。
FIG. 4 is a diagram showing a configuration example of the
サンプリングクロック生成部21は、制御部30から与えられる周波数制御信号に基づいて、第nの期間Tnに亘って周波数fnのサンプリングクロックAsyncCLKを生成し、そのサンプリングクロックAsyncCLKをサンプラ22およびカウンタ23へ出力する。
The sampling
サンプラ22は、デューティ調整部10から出力されるクロックCLK2を入力するとともに、サンプリングクロック生成部21から出力されるサンプリングクロックAsyncCLKを入力する。サンプラ22は、サンプリングクロックAsyncCLKが指示するタイミングでクロックCLK2のレベルをサンプリングしてホールドし、そのホールドしたレベル値をカウンタ23へ出力する。
The
カウンタ23は、サンプラ22から出力されるレベル値を入力するとともに、サンプリングクロック生成部21から出力されるサンプリングクロックAsyncCLKを入力する。カウンタ23は、サンプリングクロックAsyncCLKが指示するタイミングで、レベル値を積算していくことで、サンプラ22から出力されるレベル値が1である事象を計数する。カウンタ23は、制御部30から与えられるカウンタ制御信号に基づいて動作する。すなわち、カウンタ23は、各期間Tnの開始時に計数値を初期化し、各期間Tnの終了時の計数値を制御部30へ出力する。
The
期間Tnの終了時の計数値、期間Tnの時間、および、期間TnのサンプリングクロックAsyncCLKの周波数fnから、クロックCLK2のデューティを求めることができる。 The duty of the clock CLK2 can be obtained from the count value at the end of the period Tn , the time of the period Tn , and the frequency fn of the sampling clock AsyncCLK during the period Tn .
図5は、デューティ測定部20のサンプリングクロック生成部21の回路例を示す図である。サンプリングクロック生成部21は、複数の遅延セル2111~211Mがリング状に接続されたリングオシレータ210と、複数の遅延セル2111~211Mそれぞれに電流を供給する電流源212と、を含む。電流源212から各遅延セル211mに供給される電流の量は、制御部30から与えられる周波数制御信号により調整される。各遅延セル211mにおける遅延量は、電流源212から供給される電流の量に応じたものとなる。サンプリングクロック生成部21は、電流源212が供給する電流の量に応じた周波数のサンプリングクロックAsyncCLKをリングオシレータ210により生成して出力する。Mは2以上の整数であり、mは1以上M以下の各整数である。
FIG. 5 is a diagram showing a circuit example of the sampling
図6は、制御コードとクロックCLK2のデューティとの間の関係の一例を示すグラフである。横軸は制御コードであり、縦軸はクロックCLK2のデューティである。この図に示される例では、デューティ調整部10に与えられる制御コードの値が大きいほど、デューティ調整部10から出力されるクロックCLK2のデューティは大きい。クロックCLK2のデューティを0.5としたい場合には、制御コードを値5にすればよい。
FIG. 6 is a graph showing an example of the relationship between the control code and the duty of clock CLK2. The horizontal axis is the control code, and the vertical axis is the duty of the clock CLK2. In the example shown in this figure, the greater the value of the control code given to the
サンプリングクロックAsyncCLKの周波数は、クロックCLK2の周波数より高くでもよいが、クロックCLK2の周波数より低いのが好ましい。シリアライザ装置2から出力されるシリアルデータSer_Dataのビットレートを高くするには、シリアライザ装置2に入力されるクロックCLK2の周波数を高くすることが必要であり、このクロックCLK2の周波数より更にサンプリングクロックAsyncCLKの周波数を高くすることは消費電力および実装の点で問題がある。それ故、一般に、サンプリングクロックAsyncCLKの周波数は、クロックCLK2の周波数より低くする。
The frequency of sampling clock AsyncCLK may be higher than that of clock CLK2, but preferably lower than that of clock CLK2. In order to increase the bit rate of the serial data Ser_Data output from the
サンプリングクロックAsyncCLKによるクロックCLK2の1周期当たりのレベルのサンプリング数(エッジ密度)は、次のようにして計算することができる。クロックCLK2の周期をPtとする。サンプリングクロックAsyncCLKの周期をPaとする。PaをPtで除算(Pa÷Pt)したときの余りをXとする。エッジ密度は、XとYとの積(XY)がPtの整数倍となる最小のYとして求めることができる。XとPtとの最小公倍数をZ(1周して同じ位相に戻る最短期間)とすると、Y=Z÷Xなる関係がある。そのときの精度は、Pt/Y[psec] である。この精度が目標レベルとなるように、サンプリングクロックAsyncCLKの周期Paを設定し、エッジ密度を設定する。エッジ密度は大きいほど好ましい。エッジ密度は、好ましくは100以上であり、より好ましくは200以上である。 The number of sampling levels (edge density) per cycle of the clock CLK2 by the sampling clock AsyncCLK can be calculated as follows. Let Pt be the period of the clock CLK2. Let Pa be the period of the sampling clock AsyncCLK. Let X be the remainder when Pa is divided by Pt (Pa÷Pt). The edge density can be determined as the minimum Y at which the product of X and Y (XY) is an integral multiple of Pt. Assuming that the least common multiple of X and Pt is Z (the shortest period for returning to the same phase after making one cycle), there is a relationship of Y=Z/X. The precision at that time is Pt/Y [psec]. The period Pa of the sampling clock AsyncCLK is set and the edge density is set such that this accuracy reaches the target level. A higher edge density is preferable. The edge density is preferably 100 or more, more preferably 200 or more.
図7および図8は、エッジ密度とサンプリングクロックAsyncCLKの周期との間の関係を示すグラフである。両図とも、横軸はサンプリングクロックAsyncCLKの周期Paであり、縦軸はエッジ密度である。両図とも、クロックCLK2の周期Ptを100psとした。横軸におけるサンプリングクロックAsyncCLKの周期Paの設定値の間隔は、図7では0.5psであり、図8では0.005psである。両図の間では、横軸の目盛りが相違し、縦軸の目盛りも相違する。両図に示されるように、エッジ密度を大きくするには、クロックCLK2に対するサンプリングクロックAsyncCLKの非同期性を確保することが重要である。サンプリングクロックAsyncCLKの非同期性が確保されない場合、エッジ密度が極端に小さくなって、クロックCLK2のデューティ測定精度が悪くなり、デューティの補償精度が悪くなる。 7 and 8 are graphs showing the relationship between the edge density and the period of the sampling clock AsyncCLK. In both figures, the horizontal axis is the period Pa of the sampling clock AsyncCLK, and the vertical axis is the edge density. In both figures, the period Pt of the clock CLK2 is 100 ps. The intervals of the set values of the period Pa of the sampling clock AsyncCLK on the horizontal axis are 0.5 ps in FIG. 7 and 0.005 ps in FIG. Between the two figures, the scale of the horizontal axis is different, and the scale of the vertical axis is also different. As shown in both figures, it is important to ensure the asynchronous nature of the sampling clock AsyncCLK with respect to the clock CLK2 in order to increase the edge density. If the asynchronous nature of the sampling clock AsyncCLK is not ensured, the edge density becomes extremely small, the duty measurement accuracy of the clock CLK2 deteriorates, and the duty compensation accuracy deteriorates.
そこで、本実施形態では、Nを3以上の整数とし、nを1~Nの各整数として、第nの期間Tnに亘って、デューティ測定部20のサンプリングクロック生成部21は、クロックCLK2に対して非同期である周波数fnのサンプリングクロックを生成する。各期間Tnに生成されるサンプリングクロックの周波数fnは、他の何れの期間に生成されるサンプリングクロックの周波数とも異なる。各期間Tnにおいて、制御部30は、デューティ測定部20により測定されるデューティが所定範囲となる制御コード(例えばデューティが0.5に最も近くなる制御コード)を求める。そして、制御部30は、N個の期間T1~TNそれぞれにおいて求めた制御コードのうちから確からしい制御コードを選んで、以降は、その選んだ制御コードをデューティ調整部10へ与える。
Therefore, in the present embodiment, N is an integer of 3 or more, n is an integer of 1 to N, and the sampling
図9は、制御コードとクロックCLK2のデューティとの間の関係の一例を示すグラフである。この図では、N=4とした。クロックCLK2の周波数を7.874GHzとした。サンプリングクロックAsyncCLKの周期PaとクロックCLK2の周期Ptとの差ΔP(=Pa-Pt)を期間T1~T4の間で約1psずつ異ならせた。すなわち、ΔPを、期間T1では0psとし、期間T2では1.1psとし、期間T3では2.0psとし、期間T4では2.8psとした。 FIG. 9 is a graph showing an example of the relationship between the control code and the duty of clock CLK2. In this figure, N=4. The frequency of clock CLK2 was set to 7.874 GHz. The difference ΔP (=Pa−Pt) between the period Pa of the sampling clock AsyncCLK and the period Pt of the clock CLK2 was varied by about 1 ps between the periods T 1 to T 4 . That is, ΔP is set to 0 ps in period T1 , 1.1 ps in period T2 , 2.0 ps in period T3 , and 2.8 ps in period T4 .
ΔP=0psとした期間T1では、Pa=Ptであるから、サンプラ22によるサンプリングの結果は常にハイレベルとローレベルとを交互に繰り返すことになり、制御コードによらずデューティは常に略0.5である。したがって、期間T1の終了時にクロックCLK2のデューティが0.5となる制御コードを求めると、その制御コードの値は不定である。
Since Pa=Pt in the period T1 where ΔP=0 ps, the result of sampling by the
その他の期間T2,T3,T4では、制御コードの値が大きいほどクロックCLK2のデューティが大きい関係があるので、期間T2,T3,T4それぞれの終了時にクロックCLK2のデューティが0.5となる制御コードを求めると、その制御コードの値は4の辺りとなる。 In the other periods T 2 , T 3 and T 4 , the larger the control code value, the larger the duty of the clock CLK2 . If the control code for .5 is found, the value of that control code will be around 4.
制御部30は、期間T1~T4それぞれにおいて求めた制御コードから確からしい制御コードを選んで、以降は、その選んだ制御コードをデューティ調整部10へ与える。この例では、期間T1の終了時に得られた制御コードは不定であるが、期間T2,T3,T4それぞれの終了時に得られた制御コードの値は4で一致している(または値4に近い値になる)ので、確からしい制御コードとして値4が選ばれる。
The
制御部30は、N個の期間T1~TNそれぞれにおいて求めた制御コードのうちから確からしい制御コードを選択するに際して、これらの制御コードを昇順または降順に並べたときの最大値および最小値を除く何れかの制御コードを、それ以降にデューティ調整部10へ与える制御コードとして決定してもよい。また、制御部30は、N個の期間T1~TNそれぞれにおいて求めた制御コードを昇順または降順に並べたときの中央値の制御コードを、それ以降にデューティ調整部10へ与える制御コードとして決定してもよい。何れの場合も、N個の期間T1~TNそれぞれにおいて求めた制御コードのうち、不適切な制御コードである可能性があるものを排除して、適切な制御コードを選択することができる。したがって、本実施形態では、より正確にクロックのデューティを適正範囲内にすることができる。
When selecting a probable control code from among the control codes obtained in each of the N periods T 1 to T N , the
1…デューティ補償装置、2…シリアライザ装置、3…PLL回路、10…デューティ調整部、111~11K…インバータ、12,13…PMOSトランジスタ、14,15…NMOSトランジスタ、20…デューティ測定部、21…サンプリングクロック生成部、22…サンプラ、23…カウンタ、30…制御部。
Claims (4)
Nを3以上の整数とし、nを1~Nの各整数として、各期間Tnに亘って、前記クロックに対して非同期であって他の何れの期間における周波数とも異なる周波数のサンプリングクロックをサンプリングクロック生成部により生成し、前記サンプリングクロックが指示するタイミングにおいて前記デューティ調整部から出力されるクロックのレベルが所定値である事象を計数して、期間T n における当該事象の計数値、期間T n の時間および期間T n のサンプリングクロックの周波数に基づいて該クロックのデューティを測定するデューティ測定部と、
各期間Tnにおいて前記デューティ調整部へ前記制御コードを各値として出力して前記デューティ測定部によるデューティ測定の結果を受け取り、N個の期間T 1 ~T N それぞれにおいてデューティが所定範囲となる前記制御コードの値のうちから選択して、以降に前記デューティ調整部へ与える制御コードの値を決定する制御部と、
を備えるデューティ補償装置。 a duty adjustment unit that adjusts the duty of the input clock based on a duty adjustment amount that varies depending on the value of the control code and outputs the adjusted clock;
N is an integer of 3 or more, n is an integer of 1 to N, and a sampling clock with a frequency asynchronous to the clock and different from the frequency in any other period is sampled over each period Tn . An event in which the level of the clock generated by the clock generation unit and output from the duty adjustment unit at the timing indicated by the sampling clock is a predetermined value is counted , and the count value of the event in period Tn , period Tn a duty measurement unit that measures the duty of the sampling clock based on the time of and the frequency of the sampling clock of the period T n ;
In each period Tn , the control code is output as each value to the duty adjusting section, the result of the duty measurement by the duty measuring section is received, and the duty becomes a predetermined range in each of the N periods T1 to Tn . a control unit that selects from among the values of the control code and determines the value of the control code to be subsequently applied to the duty adjustment unit;
A duty compensator comprising:
請求項1に記載のデューティ補償装置。 When the control code values obtained in each of the N periods T 1 to T N are arranged in ascending order or descending order, the control unit adjusts any control code value other than the maximum value and the minimum value to the duty adjustment Determined as the value of the control code given to the unit,
The duty compensator according to claim 1.
請求項1または2に記載のデューティ補償装置。 The control section supplies the control code value of the median when the control code values obtained in each of the N periods T 1 to T N are arranged in ascending or descending order to the duty adjustment section. determine as
3. The duty compensator according to claim 1 or 2.
供給される電流の量によって遅延量が異なる複数の遅延セルがリング状に接続され前記サンプリングクロックを生成して出力するリングオシレータと、前記複数の遅延セルそれぞれに電流を供給する電流源と、を含み、
前記電流源が供給する電流の量によって異なる周波数のサンプリングクロックを前記リングオシレータにより生成して出力する、
請求項1~3の何れか1項に記載のデューティ補償装置。 The sampling clock generation unit
a ring oscillator in which a plurality of delay cells with different delay amounts depending on the amount of supplied current are connected in a ring to generate and output the sampling clock ; and a current source that supplies a current to each of the plurality of delay cells. including
The ring oscillator generates and outputs a sampling clock with a different frequency depending on the amount of current supplied by the current source;
A duty compensation device according to any one of claims 1 to 3.
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