JP7208941B2 - 放射線検出器、放射線画像撮影装置、及び放射線検出器の製造方法 - Google Patents
放射線検出器、放射線画像撮影装置、及び放射線検出器の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7208941B2 JP7208941B2 JP2020027528A JP2020027528A JP7208941B2 JP 7208941 B2 JP7208941 B2 JP 7208941B2 JP 2020027528 A JP2020027528 A JP 2020027528A JP 2020027528 A JP2020027528 A JP 2020027528A JP 7208941 B2 JP7208941 B2 JP 7208941B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- radiation detector
- base material
- reinforcing
- region
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 214
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 52
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 34
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 32
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 278
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 claims description 219
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 214
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 105
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 32
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 17
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 9
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 138
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 39
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 38
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 31
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 31
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 23
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 22
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 21
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 21
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 20
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 20
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 20
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 20
- 239000010408 film Substances 0.000 description 19
- XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M caesium iodide Chemical compound [I-].[Cs+] XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 15
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 10
- 230000006870 function Effects 0.000 description 9
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 9
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 9
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 7
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 7
- 239000012994 photoredox catalyst Substances 0.000 description 6
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 6
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 5
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 229920006351 engineering plastic Polymers 0.000 description 4
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 229920001955 polyphenylene ether Polymers 0.000 description 4
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 3
- 239000004734 Polyphenylene sulfide Substances 0.000 description 3
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920000122 acrylonitrile butadiene styrene Polymers 0.000 description 3
- 239000004676 acrylonitrile butadiene styrene Substances 0.000 description 3
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 3
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 description 3
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 3
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004831 Hot glue Substances 0.000 description 2
- 239000004695 Polyether sulfone Substances 0.000 description 2
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 2
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L barium sulfate Chemical compound [Ba+2].[O-]S([O-])(=O)=O TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 239000004918 carbon fiber reinforced polymer Substances 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 239000005038 ethylene vinyl acetate Substances 0.000 description 2
- 229920006244 ethylene-ethyl acrylate Polymers 0.000 description 2
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 239000005026 oriented polypropylene Substances 0.000 description 2
- 229920003207 poly(ethylene-2,6-naphthalate) Polymers 0.000 description 2
- 229920001200 poly(ethylene-vinyl acetate) Polymers 0.000 description 2
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 2
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 2
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 2
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000003522 acrylic cement Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 1
- MTAZNLWOLGHBHU-UHFFFAOYSA-N butadiene-styrene rubber Chemical compound C=CC=C.C=CC1=CC=CC=C1 MTAZNLWOLGHBHU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- UHESRSKEBRADOO-UHFFFAOYSA-N ethyl carbamate;prop-2-enoic acid Chemical compound OC(=O)C=C.CCOC(N)=O UHESRSKEBRADOO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920006242 ethylene acrylic acid copolymer Polymers 0.000 description 1
- 239000005042 ethylene-ethyl acrylate Substances 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 229920000052 poly(p-xylylene) Polymers 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- KCTAWXVAICEBSD-UHFFFAOYSA-N prop-2-enoyloxy prop-2-eneperoxoate Chemical compound C=CC(=O)OOOC(=O)C=C KCTAWXVAICEBSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004064 recycling Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013464 silicone adhesive Substances 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 239000013589 supplement Substances 0.000 description 1
- 230000001502 supplementing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 description 1
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001169 thermoplastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004416 thermosoftening plastic Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 239000012463 white pigment Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/244—Auxiliary details, e.g. casings, cooling, damping or insulation against damage by, e.g. heat, pressure or the like
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
Description
本発明は、放射線検出器、放射線画像撮影装置、及び放射線検出器の製造方法に関する。
従来、医療診断を目的とした放射線撮影を行う放射線画像撮影装置が知られている。このような放射線画像撮影装置には、被写体を透過した放射線を検出し放射線画像を生成するための放射線検出器が用いられている。
放射線検出器としては、放射線を光に変換するシンチレータ等の変換層と、変換層で変換された光に応じて発生した電荷を蓄積する複数の画素が設けられた基板と、を備えたものがある。このような放射線検出器のセンサ基板の基材として、可撓性の基材を用いたものが知られている。可撓性の基材を用いることにより、放射線画像撮影装置を軽量化でき、また、被写体の撮影が容易となる場合がある。
放射線画像撮影装置に荷重や衝撃等が加わった場合、可撓性の基材を用いた基板は撓み易いため、衝撃等による放射線検出器への影響を抑制するために、放射線検出器の曲げ剛性を高くする技術が知られている。例えば、特許文献１に記載の技術では、光電変換基板と支持部材とが、光電変換基板上の外周部における電気部品と光電変換基板との接続部以外の領域で貼り合わせ部材によって固定されている。また例えば、特許文献２に記載の技術では、光電変換パネルの放射線入射側、または放射線入射側とは反対側に補強基板を貼り付ける技術が記載されている。また例えば、特許文献３に記載の技術では、基材及び変換層が積層された積層体の基板側の面、及び変換層側の面の少なくとも一方に補強基板が設けられている。
ところで、端子にケーブルを電気的に接続する場合、端子近傍における、基材の曲げ剛性を補強することが望まれている。一方、端子にケーブルを電気的に接続する場合、接続のための熱処理等が行われることにより、端子にかかる熱が基材にかかり、その熱が補強基板に伝播する。端子から伝播した熱によって、補強部材が変形する場合があった。
本開示は、曲げ剛性が高く、かつ端子にかかる熱による補強基板の変形が抑制された放射線検出器、放射線画像撮影装置、及び放射線検出器の製造方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本開示の第１の態様の放射線検出器は、可撓性の基材の第１の面の画素領域に、放射線から変換された光に応じて発生した電荷を蓄積する複数の画素が形成され、かつ第１の面にケーブルを電気的に接続するための端子が設けられた基板と、基材の第１の面と反対側の第２の面における、端子に対向する対向領域を少なくとも除いた領域に設けられ、基材の剛性を補強する補強基板と、を備え、補強基板は、対向領域を含む位置に空隙部が設けられている。
また、本開示の第２の態様の放射線検出器は、第１の態様の放射線検出器において、補強基板は、対向領域を含み、かつ端子にケーブルを電気的に接続する場合に行われる熱処理において、補強基板の変形量が予め定められた量以上となる熱が基材にかかる領域を少なくとも除いた領域に設けられている。
上記目的を達成するために、本開示の第３の態様の放射線検出器は、可撓性の基材の第１の面の画素領域に、放射線から変換された光に応じて発生した電荷を蓄積する複数の画素が形成され、かつ第１の面にケーブルを電気的に接続するための端子が設けられた基板と、基材の第１の面と反対側の第２の面における、端子に対向する対向領域を少なくとも除いた領域に設けられ、基材の剛性を補強する補強基板と、を備え、補強基板は、対向領域を含み、かつ端子にケーブルを電気的に接続する場合に行われる熱処理において、補強基板の変形量が予め定められた量以上となる熱が基材にかかる領域を少なくとも除いた領域に設けられている。
また、本開示の第２の態様の放射線検出器は、第１の態様の放射線検出器において、補強基板は、対向領域を含み、かつ端子にケーブルを電気的に接続する場合に行われる熱処理において、補強基板の変形量が予め定められた量以上となる熱が基材にかかる領域を少なくとも除いた領域に設けられている。
上記目的を達成するために、本開示の第３の態様の放射線検出器は、可撓性の基材の第１の面の画素領域に、放射線から変換された光に応じて発生した電荷を蓄積する複数の画素が形成され、かつ第１の面にケーブルを電気的に接続するための端子が設けられた基板と、基材の第１の面と反対側の第２の面における、端子に対向する対向領域を少なくとも除いた領域に設けられ、基材の剛性を補強する補強基板と、を備え、補強基板は、対向領域を含み、かつ端子にケーブルを電気的に接続する場合に行われる熱処理において、補強基板の変形量が予め定められた量以上となる熱が基材にかかる領域を少なくとも除いた領域に設けられている。
また、本開示の第４の態様の放射線検出器は、第１の態様から第３の態様のいずれか１態様の放射線検出器において、補強基板は、対向領域を含む位置に切欠部が設けられている。
また、本開示の第５の態様の放射線検出器は、第１の態様から第４の態様のいずれか１態様の放射線検出器において、補強基板は、基材の端子が設けられた辺の少なくとも一部に至る領域に設けられている。
また、本開示の第６の態様の放射線検出器は、第１の態様から第５の態様のいずれか１態様の放射線検出器において、基板には、複数の端子が設けられており、補強基板は、複数の端子同士の間に対応する領域にも設けられている。
また、本開示の第７の態様の放射線検出器は、第１の態様から第６の態様のいずれか１態様の放射線検出器において、補強基板の曲げ剛性は、基材よりも高い。
また、本開示の第８の態様の放射線検出器は、第１の態様から第７の態様のいずれか１態様の放射線検出器において、補強基板の曲げ剛性は、５４０Ｐａｃｍ４以上、１４００００Ｐａｃｍ４以下である。
また、本開示の第９の態様の放射線検出器は、第１の態様から第８の態様のいずれか１態様の放射線検出器において、基材の第１の面における画素領域を含み、かつ端子が設けられた領域以外の領域に設けられた、放射線を光に変換する変換層と、変換層における基材側の面と反対側の面に設けられた補強部材と、をさらに備える。
また、本開示の第１０の態様の放射線画像撮影装置は、第１の態様から第９の態様のいずれか１態様に記載の放射線検出器と、複数の画素に蓄積された電荷を読み出すための回路部と、を備える。
また、本開示の第１１の態様の放射線検出器の製造方法は、支持体に、可撓性の基材を設け、基材の第１の面の画素領域に、放射線から変換された光に応じて発生した電荷を蓄積する複数の画素が設けられ、かつ第１の面にケーブルを電気的に接続するための端子が設けられた基板を形成する工程と、基材の第１の面と反対側の第２の面の、端子に対向する対向領域を少なくとも除いた領域に、基材の剛性を補強する補強基板を設ける工程と、を備え、基材の第２の面における、補強基板が設けられていない領域に、補強基板よりも熱に対する変形量が小さな補充部材を設ける工程と、補強基板及び補充部材を設けた後、端子にケーブルを電気的に接続する工程と、をさらに備える。
また、本開示の第１２の態様の放射線検出器の製造方法は、支持体に、可撓性の基材を設け、基材の第１の面の画素領域に、放射線から変換された光に応じて発生した電荷を蓄積する複数の画素が設けられ、かつ第１の面にケーブルを電気的に接続するための端子が設けられた基板を形成する工程と、基材の第１の面と反対側の第２の面の、端子に対向する対向領域を少なくとも除いた領域に、基材の剛性を補強する補強基板を設ける工程と、を備え、基材の第２の面における、補強基板が設けられていない領域に、補強基板よりも熱伝導率が高い補充部材を設ける工程と、補強基板及び補充部材を設けた後、端子にケーブルを電気的に接続する工程と、をさらに備える。
また、本開示の第１３の態様の放射線検出器の製造方法は、請求項１１または請求項１２に記載の放射線検出器の製造方法において、端子にケーブルを電気的に接続した後、補充部材を除去する工程をさらに備える。
本開示によれば、曲げ剛性が高く、かつ端子にかかる熱による補強基板の変形を抑制することができる。
以下、図面を参照して本発明の実施形態を詳細に説明する。なお、本実施形態は本発明を限定するものではない。
［第１実施形態］
本実施形態の放射線検出器は、被写体を透過した放射線を検出して被写体の放射線画像を表す画像情報を出力する機能を有する。本実施形態の放射線検出器は、センサ基板と、放射線を光に変換する変換層と、を備えている（図３Ａ及び図３Ｂ、放射線検出器１０のセンサ基板１２及び変換層１４参照）。本実施形態のセンサ基板１２が、本開示の基板の一例である。
本実施形態の放射線検出器は、被写体を透過した放射線を検出して被写体の放射線画像を表す画像情報を出力する機能を有する。本実施形態の放射線検出器は、センサ基板と、放射線を光に変換する変換層と、を備えている（図３Ａ及び図３Ｂ、放射線検出器１０のセンサ基板１２及び変換層１４参照）。本実施形態のセンサ基板１２が、本開示の基板の一例である。
まず、図１を参照して本実施形態の放射線画像撮影装置における電気系の構成の一例の概略を説明する。図１は、本実施形態の放射線画像撮影装置における電気系の要部構成の一例を示すブロック図である。
図１に示すように、本実施形態の放射線画像撮影装置１は、放射線検出器１０、制御部１００、駆動部１０２、信号処理部１０４、画像メモリ１０６、及び電源部１０８を備える。本実施形態の制御部１００、駆動部１０２、及び信号処理部１０４の少なくとも１つが、本開示の回路部の一例である。以下、制御部１００、駆動部１０２、及び信号処理部１０４を総称する場合、「回路部」という。
放射線検出器１０は、センサ基板１２と、放射線を光に変換する変換層１４（図３Ａ及び図３Ｂ参照）と、を備える。センサ基板１２は、可撓性の基材１１と、基材１１の第１の面１１Ａに設けられた複数の画素３０と、を備えている。なお、以下では、複数の画素３０について、単に「画素３０」という場合がある。
図１に示すように本実施形態の各画素３０は、変換層が変換した光に応じて電荷を発生して蓄積するセンサ部３４、及びセンサ部３４にて蓄積された電荷を読み出すスイッチング素子３２を備える。本実施形態では、一例として、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ：Thin Film Transistor）をスイッチング素子３２として用いている。そのため、以下では、スイッチング素子３２を「ＴＦＴ３２」という。本実施形態では、センサ部３４及びＴＦＴ３２が形成され、さらに平坦化された層として基材１１の第１の面１１Ａに画素３０が形成された層が設けられる。
画素３０は、センサ基板１２の画素領域３５に、一方向（図１の横方向に対応する走査配線方向、以下「行方向」ともいう）及び行方向に対する交差方向（図１の縦方向に対応する信号配線方向、以下「列方向」ともいう）に沿って二次元状に配置されている。図１では、画素３０の配列を簡略化して示しているが、例えば、画素３０は行方向及び列方向に１０２４個×１０２４個配置される。
また、放射線検出器１０には、画素３０の行毎に備えられた、ＴＦＴ３２のスイッチング状態（オン及びオフ）を制御するための複数の走査配線３８と、画素３０の列毎に備えられた、センサ部３４に蓄積された電荷が読み出される複数の信号配線３６と、が互いに交差して設けられている。複数の走査配線３８の各々は、それぞれフレキシブルケーブル１１２Ａを介して、駆動部１０２に接続されることにより、駆動部１０２から出力される、ＴＦＴ３２を駆動してスイッチング状態を制御する駆動信号が、複数の走査配線３８の各々に流れる。また、複数の信号配線３６の各々が、それぞれフレキシブルケーブル１１２Ｂを介して、信号処理部１０４に接続されることにより、各画素３０から読み出された電荷が、電気信号として信号処理部１０４に出力される。信号処理部１０４は、入力された電気信号に応じた画像データを生成して出力する。なお、本実施形態においてフレキシブルケーブル１１２に関して「接続」という場合、電気的な接続を意味する。
信号処理部１０４には後述する制御部１００が接続されており、信号処理部１０４から出力された画像データは制御部１００に順次出力される。制御部１００には画像メモリ１０６が接続されており、信号処理部１０４から順次出力された画像データは、制御部１００による制御によって画像メモリ１０６に順次記憶される。画像メモリ１０６は所定の枚数分の画像データを記憶可能な記憶容量を有しており、放射線画像の撮影が行われる毎に、撮影によって得られた画像データが画像メモリ１０６に順次記憶される。
制御部１００は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１００Ａ、ＲＯＭ（Read Only Memory）とＲＡＭ（Random Access Memory）等を含むメモリ１００Ｂ、及びフラッシュメモリ等の不揮発性の記憶部１００Ｃを備えている。制御部１００の一例としては、マイクロコンピュータ等が挙げられる。制御部１００は、放射線画像撮影装置１の全体の動作を制御する。
なお、本実施形態の放射線画像撮影装置１では、画像メモリ１０６及び制御部１００等は、制御基板１１０に形成されている。
また、各画素３０のセンサ部３４には、各画素３０にバイアス電圧を印加するために、共通配線３９が信号配線３６の配線方向に設けられている。共通配線３９が、センサ基板１２の外部のバイアス電源（図示省略）に接続されることにより、バイアス電源から各画素３０にバイアス電圧が印加される。
電源部１０８は、制御部１００、駆動部１０２、信号処理部１０４、画像メモリ１０６、及び電源部１０８等の各種素子や各種回路に電力を供給する。なお、図１では、錯綜を回避するために、電源部１０８と各種素子や各種回路を接続する配線の図示を省略している。
さらに、放射線検出器１０について詳細に説明する。図２Ａは、本実施形態の放射線検出器１０を、基材１１の第１の面１１Ａ側からみた平面図の一例である。図２Ｂは、本実施形態の放射線検出器１０を、基材１１の第２の面１１Ｂ側からみた平面図の一例である。また、図３Ａは、図２Ａ及び図２Ｂにおける放射線検出器１０のＡ－Ａ線断面図の一例である。図３Ｂは、図２Ａ及び図２Ｂにおける放射線検出器１０のＢ－Ｂ線断面図の一例である。
基材１１は、可撓性を有し、例えば、ＰＩ（PolyImide：ポリイミド）等のプラスチックを含む樹脂シートである。基材１１の厚みは、材質の硬度、及びセンサ基板１２の大きさ、すなわち第１の面１１Ａまたは第２の面１１Ｂの面積等に応じて、所望の可撓性が得られる厚みであればよい。可撓性を有する例としては、矩形状の基材１１単体の場合に、基材１１の１辺を固定した状態で、固定した辺より１０ｃｍ離れた位置で基材１１の自重による重力で２ｍｍ以上、基材１１が垂れ下がる（固定した辺の高さよりも低くなる）ものを指す。基材１１が樹脂シートの場合の具体例としては、厚みが５μｍ～１２５μｍのものであればよく、厚みが２０μｍ～５０μｍのものであればより好ましい。
なお、基材１１は、画素３０の製造に耐え得る特性を有しており、本実施形態では、アモルファスシリコンＴＦＴ（ａ－Ｓｉ ＴＦＴ）の製造に耐え得る特性を有している。このような、基材１１が有する特性としては、３００℃～４００℃における熱膨張率（ＣＴＥ：Coefficient of Thermal Expansion)が、アモルファスシリコン（Ｓｉ）ウェハと同程度（例えば、±５ｐｐｍ／Ｋ）であることが好ましく、具体的には、２０ｐｐｍ／Ｋ以下であることが好ましい。また、基材１１の熱収縮率としては、厚みが２５μｍの状態において４００℃における熱収縮率が０．５％以下であることが好ましい。また、基材１１の弾性率は、３００℃～４００℃間の温度領域において、一般的なＰＩが有する転移点を有さず、５００℃における弾性率が１ＧＰａ以上であることが好ましい。
また、本実施形態の基材１１は、自身による後方散乱線を抑制するために、平均粒子径が０．０５μｍ以上、２．５μｍ以下の、後方散乱線を吸収する無機の微粒子を含む微粒子層を有することが好ましい。なおこのような無機の微粒子としては、樹脂性の基材１１の場合、原子番号が、基材１１である有機物を構成する原子よりも大きく、かつ３０以下である無機物を用いることが好ましい。このような微粒子の具体例としては、原子番号が１４のＳｉの酸化物であるＳｉＯ２、原子番号が１２のＭｇの酸化物であるＭｇＯ、原子番号が１３のＡｌの酸化物であるＡｌ２Ｏ３、及び原子番号が２２のＴｉの酸化物であるＴｉＯ２等が挙げられる。このような特性を有する樹脂シートの具体例としては、ＸＥＮＯＭＡＸ（登録商標）が挙げられる。
なお、本実施形態における上記の厚みについては、マイクロメーターを用いて測定した。熱膨張率については、ＪＩＳ Ｋ７１９７：１９９１に則して測定した。なお測定は、基材１１の主面から、１５度ずつ角度を変えて試験片を切り出し、切り出した各試験片について熱膨張率を測定し、最も高い値を基材１１の熱膨張率とした。熱膨張率の測定は、ＭＤ（Machine Direction）方向およびＴＤ（Transverse Direction）方向のそれぞれについて、－５０℃～４５０℃において１０℃間隔で行い、（ｐｐｍ／℃）を（ｐｐｍ／Ｋ）に換算した。熱膨張率の測定には、ＭＡＣサイエンス社製 ＴＭＡ４０００Ｓ装置を用い、サンプル長さを１０ｍｍ、サンプル幅を２ｍｍ、初荷重を３４．５ｇ／ｍｍ２、昇温速度を５℃／ｍｉｎ、及び雰囲気をアルゴンとした。
所望の可撓性を有する基材１１としては、樹脂シート等、樹脂製のものに限定されない。例えば、基材１１は、厚みが比較的薄いガラス基板等であってもよい。基材１１がガラス基板の場合の具体例としては、一般に、一辺が４３ｃｍ程度のサイズでは、厚さが０．３ｍｍ以下ならば可撓性を有しているため、厚さが０．３ｍｍ以下のものであれば所望のガラス基板であってもよい。
図２Ａ、図３Ａ、及び図３Ｂに示すように、複数の画素３０は、基材１１の第１の面１１Ａに設けられている。本実施形態では、基材１１の第１の面１１Ａにおける画素３０が設けられた領域を画素領域３５としている。
また、基材１１の第１の面１１Ａには、変換層１４が設けられている。本実施形態の変換層１４は、画素領域３５を覆っている。本実施形態では、変換層１４の一例としてＣｓＩ（ヨウ化セシウム）を含むシンチレータを用いている。このようなシンチレータとしては、例えば、Ｘ線照射時の発光スペクトルが４００ｎｍ～７００ｎｍであるＣｓＩ：Ｔｌ（タリウムが添加されたヨウ化セシウム）やＣｓＩ：Ｎａ（ナトリウムが添加されたヨウ化セシウム）を含むことが好ましい。なお、ＣｓＩ：Ｔｌの可視光域における発光ピーク波長は５６５ｎｍである。
変換層１４を気相堆積法を用いて形成した場合、図３Ａ及び図３Ｂに示すように、変換層１４は、その外縁に向けて厚さが徐々に薄くなる傾斜を有して形成される。以下において、製造誤差及び測定誤差を無視した場合の厚さが略一定とみなせる、変換層１４の中央領域を中央部１４Ａという。また、変換層１４の中央部１４Ａの平均厚さに対して例えば９０％以下の厚さを有する、変換層１４の外周領域を周縁部１４Ｂという。すなわち、変換層１４は、周縁部１４Ｂにおいてセンサ基板１２に対して傾斜した傾斜面を有する。なお、以下では、説明の便宜状、センサ基板１２において「上」、「下」という場合、変換層１４を基準としており、変換層１４のセンサ基板１２と対向する側を「下」といい、反対側を「上」という。例えば、変換層１４は、センサ基板１２の上に設けられており、変換層１４の周縁部１４Ｂにおける傾斜面は、変換層１４が上側から下側に向けて徐々に広がる状態に傾斜している。
また、図３Ａ及び図３Ｂに示すように、本実施形態の変換層１４の上には、粘着層６０、反射層６２、接着層６４、及び保護層６６が設けられている。
粘着層６０は、変換層１４の表面全体を覆っている。粘着層６０は、反射層６２を変換層１４上に固定する機能を有する。粘着層６０は、光透過性を有していることが好ましい。粘着層６０の材料として、例えば、アクリル系粘着剤、ホットメルト系粘着剤、及びシリコーン系接着剤を用いることが可能である。アクリル系粘着剤としては、例えば、ウレタンアクリレート、アクリル樹脂アクリレート、及びエポキシアクリレート等が挙げられる。ホットメルト系粘着剤としては、例えば、ＥＶＡ（エチレン・酢酸ビニル共重合樹脂）、ＥＡＡ（エチレンとアクリル酸の共重合樹脂）、ＥＥＡ（エチレン－エチルアクリレート共重合樹脂）、及びＥＭＭＡ（エチレン－メタクリル酸メチル共重合体）等の熱可塑性プラスチックが挙げられる。粘着層６０の厚さは、２μｍ以上７μｍ以下であることが好ましい。粘着層６０の厚さを２μｍ以上とすることで、反射層６２を変換層１４上に固定する効果を十分に発揮することができる。更に、変換層１４と反射層６２との間に空気層が形成されるリスクを抑制することができる。変換層１４と反射層６２との間に空気層が形成されると、変換層１４から発せられた光が、空気層と変換層１４との間、及び空気層と反射層６２との間で反射を繰り返す多重反射を生じるおそれがある。また、粘着層６０の厚さを７μｍ以下とすることで、ＭＴＦ（Modulation Transfer Function）及びＤＱＥ（Detective Quantum Efficiency）の低下を抑制することが可能となる。
反射層６２は、粘着層６０の表面全体を覆っている。反射層６２は、変換層１４で変換された光を反射する機能を有する。反射層６２の材料としては、金属、または金属酸化物を含む樹脂材料によって構成されていることが好ましい。反射層６２の材料としては、例えば、白ＰＥＴ（Polyethylene Terephthalate：ポリエチレンテレフタレート）、ＴｉＯ２、Ａｌ２Ｏ３、発泡白ＰＥＴ、及び鏡面反射アルミ等を用いることができる。白ＰＥＴとは、ＰＥＴに、ＴｉＯ２や硫酸バリウム等の白色顔料を添加したものであり、発泡白ＰＥＴとは、表面が多孔質になっている白ＰＥＴである。また、反射層６２の材料としては、樹脂フィルムと金属フィルムとの積層膜を用いてもよい。樹脂フィルムと金属フィルムとの積層膜としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート等の絶縁性のシート（フィルム）に、アルミ箔を接着させる等してアルミを積層したアルペット（登録商標）のシートが挙げられる。反射層６２の厚さは、１０μｍ以上、４０μｍ以下であることが好ましい。このように、変換層１４の上に反射層６２を備えることにより、変換層１４で変換された光を、効率的にセンサ基板１２の画素３０に導くことができる。
接着層６４は反射層６２の表面全体を覆っている。接着層６４の端部は、基材１１の第１の面１１Ａにまで延在している。すなわち、接着層６４は、その端部においてセンサ基板１２の基材１１に接着している。接着層６４は、反射層６２及び保護層６６を変換層１４に固定する機能を有する。接着層６４の材料として、粘着層６０の材料と同じ材料を用いることが可能であるが、接着層６４が有する接着力は、粘着層６０が有する接着力よりも大きいことが好ましい。
保護層６６は、変換層１４の全体を覆うとともに、その端部がセンサ基板１２の一部を覆う状態に設けられている。保護層６６は、変換層１４への水分の浸入を防止する防湿膜として機能する。保護層６６の材料として、例えば、ＰＥＴ、ＰＰＳ（PolyPhenylene Sulfide：ポリフェニレンサルファイド）、ＯＰＰ（Oriented PolyPropylene：二軸延伸ポリプロピレンフィルム）、ＰＥＮ（PolyEthylene Naphthalate：ポリエチレンナフタレート）、ＰＩ等の有機材料を含む有機膜や、パリレン（登録商標）を用いることができる。また、保護層６６として、樹脂フィルムと金属フィルムとの積層膜を用いてもよい。樹脂フィルムと金属フィルムとの積層膜としては、例えば、アルペット（登録商標）のシートが挙げられる。
一方、図２Ａ、図３Ａ、及び図３Ｂに示すように、基材１１の第１の面１１Ａの外縁部には複数（図２Ａでは、１６個）の端子１１３が設けられている。端子１１３としては、異方性導電フィルム等が用いられる。図２Ａ、図３Ａ、及び図３Ｂに示すように、複数の端子１１３の各々には、フレキシブルケーブル１１２が電気的に接続されている。具体的には、図２Ａに示すように、基材１１の一辺に設けられた複数（図２Ａでは８個）の端子１１３の各々に、フレキシブルケーブル１１２Ａが熱圧着されている。フレキシブルケーブル１１２Ａは、いわゆるＣＯＦ（Chip on Film）であり、フレキシブルケーブル１１２Ａには、駆動ＩＣ（Integrated Circuit）２１０が搭載されている。駆動ＩＣ２１０は、フレキシブルケーブル１１２Ａに含まれる複数の信号線に接続されている。なお、本実施形態では、フレキシブルケーブル１１２Ａ及び後述するフレキシブルケーブル１１２Ｂについて、各々を区別せずに総称する場合、単に「フレキシブルケーブル１１２」という。
フレキシブルケーブル１１２Ａにおける、センサ基板１２の端子１１３と電気的に接続された一端と反対側の他端は、駆動基板２００に電気的に接続される。一例として、本実施形態では、フレキシブルケーブル１１２Ａに含まれる複数の信号線は、駆動基板２００に熱圧着されることにより、駆動基板２００に搭載された回路及び素子等（図示省略）と電気的に接続される。なお、駆動基板２００とフレキシブルケーブル１１２Ａとを電気的に接続する方法は、本実施形態に限定されず、例えば、コネクタにより、電気的に接続する形態としてもよい。このようなコネクタとしては、ＺＩＦ（Zero Insertion Force）構造のコネクタや、Ｎｏｎ－ＺＩＦ構造のコネクタ等が挙げられる。
本実施形態の駆動基板２００は、可撓性のＰＣＢ（Printed Circuit Board）基板であり、いわゆるフレキシブル基板である。また、駆動基板２００に搭載される回路部品（図示省略）は主にデジタル信号の処理に用いられる部品（以下、「デジタル系部品」という）である。デジタル系部品は、後述するアナログ系部品よりも、比較的面積（大きさ）が小さい傾向がある。デジタル系部品の具体例としては、デジタルバッファ、バイパスコンデンサ、プルアップ／プルダウン抵抗、ダンピング抵抗、及びＥＭＣ（Electro Magnetic Compatibility）対策チップ部品、及び電源ＩＣ等が挙げられる。なお、駆動基板２００は、必ずしもフレキシブル基板でなくてもよく、非可撓性のリジッド基板であってもよいし、リジッドフレキ基板を用いてもよい。
本実施形態では、駆動基板２００と、フレキシブルケーブル１１２Ａに搭載された駆動ＩＣ２１０とにより、駆動部１０２が実現される。なお、駆動ＩＣ２１０には、駆動部１０２を実現する各種回路及び素子のうち、駆動基板２００に搭載されているデジタル系部品と異なる回路が含まれる。
一方、フレキシブルケーブル１１２Ａが電気的に接続された基材１１の一辺と交差する辺に設けられた複数（図２Ａでは８個）の端子１１３の各々には、フレキシブルケーブル１１２Ｂが電気的に接続されている。フレキシブルケーブル１１２Ｂは、フレキシブルケーブル１１２Ａと同様に、いわゆるＣＯＦであり、フレキシブルケーブル１１２Ｂには、信号処理ＩＣ３１０が搭載されている。信号処理ＩＣ３１０は、フレキシブルケーブル１１２Ｂに含まれる複数の信号線（図示省略）に接続されている。
フレキシブルケーブル１１２Ｂにおける、センサ基板１２の端子１１３と電気的に接続された一端と反対側の他端は、信号処理基板３００に電気的に接続される。一例として、本実施形態では、フレキシブルケーブル１１２Ｂに含まれる複数の信号線は、信号処理基板３００に熱圧着されることにより、信号処理基板３００に搭載された回路及び素子等（図示省略）と接続される。なお、信号処理基板３００とフレキシブルケーブル１１２Ｂとを電気的に接続する方法は、本実施形態に限定されず、例えば、コネクタにより、電気的に接続する形態としてもよい。このようなコネクタとしては、ＺＩＦ構造のコネクタや、Ｎｏｎ－ＺＩＦ構造のコネクタ等が挙げられる。また、フレキシブルケーブル１１２Ａと駆動基板２００とを電気的に接続する方法と、フレキシブルケーブル１１２Ｂと信号処理基板３００とを電気的に接続する方法は、同様で有ってもよいし、異なっていてもよい。例えば、フレキシブルケーブル１１２Ａと駆動基板２００とは、熱圧着により電気的に接続し、フレキシブルケーブル１１２Ｂと信号処理基板３００とはコネクタにより電気的に接続する形態としてもよい。
本実施形態の信号処理基板３００は、上述した駆動基板２００と同様に、可撓性のＰＣＢ基板であり、いわゆるフレキシブル基板である。信号処理基板３００に搭載される回路部品（図示省略）は主にアナログ信号の処理に用いられる部品（以下、「アナログ系部品」という）である。アナログ系部品の具体例としては、チャージアンプ、アナログデジタルコンバータ（ＡＤＣ）、デジタルアナログコンバータ（ＤＡＣ）、及び電源ＩＣ等が挙げられる。また、本実施形態の回路部品は、比較的部品サイズが大きい電源周りのコイル、及び平滑用大容量コンデンサも含む。なお、信号処理基板３００は、必ずしもフレキシブル基板でなくてもよく、非可撓性のリジッド基板であってもよいし、リジッドフレキ基板を用いてもよい。
本実施形態では、信号処理基板３００と、フレキシブルケーブル１１２Ｂに搭載された信号処理ＩＣ３１０とにより、信号処理部１０４が実現される。なお、信号処理ＩＣ３１０には、信号処理部１０４を実現する各種回路及び素子のうち、信号処理基板３００に搭載されているアナログ系部品と異なる回路が含まれる。
なお、図２Ａ及び図２Ｂでは、駆動基板２００及び信号処理基板３００が各々、複数（２つずつ）設けられている形態について説明したが、駆動基板２００及び信号処理基板３００の数は、図２Ａ及び図２Ｂに示した数に限定されない。例えば、駆動基板２００及び信号処理基板３００の少なくとも一方を、１つの基板とした形態であってもよい。
一方、図３Ａに示すように、本実施形態の放射線検出器１０では、フレキシブルケーブル１１２を端子１１３に熱圧着することにより、フレキシブルケーブル１１２が端子１１３に電気的に接続される。なお、図３Ａは、フレキシブルケーブル１１２Ｂと放射線検出器１０との電気的な接続に関する構造の一例を示す図であるが、本実施形態のフレキシブルケーブル１１２Ａと放射線検出器１０との電気的に接続に関する構造も、図３Ａに例示した形態と同様である。
また、図２Ｂ、図３Ａ、及び図３Ｂに示すように、本実施形態の放射線検出器１０のセンサ基板１２における、基材１１の第２の面１１Ｂには、補強基板４０が設けられている。
補強基板４０は、基材１１の剛性を補強する機能を有する。本実施形態の補強基板４０は、基材１１よりも曲げ剛性が高く、変換層１４と対向する面に対して垂直方向に加えられる力に対する、寸法変化（変形）が、基材１１の第２の面１１Ｂに対して垂直方向に加えられる力に対する、寸法変化よりも小さい。補強基板４０の素材としては、例えば、カーボンやプラスチック等が挙げられる。なお、補強基板４０は、複数の素材を含んでいてもよく、例えば、プラスチックと、カーボンとの積層体であってもよい。
なお具体的には、補強基板４０の曲げ剛性は、基材１１の曲げ剛性の１００倍以上であることが好ましい。また、本実施形態の補強基板４０の厚みは、基材１１の厚みよりも厚い。例えば、基材１１として、ＸＥＮＯＭＡＸ（登録商標）を用いる場合、補強基板４０の厚みは０．２ｍｍ～０．２５ｍｍ程度が好ましい。
具体的には、本実施形態の補強基板４０は、曲げ弾性率が１５０ＭＰａ以上、２５００ＭＰａ以下の素材を用いることが好ましい。補強基板４０は、基材１１の撓みを抑制する観点からは、基材１１よりも曲げ剛性が高いことが好ましい。なお、曲げ弾性率が低くなると曲げ剛性も低くなり、所望の曲げ剛性を得るためには、補強基板４０の厚みを厚くしなくてはならず、放射線検出器１０全体の厚みが増大してしまう。上述の補強基板４０の材料を考慮すると、１４００００Ｐａｃｍ４を越える曲げ剛性を得ようとする場合、補強基板４０の厚みが、比較的厚くなってしまう傾向がある。そのため、適切な剛性が得られ、かつ放射線検出器１０全体の厚みを考慮すると、補強基板４０に用いる素材は、曲げ弾性率が１５０ＭＰａ以上、２５００ＭＰａ以下であることがより好ましい。また、補強基板４０の曲げ剛性は、５４０Ｐａｃｍ４以上、１４００００Ｐａｃｍ４以下であることが好ましい。
また、本実施形態の補強基板４０の熱膨張率は、変換層１４の材料の熱膨張率に近い方が好ましく、より好ましくは、変換層１４の熱膨張率に対する補強基板４０の熱膨張率の比（補強基板４０の熱膨張率／変換層１４の熱膨張率）が、０．５以上、２以下であることが好ましい。このような補強基板４０の熱膨張率としては、３０ｐｐｍ／Ｋ以上、８０ｐｐｍ／Ｋ以下であることが好ましい。例えば、変換層１４がＣｓＩ：Ｔｌを材料とする場合、熱膨張率は、５０ｐｐｍ／Ｋである。この場合、変換層１４に比較的近い材料としては、熱膨張率が６０ｐｐｍ／Ｋ～８０ｐｐｍ／ＫであるＰＶＣ（Polyvinyl Chloride：ポリ塩化ビニル）、熱膨張率が７０ｐｐｍ／Ｋ～８０ｐｐｍ／Ｋであるアクリル、熱膨張率が６５ｐｐｍ／Ｋ～７０ｐｐｍ／ＫであるＰＥＴ、熱膨張率が６５ｐｐｍ／ＫであるＰＣ（Polycarbonate：ポリカーボネート）、及び熱膨張率が４５ｐｐｍ／Ｋ～７０ｐｐｍ／Ｋであるテフロン(登録商標)等が挙げられる。さらに、上述した曲げ弾性率を考慮すると、補強基板４０の材料としては、ＰＥＴ、及びＰＣの少なくとも一方を含む材料であることがより好ましい。
補強基板４０は、弾力性の観点からは、降伏点を有する材料を含むことが好ましい。なお、本実施形態において「降伏点」とは、材料を引っ張った場合に、応力が一旦、急激に下がる現象をいい、応力とひずみとの関係を表す曲線上で、応力が増えずにひずみが増える点のことをいい、材料について引っ張り強度試験を行った際の応力－ひずみ曲線における頂部を指す。降伏点を有する樹脂としては、一般的に、硬くて粘りが強い樹脂、及び柔らかくて粘りが強く、かつ中程度の強度の樹脂が挙げられる。硬くて粘りが強い樹脂としては、例えば、ＰＣ等が挙げられる。また、柔らかくて粘りが強く、かつ中程度の強度の樹脂としては、例えば、ポリプロピレン等が挙げられる。
本実施形態の補強基板４０を、プラスチックを材料とした基板とした場合、上述した理由から熱可塑性の樹脂であることが好ましく、ＰＣ、ＰＥＴ、スチロール、アクリル、ポリアセターゼ、ナイロン、ポリプロピレン、ＡＢＳ（Acrylonitrile Butadiene Styrene）、エンプラ、及びポリフェニレンエーテルの少なくとも一つが挙げられる。なお、補強基板４０は、これらのうち、ポリプロピレン、ＡＢＳ、エンプラ、ＰＥＴ、及びポリフェニレンエーテルの少なくとも一つであることが好ましく、スチロール、アクリル、ポリアセターゼ、及びナイロンの少なくとも一つであることがより好ましく、ＰＣ及びＰＥＴの少なくとも一つであることがさらに好ましい。
本実施形態の補強基板４０は、具体的には、基材１１の第２の面１１Ｂにおける、端子１１３に対向する対向領域１１Ｃを少なくとも除いた領域に設けられている。そのため、図２Ｂに示すように、本実施形態の補強基板４０は、対向領域１１Ｃに対応する位置に切欠部４０Ａが設けられている。図２Ｂに示した例では、第１の面１１Ａに設けられた１６個の端子１１３の各々に対向する、第２の面１１Ｂの対向領域１１Ｃに対応する位置毎に、切欠部４０Ａが設けられている。
上述したように、端子１１３にフレキシブルケーブル１１２を電気的に接続する場合、端子１１３とフレキシブルケーブル１１２とを熱圧着するための熱処理が行われる。本熱処理により、端子１１３にかかる熱が基材１１にかかり、その熱が補強基板４０に伝播する。伝播した熱によって補強基板４０が変形する場合がある。補強基板４０が変形した場合、例えば、補強基板４０が基材１１から剥離することがある。また例えば、補強基板４０の変形に追随して基材１１も変形し、フレキシブルケーブル１１２と端子１１３との電気的な接続が切断されたり、放射線検出器１０によって得られる放射線画像の画質に影響を与えたりすることがある。
上記熱処理により基材１１にかかる熱は、主に、第２の面１１Ｂの対向領域１１Ｃから補強基板４０に伝播しようとする。そこで、本実施形態の放射線検出器１０では、図２Ｂ及び図３Ａに示すように、対向領域１１Ｃには、補強基板４０及び粘着剤４２を設けない。そのため、図２Ｂに示すように、基材１１の対向領域１１Ｃが並ぶ辺に対向する、補強基板４０の辺には、上述のように切欠部４０Ａが設けられている。
一方、上記熱処理により補強基板４０に伝播させる熱量が対向領域１１Ｃよりも比較的低い、対向領域１１Ｃ以外の第２の面１１Ｂの領域には、補強基板４０及び粘着剤４２が設けられている。このように、補強基板４０が、基材１１の辺に至る領域に設けられているため、基材１１の剛性を適切に、補強することができる。
特に、図２Ａ及び図３Ｂに示すように、補強基板４０が、基材１１の端子１１３が設けられた辺の少なくとも一部の領域に至る領域に設けられているため、端子１１３近傍における、基材１１の剛性を補強することができる。
そのため、端子１１３にフレキシブルケーブル１１２を電気的に接続する場合に、端子１１３近傍の剛性が補強基板４０によって補強されるので、可撓性の基材１１が撓むことに起因した、フレキシブルケーブル１１２の位置ずれ等が生じ難くなる。
さらに、放射線画像撮影装置１について詳細に説明する。図４は、本実施形態の放射線画像撮影装置１の断面図の一例である。図４に示した放射線画像撮影装置１は、本実施形態の放射線検出器１０を、変換層１４側から放射線が照射されるＰＳＳ（Penetration Side Sampling）方式に適用した場合の放射線画像撮影装置１である。
上記の放射線検出器１０を用いた放射線画像撮影装置１は、図４に示すように、筐体１２０に収納された状態で使用される。図４に示すように、筐体１２０内には、放射線検出器１０、電源部１０８、及び信号処理基板３００等の回路部が放射線の入射方向に並んで設けられている。放射線検出器１０は、被写体を透過した放射線が照射される筐体１２０の照射面１２０Ａ側の天板に、基材１１の第１の面１１Ａ側が対向する状態に配置されている。より具体的には、筐体１２０の照射面１２０Ａ側の天板に、変換層１４が対向する状態に配置されている。
図４に示すように、筐体１２０内には、放射線検出器１０を透過した放射線が出射される側に中板１１６がさらに設けられている。中板１１６としては、例えば、アルミや銅製のシートが挙げられる。銅製のシートは入射される放射線によって２次放射線を発生し難く、よって、後方、すなわち変換層１４側への散乱を防止する機能を有する。なお、中板１１６は、少なくとも変換層１４の放射線が出射する側の面全体を覆い、また、変換層１４全体を覆うことが好ましい。また、中板１１６には、信号処理基板３００等の回路部が固定されている。
筐体１２０は、軽量であり、放射線、特にＸ線の吸収率が低く、且つ高剛性であることが好ましく、弾性率が十分に高い材料により構成されることが好ましい。筐体１２０の材料として、曲げ弾性率が１００００ＭＰａ以上である材料を用いることが好ましい。筐体１２０の材料として、２００００ＭＰａ～６００００ＭＰａ程度の曲げ弾性率を有するカーボンまたはＣＦＲＰ（Carbon Fiber Reinforced Plastics）を好適に用いることができる。
放射線画像撮影装置１による放射線画像の撮影においては、筐体１２０の照射面１２０Ａに被写体からの荷重が印加される。筐体１２０の剛性が不足する場合、被写体からの荷重によりセンサ基板１２に撓みが生じ、画素３０が損傷する等の不具合が発生するおそれがある。１００００ＭＰａ以上の曲げ弾性率を有する材料からなる筐体１２０内部に、放射線検出器１０が収納されることで、被写体からの荷重によるセンサ基板１２の撓みを抑制することが可能となる。
なお、筐体１２０は、筐体１２０の照射面１２０Ａと、その他の部分とで、異なる材料で形成されていてもよい。例えば、照射面１２０Ａに対応する部分は、上記のように放射線の吸収率が低く、且つ高剛性であり、弾性率が十分に高い材料で形成し、その他の部分は、照射面１２０Ａに対応する部分と異なる材料、例えば、照射面１２０Ａの部分よりも弾性率が低い材料で形成してもよい。
本実施形態の放射線画像撮影装置１の製造方法について図５Ａ～図５Ｆを参照して説明する。なお、本実施形態の放射線画像撮影装置１の製造方法は、本実施形態の放射線検出器１０の製造方法を含む。
図５Ａに示すように、センサ基板１２を形成するために、基材１１に比べて厚さの厚いガラス基板等の支持体４００に、剥離層４０２を介して、基材１１が設けられる。例えば、ラミネート法により基材１１を形成する場合、支持体４００上に、基材１１となるシートを貼り合わせる。基材１１の第２の面１１Ｂが剥離層４０２に接する。なお、基材１１を形成する方法は、本実施形態に限定されず、例えば、塗布法で基材１１を形成する形態であってもよい。
さらに、基材１１の第１の面１１Ａに、画素３０及び端子１１３が形成される。画素３０は、第１の面１１Ａの画素領域３５に、ＳｉＮ等を用いたアンダーコート層（図示省略）を介して形成される。また、基材１１の２つの辺の各々に沿って複数の端子１１３が形成される。
また、図５Ｂに示すように、画素３０が形成された層（以下、単に「画素３０」という）の上に、変換層１４が形成される。本実施形態では、センサ基板１２上に直接、真空蒸着法、スパッタリング法、及びＣＶＤ（Chemical Vapor Deposition）法等の気相堆積法によって柱状結晶としてＣｓＩの変換層１４が形成される。この場合、変換層１４における画素３０と接する側が、柱状結晶の成長方向基点側となる。
なお、変換層１４としてＣｓＩのシンチレータを用いる場合、本実施形態と異なる方法で、センサ基板１２に変換層１４を形成することもできる。例えば、アルミの板等に気相堆積法によってＣｓＩを蒸着させたものを用意し、ＣｓＩのアルミの板と接していない側と、センサ基板１２の画素３０とを粘着性のシート等により貼り合わせることにより、センサ基板１２に変換層１４を形成してもよい。この場合、アルミの板も含めた状態の変換層１４全体を保護層により覆った状態のものを、センサ基板１２の画素３０と貼り合わせることが好ましい。なお、この場合、変換層１４における画素３０と接する側が、柱状結晶の成長方向の先端側となる。
また、本実施形態の放射線検出器１０と異なり、変換層１４としてＣｓＩに替わり、ＧＯＳ（Ｇｄ２Ｏ２Ｓ：Ｔｂ）等を用いてもよい。この場合、例えば、ＧＯＳを樹脂等のバインダに分散させたシートを、白ＰＥＴ等により形成された支持体に粘着層等により貼り合わせたものを用意し、ＧＯＳの支持体が貼り合わせられていない側と、センサ基板１２の画素３０とを粘着性のシート等により貼り合わせることにより、センサ基板１２に変換層１４を形成することができる。なお、変換層１４にＣｓＩを用いる場合の方が、ＧＯＳを用いる場合に比べて、放射線から可視光への変換効率が高くなる。
さらに、センサ基板１２に形成された変換層１４の上に、粘着層６０を介して反射層６２を設ける。さらに、接着層６４を介して保護層６６を設ける。
この後、図５Ｃに示すように変換層１４が設けられたセンサ基板１２を支持体４００から剥離する。以下、本工程を、剥離工程という。メカニカル剥離の場合、図５Ｃに示した一例では、センサ基板１２の基材１１における、端子１１３設けられた辺と対向する辺を剥離の起点とし、起点となる辺から端子１１３が設けられた辺に向けて徐々にセンサ基板１２を支持体４００から、図５Ｃに示した矢印Ｄ方向に引きはがすことにより、センサ基板１２を支持体４００から剥離する。
なお、剥離の起点とする辺は、センサ基板１２を平面視した場合における、最長の辺と交差する辺が好ましい。換言すると、剥離により撓みが生じる撓み方向Ｙに沿った辺は、最長の辺であることが好ましい。一例として、本実施形態では、剥離の起点を、フレキシブルケーブル１１２Ｂが電気的に接続される辺と対向する辺としている。
次に、図５Ｄに示すように、補強基板４０の切欠部４０Ａと、基材１１の第２の面１１Ｂの対向領域１１Ｃとの位置を合わせて、基材１１の第２の面１１Ｂに粘着剤４２を設けた補強基板４０を貼り合わせる。
次に、図５Ｅに示すように、フレキシブルケーブル１１２を、センサ基板１２に電気的に接続する。具体的には、端子１１３に、駆動ＩＣ２１０または信号処理ＩＣ３１０が搭載されたフレキシブルケーブル１１２を熱圧着させて、端子１１３とフレキシブルケーブル１１２とを電気的に接続する。これにより、センサ基板１２にフレキシブルケーブル１１２が電気的に接続される。
さらに、図５Ｆに示すように、放射線検出器１０及び回路部等を、筐体１２０に収納する。具体的には、変換層１４の上側が、照射面１２０Ａと対向する状態で、放射線検出器１０を筐体１２０に収納する。このようにして、本実施形態の放射線画像撮影装置１が製造される。
［第２実施形態］
本実施形態では、補強基板４０の他の形態について説明する。なお、放射線画像撮影装置１及び放射線検出器１０について、第１実施形態と同様の構成については、本実施形態における詳細な説明を省略する。
本実施形態では、補強基板４０の他の形態について説明する。なお、放射線画像撮影装置１及び放射線検出器１０について、第１実施形態と同様の構成については、本実施形態における詳細な説明を省略する。
まず、第１実施形態の補強基板４０（図２Ｂ及び図３Ａ参照）と形状が異なる補強基板４０の例について説明する。図６は、本実施形態の放射線検出器１０を、基材１１の第２の面１１Ｂ側からみた平面図の一例である。また、図７は、図６における放射線検出器１０のＡ－Ａ線断面図の一例である。
図７に示すように、本形態の放射線検出器１０と、第１実施形態の放射線検出器１０では、センサ基板１２の基材１１の第１の面１１Ａにおける、端子１１３が設けられている位置が異なっている。第１実施形態の放射線検出器１０では、基材１１の辺に至る位置に、端子１１３が設けられていた（図３Ａ参照）。一方、図７に示すように、本形態の放射線検出器１０では、基材１１の辺から内部へ入った位置に、端子１１３が設けられている。そのため、本形態の放射線検出器１０における、基材１１の対向領域１１Ｃの位置も、第１実施形態の放射線検出器１０における、基材１１の対向領域１１Ｃ（図２Ｂ及び図３Ａ参照）の位置と異なる。
上述したように、基材１１の第２の面１１Ｂにおける対向領域１１Ｃを含む領域には補強基板４０は設けられない。そのため、図６及び図７に示すように、本形態の補強基板４０は、対向領域１１Ｃに対応する位置に、空隙部４０Ｂが設けられており、補強基板４０の大きさ（面積）は、基材１１と同等以上である。放射線検出器１０では、空隙部４０Ｂが設けられた補強基板４０が基材１１の第２の面１１Ｂに設けられている。
そのため、図６及び図７に示した放射線検出器１０では、補強基板４０が、基材１１の全ての辺に至る領域に設けられているため、基材１１の端子１１３近傍や外縁における剛性を適切に、補強することができる。
次に、基材１１の第２の面１１Ｂにおいて補強基板４０を設ける領域が、第１実施形態の放射線検出器１０（図２Ｂ参照）と異なる場合の補強基板４０の例について説明する。図８は、本形態の放射線検出器１０を、基材１１の第２の面１１Ｂ側からみた平面図の一例である。図８に示すように、本形態の補強基板４０は、基材１１の第２の面１１Ｂに、対向領域１１Ｃを含み、かつ対向領域１１Ｃよりも大きい領域を除いて設けられている。
上述したように、端子１１３にフレキシブルケーブル１１２を電気的に接続する場合に行われる熱処理により、基材１１にかかる熱が補強基板４０に伝播する場合がある。例えば、補強基板４０に伝播した熱量が多い場合、基材１１の第２の面１１Ｂにおける、対向領域１１Ｃよりも広い範囲に比較的高い熱量の熱が伝播する場合がある。
そこで、図８に示した放射線検出器１０では、補強基板４０が、補強基板は、対向領域１１Ｃを含み、かつ端子１１３にフレキシブルケーブル１１２を電気的に接続する場合に行われる熱処理において、補強基板４０の変形量が予め定められた量以上となる熱が基材１１にかかる領域を少なくとも除いた領域に設けられている。換言すると、本実施形態の放射線検出器１０では、補強基板４０の変形量が、放射線検出器１０における許容範囲を越える熱がかかる、基材１１の第２の面１１Ｂの領域には、補強基板４０が、設けられていない。
従って、図８に示した放射線検出器１０では、フレキシブルケーブル１１２を電気的に接続する場合に行われる熱処理において、比較的高い熱量が基材１１にかかっても、補強基板４０の変形を抑制することができる。
さらに、基材１１の第２の面１１Ｂにおいて補強基板４０を設ける領域が、第１実施形態の放射線検出器１０（図２Ｂ参照）と異なる場合の補強基板４０の他の例について説明する。図９は、本形態の放射線検出器１０を、基材１１の第２の面１１Ｂ側からみた平面図の一例である。図９に示すように、本形態の補強基板４０は、基材１１の第２の面１１Ｂに、２つの対向領域１１Ｃを含む領域を除いて設けられている。
図９に示すように、複数の対向領域１１Ｃを組にして、各組に対応する領域には、補強基板４０を設けない形態としてもよい。この場合、放射線検出器１０では、各組に含まれる対向領域１１Ｃ同士の間の領域にも、補強基板４０が設けられていない状態となる。
例えば、複数の端子１１３が、狭い間隔で基材１１の第１の面１１Ａに設けられている場合、対向領域１１Ｃと対向領域１１Ｃとの間の領域の基材１１にも熱がかかる場合がある。このような場合、基材１１の第２の面１１Ｂにおける、対向領域１１Ｃと対向領域１１Ｃとの間の領域に、補強基板４０を設ける頻度を少なくすることで、補強基板４０の変形を抑制することができる。
なお、端子１１３が設けられた基材１１の１辺に対し、全ての対向領域１１Ｃを含む領域に、補強基板４０を設けない形態とすると、基材１１の外縁における剛性が低下する場合がある。これに対し、図９に示した例のように、端子１１３が設けられた基材１１の１辺において、対向領域１１Ｃ同士の間に対応する領域のいずれかには、補強基板４０が設けられている形態とすることにより、基材１１の外縁における剛性の低下を抑制することができる。
［第３実施形態］
本実施形態では、放射線画像撮影装置１の製造方法について、第１実施形態と異なる形態について説明する。なお、放射線画像撮影装置１及び放射線検出器１０について、第１実施形態と同様の構成については、本実施形態における詳細な説明を省略する。
本実施形態では、放射線画像撮影装置１の製造方法について、第１実施形態と異なる形態について説明する。なお、放射線画像撮影装置１及び放射線検出器１０について、第１実施形態と同様の構成については、本実施形態における詳細な説明を省略する。
本実施形態の放射線画像撮影装置１の製造方法について図１０Ａ～図１０Ｃを参照して説明する。
本実施形態の放射線画像撮影装置１の製造方法においても、剥離工程まで、すなわち、第１実施形態において図５Ａ～図５Ｃの各々を参照して説明した工程は、同様であるため、説明を省略する。
本実施形態では、センサ基板１２を支持体４００から剥離した後、図１０Ａに示すように、補強基板４０の切欠部４０Ａと、基材１１の第２の面１１Ｂの対向領域１１Ｃとの位置を合わせて、基材１１の第２の面１１Ｂに粘着剤４２を設けた補強基板４０を貼り合わせる。
また、図１０Ａに示すように、基材１１の第２の面１１Ｂの対向領域１１Ｃに、粘着剤８２を設けた補充部材８０を貼り合わせる。換言すると、補強基板４０の切欠部４０Ａを埋める状態で、基材１１の第２の面１１Ｂに補充部材８０を設ける。
補充部材８０を設ける領域は、上述したように、端子１１３にフレキシブルケーブル１１２を電気的に接続する場合に行われる熱処理により、基材１１の第２の面１１Ｂの対向領域１１Ｃでは、基材１１にかかる熱が伝播する。そのため、補充部材８０には、基材１１にかかる熱が伝播する。
補充部材８０には、熱に対する変形量が少なくとも補強基板４０よりも小さい材料、及び熱伝導率が少なくとも補強基板４０よりも高い材料の少なくとも一方の材料が用いられる。補充部材８０の熱に対する変形量が小さい場合、換言すると、補充部材８０の熱膨張率が小さい場合、上記熱処理において基材１１にかかる熱による、補充部材８０及び補強基板４０の変形量を小さくすることができる。また、補充部材８０の熱伝導率が高い場合、上記熱処理において基材１１から補充部材８０に伝播した熱がとどまらず、分散しやすくなるため、熱による補充部材８０及び補強基板４０の変形量を小さくすることができる。
このような補充部材８０の材料として、熱膨張率が低い材料としての観点からは、例えば、ＰＥＳ（PolyEtherSulfone：ポリエーテルサルホン）、及びＰＰＳ等のプラスチックを用いることができる。また、補充部材８０の材料として、熱伝導率の観点からは、例えば、アルミ、及び銅等の金属を用いることができる。
なお、補充部材８０の厚みは、補強基板４０の厚みと同様であることが好ましい。換言すると、基材１１の第２の面１１Ｂに設けられた補強基板４０における基材１１と反対側の面と、補充部材８０における基材１１と反対側の面とが面一であることが好ましい。
なお、基材１１の第２の面１１Ｂに補強基板４０を設ける工程と、補充部材８０を設ける工程は、いずれを先に行ってもよいし、また、同時に行ってもよい。
次に、図１０Ｂに示すように、図５Ｅを参照して説明した工程と同様に、フレキシブルケーブル１１２を、センサ基板１２に電気的に接続する。
フレキシブルケーブル１１２をセンサ基板１２に電気的に接続するために、フレキシブルケーブル１１２を端子１１３に熱圧着する場合、熱圧着装置のステージにセンサ基板１２を、補強基板４０及び補充部材８０側を下にした状態で固定する。ここで、上述したように、補強基板４０及び補充部材８０の高さが同一である場合、センサ基板１２をステージに、より安定して固定することができる。また、基材１１の第１の面１１Ａがフラットな状態になるため、フレキシブルケーブル１１２を端子１１３に接続し易くなる。
次に、図１０Ｃに示すように、補充部材８０をセンサ基板１２の基材１１から除去する。本工程により除去した補充部材８０は、次回、放射線画像撮影装置１を製造する場合に、補充部材８０として用いることができることが、リサイクルの観点から好ましい。このようにリサイクルできる場合、補充部材８０の材料として、比較的高価な材料を用いることができる。
図１０Ｃの工程の後に行われる、放射線検出器１０及び回路部等を筐体１２０に収納する工程、すなわち、第１実施形態において図５Ｆを参照して説明した工程を行うことにより、本実施形態の放射線画像撮影装置１が製造される。
このように、本実施形態の放射線画像撮影装置１（放射線検出器１０）の製造方法では、基材１１の第２の面１１Ｂにおいて、補強基板４０が設けられていない領域に補充部材８０を設けた後に、端子１１３にフレキシブルケーブル１１２を電気的に接続する工程を行う。従って、端子１１３にフレキシブルケーブル１１２を接続し易くすることができる。
なお、放射線画像撮影装置１及び放射線検出器１０の構成及び製造方法は、上述した形態に限定されない。例えば、以下の変形例１～変形例５に示す形態としてもよい。なお、上述した形態及び変形例１～変形例５の各々を適宜、組み合わせた形態としてもよく、また変形例１～変形例５に限定されるものでもない。
（変形例１）
本変形例では、図１１Ａ～図１１Ｅを参照し、センサ基板１２の基材１１の第１の面１１Ａ側に、基材１１の剛性を補強する補強部材９０を設けた場合の、放射線検出器１０の例について説明する。図１１Ａ～図１１Ｅの各々には、上記図３Ａに示した放射線検出器１０のＡ－Ａ線断面図に相当する、本変形例の放射線検出器１０の断面図の一例を示す。
本変形例では、図１１Ａ～図１１Ｅを参照し、センサ基板１２の基材１１の第１の面１１Ａ側に、基材１１の剛性を補強する補強部材９０を設けた場合の、放射線検出器１０の例について説明する。図１１Ａ～図１１Ｅの各々には、上記図３Ａに示した放射線検出器１０のＡ－Ａ線断面図に相当する、本変形例の放射線検出器１０の断面図の一例を示す。
図１１Ａに示すように、基材１１の第１の面１１Ａに設けられた変換層１４の上には、粘着剤９２及び補強部材９０が設けられている。
補強部材９０は、基材１１よりも曲げ剛性が高く、変換層１４と対向する面に対して垂直方向に加えられる力に対する、寸法変化（変形）が、基材１１の第１の面１１Ａに対して垂直方向に加えられる力に対する、寸法変化よりも小さい。また、本変形例の補強部材９０の厚みは、基材１１の厚みよりも厚い。
補強部材９０として好ましい特性は、上述した補強基板４０と同様の特性である。本変形例の補強部材９０は、曲げ弾性率が１５０ＭＰａ以上、２５００ＭＰａ以下の素材を用いることが好ましい。補強部材９０は、基材１１の撓みを抑制する観点からは、基材１１よりも曲げ剛性が高いことが好ましい。なお、曲げ弾性率が低くなると曲げ剛性も低くなり、所望の曲げ剛性を得るためには、補強部材９０の厚みを厚くしなくてはならず、放射線検出器１０全体の厚みが増大してしまう。補強部材９０の材料を考慮すると、１４００００Ｐａｃｍ４を越える曲げ剛性を得ようとする場合、補強部材９０の厚みが、比較的厚くなってしまう傾向がある。そのため、適切な剛性が得られ、かつ放射線検出器１０全体の厚みを考慮すると、補強部材９０に用いる素材は、曲げ弾性率が１５０ＭＰａ以上、２５００ＭＰａ以下であることがより好ましい。また、補強部材９０の曲げ剛性は、５４０Ｐａｃｍ４以上、１４００００Ｐａｃｍ４以下であることが好ましい。
また、補強部材９０の熱膨張率は、変換層１４の材料の熱膨張率に近い方が好ましく、より好ましくは、変換層１４の熱膨張率に対する補強部材９０の熱膨張率の比（補強部材９０の熱膨張率／変換層１４の熱膨張率）が、０．５以上、２以下であることが好ましい。このような補強部材９０の熱膨張率としては、３０ｐｐｍ／Ｋ以上、８０ｐｐｍ／Ｋ以下であることが好ましい。例えば、変換層１４がＣｓＩ：Ｔｌを材料とする場合、熱膨張率は、５０ｐｐｍ／Ｋである。この場合、変換層１４に比較的近い材料としては、ＰＶＣ、アクリル、ＰＥＴ、ＰＣ、及びテフロン（登録商標）等が挙げられる。さらに、上述した曲げ弾性率を考慮すると、補強部材９０の材料としては、ＰＥＴ、及びＰＣの少なくとも一方を含む材料であることがより好ましい。また、補強部材９０は、弾力性の観点からは、降伏点を有する材料を含むことが好ましい。
本変形例の補強部材９０は、プラスチックを材料とした基板である。補強部材９０の材料となるプラスチックは、上述した理由から熱可塑性の樹脂であることが好ましく、ＰＣ、ＰＥＴ、スチロール、アクリル、ポリアセターゼ、ナイロン、ポリプロピレン、ＡＢＳ、エンプラ、及びポリフェニレンエーテルの少なくとも一つが挙げられる。なお、補強部材９０は、これらのうち、ポリプロピレン、ＡＢＳ、エンプラ、ＰＥＴ、及びポリフェニレンエーテルの少なくとも一つであることが好ましく、スチロール、アクリル、ポリアセターゼ、及びナイロンの少なくとも一つであることがより好ましく、ＰＣ及びＰＥＴの少なくとも一つであることがさらに好ましい。
なお、補強部材９０と補強基板４０との具体的な特性、及び材料等は、同一であってもよいし、異なっていてもよい。
補強部材９０のセンサ基板１２と対向する側の面全体に粘着剤９２が設けられており、粘着剤９２によって、変換層１４の上、具体的には、変換層１４を覆う反射層６２の上に設けられる。
変換層１４の上に補強部材９０を設ける工程は、剥離工程（図５Ｃ参照）の後に行ってもよいが、剥離工程の前に行うことが好ましい。支持体４００から、変換層１４が設けられたセンサ基板１２を剥離する場合、基材１１が撓む。基材１１が撓むと、変換層１４、特に変換層１４の端部が基材１１から剥離する懸念が生じる。これに対し、変換層１４の上に補強部材９０を設けたセンサ基板１２を支持体４００から剥離する場合、基材１１の曲げ剛性を補強するため、基材１１が撓むことに起因する、変換層１４の基材１からの剥離を抑制することができる。
なお、図１１Ａに示した放射線検出器１０では、補強部材９０の大きさ（面積）が基材１１と同様であり、また補強部材９０の端部と基材１１の端部との位置が同じである例を示したが、補強部材９０の大きさや端部の位置は、本例に限定されない。例えば、図１１Ｂに示すように、補強部材９０が基材１１よりも大きい形態としてもよい。なお、具体的な補強部材９０の大きさは、放射線検出器１０を収納する筐体１２０の内部の大きさ等に応じて定めることができる。また、図１１Ｂに示すように、補強部材９０の端部が、基材１１、すなわちセンサ基板１２の端部よりも外側に位置している。
このように補強部材９０の大きさを基材１１よりも大きくすることにより、例えば、放射線画像撮影装置１を落下させる等して、筐体１２０に衝撃が加わり筐体１２０の側面（照射面１２０Ａと交差する面）が凹んだ場合に、筐体１２０の側面に補強部材９０が干渉する。一方、センサ基板１２は、補強部材９０よりも小さいため、筐体１２０の側面に干渉し難くなる。従って、図１１Ｂに示した放射線検出器１０によれば、放射線画像撮影装置１に加わる衝撃がセンサ基板１２に与える影響を抑制することができる。
なお、補強部材９０により放射線画像撮影装置１に加わる衝撃がセンサ基板１２に与える影響を抑制する観点からは、図１１Ｂに示すように、補強部材９０の端部の少なくとも一部が、基材１１の端部よりも外部に突出していればよい。例えば、補強部材９０の大きさが基材１１よりも小さい場合であっても、基材１１の端部よりも外部に突出する補強部材９０の端部が、筐体１２０の側面に干渉するため、衝撃がセンサ基板１２に与える影響を抑制することができる。
また例えば、図１１Ｃ及び図１１Ｄに示すように、補強部材９０が基材１１よりも小さい形態としてもよい。図１１Ｃに示した例では、端子１１３と対向する位置には、補強部材９０が設けられていない。すなわち、本変形例の放射線検出器１０における補強部材９０の面積は、基材１１の面積から端子１１３が設けられた領域の面積を減算した値よりも小さい。一方、図１１Ｄに示した例では、補強部材９０の端部が、変換層１４の周縁部１４Ｂに位置しており、変換層１４が基材１１の第１の面１１Ａを覆う領域よりも狭い領域に、補強部材９０が設けられている。
不具合や位置ずれ等により、基材１１（センサ基板１２）に電気的に接続したフレキシブルケーブル１１２や部品を取り外して、新たに接続し直すことをリワークという。このように、補強部材９０を基材１１よりも小さくすることにより、補強部材９０の端部に邪魔されずに、リワークを行うことができるため、フレキシブルケーブル１１２のリワークを容易にすることができる。
また例えば、図１１Ｅに示すように、補強部材９０が変換層１４の周縁部１４Ｂにおける傾斜面に沿って曲がった状態に設けられている形態としてもよい。図１１Ｅに示した例では、接着層６４及び保護層６５が基材１１の第１の面１１Ａ上を覆う部分、及びその外側の基材１１の第１の面１１Ａ上をも覆っている。すなわち、接着層６４及び保護層６５の端部が、補強部材９０によって封止されている。補強部材９０の基材１１上に延在する部分は、粘着剤９２を介して基材１１に接着されている。このように、接着層６４及び保護層６５の端部を補強部材９０によって覆うことで、保護層６５の剥離を抑制することができる。
（変形例２）
本変形例では、図１２を参照し、放射線検出器１０における、変換層１４の周囲が封止されている形態について説明する。図１２には、上記図３Ａに示した放射線検出器１０のＡ－Ａ線断面図に相当する、本変形例の放射線検出器１０の断面図の一例を示す。
本変形例では、図１２を参照し、放射線検出器１０における、変換層１４の周囲が封止されている形態について説明する。図１２には、上記図３Ａに示した放射線検出器１０のＡ－Ａ線断面図に相当する、本変形例の放射線検出器１０の断面図の一例を示す。
図１２に示すように、変換層１４の周縁部１４Ｂを封止部材７０によって封止する形態としてもよい。図１２に示す例では、上記のように基材１１、変換層１４、及び補強部材９０によって生じた空間に封止部材７０が設けられている。具体的には、変換層１４の周縁部１４Ｂに対応する領域、及びさらにその外側の領域において、変換層１４（保護層６６）と補強部材９０との間に形成された空間に封止部材７０が設けられている。封止部材７０の材料は特に限定されず、例えば、樹脂を用いることが可能である。
封止部材７０を設ける方法は特に限定されない。例えば、粘着層６０、反射層６２、接着層６４、及び保護層６６で覆われた変換層１４上に、粘着剤９２によって補強部材９０を設けた後、変換層１４（保護層６６）と補強部材９０との間に形成された空間に、流動性を有する封止部材７０を注入し、補強部材９０を硬化させてもよい。また、例えば、基材１１上に変換層１４、粘着層６０、反射層６２、接着層６４、及び保護層６６を順次形成した後、封止部材７０を形成し、粘着層６０、反射層６２、接着層６４、及び保護層６６で覆われた変換層１４及び封止部材７０を覆う状態に、粘着剤９２によって補強部材９０を設けてもよい。
また、封止部材７０を設ける領域は、図１２に示した形態に限定されない。例えば、基材１１の第１の面１１Ａ全体に封止部材７０が設けられていてもよく、フレキシブルケーブル１１２が電気的に接続された端子１１３を、フレキシブルケーブル１１２と共に封止してもよい。
このように、変換層１４と補強部材９０との間に形成された空間に、封止部材７０を充填し、変換層１４を封止することで、補強部材９０の変換層１４からの剥離を抑制することができる。さらに、変換層１４は、補強部材９０及び封止部材７０の双方によりセンサ基板１２に固定される構造となるため、基材１１の剛性がより補強される。
（変形例３）
本変形例では、図１３Ａ及び図１３Ｂを参照し、放射線検出器１０における、補強部材９０が、支持部材７２によって支持されている形態について説明する。図１３Ａ及び図１３Ｂの各々には、上記図３Ａに示した放射線検出器１０のＡ－Ａ線断面図に相当する、本変形例の放射線検出器１０の断面図の一例を示す。
本変形例では、図１３Ａ及び図１３Ｂを参照し、放射線検出器１０における、補強部材９０が、支持部材７２によって支持されている形態について説明する。図１３Ａ及び図１３Ｂの各々には、上記図３Ａに示した放射線検出器１０のＡ－Ａ線断面図に相当する、本変形例の放射線検出器１０の断面図の一例を示す。
図１３Ａに示した放射線検出器１０では、補強部材９０の端部が、支持部材７２によって支持されている。すなわち、支持部材７２の一端は、フレキシブルケーブル１１２、または基材１１の第１の面１１Ａに接続され、支持部材７２の他端は、粘着剤９２により補強部材９０の端部に接続されている。なお、支持部材７２は、基材１１の外縁部全体に設けられていてもよいし、外縁の一部分に設けられていてもよい。このように基材１１との間に空間を形成しつつ延伸する補強部材９０の端部を支持部材７２によって支持することで、変換層１４がセンサ基板１２から剥離するのを抑制することができる。また、端子１１３に接続されたフレキシブルケーブル１１２上に支持部材７２を設けることにより、フレキシブルケーブル１１２が端子１１３から剥離するのを抑制することができる。
一方、図１３Ｂに示した放射線検出器１０では、補強部材９０の端部よりも内側の位置が、支持部材７２によって支持されている。図１３Ｂに示した例では、支持部材７２を設ける位置が、フレキシブルケーブル１１２及び端子１１３が設けられた領域外のみとしている。図１３Ｂに示した例では、支持部材７２の一端は、基材１１の第１の面１１Ａに接続され、支持部材７２の他端は、粘着剤９２により補強部材９０の端部に接続されている。このように、フレキシブルケーブル１１２及び端子１１３の上に支持部材７２を設けないことにより、フレキシブルケーブル１１２のリワークを容易にすることができる。
このように本変形例の放射線検出器１０によれば、補強部材９０を支持部材７２で支持することにより、基材１１の端部近傍にまで補強部材９０による剛性の補強効果が得られ、基材１１が撓むのを抑制する効果を作用させることができ、そのため、本変形例の放射線検出器１０によれば、変換層１４がセンサ基板１２から剥離するのを抑制することができる。
なお、本変形例と上記変形例２とを組み合わせる場合、換言すると、放射線検出器１０が、封止部材７０及び支持部材７２を備える場合、支持部材７２、補強部材９０、変換層１４、及び基材１１で囲われる空間の一部または全体に封止部材７０を充填して、封止部材７０により封止すればよい。
（変形例４）
本変形例では、図１４を参照し、放射線検出器１０が補強部材９０を備えない形態において、接着層６４及び保護層６６の端部が封止されている形態について説明する。図１４には、上記図３Ａに示した放射線検出器１０のＡ－Ａ線断面図に相当する、本変形例の放射線検出器１０の断面図の一例を示す。
本変形例では、図１４を参照し、放射線検出器１０が補強部材９０を備えない形態において、接着層６４及び保護層６６の端部が封止されている形態について説明する。図１４には、上記図３Ａに示した放射線検出器１０のＡ－Ａ線断面図に相当する、本変形例の放射線検出器１０の断面図の一例を示す。
図１４に示すように、接着層６４及び保護層６６の端部は、封止部材７４によって封止されていてもよい。封止部材７４は、基材１１の第１の面１１Ａから保護層６６の表面に亘る領域であり、且つ画素領域３５を覆わない領域に設けられていることが好ましい。封止部材７４の材料としては、樹脂を用いることができ、特に熱可塑性樹脂が好ましい。具体的には、アクリル糊、及びウレタン系の糊等を封止部材７４として用いることができる。このように、本変形例の放射線検出器１０によれば、接着層６４及び保護層６６の端部を封止部材７４によって封止することで、接着層６４及び保護層６６の剥離を抑制することができる。
（変形例５）
本変形例では、図１５を参照し、放射線検出器１０が帯電防止層４４を備える形態について説明する。図１５には、上記図３Ａに示した放射線検出器１０のＡ－Ａ線断面図に相当する、本変形例の放射線検出器１０の断面図の一例を示す。
本変形例では、図１５を参照し、放射線検出器１０が帯電防止層４４を備える形態について説明する。図１５には、上記図３Ａに示した放射線検出器１０のＡ－Ａ線断面図に相当する、本変形例の放射線検出器１０の断面図の一例を示す。
図１５に示すように、本変形例の放射線検出器１０は、基材１１の第２の面１１Ｂに、帯電防止層４４が設けられている。補強基板４０は、粘着剤４２により、帯電防止層４４の第２の面１１Ｂ側の面と反対側の面に設けられている。換言すると、補強基板４０、粘着剤４２、帯電防止層４４、及び基材１１の順に各々が積層されている。
帯電防止層４４の材料としては、外部からの電磁波ノイズ及び静電気等の影響を抑制する機能を有する。帯電防止層４４としては、例えば、アルペット（登録商標）等の樹脂フィルムと金属フィルムとの積層膜、帯電防止塗料「コルコート」（商品名：コルコート社製）、ＰＥＴ、及びポリプロピレン等を用いることができる。
なお、帯電防止層４４を設ける領域は、画素領域３５を少なくとも覆う領域であればよく、図１５に示した形態に限定されない。
このように、本変形例の放射線検出器１０によれば、基材１１の第２の面１１Ｂに帯電防止層４４が設けられているため、制御基板１１０や電源部１０８等を含む外部からの電磁ノイズを遮蔽することができる。
（変形例６）
本変形例では、放射線画像撮影装置１における放射線検出器１０の収納状態の変形例について、図１６Ａ～図１６Ｅを参照して説明する。図１６Ａ～図１６Ｅの各々は、本変形例の放射線画像撮影装置１の断面図の一例である。
本変形例では、放射線画像撮影装置１における放射線検出器１０の収納状態の変形例について、図１６Ａ～図１６Ｅを参照して説明する。図１６Ａ～図１６Ｅの各々は、本変形例の放射線画像撮影装置１の断面図の一例である。
図１６Ａには、筐体１２０の照射面１２０Ａ側の天板の内壁面に、放射線検出器１０が接している形態の一例を示している。図１６Ａに示した例では、筐体１２０の照射面１２０Ａ側の天板の内壁面に、変換層１４が接している。なお、上記変形例１等のように、放射線検出器１０が、補強部材９０を備える場合、筐体１２０の照射面１２０Ａ側の天板の内壁面に、補強部材９０が接している形態となる。
この場合、放射線検出器１０と筐体１２０の内壁面とは、接着層を介して接着されていてもよいし、接着層を介さずに単に接触しているだけでもよい。このように放射線検出器１０と筐体１２０の内壁面とが接していることにより、放射線検出器１０の剛性がより確保される。
一方、図１６Ｂには、補強部材９０が、筐体１２０の照射面１２０Ａ側の天板として採用される形態の一例を示している。この場合、図１６Ｂに示すように、補強部材９０の大きさは、センサ基板１２よりも大きく、補強部材９０の端部は、センサ基板１２の端部よりも外部に突出している。図１６Ｂに示した放射線画像撮影装置１では、照射面１２０Ａ側の天板部分に開口状態を有する筐体１２０の開口部分に、補強部材９０を嵌め込むことにより、放射線検出器１０が、筐体１２０の内部に収納される。このように放射線検出器１０の補強部材９０を筐体１２０の天板として用いることにより、筐体１２０の厚さ、より具体的には放射線が透過する方向の厚さを、より小さくすることができ、放射線画像撮影装置１の薄型化が図れる。また、筐体１２０自体の天板が不要となるため、放射線画像撮影装置１を、より軽量化することができる。
また、図１６Ｃには、放射線検出器１０、制御基板１１０及び電源部１０８等の回路部が図中横方向に並置されている構成が例示されている。換言すると、図１６Ｃに示した放射線画像撮影装置１では、放射線検出器１０と回路部とが、放射線の照射方向と交差する方向に並んで配置されている。
なお、図１６Ｃでは、電源部１０８及び制御基板１１０の両方を放射線検出器１０の一方の側、具体的には、矩形状の画素領域３５の一方の辺の側に設けた形態を示したが、電源部１０８及び制御基板１１０等の回路部を設ける位置は図１６Ｃに示した形態に限定されない。例えば、電源部１０８及び制御基板１１０等の回路部を、画素領域３５の対向する２辺の各々に分散させて設けてもよいし、隣接する２辺の各々に分散させて設けてもよい。このように、放射線検出器１０と回路部とを、放射線の照射方向と交差する方向に並んで配置することにより、筐体１２０の厚さ、より具体的には放射線が透過する方向の厚さを、より小さくすることができ、放射線画像撮影装置１の薄型化が図れる。
また、放射線検出器１０と回路部とを、放射線の照射方向と交差する方向に並んで配置する場合、図１６Ｄに示す放射線画像撮影装置１のように、電源部１０８及び制御基板１１０等の回路部の各々が設けられている筐体１２０の部分と、放射線検出器１０が設けられている筐体１２０の部分とで、筐体１２０の厚みが異なっていてもよい。
図１６Ｃ及び図１６Ｄに示す例のように、電源部１０８及び制御基板１１０等の回路部が、放射線検出器１０よりも厚みを有している場合がある。このような場合、図１６Ｄに示す例のように、電源部１０８及び制御基板１１０等の回路部の各々が設けられている筐体１２０の部分の厚みよりも、放射線検出器１０が設けられている筐体１２０の部分の厚みの方が薄くてもよい。 図１６Ｄに示した放射線画像撮影装置１によれば、放射線検出器１０の厚さに応じた極薄型の放射線画像撮影装置１を構成することができる。
なお、図１６Ｄに示した例のように、電源部１０８及び制御基板１１０等の回路部の各々が設けられている筐体１２０の部分と、放射線検出器１０が設けられている筐体１２０の部分とで、厚みを異ならせる場合、両部分の境界部に段差が生じていると境界部１２０Ｂに接触した被検者に違和感等を与える懸念があるため、境界部１２０Ｂの形態は傾斜を有する状態とすることが好ましい。また、電源部１０８及び制御基板１１０等の回路部の各々が収納される筐体１２０の部分と、筐体１２０が収納される筐体１２０の部分とを異なる材質で形成してもよい。
また、図１６Ｅには、本実施形態の放射線検出器１０を、基材１１の第２の面１１Ｂ側から放射線が照射されるＩＳＳ（Irradiation Side Sampling)方式に適用した場合の放射線画像撮影装置１の一例が示されている。このように、本実施形態の放射線検出器１０は、ＩＳＳ方式の放射線画像撮影装置１にも適用することができる。
以上説明したように、上記の各放射線検出器１０は、センサ基板１２と、補強基板４０と、を備える。センサ基板１２は、可撓性の基材１１の第１の面１１Ａの画素領域３５に、放射線から変換された光に応じて発生した電荷を蓄積する複数の画素３０が形成され、かつ第１の面１１Ａにフレキシブルケーブル１１２を電気的に接続するための端子１１３が設けられる。補強基板４０は、基材１１の第１の面１１Ａと反対側の第２の面１１Ｂにおける、端子１１３に対向する対向領域１１Ｃを少なくとも除いた領域に設けられ、基材１１の剛性を補強する。
端子１１３にフレキシブルケーブル１１２を電気的に接続する場合、補強基板４０によって、端子１１３近傍における基材１１の曲げ剛性が補強される。一方、端子１１３にフレキシブルケーブル１１２を電気的に接続する場合に行われる熱処理により、端子１１３にかかる熱が基材１１にかかる。本熱処理により基材１１にかかる熱は、主に、第２の面１１Ｂの対向領域１１Ｃから補強基板４０に伝播しようとする。補強基板４０に熱が伝播すると、伝播した熱によって補強基板４０が変形する場合がある。
しかしながら、上記の各放射線検出器１０では、基材１１の剛性を補強する補強基板４０が、基材１１の第２の面１１Ｂにおける、対向領域１１Ｃには設けられていない。そのため、補強基板４０に伝播する熱量を小さくすることができるので、補強基板４０の変形を抑制することができる。
従って、上記の各放射線検出器１０では、曲げ剛性が高く、かつ端子にかかる熱による補強基板４０の変形を抑制することができる。
なお、放射線画像撮影装置１及び放射線検出器１０の構成及びその製造方法は、図１～図１６Ｅを参照して説明した形態に限定されるものではない。例えば、上記図１に示したように画素３０がマトリクス状に２次元配列されている態様について説明したがこれに限らず、例えば、１次元配列であってもよいし、ハニカム配列であってもよい。また、画素の形状も限定されず、矩形であってもよいし、六角形等の多角形であってもよい。さらに、画素領域３５の形状も限定されないことはいうまでもない。
その他、上記実施形態及び各変形例における放射線画像撮影装置１及び放射線検出器１０等の構成や製造方法等は一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内において状況に応じて変更可能であることはいうまでもない。
１ 放射線画像撮影装置
１０ 放射線検出器
１１ 基材、１１Ａ 第１の面、１１Ｂ 第２の面、１１Ｃ 対向領域
１２ センサ基板
１４ 変換層、１４Ａ 中央部、１４Ｂ 周縁部
３０ 画素
３２ ＴＦＴ（スイッチング素子）
３４ センサ部
３５ 画素領域
３６ 信号配線
３８ 走査配線
３９ 共通配線
４０ 補強基板、４０Ａ 切欠部、４０Ｂ 空隙部
４２ 粘着剤
４４ 帯電防止層
６０ 粘着層
６２ 反射層
６４ 接着層
６６ 保護層
７０ 封止部材
７２ 支持部材
７４ 封止部材
８０ 補充部材
８２ 粘着剤
９０ 補強部材
９２ 粘着剤
１００ 制御部、１００Ａ ＣＰＵ、１００Ｂ メモリ、１００Ｃ 記憶部
１０２ 駆動部
１０４ 信号処理部
１０６ 画像メモリ
１０８ 電源部
１１０ 制御基板
１１２、１１２Ａ、１１２Ｂ フレキシブルケーブル
１１３ 端子
１１６ 中板
１２０ 筐体、１２０Ａ 照射面、１２０Ｂ 境界部
２００ 駆動基板
２１０ 駆動ＩＣ
３００ 信号処理基板
３１０ 信号処理ＩＣ
４００ 支持体
４０２ 剥離層
１０ 放射線検出器
１１ 基材、１１Ａ 第１の面、１１Ｂ 第２の面、１１Ｃ 対向領域
１２ センサ基板
１４ 変換層、１４Ａ 中央部、１４Ｂ 周縁部
３０ 画素
３２ ＴＦＴ（スイッチング素子）
３４ センサ部
３５ 画素領域
３６ 信号配線
３８ 走査配線
３９ 共通配線
４０ 補強基板、４０Ａ 切欠部、４０Ｂ 空隙部
４２ 粘着剤
４４ 帯電防止層
６０ 粘着層
６２ 反射層
６４ 接着層
６６ 保護層
７０ 封止部材
７２ 支持部材
７４ 封止部材
８０ 補充部材
８２ 粘着剤
９０ 補強部材
９２ 粘着剤
１００ 制御部、１００Ａ ＣＰＵ、１００Ｂ メモリ、１００Ｃ 記憶部
１０２ 駆動部
１０４ 信号処理部
１０６ 画像メモリ
１０８ 電源部
１１０ 制御基板
１１２、１１２Ａ、１１２Ｂ フレキシブルケーブル
１１３ 端子
１１６ 中板
１２０ 筐体、１２０Ａ 照射面、１２０Ｂ 境界部
２００ 駆動基板
２１０ 駆動ＩＣ
３００ 信号処理基板
３１０ 信号処理ＩＣ
４００ 支持体
４０２ 剥離層
Claims (13)
- 可撓性の基材の第１の面の画素領域に、放射線から変換された光に応じて発生した電荷を蓄積する複数の画素が形成され、かつ前記第１の面にケーブルを電気的に接続するための端子が設けられた基板と、
前記基材の第１の面と反対側の第２の面における、前記端子に対向する対向領域を少なくとも除いた領域に設けられ、前記基材の剛性を補強する補強基板と、
を備え、
前記補強基板は、前記対向領域を含む位置に空隙部が設けられている、
放射線検出器。 - 前記補強基板は、前記対向領域を含み、かつ前記端子に前記ケーブルを電気的に接続する場合に行われる熱処理において、前記補強基板の変形量が予め定められた量以上となる熱が前記基材にかかる領域を少なくとも除いた領域に設けられている、
請求項１に記載の放射線検出器。 - 可撓性の基材の第１の面の画素領域に、放射線から変換された光に応じて発生した電荷を蓄積する複数の画素が形成され、かつ前記第１の面にケーブルを電気的に接続するための端子が設けられた基板と、
前記基材の第１の面と反対側の第２の面における、前記端子に対向する対向領域を少なくとも除いた領域に設けられ、前記基材の剛性を補強する補強基板と、
を備え、
前記補強基板は、前記対向領域を含み、かつ前記端子に前記ケーブルを電気的に接続する場合に行われる熱処理において、前記補強基板の変形量が予め定められた量以上となる熱が前記基材にかかる領域を少なくとも除いた領域に設けられている、
放射線検出器。 - 前記補強基板は、前記対向領域を含む位置に切欠部が設けられている、
請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の放射線検出器。 - 前記補強基板は、前記基材の端子が設けられた辺の少なくとも一部に至る領域に設けられている、
請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の放射線検出器。 - 前記基板には、複数の前記端子が設けられており、
前記補強基板は、複数の前記端子同士の間に対応する領域にも設けられている、
請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の放射線検出器。 - 前記補強基板の曲げ剛性は、前記基材よりも高い、
請求項１から請求項６のいずれか１項に記載の放射線検出器。 - 前記補強基板の曲げ剛性は、５４０Ｐａｃｍ４以上、１４００００Ｐａｃｍ４以下である、
請求項１から請求項７のいずれか１項に記載の放射線検出器。 - 前記基材の前記第１の面における前記画素領域を含み、かつ前記端子が設けられた領域以外の領域に設けられた、前記放射線を光に変換する変換層と、
前記変換層における前記基材側の面と反対側の面に設けられた補強部材と、
をさらに備える、
請求項１から請求項８のいずれか１項に記載の放射線検出器。 - 請求項１から請求項９のいずれか１項に記載の放射線検出器と、
前記複数の画素に蓄積された電荷を読み出すための回路部と、
を備えた放射線画像撮影装置。 - 支持体に、可撓性の基材を設け、前記基材の第１の面の画素領域に、放射線から変換された光に応じて発生した電荷を蓄積する複数の画素が設けられ、かつ前記第１の面にケーブルを電気的に接続するための端子が設けられた基板を形成する工程と、
前記基材の第１の面と反対側の第２の面の、前記端子に対向する対向領域を少なくとも除いた領域に、前記基材の剛性を補強する補強基板を設ける工程と、
を備え、
前記基材の前記第２の面における、前記補強基板が設けられていない領域に、前記補強基板よりも熱に対する変形量が小さな補充部材を設ける工程と、
前記補強基板及び前記補充部材を設けた後、前記端子に前記ケーブルを電気的に接続する工程と、をさらに備える、
放射線検出器の製造方法。 - 支持体に、可撓性の基材を設け、前記基材の第１の面の画素領域に、放射線から変換された光に応じて発生した電荷を蓄積する複数の画素が設けられ、かつ前記第１の面にケーブルを電気的に接続するための端子が設けられた基板を形成する工程と、
前記基材の第１の面と反対側の第２の面の、前記端子に対向する対向領域を少なくとも除いた領域に、前記基材の剛性を補強する補強基板を設ける工程と、
を備え、
前記基材の前記第２の面における、前記補強基板が設けられていない領域に、前記補強基板よりも熱伝導率が高い補充部材を設ける工程と、
前記補強基板及び前記補充部材を設けた後、前記端子に前記ケーブルを電気的に接続する工程と、をさらに備える、
放射線検出器の製造方法。 - 前記端子に前記ケーブルを電気的に接続した後、前記補充部材を除去する工程をさらに備えた、
請求項１１または請求項１２に記載の放射線検出器の製造方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020027528A JP7208941B2 (ja) | 2020-02-20 | 2020-02-20 | 放射線検出器、放射線画像撮影装置、及び放射線検出器の製造方法 |
| US17/176,429 US11612366B2 (en) | 2020-02-20 | 2021-02-16 | Radiation detector, radiography apparatus, and method of manufacturing radiation detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020027528A JP7208941B2 (ja) | 2020-02-20 | 2020-02-20 | 放射線検出器、放射線画像撮影装置、及び放射線検出器の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2021131336A JP2021131336A (ja) | 2021-09-09 |
| JP7208941B2 true JP7208941B2 (ja) | 2023-01-19 |
Family
ID=77365370
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2020027528A Active JP7208941B2 (ja) | 2020-02-20 | 2020-02-20 | 放射線検出器、放射線画像撮影装置、及び放射線検出器の製造方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US11612366B2 (ja) |
| JP (1) | JP7208941B2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006148005A (ja) | 2004-11-24 | 2006-06-08 | Canon Inc | 半導体装置、放射線撮像装置、及びその製造方法 |
| WO2019181639A1 (ja) | 2018-03-19 | 2019-09-26 | 富士フイルム株式会社 | 放射線検出器及び放射線画像撮影装置 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004296656A (ja) | 2003-03-26 | 2004-10-21 | Canon Inc | 放射線撮像装置 |
| JP2014081363A (ja) | 2012-09-27 | 2014-05-08 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置 |
| TWI800487B (zh) * | 2016-09-09 | 2023-05-01 | 日商索尼半導體解決方案公司 | 固體攝像元件及製造方法、以及電子機器 |
| EP3770641A4 (en) | 2018-03-19 | 2021-04-28 | FUJIFILM Corporation | RADIATION DETECTOR, RADIOLOGICAL IMAGING DEVICE AND PRODUCTION PROCESS |
| WO2020105706A1 (ja) * | 2018-11-22 | 2020-05-28 | 富士フイルム株式会社 | 放射線検出器、放射線画像撮影装置、及び製造方法 |
-
2020
- 2020-02-20 JP JP2020027528A patent/JP7208941B2/ja active Active
-
2021
- 2021-02-16 US US17/176,429 patent/US11612366B2/en active Active
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006148005A (ja) | 2004-11-24 | 2006-06-08 | Canon Inc | 半導体装置、放射線撮像装置、及びその製造方法 |
| WO2019181639A1 (ja) | 2018-03-19 | 2019-09-26 | 富士フイルム株式会社 | 放射線検出器及び放射線画像撮影装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20210259650A1 (en) | 2021-08-26 |
| US11612366B2 (en) | 2023-03-28 |
| JP2021131336A (ja) | 2021-09-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US11624716B2 (en) | Radiation detector and radiographic imaging device | |
| TWI805714B (zh) | 放射線檢測器、放射線圖像攝影裝置以及製造方法 | |
| US11428827B2 (en) | Radiation detector, radiographic imaging apparatus, and manufacturing method | |
| US11802981B2 (en) | Method of manufacturing radiation detector and radiographic imaging apparatus | |
| JP7451787B2 (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
| JP7208941B2 (ja) | 放射線検出器、放射線画像撮影装置、及び放射線検出器の製造方法 | |
| JP7282922B2 (ja) | 放射線画像撮影装置の製造方法 | |
| JP7332784B2 (ja) | 放射線検出器、及び放射線画像撮影装置 | |
| JP7230202B2 (ja) | 放射線検出器及び放射線画像撮影装置 | |
| JP7303368B2 (ja) | 放射線検出器、放射線画像撮影装置、及び放射線検出器の製造方法 | |
| JP7358615B2 (ja) | 放射線検出器、放射線画像撮影装置、及び放射線検出器の製造方法 | |
| JP7261777B2 (ja) | 放射線画像撮影装置の製造方法及び搬送治具 | |
| TWI834890B (zh) | 放射線檢測器及放射線圖像攝影裝置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220121 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20221013 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20221025 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20221201 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20221213 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230106 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7208941 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |